JP2010135255A - 異方性導電フィルム、並びに、接合体及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の異方性導電フィルムは、ラジカル硬化系材料、アニオン硬化系材料及び導電性粒子を含有する導電性粒子含有有機樹脂層を備え、複数の回路部材を電気的に接続する異方性導電フィルムであって、前記ラジカル硬化系材料は、液状アクリル樹脂及び有機過酸化物系硬化剤を含み、前記アニオン硬化系材料は、液状エポキシ樹脂及びアミン系硬化剤を含み、前記アミン系硬化剤の含有量は、前記液状エポキシ樹脂10質量部に対して30質量部以上50質量部以下であることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
この異方性導電フィルムは、例えば、フレキシブルプリント基板(FPC)やICチップの端子と、LCDパネルのガラス基板上に形成されたITO(Indium Tin Oxide)電極とを接続する場合を始めとして、種々の端子同士を接着すると共に電気的に接続する場合に用いられている。
ここで、従来の異方性導電フィルムを、端子間のスペースが狭いファインピッチな回路部材の接合に用いた場合、狭い端子間スペースに流入した導電性粒子が、樹脂だまりや流動先端などに凝集し、これより端子間がショートするという問題があった。
しかしながら、溶融粘度を高めるとタック力、仮貼り特性が低下し、作業性が悪くなるという問題があった。
また、特許文献2には、熱硬化機構の異なる2種の低温側硬化成分と高温側硬化成分とを含有させることにより、導通信頼性を維持しつつリペア性を向上した電極接続用接着剤が開示されている。
しかし、特許文献1に記載の回路接続材料及び特許文献2に記載の電極接続用接着剤によっては、ファインピッチ端子間の絶縁特性や仮貼り特性を向上することができなかった。
<1> ラジカル硬化系材料、アニオン硬化系材料及び導電性粒子を含有する導電性粒子含有有機樹脂層を備え、複数の回路部材を電気的に接続する異方性導電フィルムであって、前記ラジカル硬化系材料は、液状アクリル樹脂及び有機過酸化物系硬化剤を含み、前記アニオン硬化系材料は、液状エポキシ樹脂及びアミン系硬化剤を含み、前記アミン系硬化剤の含有量は、前記液状エポキシ樹脂10質量部に対して30質量部以上50質量部以下であることを特徴とする異方性導電フィルムである。
該<1>に記載の異方性導電フィルムにおいては、ラジカル硬化系材料が、加熱圧着初期の低温領域において短時間で硬化し、導電性粒子含有有機樹脂層の流動性が低下する。これにより、導電性粒子の流動、凝集が抑えられ、端子間の絶縁特性が向上する。
一方、アニオン硬化系材料は、高温領域において硬化し、硬化後の導電性粒子含有有機樹脂層の強度を高め、十分な接続信頼性を発現させる。
また、異方性導電フィルムは、エポキシ樹脂10質量部に対して30質量部以上50質量部以下のアミン系硬化剤を含有するため、タック力が高く、良好な仮貼り特性を示す。
<2> 有機過酸化物系硬化剤の1時間半減期温度は、75℃以上85℃以下である前記<1>に記載の異方性導電フィルムである。
<3> 有機過酸化物系硬化剤の含有量は、液状アクリル樹脂20質量部に対して0.1質量部以上1.0質量部以下である前記<1>から<2>のいずれかに記載の異方性導電フィルムである。
<4> 導電性粒子含有有機樹脂層の最低溶融粘度〔η0〕が、1.5×106mPa・s以上3.1×106mPa・s以下であり、導電性粒子含有有機樹脂層が最低溶融粘度〔η0〕を示す温度〔T0(℃)〕よりも30℃低い温度〔T0−30(℃)〕における溶融粘度を〔η1〕としたときに、1<〔η1〕/〔η0〕≦3.7の式が満たされる前記<1>から<3>のいずれかに記載の異方性導電フィルムである。
<5> 導電性粒子含有有機樹脂層が最低溶融粘度〔η0〕を示す温度〔T0〕が、81℃以上90℃以下である前記<1>から<4>のいずれかに記載の異方性導電フィルムである。
