JP2010237149A - 電子体温計及び作動制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】サンプリングタイミング毎に、サーミスタの抵抗値変化に基づいて温度値を算出し、算出された複数の温度値に基づいて、サーミスタの外部温度との温度平衡状態における温度値を推定する電子体温計において、算出された温度値に対する修正の要否を他のサンプリングタイミングで算出された温度値に基づいて判断し、修正要と判断された場合に、当該温度値を、当該温度値よりも前のサンプリングタイミングで算出された温度値に基づいて修正する。
【選択図】 図12
Description
サーミスタとコンデンサとが直列に接続された積分回路と、
前記積分回路における前記コンデンサの電圧と所定電圧との比較結果を示す比較信号を出力する比較手段と、
クロック信号を生成するクロック手段と、
前記積分回路の前記コンデンサにおける充電または放電の開始から前記比較信号の変化を検出するまでの期間の前記クロック信号のカウント値と、前記クロック信号の周波数とに基づいて、前記コンデンサにおける充電時間または放電時間を計測する計測手段と、
所定のサンプリングタイミング毎に前記計測手段で計測された前記充電時間または前記放電時間に基づいて前記サーミスタの周辺温度を示す温度計測値を算出する算出手段と、
温度計測値の修正の要否を、当該温度計測値と連続するサンプリングにおける他の温度計測値に基づいて判定し、異常と判定された前記温度計測値を前記他の温度計測値に基づいて修正する修正手段とを備える。
1.電子体温計の外観構成
図1は、本発明の一実施形態にかかる電子体温計100の外観構成を示す図であり、図1(a)は平面図を、図1(b)は側面図をそれぞれ示している。101は本体ケースで、後述する演算制御部220等の電子回路、電池(電源部)250等が収納される。
図2は本実施形態にかかる電子体温計100の機能構成を示す内部ブロック図である。
3.1 電子体温計における体温計測処理の全体の流れ
次に、電子体温計における体温計測処理の流れについて説明する。なお、ここでは、平衡温予測式の電子体温計100の体温計測処理の流れについて説明するが、本発明はこれに限定されず、実測式の電子体温計、予測/実測を併用するタイプの電子体温計にも適用可能である。
上述したステップS301〜S304においては、所定のサンプリングタイミングで温度計測部210を用いた温度計測が繰り返し行われる。特に、本実施形態の温度計測部210は、サーミスタとコンデンサが直列に接続された積分回路と、積分回路におけるコンデンサの電圧と所定電圧との比較結果を示す比較信号を出力する比較回路を有する(図4により後述する)。そして、タイマー222は、積分回路のコンデンサにおける充電または放電の開始(定常状態から過渡状態への移行の開始)から比較信号の変化を検出するまでの期間を充電時間或いは放電時間(すなわち、過渡期間)とし、その期間の長さをクロック発生部228が発生するクロック信号を計数することで計測する。ここで、外部ノイズにより、各サンプリングタイミングでの温度計測値が変動すると、予測演算による予測値や実測値が影響を受けてしまう。そこで、本実施形態では、外部ノイズ等による予測値の変動に対して耐性を提供するべく、計測値の修正処理を実行する。以下で説明する修正処理は、ステップS301〜S304においてサンプルされる温度計測値について行われるものであり、これらステップの処理と並行して実行されるものである。
(1)3つ前及び2つ前のサンプリング値(Oh[3]とOh[2])を結ぶ第1の直線1201から推定される1つ前のサンプリング値Oh’[1]を中心とした所定の範囲1202より1つ前のサンプリング値(計測値)Oh[1]が逸脱しており(S322でYES)、
(2)第1の直線1201から推定される現在のサンプリング値Oh’[0]を中心とした所定の範囲1202内に現在のサンプリング値Oh[0]が存在する(S323でNO)、
ことから、1つ前のサンプリング値Oh[1]を推定値Oh’[1]で置き換える。なお、範囲1202と範囲1203の大きさは同じでもよいし、異なっていてもよい。
(1)3つ前及び2つ前のサンプリング値(Oh[3]とOh[2])を結ぶ第1の直線1211から推定される1つ前のサンプリング値Oh’[1]を中心とした所定の範囲1212内に1つ前のサンプリング値Oh[1]が存在しており(S327でNO)、
(2)2つ前及び1つ前のサンプリング値(Oh[2]とOh[1])を結ぶ第2の直線1213から推定される現在のサンプリング値Oh’[0]を中心とした所定の範囲1214から現在のサンプリング値Oh[0]が逸脱している(S329でYES)、
