JP2010219235A - 部品実装基板およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の部品実装基板10は、基板11と、基板11の一方の面11aに設けられた導電部12と、導電部12に接続され、基板11の一方の面11aに配置された電子部品21とを備え、導電部12に、電子部品21の端子22が圧入され、電子部品21、導電部12と電子部品21の端子22との接続部、および、基板11における前記の接続部の周辺領域が接着層31に覆われてなり、接着層31は硬化収縮率が3%以上の紫外線硬化型接着剤からなり、接着層31は、基板11を平面視した場合、電子部品21を中心とした円形状をなしており、その円の半径が10mm以上であることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
なお、この形態は、発明の趣旨をより良く理解させるために具体的に説明するものであり、特に指定のない限り、本発明を限定するものではない。
図1は、本発明の部品実装基板の一実施形態を示す概略構成図である。
この実施形態の部品実装基板10は、基板11と、基板11の一方の面11aに、ポリマー型導電インクにより所定の形状に設けられた導電部12と、電子部品21と、接着層31とから概略構成されている。
導電部12は、基板11の一方の面11aにおいて、所定の形状の回路やアンテナなどをなしている。
電子部品21は、基板11の一方の面11aに設けられた導電部12の電極12a,12aに、その端子が圧入されて、導電部12と電気的に接続されている。ここで、電子部品21の端子22が、導電部12に圧入されているとは、電子部品21が導電部12に対して押圧され、電子部品21の端子22が導電部12の電極12a,12aにめり込んでいることを言う。
接着層31からなり、電子部品21を中心とする円の半径が10mm未満では、基板11と接着層31との接着面積が小さいため、部品実装基板10が稼働により発熱した場合、あるいは、部品実装基板10が高温環境へ曝露された場合、接着層31が収縮して、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。
電子部品21の周囲では、接着層31の厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、170μm未満では、接着厚が薄いため、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、電子部品21上部における基板11に垂直な方向の収縮が小さいため、電子部品21が、導電部12に対して十分に押圧されず、電子部品21と導電部12の接続が十分でなくなるおそれがある。一方、電子部品21の周囲では、接着層31の厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、720μmを超えると、接着厚が厚いため、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、電子部品21上部における基板11の長手方向への収縮が大きく作用し、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。
接着層31の基板11に垂直な方向の断面の円錐形の端部(裾の部分)では、接着層31の厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、50μm未満では、電子部品21から離れた領域において、接着層31と基板11との接着力が弱いため、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、基板11から接着層31が剥がれ、基板11の長手方向への収縮が大きく作用し、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。一方、接着層31の基板11に垂直な方向の断面の円錐形の端部(裾の部分)では、接着層31の厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、100μmを超えると、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、電子部品21から離れた領域における基板11の長手方向への収縮が大きく作用し、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。
接着層31をなす紫外線硬化型接着剤の硬化収縮率が3%未満では、硬化収縮により、電子部品21の端子22が押圧されて、基板11に垂直な方向、すなわち、電子部品21へ接続する方向へ収縮する作用が小さく、電子部品21の端子22の電極12へのめり込みが不十分となる現象が見られる。
樹脂組成物として熱硬化型樹脂を用いれば、ポリマー型導電インクは、200℃以下、例えば100〜150℃程度で導電部をなす塗膜を形成することができる熱硬化型となる。導電部をなす塗膜の電気の流れる経路は、塗膜をなす導電微粒子が互いに接触することによる形成され、この塗膜の抵抗値は10-5Ω・cmオーダーである。
また、本発明におけるポリマー型導電インクとしては、熱硬化型の他にも、光硬化型、浸透乾燥型、溶剤揮発型といった公知のものが用いられる。
図1〜図5を参照して、本発明の部品実装基板の製造方法の一実施形態を説明する。
まず、図2に示すように、印刷法により、基板11の一方の面11aにポリマー型導電インクを塗布して塗膜を形成し、その塗膜を乾燥、硬化させて所定の形状の導電部12を形成する(工程A)。
また、印刷法としては、インクジェット法、スクリーン印刷法などが用いられる。
紫外線硬化型接着剤31Aとしては、上記の接着層31をなす紫外線硬化型接着剤が用いられる。
紫外線硬化型接着剤31Aからなり、電子部品21を中心とする円の半径が10mm未満では、基板11と紫外線硬化型接着剤31Aとの接着面積が小さいため、後段の工程Dにおいて、紫外線硬化型接着剤31Aを硬化させた場合、その紫外線硬化型接着剤31Aが基板11の長手方向への収縮が大きく作用して、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。