<6> 第1の回路部材と、第2の回路部材と、前記<1>から<5>のいずれかに記載の異方性導電フィルムと、を備え、前記異方性導電フィルムを介して、前記第1の回路部材と前記第2の回路部材とが接合されていることを特徴とする接合体である。
該<6>に記載の接合体においては、前記<1>から<5>のいずれかに記載の異方性導電フィルムによって、第1の回路部材と前記第2の回路部材とが接合されているので、十分な接続信頼性と、優れた端子間の絶縁特性を得ることができる。
<7> 前記<1>から<5>のいずれかに記載の異方性導電フィルムを介して、第1及び第2の回路部材を加熱しながら圧着して接合する接合工程を含むことを特徴とする接合体の製造方法である。
該<7>に記載の接合体の製造方法では、前記接合工程において、前記<1>から<5>のいずれかに記載の異方性導電フィルムを介して、第1及び第2の回路部材が加熱されながら圧着される。その結果、接合工程が容易に実施でき、また、十分な接続信頼性と、優れた端子間の絶縁特性を備えた接合体が得られる。
<8> 第1の回路部材は、LCDパネルであり、第2の回路部材は、IC及びTABのいずれかであり、接合工程において、異方性導電フィルムの一方の面を、前記LCDパネルに接するように仮貼りし、前記第2の回路部材を、前記異方性導電フィルムの他方の面に接するように仮配置し、熱プレスを用いて前記第2の回路部材側から圧着して接合する前記<7>に記載の接合体の製造方法である。
本発明の接合体は、第1の回路部材と、第2の回路部材と、異方性導電フィルムとを有してなり、さらに、必要に応じて適宜選択した、その他の部材を有してなる。
例えば、図1に示すように、接合体100は、第1の回路部材としてのLCDパネル10と、第2の回路部材としてのICチップ11と、異方性導電フィルム12とを有する。ICチップ11における端子11aと、異方性導電フィルム12における導電性粒子12aと、LCDパネル10における端子(不図示)とが導通されることにより、LCDパネル10とICチップ11とが電気的に接続される。
前記第1の回路部材としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ガラス製のLCD基板(LCDパネル)、ガラス製のPDP基板(PDPパネル)、ガラス製の有機EL基板(有機ELパネル)などが挙げられる。
前記第2の回路部材としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ポリイミドを含有するパシベーション膜が形成されたICチップ、Si3N4を含有するパシベーション膜が形成されたICチップ、ICチップを搭載したTABテープなどが挙げられる。
前記異方性導電フィルムは、導電性粒子含有有機樹脂層を有してなり、さらに、必要に応じて適宜選択した、その他の層を有してなる。
例えば、図2に示すように、異方性導電フィルム12は、剥離層(セパレータ)20と、剥離層(セパレータ)20上に形成された導電性粒子含有有機樹脂層21と、を有する。
前記導電性粒子含有有機樹脂層は、少なくともラジカル硬化系材料、アニオン硬化系材料、及び導電性粒子を含有してなり、さらに必要に応じて、その他の材料を含有してなる。
前記ラジカル硬化系材料は、少なくとも液状アクリル樹脂及び有機過酸化物系硬化剤を含んでなり、さらに必要に応じて、その他の成分を含む。
前記ラジカル硬化系材料は、加熱圧着初期の低温領域において短時間で硬化し、導電性粒子含有有機樹脂層の流動性を低下させる。これにより、導電性粒子の流動、凝集が抑えられ、端子間の絶縁特性が向上する。
また、前記アクリレートをメタクリレートにしたものが挙げられ、これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
前記有機過酸化物系硬化剤の1時間半減期温度が、75℃未満であると、製品ライフが低下することがあり、85℃を超えると、ラジカル硬化系材料の硬化が遅くなって、絶縁特性を向上する効果が十分に得られないことがある。
