JP2010114346A - 樹脂封止型半導体装置及び樹脂封止半導体装置の製造方法 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置及び樹脂封止半導体装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010114346A JP2010114346A JP2008287410A JP2008287410A JP2010114346A JP 2010114346 A JP2010114346 A JP 2010114346A JP 2008287410 A JP2008287410 A JP 2008287410A JP 2008287410 A JP2008287410 A JP 2008287410A JP 2010114346 A JP2010114346 A JP 2010114346A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- lead frame
- semiconductor device
- resin
- bonding pad
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4847—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
【課題】リードフレームと導電パターンが接触して、リードフレームと導電パターンがショートするのを防止することができる樹脂封止型半導体装置及び樹脂封止型半導体装置の製造方法を得る。
【解決手段】銅箔36は、スルーホール26及び回路パターン20が形成されていない部位に配置さており、これにより、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16の間に隙が形成される。これにより、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16が接触して、ショートするのを防止することができる。また、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面とリードフレーム16の間にも銅箔36を配置することで、ボンディングパッド32が設けられる部位の剛性を上げ、超音波融着による超音波振動の逃げを防止してボンディングパッド32とボンディングワイヤ30の接続強度を向上させることができる。
【選択図】図1
【解決手段】銅箔36は、スルーホール26及び回路パターン20が形成されていない部位に配置さており、これにより、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16の間に隙が形成される。これにより、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16が接触して、ショートするのを防止することができる。また、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面とリードフレーム16の間にも銅箔36を配置することで、ボンディングパッド32が設けられる部位の剛性を上げ、超音波融着による超音波振動の逃げを防止してボンディングパッド32とボンディングワイヤ30の接続強度を向上させることができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、リードフレームに搭載された回路基板を樹脂で封止して形成される樹脂封止型半導体装置及びこの樹脂封止半導体装置の製造方法に関する。
特許文献1には、表面に電子部品を搭載した回路基板が板状のリードフレームに載置され、この回路基板が樹脂で封止された自動車用電子回路装置(樹脂封止型半導体装置)が記載されている。
そして、このリードフレームには、回路基板の中央付近に向けて突出する突起が設けられており、この突起の頂面と回路基板の裏面が接着されるようになっている。このように、接着部を限定することで、回路基板とリードフレーム間の熱収縮による接着剤の境界剥離を防止する構成となっている。
特開2003−68970号公報
しかしながら、このような自動車用電子回路装置(樹脂封止型半導体装置)では、電子部品が載置される回路基板の裏面に突起が設けられることが考えられる。電気部品が載置される回路基板の裏面には電子部品と電気的に接続された導電パターンが形成される場合があり、この導電パターンと突起の頂面が接することがある。このように、導電パターンと突起の頂面が接した状態では、絶縁性が悪化し、リードフレームと回路基板がショートする可能性がある。
本発明は、リードフレームと導電パターンが接触して、リードフレームと導電パターンがショートするのを防止することが課題である。
本発明の請求項1に係る樹脂封止型半導体装置は、リード端子を備えるリードフレームと、表面に電子部品が搭載され、前記電子部品が電気的に接続される導電パターンが両面に形成されると共に、前記リードフレームに載置される回路基板と、前記リードフレームと前記回路基板の間で前記回路基板の裏面の導電パターンが形成されていない部位に設けられ、前記回路基板を前記リードフレームに載置した状態で、前記導電パターンと前記リードフレームに隙間を形成させる隙間形成手段と、前記回路基板及び前記電子部品を封止するモールド樹脂と、を備えることを特徴とする。
上記構成によれば、回路基板の両面には、導電パターンが形成され、回路基板の表面には、この導電パターンと電気的に接続される電子部品が搭載されている。そして、この回路基板は、リード端子を備えるリードフレームに載置されている。
また、リードフレームと回路基板の間で回路基板の裏面の導電パターンが形成されていない部位に設けられた隙間形成手段は、回路基板をリードフレームに載置した状態で、導電パターンとリードフレームに隙間を形成させる。さらに、回路基板は、隙間形成手段を介してリードフレームに接着固定されている。そして、モールド樹脂が、回路基板及び電子部品を封止する。
