JP4184131B2 - 光ssb変調装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、主に高速光通信システムの送信装置などに用いられ、光SSB(Single Side−Band)変調信号を生成する光SSB変調装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光SSB変調装置に使用される光SSB変調器の例として、ニオブ酸リチウムの基板上に、メイン干渉計と、2つのサブ干渉計とを構成する光導波路を設け、これらのサブ干渉計のRF電極に変調電気信号をそれぞれ入力する一方で、サブ干渉計とメイン干渉計のDC電極に印加するバイアス電圧を制御することで、光SSB変調信号を出力するようにした光SSB変調器がある(例えば、非特許文献1を参照)。
【0003】
【非特許文献1】
日隈薫他3名、「2001年電子情報通信学会ソサイエティ大会予稿集、C−3−6」、2001年、p.160
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この光SSB変調器は、キャリア光や不要サイドバンド光が打ち消し合うバイアス条件は非常に限定されており、バイアス電圧の僅かな変化でも不要な成分の光を発生させることになる。また、この種のニオブ酸リチウムを用いた光変調器では、動作点が時間とともに変化するDCドリフトと呼ばれる現象が存在し、バイアス電圧が変化していなくても時間の経過とともに最適動作点のずれが発生する。したがって、このDCドリフトによっても、不要な成分の光を発生させることになる。
【0005】
これらの不要光は、光通信に用いられる光信号の帯域幅を拡幅してしまうので、隣接する他の光信号に悪影響を与えるという問題点があった。また、これらの不要光がある一定レベル以上に達すると、光SSB通信そのものが不能になってしまうという問題点もあった。しかしながら、これら問題点に対処するためには、常にバイアス電圧を制御する必要があるが、電圧制御の具体的な手法は知られていなかった。したがって、この種の光SSB変調器を用いて実用的な光SSB変調装置を得ることができなかった。
【0006】
この発明は、上記に鑑みてなされたものであり、DCドリフトが生じてもバイアス電圧を最適値に制御する具体的手段を提供し、かつ、実用的な光SSB変調装置を得ることを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、この発明にかかる光SSB変調装置にあっては、電気光学効果を有する基板上に設けられた光導波路を具備するマッハツェンダー型のメイン干渉計と、このメイン干渉計の2つの入力側にそれぞれ設けられた光導波路を具備するマッハツェンダー型のサブ干渉計とを備えた光SSB変調器と、該光SSB変調器の出力光の一部をモニタして、該光SSB変調器に印加するバイアス電圧を制御する電圧制御回路とを備えた光SSB変調装置において、前記電圧制御回路は、前記出力光のうちキャリア光のパワーに基づいて前記サブ干渉計に印加するバイアス電圧を制御し、前記出力光のうち不要サイドバンド光のパワーに基づいて前記メイン干渉計に印加するバイアス電圧を制御することを特徴とする。
【0008】
この発明によれば、光SSB変調装置に備えられた電圧制御回路は、出力光のうちキャリア光のパワーに基づいてサブ干渉計に印加するバイアス電圧を制御し、出力光のうち不要サイドバンド光のパワーに基づいてメイン干渉計に印加するバイアス電圧を制御するようにしているので、パワー変化の急峻な特性を利用した制御が行われる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、この発明にかかる光SSB変調装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
【0010】
