JP2010261890A - 光波干渉計測装置 - Google Patents

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011119229A1 (de) 2010-11-25 2012-05-31 Okuma Corp. Korrekturverfahren für eine Position eines magnetischen Pols eines Motors
JP2013061255A (ja) * 2011-09-14 2013-04-04 Canon Inc 計測装置
JP2015137996A (ja) * 2014-01-24 2015-07-30 株式会社東京精密 計測システム、ファブリーペロー共振器及び計測方法
JP2016001143A (ja) * 2014-06-12 2016-01-07 株式会社東京精密 多点距離測定装置及び形状測定装置
JP2017044565A (ja) * 2015-08-26 2017-03-02 株式会社東京精密 距離測定装置及びその方法
JP2017078677A (ja) * 2015-10-22 2017-04-27 株式会社東京精密 距離測定装置及びその方法
JP2020535433A (ja) * 2017-09-29 2020-12-03 プレシテク オプトロニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 表面に対する間隔又は2つの表面の間の間隔を非接触で測定する方法と装置
JP2021519413A (ja) * 2018-03-30 2021-08-10 シーウェア システムズSi−Ware Systems 自己参照分光器

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6118300A (ja) * 1984-07-04 1986-01-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的マイクロホン
JPH05118922A (ja) * 1991-10-24 1993-05-14 Advantest Corp 分光器の回折格子角度−波長特性誤差測定方法
JP2001165771A (ja) * 1999-10-29 2001-06-22 Agilent Technol Inc 広帯域光学標準器
WO2006019181A1 (ja) * 2004-08-18 2006-02-23 National University Corporation Tokyo University Of Agriculture And Technology 形状測定方法、形状測定装置および周波数コム光発生装置
JP2006184284A (ja) * 2003-09-26 2006-07-13 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光干渉トモグラフィ用の可変波長光発生装置及び光干渉トモグラフィ装置
WO2008090599A1 (ja) * 2007-01-22 2008-07-31 School Juridical Person Kitasato Institute オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置
JP2009025245A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Optical Comb Inc 光干渉観測装置
JP2010122043A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Nikon Corp 低コヒーレンス干渉計、低コヒーレンス干渉装置、及び低コヒーレンス干渉測定方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6118300A (ja) * 1984-07-04 1986-01-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的マイクロホン
JPH05118922A (ja) * 1991-10-24 1993-05-14 Advantest Corp 分光器の回折格子角度−波長特性誤差測定方法
JP2001165771A (ja) * 1999-10-29 2001-06-22 Agilent Technol Inc 広帯域光学標準器
JP2006184284A (ja) * 2003-09-26 2006-07-13 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光干渉トモグラフィ用の可変波長光発生装置及び光干渉トモグラフィ装置
WO2006019181A1 (ja) * 2004-08-18 2006-02-23 National University Corporation Tokyo University Of Agriculture And Technology 形状測定方法、形状測定装置および周波数コム光発生装置
WO2008090599A1 (ja) * 2007-01-22 2008-07-31 School Juridical Person Kitasato Institute オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置
JP2009025245A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Optical Comb Inc 光干渉観測装置
JP2010122043A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Nikon Corp 低コヒーレンス干渉計、低コヒーレンス干渉装置、及び低コヒーレンス干渉測定方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011119229A1 (de) 2010-11-25 2012-05-31 Okuma Corp. Korrekturverfahren für eine Position eines magnetischen Pols eines Motors
JP2013061255A (ja) * 2011-09-14 2013-04-04 Canon Inc 計測装置
JP2015137996A (ja) * 2014-01-24 2015-07-30 株式会社東京精密 計測システム、ファブリーペロー共振器及び計測方法
JP2016001143A (ja) * 2014-06-12 2016-01-07 株式会社東京精密 多点距離測定装置及び形状測定装置
JP2017044565A (ja) * 2015-08-26 2017-03-02 株式会社東京精密 距離測定装置及びその方法
JP2017078677A (ja) * 2015-10-22 2017-04-27 株式会社東京精密 距離測定装置及びその方法
JP2020535433A (ja) * 2017-09-29 2020-12-03 プレシテク オプトロニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 表面に対する間隔又は2つの表面の間の間隔を非接触で測定する方法と装置
JP7410853B2 (ja) 2017-09-29 2024-01-10 プレシテク オプトロニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 表面に対する間隔又は2つの表面の間の間隔を非接触で測定する方法と装置
JP2021519413A (ja) * 2018-03-30 2021-08-10 シーウェア システムズSi−Ware Systems 自己参照分光器
JP7511901B2 (ja) 2018-03-30 2024-07-08 シーウェア システムズ 自己参照分光器

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