このように、隙間形成手段が導電パターンとリードフレームに隙間を形成させることで、リードフレームと導電パターンが接触して、リードフレームと導電パターンがショートするのを防止することができる。
本発明の請求項2に係る樹脂封止型半導体装置は、請求項1記載において、前記回路基板の表面には、前記リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドが設けられ、前記隙間形成手段は、板状のスペーサ部材であって、前記スペーサ部材は、前記ボンディングパッドが設けられる前記回路基板の裏面に配置されることを特徴とする。
上記構成によれば、回路基板の表面には、リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドとが設けられている。さらに、隙間形成手段としてのスペーサ部材は、ボンディングパッドが設けられる回路基板の裏面に配置されている。
このように、スペーサ部材をボンディングパッドが設けられる回路基板の裏面に配置することで、ボンディングパッドが設けられる部位の剛性を上げ、超音波融着による超音波振動の逃げを防止してボンディングパッドとボンディングワイヤの接続強度を向上させることができる。
本発明の請求項3に係る樹脂封止型半導体装置は、請求項1記載において、前記回路基板の表面には、前記リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドとが設けられ、前記隙間形成手段は、前記リードフレームに形成され、前記回路基板の裏面に向けて突出した凸部であって、前記凸部は、前記ボンディングパッドが設けられる前記回路基板の裏面に配置されることを特徴とする。
上記構成によれば、回路基板の表面には、リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドとが設けられている。さらに、隙間形成手段としての凸部は、ボンディングパッドが設けられる回路基板の裏面に配置されている。
このように、リードフレームに形成された凸部をボンディングパッドが設けられる回路基板の裏面に配置することで、ボンディングパッドが設けられる部位の剛性を上げ、超音波融着による超音波振動の逃げを防止してボンディングパッドとボンディングワイヤの接続強度を向上させることができる。
本発明の請求項4に係る樹脂封止型半導体装置の製造方法は、リード端子を備えるリードフレームと、表面に電子部品が搭載され、前記電子部品が電気的に接続される導電パターンが両面に形成されると共に、前記リードフレームに載置される回路基板と、前記回路基板の表面に設けられ、前記リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドと、前記リードフレームと前記回路基板の間で前記導電パターンが形成されていない部位に配置される共に、ボンディングパッドが設けられる前記回路基板の裏面に設けられ、前記回路基板を前記リードフレームに載置した状態で、前記導電パターンと前記リードフレームに隙間を形成させるスペーサ部材と、前記回路基板及び前記電子部品を封止するモールド樹脂と、を用いて樹脂封止型半導体装置を製造する樹脂封止型半導体装置の製造方法であって、
前記電子部品が搭載された前記回路基板を前記リードフレームに載置する工程と、前記ボンディングワイヤの一端部を前記ボンディングパットに融着し、前記ボンディングワイヤの他端部を前記リード端子に融着して前記ボンディングパッドと前記リード端子を電気的に接続する工程と、前記回路基板及び前記電子部品を前記モールド樹脂で封止する工程と、を備えることを特徴とする。
前記電子部品が搭載された前記回路基板を前記リードフレームに載置する工程と、前記ボンディングワイヤの一端部を前記ボンディングパットに融着し、前記ボンディングワイヤの他端部を前記リード端子に融着して前記ボンディングパッドと前記リード端子を電気的に接続する工程と、前記回路基板及び前記電子部品を前記モールド樹脂で封止する工程と、を備えることを特徴とする。
上記構成によれば、先ず、電子部品が搭載された回路基板をリードフレームに載置する。
また、ボンディングワイヤの一端部をボンディングパットに融着し、ボンディングワイヤの他端部をリード端子に融着してボンディングパッドとリード端子を電気的に接続する。さらに、回路基板及び電子部品をモールド樹脂で封止する。
ここで、リードフレームと回路基板の間で導電パターンが形成されていない部位であって、ボンディングパッドが設けられる回路基板の裏面には、導電パターンとリードフレームに隙間を形成させるスペーサ部材が設けられている。
このように、スペーサ部材が導電パターンとリードフレームに隙間を形成させることで、リードフレームと導電パターンが接触して、リードフレームと導電パターンがショートするのを防止することができる。
また、スペーサ部材をボンディングパッドが設けられる回路基板の裏面に配置することで、ボンディングパッドが設けられる部位の剛性を上げ、超音波融着による超音波振動の逃げを防止してボンディングパッドとボンディングワイヤの接続強度を向上させることができる。
本発明の第1実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の一例について図1〜図6に基づいて説明する。
(全体構成)
図6に示されるように、樹脂封止型半導体装置10は、例えば、自動車に搭載されたモータを駆動するための制御装置であって、このモータに一体的に取り付けられるものである。
図6に示されるように、樹脂封止型半導体装置10は、例えば、自動車に搭載されたモータを駆動するための制御装置であって、このモータに一体的に取り付けられるものである。
樹脂封止型半導体装置10は、両面に導電パターンとしての回路パターン20(図5(B)参照)が形成され、ダイオード及び抵抗等の電子部品18が表面12Aに搭載された矩形状の回路基板12と、回路基板12が載置されるリードフレーム16を含んで構成されている。なお、回路基板12の表面に形成された導電パターンについては、図面上は省略する。
