JP2010040982A - Equipment for treating board material surface - Google Patents
Equipment for treating board material surface Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010040982A JP2010040982A JP2008205434A JP2008205434A JP2010040982A JP 2010040982 A JP2010040982 A JP 2010040982A JP 2008205434 A JP2008205434 A JP 2008205434A JP 2008205434 A JP2008205434 A JP 2008205434A JP 2010040982 A JP2010040982 A JP 2010040982A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate material
- liquid
- surface treatment
- treatment apparatus
- suction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
Description
本発明は、基板材の表面処理装置に関する。すなわち、電子回路基板の製造工程で使用され、基板材を搬送しつつ処理液にて表面処理する表面処理装置、に関するものである。 The present invention relates to a substrate material surface treatment apparatus. That is, the present invention relates to a surface treatment apparatus that is used in a manufacturing process of an electronic circuit board and performs a surface treatment with a treatment liquid while conveying a substrate material.
《技術的背景》
一般家電用からコンピュータ用まで、エレクトロニクス機器に用いられる電子回路基板は、小型軽量化,極薄化,フレキシブル化等の進展がめざましく、形成される電子回路の微細化,高密度化も著しい。
そして、このような電子回路基板の製造工程では、各種の表面処理装置が用いられており、それぞれコンベアにて搬送される基板材が、スプレーノズルから噴射される処理液にて、表面処理されている。例えば、現像液,エッチング液,剥離液,洗浄液等の処理液が、それぞれ噴射され、もって現像,エッチング,剥離,洗浄等の表面処理が順次行われている。
《Technical background》
Electronic circuit boards used in electronic equipment, from general household appliances to computers, have made remarkable progress in miniaturization, weight reduction, ultrathinning, and flexibility, and miniaturization and higher density of electronic circuits formed are also remarkable.
And in the manufacturing process of such an electronic circuit board, various surface treatment apparatuses are used, and each substrate material conveyed by a conveyor is surface-treated with a treatment liquid sprayed from a spray nozzle. Yes. For example, processing solutions such as a developing solution, an etching solution, a stripping solution, and a cleaning solution are sprayed, and surface treatments such as development, etching, stripping, and cleaning are sequentially performed.
《従来技術》
そして従来、この種の表面処理装置では、コンベアやスプレーノズルが雰囲気中・空中に配設されており、基板材は、雰囲気中・空中で噴射された処理液にて表面処理されていた。しかしながら最近の極薄化の進展に伴い、空中搬送,空中噴射方式では、極薄で腰のない基板材が、噴射された処理液のスプレー圧や重量にて、揺れたり,撓んだり,脱落したり,落下する事故が多発していた。
そこで、これらに対処し、上述した事故発生を回避すべく、コンベアやスプレーノズルを処理液で満たされた液槽中に配設した、表面処理装置が開発,使用されるに至っており、この表面処理装置では、基板材を液中搬送しつつ、液中噴射される処理液にて表面処理するようになっている。
更に、この液中搬送,液中噴射方式の表面処理装置では、コンベアについて、基板材の回路形成面には無接触で、基板材の左右両側端面のみを挟んで搬送する方式のものが開発,採用されている。すなわち、基板材の全外表面を挟んで送る方式だと、基板材の回路形成面に擦り傷,傷痕,損傷等のダメージが発生し易かったので、これらを回避すべく、端面搬送方式のコンベアが開発,採用されるに至っている。
<Conventional technology>
Conventionally, in this type of surface treatment apparatus, conveyors and spray nozzles are arranged in the atmosphere and in the air, and the substrate material is surface-treated with a treatment liquid sprayed in the atmosphere and in the air. However, with the recent progress of ultra-thinning, the substrate material that is ultra-thin and has no waist is shaken, bent, or dropped due to the spray pressure and weight of the sprayed processing liquid in the air transport and air jet systems. Or accidents of falling.