ことから、現在のサンプリング値Oh[0]を推定値Oh’[0]で置き換える。なお、範囲1212と範囲1214の大きさは同じでもよいし、異なっていてもよい。
次に、温度計測部210の詳細構成及び、ステップS301において開始される温度計測処理の流れについて説明する。なお、温度計測処理の説明にあたっては、本実施形態における温度計測処理の特徴をより明確にするために、はじめに、一般的な温度計測処理の流れを説明する。
図4は、温度計測部210の詳細構成を示す図である。図4に示すように、温度計測部210では、互いに並列に接続されたサーミスタ401及び基準抵抗素子402が、それぞれ、コンデンサ403に直列に接続されている。すなわち、サーミスタ401とコンデンサ403は積分回路を構成する。また、同様に基準抵抗素子402とコンデンサ403も積分回路を構成しており、基準抵抗素子402とサーミスタ401は並列に接続されている。そして、サーミスタ401とコンデンサ403とを含む系の両端、及び基準抵抗素子402とコンデンサ403とを含む系の両端には、電圧切替部410を介してそれぞれ交互に電圧Vが印加されるように構成されている。すなわち、電圧切替部410は、端子T1に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、端子T1を0Vとしてコンデンサ403によるサーミスタ401を介した放電を開始させる。また、電圧切替部410は、端子T2に電圧Vを印加してコンデンサ403を充電した後、端子T2を0Vとしてコンデンサ403による基準抵抗素子402を介した放電を開始させる。なお、コンデンサ403への充電は、端子T1、T2のいずれか一方のみを用いるようにしてもよい。
なお、上式において、基準温度は37℃としている。
図5は、一般的な温度計測処理の流れを示すフローチャートであり、図6は、コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。図5及び図6を用いて、一般的な温度計測処理の流れについて説明する。
ここで、図6の例では、基準抵抗素子402とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧と、サーミスタ401とコンデンサ403の系の両端に印加した電圧とが、同じであるとしている。
図7は、本実施形態における温度計測処理の流れを示すフローチャートであり、図8は、コンデンサ403の両端の電圧の時間変化及びA/D変換部420より出力されるディジタル信号の時間変化を示す図である。図7及び図8を用いて、本実施形態における温度計測処理の流れについて説明する。
上記第1の実施形態では、温度計測処理開始直後から、コンデンサの充電/放電を4回繰り返すことにより、1回の温度計測処理を完了する構成としたが、本発明はこれに限定されない。例えば、コンデンサの充電/放電を3回繰り返すことにより、1回の温度計測処理を完了する構成としてもよい。
上記第1の実施形態では、温度計測処理開始直後から、コンデンサの充電/放電を、4回繰り返すことにより、1回の温度計測処理が完了する構成としたが、本発明はこれに限定されない。例えば、放電時間を繰り返し計測することによる電源部の電圧低下が、一定の閾値以内に収束した後から、コンデンサの充電/放電を繰り返すことにより、1回の温度計測処理を完了する構成としても良い。
Claims (12)
- サンプリングタイミング毎に、サーミスタの抵抗値変化に基づいて温度値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された複数の温度値に基づいて、前記サーミスタの外部温度との温度平衡状態における温度値を推定する推定手段と、
前記算出手段により算出された温度値に対する修正の要否を他のサンプリングタイミングで算出された温度値に基づいて判断し、修正要と判断された場合に、当該温度値を、当該温度値よりも前のサンプリングタイミングで算出された温度値に基づいて修正する修正手段とを備えることを特徴とする電子体温計。 - 前記推定手段は、算出された温度値に基づいて体温の計測開始を検出し、該計測開始を検出してから所定時間が経過した後の所定期間において前記算出手段により算出された温度計測値を用いて平衡温度を推定し、
前記修正手段は、前記所定期間以外では1つ前のサンプリングタイミングで算出された温度計測値の修正の要否を判定して修正を行う第1修正処理を、前記所定期間内では現在のサンプリングタイミングで算出された温度計測値の修正の要否を判定して修正を行う第2修正処理を実行することを特徴とする請求項1に記載の電子体温計。 - 前記推定手段は、算出された温度値に基づいて体温の計測開始を検出し、該計測開始を検出してから所定時間が経過した後の所定期間において前記算出手段により算出された温度計測値を用いて平衡温度を推定し、
