JP2010162789A - 液吐出不良検出装置およびインクジェットプリンタ - Google Patents

液吐出不良検出装置およびインクジェットプリンタ Download PDF

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Abstract

【課題】各ノズルから少なくとも1滴づつ順次吐出を行い、光ビーム内に2滴以上存在するように吐出を制御することにより、検出時間の短縮を図る。
【解決手段】光ビーム105を発する発光素子102と光ビーム104を受光する受光素子106を用い、発光素子102からの光ビーム104のインク滴107への照射で生じる散乱光108により記録ヘッド100の各ノズル101の液吐出不良を検出する液吐出不良検出装置であって、記録ヘッド100の各ノズル101から少なくとも1滴づつ順次、インク滴107の吐出を行い、光ビーム104内に2滴以上存在するようにインク滴107の吐出を制御する吐出制御部110を有している。
【選択図】 図1

Description

本発明は、液吐出不良検出装置およびインクジェットプリンタに関するものである。
従来、複数の液滴吐出口から吐出される複数的をほぼ同時に検出可能とし、検出時間の短縮化およびスループットの向上を達成するために、複数ノズルからのインク滴が重ならないように吐出し、レーザ光内に複数のインク滴を同時に存在させる吐出制御をしている液滴吐出装置及び吐出検出方法が開示されている(たとえば、特許文献1参照)。
また、センサ感度を高めることなく各ノズルの不吐出を検出する方法として、通常の印字動作時に比べ、インク滴の単位時間当たりの吐出量や吐出間隔を短くし、検出領域を通過するインク滴の個数を増やし、インク滴による遮断面積を増やしている。これにより、受光量の低下割合が増えるので不吐出の判定を容易にするとしている方法が開示されている(たとえば、特許文献2参照)。
特開2006−110964号公報 特開平11−78051号公報
しかしながら、上記に示されるような従来における特許文献1の技術にあっては、複数ノズルからのインク滴が重ならないようにしているため、さらなる検出時間の短縮を図ることができなかった。また、特許文献2に示される技術にあっては、検出領域を通過するインク滴数を増やしているため、検出用インクの高コスト化が懸念されるといった問題点があった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、各ノズルから少なくとも1滴づつ順次吐出を行い、光ビーム内に2滴以上存在するように吐出を制御することにより、検出時間の短縮を図ることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項1にかかる発明は、光ビームを発する発光素子と前記光ビームを受光する受光素子を用い、前記発光素子からの光ビームのインク滴への照射で生じる散乱光により記録ヘッドの各ノズルの液吐出不良を検出する液吐出不良検出装置であって、前記記録ヘッドの各ノズルから少なくとも1滴づつ順次、インク滴の吐出を行い、光ビーム内に2滴以上存在するようにインク滴の吐出を制御する吐出制御手段を有していることを特徴とする。
また、請求項2にかかる発明は、請求項1において、前記光ビームに対する前記記録ヘッドのノズル面は、インク滴の吐出方向に対し、所定の角度を有していることを特徴とする。
また、請求項3にかかる発明は、請求項2において、前記記録ヘッドの各ノズルから同時にインク滴を吐出することを特徴とする。
また、請求項4にかかる発明は、請求項1、2または3において、前記吐出制御手段は、インク滴の吐出間隔を変化させることを特徴とする。
また、請求項5にかかる発明は、請求項1〜4のいずれか一つに記載の液吐出不良検出装置を備えることを特徴とするインクジェットプリンタ。
本発明によれば、各ノズルから少なくとも1滴づつ順次吐出を行い、光ビーム内に2滴以上存在するように吐出を制御する吐出制御手段を有していることにより、検出時間の短縮を行うことを図ることができるという効果を奏する。
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる液吐出不良検出装置およびインクジェットプリンタの最良な実施の形態を詳細に説明する。
(実施の形態)
