JP2010153642A - 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010153642A JP2010153642A JP2008330978A JP2008330978A JP2010153642A JP 2010153642 A JP2010153642 A JP 2010153642A JP 2008330978 A JP2008330978 A JP 2008330978A JP 2008330978 A JP2008330978 A JP 2008330978A JP 2010153642 A JP2010153642 A JP 2010153642A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- main body
- control element
- circuit board
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
【課題】コストを抑えつつ、パワー素子の熱が制御素子に伝達されることを抑制する。
【解決手段】本発明の樹脂封止型半導体装置10は、制御素子18が実装された回路基板12と、外部装置と電気的に接続される接続端子26,28と、回路基板12が表面に配置されると共にパワー素子32が実装された本体部30とを有するリードフレーム14と、回路基板12及び本体部30を一体に封止するモールド樹脂16とを備えている。本体部30における平面視にて制御素子18と重なる部分には、逃がし穴46が形成されている。この構成によれば、パワー素子32が発熱して、このパワー素子32の熱が本体部30に伝達された場合でも、この本体部30に伝達された熱が制御素子18に伝達されることを逃がし穴46を形成しただけの簡単な構成によって抑制することができる。
【選択図】図3
【解決手段】本発明の樹脂封止型半導体装置10は、制御素子18が実装された回路基板12と、外部装置と電気的に接続される接続端子26,28と、回路基板12が表面に配置されると共にパワー素子32が実装された本体部30とを有するリードフレーム14と、回路基板12及び本体部30を一体に封止するモールド樹脂16とを備えている。本体部30における平面視にて制御素子18と重なる部分には、逃がし穴46が形成されている。この構成によれば、パワー素子32が発熱して、このパワー素子32の熱が本体部30に伝達された場合でも、この本体部30に伝達された熱が制御素子18に伝達されることを逃がし穴46を形成しただけの簡単な構成によって抑制することができる。
【選択図】図3
Description
本発明は、樹脂封止型半導体装置及びその製造方法に関する。
特許文献1には、樹脂封止型半導体デバイスの例が開示されている。この樹脂封止型半導体デバイスは、パワー素子及び制御素子が配置されたリードフレームと、このリードフレームを封止する樹脂とを有している。また、パワー素子及び制御素子とリードフレームとの間には、パワー素子の熱が制御素子に伝達されることを抑制するためのダイパッドがそれぞれ設けられている。
特開2000−150720号公報
しかしながら、特許文献1に記載の樹脂封止型半導体デバイスでは、樹脂でリードフレームを封止する際に、各ダイパッドを支持する必要があった。また、各素子の放熱性や耐ノイズ性等を考慮して、各ダイパッドの厚さを異ならせる必要があると共に異なる厚さのリードフレームが必要であった。ところが、このようにすると、樹脂封止型半導体デバイスのコストが増加するという問題があった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、その目的は、コストを抑えつつ、パワー素子の熱が制御素子に伝達されることを抑制することにある。
前記課題を解決するために、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置は、制御素子が実装された回路基板と、外部装置と電気的に接続される接続端子と、前記回路基板が表面に配置されると共にパワー素子が実装された本体部とを有し、前記本体部における平面視にて前記制御素子と重なる部分に逃がし穴が形成されたリードフレームと、前記回路基板及び前記本体部を一体に封止するモールド樹脂と、を備えている。
請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置では、本体部の表面に回路基板が配置されると共にこの回路基板にパワー素子が実装されているが、この本体部における平面視にて制御素子と重なる部分には、逃がし穴が形成されている。従って、パワー素子が発熱して、このパワー素子の熱が本体部に伝達された場合でも、この本体部に伝達された熱が制御素子に伝達されることを逃がし穴によって抑制することができる。
しかも、制御素子に熱が伝達されることを抑制するために、本体部に逃がし穴を形成しただけの簡単な構成であるので、これにより、コストの増加を抑制することができる。
このように、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、コストを抑えつつ、パワー素子の熱が制御素子に伝達されることを抑制することができる。
請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記逃がし穴の内縁が前記制御素子の外縁に沿って形成されると共に前記外縁に対する外側に位置された構成とされている。