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1にかかる光SSB変調装置の構成を示すブロック図である。同図に示す光SSB変調装置は、光入力端子2、光出力端子3、一対の変調電気信号入力端子4a、4bを有する光SSB変調器1、電源5、電圧制御回路6を備えている。
【0011】
図1において、光SSB変調装置の光入力端子2には、LD(レーザダイオード)などの光源により発生されたキャリア光が入射され、一対の変調電気信号入力端子4a、4bには変調を行うための電気信号が印加され、これらの信号が光SSB変調器1に入力される。光SSB変調器1から出力される変調出力光は光出力端子3から出力される。電圧制御回路6は、変調出力光の一部をモニタし、電源5が発生するバイアス電圧を制御する。この制御されたバイアス電圧は、電源5によって光SSB変調器1に印加される。
【0012】
図2は、図1に示す光SSB変調器1の内部の模式的構成を示す図である。図2において、基板11は、電気光学効果を有する基板であり、Ti拡散法などの手法を用いて表面に光導波路が形成されている。この光導波路には、マッハツェンダー型の3つの干渉計、すなわち、1つのメイン干渉計12cと、2つのサブ干渉計13a、13bとが設けられている。サブ干渉計13aは、RF電極14aとDC電極15aとを有し、Y分岐17aおよびY分岐16を介して光入力端子2に接続されている。サブ干渉計13bは、RF電極14bとDC電極15bとを有し、Y分岐17bおよびY分岐16を介して光入力端子2に接続されている。メイン干渉計12cは、DC電極15cを有し、Y分岐19を介して光出力端子3に接続されている。また、メイン干渉計12cは、Y分岐18aを介してサブ干渉計13aと接続され、Y分岐18bを介して13bと接続されている。なお、同図では、RF電極14a、14bに接続する終端抵抗を省略しているが、通常、電気信号の反射を防ぐために、光SSB変調器1の内部あるいは外部に終端抵抗を設けてRF電極14a、14bに接続することがよく行われる。
【0013】
つぎに、図2を用いて光SSB変調器1の動作について説明する。なお、ここでは、基板11に電気光学効果を有するXカットのニオブ酸リチウムを用いた場合について説明する。同図において、光入力端子2から入力されたキャリア光は、光導波路のY分岐16、17aおよびY分岐16、17bを介して、それぞれサブ干渉計13a、13bに伝搬する。また、サブ干渉計13a、13bのRF電極14a、14bには変調電気信号が入力される。このとき、サブ干渉計13aとサブ干渉計13bとで、入力する変調電気信号の位相を互いに90°異ならせるようにする。この変調電気信号により、基板11の内部に電界が生じ、基板11の電気光学効果により光導波路の屈折率が変化する。この屈折率の変化は、それぞれの光導波路を伝搬する光の位相に変調を生じさせ、光入力端子2から入力されたキャリア光に様々な周波数成分を発生させる。
【0014】
一方、サブ干渉計13a、13bのDC電極15a、15bおよびメイン干渉計12cのDC電極15cには、バイアス電圧が印加される。これらのバイアス電圧によっても、光導波路の屈折率が変化し、光の位相が変化する。サブ干渉計13aおよびサブ干渉計13bの変調出力光は、メイン干渉計12cに入力され、再びY分岐19により合成され、光出力端子3から出力される。このとき、変調出力光の角周波数成分によってメイン干渉計12cの上下一対の光導波路を伝搬する変調出力光の位相差が種々異なるため、変調出力光の周波数によっては位相が揃って足し合わされて出力される成分と、位相が揃わず打ち消し合いほとんど出力されない成分とが生じる。
【0015】
ところで、光SSB通信では、入力したキャリア光の周波数の両側に生じるサイドバンド光のうちの片方を用いて通信を行う。このため、それぞれのDC電極15a、15b、15cに印加するバイアス電圧を調整し、キャリア光や不要なサイドバンド光(以下「不要サイドバンド光」という。)の周波数成分は出力されず、所要のサイドバンド光(以下「所要サイドバンド光」という。)の周波数成分のみが効率良く出力されるように制御される。この制御により、光出力端子3から所要サイドバンド光、すなわちSSB変調信号光が出力される。このようにして、図2に示す構成は光SSB変調器として動作する。
