JP2010197751A - バイアス点調整機能を有する光変調器及びスイッチ - Google Patents

バイアス点調整機能を有する光変調器及びスイッチ Download PDF

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Abstract

【課題】 本発明は,安定なバイアス状態を容易に得ることができる光変調器を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は,基本的には,メインマッハツェンダー(MZ)型導波路(8)の分岐部(5)及び合波部(6)に方向性結合器を用いる光変調器に関する。メインMZ導波路の入出力部に方向性結合器を用いることで,サブMZ電極に印加する電圧を変化させると,方向性結合器の位相シフトにより,各出力ポートの光強度が最小値となるバイアス電圧がずれる。これを利用することで,主電極の電圧を制御しなくても安定なバイアス状態を得ることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は,マッハツェンダー導波路の分岐路及び合波部に方向性結合器を用いた光変調器および光スイッチに関する。
特許第3867148号公報(特許文献1)には,マッハツェンダー(MZ)型導波路を用いた光変調器が開示されている。この光変調器の光入出力部は,Y分岐であった。この光変調器では,メインMZ電極(主電極)に正弦波を印加し,2つのサブMZ電極(副電極)に印加するバイアス電圧を調整することで,安定なバイアス状態を得ていた。
しかしながら,特許第3867148号公報に開示された光変調器を用いて安定なバイアス状態を得るためには,熟練を要するという問題があった。
特開2007−057782号公報(米国特許出願第12/064597号,参照することにより本明細書に取り込まれる。)には,メインマッハツェンダー(MZ)型導波路のY分岐に非対称方向性結合器を用いた光変調器が開示されている(請求項2)。この光変調器は,サブMZ型導波路のうち少なくとも一方に強度変調器を有する。そして,非対称方向性結合器を用いて,入力光を不均一に分け,それぞれのサブMZ型導波路に導入して,強度変調器で安定なバイアス状態を得る。
特許第3867148号公報 特開2007−057782号公報
しかしながら,特許第3867148号公報や,特開2007−057782号公報に開示された光変調器を用いて安定なバイアス状態を得るためには,熟練を要するという問題があった。
そこで,本発明は,安定なバイアス状態を容易に得ることができる光変調器を提供することを目的とする。
本発明は,基本的には,メインマッハツェンダー(MZ)型導波路のY分岐の替わりに方向性結合器を用いる光変調器に関する。すなわち,本発明は,メインMZ導波路の分岐路及び合波部に方向性結合器を用いる。サブMZ電極に印加する電圧を変化させると,方向性結合器の位相シフトにより,各出力ポートの光強度が最小値となるバイアス電圧がずれる。本発明は,この現象を利用することで,主電極(メインMZ電極)の電圧を制御しなくても安定なバイアス状態を得ることができる。
本発明の第1の側面は,第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)2と;第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)3と;光信号の入力部4と,光信号が第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)とへ分岐する分岐部5と,第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)から出力される光信号が合波される合波部6と,合波部で合波された光信号が出力される光信号の出力部7とを含むメインマッハツェンダー導波路(MZ)8と;第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第1の電極9と;第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第2の電極10と;メインマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加して,第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号と第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号との位相差を制御する為のメインマッハツェンダー電極11と;を含む光変調器に関する。そして,光信号部4は,分岐部5と光学的に接続された2つの導波路4a,4bを含み,出力部7は,合波部6と光学的に接続された2つの導波路7a,7bを含む。分岐部5及び合波部6は,ともに方向性結合器を含む。
本発明の第1の側面の好ましい態様は,第1の電極9,第2の電極10及びメインマッハツェンダー電極11に電圧を供給する信号源12をさらに有する光変調器に関する。そして,信号源12は,2つのサブマッハツェンダー導波路2,3のバイアス点をヌル点に維持しつつ,光変調器を駆動する。
本発明の第1の側面の好ましい態様は,さらに,2つの光強度測定装置21a,21b,及び制御装置22を有する。そして,2つの光強度測定装置21a,21bは,それぞれ出力部7の2つの導波路7a,7bと接続される。制御装置22は,信号源12へ情報を伝えることができるように接続されるとともに,2つの光強度測定装置21a,21bと情報を受け取ることができるように接続される。制御装置22は,2つの光強度測定装置21a,21bから,出力部7の2つの導波路7a,7bから出力された光の強度に関する情報を受け取り,出力部7の2つの導波路7a,7bからの出力強度がともに最小値となる様に第1の電極9及び第2の電極10に印加する電圧を求める。そして,制御装置22は,第1の電極9及び第2の電極10のいずれか又は両方に印加する電圧を変化させる指令を信号源12へ伝える。
