JP2010256052A - ガス分析装置 - Google Patents
ガス分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010256052A JP2010256052A JP2009103528A JP2009103528A JP2010256052A JP 2010256052 A JP2010256052 A JP 2010256052A JP 2009103528 A JP2009103528 A JP 2009103528A JP 2009103528 A JP2009103528 A JP 2009103528A JP 2010256052 A JP2010256052 A JP 2010256052A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- sensor
- sampling
- gas sensor
- differential waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
【解決手段】吸着燃焼式のガスセンサのマイクロヒータを含むブリッジ回路に印加するブリッジ電圧を制御する。ガスセンサのマイクロヒータを40ミリ秒間一定昇温制御する。予備燃焼工程でガスセンサの余分なガス成分、水分等を焼き飛ばす。10秒間のガス吸着工程でガスセンサに計測ガスを吸着させる。サンプリング工程でセンサ出力を高速サンプリングする。予備燃焼工程、ガス吸着工程、サンプリング工程の1サイクルを4回繰り返し、センサ出力の4回分の値を同じサンプリングタイミングで積算する。積算した値で微分波形を求める。
【選択図】図5
Description
Rs=R×(2×GAIN1×AD2/(AD1+2×GAIN2×AD2)−1)…(1)
GAIN2=GAIN1×R/(R+Rx)…(2)
Ro=(Rmax−Rmin)/4000×カウント+Rmin…(3)
Rmax:ガスセンサが500℃のときの抵抗値
Rmin:ガスセンサが100℃のときの抵抗値
4000:サンプリング回数
カウント:そのときのサンプリング回
n=N,N−m,N−2m,N−3m,…,1
Y[n]:微分値
X[n]:サンプリングデータ
m:間引き率(10)
N:全データ数(4000)
2 リファレンス側のマイクロヒータ
Bs ガスセンサ側のブリッジ回路
Br リファレンス側のブリッジ回路
ap4 計装アンプ
16 DSP
17 DAコンバータ
Claims (1)
- 吸着燃焼式ガスセンサのセンサ出力をサンプリングして、該サンプリングしたセンサ出力を時間微分して微分波形データを取得し、該取得した微分波形データに基づいてガスの分析を行うガス分析装置であって、
前記吸着燃焼式ガスセンサへガスを吸着させるガス吸着工程と、前記吸着燃焼式ガスセンサのヒータに印加する電圧を制御して該ヒータを一定昇温制御しながら前記センサ出力をサンプリングするサンプリング工程とを繰り返し、複数回の該サンプリング工程でサンプリングした同じサンプリングタイミングのセンサ出力を積算し、該積算値により前記微分波形データを取得することを特徴とするガス分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009103528A JP5165634B2 (ja) | 2009-04-22 | 2009-04-22 | ガス分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009103528A JP5165634B2 (ja) | 2009-04-22 | 2009-04-22 | ガス分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010256052A true JP2010256052A (ja) | 2010-11-11 |
JP5165634B2 JP5165634B2 (ja) | 2013-03-21 |
Family
ID=43317155
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009103528A Expired - Fee Related JP5165634B2 (ja) | 2009-04-22 | 2009-04-22 | ガス分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5165634B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014178198A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Fuji Electric Co Ltd | ガス検知装置 |
WO2016013113A1 (ja) * | 2014-07-25 | 2016-01-28 | 富士通株式会社 | 粒子及びガスを測定する測定装置、測定システム及び測定方法 |
JP2017142274A (ja) * | 2017-05-30 | 2017-08-17 | 新コスモス電機株式会社 | 接触燃焼式ガスセンサ |
JP2017142273A (ja) * | 2017-05-30 | 2017-08-17 | 新コスモス電機株式会社 | 接触燃焼式ガスセンサおよびその検出方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59136870A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-06 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 積分時間可変型デユアルスロ−プ積分器 |
JP2002323468A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Yazaki Corp | ガス種分別機能付ガスセンサ、有極性ガス分別機能付ガスセンサ及び煙有極性ガス分別機能付ガスセンサ |
JP2004069465A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Yazaki Corp | 吸着燃焼式ガスセンサを用いたガス検知方法及びその装置 |
JP2005083949A (ja) * | 2003-09-10 | 2005-03-31 | Yazaki Corp | ガス検知方法およびその装置 |
JP2005083950A (ja) * | 2003-09-10 | 2005-03-31 | Yazaki Corp | Vocセンサおよびvoc検知装置 |
JP2008064491A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Yazaki Corp | ガス検出装置 |
JP2008267810A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Yazaki Corp | ガス検知装置およびガス検知方法 |