なお、1時間半減期温度とは、有機過酸化物系硬化剤の50%が1時間でラジカル開裂する温度を意味し、ラジカル有効成分の定量分析(滴定等)により測定することができる。
前記有機過酸化物系硬化剤の含有量が、前記液状アクリル樹脂20質量部に対して、0.1質量部未満であると、硬化速度が遅延し、溶融粘度が十分な高さにまで上がらないことがあり、1.0質量部を超えると、導電性粒子含有有機樹脂層のライフが短くなり、異方性導電性フィルムとしての実用に適さないことがある。
前記ラジカル硬化系材料の含有量が、5質量%未満であると、硬化速度が遅延し、溶融粘度が十分な高さにまで上がらないことがあり、30質量%を超えるとフィルム形成不良となり、異方性導電フィルムとして適さないことがある。
前記アニオン硬化系材料は、少なくとも液状エポキシ樹脂及びアミン系硬化剤を含んでなり、さらに必要に応じて、その他の成分を含む。
前記アニオン硬化系材料は、高温領域において硬化し、硬化後の導電性粒子含有有機樹脂層の強度を高め、十分な接続信頼性を発現させる。
前記アミン系硬化剤の含有量が、前記液状エポキシ樹脂10質量部に対して、30質量部未満であると、タック力が低く、良好な仮貼り特性が得られないことがあり、50質量部を超えると、フィルム形成不良となり、異方性導電フィルムとして適さないことがある。
適切な量のアミン系硬化剤を含有する導電性粒子含有有機樹脂層は、タック力が高く良好な仮貼り特性を示す。これにより、導電性粒子の粒子捕捉率が向上する。また、回路部材と導電性粒子含有有機樹脂層との間に空気が巻き込まれにくくなり、ボイド(泡)の発生が減少する。
前記アニオン硬化系材料の含有量が、10質量%未満であると、タック力が低く良好な仮貼り特性が得られないことがあり、50質量%を超えると、フィルム形成不良となり、異方性導電フィルムとして適さないことがある。
前記導電性粒子としては、特に制限はなく、従来の異方性導電接着剤(異方性導電フィルム)において用いられているものが利用でき、例えば、粒子の直径が1〜50μmの金属粒子又は金属被覆樹脂粒子を利用することができる。
前記金属粒子としては、ニッケル、コバルト、銅などが挙げられる。それらの表面酸化を防ぐ目的で、表面に金、パラジウムをコーティングした粒子を用いてもよい。さらに、表面に金属突起や有機物で絶縁皮膜を施したものを用いてもよい。
前記金属被覆樹脂粒子としては、ニッケル、コバルト、銅などの1種以上でメッキを施した真球状の粒子が挙げられる。同様に、最外表面に金、パラジウムをコーティングした粒子を用いてもよい。さらに、表面に金属突起や有機物で絶縁皮膜を施したものを用いてもよい。
前記導電性粒子の含有量が、1質量%未満であると、導通信頼性が十分でないことがあり、50質量%を超えると、絶縁特性が十分でなくなるためにショートが発生し、また、フィルム形成不良となり、異方性導電フィルムとして適さないことがある。
前記その他の材料としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、膜形成樹脂、シランカップリング剤、ゴム成分、各種添加剤などが挙げられる。
前記シランカップリング剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エポキシシランカップリング剤、アクリル型シランカップリング剤などが挙げられる。
前記〔η0〕が、1.5×106mPa・s未満であると、絶縁不良が増加することがあり、3.1×106mPa・sを超えると、溶融粘度が高すぎ、圧着時に樹脂を押し込めないので導通不良が発生することがある。
前記〔η1〕/〔η0〕が、1以下であると、圧着時に樹脂を押し込めないので導通不良が発生することがあり、3.7を超えると、絶縁不良が起こることがある。