【0016】
これまでは、光SSB変調器および光SSB変調装置の構成および動作原理について、図1および図2を用いて説明してきた。つぎに、光SSB変調器がDCドリフトの影響を受けることなく、高品質なSSB変調光信号を出力することができる原理について、幾つかの数式を用いて説明する。
【0017】
図2において、光入力端子2から入力されたキャリア光は、Y分岐16とY分岐17a、17bとを介して、4つの光導波路、すなわち、サブ干渉計13a内の2つの光導波路およびサブ干渉計13b内の2つの光導波路にほぼ均等に分割される。いま、サブ干渉計13aのRF電極14aと、サブ干渉計13bのRF電極14bとには、それぞれ位相がほぼ90°異なる変調電気信号が入力されるものとする。ここで、キャリア光の角周波数をωo、変調電気信号の角周波数をωmとし、RF電極14a、14bにそれぞれ印加される変調電気信号をEA、EBとすると、それぞれ次式で表すことができる。
【0018】
【数1】
【0019】
ここで、tは時間、E0は電圧定数である。なお、EBはEAに対して位相が90°進んでいるものとしている。また、2つのサブ干渉計13a、13bのDC電極15a、15bにはそれぞれ、VA、VBの直流電圧が印加されているものとしている。
【0020】
これらの変調電気信号と直流電圧とによって、基板11中に電界が生ずる。これらの電界は、サブ干渉計13a、13b内の一対の光導波路のそれぞれにおいて、互いに逆方向の電界となる。また、これらの電界と基板11の電気光学効果により光導波路の屈折率が変化する。その結果、光の伝搬速度に変化が生じ、サブ干渉計13a、13bの一対の光導波路を通過した光の位相に変化が生じる。
【0021】
サブ干渉計13a内の一対の光導波路を通過した直後の、変調信号光の振幅をそれぞれA1、A2で表すと、これらのA1、A2は、複素表示でそれぞれ次式のように表される。
【0022】
【数2】
【0023】
ここで、jは虚数単位を表している。また、A0は光の振幅定数、βは変調電気信号の強度等によって決まる定数、γはDC電極15cの形状等によって決まる定数である。特に、γは、DC電極15cの半波長電圧Vπに対してγ=π/(2・Vπ)の関係を有している。
【0024】
同様に、サブ干渉計13b内の一対の光導波路を通過した直後の、変調信号光の振幅をそれぞれA3、A4で表すと、これらのA3、A4は、複素表示でそれぞれ次式のように表される。
【0025】
【数3】
【0026】
これらの式(5)、(6)で示した記号は、式(3)、(4)と同様な意味を持つものである。なお、式(5)、(6)の中で用いられているγはDC電極15bの半波長電圧Vπに依存する定数であるが、式(3)、(4)で用いられるγとは、異なる値をとる場合もある。しかし、以下に説明するDCドリフトの制御に関しては、同一のものと扱っても本質的な点で差異はない。したがって、これ以降、同じγという記号を用いて説明する。
【0027】
サブ干渉計13aの一対の光導波路を伝搬した変調出力光は、再びY分岐18aにより合成される。このとき、合成された変調出力光の振幅A12は一対の光導波路を伝搬したそれぞれの変調出力光の振幅A1、A2を加算したものとなる。また、サブ干渉計13bの一対の光導波路を伝搬した変調出力光も再びY分岐18bにより合成され、合成された光の振幅A34は一対の光導波路を伝搬したそれぞれの変調出力光の振幅A1、A2を加算したものとなる。したがって、合成された変調出力光の振幅A12、A34は、次のように表される。
【0028】
【数4】
【0029】
