JP2010151534A - 光ファイバ心線対照方法および装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 ＰＯＮシステムにおける光スプリッタの下部側光ファイバが曲げに対して漏洩光を発生しない光ファイバであっても心線対照を可能にする。
【解決手段】 複数の光ファイバの中から所定の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照方法において、所定の光ファイバの一端からパルス試験光を入力し、所定の光ファイバに配置した負荷手段で、光ファイバの温度または歪みの少なくとも一方を変化させ、所定の光ファイバの一端で、パルス試験光に対応するブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光線路の建設や保守作業時に、作業対象の光ファイバを特定するための光ファイバ心線対照方法および装置に関する。

従来の光ファイバ心線対照装置は、作業対象の光ファイバへ試験光を入射し、光ファイバに加えた曲げにより漏洩する試験光を観測し、当該試験光が検出されればその光ファイバを作業対象として特定する構成であった。これを「心線対照」という。

図８は、従来の光ファイバ心線対照装置の構成例を示す（特許文献１）。
図において、局側終端装置ＯＬＴ（Optical Line Terminal)とユーザ側終端装置ＯＮＵ（Optical Network Unit) は、光ファイバを束ねた光ファイバケーブル５０を介して接続される。作業対象の光ファイバ５１に対して、ＯＬＴ側の光カプラ５２を介して心線対照用試験光源５３から試験光を入射し、光ファイバ５１のＯＮＵ側で曲げ部５４を用いて曲げを生じさせ、その曲げにより漏洩する試験光を光検出器（ＰＤ）５５で検出する。ここで、ＯＬＴとＯＮＵとの間の通信光よりも長波長の試験光を用い、光ファイバ５１の遠端（ＯＮＵの入力端）に配置した試験光遮断フィルタ５６で試験光を遮断する構成により、通信光に影響を与えずに試験光を用いた心線対照が可能になっている。

なお、光ファイバ心線対照装置は、所内装置として光カプラ５２および心線対照用試験光源５３と、所外装置として曲げ部５４および光検出器５５から構成される。作業者は、所内装置を用いて作業対象の光ファイバ５１に試験光を入射し、所外装置を用いて光ファイバ５１から漏洩する試験光を検出することにより、通信光が伝送中であってもサービスを中断することなく心線対照を行うことができる。
特開昭５７−０２６８０７号公報

ところで近年、従来の方法では心線対照が困難な問題が生じている。
１つは、光ファイバ運用の作業性を向上させるため、曲げに対して損失変動がほぼ発生しない、すなわち曲げによる漏洩光が発生しない光ファイバが用いられている。このような光ファイバとしては、光ファイバコアの周囲に空孔を設け、低屈折率のクラッド層により強い光閉じ込め効果を実現したホールアシストファイバ等が開発されている。この光ファイバは、従来の方法で曲げによる漏洩光を発生させることができないため、心線対照ができない。

また、光通信サービスの線路形態として、設備ビル内のＯＬＴとユーザ側のＯＮＵが１対１で接続されず、光を等分岐する光スプリッタを介して１つのＯＬＴに複数のＯＮＵを収容するＰＯＮ(Passive Optical Network) システムが主流になっている。ＰＯＮでは、経済的な光サービスを提供するために、ユーザ宅近傍に光スプリッタを設置している。このようなＰＯＮに従来の光ファイバ心線対照方法を適用すると、心線対照用試験光が光スプリッタを介して下部側光ファイバに均等に分配されるので、下部側光ファイバを個別に対照することができない。したがって、作業場所では光スプリッタの直近で下部側光ファイバに付与した目印を頼りに心線対照を行っており、下部側光ファイバの端末では事実上心線対照ができないのが実情である。

本発明は、ＰＯＮシステムにおける光スプリッタの下部側光ファイバが曲げに対して漏洩光を発生しない光ファイバであっても心線対照を可能にする光ファイバ心線対照方法および装置を提供することを目的とする。

第１の発明は、複数の光ファイバの中から所定の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照方法において、所定の光ファイバの一端からパルス試験光を入力し、所定の光ファイバに配置した負荷手段で、光ファイバの温度または歪みの少なくとも一方を変化させ、所定の光ファイバの一端で、パルス試験光に対応するブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する。

第１の発明における負荷手段は、光ファイバの温度を上げる加熱部と温度を下げる冷却部を所定の順番に配列し、当該加熱部および冷却部の配列に対応させてブリルアン散乱光の周波数変化と時間位置を観測し、温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する。また、負荷手段は、加熱部が配置される光ファイバの長手方向に歪みを生じさせるようにしてもよい。

第１の発明における光ファイバ心線対照方法において、複数の光ファイバは１つの光スプリッタに収容され、パルス試験光は該光スプリッタで分岐して複数の光ファイバに入力する構成であり、複数の光ファイバは、それぞれ固有周波数のブリルアン散乱光を発生する構成であり、パルス試験光を入力する光スプリッタの入力側で、光スプリッタに収容される複数の光ファイバの中の所定の光ファイバに対応する固有周波数のブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する。

第１の発明における光ファイバ心線対照方法において、パルス試験光を出力し、ブリルアン散乱光の周波数変化を観測する心線対照手段と、光ファイバの温度または歪みを変化させる負荷手段との間で所定の通信を行う通信手段を備え、心線対照手段は、負荷手段からの指示によりパルス試験光を出力し、さらにブリルアン散乱光の周波数変化を観測したときにその通知信号を負荷手段に送信し、負荷手段は、心線対照手段にパルス試験光の出力を指示し、光ファイバの温度または歪みを変化させたときに、心線対照手段から通知信号を受信するか否かに応じて当該光ファイバの特定を行う。

第２の発明は、複数の光ファイバの中から所定の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照装置において、所定の光ファイバの一端からパルス試験光を入力するパルス試験光入力手段と、所定の光ファイバに配置され、光ファイバの温度または歪みの少なくとも一方を変化させる負荷手段と、所定の光ファイバの一端で、パルス試験光に対応するブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する心線対照手段とを備える。

第２の発明における負荷手段は、光ファイバの温度を上げる加熱部と温度を下げる冷却部を所定の順番に配列する構成であり、心線対照手段は、加熱部および冷却部の配列に対応させてブリルアン散乱光の周波数変化と時間位置を観測し、温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する構成である。また、負荷手段は、加熱部が配置される光ファイバの長手方向に歪みを生じさせる手段を含む。

第２の発明における光ファイバ心線対照装置において、複数の光ファイバは１つの光スプリッタに収容され、パルス試験光は該光スプリッタで分岐して複数の光ファイバに入力する構成であり、複数の光ファイバは、それぞれ固有周波数のブリルアン散乱光を発生する構成であり、パルス試験光入力手段および心線対照手段を光スプリッタの入力側に接続し、心線対照手段は、光スプリッタに収容される複数の光ファイバの中の所定の光ファイバに対応する固有周波数のブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する構成である。

第２の発明における光ファイバ心線対照装置において、パルス試験光を出力し、ブリルアン散乱光の周波数変化を観測する心線対照手段と、光ファイバの温度または歪みを変化させる負荷手段との間で所定の通信を行う通信手段を備え、心線対照手段は、負荷手段からの指示によりパルス試験光を出力し、さらにブリルアン散乱光の周波数変化を観測したときにその通知信号を負荷手段に送信する構成であり、負荷手段は、心線対照手段にパルス試験光の出力を指示し、光ファイバの温度または歪みを変化させたときに、心線対照手段から通知信号を受信するか否かに応じて当該光ファイバの特定を行う構成である。

本発明は、曲げによって漏洩光を生じさせない光ファイバでも、ブリルアン散乱光の周波数変化を観測することにより心線対照が可能になる。また、光スプリッタに収容される光ファイバにブリルアン散乱光の周波数を個別に割り当てることにより、各周波数のブリルアン散乱光の周波数変化を観測することにより、光スプリッタ収容の光ファイバの心線対照が可能になる。

（第１の実施形態）
図１は、本発明の光ファイバ心線対照装置の第１の実施形態を示す。
図において、局側終端装置ＯＬＴとユーザ側終端装置ＯＮＵは、光ファイバを束ねた光ファイバケーブル１０を介して接続される。作業対象の光ファイバ１１に対して、ＯＬＴ側の光カプラ１２を介して心線対照装置１３の試験光源からパルス試験光を入射し、光ファイバ１１のＯＮＵ側で負荷装置１４を用いて光ファイバの温度または歪みを変化させ、ブリルアン散乱光周波数シフト（以下「ＢＦＳ」という）を変化させる。このブリルアン散乱光は、光ファイバ１１、光カプラ１２を介して心線対照装置１３に入力する。心線対照装置１３は、ＢＦＳの変化を観測して心線対照を行う構成である。ここで、ＯＬＴとＯＮＵとの間の通信光よりも長波長の試験光を用い、光ファイバ１１の遠端（ＯＮＵの入力端）に配置した試験光遮断フィルタ１５で試験光を遮断する構成により、通信光に影響を与えずにブリルアン散乱光を用いた心線対照が可能になっている。

図２は、心線対照装置１３の構成例を示す。ここでは、ブリルアン後方散乱光をモニタし、ＢＦＳの変化を観測するブリルアン散乱光パルス試験器（ＢＯＴＤＲ）を用いる例を示す。ＢＯＴＤＲは、パルス試験光を光ファイバに入射し、光ファイバ中で発生するブリルアン後方散乱光がＢＯＴＤＲに戻るまでの時間、すなわちＢＯＴＤＲからの距離と、ＢＦＳおよびブリルアン散乱光強度を測定する。作業者は、負荷装置１４を用いて作業対象の光ファイバ１１の温度または歪みを変化させ、ＢＦＳを変化させる。

図２において、試験光源２１から出力する試験光（周波数ν₀ の連続光）は、光カプラ２２を介して光ファイバ１１に送出する試験光とローカル光に２分岐される。試験光は、光スイッチ２３でパルス試験光に変換されて光カプラ２４から出力され、さらに光カプラ１２を介して作業対象の光ファイバ１１に送出される。光ファイバ１１に接続される負荷装置１４を用いて光ファイバの温度または歪みを変化させ、対応する周波数シフトν_B が生じたブリルアン散乱光は、光カプラ１２、光カプラ２４を介して光カプラ２５に入力し、ローカル光と合波して光検出器（ＰＤ）２６に入力する。ＰＤ２６は、周波数ν₀ のローカル光と周波数ν₀ ±ν_B のブリルアン散乱光に対応する周波数ν_B のビート信号を出力する。このビート信号は増幅器２７で増幅され、さらにミキサ２８で局部発振器（ＬＯ）２９から出力される周波数ν_B に近い周波数のローカル信号と混合され、ベースバンド信号に変換される。このベースバンド信号は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）３０で高周波成分を除去して強度検出器２０に入力し、周波数シフトν_B のブリルアン散乱光の強度信号を得る。また、ブリルアン散乱光が戻る時間ｔに対して、ＢＯＴＤＲからの距離Ｌは、
Ｌ＝１／２(ｖ・ｔ）
で求めることができる。なお、ｖは、光ファイバ中の光速度である。

ここで、ブリルアン後方散乱光は、図３に示すように、パルス試験光の周波数ν₀ から約10ＧHz程度の周波数シフトした周波数（ν₀±ν_B）となる。なお、試験光波長が1650ｎｍであれば、その周波数シフトν_B は光ファイバの歪み１％に対して約＋500 ＭHz、温度１℃に対して約＋1.08ＭHz変化する。

（負荷装置１４の構成例１）
図４は、負荷装置１４の構成例１を示す。
図において、ＢＦＳを変化させる負荷装置１４は、例えば光ファイバ１１の長手方向に一様に加熱または冷却することで実現する。光ファイバケーブルの接続点で心線対照作業を実施する場合は、光ファイバテープまたは単心素線が露出した状態であり、余長は収容ケースにコイル状に収容されている。この光ファイバ１１をコイル状にした部分を負荷装置１４の中に収容し、例えばヒータ等の加熱部１４１を用いて加熱する構成とすることにより、コンパクトな構成で光ファイバ１１の長手方向に一様に加熱することができる。また、曲げに強い光ファイバであれば、曲げによる物理的破壊限界の直径５ｍｍ程度にできるので、負荷装置１４内の光ファイバ収容径を小さくでき、負荷装置１４をさらに小型にできる。なお、加熱部１４１に代えてペルチェ素子等の冷却部を用い、気温より冷却する構成としてもよい。

このような負荷装置１４を用い、例えばＢＯＴＤＲから５ｋｍの地点で心線対照の光ファイバの温度を例えば気温25℃から100 ℃に加熱する。さらに、ＢＯＴＤＲのパルス試験光を当該光ファイバに入射し、光ファイバ長手方向のＢＦＳの分布を観測すると、図１に示すように、ブリルアン散乱光スペクトラムピークが５ｋｍ地点で約80ＭHz高周波側にシフトしていることが観測される。

作業者は、心線対照の光ファイバに送出したパルス試験光に対するＢＦＳの変化を測定・検出することにより、漏洩光がほとんど発生しない光ファイバであっても、ＯＬＴ〜ＯＮＵ間の通信サービスを中断することなく光ファイバの心線対照が可能となる。また、パルス試験光を用いていることから、ＯＴＤＲの手法で心線対照の位置を確認することができる。また、本実施形態では、シングルモードファイバでも同様に心線対照が可能である。ただし、コイル状に収容する場合には、曲げによる光ファイバ損失が生じることがないように、一般的には直径60ｍｍ以上の形状とする必要がある。

（負荷装置１４の構成例２）
図５は、負荷装置１４の他の構成例を示す。
実際の光ファイバ線路では、光ファイバの長手方向に異なるピースの光ファイバケーブルが接続されたり、敷設されている状態で光ファイバの長手方向に歪みや温度の違いが存在すると、その位置でＢＦＳの変化が生じ、負荷装置１４を用いたＢＦＳの変化と区別がつかず心線対照が困難になる。

そこで、図５(a) に示すように、負荷装置１４内に３つの光ファイバ１１のコイル部を設け、例えば中央のコイル部に加熱部１４１を配置し、その両側に冷却部１４２，１４３を配置する。これにより、図５(b) に示すようにＢＦＳが正方向と負方向に特徴的な変化を示し、負荷装置１４を用いた心線対照が容易になる。

例えば、敷設された光ファイバ中に0.02％の歪みばらつきと、モードフィールド径 9.2±0.4 μｍのばらつきをもつ光ファイバのコアに含まれるＧeＯ₂の濃度ばらつきを考慮すると、それぞれ10ＭHz、70ＭHzのＢＦＳの変動を含むことになる。これに対して、加熱部１４１で 100℃、冷却部１４２，１４３で０℃に設定すると、ＢＦＳの変動が 108ＭHzとなり、容易に検出可能となる。

また、光ファイバの加熱は周波数シフトが大きくなる方向に作用するので、図５に加熱部１４１とともに、光ファイバのコイル部を内側から加圧する伸縮部１４４に巻き付けておき、加熱とともに加圧することにより、さらにＢＦＳの変動を大きくすることができる。例えば、光ファイバ１本当たりに0.05％の歪み（0.45Ｎの張力／１心）を付与すると、ＢＦＳは25ＭHz大きくなり、さらに検出が容易になる。なお、加熱部１４１と冷却部１４２，１４３の数や配列は任意であり、特徴的な配列によりＢＦＳの変化の検出をさらに容易にすることができる。

（第２の実施形態）
図６は、本発明の光ファイバ心線対照装置の第２の実施形態を示す。本実施形態はＰＯＮシステムに適用したものである。

図において、ＰＯＮシステムは、ＯＬＴに接続される光ファイバ３１と、複数ｍ個のＯＮＵにそれぞれ接続される光ファイバ３３−１〜３３−ｍが、ｍ分岐の光スプリッタ３２を介して接続される構成である。ＯＬＴと光スプリッタ３２とを接続する光ファイバ３１には光カプラ３４が挿入され、光カプラ３４の試験ポートに第１の実施形態と同様の心線対照装置１３が接続される。心線対照装置１３は、ＯＬＴとＯＮＵ間の通信光とは異なる波長のパルス試験光を出力する。このパルス試験光は、光カプラ３４から光ファイバ３１に入射して伝搬し、光スプリッタ３２で光ファイバ３３−１〜３３−ｍに分配される。光ファイバ３３−１〜３３−ｍの遠端（各ＯＮＵの入力端）には、通信光を透過しパルス試験光を遮断かつ反射する試験光遮断フィルタ３５が挿入される。心線対照の光ファイバ（ここでは３３−ｍとする）には、第１の実施形態と同様の負荷装置１４が取り付けられる。

本実施形態の特徴は、光スプリッタ３２に接続される光ファイバ３３−１〜３３−ｍとして、互いに固有のＢＦＳ（周波数ν₁ 〜ν_m ）が得られるように、それぞれコアの添加物濃度を変えたものを用いるところにある（特開２００６−１４０７３０号公報を参照）。

本実施形態の構成では、心線対照装置１３からパルス試験光を送出すると、光ファイバ３３−１〜３３−ｍからブリルアン散乱光が重なって戻ってくるが、図６(b) に示すようにそれぞれ固有の周波数を割り当てているので区別することができる。さらに、図６(b) に破線で示すように、負荷装置１４が取り付けられた光ファイバ３３−ｍからのブリルアン散乱光周波数ν_m の変化を観測することにより、また図６(c) に示すようにブリルアン散乱光周波数ν_m のスペクトラムピークの変化を観測することにより、ＰＯＮシステムであっても心線対照の光ファイバ３３−ｍを容易に特定することができる。

（第３の実施形態）
図７は、本発明の光ファイバ心線対照装置の第３の実施形態を示す。ここでは、作業者が現場で心線対照を行う場合の作業手順に基づいて説明するが、心線対照の基本的な原理については第１，第２の実施形態と同様であり、図１および図６に示す各部と対応するものは同一符号を付して説明を省略する。

図７において、ＯＬＴには複数の光ファイバ３１−１〜３１−ｎが接続され、それぞれに光カプラ３４が挿入される。図面では省略しているが、複数の光ファイバ３１−１〜３１−ｎにはそれぞれ光スプリッタ３２が接続され、例えば光ファイバ３１−１に接続される光スプリッタ３２には複数の光ファイバ３３−１〜３３−ｍを介してＯＮＵが接続される。光スイッチ４１は、心線対照装置１３から出力されるパルス試験光を複数の光ファイバ３１−１〜３１−ｎにそれぞれ挿入された光カプラ３４のいずれかに入力する。光スイッチ４１は、信号制御・処理部４２の制御により接続先の切り替えを行う。なお、光スイッチ４１は所内の人の操作によってもよい。信号制御・処理部４２と負荷装置１４の通信・表示部４３は、通信ネットワーク４４を介して通信を行う機能を含む。なお、信号制御・処理部４２と負荷装置１４の通信形態は特に限定されるものではなく、既存の公衆無線通信システム等の利用が可能である

作業者は、現場で光ファイバ３１−１に接続される心線対照の光ファイバ（ここでは３３−ｍ）に対して、負荷装置１４を用いて温度変化または歪みを与えるとともに、通信・表示部４３から通信ネットワーク４４を介して信号制御・処理部４２に、心線対照の光ファイバ情報および試験指示を送信する操作を行う。信号制御・処理部４２は、通信ネットワーク４４を介して負荷装置１４からの信号を受信すると、光ファイバ３１−１〜３１−ｎに挿入された光カプラ３４の試験ポートと光スイッチ４１のポートの対応関係情報をもつデータベース４５を参照し、心線対照の光ファイバ３３−ｍの情報に基づいてパルス試験光を入力する光ファイバ３１−１を特定し、光スイッチ４１を制御してパルス試験光が光ファイバ３１−１に入力されるように制御する。