これに対し、前記〔η1〕/〔η0〕が3.7以下であれば、加熱硬化時における最低溶融粘度〔η0〕が硬化前の最低溶融粘度〔η1〕に比べて、一定以上に高くならない。このため、加熱硬化時における溶融粘度が低く抑えられ、導電性粒子が流動しにくくなる。これにより、導電性粒子の粒子詰まりなどによって端子間がショートすることが防止され、良好な絶縁特性を確保できる。
前記T0が、81℃未満であると、粘度が低いためにフィルム形成不良となり、異方性導電フィルムとして適さないことがあり、90℃を超えると、絶縁不良が増加することがある。
前記導電性粒子含有有機樹脂層の厚さが、10μm未満であると、フィルム形成不良となり、異方性導電フィルムとして適さないことがあり、50μmを超えると圧着不良が起こることがある。
その他、導電性粒子含有有機樹脂層の形状、構造、大きさなどについては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
前記その他の層としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、剥離層などを挙げることができる。
前記剥離層としては、その形状、構造、大きさ、厚み、材料(材質)などについては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、剥離性の良好なものや耐熱性が高いものが好ましく、例えば、シリコーンなどの剥離剤が塗布された透明な剥離PET(ポリエチレンテレフタレート)シートなどが好適に挙げられる。また、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)シートを用いてもよい。
本発明の接合体の製造方法は、少なくとも接合工程を含み、さらに、必要に応じて適宜選択した、その他の工程を含む。
前記接合工程は、本発明の異方性導電フィルムを介して、第1及び第2の回路部材を加熱しながら圧着して接合する工程である。
前記加熱は、トータル熱量により決定され、接続時間10秒以下で接合を完了する場合は、加熱温度120℃〜220℃で行われる。
前記圧着は、第2の回路部材の種類によって異なり、TABテープの場合は圧力2〜6MPa、ICチップの場合は圧力20〜120MPaで、それぞれ3〜10秒間行われる。
なお、接合を超音波と熱によって行ってもよい。
このように第2の回路部材側から圧着することによって、良好に導通接続をとることができる。
<異方性導電フィルムの作製>
膜形成樹脂としてのフェノキシ樹脂(品名:YP−50、東都化成社製)50質量部、液状エポキシ樹脂(品名:EP828、ジャパンエポキシレジン社製)10質量部、アミン系硬化剤としてのイミダゾール硬化剤(品名:ノバキュア3941HP、旭化成ケミカルズ社製)40質量部、シランカップリング剤(品名:A−187、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ社製)1.5質量部、液状アクリル樹脂(品名:DCP、新中村化学工業社製)20質量部、有機過酸化物系硬化剤としてのラジカル開始剤(品名:パーヘキサ3M、日本油脂社製)0.6質量部で構成された接着剤中に、導電性粒子(品名:ブライト20GNR、日本化学社製)85.47質量部を分散させて、厚み25μmの異方性導電フィルムを作製した。
具体的には、まず、上記原料を固形分50%になるように含有する酢酸エチル、トルエン混合溶液を作製する。次に、この混合溶液を厚さ50μmのPETフィルム上に塗布した後、80℃のオーブンで5分間乾燥することで、異方性導電フィルムを得た。
なお、ノバキュア3941HPは、イミダゾール35質量%、エポキシ樹脂65質量%で構成されている。
作製した異方性導電フィルムを介してLSI(寸法:1.5mm×13mm、厚さ:0.5mm、バンプサイズ:140μm×25μm、バンプ高さ:15μm、バンプピッチ:35μm、バンプ間スペース10μm)と、LSIのパターンに対応したアルミパターンガラス基板(品名:1737F、コーニング社製、寸法:50mm×30mm×0.5mm)との接続を行い、接合体を作製した。