前記修正手段は、
前記所定期間における前記推定のための予測係数の選択と、前記推定の打ち切りを判断するタイミングにおいて、現在のサンプリングタイミングで算出された温度計測値の修正の要否を判定して修正を行う第2修正処理を実行し、他のタイミングでは1つ前のサンプリングタイミングで算出された温度計測値の修正の要否を判定して修正を行う第1修正処理を実行することを特徴とする請求項1に記載の電子体温計。 - 前記第1修正処理において、前記修正手段は、
3つ前と2つ前のサンプリングタイミングで算出された温度値から推定される1つ前のサンプリングタイミングにおける推定温度値と、前記算出手段により算出された1つ前のサンプリングタイミングにおける温度値のずれが所定範囲を超えており、前記3つ前と2つ前のサンプリングタイミングで算出された温度値から推定される現在のサンプリングタイミングにおける推定温度値と、前記算出手段により算出された現在のサンプリングタイミングにおける温度値のずれが所定範囲内である場合に、前記1つ前のサンプリングタイミングにおける温度計測値の修正が必要であると判断し、
修正が必要と判断した場合には、前記1つ前のサンプリングタイミングにおける温度計測値を前記1つ前のサンプリングタイミングにおける推定温度値に修正することを特徴とする請求項2または3に記載の電子体温計。 - 前記第2修正処理において、前記修正手段は、
3つ前と2つ前のサンプリングタイミングで算出された温度計測値から推定される1つ前のサンプリングタイミングにおける推定温度値と、前記算出手段により算出された前記1つ前のサンプリングタイミングにおける温度値とのずれが所定範囲内であり、前記2つ前と1つ前のサンプリングタイミングで算出された温度値から推定される現在のサンプリングタイミングにおける推定温度値と、前記算出手段により算出された前記現在のサンプリングタイミングにおける温度値とのずれが所定範囲を超える場合に、前記現在のサンプリングタイミングにおける温度計測値の修正が必要であると判定し、
修正が必要と判定された場合には、前記現在のサンプリングタイミングにおける温度計測値を、前記現在のサンプリングタイミングにおける推定温度値に修正することを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の電子体温計。 - 前記サーミスタと直列に接続され、積分回路を構成するコンデンサと、
クロック信号を生成するクロック手段と、
前記積分回路において定常状態から過渡状態に移行した際の過渡期間を前記クロック信号をカウントすることにより計測する計測手段とを更に備え、
前記算出手段は、前記計測手段で計測された前記過渡期間に基づいて温度値を算出することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の電子体温計。 - 前記計測手段は、
前記積分回路における前記コンデンサの電圧と所定電圧との比較結果を示す比較信号を出力する比較手段と、
前記積分回路の前記コンデンサにおける放電の開始から前記比較信号の変化を検出するまでの期間において前記クロック信号をカウントすることにより前記過渡期間を計測することを特徴とする請求項6に記載の電子体温計。 - 前記積分回路は、更に前記コンデンサと直列に、且つ、前記サーミスタと並列に接続された基準抵抗体を有し、
前記計測手段は、前記コンデンサに蓄積された電荷を前記サーミスタを介して放電して得られる放電時間と、前記コンデンサに蓄積された電荷を前記基準抵抗体を介して放電して得られる放電時間との少なくとも2つの放電時間を計測し、
前記算出手段は、前記計測手段で計測された前記少なくとも2つの放電時間を用いて温度値を算出することを特徴とする請求項6または7に記載の電子体温計。 - 前記計測手段は、前記コンデンサに蓄積された電荷を前記サーミスタを介して放電して得られる第1の放電時間の計測と、前記第1の放電時間の計測の直前及び直後において前記コンデンサに蓄積された電荷を前記基準抵抗体を介して放電して得られる第2及び第3の放電時間の計測を行い、
前記算出手段は、前記第2及び第3の放電時間の平均値と、前記第1の放電時間とを用いて温度値を算出することを特徴とする請求項8に記載の電子体温計。 - 前記計測手段は、前記サンプリングタイミングの各々において、前記放電時間の計測の開始に先立って、少なくとも1回の前記コンデンサへの充電と放電を行うことを特徴とする請求項6乃至9のいずれか1項に記載の電子体温計。
