JP2010145847A - 光走査装置及び画像形成装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 PDセンサで検出された回転多面鏡で反射されたレーザ光と予め測定されたPDセンサの出力値との比較で、回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを判断して画像形成装置を停止していた。このため画像形成装置のダウンタイムが長くなるという課題がある。
【解決手段】 回転多面鏡の反射面で反射されたレーザ光を検出する光検出手段と、回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され光検出手段で検出された検出値の比較に基づいて回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知する検知手段とを備える。
【選択図】 図5

Description

本発明は、光走査装置に関し、さらに詳しくは、レーザプリンタ等のレーザ光で像担持体上を走査して画像を形成する光走査装置及び画像形成装置に関するものである。
電子写真方式の画像形成装置で使用する光走査装置では、入力された画像データに応じてレーザ光源を駆動してレーザ光を出射し、複数の反射面を備える回転多面鏡(ポリゴンミラー)等の偏向部材で偏向走査している。この偏向走査されるレーザ光により画像形成装置が備える像担持体としての感光体の主走査方向(感光体の軸方向)に静電潜像を形成する。また光走査装置では、回転多面鏡により偏向走査されたレーザ光が光検出センサ(フォトダイオードで構成され、BDセンサともいう)に入射され、光検出センサから出力される主走査同期信号をもとに感光体上への静電潜像を形成する開始タイミングを制御する。
このような光走査装置では一般的に画像形成装置内の粉塵等で反射面が汚れないように粉塵等が入りにくい構造としているが、粉塵等が入ってしまうと回転多面鏡は高速で回転しており、反射面が粉塵等の巻き込みで汚れることが知られている。
図9に示すように、回転多面鏡33の回転する方向A’と反対方向に気流B’が発生する。このため回転多面鏡33の反射面で偏向走査の開始側(同図の太線部分)に気流の巻き込みが起こり、回転多面鏡の反射面内では走査開始側から汚れ始める。
そこで回転多面鏡の反射面が汚れているか否かを判別する光走査装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。具体的には、回転多面鏡で反射されたレーザ光を光検知センサ(PDセンサ)で検知し、予め測定されたPDセンサの出力値と回転多面鏡の汚れ量との関係とに基づいて反射面が汚れていることを判別する。
特開2006−011300号公報
反射面が汚れると反射面毎に反射光量がばらつくという傾向があることがわかっており、反射面毎に偏向走査の開始側部分近傍での反射光量が大きくばらつくと光検出センサの検出精度にばらつきが大きく生じる。その結果、書き出し位置がずれ画像揺らぎが生じ画像品質を大きく劣化させる。このような状況が発生した場合には、サービスマンがメンテナンスを行う必要があり、またサービスマンが到着するまで画像形成装置を停止させた方が好ましい。
一方、反射光量の低下があったとしても、反射面にかかわらず反射光量が一様に低下しているのであれば、例え書き出し位置に変動が生じていても一様に変動するため画像品質の劣化は目立ち難い。このような場合には、サービスマンがメンテナンスを行う必要があっても、サービスマンがメンテナンスに到着するまで画像形成装置を停止させずに稼動させた方が画像形成装置を使用できなくなる時間が短縮されるため好ましい。
しかし上記特許文献1で提案された方法では、PDセンサで検出された回転多面鏡で反射されたレーザ光と予め測定されたPDセンサの出力値との比較で、回転多面鏡の反射面の汚れを判断している。つまり反射面が汚れたことは検出するが、反射面内での反射光量のばらつきを考慮しておらず、汚れたことを検知した時点で画像形成装置を停止していた。従って、画像形成装置のダウンタイムが長くなるという課題がある。
そこで、本発明は、反射面毎の反射光量のばらつきを検出することで、早期に汚れのばらつきの状態を精度よく検知することができる光走査装置及び画像形成装置を提供することである。