図3、図4に示されるように、リードフレーム16は、例えば、銅合金等の金属製の板が機械加工やエッチング加工されることにより形成されている。そして、リードフレーム16は、回路基板12が載置される支持部14と、外部との接続の為に使用される外部端子としての複数個のリード端子22とを備えて構成されている。詳細には、支持部14は2分割され、回路基板12は、2分割された支持部14に跨るように載置される。
また、回路基板12は、少なくともリードフレーム16とは異なる材質で構成されており、例えば、樹脂材料で形成されている。さらに、回路基板12は、リードフレーム16よりも剛性が低く、また、全体の面積がリードフレーム16の支持部14の全体の面積と同等とされている。
さらに、図6に示されるように、電子部品18、回路基板12及びリードフレーム16の支持部14を封止するモールド樹脂24が設けあれ、リードフレーム16のリード端子22がモールド樹脂24の外部に突出して外部の装置と接続可能となっている。
(要部構成)
図5(A)に示されるように、回路基板12の表面12Aには、電子部品18が搭載され、また、この電子部品18と電気的に接続される回路パターン(図示省略)が形成されている。
図5(A)に示されるように、回路基板12の表面12Aには、電子部品18が搭載され、また、この電子部品18と電気的に接続される回路パターン(図示省略)が形成されている。
さらに、図6に示されるように、回路基板12の表面12Aの両端部には、リード端子22とアルミニウム又は銅を用いた線状のボンディングワイヤ30により電気的に接続させる複数個のボンディングパッド32が設けられている。また、ボンディングワイヤ30とボンディングパッド32は、超音波融着にて接続されるようになっている。詳細には、ボンディングワイヤ30をボンディングパッド32に押し付け、超音波振動を付与することでボンディングワイヤ30とボンディングパッド32を融着する構成となっている。
これに対し、図5(B)に示されるように、リードフレーム16の支持部14(図4参照)に対向する回路基板12の裏面12Bには、表面12Aの回路パターンと導通するスルーホール26及び回路パターン20が形成されている。
また、図2、図5(B)に示されるように、スルーホール26及び回路パターン20が形成されていない部位には、スルーホール26及び回路パターン20より厚さが厚く、電気的に接地されていない板状の銅箔36が設けられている。そして、この銅箔36を介して回路基板12は、リードフレーム16の支持部14へ接着固定されるようになっている。
さらに、図1に示されるように、銅箔36は、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面とリードフレーム16の間にも配置されており、ボンディングパッド32の裏面には、空間が設けられない構成となっている。なお、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面には、スルーホール26及び回路パターン20は形成されていない。
次に、樹脂封止型半導体装置10の製造工程について説明する。
先ず、図5(A)に示す電子部品18を回路基板12の表面12Aの決められた位置にリフローはんだ付け又は導電性接着剤等にて搭載し、表面12Aに形成された回路パターン(図示省略)と電子部品18を電気的に接続する。
さらに、図3に示されるように、回路基板12をリードフレーム16の支持部14へ載置し、回路基板12の裏面に形成された銅箔36と支持部14を接着剤で固定する。
次に、図1に示されるように、ボンディングワイヤ30の一端部をボンディングパッド32に超音波融着にて融着し、ボンディングワイヤ30の他端部をリード端子22に融着してボンディングパッド32とリード端子を電気的に接続する。
さらに、回路基板12及び電子部品18をモールド樹脂24で封止する。
(作用・効果)
前述したように、板状の銅箔36は、スルーホール26及び回路パターン20が形成されていない部位に配置され、スルーホール26及び回路パターン20の厚さより厚くされている。これにより、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16の間に隙が形成される。
前述したように、板状の銅箔36は、スルーホール26及び回路パターン20が形成されていない部位に配置され、スルーホール26及び回路パターン20の厚さより厚くされている。これにより、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16の間に隙が形成される。
このように、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16の間に隙を形成されることで、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16が接触して、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16がショートするのを防止することができる。
また、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16との間に隙を形成させてスルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16のショートを防止することで、回路基板の裏面にスルーホールや配線を作らない高価なビルドアップ基板や、特殊な接着剤などの高価な部品を使用することがなくなる。このため、樹脂封止半導体装置10を安価な構成とすることができる。
また、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面とリードフレーム16の間にも銅箔36を配置することで、ボンディングパッド32の裏面に空間ができない。これにより、ボンディングパッド32が設けられる部位の剛性を上げ、超音波融着による超音波振動の逃げを防止してボンディングパッド32とボンディングワイヤ30の接続強度を向上させることができる。