請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、逃がし穴の内縁が制御素子の外縁に沿って形成されると共にこの外縁に対する外側に位置されることにより、逃がし穴が制御素子と相似状に形成されると共に制御素子の体格より大きく形成されている。従って、本体部に伝達された熱が制御素子に伝達されることを逃がし穴によってより一層抑制することができる。
請求項3に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記回路基板が前記リードフレームよりも熱伝導率の低い樹脂製とされた構成とされている。
請求項3に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、回路基板がリードフレームよりも熱伝導率の低い樹脂製とされているので、本体部に伝達された熱が制御素子に伝達されることをさらに抑制することができる。
請求項4に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記回路基板の裏面には前記逃がし穴の内側に回路部品が実装された構成とされている。
請求項4に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、逃がし穴を回路部品の配置スペースとして有効に活用することができるので、樹脂封止型半導体装置の小型化を図ることができる。
また、前記課題を解決するために、請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置の製造方法は、外部装置と電気的に接続される接続端子と、本体部とを有するリードフレームの前記本体部に逃がし穴を形成する逃がし穴形成工程と、平面視にて前記逃がし穴と制御素子が重なるように、前記制御素子が実装された回路基板を前記本体部の表面に配置すると共に、前記本体部にパワー素子を実装する部品配置工程と、前記回路基板及び前記本体部をモールド樹脂で一体に封止する樹脂封止工程と、を備えている。
請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置の製造方法によれば、部品配置工程において本体部の表面に回路基板を配置すると共にこの回路基板にパワー素子を実装するが、、この本体部における平面視にて制御素子と重なる部分には、逃がし穴形成工程において逃がし穴を形成する。従って、これらの工程によって製造された樹脂封止型半導体装置においては、パワー素子が発熱して、このパワー素子の熱が本体部に伝達された場合でも、この本体部に伝達された熱が制御素子に伝達されることを逃がし穴によって抑制することができる。
しかも、制御素子に熱が伝達されることを抑制するために、本体部における平面視にて制御素子と重なる部分に逃がし穴を形成しただけであるので、これにより、コストの増加を抑制することができる。
このように、請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置の製造方法によれば、コストを抑えつつ、パワー素子の熱が制御素子に伝達されることを抑制することができる。
以下、図面に基づき、本発明の一実施形態について説明する。
図1〜図3に示される樹脂封止型半導体装置10は、例えば、自動車に搭載されたモータを駆動するために該モータに一体的に取り付けられる制御回路用の装置である。この樹脂封止型半導体装置10は、回路基板12と、リードフレーム14と、モールド樹脂16とを備えている。
回路基板12は、例えばアルミ製とされたリードフレーム14よりも熱伝導率の低い樹脂製とされている。この回路基板12の表面には、制御素子18やその他の電子部品20がはんだ付けにより実装されており、この制御素子18や電子部品20は、回路基板12の表面に形成された図示しない配線パターンと接続されている。この配線パターンには、導電部22が接続されており、この導電部22は、例えばアルミ製のボンディングワイヤ24によりリードフレーム14の接続端子26と電気的に接続されている。
リードフレーム14は、図示しない外部装置と電気的に接続される接続端子26,28と、本体部30とを有している。本体部30の表面には、例えばFETチップ等のパワー素子32がはんだ付けにより直接実装されると共に、上述の回路基板12が配置されている。パワー素子32は、例えばアルミ製のボンディングワイヤ34により接続端子28と電気的に接続されている。
また、本体部30は、スリット36により第一本体部38及び第二本体部40に分割されており、この第一本体部38及び第二本体部40には、切欠き42,44がそれぞれ形成されている。
そして、第一本体部38及び第二本体部40に切欠き42,44がそれぞれ形成されることにより、本体部30における平面視にて制御素子18と重なる部分には、逃がし穴46が形成されている。この逃がし穴46の内縁は、制御素子18の外縁に沿って形成されると共に、制御素子18の外縁に対する外側に位置されている。つまり、この逃がし穴46は、制御素子18と相似状に形成されると共に、制御素子18の体格より大きく形成されている。
モールド樹脂16は、後述する如くモールド成形されることにより形成され、回路基板12及び本体部30を一体に封止している。
次に、上記構成からなる樹脂封止型半導体装置10の製造方法について説明する。
(逃がし穴形成工程)
先ず、板状のリードフレーム14にスリット36を形成して本体部30を第一本体部38と第二本体部40とに分割すると共に、第一本体部38及び第二本体部40に切欠き42,44を形成し、本体部30に逃がし穴46を形成する。
先ず、板状のリードフレーム14にスリット36を形成して本体部30を第一本体部38と第二本体部40とに分割すると共に、第一本体部38及び第二本体部40に切欠き42,44を形成し、本体部30に逃がし穴46を形成する。
(部品配置工程)