本発明はかかる課題を解決するために、反射面を有し回転する回転多面鏡にレーザ光を反射させて感光体に静電潜像を形成する光走査装置において、前記回転多面鏡の反射面で反射されたレーザ光を検出する光検出手段と、前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された検出値の比較に基づいて前記回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知する検知手段とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、反射面毎の反射光量のばらつきを検出することで、精度よく、早期に汚れのばらつきの状態を精度よく検知することが可能になる。
以下、図面を参照して、この発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。
図1は、本発明の一実施形態としての画像形成装置全体の概略断面図である。画像形成装置100の基本的な動作について図1を用いて説明する。原稿給紙装置1上に積載された原稿は、1枚ずつ順次原稿台ガラス2のガラス面上に搬送される。原稿が原稿台ガラス2のガラス面上に搬送されると、読取りユニット4のランプ部3が点灯し、かつ読取りユニット4が図中の矢印方向に移動ながら原稿を照射する。原稿からの反射光はミラー5,6,7を介してレンズ8を通過し、その後、イメージセンサー部9に入力される。イメージセンサー部9に入力された画像信号は、一旦、画像データ生成部200に記憶され、再び読み出された後、光走査装置としてのスキャナユニット10に入力される。スキャナユニット10が発生させる照射光によって像担持体である感光体11上に作られた静電潜像は、電位センサ30によって、感光体11上の電位が所望の値になっているか監視され、次いで、現像器13によって現像される。上記静電潜像とタイミングを合わせて転写部材積載部14、あるいは15より転写部材が搬送され、転写部16に於いて、上記現像されたトナー像が転写部材上に転写される。転写されたトナー像は定着部17にて転写部材に定着された後、排紙部18より装置外部に排出される。転写後の感光体11の表面をクリーナ25で清掃し、クリーナ25で清掃された感光体11の表面を補助帯電器26で除電して1次帯電器28において良好な帯電を得られるようにする。その上で、感光体11上の残留電荷を前露光ランプ27で消去し、1次帯電器28で感光体11の表面を帯電し、この工程を繰り返すことで複数枚の画像形成を行う。
図2は、光走査装置としてのスキャナユニット10の概略構成図である。まず図2において光走査装置としてのスキャナユニット10は、概略的には、半導体レーザであるレーザ光源43を有するレーザ駆動装置31、絞り32、回転多面鏡33、f−θレンズ34、コリメータレンズ35、光検知センサであるBDセンサ36を備える。スキャナユニット10を制御するシーケンスコントローラ47、汚れのばらつき検知部300を備える。また画像形成装置100は、感光体11と表示部400を備える。回転多面鏡33は、複数の反射面(本実施形態では6つの反射面)を有しレーザ光源43で出射したレーザ光を像担持体である感光体11に主走査方向(感光体の軸方向)に偏向走査させるものである。
レーザ光源43から出射されたレーザ光はコリメータレンズ35及び絞り32によりほぼ平行光となり、所定のビーム径で回転多面鏡33に入射される。複数の反射面を有する回転多面鏡33は矢印Aの方向に等角速度の回転を行っており、この回転に伴って、入射したレーザ光が連続的に角度を変える偏向ビームとなって反射される。偏向ビームとなったレーザ光はf−θレンズ34により集光作用を受ける。一方、f−θレンズ34は同時に走査の時間的な直線性を保証するような歪曲収差の補正を行う為に、レーザ光は、像担持体としての感光体11上に図の矢印Bの方向に等速で走査される。回転多面鏡33からの反射光を検出するBDセンサ36(光検出手段)は、回転多面鏡33の反射面毎の走査開始側のレーザ光を検知する位置に配置されている。この光検出手段であるBDセンサ36の検出信号S36は回転多面鏡33の回転と画像データ生成部200からの画像データの感光体11への書き込み開始との同期をとるための同期信号として用いられる。検出信号S36は、シーケンスコントローラ47に入力され、更に汚れのばらつき検知部300にも入力される。汚れのばらつき検知部300にはシーケンスコントローラ47から回転多面鏡33の反射面に関する面情報S300も入力され、面毎の光量ばらつきデータS310がシーケンスコントローラ47に出力される。シーケンスコントローラ47は面毎の光量ばらつきデータS310を受け、このデータに基づいて表示部400に警告表示を指示する。
次に、通常の画像形成を実施する場合で説明する。図2にて、シーケンスコントローラ47により画像データ生成部200に対して画像形成開始信号S201が発せられ、そして、シーケンスコントローラ47よりレーザ駆動装置31に対しレーザ制御信号S47を発してレーザ光源43の光量制御を実施する。また回転多面鏡33を駆動するスキャナモータ(不図示)へスキャナモータ制御信号を発して回転多面鏡33を安定回転させる。回転多面鏡33によってレーザ光源43より出射されたレーザ光が偏向走査されることによりレーザ光がBDセンサ36を通過する。レーザ光がBDセンサ36に到達したときにBDセンサ36からBD信号S36がシーケンスコントローラ47に発せられる。シーケンスコントローラ47は、BD信号S36を検知する周期に基づいてスキャナモータを安定回転させるようにスキャナモータ制御信号をスキャナモータへ発する。また、BDセンサ36にレーザ光が導かれた際には、BD信号S36が画像データ生成部200にも発せられる。そのBD信号S36が入力するタイミングに基づいて所定の画像データ信号S2をレーザ駆動装置31に発して、レーザ光源43を駆動して、像担持体としての感光体11上に画像を形成する。
図3は、光走査装置としてのスキャナユニット10が備えるレーザ駆動装置31とシーケンスコントローラ47の詳細構成図である。まず図3において、レーザ駆動装置31は、比較器40、バイアス電流源41、パルス電流源42、レーザ光源43、電流/電圧(I/V)変換器44、増幅器45、APC回路46、変調部48、スイッチ49を備える。
同図のシーケンスコントローラ47により生成されたレーザ制御信号S47に基づいてレーザ駆動装置31のレーザ光源43が駆動されると、レーザ光源43からレーザ光が出射される。尚、レーザ制御信号S47は、後述するBD検出用フル点灯信号FULLとサンプル/ホールド信号S/Hと基準電圧VREFを指す信号のことである。
レーザ光源43の内部(後述)にはレーザ光の一部を検出するPDセンサが設けられ、PDセンサの検出信号を用いてレーザダイオードのAPC制御(自動光量制御の意味)を行う。レーザ光源43は半導体レーザであり、レーザダイオード43A、PDセンサ43Bから構成されるレーザチップである。また、レーザダイオード43Aのバイアス電流源41、レーザダイオード43Aのパルス電流源42を備え、不図示の画像メモリ等から入力された画像信号である画像データは変調部48において画素変調される。この信号とシーケンスコントローラ47からのBD検出用フル点灯信号FULLとを論理素子40で論理和演算した信号がスイッチ49をON/OFF動作させる。
スイッチ49がONの時には1走査毎に制御されるバイアス電流源41による電流と1走査中に複数回可変制御されるパルス電流源42による電流の和でレーザダイオード43Aは発光制御される。つまり、スイッチ49がOFFの時にはバイアス電流源41による電流のみでレーザダイオード43Aは発光される。
BDセンサ36を通過する前後の時間帯ではフル点灯発光をさせてBD検出用のフル点灯発光時の光量をモニターする。このモニターした時のPDセンサ43Bの出力信号は、電流/電圧(I/V)変換器44で電圧信号に変換され、増幅器45で増幅されAPC回路46に入力される。
図4は、APC回路46の詳細構成図である。まず図4において、APC回路46は、抵抗37、アナログスイッチ38、コンデンサー39と比較器40を備える。
増幅されたPDセンサー出力VPDをアナログスイッチ38を使って、シーケンスコントローラ47からのサンプル/ホールド信号S/Hでサンプルし、抵抗37とコンデンサー39とで決まる時定数でこの電圧値(VSH)を1走査の間ホールドする。それと共に、このVSHと予め設定された基準電圧VREFとを比較器40で比較することで、その差信号VAPCを出力する。図3に示されるように、この差信号VAPCがバイアス電流源41の電流を制御する。即ち、基準電圧VREFとして設定されている目標のバイアス発光値となるように、走査毎にバイアス電流源41の電流が制御され、レーザダイオード43Aのバイアス光量が所望の光量にAPC制御される。
次に、汚れのばらつき検知部(検知手段)300の動作を図5の構成図及び図6のタイムチャートを用いて説明する。
図5は汚れのばらつき検知部300の詳細構成図である。まず、図5において汚れのばらつき検知部300は、アナログスイッチ301、ピークホールド回路(保持手段)302〜307、アナログデジタル変換器308、最大値検出器309、最小値検出器310、差分検出器311を備える。
アナログスイッチ301は、BDセンサ36から出力されるBD信号S36を選択的にピークホールド回路302〜307のいずれかに出力する。アナログスイッチ301は、シーケンスコントローラ47から出力される回転多面鏡33の反射面に関する面情報S300に応じて選択的にピークホールド回路302〜307のいずれかにBD信号S36を出力する。回転多面鏡33の異なる反射面で各々偏向走査されてBDセンサ36で検出された検出結果(検出値)を出力する。つまりピークホールド回路302〜307は、回転多面鏡33の反射面毎に入力される各BD信号S301〜S306のピーク電圧を保持するピークホールド回路である。
例えば、ピークホールド回路302は、回転多面鏡33の第1の反射面で入力されたBD信号S301のピーク値をホールドする回路である。またピークホールド回路303は回転多面鏡33の前記第1の反射面とは異なる反射面である第2の反射面で入力されたBD信号S302のピーク値をホールドする回路である。以下同様にして、ピークホールド回路307は回転多面鏡33の第6の反射面で入力されたBD信号S306のピーク値をホールドする回路になっている。
反射面毎に各ピークホールド回路でピークホールドされたピークホールド信号S301P〜S306Pは、アナログデジタル変換器308に入力される。アナログデジタル変換器308は、基準電圧Vrefに対してアナログデジタル変換され、面情報S300に応じて時系列にピーク検出値S307をBDセンサ36の検出結果(検出値)として出力する。
アナログデジタル変換器308から出力された各反射面に応じたピーク検出値S307は最大値検出器309と最小値検出器310に入力され、それぞれで最大値(第1の反射光量)S308と最小値(第2の反射光量)S309が検出される。検出された最大値S308と最小値S309は差分値を出力する差分検出器311に入力され、差分検出器311は最大値S308と最小値S309の差分値である差分データS310をシーケンスコントローラ47に出力する。
図6は、図5の汚れのばらつき検知部300のタイミングチャートである。
基準電圧Vrefは、例えば、工場出荷時の回転多面鏡33の反射面が汚れていない時(BDセンサ36での検出値が最も高い値の時)に検出される電圧値である。この電圧値に対し、反射面が汚れ始めるとS36に示すように反射面毎に検出されるBDセンサ36の出力電圧にばらつきが生じる。S300はBDセンサ36からの信号がどの面に対するものかを示す面情報であり、シーケンスコントローラ47から汚れのばらつき検知部300に出力される。
本実施形態では、回転多面鏡33の反射面が6面のものを用いた例を示したものである。各々異なる反射面での反射光の検出値は、第1の反射面での反射光の検出電圧がVrefの95%にまで下がっており、第2の反射面での反射光の検出電圧がVrefの85%にまで下がっているとする。また同様に第3面目は70%、第4面目は85%、第5面目は80%、第6面目は90%に下がっているとする。次の第1面目は再度95%になっている例を示している。
このBD信号S36がアナログスイッチ301に入力され、面情報S300で切り替えられて出力された信号がS301〜S306である。それぞれの信号はピークホールド回路302〜307でピークホールドされてS301P〜S306Pで示す電圧レベルが保持される。この保持された電圧レベルがアナログデジタル変換器308に面情報S300に応じて時系列に入力され、Vref電圧に対してアナログデジタル変換される。アナログデジタル変換器308は本実施形態では8ビットであり、入力された電圧がVrefと等しい場合にFFHを出力し、0Vであれば00Hを出力するものとする。
従って、本実施形態では第1の反射面に入力された電圧レベルがVrefの95%であるため、第1の反射面に対応して出力されるデジタル値はFFH×95%=F2Hとなる。同様に第2の反射面はFFH×85%=D8H、第3面目はFFH×70%=B2H、第4面目はFFH×85%=D8H、第5面目はFFH×80%=CCH、第6面目はFFH×90%=E5Hとなる。
このように、面情報に応じて時系列に出力されるデジタル値S307が次段の最大値検出器309に入力される。最大値検出器309では、1つ前の面情報を入力したときに保持されたデジタル値と今回の面情報時に入力されたデジタル値を比較して大きい方の値を保持する。面情報が次面に進むと、今回保持されたデジタル値と新たに入力されたデジタル値を比較して大きい方の値を保持する。最大値検出器309は、こうして前回保持された値と新たに入力された値を常に比較して大きい方を保持するため、最大値を保持することになり、本実施例では最大値F2Hが保持される。この最大値F2Hは第1の反射面で偏向走査されて光検出手段としてのBDセンサ36で検出された第1の検出結果に相当する。