図1は、この実施の形態にかかる液吐出不良検出装置の主要部周辺の構成例を示す説明図である。この図1において、符号100は複数のノズルを有し、各ノズルからインク滴を画像信号に応じて吐き出して記録媒体に記録を行なう記録ヘッド、符号101は記録ヘッド100を構成する複数のノズル、符号102はたとえば半導体レーザなどを用いた発光素子、符号103は発光素子102からの光ビームを平行光に補正するコリメートレンズ、符号104は光ビーム、符号105は光ビーム光軸、符号106はたとえばホトダイオードなどを用いた受光素子、符号107はノズル101から吐き出されるインク滴、符号108は光ビーム104がインク滴107に照射して生じる散乱光、符号109は前方散乱光である。
また、図1において、符号110は本装置の各部を制御する吐出制御部、符号111はノズル101からのインク滴の吐き出しを行なうノズル駆動部、符号112は発光素子101の発光を行なう発光駆動部、符号113は散乱光106を受光してその電圧を計測する受光計測部である。
吐出制御部110は、CPU,ROM,RAM、タイマーなどを有するマイクロコンピュータシステムで構成され、ROMに格納されたプログラムにしたがってCPUが後述する液吐出不良処理などを実行する。
この図1に示す液吐出不良検出装置の構成において、記録ヘッド101のノズル101からインク滴107を吐出する。発光素子102から発した光をコリメートレンズ103で平行な光ビーム104とし、その光ビーム光軸105がインク滴107の吐出方向と直交する方向に配置する。受光素子106は、その光ビーム径を外れた位置、図では光ビーム104の下に配置しており、光ビーム径と受光素子106の受光面が重ならない位置で、できるだけ光ビーム光軸105の中心近くに配設することにより、効率の良い検出が可能となる。
この液吐出不良検出装置の構成で記録ヘッド100のノズル101からインク滴107を吐出すると散乱光105が発生する。受光素子106はこの散乱光108、特に散乱光108の中で光強度が強い前方散乱光109を受光することにより、その光出力を電圧値(光出力値)として計測することができ、インク滴107の吐出の有無、曲がりを検出することができる。
図2は、光ビーム104の強度分布を示す説明図である。発光素子102として半導体レーザを使用した場合、垂直・水平方向にそれぞれ角度を持って発光する。一般的な半導体レーザの垂直・水平方向の角度は、それぞれ14°/30°となっている。以下では半導体レーザを使用したときについて述べる。このような光をコリメートレンズ103で平行光にした場合、縦横比が異なる楕円形状となる。
ここで、図2には各方向(X方向:水平方向(インク滴吐出方向に対して直角の方向)、Y方向:垂直方向(インク滴吐出方向))の光強度分布を示す。これより、光ビーム104の中心(光ビーム光軸105)で最も光強度が強く、縁に行くにしたがい光強度は低下しており、ガウシャン分布となっていることがわかる。
図3にノズルの吐出方向から見たインク滴107の吐出の様子を示す。このような光ビーム104にインク滴107を吐出したときの様子を吐出方向から見た様子を図3に示す。なお、この図3ではインク滴107は2滴あるので便宜上符号107(In1),(In2)と記述し、区別しない場合は単にインク滴107と記す。記録ヘッド100のノズル列が光ビーム光軸105上にある場合、正常吐出したインク滴107(In1)はそのまま鉛直方向に飛翔するためインク滴107(In1)は光ビーム104の中心を通過する。しかし、曲がりが発生したインク滴107(In2)は光ビーム104の中心から外れた位置を通過する。また、不吐出のときはインク滴107が吐出しないため、光ビーム104を通過しない。
図4にインク滴107が光ビーム104と交わったときに発生する散乱光108を受光素子106で受光した電圧値VPDを示す。正常に吐出したインク滴107(In1)は光強度が最も高い光ビーム104の中心を通過するため、散乱光強度も高くなり、の電圧値を得ることができる(これを図4では実線で示す)。これに対し、曲がりが発生したインク滴107(In2)は光ビーム104の中心から外れるため、電圧値はV”(<V’)と低くなる(これを図4では破線で示す)。また、不吐出の場合、インク滴107が光ビーム104を通過しないため、電圧値(V0)が得られない(これを図4では一点鎖線で示す)。
ここで、不良吐出を判定するための閾値をVSH(ここでは図4で二点差線で示す)とするとインク滴107(In1)は正常吐出と判断でき、インク滴107(In2)は曲がりが発生したと検出することができる。また、閾値VSHをより低くすることにより、不吐出の状態、すなわち不良吐き出しに該当するノズル101を検出することができる。
ここで、インク滴107が光ビーム104を通過していないときでもV0の電圧値があるが、これは光ビーム107のフレア光が受光素子106の受光面に入り込むためである。