また、メイン干渉計12cのDC電極15cには、VCのバイアス電圧が印加されている。このため、式(7)、(8)に示された変調出力光は、バイアス電圧VCによって再び位相変化を受け、さらにY分岐19により1つに合成される。したがって、合成された変調出力光の振幅ATは、次のように表される。
【0030】
【数5】
【0031】
ここで、VCに対する係数γについても、前述の理由と同一の理由により、式(3)〜(6)と同じものを用いている。
【0032】
式(9)で示される変調出力光は、種々の周波数成分を有している。このことを、明らかにするために、つぎの公式を用いる。
【0033】
【数6】
【0034】
式(10)において、Jnは第1種n次のベッセル関数を表している。この式(10)を展開することにより変調出力光を周波数成分ごとに展開することができる。これらの周波数成分は、光の角周波数ωoに変調電気信号の角周波数ωmの整数倍を足し合わせた種々のものを含んでいる。ただし、ベッセル関数の性質から、ある引数の値を与えれば、次数nがある値より大きくなるとベッセル関数の値は急激に小さくなる。すなわち、無数の周波数成分のうち、主だった成分の数は限定される。通常の場合では、特に、nが0次、+1次、−1次に相当する成分のみが実質的に支配的となる。
【0035】
光SSB通信方式では、+1次、−1次に相当する成分のうちのどちらか一方のみを用いて通信を行う。これらの+1次、−1次に相当する成分のうちの他方の成分や、0次を含む他の成分は通信に不要であり、かつ、信号の周波数幅を拡げてしまうため、できるだけ少ないことが望まれる。これらの成分があるレベル以上発生してしまった場合、通信の品質を劣化させ、あるいは、隣接する他の光通信信号に悪影響を及ぼし、さらには通信が不能となることもある。
【0036】
ここでは、nが+1次に相当する成分を用いて通信を行うこととし、−1次、0次、および他の成分は不要なものとする。したがって、nが+1次に相当する角周波数ωo+ωmの成分が所要サイドバンド光であり、nが0次に相当する角周波数ωoの成分であるキャリア光と、nが−1次に相当する角周波数ωo−ωmの成分である不要サイドバンド光とが、不要な出力光となる。光SSB変調器1からの出力光は、十分なレベルの所要サイドバンド光を得るとともに、特に、キャリア光と−1次に相当する変調出力光を十分低いレベルに抑える必要がある。
【0037】
つぎに、式(10)を用いて式(9)に示した変調出力光から、nが+1次、0次、−1次にそれぞれ相当する成分である、所要サイドバンド光AT+1、キャリア光AT0、不要サイドバンド光AT-1の振幅を書き下すと次のようになる。
【0038】
【数7】
【0039】
これらの各成分の光のパワーをそれぞれPT+1、PT+0、PT-1とすると、これらは、式(11)〜(13)の各振幅の絶対値を2乗することにより得られ、次のようになる。
【0040】
【数8】
【0041】
このように、DC電極15a、15b、15cに印加する直流バイアス電圧VA、VB、VCの値によって、各成分の光のパワーは変化する。ここで、γVA、γVB、γVCをそれぞれπ/2、π/2、π/4に設定すると、言い換えれば、VA、VB、VCをそれぞれのDC電極15a、15b、15cの半波長電圧Vπの1倍、1倍、1/2倍に設定すると、PT+1は最大値をとり、PT+0とPT-1はともに0(最小値)となる。すなわち、所要サイドバンド光のパワーが最大となり、キャリア光と、不要サイドバンド光のパワーがともに0(最小)となる。したがって、このバイアス電圧設定値が、光SSB変調器1の最適の動作ポイント条件となる。
【0042】
しかしながら、ニオブ酸リチウム等を用いたこの種の変調器においては、DCドリフトと呼ばれる現象によって、適正なバイアス動作点が時間とともに変化してしまうことは、上述したとおりである。この現象は、温度変化による数秒単位の変化から、経時変化による数日から数年単位という変化までを含んでおり、そのドリフト量を事前に知ることは困難である。このため、予め、光SSB変調器1のバイアス電圧VA、VB、VCを適正な値に固定しても、時間とともに、適正なバイアス条件から外れてしまい、キャリア光や不要サイドバンド光が発生してしまう。上述したように、キャリア光や不要サイドバンド光のパワーの増加は、通信品質を劣化させたり、通信不能を招来することになる。