次ぎに、本発明の第2実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の一例について図7、図8に基づいて説明する。なお、第1実施形態と同一部材については、同一符号を付してその説明を省略する。
図7、図8に示されるように、本実施形態では、第1実施形態のように、回路基板12の裏面12Bには、板状の銅箔は形成されておらず、これに代えて、回路基板12とリードフレーム16の間には、板状のスペーサ40が設けられている。
詳細には、板状のスペーサ40の厚さは、回路基板12の裏面12Bに形成されたスルーホール26及び回路パターン20の厚さより厚くされており、スペーサ40には、スルーホール26及び回路パターン20を逃げるように逃孔40Aが形成されている。
さらに、スペーサ40は、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面とリードフレーム16の間にも配置されており、ボンディングパッド32の裏面には、空間が設けられない構成となっている。なお、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面には、スルーホール26及び回路パターン20は形成されていない。
このように、スペーサ40を設けることで、回路基板12の裏面に銅箔等を形成させることなく、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16との間に隙を形成されることで、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16がショートするのを防止することができる。
次ぎに、本発明の第3実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の一例について図9〜図12に基づいて説明する。なお、第1実施形態と同一部材については、同一符号を付してその説明を省略する。
図9、図10、図11、図12に示されるように、本実施形態では、第1実施形態のように、回路基板12の裏面12Bには、板状の銅箔は形成されておらず、これに代えて、リードフレーム16の支持部50には、回路基板12の裏面12Bに向けて突出した凸部50Aが一体的に形成されている。
詳細には、スルーホール26及び回路パターン20が形成されていない回路基板12の裏面12Bと凸部50Aが当接するように、凸部50Aの形成位置が決められており、さらり、凸部50Aの高さ(厚さ)は、スルーホール26及び回路パターン20の高さ(厚さ)より高くされている。また、凸部50Aは、ボンディングパッド32が設けられる回路基板12の裏面とも当接するように配置されている。
このように、支持部50に凸部50Aを設けることで、別部品を設けることなく、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16との間に隙を形成されることで、スルーホール26及び回路パターン20とリードフレーム16がショートするのを防止することができる。
10・・・・樹脂封止型半導体装置、12・・・・回路基板、12A・・・表面、12B・・・裏面、16・・・・リードフレーム、18・・・・電子部品、20・・・・回路パターン(導電パターン)、22・・・・リード端子、24・・・・モールド樹脂、26・・・・スルーホール(導電パターン)、30・・・・ボンディングワイヤ、32・・・・ボンディングパッド、36・・・・銅箔(スペーサ部材)、40・・・・スペーサ(スペーサ部材)、40A・・・逃孔、50A・・・凸部
Claims (4)
- リード端子を備えるリードフレームと、
表面に電子部品が搭載され、前記電子部品が電気的に接続される導電パターンが両面に形成されると共に、前記リードフレームに載置される回路基板と、
前記リードフレームと前記回路基板の間で前記回路基板の裏面の導電パターンが形成されていない部位に設けられ、前記回路基板を前記リードフレームに載置した状態で、前記導電パターンと前記リードフレームに隙間を形成させる隙間形成手段と、
前記回路基板及び前記電子部品を封止するモールド樹脂と、
を備える樹脂封止型半導体装置。 - 前記回路基板の表面には、前記リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドが設けられ、
前記隙間形成手段は、板状のスペーサ部材であって、
前記スペーサ部材は、前記ボンディングパッドが設けられる前記回路基板の裏面に配置される請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置。 - 前記回路基板の表面には、前記リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドとが設けられ、
前記隙間形成手段は、前記リードフレームに形成され、前記回路基板の裏面に向けて突出した凸部であって、
前記凸部は、前記ボンディングパッドが設けられる前記回路基板の裏面に配置される請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置。 - リード端子を備えるリードフレームと、
表面に電子部品が搭載され、前記電子部品が電気的に接続される導電パターンが両面に形成されると共に、前記リードフレームに載置される回路基板と、
前記回路基板の表面に設けられ、前記リード端子とボンディングワイヤにより接続させるボンディングパッドと、
前記リードフレームと前記回路基板の間で前記導電パターンが形成されていない部位に配置される共に、ボンディングパッドが設けられる前記回路基板の裏面に設けられ、前記回路基板を前記リードフレームに載置した状態で、前記導電パターンと前記リードフレームに隙間を形成させるスペーサ部材と、
前記回路基板及び前記電子部品を封止するモールド樹脂と、
を用いて樹脂封止型半導体装置を製造する樹脂封止型半導体装置の製造方法であって、
前記電子部品が搭載された前記回路基板を前記リードフレームに載置する工程と、