また、デジタル値S307は上述した最大値検出器309に入力されるとともに最小値検出器310にも入力される。最小値検出器310では、1つ前の面情報を入力したときに保持されたデジタル値と今回の面情報時に入力されたデジタル値を比較して小さい方の値を保持する。面情報が次面に進むと、今回保持されたデジタル値と新たに入力されたデジタル値を比較して小さい方の値を保持する。
最小値検出器310は、こうして前回保持された値と新たに入力された値を常に比較して小さい方を保持するため、最小値を保持することになり、本実施例では入力される面情報が順次進むにつれて最小値が更新され、最終的に最小値B2Hが保持される。この最小値B2Hは第2の反射面で偏向走査されて光検出手段としてのBDセンサ36で検出された第2の検出結果に相当する。
こうして最大値検出器309と最小値検出器310から出力された最大値S308(第1の反射光量)と最小値S309(第2の反射光量)は次段の差分検出器311に入力される。差分検出器311は入力された最大値S308と最小値S309の差分値を演算(比較)し、差分データ(比較結果)S310としてシーケンスコントローラ47に出力する。回転多面鏡33を1回転以上回転させることで、得られる差分データ(比較結果)S310の平均値を算出し、この安定したデータを元にシーケンスコントローラ47の不図示のCPU等により汚れのばらつき判定される。
図7は、シーケンスコントローラ47が備えるCPUにより実行される汚れのばらつき判定のフローチャートを示す。
図8は、汚れのばらつき判定された場合の通知手段での警告表示の画面の例を示す。差分データS310が、所定値以上であるか否かを判断し、汚れのばらつき判定を行う。
まず上述した汚れのばらつき検知部300からの差分データS310をシーケンスコントローラ47の不図示のCPUに入力(以下、「差分データα」という。)し、CPUは回転多面鏡33が1回転以上回ったか判断する(S311)。もし1回転に満たなければ(N)、1回転以上になるまで待って(Y)、汚れのばらつき判定を開始する。汚れのばらつき判定は、まず差分データ(比較結果)S310が所定値αより大きいか否かを判定する(S312)。この所定値αの値は汚れ始めたかを判断できるくらいの小さい値に設定しておく。例えば、BDセンサ36での検出電圧S36のバラツキが5%に増えた時点で汚れのばらつき始めたと判定するならば、α=FFH×5%=CHにすればよい。
ここでS310>α(所定値以上)の場合(Y)、次にS310がβより小さいか否かを判断する(S313)。このβの値は汚れのばらつき始めを表すαと、後述する画像揺れ等の異常画像が発生する手前ぐらいの値であるγの中間くらいに設定しておく。例えば、BDセンサ36での検出電圧S36のバラツキが10%で検知できるようにβ=FFH×10%=19Hにすればよい。ここでS310<βの場合(Y)、「軽微な汚れ」等の警告1表示(警告表示する内容)をして通知する(S314)。そしてこの段階で清掃することでサービスマンは、中度な汚れへの進行を未然に防ぐことも出来る。そして、S313で再びS310<βであるか判断する。次に、汚れが進行しS310≧β(所定値以上)になると(N)、S310がγより小さいか判断する(S315)。このγの値は前述したように画像揺れ等の異常画像が発生する手前ぐらいの値に設定しておく。例えば、BDセンサ36での検出電圧S36のバラツキが20%で画像揺れ等の異常画像になるのであれば、15%くらいで検知できるようにγ=FFH×15%=26Hにすればよい。ここでS310<γであれば(Y)、「中度な汚れ」等の警告2表示(警告表示する内容)を表示部400のサービスマンモード画面などで表示して通知する(S316)。但し、警告1や警告2は軽微・中度な汚れ警告であるため、サービスマンモード画面(表示部400におけるサービスモード等のサービスマンしか見ることができない画面)に表示するようにし、サービスマンが定期メンテナンスの時に確認できるようにすればよい。またこの段階で清掃することでサービスマンは、さらなる汚れの進行を防ぐことも出来る。
次に、汚れが進行しS310≧γ(所定値以上)になると(N)、「サービスマンコール」等の警告3表示(警告表示する内容)をして通知する(S317)。この段階では、画像揺れ等の異常画像が発生する為、画像形成装置の動作を停止させる。