続いて、平面視にて逃がし穴46と制御素子18が重なるように、制御素子18が実装された回路基板12を本体部30の表面に配置すると共に、本体部30の表面にパワー素子32を実装する。そして、回路基板12の導電部22をボンディングワイヤ24により接続端子26と電気的に接続すると共に、パワー素子32をボンディングワイヤ34により接続端子28と電気的に接続する。
続いて、平面視にて逃がし穴46と制御素子18が重なるように、制御素子18が実装された回路基板12を本体部30の表面に配置すると共に、本体部30の表面にパワー素子32を実装する。そして、回路基板12の導電部22をボンディングワイヤ24により接続端子26と電気的に接続すると共に、パワー素子32をボンディングワイヤ34により接続端子28と電気的に接続する。
(樹脂封止工程)
そして、回路基板12及び本体部30を金型にセットし、これらをモールド樹脂16で一体に封止するモールド成形を行う。
そして、回路基板12及び本体部30を金型にセットし、これらをモールド樹脂16で一体に封止するモールド成形を行う。
以上の要領で、樹脂封止型半導体装置10は、製造される。
次に、本発明の一実施形態の作用及び効果について説明する。
先ず、本発明の一実施形態の作用及び効果を明確にするために、比較例について説明する。
図7には、比較例に係る樹脂封止型半導体装置110が側面断面図にて示されている。この比較例に係る樹脂封止型半導体装置110は、上述の本発明の一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10に対し、逃がし穴46が省かれた構成とされたものである。
しかしながら、この比較例に係る樹脂封止型半導体装置110では、パワー素子32が発熱した場合には、このパワー素子32の熱50が熱伝導率の高い本体部30に伝達され、この本体部30に伝達された熱52が回路基板12を介して制御素子18に伝達される。そして、制御素子18においては、自己発熱による熱とパワー素子32からのもらい熱により温度が上昇し、これにより、制御素子18が正常に動作しなくなる虞がある。
ここで、制御素子18に熱が伝達されないように、例えば断熱部材を適宜箇所に配置することも考えられるが、このようにすると、コストアップとなる。
これに対し、本発明の一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10では、本体部30の表面に回路基板12が配置されると共にパワー素子32が実装されているが、この本体部30における平面視にて制御素子18と重なる部分には、逃がし穴46が形成されている。従って、図3に示されるように、パワー素子32が発熱して、このパワー素子32の熱50が本体部30に伝達された場合でも、この本体部30に伝達された熱52が制御素子18に伝達されることを逃がし穴46によって抑制することができる。
しかも、制御素子18に熱が伝達されることを抑制するために、本体部30に逃がし穴46を形成しただけの簡単な構成であるので、これにより、コストの増加を抑制することができる。
このように、本発明の一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10によれば、コストを抑えつつ、パワー素子32の熱が制御素子18に伝達されることを抑制することができる。
また、本発明の一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10によれば、逃がし穴46の内縁が制御素子18の外縁に沿って形成されると共にこの外縁に対する外側に位置されることにより、逃がし穴46が制御素子18と相似状に形成されると共に制御素子18の体格より大きく形成されている。従って、本体部30に伝達された熱が制御素子18に伝達されることを逃がし穴46によってより一層抑制することができる。
また、本発明の一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10によれば、回路基板12がリードフレーム14よりも熱伝導率の低い樹脂製とされているので、本体部30に伝達された熱が制御素子18に伝達されることをさらに抑制することができる。
次に、本発明の一実施形態の変形例について説明する。
上記実施形態において、制御素子18は、図1に示されるように回路基板12に平面視にて平行に実装されていたが、図4に示されるように回路基板12に平面視にて斜めに実装されていても良い。また、この場合に、逃がし穴46は、上記実施形態の場合と同様に、その内縁が制御素子18の外縁に沿って形成されると共に、制御素子18の外縁に対する外側に位置される構成とされていても良い。
また、図5に示されるように、回路基板12の裏面における逃がし穴46の内側には、例えば回路基板12の表面には実装しきれない場合やノイズ対策が必要な場合等に応じて、回路部品48が実装されていても良い。
このように構成されていると、逃がし穴46を回路部品48の配置スペースとして有効に活用することができるので、樹脂封止型半導体装置10の小型化を図ることができる。
また、上記実施形態では、本体部30が第一本体部38及び第二本体部40に分割されると共に、この第一本体部38及び第二本体部40に切欠き42,44がそれぞれ形成されることにより、本体部30に逃がし穴46が形成されていたが、図6に示されるように、本体部30が分割されずにこの本体部30に逃がし穴46が形成されていても良い。
以上、本発明の一実施形態及びその変形例について説明したが、本発明は、上記に限定されるものでなく、その主旨を逸脱しない範囲内において上記以外にも種々変形して実施することが可能であることは勿論である。