各ノズル101から順次吐出するとき、光ビーム104内にインク滴107が2個以上ある場合の状態を図5に示す。また、このときの受光素子106で検出した波形を図6に示す。前述したように、Y方向:垂直方向(インク滴吐出方向))の光強度分布はガウシャン分布となっているため、1滴の波形は図4に示すようになる。インク滴107が複数個あり、重なっていない場合には、光ビーム104の中心を順次、インク滴104が通過するため、図6に示すように裾野の分が重なり合い、ピーク部のみ飛び出ている波形形状となる。
このとき、あるノズル101(NE)で不吐出となると光ビーム104をインク滴107が通過しないため、散乱光が発生せずピーク部がない状態となる(図6においてA部分で示す)。
不吐出の閾値をVSH1としておくと不吐出のノズル101(NE)の出力のみ検出できないので不良吐出ノズル101(NE)を発見することができる。これにより、検出時間の短縮を行うことができる。
また、不吐出の閾値をVSH2としておくことにより、不吐出のノズル101(NE)のみ閾値を下回るため、同じように不良吐出のノズル101(NE)を短時間で検出することができる。
また、閾値をVSH2としておくことにより、インク滴107が光ビーム光軸105方向に重なっていても不良吐出のノズル101(NE)の検出は可能である(図7参照)。これにより、さらなる検出時間の短縮を行うことができる(図8のt2→t2’参照)。各ノズル101と波形の適合は、吐出波形と比較したり、波形を時間で区切りその部分のピーク有無をカウントしたりする方法がある。
つぎに、上記検出方法とは異なる検出例について説明する。検出の別構成を図9に示す。ここでは光ビーム104を記録ヘッド100のノズル101面とある角度をなすように(図1の発光素子102、受光素子106を)配置する。これに各ノズル101からインク滴107を吐出すると、図10のようになる。光ビーム104を記録ヘッド100のノズル101面と平行にした波形(図6参照)に比べ、各ノズル101のインク滴107の波形がはっきりとわかるようになる。
光ビーム径が小さく、不吐出の閾値をVSH1にした場合、図5の方法ではピーク部の山の部分がノイズ成分に隠れてしまう可能性があるため、不良吐出のノズル101(NE)を発見することができない。しかし、図9のようにある角度をもっているとインク滴107の吐出間隔を擬似的に長くすることができるため(図10のt2→T2”参照)、波形がはっきりとし、各ノズル101の不良吐出を発見することができる。順次インク滴を吐出する方法では、レーザ光の傾ける角度に注意する必要がある。(インク吐出開始ノズル側が近くなるようにする。)
また、図9の構成において吐出間隔を図5のときより短くすると、図10のような波形を検出でき、不良ノズルの検出時間のさらなる短縮を行うことができる。
また、図11に示すように、記録ヘッド101に対して光ビーム光軸105の傾きをさらに大きくすることにより、すべてのノズル101から一斉に吐出しても各ノズル101からの波形を検出することができるので、不良ノズルの検出時間の大幅な短縮が可能となる。図7のインク滴107を光ビーム光軸105方向に重ねて吐出したときと同じ効果がある。
ところで、図5に示す構成や図7に示すような構成では、波形にノイズ成分が載っていたり、また、各ノズルを特定できなかったりすることが考えられる(時間で区切ることができない場合が存在する可能性がある)。このときに、まず吐出間隔が短いモードでノズル101の不良検出をし、ノズル101の不良の有無のみを先にする。その後、ノズル101の不良がある場合は、吐出間隔を長くして各ノズル100の不良吐出検出を行い、不良のノズル101(NE)の特定を行う処理方法もある。この処理動作を図12のフローチャートに示す。
図12は、この実施の形態にかかる液吐出不良検出装置における不良検出処理動作を示すフローチャートである。この動作は吐出制御部110(図1参照)によって実行される。この図12において、まず、発光駆動部112により発光素子102から光ビーム104を照射し(ステップS11)、インク滴107が光ビーム104と交わったときに発生する散乱光108を受光素子106で受光し、この受光レベルを受光計測部113で計測して電圧値VPDを取得する(ステップS12)。続いて、この電圧値VPDが閾値VSH以上であるか否かを判断する(ステップS13)。ここで計測した電圧値VPDが閾値VSH以下(判断NO)であれば、ノズル101の吐出時間(ノズル駆動部111を介して制御する)を長くして再度、インク滴107を吐き出す(ステップS14)。一方、ステップS13で計測した電圧値VPDが閾値VSH以上であれば、ステップS18に進む。続いて、各ノズル101に対応した散乱光108の電圧値VPDを計測し(ステップS15)、散乱光108の電圧値VPDは閾値VSH以上であるか否かを判断する(ステップS16)。ここで電圧値VPDが閾値VSH以上でなければ、不良ノズルをクリーニング機構(不図示)でクリーニングする(ステップS17)。一方、電圧値VPDが閾値VSH以上であれば、発光素子102からの光ビーム104の照射を停止する(ステップS18)。したがって、上記処理を行なうことで、不良検出性を向上させることが可能となる。