本発明の第1の側面の好ましい態様は,さらに,2つの光強度測定装置21a,21b,制御装置22,第1の周波数分離装置31,第2の周波数分離装置32,第1の電極9に印加する第1の三角波v(t)を求める装置33,及び第2の電極10に印加する第2の三角波v(t)を求める装置34を含む。そして,2つの光強度測定装置21a,21bは,それぞれ出力部7の2つの導波路7a,7bと接続される。制御装置22は,信号源12へ情報を伝えることができるように接続されるとともに,2つの光強度測定装置21a,21bと情報を受け取ることができるように接続される。そいsて,制御装置22は,2つの光強度測定装置21a,21bから,出力部7の2つの導波路7a,7bから出力された光の強度に関する情報を受け取る。ここで,2つの光強度測定装置21a,21bを,第1の光強度測定装置21a及び第2の光強度測定装置21bとする。すると,第1の周波数分離装置31は,第1の光強度測定装置21aと接続される。また,第2の周波数分離装置32は,第2の光強度測定装置21bと接続される。ここで,v(t)をV+v’(t)とし,v(t)をV+v’(t)とする。すると,v(t)を求める装置33は,第1の周波数分離装置31が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び第2の周波数分離装置32が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取り,v(t)を求め,制御装置22へ出力する。v(t)を求める装置34は,第1の周波数分離装置31が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び第2の周波数分離装置32が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取り,v(t)を求め,制御装置22へ出力する。制御装置22は,信号源12へ第1の電極9に印加する第1の三角波v(t),及び第2の電極10に印加する第2の三角波v(t)に関する情報を伝える。
本発明の第1の側面の好ましい態様は,QPSK信号,FSK信号,QAM信号,又はSSB信号を出力する上記いずれかに記載の光変調器である。換言すると,本発明の第1の側面の好ましい態様は,光変調器が,QPSK信号発生器,FSK信号発生器,QAM信号発生器,又はSSB信号発生器である。
本発明の第2の側面は,上記いずれかに記載の光変調器を用いた光変調方法に関する。そして,制御装置22が,2つの光強度測定装置21a,21bから,出力部7の2つの導波路7a,7bから出力された光の強度に関する情報を受け取る。そして,制御装置22が,出力部7の2つの導波路7a,7bからの出力強度がともに最小値となる様に第1の電極9及び第2の電極10に印加する電圧(バイアス電圧)を求める。そして,制御装置22が,第1の電極9及び第2の電極10のいずれか又は両方に印加する電圧を変化させる指令を信号源12へ伝える。このようにして,この方法では,2つのサブマッハツェンダー導波路2,3のバイアス点をヌル点に維持しつつ,光変調器を駆動することができる。
本発明の第2の側面の上記とは別の態様は,光変調方法に関する。そして,光変調器は,さらに,2つの光強度測定装置21a,21b,制御装置22,第1の周波数分離装置31,第2の周波数分離装置32,第1の電極9に印加する第1の三角波v(t)を求める装置33,及び第2の電極10に印加する第2の三角波v(t)を求める装置34を含む。ここで,v(t)をV+v’(t)とし,v(t)をVb+v’(t)とする。v(t)を求める装置33は,第1の周波数分離装置31が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び第2の周波数分離装置32が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取る。そして,vを横軸とし,v’(t)に起因した光強度変化の成分を縦軸としたグラフにおいて,第1の周波数分離装置31が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び第2の周波数分離装置32が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分がともに最小となるように,バイアス電圧を制御する。このようにして,装置33は,Vを求める。装置33は,求めたVを用いて,v(t)を求める(Vとv’(t)を加算する)。そして,装置33は,求めたv(t)を制御装置22へ出力する。
本一方,v(t)を求める装置34は,第1の周波数分離装置31が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び第2の周波数分離装置32が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取る。そして,vを横軸とし,v’(t)に起因した光強度変化の成分を縦軸としたグラフにおいて,第1の周波数分離装置31が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び第2の周波数分離装置32が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分がともに最小となるように,バイアス電圧を制御する。このようにして装置32は,Vを求める。装置32は,求めたVを用いて,v(t)を求める。装置32は,求めたv(t)を制御装置22へ出力する。制御装置22は,信号源12へ第1の電極9に印加する第1の三角波v(t),及び第2の電極10に印加する第2の三角波v(t)に関する情報を伝える。
本発明の第2の側面の上記とは別の態様は,QPSK信号,FSK信号,QAM信号,又はSSB信号を出力する上記いずれかに記載の方法に関する。
本発明によれば,安定なバイアス状態を得ることができる光変調器を提供することができる。これにより,特にQPSK信号,FSK信号,QAM信号,及びSSB信号を安定に出力できる。
図1は,本発明の光変調器の例を示す概略図である。 図2は,第2のサブマッハツェンダー導波路のバイアスがヌル点からずれている場合を説明するための図である。 図3は,第2のサブマッハツェンダー導波路のバイアスがヌル点と一致している場合を説明するための図である。 図4は,実施例で用いた光変調器の構成図である。 第2の電極に印加するバイアス電圧Vが16Vの場合において,第1の電極に印加するバイアス電圧Vを0V〜32Vまで掃引したときのポート1’から出力した光の強度I1’とポート2’から出力した光の強度I2’を示す図面に替わるグラフである。なお,図5Aは得られたグラフを見やすいようにトレースしたものである。以下同様。 バイアス電圧Vが16.5Vの場合において,バイアス電圧Vを掃引したときの光の強度I1’及びI2’を示す図面に替わるグラフである。 バイアス電圧Vが17Vの場合において,バイアス電圧Vを掃引したときの光の強度I1’及びI2’を示す図面に替わるグラフである。 バイアス電圧Vが17.5Vの場合において,バイアス電圧Vを掃引したときの光の強度I1’及びI2’を示す図面に替わるグラフである。 バイアス電圧Vが18Vの場合において,バイアス電圧Vを掃引したときの光の強度I1’及びI2’を示す図面に替わるグラフである。 バイアス電圧Vが18.5Vの場合において,バイアス電圧Vを掃引したときの光の強度I1’及びI2’を示す図面に替わるグラフである。 バイアス電圧Vが19Vの場合において,バイアス電圧Vを掃引したときの光の強度I1’及びI2’を示す図面に替わるグラフである。 図6は,三角波を用いたバイアス調整方法を説明するための図である。
図1は,本発明の光変調器の例を示す概略図である。図1に示す光変調器は,第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)2と,第2のサブマッハツェンダー導波路MZ3と,メインマッハツェンダー導波路(MZ)8と,第1の電極9と,第2の電極10と,メインマッハツェンダー電極11と,信号源12と,2つの光強度測定装置21a,21bと,制御装置22とを有する。そして,メインマッハツェンダー導波路(MZ)8は,光信号の入力部4と,光信号がMZとMZとへ分岐する分岐部5と,MZと,MZと,MZとMZから出力される光信号が合波される合波部6と,合波部で合波された光信号が出力される光信号の出力部7とを含む。
そして,光信号部4は,分岐部5と光学的に接続された2つの導波路4a,4bを含む。出力部7は,合波部6と光学的に接続された2つの導波路7a,7bを含む。分岐部5及び合波部6は,ともに方向性結合器を含む。方向性結合器の例は3dBの方向性結合器である。3dBの方向性結合器は,入力光の強度を50:50に分ける方向性結合器である。方向性結合器は,カプラともよばれる。
導波路4aからの入力光の複素振幅をEとし,導波路4bからの入力光の複素振幅をEとする。そして,MZ2へと分岐される光の複素振幅をE’,MZ3へと分岐される光の複素振幅をE’とする。方向性結合器による入射光のパワー分岐比は,方向性結合器の導波路の結合部の長さ及び等価屈折率と入射光波長との比に依存する。このことは,以下のαにより示されるとおりである。
’=Ecosα+iEsinα,E’=iEsinα+Ecosα
すなわち,導波路4aからMZ2へと進む光は,入射光と出射光の位相が同じである。導波路4bからMZ3へと進む光も,入射光と出射光の位相が同じである。一方,導波路4aからMZ3へと進む光は,入射光と出射光の位相が90°シフトする。導波路4bからMZ2へと進む光も,入射光と出射光の位相が90°シフトする。
第1の電極9は,MZに電圧を印加するための電極である。一方,第2の電極10は,MZに電圧を印加するための電極である。メインマッハツェンダー電極11は,MZに電圧を印加することで,MZからの出力信号とMZからの出力信号との位相差を制御するための電極である。
信号源12は,第1の電極9,第2の電極10及びメインマッハツェンダー電極11に電圧を供給するものである。信号源12は,第1の電極9,第2の電極10及びメインマッハツェンダー電極11にバイアス電圧を供給するためのバイアス信号源を含んでいてもよい。また,信号源12は,メインマッハツェンダー電極11にラジオ周波数信号を供給するための高周波信号源を含んでもよい。高周波信号源は,メインマッハツェンダー電極11のみならず,第1の電極9,及び第2の電極10のいずれか又は両方にラジオ周波数信号を供給するものでもよい。
2つの光強度測定装置21a,21bは,2つの導波路7a,7bからの出力強度を測定するための装置である。光強度測定装置の例は,フォトダイオードである。2つの光強度測定装置21a,21bは,それぞれ出力部7の2つの導波路7a,7bと接続される。2つの光強度測定装置が測定した2つの導波路7a,7bからの出力強度を用いることにより,サブMZ導波路の光透過率が最小となるバイアス電圧に対する現在のバイアス電圧のずれの大きさや極性を把握することができる。この情報を用いることで,サブMZ導波路の光透過率が最小となるバイアス電圧を容易に達成できる。
制御装置22は,信号源12へ情報を伝えることができるように接続されるとともに,2つの光強度測定装置21a,21bと情報を受け取ることができるように接続される。制御装置22は,2つの光強度測定装置21a,21bから,出力部7の2つの導波路7a,7bから出力された光の強度に関する情報を受け取る。また,制御装置22は,出力部7の2つの導波路7a,7bからの出力強度がともに最小値となる様に第1の電極9及び第2の電極10に印加する電圧を求める。そして,制御装置は,第1の電極9及び第2の電極10のいずれか又は両方に印加する電圧を変化させる指令を信号源12へ伝える。
本発明の光変調装置は,サブMZ導波路のバイアス点をヌル点に維持しつつ,光変調器を駆動できるので,QPSK信号,FSK信号,QAM信号,又はSSB信号を出力するQPSK信号発生器,FSK信号発生器,QAM信号発生器,又はSSB変調器に有効に用いられる。
QPSK(4相位相シフトキーイング)信号は,たとえば,0,π/2,π,及び3π/2の4つの位相を情報とする変調信号である。2つのサブMZ導波路を有するQPSK信号発生器はすでに知られている。すでに知られているQPSK信号発生器に本発明を組み合わせることで,サブMZ導波路のバイアス点をヌル点に維持しつつ,QPSK信号発生器を駆動できるので,良好なQPSK信号を得ることができる。
2つのサブMZ導波路を有するSSB変調器及びFSK信号発生器も知られている(たとえば,特許文献1を参照)。また,2つのサブMZ導波路を有するQAM(直交振幅変調)信号発生器も知られている。
すなわち,制御装置22が,2つの光強度測定装置21a,21bから,出力部7の2つの導波路7a,7bから出力された光の強度に関する情報を受け取る。そして,出力部7の2つの導波路7a,7bからの出力強度がともに最小値となる様に第1の電極9及び第2の電極10に印加する電圧を求める。その上で,第1の電極9及び第2の電極10のいずれか又は両方に印加する電圧を変化させる指令を信号源12へ伝える。これにより,サブMZ導波路のバイアス点をヌル点に維持しつつ,光変調器を駆動することができる。
本発明は,第1の電極9及び第2の電極10へ印加する電圧を変化させると,方向性結合器の位相シフトにより各導波路7a,7bから出力される光強度の最小値が変化することを利用するものである。以下,この点について説明する。
図2は,第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)のバイアスがヌル点からずれている場合を説明するための図である。光は,図2の入力ポート1から入力されたとする。ここでは,簡単のため,θ=0と仮定するが,本発明は任意のθについて同じ結論を得ることができる。また,V(第2の電極に印加される電圧)がある値をとっているとする。図2のポート1’から出力した光の強度をI1’とし,ポート2’から出力した光の強度をI2’とする。ポート1’及びポート2’から出力する光は,MZからの出力光とMZからの出力光が合波され,方向性結合器で分岐されたものである。ポート1’から出力する光について,MZからの出力光とMZからの出力光は逆位相となる。一方,ポート2’から出力する光について,MZからの出力光とMZからの出力光は同位相となる。この場合,I1’が最小値となる第1の電極に印加する電圧V1’aと,I2’の最小値となる第2の電極に印加する電圧V2’aとが異なることとなる。たとえば,いくつかのVにおいてV1’aとV2’aを求める。そして,V1’aとV2’aをとの差が小さくなるように,Vを調整する。このようにして,バイアス電圧のずれの大きさや極性を把握できることとなる。最終的には,V1’aと,V2’aとが同じとなるようにVを調整すればよい。
図3は,第2のサブマッハツェンダー導波路のバイアスがヌル点と一致している場合を説明するための図である。図3に示されるように,第2のサブマッハツェンダー導波路のバイアスがヌル点である場合は,I1’の最小値を与えるV1’aと,I2’の最小値を与えるV2’aとが同じとなる。
図6は,三角波を用いたバイアス調整方法を説明するための図である。図6に示すように,この態様の光変調器は,周波数が十分離れた2つの三角波を用いて,2つのサブMZ導波路のバイアス電圧を同時に掃引し,出力光の低周波成分(三角波の周波数成分)の各々を抽出し,それぞれのサブMZ導波路のバイアス制御に用いるものである。三角波の周波数をf,fとする。これらは光信号のビットレートよりもずっと小さい。さらに,f,fは,周波数分離装置33,34より区別が可能な程度異なっている。f,及びfの例は,たとえば,fが200kHzで,fが400kHzである。この光変調器は,2つの光強度測定装置21a,21b,制御装置22,第1の周波数分離装置31,第2の周波数分離装置32と,第1の電極9に印加する第1の三角波v(t)を求める装置33と,第2の電極10に印加する第2の三角波v(t)を求める装置34とを含む。そして,ここで,v(t)をVa+v’(t)とし,v(t)をVb+v’(t)とする。Va及びVbは一定値とされる値であり,Va=Vbであってもよく,各サブMZ導波路のヌル点のバイアスに収束させようとするものである。一方,v’(t)及びv’(t)は,それぞれ,v(t)及びv(t)の交流分である。周波数分離装置は,たとえば,バンドパスフィルタを用いることで得ることができる。すなわち,バンドバスフィルタは所定領域の周波数を有する成分を透過するフィルタである。fとfとが異なるため,バンドパスフィルタを用いてv’(t)に起因した光強度変化の成分及びv’(t)に起因した光強度変化の成分を分離できる。なお,MZ導波路に印加するバイアス電圧と光振幅透過率とは,三角関数の関係にある。よって,v’(t)及びv’(t)のピーク・トゥ・ピーク値が2Vπ程度であり,バイアスのDCがヌル点の近傍にあるとすると,光振幅透過率は,v’(t)やv’(t)の繰り返し周波数と同じ周波数の余弦波となる。