10・・・樹脂封止型半導体装置、12・・・回路基板、14・・・リードフレーム、16・・・モールド樹脂、18・・・制御素子、20・・・電子部品、22・・・導電部、24,34・・・ボンディングワイヤ、26,28・・・接続端子、30・・・本体部、32・・・パワー素子、36・・・スリット、38・・・第一本体部、40・・・第二本体部、42,44・・・切欠き、46・・・逃がし穴、48・・・回路部品
Claims (5)
- 制御素子が実装された回路基板と、
外部装置と電気的に接続される接続端子と、前記回路基板が表面に配置されると共にパワー素子が実装された本体部とを有し、前記本体部における平面視にて前記制御素子と重なる部分に逃がし穴が形成されたリードフレームと、
前記回路基板及び前記本体部を一体に封止するモールド樹脂と、
を備えた樹脂封止型半導体装置。 - 前記逃がし穴の内縁は、前記制御素子の外縁に沿って形成されると共に、前記外縁に対する外側に位置されている、
請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置。 - 前記回路基板は、前記リードフレームよりも熱伝導率の低い樹脂製とされている、
請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置。 - 前記回路基板の裏面には、前記逃がし穴の内側に回路部品が実装されている、
請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置。 - 外部装置と電気的に接続される接続端子と、本体部とを有するリードフレームの前記本体部に逃がし穴を形成する逃がし穴形成工程と、
平面視にて前記逃がし穴と制御素子が重なるように、前記制御素子が実装された回路基板を前記本体部の表面に配置すると共に、前記本体部にパワー素子を実装する部品配置工程と、
前記回路基板及び前記本体部をモールド樹脂で一体に封止する樹脂封止工程と、
を備えた樹脂封止型半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008330978A JP2010153642A (ja) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008330978A JP2010153642A (ja) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010153642A true JP2010153642A (ja) | 2010-07-08 |
Family
ID=42572410
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008330978A Pending JP2010153642A (ja) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010153642A (ja) |
-
2008
- 2008-12-25 JP JP2008330978A patent/JP2010153642A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4760585B2 (ja) | 電力用半導体装置 | |
JP6193510B2 (ja) | リードフレーム、半導体装置、リードフレームの製造方法、および半導体装置の製造方法 | |
JP6119313B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5936310B2 (ja) | パワー半導体モジュール及びその取り付け構造 | |
JP6044473B2 (ja) | 電子装置およびその電子装置の製造方法 | |
JP5106519B2 (ja) | 熱伝導基板及びその電子部品実装方法 | |
JP6528620B2 (ja) | 回路構成体および電気接続箱 | |
US10163752B2 (en) | Semiconductor device | |
JP2015144217A (ja) | コネクタフレーム及び半導体装置 | |
JP2008141140A (ja) | 半導体装置 | |
JP6129355B2 (ja) | 電力半導体装置 | |
JP6602981B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP6165025B2 (ja) | 半導体モジュール | |
JP5556531B2 (ja) | 電子モジュールの取付構造 | |
JP2015185835A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP6312527B2 (ja) | 放熱板を備えた電子部品の実装構造 | |
JP2005332918A (ja) | 電子装置 | |
JP5239736B2 (ja) | 電子装置 | |
KR20190077469A (ko) | 회로 모듈 및 그 제조 방법 | |
JP2010153642A (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
WO2015052880A1 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2008140979A (ja) | パッケージ型半導体装置 | |
JP2005354118A (ja) | 混成集積回路装置 | |
JP2016201479A (ja) | 電子制御ユニットの製造方法 | |
JP2005327791A (ja) | 半導体装置およびその実装構造 |