【0043】
このDCドリフトを考えるとき、変調出力光のパワーを表す式(14)〜(16)において、VA、VB、VCの値は絶対的な値ではなく、相対的な値と考えることができる。別な見方をすれば、式(14)〜(16)のVA、VB、VCのそれぞれを、VA+αA、VB+αB、VC+αCと置き換えればよい。ここで、αA、αB、αCは、その瞬時により定まる未知の電圧定数である。ただし、αA、αB、αCは数秒単位以下の短い時間内においては、ほとんど変化しないものと考えて差し支えない。
【0044】
ここで、図1に戻り、同図に示す光SSB変調装置に備えられた電圧制御回路6は、光SSB変調器1の出力光の一部をモニタし、上記の角周波数成分のパワーを検知するとともに、光SSB変調器1を構成するサブ干渉計13a、13bおよびメイン干渉計12cに印加するバイアス電圧を制御する制御信号を出力する。
【0045】
図3は、光SSB変調器1に印加するバイアス電圧が最適値から変化した場合の、バイアス電圧と所要サイドバンド光、キャリア光、不要サイドバンド光それぞれの出力光パワーとの関係を示すグラフである。それぞれ、同図(a)は、バイアス電圧VAとそれぞれの出力光パワーとの関係を示すグラフであり、同図(b)は、バイアス電圧VBとそれぞれの出力光パワーとの関係を示すグラフであり、同図(c)は、バイアス電圧VCとそれぞれの出力光パワーとの関係を示すグラフである。なお、それぞれのパワーは、最大値が1となるように規格化した値を示している。また、VA、VB、VCの値は、それぞれの電極15a、15b、15cの半波長電圧Vπで規格化した値を示している。これらのグラフではVA、VB、VCの値を、先に述べたように、未知の電圧変動量αA、αB、αCと置き換えて読むこともできる。
【0046】
図3(a)に示す波形は、バイアス電圧VA、VB、VCのうち、バイアス電圧VAが最適値から変化した場合の所要サイドバンド光(K1)、キャリア光(K2)および不要サイドバンド光(K3)を示しており、このとき、他のバイアス電圧VBおよびVCは最適値のまま変化していない。波形K1で示される所要サイドバンド光の出力光パワーは、バイアス電圧が最適値のとき最大値1となり、バイアス電圧が最適値からずれると値が徐々に小さくなっている。一方、波形K2で示されるキャリア光の出力光パワーと波形K3で示される不要サイドバンド光の出力光パワーとは、バイアス電圧が最適値のとき、ともに最小値0となり、バイアス電圧が最適値からずれると値が0から徐々に大きくなる。しかし、キャリア光と不要サイドバンド光とでは、バイアス電圧が最適値からずれたときのパワーの変化の様子が異なっている。
【0047】
バイアス電圧が最適値から徐々にずれたとき、キャリア光の波形K2は比較的急激にレベルが大きくなる。これに対して、不要サイドバンド光の波形K3は、バイアス電圧が最適値からずれてもレベルの変化が緩慢である。この事実は、サブ干渉計13aのDC電極15aに印加するバイアス電圧VAを変化させて、光SSB変調器1の動作を最適値になるように調整する場合、不要サイドバンド光のパワーの変化を見ながら調整しても、パワーの変化が緩慢なため、調整が困難であることを意味している。しかし、キャリア光のパワーの変化を見ながら調整すると、パワーの変化が不要サイドバンド光のパワーの変化に比べてはるかに急峻なため、容易にパワーの極小値を知ることができ、調整が容易であることを意味している。このように、サブ干渉計13aのDC電極15aに印加するバイアス電圧VAの調整は、キャリア光の出力光パワーをモニタし、このモニタ値が常に極小値になるように制御すればよい。
【0048】