JP2010145258A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Yazaki Corp | ガス分析装置 |
JP2010145316A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Yazaki Corp | ガス分析装置 |
-
2009
- 2009-04-22 JP JP2009103528A patent/JP5165634B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59136870A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-06 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 積分時間可変型デユアルスロ−プ積分器 |
JP2002323468A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Yazaki Corp | ガス種分別機能付ガスセンサ、有極性ガス分別機能付ガスセンサ及び煙有極性ガス分別機能付ガスセンサ |
JP2004069465A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Yazaki Corp | 吸着燃焼式ガスセンサを用いたガス検知方法及びその装置 |
JP2005083949A (ja) * | 2003-09-10 | 2005-03-31 | Yazaki Corp | ガス検知方法およびその装置 |
JP2005083950A (ja) * | 2003-09-10 | 2005-03-31 | Yazaki Corp | Vocセンサおよびvoc検知装置 |
JP2008064491A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Yazaki Corp | ガス検出装置 |
JP2008267810A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Yazaki Corp | ガス検知装置およびガス検知方法 |
JP2010145258A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Yazaki Corp | ガス分析装置 |
JP2010145316A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Yazaki Corp | ガス分析装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014178198A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Fuji Electric Co Ltd | ガス検知装置 |
WO2016013113A1 (ja) * | 2014-07-25 | 2016-01-28 | 富士通株式会社 | 粒子及びガスを測定する測定装置、測定システム及び測定方法 |
JPWO2016013113A1 (ja) * | 2014-07-25 | 2017-05-25 | 富士通株式会社 | 粒子及びガスを測定する測定装置、測定システム及び測定方法 |
US10018548B2 (en) | 2014-07-25 | 2018-07-10 | Fujitsu Limited | Measurement device, measurement system, and measurement method for measuring particle and gas |
JP2017142274A (ja) * | 2017-05-30 | 2017-08-17 | 新コスモス電機株式会社 | 接触燃焼式ガスセンサ |
JP2017142273A (ja) * | 2017-05-30 | 2017-08-17 | 新コスモス電機株式会社 | 接触燃焼式ガスセンサおよびその検出方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5165634B2 (ja) | 2013-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5165634B2 (ja) | ガス分析装置 | |
JP4871776B2 (ja) | ガス検知装置およびガス検知方法 | |
JP4742133B2 (ja) | 粒子状物質検出装置および粒子状物質検出方法 | |
JP2010145258A (ja) | ガス分析装置 | |
JP2001201478A (ja) | 湿度センサ又はガス濃度センサ用の測定方法及び測定システム | |
JP2010256268A (ja) | ガス分析装置 | |
JP5526411B2 (ja) | ガス分析装置 | |
JP2010145316A (ja) | ガス分析装置 | |
JP6062704B2 (ja) | ガス濃度検出装置 | |
JP2011145091A (ja) | ガス検出装置 | |
JP3321315B2 (ja) | 大気ガス検出装置 | |
JP5385055B2 (ja) | ガス検出装置 | |
JP5368950B2 (ja) | ガス検出装置 | |
JP5356957B2 (ja) | ガス検出装置 | |
JP4497658B2 (ja) | ガス検知方法及び装置 | |
JP6492931B2 (ja) | 出力電圧測定システム | |
JP7408093B2 (ja) | ガス検出装置 | |
JP5330159B2 (ja) | ガス検出装置 | |
KR101597943B1 (ko) | 혈당량과 헤마토크릿의 동시측정을 위한 센서 측정장치 | |
JP4133856B2 (ja) | 吸着燃焼式ガスセンサを用いたガス検知方法及びその装置 | |
JP3384538B2 (ja) | センサ駆動装置 | |
US20230111331A1 (en) | Cleaning Method for a Sensor in a Respiratory Gas Analysis Device | |
JP2010038869A (ja) | ガス検出装置 | |
JP2006133097A (ja) | 試験装置 | |
JP2001296264A (ja) | 分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120229 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121115 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121127 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121219 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151228 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |