JP2010054421A - 検査方法および検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査対象物に、それぞれ異なる方向から偏光照明光を照射する複数の照明段階と、検査対象物からの反射光を偏光手段により偏光状態としてから撮像手段により撮像し画像データを取得する撮像段階と、撮像手段が撮像した画像データを記憶し、該画像データに対して各種画像処理を行う画像処理段階と、を備え、撮像段階は、複数の照明段階のそれぞれについて撮像した画像データを順次取得するもので、画像処理段階は、撮像段階にて得られた複数の画像データの差分を計算して差分画像データを生成し、該差分画像データに対して所定の計算処理を行うことにより検査対象物の折り目およびキズを抽出し検査対象物が良品かどうかを判定することを特徴とする検査方法。
【選択図】図1
Description
検査対象物に、それぞれ異なる方向から偏光照明光を照射する複数の照明段階と、
前記検査対象物からの反射光を偏光手段により偏光状態としてから撮像手段により撮像し画像データを取得する撮像段階と、
撮像手段が撮像した画像データを記憶し、該画像データに対して各種画像処理を行う画像処理段階と、を備え、
前記撮像段階は、複数の照明段階のそれぞれについて撮像した画像データを順次取得するもので、
前記画像処理段階は、前記撮像段階にて得られた複数の画像データの差分を計算して差分画像データを生成し、該差分画像データに対して所定の計算処理を行うことにより検査対象物の折り目およびキズを抽出し前記検査対象物が良品かどうかを判定することを特徴とする検査方法、としたものである。
検査対象物に、それぞれ異なる方向から偏光照明光を照射する複数の照明光源と、
前記検査対象物を撮像し画像データを取得する撮像手段と、
前記検査対象物と前記撮像手段との間に配置される偏光手段と、
撮像手段が撮像した画像データを記憶し、該画像データに対して各種画像処理を行う画像処理手段と、を備え、
前記撮像手段は、複数の照明光源のそれぞれについて、その照明光源のみからの照明光を使って撮像した画像データを順次取得し、
前記画像処理手段は、前記撮像手段によって得られた複数の画像データの差分を計算して差分画像データを生成し、該差分画像データに対して所定の計算処理を行うことにより検査対象物の折り目およびキズを抽出し前記検査対象物が良品かどうかを判定することを特徴とする検査装置、としたものである。
11・・・撮像手段
12・・・偏光手段
13・・・画像処理手段
15a、15b・・・照明手段
16a、16b・・・偏光状態の照明光
17a、17b・・・画像データ
17c・・・差分画像データ
18a、18b・・・検査対象物A上の急峻な凹凸
19・・・検査対象物A上の絵柄部分
S、S’・・・印刷絵柄
T、T’・・・折り目
21・・・照明光
22・・・検査対象物からの反射光
23・・・検査対象物からの反射光
Claims (4)
- 検査対象物に、それぞれ異なる方向から偏光照明光を照射する複数の照明段階と、
前記検査対象物からの反射光を偏光手段により偏光状態としてから撮像手段により撮像し画像データを取得する撮像段階と、
撮像手段が撮像した画像データを記憶し、該画像データに対して各種画像処理を行う画像処理段階と、を備え、
前記撮像段階は、複数の照明段階のそれぞれについて撮像した画像データを順次取得するもので、
前記画像処理段階は、前記撮像段階にて得られた複数の画像データの差分を計算して差分画像データを生成し、該差分画像データに対して所定の計算処理を行うことにより検査対象物の折り目およびキズを抽出し前記検査対象物が良品かどうかを判定することを特徴とする検査方法。 - 検査対象物に、それぞれ異なる方向から偏光照明光を照射する複数の照明光源と、
前記検査対象物を撮像し画像データを取得する撮像手段と、
前記検査対象物と前記撮像手段との間に配置される偏光手段と、
撮像手段が撮像した画像データを記憶し、該画像データに対して各種画像処理を行う画像処理手段と、を備え、
前記撮像手段は、複数の照明光源のそれぞれについて、その照明光源のみからの照明光を使って撮像した画像データを順次取得し、
前記画像処理手段は、前記撮像手段によって得られた複数の画像データの差分を計算して差分画像データを生成し、該差分画像データに対して所定の計算処理を行うことにより検査対象物の折り目およびキズを抽出し前記検査対象物が良品かどうかを判定することを特徴とする検査装置。 - 検査対象物の少なくとも検査対象領域上に、透明平板を載置することを特徴とする請求項1記載の検査方法。
- 検査対象物の少なくとも検査対象領域上に、透明平板を載置することを特徴とする請求項2記載の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008221190A JP2010054421A (ja) | 2008-08-29 | 2008-08-29 | 検査方法および検査装置 |
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JP2008221190A JP2010054421A (ja) | 2008-08-29 | 2008-08-29 | 検査方法および検査装置 |
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JP2008221190A Pending JP2010054421A (ja) | 2008-08-29 | 2008-08-29 | 検査方法および検査装置 |
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2008
- 2008-08-29 JP JP2008221190A patent/JP2010054421A/ja active Pending
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