Therefore, in order to deal with these problems and avoid the above-mentioned accidents, surface treatment devices in which conveyors and spray nozzles are arranged in a liquid tank filled with a treatment liquid have been developed and used. In the processing apparatus, the substrate material is transported in the liquid and surface-treated with a processing liquid sprayed in the liquid.
Furthermore, in this submerged transport and submerged jet type surface treatment device, a type of conveyor has been developed that transports the substrate material without contact with the circuit forming surface of the substrate material, sandwiching only the left and right end faces of the substrate material. It has been adopted. In other words, with the method of feeding across the entire outer surface of the substrate material, damage such as scratches, scratches, damage, etc. was likely to occur on the circuit forming surface of the substrate material. It has been developed and adopted.
《先行技術文献情報》
上述した空中搬送,空中噴射方式の表面処理装置としては、例えば、次の特許文献1に示されたものが挙げられる。液中搬送,液中噴射方式の表面処理装置としては、例えば、次の特許文献2に示されたものが挙げられる。端面搬送方式の表面処理装置としては、次の特許文献3に示されたものが挙げられる。
As the above-mentioned surface treatment apparatus of the air conveyance and air injection method, for example, the one shown in the following
《問題点について》
ところで、このような液中搬送,液中噴射方式で、端面搬送方式の表面処理装置については、次の問題が指摘されていた。
すなわち、基板材に液中噴射された処理液が、基板材の表面処理後に均一に更新されることなく、つまり直ちにスムーズに排出されず、基板材表面を前後の搬送方向等に乱流となって流れたり、基板材表面の中央部等に澱んだ液溜まりとなって滞留する、という指摘があった。
基板材表面には、絶えず次々と新鮮な処理液が噴射され更新されて反応処理が促進される必要があるが、このような乱流や液溜まり発生に起因して、処理液の均一な更新が妨げられる箇所が、基板材表面の各所に発生していた。そして、このような処理液更新の不均一により、基板材の回路形成面の表面処理にバラツキ,過不足,遅速箇所等が発生して、表面処理の不均一が生じてしまい、表面処理精度が低下し、均一な回路形成に支障が生じていた。
About the problem
By the way, the following problems have been pointed out with respect to the end surface transport type surface treatment apparatus using such a submerged transport and submerged jet system.
That is, the processing liquid sprayed onto the substrate material is not uniformly renewed after the surface treatment of the substrate material, that is, it is not immediately discharged smoothly, and the substrate material surface becomes turbulent in the forward and backward transport directions, etc. It has been pointed out that it stays as a liquid pool stagnating at the center of the substrate material surface.
On the surface of the substrate material, it is necessary to continuously inject and update fresh processing liquids one after another to promote reaction processing. However, due to such turbulent flow and liquid pooling, the processing liquid is uniformly updated. The place where the hindrance occurred was generated in various places on the surface of the substrate material. And due to such non-uniformity of processing liquid renewal, surface treatment on the circuit forming surface of the substrate material may vary, excessive or insufficient, slow spots, etc., resulting in non-uniform surface treatment and surface treatment accuracy. As a result, the formation of a uniform circuit was hindered.
図5の(2)図は、基板回路の要部の平面概略図である。同図にも示したように、電子回路基板Aの回路Bは、縦方向(前後方向C)、横方向(左右方向D)、斜め方向に形成される。そして当然のことながら、これらの回路幅は、設計寸法の許容範囲内で同一寸法であることが要求される。
しかしながら形成される回路Bについて、前述した乱流に起因して、更には、コンベアの左右の搬送ローラーやフレーム区画壁が邪魔をして、基板材表面での処理液の流れが左右部について中央部より悪くなることに起因して、縦方向のものが太く大きく、横方向のものが細く小さくなったり、前述した液溜まりに起因して、中央部のものが細く小さくなる等、回路幅の不均一現象が発生していた。
そして、これらの点は、回路Bの微細化,高密度化に進展に伴い、一段と顕著化していた。要求される回路幅が例えば20μm程度になると、回路幅の均一化は一段と困難化するに至っており、電子回路基板Aの信頼性,歩留まり,量産化,生産性上、大きな問題となっていた。
FIG. 5B is a schematic plan view of the main part of the substrate circuit. As shown in the figure, the circuit B of the electronic circuit board A is formed in the vertical direction (front-rear direction C), the horizontal direction (left-right direction D), and the oblique direction. As a matter of course, these circuit widths are required to have the same dimensions within an allowable range of design dimensions.