(t)を求める装置33は,第1の周波数分離装置31が分離したv'(t)に起因した光強度変化の成分(I1b')及び第2の周波数分離装置32が分離したv'(t)に起因した光強度変化の成分(I2b')を受け取る。そして,v(t)を求める装置33は,v(t)を求める。v(t)は,たとえば,次の方法により求めることができる。v(t)を横軸にとり各光強度測定装置21a,21bの出力を縦軸にとったグラフは,v’(t)の瞬時値に応じて,例えば図5A〜図5Gに示すように,I1b'が最小となるバイアス電圧と,I2b'が最小となるバイアス電圧との差が,時間的に変化する。即ちMZがヌル点となるバイアス電圧に対してv(t)の瞬時値が低い場合は図5A〜図5Cのようなグラフとなる。一方,MZがヌル点となるバイアス電圧に対してv(t)の瞬時値が高い場合は,図5E〜図5Gのようなグラフとなる。また,MZがヌル点となるバイアス電圧とv(t)とが一致した場合には図5Dのようなグラフとなる。各光強度測定装置21a,21bの出力をそれぞれ周波数分離装置31,32に通すと,vb’(t)のみによる光強度変化を抽出することが可能となる。即ち,v(t)を横軸にとり周波数分離装置31,32の出力を縦軸にとったグラフは,周波数分離装置によりv’(t)の瞬時値の影響を受けなくなり,MZがヌル点となるバイアス電圧とVとの差に依存した,例えば図5A〜図5Gのいずれかのようなグラフとなり,グラフは時間的に変化しない。即ち,各ポートの出力の光強度が最小値となるバイアス電圧の差を用いてVを制御することにより,バイアス電圧をMZのヌル点に設定することが可能となる。そして,v(t)を求める装置33は,求めたv(t)を制御装置22へと伝える。
(t)を求める装置34は,第1の周波数分離装置31が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び第2の周波数分離装置32が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取る。そして,v(t)を求める装置34は,v(t)を求める。v(t)は,v(t)を求めたと同様にして求めることができる。そして,v(t)を求める装置34は,求めたv(t)を制御装置22へと伝える。
制御装置22は,Va及びVbの値を掃引することで,Va及びVbを求める。そして,制御装置22は,受け取ったv’(t)及びv’(t)を用いて,第1の電極9に印加する第1の三角波v(t),及び第2の電極10に印加する第2の三角波v(t)を求める。その上で,制御装置22は,第1の電極9へ第1の三角波v(t)を印加し,第2の電極10に第2の三角波v(t)を印加するよう,信号源12へ指示する。
各三角波の交流成分v’(t)及びv’(t)の振幅・周波数が一定で,v’(t)及びv’(t)により変化する光信号が最小値となる電圧が一致するように,Va及びVbを調整する。このように三角波を用いることで,2つのサブMZ導波路のバイアス電圧を同時に掃引し,同時にバイアス電圧がヌル点となる状態を把握することができる。
図4は,実施例で用いた光変調器の構成図である。入力光として,中心波長が1609nm,光強度1.77mWの連続光を用いた。入力光は,ポート1から入力した。第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)の電極(第2の電極)に印加するバイアス電圧Vを16V〜19Vまで変化させた。そして,第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)の電極(第1の電極)に印加するバイアス電圧を0V〜32Vまで掃引した。その際のI1’及びI2’の最小値を与える電圧VをそれぞれV1’a及びV2’aとした。
図5A〜図5Gは,それぞれ,第2の電極に印加するバイアス電圧Vが16V,16.5V,17V,17.5V,18V,18.5V及び19Vの場合において,第1の電極に印加するバイアス電圧を0V〜32Vまで掃引したときのポート1’から出力した光の強度I1’とポート2’から出力した光の強度I2’を示す図であり,縦軸の単位はデシベルである。
図5A〜図5Cに示されるとおり,Vが17V以下の場合,V1’aよりV2’aが大きいことがわかる。さらに,Vの値を大きくするに従い,V1’aとV2’aとの値が近づくことがわかる。一方,図5Dに示されるとおり,Vが17.5Vの場合,V1’aとV2’aとが一致することがわかる。このようにして,第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)のバイアス電圧のヌル点が17.5Vであることがわかる。なお,図5E〜図5Gに示されるとおり,Vが18V以上の場合,V1’aよりV2’aが小さいことがわかる。さらに,Vの値を小さくするに従い,V1’aとV2’aとの値が近づくことがわかる。
このように,たとえば,第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)のバイアス電圧のヌル点を求める場合には,いくつかのVにてI1’とI2’とを測定する。そして,測定したI1’とI2’から,そのVにおけるV1’aとV2’aを求める。V1’aとV2’aを与える点は,I1’とI2’の増減が変化する点である。よって,制御装置は,Ij’(J=1,2)−Vグラフの微分を求めることで,V1’aとV2’aを与える点を自動的に求めることができる。そして,いくつかのVにおけるV1’aとV2’aとの差を求めることができる。そして,制御装置は,Vを増やした方がよいか,減らした方がよいか把握するとともに,どの程度増減するかを求める。基本的には,V1’aとV2’aとの差が小さくなる方向にVを調整すればよい。
本発明は光情報通信の分野で好適に利用されうる。
1 光変調器
2 第1のサブマッハツェンダー導波路
3 第2のサブマッハツェンダー導波路
4 入力部
4a,4b 導波路
5 分岐部
6 合波部
7 出力部
7a,7b 導波路
8 メインマッハツェンダー導波路
9 第1の電極
10 第2の電極
11 メインマッハツェンダー電極
12 信号源
21a,21b 光強度測定装置
22 制御装置