したがって、以上説明した実施の形態によれば、記録ヘッド100を構成する複数のノズル101から少なくとも1滴づつ順次吐出を行い、光ビーム104内に2滴以上存在するように吐出を制御する吐出制御部110を有していることにより、吐出不良ノズルの検出時間の短縮を行うことを図ることができる。
また、光ビーム104と記録ヘッド100のノズル101面が液吐出方向に対し、角度を持っていることにより、吐出不良ノズルの検出時間の短縮、吐出不良ノズルの不良検出性を向上させることを図ることができる。また、上記において、各ノズル101から同時にインク滴を吐出することにより、さらなる検出時間の短縮を行うことを図ることができる。また、吐出制御部110が吐出間隔を変化させることにより、吐出不良ノズルの不良検出性を向上させることを図ることができる。
また、上述した液吐出不良検出装置をインクジェットプリンタに搭載することにより、ノズル101の吐出不良検出の判断が可能で、誤検出がないインクジェットプリンタを提供することができる。
以上のように、本発明にかかる液吐出不良検出装置およびインクジェットプリンタは、インク液滴の吐出不良を検出する液吐出不良検出装置およびその装置を備えるインクジェットプリンタに有用であり、特に、インク液滴の吐出不良を検出する検出時間の短縮を図る装置に適している。
この実施の形態にかかる液吐出不良検出装置の主要部周辺の構成例を示す説明図である。 光ビームの強度分布を示す説明図である。 ノズルの吐出方向から見たインク滴の吐出の様子を示す説明図である。 インク滴が光ビームと交わったときに発生する散乱光を受光素子で受光した電圧値を示すグラフである。 光ビーム内にインク滴が2個以上ある場合の状態を示す説明図である。 図5の状態において受光素子で検出した波形を示すグラフである。 記録ヘッドと光ビームとの配置およびインク滴の状態を示す説明図である。 図7の配置例において出力される電圧値を示すグラフである。 光ビームに対する記録ヘッドのノズル面がインク滴の吐出方向に対して傾斜角度を有している例を示す説明図である。 図9の配置例において出力される電圧値を示すグラフである。 図9に対してさらに傾斜角度を有している例を示す説明図である。 この実施の形態にかかる液吐出不良検出装置における不良検出処理動作を示すフローチャートである。
100 記録ヘッド
101 ノズル
102 発光素子
103 コリメートレンズ
104 光ビーム
106 受光素子
107 インク滴
108 散乱光
110 吐出制御部
111 ノズル駆動部
112 発光駆動部
113 受光計測部

Claims (5)

  1. 光ビームを発する発光素子と前記光ビームを受光する受光素子を用い、前記発光素子からの光ビームのインク滴への照射で生じる散乱光により記録ヘッドの各ノズルの液吐出不良を検出する液吐出不良検出装置であって、
    前記記録ヘッドの各ノズルから少なくとも1滴づつ順次、インク滴の吐出を行い、光ビーム内に2滴以上存在するようにインク滴の吐出を制御する吐出制御手段を有していることを特徴とする液吐出不良検出装置。
  2. 前記光ビームに対する前記記録ヘッドのノズル面は、インク滴の吐出方向に対し、所定の角度を有していることを特徴とする請求項1に記載の液吐出不良検出装置。
  3. 前記記録ヘッドの各ノズルから同時にインク滴を吐出することを特徴とする請求項2に記載の液吐出不良検出装置。
  4. 前記吐出制御手段は、インク滴の吐出間隔を変化させることを特徴とする請求項1、2または3に記載の液吐出不良検出装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか一つに記載の液吐出不良検出装置を備えることを特徴とするインクジェットプリンタ。
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US10605716B2 (en) 2017-07-21 2020-03-31 Ricoh Company, Ltd. Particle counting apparatus, particle counting method, and particle containing sample

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