これにより、反射面毎の反射光量のばらつきを検出することで、精度よく、早期に汚れのばらつきの状態を精度よく検知することが可能になる。警告する内容を最大値と最小値の差分値に応じて、段階的に汚れの進行状況をサービスマンに伝えることができるためサービスマンに定期的に清掃を促すことができ、サービスマンコールの発生による画像形成装置の動作停止状態を軽減することが出来る。また光検知センサを主走査方向の走査開始側に配置すると回転多面鏡の汚れ始める部分を検出しやすくなる。
主走査方向の走査開始側、つまりレーザ光が走査される走査線上の走査開始側に配置した光検知センサの出力信号を、主走査同期信号にも用いる。このため汚れのばらつき検出用のセンサを個別に設ける必要もなく、コストアップすることなく回転多面鏡の汚れのばらつきを検出することが可能になる。
上述したような汚れのばらつき判定のフローチャートによると汚れ始めたことをサービスマンはメンテナンス時に事前に知ることができ、汚れのばらつきの進行度を適切に把握することができる。
本願発明は、サービスマンに通知するようにしたが、サービスマンだけが確認できるものでなくてもよい。汚れ始めたことをユーザに分かるように表示することでサービスマンに連絡してもらうようにしてもよい。これにより、回転多面鏡の反射面の清掃を的確なタイミングで行うことで、サービスマンコールなどの画像形成装置の動作を停止しなければならないような状況を未然に防ぐことが出来る。またサービスマンの緊急の出動などを未然に防ぐことが出来、無駄なコストアップを防ぐことができる。また、サービスマンコールで出動する時には、スキャナユニットの反射面の汚れによるエラーが発生している可能性が高いことが事前にわかるため、迅速に行動でき、サービス性も格段に向上する。
本発明の実施形態に係る画像形成装置の構成を示す概略断面図である。 図1のスキャナユニットの概略構成図である。 本発明の実施形態に係るレーザ駆動装置とシーケンスコントローラの詳細構成図である。 本発明の実施形態に係るAPC回路の詳細構成図である。 本発明の実施形態に係る汚れのばらつき検知部の詳細構成図である。 本発明の実施形態に係る汚れのばらつき検知部のタイミングチャートである。 本発明の実施形態に係るシーケンスコントローラが備えるCPUにより実行される汚れのばらつき判定のフローチャートである。 本発明の実施形態に係る通知手段での警告表示の例を示す図である。 回転多面鏡の面が一様に汚れないことを示す図である。
符号の説明
36 BD
43 レーザダイオード
47 シーケンスコントローラ
300 汚れのばらつき検出部

Claims (5)

  1. 反射面を有し回転する回転多面鏡にレーザ光を反射させて感光体に静電潜像を形成する光走査装置において、
    前記回転多面鏡の反射面で反射されたレーザ光を検出する光検出手段と、
    前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された検出値の比較に基づいて前記回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知する検知手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
  2. 前記検知手段は、前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された第1の反射光量と第2の反射光量との差分が所定値以上である場合に前記回転多面鏡の反射面に汚れのばらつきがあると判断することを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
  3. 前記検知手段は、前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された検出値を比較し、前記比較した検出値の差分が所定値以上となる反射面があった場合に前記回転多面鏡の反射面に汚れのばらつきがあると判断することを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
  4. 前記検知手段は、前記検出値の最大値と最小値の差分に基づいて、前記回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知することを特徴とする請求項3に記載の光走査装置。
  5. 前記光走査装置を備えた画像形成装置であって、
    通知手段を備え、
    前記通知手段は、前記検知手段で反射面の汚れのばらつきを検知すると警告表示すると共に、前記警告表示する内容は、前記最大値と最小値の差分値に応じて切り替えることを特徴とする請求項4記載の光走査装置を備えた画像形成装置。
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