電子部品21の周囲では、紫外線硬化型接着剤31Aを塗布する厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、170μm未満では、紫外線硬化型接着剤31Aを硬化してなる接着層31の厚みが所定の厚み未満となり、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、電子部品21上部における基板11に垂直な方向への収縮が小さいため、電子部品21が、導電部12に対して十分に押圧されず、電子部品21と導電部12の接続が十分でなくなるおそれがある。一方、電子部品21の周囲では、紫外線硬化型接着剤31Aを塗布する厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、720μmを超えると、紫外線硬化型接着剤31Aを硬化してなる接着層31の厚みが所定の厚みを超え、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、電子部品21上部における基板11の長手方向への収縮が大きく作用し、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。
接着層31の基板11に垂直な方向の断面の円錐形の端部(裾の部分)では、紫外線硬化型接着剤31Aを塗布する厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、55μm未満では、紫外線硬化型接着剤31Aを硬化してなる接着層31の厚みが所定の厚み未満となるため、電子部品21から離れた領域において、接着層31と基板11との接着力が弱いため、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、基板11から接着層31が剥がれ、基板11の長手方向への収縮が大きく作用し、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。一方、接着層31の基板11に垂直な方向の断面の円錐形の端部(裾の部分)では、紫外線硬化型接着剤31Aを塗布する厚みが、基板11の一方の面11aを基準として、110μmを超えると、紫外線硬化型接着剤31Aを硬化してなる接着層31の厚みが所定の厚みを超えるため、紫外線硬化により接着層31が収縮したとき、電子部品21から離れた領域における基板11の長手方向への収縮が大きく作用し、電子部品21が所定の位置からずれるおそれがある。
Claims (2)
- 基板と、該基板の一方の面に設けられた導電部と、該導電部に接続され、前記基板の一方の面に配置された電子部品とを備え、
前記導電部に、前記電子部品の端子が圧入され、前記電子部品、前記導電部と前記電子部品の端子との接続部、および、前記基板における前記接続部の周辺領域が接着層に覆われてなる部品実装基板であって、
前記接着層は紫外線硬化型接着剤からなり、該紫外線硬化型接着剤の硬化収縮率が3%以上、前記接着層は、前記基板を平面視した場合、前記電子部品を中心とした円形状をなしており、その円の半径が10mm以上であることを特徴とする部品実装基板。 - 基板と、該基板の一方の面に設けられた導電部と、該導電部に接続され、前記基板の一方の面に配置された電子部品とを備え、前記導電部に、前記電子部品の端子が圧入され、前記電子部品、前記導電部と前記電子部品の端子との接続部、および、前記基板における前記接続部の周辺領域が接着層に覆われてなる部品実装基板の製造方法であって、
基板の一方の面に、ポリマー型導電インクを塗布して塗膜を形成し、該塗膜を硬化させて導電部を形成する工程Aと、
前記導電部の電極に、電子部品の一対の端子を圧入して、前記基板の一方の面に前記電子部品を配置する工程Bと、
前記電子部品、前記導電部と前記電子部品の端子との接続部、および、前記基板における前記接続部の周辺領域を覆うように、硬化収縮率が3%以上の紫外線硬化型接着剤を塗布する工程Cと、
前記紫外線硬化型接着剤に紫外線を照射し、前記紫外線硬化型接着剤を硬化させ、前記紫外線硬化型接着剤からなる接着層を形成する工程Dと、を有し、
前記工程Cにおいて、前記基板を平面視した場合、前記紫外線硬化型接着剤が前記電子部品を中心とした円形状をなし、その円の半径が10mm以上となるように、前記基板の一方の面に、前記紫外線硬化型接着剤を塗布することを特徴とする部品実装基板の製造方法。
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WO2014006787A1 (ja) * | 2012-07-04 | 2014-01-09 | パナソニック株式会社 | 電子部品実装構造体、icカード、cofパッケージ |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6484790A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-30 | Aisin Seiki | Conductive bonding of chip component |
JPH05343568A (ja) * | 1992-06-05 | 1993-12-24 | Nippon Electron Kk | プリント配線基板の製造方法 |
JP2004022985A (ja) * | 2002-06-19 | 2004-01-22 | Mitsubishi Plastics Ind Ltd | 半導体装置内蔵多層配線基板及びその製造方法 |
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2009
- 2009-03-16 JP JP2009063252A patent/JP2010219235A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6484790A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-30 | Aisin Seiki | Conductive bonding of chip component |
JPH05343568A (ja) * | 1992-06-05 | 1993-12-24 | Nippon Electron Kk | プリント配線基板の製造方法 |
JP2004022985A (ja) * | 2002-06-19 | 2004-01-22 | Mitsubishi Plastics Ind Ltd | 半導体装置内蔵多層配線基板及びその製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014006787A1 (ja) * | 2012-07-04 | 2014-01-09 | パナソニック株式会社 | 電子部品実装構造体、icカード、cofパッケージ |
US9516749B2 (en) | 2012-07-04 | 2016-12-06 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Electronic component-mounted structure, IC card and COF package |
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