同様に、図3(b)に示す波形は、バイアス電圧VA、VB、VCのうち、バイアス電圧VBが最適値から変化した場合の所要サイドバンド光(L1)、キャリア光(L2)および不要サイドバンド光(L3)を示しており、このとき、他のバイアス電圧VAおよびVCは最適値のまま変化していない。図3(b)においてバイアス電圧VBを変化させる場合についても、図3(a)においてバイアス電圧VBを変化させた場合と同様なことがいえる。すなわち、バイアス電圧が最適値から徐々にずれたとき、キャリア光の波形L2は比較的急激にレベルが大きくなるが、不要サイドバンド光の波形L3は、バイアス電圧が最適値からずれてもレベルの変化が緩慢である。したがって、サブ干渉計13bのDC電極15bに印加するバイアス電圧VBの調整は、サブ干渉計13aのときと同様に、キャリア光の出力光パワーをモニタし、このモニタ値を常に極小値になるように制御すればよい。
【0049】
図3(c)に示す波形は、バイアス電圧VA、VB、VCのうち、バイアス電圧VCが最適値から変化した場合の所要サイドバンド光(M1)、キャリア光(M2)および不要サイドバンド光(M3)を示しており、このとき、他のバイアス電圧VAおよびVBは最適値のまま変化していない。同図(c)に示す波形は、上述した図3(a)、(b)に示される波形とは全く異なる傾向を示している。図3(c)において、波形M1で示される所要サイドバンド光のパワーは、同図(a)、(b)の波形K1、L1で示される所要サイドバンド光のパワーと同様に、バイアス電圧が最適値のとき最大値1となり、バイアス電圧が最適値からずれると値が徐々に小さくなる。一方、キャリア光のパワーと不要サイドバンド光のパワーとは、それぞれ波形M2、M3で示されるように、バイアス電圧が最適値のときともに0となるが、不要サイドバンド光のパワーは、バイアス電圧が最適値からずれると値が0から急激に大きくなり、キャリア光のパワーはバイアス電圧が最適値からずれても値がほぼ0のままである。
【0050】
バイアス電圧が最適値から徐々にずれたとき、不要サイドバンド光のパワーは、急激にレベルが大きくなるが、キャリア光のパワーはレベルが変化しない。この事実は、メイン干渉計12cのDC電極15cに印加するバイアス電圧VCを変化させて、光SSB変調器1の動作を最適値になるように調整する場合、キャリア光のパワーの変化を見ながら調整することは困難であることを意味している。しかし、不要サイドバンド光のパワーの変化を見ながら調整すると、パワーの変化が急峻なため、容易にパワーの極小値を知ることができ、調整が容易であることを意味している。このように、メイン干渉計12cのDC電極15cに印加するバイアス電圧VCの調整は、不要サイドバンド光のパワーをモニタし、このモニタ値が常に極小値になるように制御すればよい。
【0051】
すなわち、図1に示した光SSB変調装置において、電圧制御回路6はモニタした光パワーに応じて電源5の電圧を制御する。電圧制御回路6は、自身がモニタした出力光のうち、キャリア光のパワーをモニタし、キャリア光のパワーが極小値になるように、サブ干渉計13a、13bのDC電極15a、15bにそれぞれ印加するバイアス電圧VAとVBを発生させるように電源5を制御する。また、不要サイドバンド光のパワーをモニタし、不要サイドバンド光のパワーが極小値になるように、メイン干渉計12cのDC電極15cに印加するバイアス電圧VCを発生させるように電源5を制御する。このような制御が行われるとき、たとえ、光SSB変調器1にDCドリフトが生じたとしても、常に安定した最適値のバイアス電圧を供給することができるので、出力光のキャリア光や不要サイドバンド光のレベルを最小値に抑え、かつ、所要サイドバンド光を効率よく出力させることができ、良好なSSB変調光信号を出力することができる。
【0052】
以上のように、この実施の形態によれば、光SSB変調装置に備えられた電圧制御回路が、出力光のうちキャリア光のパワーが極小になるようにサブ干渉計に印加するバイアス電圧を制御し、出力光のうち不要サイドバンド光のパワーが極小になるようにメイン干渉計に印加するバイアス電圧を制御するようにしているので、光SSB変調装置がDCドリフトの影響を受けることなく、常に高品質なSSB変調光信号を出力することができ、光通信の信頼性を実用的に向上させることができるという効果を奏する。