Claims (8)

  1. 第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)(2)と;
    第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)(3)と;
    光信号の入力部(4)と,前記光信号が前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)とへ分岐する分岐部(5)と,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)から出力される光信号が合波される合波部(6)と,前記合波部で合波された光信号が出力される光信号の出力部(7)とを含むメインマッハツェンダー導波路(MZ)(8)と;
    前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第1の電極(9)と;
    前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第2の電極(10)と;
    前記メインマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加して,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号との位相差を制御する為のメインマッハツェンダー電極(11)と;
    を含む光変調器であって,

    前記光信号部(4)は,
    前記分岐部(5)と光学的に接続された2つの導波路(4a,4b)を含み,

    前記出力部(7)は,
    前記合波部(6)と光学的に接続された2つの導波路(7a,7b)を含み,

    前記分岐部(5)及び前記合波部(6)は,ともに方向性結合器を含む,

    光変調器。
  2. さらに,前記第1の電極(9),前記第2の電極(10)及び前記メインマッハツェンダー電極(11)に電圧を供給する信号源(12)を有し,
    前記信号源(12)は,前記2つのサブマッハツェンダー導波路(2,3)のバイアス点をヌル点に維持しつつ,前記光変調器を駆動する,
    請求項1に記載の光変調器。
  3. さらに,2つの光強度測定装置(21a,21b),及び制御装置(22)を有し,