However, for the circuit B to be formed, due to the turbulent flow described above, the left and right conveying rollers and the frame partition walls of the conveyor obstruct, and the flow of the processing liquid on the substrate material surface is centered on the left and right portions. The width of the circuit is such that the vertical one is thick and large, the horizontal one is thin and small, or the central one is thin due to the liquid pool mentioned above. A non-uniform phenomenon occurred.
These points have become more prominent with the progress of miniaturization and higher density of the circuit B. When the required circuit width is, for example, about 20 μm, the circuit width becomes more difficult to uniform, which is a serious problem in terms of the reliability, yield, mass production, and productivity of the electronic circuit board A.
《本発明について》
本発明の基板材の表面処理装置は、このような実情に鑑み、上記従来例の課題を解決すべくなされたものである。
そして本発明は、処理液の均一更新,基板材の均一処理,そして均一な回路形成が実現されるようになる、基板材の表面処理装置を提案することを目的とする。
<< About the present invention >>
In view of such a situation, the surface treatment apparatus for a substrate material of the present invention has been made in order to solve the problems of the conventional example.
An object of the present invention is to propose a surface treatment apparatus for a substrate material that can achieve uniform renewal of processing liquid, uniform treatment of a substrate material, and uniform circuit formation.
《各請求項について》
このような課題を解決する本発明の技術的手段は、次のとおりである。まず、請求項1については次のとおり。
請求項1の基板材の表面処理装置は、電子回路基板の製造工程で使用される。そして、処理液で満たされた液槽と、該液槽内で該基板材を液中搬送するコンベアと、該液槽内で該基板材に処理液を液中噴射するスプレーノズルと、を有している。
そして更に、該液槽内に、該スプレーノズルから液中噴射された処理液を、該基板材の表面処理後直ちに吸引する吸引器が設けられており、もって該基板材について、処理液更新の均一化,表面処理の均一化,回路の均一化が促進されること、を特徴とする。
<About each claim>
The technical means of the present invention for solving such a problem is as follows. First,
The surface treatment apparatus for a substrate material according to
In addition, a suction device is provided in the liquid tank for sucking the processing liquid sprayed from the spray nozzle in the liquid immediately after the surface treatment of the substrate material. Uniformity, surface treatment uniformity, and circuit uniformity are promoted.