次に、第１，第２の実施形態で説明したように、心線対照装置１３は信号制御・処理部４２の制御によりパルス試験光を出力してＢＦＳの変化を観測し、さらにデータベース４５を参照して変化したＢＦＳに対応する光ファイバ３３−ｍの心線番号を取得する。この心線番号の情報は、信号制御・処理部４２から通信ネットワーク４４を介して負荷装置１４の通信・表示部４３に転送され、光ファイバ３３−ｍの心線番号を表示させる。これにより、作業者は、負荷装置１４を用いてブリルアン散乱光周波数の変化を与えた光ファイバ３３−ｍを識別することができる。また、パルス試験光を送出してからブリルアン散乱光が検出されるまでの時間から、負荷装置１４を装着した位置を検出することができる。

なお、作業者が光ファイバ３１−１に接続される光ファイバ３３−ｍの心線対照を行う際に、間違えて例えば光ファイバ３１−２に接続される光ファイバに負荷装置１４を装着し、光ファイバ３１−１に接続される光ファイバ３３−ｍを心線対照として信号制御・処理部４２に通知した場合には、次のようになる。心線対照装置１３は、信号制御・処理部４２の制御によりパルス試験光を光ファイバ３１−２に送出し、そのブリルアン散乱光の変動をモニタする。しかし、作業者は、光ファイバ３１−１に接続される光ファイバ３３−ｍに負荷装置１４を装着しており、光ファイバ３１−２に接続される光ファイバには何らＢＦＳ変動を与えていないので、心線対照装置１３ではブリルアン散乱光周波数の変化を観測できない。この場合には、信号制御・処理部４２は負荷装置１４に対して、試験を実施した光線路に心線対照の光ファイバが存在しないことを通知する。

本発明の光ファイバ心線対照装置の第１の実施形態を示す図。 心線対照装置１３の構成例を示す図。 パルス試験光とブリルアン散乱光の関係を示す図。 負荷装置１４の構成例１を示す図。 負荷装置１４の構成例２を示す図。 本発明の光ファイバ心線対照装置の第２の実施形態を示す図。 本発明の光ファイバ心線対照装置の第３の実施形態を示す図。 従来の光ファイバ心線対照装置の構成例を示す図。

符号の説明

ＯＬＴ 局側終端装置
ＯＮＵ ユーザ側終端装置
１１，３１，３３ 光ファイバ
１２，３４ 光カプラ
１３ 心線対照装置
１４ 負荷装置
１４１ 加熱部
１４２，１４３ 冷却部
１４４ 伸縮部
１５，３５ 試験光遮断フィルタ
２０ 強度検出器
２１ 試験光源
２２，２４，２５ 光カプラ
２３ 光スイッチ
２６ 光検出器（ＰＤ）
２７ 増幅器
２８ ミキサ
２９ 局部発振器（ＬＯ）
３０ ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
３２ 光スプリッタ
４１ 光スイッチ
４２ 信号制御・処理部
４３ 通信・表示部
４４ 通信ネットワーク
４５ データベース

Claims (10)