【0053】
なお、この実施の形態では、光SSB変調器1の基板11として、Xカットのニオブ酸リチウムを用いた場合について示しているが、本発明はこれに限らず、例えばZカットのニオブ酸リチウムを用いてもよい。この場合、この実施の形態とは電極の形状を若干異ならせたり、基板と電極の間にバッファ層を設けたりする必要があるが、本発明の効果は同様に得られる。その他タンタル酸リチウムなど、ニオブ酸リチウム以外の材料を用いてもよく、電気光学効果を有する材料にマッハツェンダー型の干渉計を設ける構成であれば、同様の効果を得ることができる。
【0054】
また、この実施の形態では、それぞれのサブ干渉計13a、13bにそれぞれ設けたRF電極14a、14bとDC電極15a、15bとを分離した場合を示しているが、これらのRF電極14a、14bとDC電極15cとを共通化し、全体の大きさを小型化することもできる。この場合、入力にバイアスTなどを用いて変調信号とバイアス電圧を入力することが多く行われる。
【0055】
さらに、この実施の形態では、それぞれの角周波数成分の光のうち、nが+1次に相当する角周波数ωo+ωmの成分を所要サイドバンド光として用いて通信を行うこととし、−1次に相当する角周波数ωo−ωmの成分を不要サイドバンド光とする場合について示したが、SSB変調方式ではnが−1次に相当する角周波数ωo−ωmの成分を所要サイドバンド光として通信を行い、+1次に相当する角周波数ωo+ωmの成分を不要サイドバンド光とする場合もある。しかし、この場合も本実施例の構成を変更することなく、変調電気信号の位相差を反転したり、動作バイアス点を適切な場所に変えることにより、+1次光と−1次光とを入れ換えることができる。この場合も、同様にキャリア光と不要サイドバンド光のパワーによりバイアス電圧の制御を行うことで、この実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【0056】
実施の形態2.
図4は、この発明の実施の形態2にかかる光SSB変調装置の構成を示すブロック図である。同図に示す光SSB変調装置は、光出力端子3から出力される変調出力光を角周波数成分に分離する光フィルタ7を備えている。なお、その他の構成は、図1に示す実施の形態1と同一の構成であり、同一構成部分には同一符号を付して示している。
【0057】
図4において、光SSB変調器1の変調出力光の一部が、光フィルタ7によってキャリア光、不要サイドバンド光のそれぞれの成分に分離される。電圧制御回路6は、キャリア光のパワーをモニタし、このキャリア光のパワーが極小になるようなバイアス電圧がサブ干渉計13a、13bのそれぞれのDC電極15a、15bに印加されるように電源5を制御する。また、電圧制御回路6は、不要サイドバンド光のパワーをモニタし、この不要サイドバンド光のパワーが極小になるようなバイアス電圧がメイン干渉計12cのDC電極15cに印加されるように電源5を制御する。したがって、実施の形態1に示した光SSB変調装置と同様に、常に実用的な高品質の光SSB変調信号を得ることができる。
【0058】
以上のように、この実施の形態によれば、出力光の一部をキャリア光、不要サイドバンド光に分離する光フィルタが備えられ、この光フィルタによって分離されたキャリア光、不要サイドバンド光のパワーに基づいてバイアス電圧を制御するようにしているので、DCドリフトの影響を受けることなく、常に高品質なSSB変調光信号を出力することができ、光通信の信頼性を実用的に向上させることができるという効果を奏する。
【0059】
さらに、光フィルタのような簡易な構成により、キャリア光と不要サイドバンド光を容易に分離することができるので、装置を簡易に構成することができるという効果も奏する。
【0060】
実施の形態3.