なお、使用したLSIの概略構成を図3に示す。
LSIとアルミパターンガラス基板との接続は、190℃、80MPa、10秒間でLSIを押し込むことにより行った。
同様の接合体を計40個作製した。
作製した異方性導電フィルム及び接合体について、以下のように評価した。
レオメータ(型名:RS150、HAAKE社製)を用いて、異方性導電フィルム(導電性粒子含有有機樹脂層)の最低溶融粘度〔η0〕及び最低溶融粘度を示すときの温度〔T0(℃)〕を測定した。測定は、昇温速度:10℃/分、30℃〜180℃の条件で行った。さらに、〔T0(℃)〕よりも30℃低い温度〔T0−30(℃)〕における溶融粘度〔η1〕を測定し、〔η1〕/〔η0〕を算出した。
40個の接合体のうち、端子間でショートが発生している接合体の個数をショート発生数とした。
異方性導電フィルムのタック力は、タッキング試験機(型名:TAC−II、RHESCA社製)を用いて測定した。
異方性導電フィルムを10枚用意し、その仮貼り性を評価した。
ITOガラスに、2mm×40mmの異方性導電フィルムを仮貼りし、転着できた場合に仮貼り性良好とし、転着できなかった場合に仮貼り性不良とし、10枚のうち仮貼り性不良のものの枚数を、仮貼りNGサンプル数とした。
異方性導電フィルムのライフを以下のようにして評価した。
DSC測定装置(型名SSC5100、SII社製)を用いて、室温1ヶ月放置した異方性導電フィルムの発熱量を測定した。室温1ヶ月放置する前に比べて、発熱量が20%以上減少した場合をライフ不良(×)、発熱減少量が10%以上20%未満の場合をライフ許容範囲(△)、発熱減少量が10%未満の場合をライフ良好(〇)とした。
上述の各評価結果に基づき、異方性導電フィルムを以下の4段階で評価した。
◎:ショート発生数が6以下、且つ、仮貼り不良が0、且つ、ライフにおける発熱減少量が10%未満
○:ショート発生数が7以上8以下、且つ、仮貼り不良が0、且つ、ライフにおける発熱減少量が10%未満
△:ショート発生数が8以下、且つ、仮貼り不良が0、且つ、ライフにおける発熱減少量が10%以上20%未満
×:ショート発生数が9以上、仮貼り不良が1以上、及び、発熱減少量が20%以上のいずれか
実施例1において、ラジカル開始剤(品名:パーヘキサ3M、日本油脂社製)に代えて、ラジカル開始剤(品名:パーロイルL、日本油脂社製)を添加したこと以外は、実施例1と同様にして、異方性導電シート及び接合体を作製し、これらの評価を実施した。
なお、パーヘキサ3MとパーロイルLの半減期温度を、以下の表1に示す。
実施例2において、ラジカル開始剤(品名:パーロイルL、日本油脂社製)の添加量を0.6質量部から0.3質量部に変え、導電性粒子(品名:ブライト20GNR、日本化学社製)の添加量を85.47質量部から85.26質量部に変えたこと以外は、実施例2と同様にして、異方性導電シート及び接合体を作製し、これらの評価を実施した。
実施例2において、ラジカル開始剤(品名:パーロイルL、日本油脂社製)の添加量を0.6質量部から0.1質量部に変え、導電性粒子(品名:ブライト20GNR、日本化学社製)の添加量を85.47質量部から85.12質量部に変えたこと以外は、実施例2と同様にして、異方性導電シート及び接合体を作製し、これらの評価を実施した。
実施例1において、イミダゾール硬化剤(品名:ノバキュア3941HP、旭化成社製)の添加量を40質量部から45質量部に変え、導電性粒子(品名:ブライト20GNR、日本化学社製)の添加量を85.47質量部から88.97質量部に変えたこと以外は、実施例1と同様にして、異方性導電シート及び接合体を作製し、これらの評価を実施した。
実施例2において、ラジカル開始剤(品名:パーロイルL、日本油脂社製)の添加量を0.6質量部から3質量部に変え、導電性粒子(品名:ブライト20GNR、日本化学社製)の添加量を85.47質量部から87.15質量部に変えたこと以外は、実施例2と同様にして、異方性導電シート及び接合体を作製し、これらの評価を実施した。