請求項2については、次のとおり。請求項2の基板材の表面処理装置では、請求項1において、左右方向に向けられると共に前後の搬送方向に複数列設けられたスプレー管に、該スプレーノズルは多数設けられている。そして該吸引器は、該スプレー管の前後間隔に設けられていること、を特徴とする。
請求項3については、次のとおり。請求項3の基板材の表面処理装置では、請求項2において、該吸引器は、吸引パイプよりなると共に、右方向に吸引するものと左方向に吸引するものとが、交互に配設されていること、を特徴とする。
請求項4については、次のとおり。請求項4の基板材の表面処理装置では、請求項2において、該吸引器は、処理液の吸引量を、該スプレーノズルからの処理液の液中噴射量に対応させるべく、コントロール可能となっていること、を特徴とする。
請求項5については、次のとおり。請求項5の基板材の表面処理装置では、請求項2において、該液槽内に、該吸引器間を区画する隔壁が配設されており、もって処理液の流れを該吸引器へと整流可能となっていること、を特徴とする。
請求項6については、次のとおり。請求項6の基板材の表面処理装置では、請求項3,4,又は5において、該コンベアは、該基板材の回路形成面には無接触で、該基板材の左右両側端面を挟んで搬送すること、を特徴とする。
請求項7については、次のとおり。請求項7の基板材の表面処理装置では、請求項3,4,又は5において、該スプレーノズルは、搬送される該基板材の上下に配設されており、該スプレー管,吸引器,隔壁も、上下に配設されていること、を特徴とする。
About
About
About
About
About
About
《作用等について》
本発明は、このような手段よりなるので、次のようになる。
(1)この表面処理装置は、電子回路基板の製造工程で使用される。
(2)そして、基板材を液槽内でコンベアにて液中搬送しつつ、スプレーノズルから処理液を液中噴射し、もって基板材を表面処理する。
(3)そして、この表面処理装置では、スプレーノズルから液中噴射された処理液は、基板材を表面処理した後、基板材付近から吸引器に向け吸引される。
(4)吸引器は、スプレー管の前後間隔に設けられ、各吸引器間には隔壁が設けられているので、吸引器に向けた処理液の流れが、整流されスムーズかつ確実に形成される。
(5)又、吸引器の吸引量は、スプレーノズルの噴射量に対応可能となっている。
(6)さてそこで、この表面処理装置では、液中噴射された処理液は、基板材の表面処理後、直ちに基板材付近から吸引,排出,除去され、次に液中噴射された新鮮な処理液が、これに代わって基板材を表面処理する。
(7)従って、表面処理後の処理液は、乱流や液溜まりする前に、吸引,排出,除去される。
(8)このようにして、処理液の均一な更新が促進され、基板材の表面処理に、バラツキ,過不足,遅速箇所等が発生することもなく、均一な表面処理そして均一な回路形成が実現される。
(9)もって、回路幅の不均一現象も防止される。更に、吸引器が順次左右交互に吸収するので、この面からも、上述した均一な吸引,更新,回路幅等が、一段と確実に実現される。
(10)そこで、このような本発明の基板材の表面処理装置は、次の効果を発揮する。
<About the action>
Since the present invention comprises such means, the following is achieved.
(1) This surface treatment apparatus is used in an electronic circuit board manufacturing process.
(2) Then, while the substrate material is transported in the liquid by a conveyor in the liquid tank, the processing liquid is sprayed from the spray nozzle into the liquid, thereby surface-treating the substrate material.
(3) In this surface treatment apparatus, the treatment liquid sprayed from the spray nozzle is sucked from the vicinity of the substrate material toward the suction device after the surface treatment of the substrate material.
(4) The suction device is provided at the front and rear intervals of the spray tube, and the partition is provided between the suction devices, so that the flow of the processing liquid toward the suction device is rectified and formed smoothly and reliably. .
(5) Further, the suction amount of the suction device can correspond to the spray amount of the spray nozzle.
(6) Now, in this surface treatment apparatus, the treatment liquid sprayed in the liquid is immediately sucked, discharged and removed from the vicinity of the substrate material after the surface treatment of the substrate material, and then freshly treated in the liquid. Instead, the liquid surface-treats the substrate material.
(7) Therefore, the treated liquid after the surface treatment is sucked, discharged, and removed before turbulent flow or liquid accumulation.
(8) In this way, uniform renewal of the processing liquid is promoted, and uniform surface treatment and uniform circuit formation can be achieved without the occurrence of variations, excess or deficiency, slow spots, etc. in the surface treatment of the substrate material. Realized.
(9) Therefore, the phenomenon of non-uniform circuit width is also prevented. In addition, since the suction device absorbs the left and right alternately, the above-described uniform suction, renewal, circuit width, and the like are more reliably realized from this aspect.
(10) Thus, the substrate material surface treatment apparatus of the present invention exhibits the following effects.
