JP2010145102A - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】X線フラットパネル検出器2の欠陥画素を抽出し、その欠陥画素の出力データを周囲の画素の出力データを用いて補完して表示器に表示する欠陥画素補完手段13,15を備えるとともに、その欠陥画素補完手段による補完の対象となった画素を、表示器13の画面上で報知する補完対象画素報知手段を設けることで、欠陥画素の位置情報と、補完後の像の変化から、検査に影響を与えるか否かをユーザが判断できるようにする。
【選択図】図1
Description
図1は本発明の実施の形態の構成図で、機械的構成を表す模式図と機能的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
X線フラットパネル検出器2の画素出力は画像データ取り込み回路10に取り込まれ、画像形成部11によってX線透視画像の形成に供される。形成されたX線透視像は、表示制御部12を通じて表示器13に表示される。
2 X線フラットパネル検出器
3 テーブル
4 テーブル移動機構
10 画像データ取り込み回路
11 透視像形成部
12 表示制御部
13 表示器
14 欠陥画素抽出部
15 欠陥画素記憶部
16 補完処理部
17 制御部
18 操作部
W 被検査物
Claims (4)
- X線源からのX線を被検査物に照射したときの透過X線をX線検出器で検出し、そのX線検出器の出力を用いて被検査物のX線画像を構築して表示器に表示するとともに、そのX線検出器としてX線フラットパネル検出器を用いたX線検査装置において、
上記X線フラットパネル検出器の欠陥画素を抽出し、その欠陥画素の出力データを周囲の画素の出力データを用いて補完して上記表示器に表示する欠陥画素補完手段を備えるとともに、その欠陥画素補完手段による補完の対象となった画素を、上記表示器の画面上で報知する補完対象画素報知手段を備えていることを特徴とするX線検査装置。 - 上記補完対象画素報知手段による報知が、該当の画素に着色して表示することによるものであることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 上記補完対象画素報知手段による報知が、該当の画素の周囲を囲む表示を上記表示器の画面上に重畳表示するものであることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 上記補完対象画素報知手段による報知のための表示の実行/非実行が選択可能であることを特徴とする請求項2または3に記載のX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008319354A JP2010145102A (ja) | 2008-12-16 | 2008-12-16 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2008319354A JP2010145102A (ja) | 2008-12-16 | 2008-12-16 | X線検査装置 |
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JP2010145102A true JP2010145102A (ja) | 2010-07-01 |
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Family Applications (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2008
- 2008-12-16 JP JP2008319354A patent/JP2010145102A/ja active Pending
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