実施例1において、液状アクリル樹脂(品名:DCP、新中村化学工業社製)20質量部とラジカル開始剤(品名:パーヘキサ3M、日本油脂社製)0.6質量部とを添加せず、導電性粒子(品名:ブライト20GNR、日本化学社製)の添加量を85.47質量部から71.05質量部に変えたこと以外は、実施例1と同様にして、異方性導電シート及び接合体を作製し、これらの評価を実施した。
実施例2において、イミダゾール硬化剤(品名:ノバキュア3941HP、旭化成社製)の添加量を40質量部から4.5質量部に変えたこと以外は、実施例2と同様にして、異方性導電シート及び接合体を作製し、これらの評価を実施した。
これに対し、ラジカル硬化系材料を含有しない比較例1の異方性導電フィルムは、加熱硬化時に溶融粘度が低下するため、ショート発生数が多くなっていることがわかる。
また、イミダゾール硬化剤(アミン系硬化剤)の含有量が少ない比較例2の異方性導電フィルムは、タック力が小さく、良好な仮貼り特性が得られないことがわかる。
なお、ラジカル開始剤(有機過酸化物系硬化剤)の含有量が多い実施例6の異方性導電フィルムは、仮貼り性と絶縁特性は良好であるものの、他の実施例に比べてライフが短めであった。
11 ICチップ(第2の回路部材)
11a 端子
12 異方性導電フィルム
12a 導電性粒子
20 剥離層(セパレータ)
21 導電性粒子含有有機樹脂層
100 接合体
Claims (8)
- ラジカル硬化系材料、アニオン硬化系材料及び導電性粒子を含有する導電性粒子含有有機樹脂層を備え、複数の回路部材を電気的に接続する異方性導電フィルムであって、
前記ラジカル硬化系材料は、液状アクリル樹脂及び有機過酸化物系硬化剤を含み、
前記アニオン硬化系材料は、液状エポキシ樹脂及びアミン系硬化剤を含み、
前記アミン系硬化剤の含有量は、前記液状エポキシ樹脂10質量部に対して30質量部以上50質量部以下であることを特徴とする異方性導電フィルム。 - 有機過酸化物系硬化剤の1時間半減期温度は、75℃以上85℃以下である請求項1に記載の異方性導電フィルム。
- 有機過酸化物系硬化剤の含有量は、液状アクリル樹脂20質量部に対して0.1質量部以上1.0質量部以下である請求項1から2のいずれかに記載の異方性導電フィルム。
- 導電性粒子含有有機樹脂層の最低溶融粘度〔η0〕が、1.5×106mPa・s以上3.1×106mPa・s以下であり、
導電性粒子含有有機樹脂層が最低溶融粘度〔η0〕を示す温度〔T0(℃)〕よりも30℃低い温度〔T0−30(℃)〕における溶融粘度を〔η1〕としたときに、
1<〔η1〕/〔η0〕≦3.7
の式が満たされる請求項1から3のいずれかに記載の異方性導電フィルム。 - 導電性粒子含有有機樹脂層が最低溶融粘度〔η0〕を示す温度〔T0〕が、81℃以上90℃以下である請求項1から4のいずれかに記載の異方性導電フィルム。
- 第1の回路部材と、第2の回路部材と、請求項1から5のいずれかに記載の異方性導電フィルムと、を備え、
前記異方性導電フィルムを介して、前記第1の回路部材と前記第2の回路部材とが接合されていることを特徴とする接合体。 - 請求項1から5のいずれかに記載の異方性導電フィルムを介して、第1及び第2の回路部材を加熱しながら圧着して接合する接合工程を含むことを特徴とする接合体の製造方法。
- 第1の回路部材は、LCDパネルであり、
第2の回路部材は、IC及びTABのいずれかであり、
接合工程において、異方性導電フィルムの一方の面を、前記LCDパネルに接するように仮貼りし、前記第2の回路部材を、前記異方性導電フィルムの他方の面に接するように仮配置し、熱プレスを用いて前記第2の回路部材側から圧着して接合する請求項7に記載の接合体の製造方法。
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