1. 複数の光ファイバの中から所定の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照方法において、
   前記所定の光ファイバの一端からパルス試験光を入力し、
   前記所定の光ファイバに配置した負荷手段で、光ファイバの温度または歪みの少なくとも一方を変化させ、
   前記所定の光ファイバの一端で、前記パルス試験光に対応するブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、前記温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照方法。
2. 請求項１に記載の光ファイバ心線対照方法において、
   前記負荷手段は、光ファイバの温度を上げる加熱部と温度を下げる冷却部を所定の順番に配列し、当該加熱部および冷却部の配列に対応させて前記ブリルアン散乱光の周波数変化と時間位置を観測し、前記温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照方法。
3. 請求項２に記載の光ファイバ心線対照方法において、
   前記負荷手段は、前記加熱部が配置される光ファイバの長手方向に歪みを生じさせる
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照方法。
4. 請求項１に記載の光ファイバ心線対照方法において、
   前記複数の光ファイバは１つの光スプリッタに収容され、前記パルス試験光は該光スプリッタで分岐して前記複数の光ファイバに入力する構成であり、
   前記複数の光ファイバは、それぞれ固有周波数のブリルアン散乱光を発生する構成であり、
   前記パルス試験光を入力する前記光スプリッタの入力側で、前記光スプリッタに収容される複数の光ファイバの中の所定の光ファイバに対応する前記固有周波数のブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、前記温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照方法。
5. 請求項１に記載の光ファイバ心線対照方法において、
   前記パルス試験光を出力し、前記ブリルアン散乱光の周波数変化を観測する心線対照手段と、前記光ファイバの温度または歪みを変化させる負荷手段との間で所定の通信を行う通信手段を備え、
   前記心線対照手段は、前記負荷手段からの指示により前記パルス試験光を出力し、さらに前記ブリルアン散乱光の周波数変化を観測したときにその通知信号を前記負荷手段に送信し、
   前記負荷手段は、前記心線対照手段に前記パルス試験光の出力を指示し、前記光ファイバの温度または歪みを変化させたときに、前記心線対照手段から前記通知信号を受信するか否かに応じて当該光ファイバの特定を行う
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照方法。
6. 複数の光ファイバの中から所定の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照装置において、
   前記所定の光ファイバの一端からパルス試験光を入力するパルス試験光入力手段と、
   前記所定の光ファイバに配置され、光ファイバの温度または歪みの少なくとも一方を変化させる負荷手段と、
   前記所定の光ファイバの一端で、前記パルス試験光に対応するブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、前記温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する心線対照手段と
   を備えたことを特徴とする光ファイバ心線対照装置。
7. 請求項６に記載の光ファイバ心線対照装置において、
   前記負荷手段は、光ファイバの温度を上げる加熱部と温度を下げる冷却部を所定の順番に配列する構成であり、
   前記心線対照手段は、前記加熱部および冷却部の配列に対応させて前記ブリルアン散乱光の周波数変化と時間位置を観測し、前記温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する構成である
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照装置。
8. 請求項７に記載の光ファイバ心線対照装置において、
   前記負荷手段は、前記加熱部が配置される光ファイバの長手方向に歪みを生じさせる手段を含む
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照装置。
9. 請求項６に記載の光ファイバ心線対照装置において、
   前記複数の光ファイバは１つの光スプリッタに収容され、前記パルス試験光は該光スプリッタで分岐して前記複数の光ファイバに入力する構成であり、
   前記複数の光ファイバは、それぞれ固有周波数のブリルアン散乱光を発生する構成であり、
   前記パルス試験光入力手段および前記心線対照手段を前記光スプリッタの入力側に接続し、前記心線対照手段は、前記光スプリッタに収容される複数の光ファイバの中の所定の光ファイバに対応する前記固有周波数のブリルアン散乱光の周波数変化を観測し、前記温度または歪みを変化させた光ファイバを特定する構成である
   ことを特徴とする光ファイバ心線対照装置。
10. 請求項６に記載の光ファイバ心線対照装置において、
    前記パルス試験光を出力し、前記ブリルアン散乱光の周波数変化を観測する心線対照手段と、前記光ファイバの温度または歪みを変化させる負荷手段との間で所定の通信を行う通信手段を備え、
    前記心線対照手段は、前記負荷手段からの指示により前記パルス試験光を出力し、さらに前記ブリルアン散乱光の周波数変化を観測したときにその通知信号を前記負荷手段に送信する構成であり、
    前記負荷手段は、前記心線対照手段に前記パルス試験光の出力を指示し、前記光ファイバの温度または歪みを変化させたときに、前記心線対照手段から前記通知信号を受信するか否かに応じて当該光ファイバの特定を行う構成である
    ことを特徴とする光ファイバ心線対照装置。

Images