JP2010074110A - 荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置測定方法及び載置位置補正方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料として、表面に、光の反射率が他の部分とは異なる、互いに直交する方向にのびる線状の2本のマーク部101,102を形成した専用試料100を用いる。搬送ロボットにより専用試料100をステージ上に搬送して載置した後、高さ測定器の投光部からの光を専用試料100の表面に照射して、光の照射スポットSPを各マーク部101、102に交差するように走査する。高さ測定器の受光部による反射光の受光量の変化に基づいて、照射スポットSPの走査軌跡と各マーク部101,102との交差個所の位置を測定する。この測定位置から2本のマーク部101,102に合致する2本の直線を求め、試料載置位置を測定する。
【選択図】図3
Description
Claims (5)
- 互いに直交する水平なX方向及びY方向に移動自在なステージと、ステージ上に載置した試料に荷電粒子ビームを照射するビーム照射手段と、ステージのX方向及びY方向の位置を測定するステージ位置測定器と、光を試料の表面に斜め上方から収束して照射する投光部と、試料からの反射光を受光して反射光の位置を検出する受光部とを有し、反射光の位置から試料の高さを測定する高さ測定器と、ステージ上に試料を搬送して載置する搬送ロボットとを備える荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置測定方法であって、
試料として、表面に、光の反射率が他の部分とは異なる、互いに直交する方向にのびる線状の2本のマーク部を形成した専用試料を用い、
搬送ロボットにより専用試料をステージ上に搬送して載置した後、ステージをX方向に移動させつつ、高さ測定器の投光部からの光を専用試料の表面に照射して、光の照射スポットを一方のマーク部に交差するように走査し、高さ測定器の受光部による反射光の受光量の変化に基づいて、照射スポットの走査軌跡に交差する一方のマーク部の個所の位置を測定することをステージのY方向位置を変えて少なくとも2回行って、一方のマーク部の少なくとも2個所の位置を測定する工程と、
ステージをY方向に移動させつつ、高さ測定器の投光部からの光を専用試料の表面に照射して、光の照射スポットを他方のマーク部に交差するように走査し、高さ測定器の受光部による反射光の受光量の変化に基づいて、照射スポットの走査軌跡に交差する他方のマーク部の個所の位置を測定することをステージのX方向位置を変えて少なくとも2回行って、他方のマーク部の少なくとも2個所の位置を測定する工程と、
一方のマーク部の測定した少なくとも2個所の位置から一方のマーク部に合致する第1の直線を算出すると共に、他方のマーク部の測定した少なくとも2個所の位置から他方のマーク部に合致する第2の直線を算出する工程と、
第1の直線と第2の直線との交点の位置からステージに対する試料の載置位置のX方向及びY方向のずれ量を算出する工程と、
第1の直線のY方向に対する傾斜角と第2の直線のX方向に対する傾斜角との少なくとも一方から試料の載置位置の回転ずれ量を算出する工程とを実行することを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置における試料の搬送位置測定方法。 - 前記照射スポットの走査軌跡に交差する前記各マーク部の個所の高さを前記高さ測定器で測定し、該個所の高さの基準高さに対するずれ量に応じて該個所の測定位置を補正することを特徴とする請求項1記載の荷電粒子ビーム描画装置における試料の搬送位置測定方法。
- 互いに直交する水平なX方向及びY方向に移動自在なステージと、ステージ上に載置した試料に荷電粒子ビームを照射するビーム照射手段と、ステージのX方向及びY方向の位置を測定するステージ一位置測定器とを備えると共に、光を試料の表面に斜め上方から収束して照射する投光部と、試料からの反射光を受光して反射光の位置を検出する受光部とを有し、反射光の位置から試料の高さを測定する高さ測定器と、ステージ上に試料を搬送する搬送ロボットとを備える荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置補正方法であって、
請求項1又は2記載の載置位置測定方法で算出された前記回転ずれ量を搬送ロボットの制御部にフィードバックし、搬送ロボットの制御データを回転ずれ量が除去されるように補正することを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置補正方法。 - 請求項3記載の荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置補正方法であって、前記搬送ロボットは、X方向及びY方向に直交するZ方向の軸線回りに回転自在な回転軸と、回転軸に固定された座標系の水平な1軸方向であって、試料載置時にY方向に平行になる方向に伸縮自在なロボットアームとを備える極座標型ロボットで構成され、
試料載置時の搬送ロボットの回転軸の回転角度を前記回転ずれ量分だけ補正すると共に、試料載置時のステージの位置をX方向に回転軸の回転角度補正による試料のX方向変位量分だけ補正し、更に、試料載置時のステージの位置をY方向に回転軸の回転角度補正による試料のY方向変位量分だけ補正するか、又は、ロボットアームの伸縮量を回転軸の回転角度補正による試料のY方向変位量分だけ補正することを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置補正方法。 - 試料載置時における前記ステージの位置を、請求項1又は2記載の載置位置測定方法で算出された前記X方向及びY方向のずれ量分だけX方向及びY方向に補正することを特徴とする請求項3または4記載の荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置補正方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022153932A1 (ja) * | 2021-01-18 | 2022-07-21 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 荷電粒子ビーム描画方法、荷電粒子ビーム描画装置及びその調整方法 |
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-
2008
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