本発明の表面処理装置では、処理液の均一更新,基板材の均一処理,そして均一な回路形成が実現される。
すなわち、本発明の表面処理装置では、液中噴射された処理液を基板材の表面処理後直ちに基板材付近から均一に吸引,除去する吸引器が、設けられている。吸引器は、左右交互に吸引すると共に、相互間の隔壁付となっており、更に、処理液の液中噴射量に対応した吸引量にも、コントロール可能である。
そこで本発明では、前述したこの種従来例のように、液中噴射された処理液が、基板材処理後に基板材付近から排出されない事態は、回避される。もって、処理液の乱流や液溜まり発生が一掃され、処理液の均一な更新が促進されるので、基板材の処理精度が向上し、均一な表面処理そして均一な回路形成が実現される。そして更に、表面処理速度を大幅に向上させることができる。
これらの点は、電子回路基板の微細化,高密度化の進展に伴い、その意義が特に大なるものがあり、電子回路基板の信頼性,歩留まり,量産性,生産性等が、大きく向上するようになる。
このように、この種従来例に存した課題がすべて解決される等、本発明の発揮する効果は、顕著にして大なるものがある。
In the surface treatment apparatus of the present invention, uniform update of the treatment liquid, uniform treatment of the substrate material, and uniform circuit formation are realized.
That is, the surface treatment apparatus of the present invention is provided with a suction device that uniformly sucks and removes the processing liquid sprayed in the liquid from the vicinity of the substrate material immediately after the surface treatment of the substrate material. The suction device alternately sucks left and right, has a partition between them, and can also control the suction amount corresponding to the injection amount of the processing liquid.
Therefore, in the present invention, a situation in which the processing liquid sprayed in the liquid is not discharged from the vicinity of the substrate material after the substrate material processing is avoided as in the above-described conventional example. Accordingly, the turbulent flow of the processing liquid and the generation of the liquid pool are eliminated, and the uniform renewal of the processing liquid is promoted, so that the processing accuracy of the substrate material is improved, and the uniform surface treatment and the uniform circuit formation are realized. Furthermore, the surface treatment speed can be greatly improved.
These points are particularly significant as electronic circuit boards become smaller and more dense, and the reliability, yield, mass productivity, and productivity of electronic circuit boards are greatly improved. It becomes like this.
As described above, the effects exhibited by the present invention are remarkably large, such as all the problems existing in this type of conventional example are solved.
《図面について》
以下、本発明の基板材の表面処理装置を、図面に示した発明を実施するための最良の形態に基づいて、詳細に説明する。図1〜図5の(1)図は、本発明を実施するための最良の形態の説明に供する。
そして図1は、正面の断面図、図2は、側面の断面図、図3は、平面の断面図、図4は、プレート等の平面図、図5の(1)図は、上側の吸引器の底面図である。
図5の(2)図は、基板回路の要部の平面概略図である。図6、図7は、基板材の表面処理装置の一般的説明に供し、図6は、正面の断面図、図7は、側面の断面図である。
《About drawing》
Hereinafter, a substrate material surface treatment apparatus of the present invention will be described in detail based on the best mode for carrying out the invention shown in the drawings. FIGS. 1 to 5 (1) are used to explain the best mode for carrying out the present invention.
1 is a front sectional view, FIG. 2 is a side sectional view, FIG. 3 is a plan sectional view, FIG. 4 is a plan view of a plate, etc., and FIG. It is a bottom view of a vessel.
FIG. 5B is a schematic plan view of the main part of the substrate circuit. 6 and 7 are used for general description of the substrate material surface treatment apparatus. FIG. 6 is a front sectional view, and FIG. 7 is a side sectional view.