図5は、この発明の実施の形態3にかかる光SSB変調装置の構成を示すブロック図である。同図に示す光SSB変調装置は、光出力端子3から出力される変調出力光の一部を電気信号に変換するPD(フォトディテクタ)8を備えている。なお、その他の構成は、図1に示す実施の形態1と同一の構成であり、同一構成部分には同一符号を付して示している。
【0061】
図5において、光SSB変調器1の変調出力光の一部が、PD8によって電気信号に変換されている。電圧制御回路6は、この電気信号からキャリア光の成分をモニタし、キャリア光のパワーを極小にするようなバイアス電圧がサブ干渉計13a、13bのそれぞれのDC電極15a、15bに印加されるように電源5を制御する。また、電圧制御回路6は、この電気信号から不要サイドバンド光の成分をモニタし、この不要サイドバンド光のパワーを極小にするようなバイアス電圧がメイン干渉計12cのDC電極15cに印加されるように電源5を制御する。したがって、実施の形態1や実施の形態2に示した光SSB変調装置と同様に、常に実用的な高品質の光SSB変調信号を得ることができる。
【0062】
以上のように、この実施の形態によれば、出力光の一部を電気信号に変換するPDが備えられ、このPDによって電気信号に変換されたキャリア光、不要サイドバンド光のそれぞれの信号成分に基づいてバイアス電圧を制御するようにしているので、DCドリフトの影響を受けることなく、常に高品質なSSB変調光信号を出力することができ、光通信の信頼性を実用的に向上させることができるという効果を奏する。
【0063】
さらに、PDのような簡易な構成により、キャリア光と不要サイドバンド光のパワーをモニタすることができるので、装置を簡易に構成することができるという効果も奏する。
【0064】
【発明の効果】
以上説明したとおり、この発明によれば、出力光のうちキャリア光のパワーに基づいてサブ干渉計に印加するバイアス電圧を制御し、出力光のうち不要サイドバンド光のパワーに基づいてメイン干渉計に印加するバイアス電圧を制御するようにしているので、DCドリフトの影響を受けることなく、常に高品質なSSB変調光信号を出力することができ、光通信の信頼性を実用的に向上させた光SSB変調装置を得ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1にかかる光SSB変調装置の構成を示すブロック図である。
【図2】 図1に示す光SSB変調器の内部の模式的構成を示す図である。
【図3】(a)は、バイアス電圧VAとそれぞれの出力光パワーとの関係を示すグラフであり、(b)は、バイアス電圧VBとそれぞれの出力光パワーとの関係を示すグラフであり、(c)は、バイアス電圧VCとそれぞれの出力光パワーとの関係を示すグラフである。
【図4】 この発明の実施の形態2にかかる光SSB変調装置の構成を示すブロック図である。
【図5】 この発明の実施の形態3にかかる光SSB変調装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 光SSB変調器、2 光入力端子、3 光出力端子、4a,4b 変調電気信号入力端子、5 電源、6 電圧制御回路、7 光フィルタ、11 基板、12c メイン干渉計、13a,13b サブ干渉計、14a,14b RF電極、15a,15b,15c DC電極、16,17a,17b,18a,18b,19 Y分岐。
Claims (6)
- 電気光学効果を有する基板上に設けられた光導波路を具備するマッハツェンダー型のメイン干渉計と、このメイン干渉計の2つの入力側にそれぞれ設けられた光導波路を具備するマッハツェンダー型のサブ干渉計とを備えた光SSB変調器と、該光SSB変調器の出力光の一部をモニタして、該光SSB変調器に印加するバイアス電圧を制御する電圧制御回路とを備えた光SSB変調装置において、
前記電圧制御回路は、前記出力光のうちキャリア光のパワーに基づいて前記サブ干渉計に印加するバイアス電圧を制御し、前記出力光のうち不要サイドバンド光のパワーに基づいて前記メイン干渉計に印加するバイアス電圧を制御することを特徴とする光SSB変調装置。 - 前記電圧制御回路は、前記出力光のうちキャリア光のパワーが小さくなる方向に前記サブ干渉計に印加するバイアス電圧を制御し、前記出力光のうち不要サイドバンド光のパワーが小さくなる方向に前記メイン干渉計に印加するバイアス電圧を制御することを特徴とする請求項1に記載の光SSB変調装置。
- 前記出力光の一部をキャリア光、不要サイドバンド光に分離する光フィルタをさらに備え、
前記電圧制御回路は、前記光フィルタによって分離されたキャリア光、不要サイドバンド光のパワーを用いて前記バイアス電圧を制御することを特徴とする請求項1または2に記載の光SSB変調装置。 - 前記出力光の一部を、電気信号に変換するPDをさらに備え、
前記電圧制御回路は、前記PDによって電気信号に変換されたキャリア光、不要サイドバンド光のそれぞれの信号成分を用いて前記バイアス電圧を制御することを特徴とする請求項1または2に記載の光SSB変調装置。 - 前記基板にXカットのニオブ酸リチウムを用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の光SSB変調装置。
- 前記基板にZカットのニオブ酸リチウムを用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の光SSB変調装置。
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