前記ボンディングワイヤの一端部を前記ボンディングパットに融着し、前記ボンディングワイヤの他端部を前記リード端子に融着して前記ボンディングパッドと前記リード端子を電気的に接続する工程と、
前記回路基板及び前記電子部品を前記モールド樹脂で封止する工程と、
を備える樹脂封止型半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008287410A JP2010114346A (ja) | 2008-11-10 | 2008-11-10 | 樹脂封止型半導体装置及び樹脂封止半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008287410A JP2010114346A (ja) | 2008-11-10 | 2008-11-10 | 樹脂封止型半導体装置及び樹脂封止半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010114346A true JP2010114346A (ja) | 2010-05-20 |
Family
ID=42302671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008287410A Pending JP2010114346A (ja) | 2008-11-10 | 2008-11-10 | 樹脂封止型半導体装置及び樹脂封止半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010114346A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61125057U (ja) * | 1985-01-24 | 1986-08-06 | ||
JPH07142632A (ja) * | 1993-11-17 | 1995-06-02 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置用保持具 |
JPH07249729A (ja) * | 1994-03-11 | 1995-09-26 | Nippondenso Co Ltd | 電子装置 |
-
2008
- 2008-11-10 JP JP2008287410A patent/JP2010114346A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61125057U (ja) * | 1985-01-24 | 1986-08-06 | ||
JPH07142632A (ja) * | 1993-11-17 | 1995-06-02 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置用保持具 |
JPH07249729A (ja) * | 1994-03-11 | 1995-09-26 | Nippondenso Co Ltd | 電子装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4270095B2 (ja) | 電子装置 | |
JP2016072575A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2013026627A (ja) | パワー素子パッケージモジュール及びその製造方法 | |
JP6048238B2 (ja) | 電子装置 | |
KR102047775B1 (ko) | 칩 패키징 구조 및 관련된 인너 리드 본딩 방법 | |
JP6391430B2 (ja) | 電子制御装置およびその製造方法 | |
JP2009038196A (ja) | 電子装置およびワイヤボンディング方法 | |
JP2010114346A (ja) | 樹脂封止型半導体装置及び樹脂封止半導体装置の製造方法 | |
JPH1167963A (ja) | 半導体装置 | |
JP4100685B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR20110092779A (ko) | 반도체 파워 모듈 패키지 및 그의 제조방법 | |
JP5360221B2 (ja) | 電子部品内蔵モジュール | |
JP5104020B2 (ja) | モールドパッケージ | |
JP2017028131A (ja) | パッケージ実装体 | |
JP2006196597A (ja) | 電子装置およびその製造方法 | |
JP2016134547A (ja) | 半導体装置 | |
JP5742623B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2016197636A (ja) | モールドパッケージ | |
JP5800076B2 (ja) | 電子装置および電子装置の取付構造 | |
JP2007201251A (ja) | 半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法 | |
JP2022168539A (ja) | 基板の端子接合構造及び端子接合方法 | |
JP2015032705A (ja) | モールドパッケージ | |
JP5401498B2 (ja) | 電子装置 | |
KR101974920B1 (ko) | 인쇄회로기판 사이의 연결 구조 | |
JP6178622B2 (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110806 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120511 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120515 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120918 |