    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)は,それぞれ前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)と接続され,

    前記制御装置(22)は,前記信号源(12)へ情報を伝えることができるように接続されるとともに,前記2つの光強度測定装置(21a,21b)と情報を受け取ることができるように接続され,

    前記制御装置(22)は,
    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)から,前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)から出力された光の強度に関する情報を受け取り,
    前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)からの出力強度がともに最小値となる様に前記第1の電極(9)及び前記第2の電極(10)に印加する電圧を求め,
    前記第1の電極(9)及び前記第2の電極(10)のいずれか又は両方に印加する電圧を変化させる指令を前記信号源(12)へ伝える,

    請求項2に記載の光変調器。
  4. さらに,2つの光強度測定装置(21a,21b),制御装置(22),第1の周波数分離装置(31),第2の周波数分離装置(32),前記第1の電極(9)に印加する第1の三角波v(t)を求める装置(33),及び前記第2の電極(10)に印加する第2の三角波v(t)を求める装置(34)を含み,

    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)は,それぞれ前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)と接続され,

    前記制御装置(22)は,前記信号源(12)へ情報を伝えることができるように接続されるとともに,前記2つの光強度測定装置(21a,21b)と情報を受け取ることができるように接続され,

    前記制御装置(22)は,
    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)から,前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)から出力された光の強度に関する情報を受け取り,

    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)を,第1の光強度測定装置(21a)及び第2の光強度測定装置(21b)とすると,

    前記第1の周波数分離装置(31)は,前記第1の光強度測定装置(21a)と接続され,
    前記第2の周波数分離装置(32)は,前記第2の光強度測定装置(21b)と接続され,

    前記v(t)をV+v’(t)とし,前記v(t)をV+v’(t)とすると,

    前記v(t)を求める装置(33)は,前記第1の周波数分離装置(31)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び前記第2の周波数分離装置(32)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取り,v(t)を求め,前記制御装置(22)へ出力し,

    前記v(t)を求める装置(34)は,前記第1の周波数分離装置(31)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び前記第2の周波数分離装置(32)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取り,v(t)を求め,前記制御装置(22)へ出力し,

    前記制御装置(22)は,前記信号源(12)へ
    前記第1の電極(9)に印加する前記第1の三角波v(t),及び前記第2の電極(10)に印加する前記第2の三角波v(t)に関する情報を伝える,

    請求項2に記載の光変調器。
  5. QPSK信号,FSK信号,QAM信号,又はSSB信号を出力する請求項3又は請求項4に記載の光変調器。
  6. 第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)(2)と;
    第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)(3)と;
    光信号の入力部(4)と,前記光信号が前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)とへ分岐する分岐部(5)と,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)から出力される光信号が合波される合波部(6)と,前記合波部で合波された光信号が出力される光信号の出力部(7)とを含むメインマッハツェンダー導波路(MZ)(8)と;
    前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第1の電極(9)と;
    前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第2の電極(10)と;
    前記メインマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加して,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号との位相差を制御する為のメインマッハツェンダー電極(11)と;
    前記第1の電極(9),前記第2の電極(10)及び前記メインマッハツェンダー電極(11)に電圧を供給する信号源(12)と;
    を含む光変調器を用いた光変調方法であって,

    前記光信号部(4)は,
    前記分岐部(5)と光学的に接続された2つの導波路(4a,4b)を含み,

    前記出力部(7)は,
    前記合波部(6)と光学的に接続された2つの導波路(7a,7b)を含み,

    前記分岐部(5)及び前記合波部(6)は,ともに方向性結合器を含み,

    前記光変調器は,さらに2つの光強度測定装置(21a,21b),及び制御装置(22)を有し,

    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)は,それぞれ前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)と接続され,

    前記制御装置(22)は,前記信号源(12)へ情報を伝えることができるように接続されるとともに,前記2つの光強度測定装置(21a,21b)と情報を受け取ることができるように接続され,