- 前記計測手段は、前記コンデンサからの前記基準抵抗体を介した放電を複数回繰り返し、前回の放電時間と今回の放電時間との差が所定値以下になった場合に当該今回の放電時間を前記第2の放電時間とし、当該今回の放電時間の計測の直後に前記コンデンサから前記サーミスタを介した放電を行って前記第1の放電時間を計測し、更に、前記第1の放電時間の計測の直後に前記コンデンサから前記基準抵抗体を介した放電を行って前記第3の放電時間を計測することを特徴とする請求項8に記載の電子体温計。
- サンプリングタイミング毎に、サーミスタの抵抗値変化に基づいて温度値を算出する算出工程と、
前記算出工程により算出された複数の温度値に基づいて、前記サーミスタの外部温度との温度平衡状態における温度値を推定する推定工程と、
前記算出工程により算出された温度値に対する修正の要否を他のサンプリングタイミングで算出された温度値に基づいて判断し、修正要と判断された場合に、当該温度値を、当該温度値よりも前のサンプリングタイミングで算出された温度値に基づいて修正する修正工程とを有することを特徴とする電子体温計の制御方法。
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CN106264485A (zh) * | 2015-05-29 | 2017-01-04 | 上海温尔信息科技有限公司 | 监护系统、体温监测仪及其人体体温数据处理装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58225323A (ja) * | 1982-06-24 | 1983-12-27 | Terumo Corp | 電子体温計 |
JPS5930030A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-17 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
JPS6269120A (ja) * | 1985-09-21 | 1987-03-30 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 信号処理方式 |
JPH0333626A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-13 | Nohmi Bosai Ltd | 熱検出方法並びに熱検出回路 |
JPH0534196A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Hitachi Cable Ltd | 光フアイバを用いた物理量分布の測定方法 |
JP2002022552A (ja) * | 2000-07-11 | 2002-01-23 | Toshiba Corp | 測定データの整定推定方法 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58225323A (ja) * | 1982-06-24 | 1983-12-27 | Terumo Corp | 電子体温計 |
JPS5930030A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-17 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
JPS6269120A (ja) * | 1985-09-21 | 1987-03-30 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 信号処理方式 |
JPH0333626A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-13 | Nohmi Bosai Ltd | 熱検出方法並びに熱検出回路 |
JPH0534196A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Hitachi Cable Ltd | 光フアイバを用いた物理量分布の測定方法 |
JP2002022552A (ja) * | 2000-07-11 | 2002-01-23 | Toshiba Corp | 測定データの整定推定方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106264479A (zh) * | 2015-05-29 | 2017-01-04 | 上海温尔信息科技有限公司 | 人体体温数据处理方法 |
CN106264485A (zh) * | 2015-05-29 | 2017-01-04 | 上海温尔信息科技有限公司 | 监护系统、体温监测仪及其人体体温数据处理装置 |
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