    前記制御装置(22)が,
    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)から,前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)から出力された光の強度に関する情報を受け取る工程と,
    前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)からの出力強度がともに最小値となる様に前記第1の電極(9)及び前記第2の電極(10)に印加する電圧を求める工程と,
    前記第1の電極(9)及び前記第2の電極(10)のいずれか又は両方に印加する電圧を変化させる指令を前記信号源(12)へ伝える工程と,
    を含み,

    これにより,前記2つのサブマッハツェンダー導波路(2,3)のバイアス点をヌル点に維持しつつ,前記光変調器を駆動する,方法。
  7. 第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)(2)と;
    第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)(3)と;
    光信号の入力部(4)と,前記光信号が前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)とへ分岐する分岐部(5)と,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)から出力される光信号が合波される合波部(6)と,前記合波部で合波された光信号が出力される光信号の出力部(7)とを含むメインマッハツェンダー導波路(MZ)(8)と;
    前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第1の電極(9)と;
    前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加するための第2の電極(10)と;
    前記メインマッハツェンダー導波路(MZ)に電圧を印加して,前記第1のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号と前記第2のサブマッハツェンダー導波路(MZ)からの出力信号との位相差を制御する為のメインマッハツェンダー電極(11)と;
    前記第1の電極(9),前記第2の電極(10)及び前記メインマッハツェンダー電極(11)に電圧を供給する信号源(12)と;
    を含む光変調器を用いた光変調方法であって,

    前記光変調器は,さらに,2つの光強度測定装置(21a,21b),制御装置(22),第1の周波数分離装置(31),第2の周波数分離装置(32),前記第1の電極(9)に印加する第1の三角波v(t)を求める装置(33),及び前記第2の電極(10)に印加する第2の三角波v(t)を求める装置(34)を含み,

    前記光信号部(4)は,
    前記分岐部(5)と光学的に接続された2つの導波路(4a,4b)を含み,

    前記出力部(7)は,
    前記合波部(6)と光学的に接続された2つの導波路(7a,7b)を含み,

    前記分岐部(5)及び前記合波部(6)は,ともに方向性結合器を含み,

    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)は,それぞれ前記出力部(7)の2つの導波路(7a,7b)と接続され,

    前記制御装置(22)は,前記信号源(12)へ情報を伝えることができるように接続されるとともに,前記2つの光強度測定装置(21a,21b)と情報を受け取ることができるように接続され,


    前記2つの光強度測定装置(21a,21b)を,第1の光強度測定装置(21a)及び第2の光強度測定装置(21b)とすると,

    前記第1の周波数分離装置(31)は,前記第1の光強度測定装置(21a)と接続され,
    前記第2の周波数分離装置(32)は,前記第2の光強度測定装置(21b)と接続され,

    前記v(t)をV+v’(t)とし,前記v(t)をV+v’(t)とすると,

    前記v(t)を求める装置(33)が,前記第1の周波数分離装置(31)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び前記第2の周波数分離装置(32)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取る工程と,
    を横軸とし,v’(t)に起因した光強度変化の成分を縦軸としたグラフにおいて,前記第1の周波数分離装置(31)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び前記第2の周波数分離装置(32)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分がともに最小となるように,バイアス電圧を制御することで,Vを求める工程と,
    求めたVを用いて,v(t)を求める工程と,
    求めたv(t)を前記制御装置(22)へ出力する工程と,

    前記v(t)を求める装置(34)が,前記第1の周波数分離装置(31)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び前記第2の周波数分離装置(32)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分を受け取る工程と,
    を横軸とし,v’(t)に起因した光強度変化の成分を縦軸としたグラフにおいて,前記第1の周波数分離装置(31)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分及び前記第2の周波数分離装置(32)が分離したv’(t)に起因した光強度変化の成分がともに最小となるように,バイアス電圧を制御することで,Vを求める工程と,
    求めたVを用いて,v(t)を求める工程と,
    求めたv(t)を前記制御装置(22)へ出力する工程と,

    前記制御装置(22)は,前記信号源(12)へ
    前記第1の電極(9)に印加する前記第1の三角波v(t),及び前記第2の電極(10)に印加する前記第2の三角波v(t)に関する情報を伝える工程と,

    を含む,光変調方法。
  8. QPSK信号,FSK信号,QAM信号,又はSSB信号を出力する請求項7又は8に記載の方法。
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