《電子回路基板Aについて》
本発明の基板材Eの表面処理装置1は、電子回路基板Aの製造工程で使用される。そこで、まず電子回路基板Aについて説明しておく。
一般家電用からコンピュータ用まで、エレクトロニクス機器にて使用されるプリント配線基板等の電子回路基板Aは、小型軽量化,極薄化,フレキシブル化,そして形成され回路Bの微細化,高密度化,多層化等の進展がめざましい。例えば、その大きさに関しては、比較的大きなマザーボード用と共に、半導体素子や部品が回路Bと一体的に組み込まれて搭載された小さな半導体パッケージ基板の普及も急速である。硬軟に関しても、従来よりのリジット基板等の硬性基板に比し、フレキシブル基板その他の極薄で柔軟な軟性基板の進展,増加が著しい。なお電子回路基板Aには、表裏両面に回路Bが形成される両面基板タイプと、片面だけに回路Bが形成される片面基板タイプとがある。
そして、最近の電子回路基板Aの要求度としては、トータル板厚が100μm〜25μm程度、回路幅が20μm程度、回路間スペースが10μm程度まで、極薄化,微細化されている。回路幅は、従来の35μm時代から20μm前後に至り、更には15〜10μm時代を迎えようとしている。
このような電子回路基板Aの製造方法としては、エッチング法やセミアディティブ法(メッキ法)が、代表的である。エッチング法では、銅張り積層板よりなる基板材Eの外表面に、→感光性レジストを塗布又は張り付けてから、→回路Bのネガフィルムを当てて露光した後、→回路形成部分以外のレジストを、現像により溶解除去し、→回路形成部分以外の銅箔を、エッチングにより溶解除去してから、→回路形成部分のレジストを、剥膜除去する。→これにより、基板材Eの外表面に残った銅箔にて、電子回路Bが形成され、→もって、電子回路基板Aが製造される。本発明は、このようなプロセスを辿るエッチング法に関する。
電子回路基板Aは、このようになっている。
<< Electronic circuit board A >>
The
Electronic circuit boards A such as printed wiring boards used in electronic equipment, from general household appliances to computers, are reduced in size and weight, made ultrathin, flexible, and circuit B is made finer and higher in density. Progress such as multilayering is remarkable. For example, regarding the size, a small semiconductor package substrate on which a semiconductor element and a component are integrated and mounted integrally with the circuit B is rapidly spread along with a relatively large mother board. With regard to hardness and softness, the development and increase of flexible substrates and other ultra-thin and flexible flexible substrates are remarkable compared to conventional rigid substrates such as rigid substrates. The electronic circuit board A includes a double-sided board type in which a circuit B is formed on both sides, and a single-sided board type in which a circuit B is formed only on one side.
The recent requirements for the electronic circuit board A are that the total plate thickness is about 100 μm to 25 μm, the circuit width is about 20 μm, and the inter-circuit space is about 10 μm. The circuit width has reached about 20 μm from the conventional 35 μm era, and is about to reach the 15 to 10 μm era.
As a manufacturing method of such an electronic circuit board A, an etching method and a semi-additive method (plating method) are typical. In the etching method, a photosensitive resist is applied or pasted on the outer surface of the substrate material E made of a copper-clad laminate, and then exposed by applying a negative film of circuit B, and then a resist other than the circuit forming portion is applied. The film is dissolved and removed by development, and the copper foil other than the circuit formation part is dissolved and removed by etching, and then the resist at the circuit formation part is removed. → Thereby, the electronic circuit B is formed with the copper foil remaining on the outer surface of the substrate material E, and thus the electronic circuit board A is manufactured. The present invention relates to an etching method that follows such a process.
The electronic circuit board A is as described above.
《表面処理装置1について》
表面処理装置1は、このような電子回路基板Aの製造工程で使用され、基板材Eを処理液Fにて表面処理する。そこで、まず表面処理装置1について、図6,図7を参照して、一般的に説明しておく。
表面処理装置1は、電子回路基板Aの製造工程中,例えば現像工程,エッチング工程,剥離工程,洗浄工程等において、現像装置,エッチング装置,剥離装置,洗浄装置として、使用される。
そして各表面処理装置1では、その処理室2内において、コンベア3で搬送され感光性レジストが張付けられた銅張積層板製の基板材Eに対し、スプレーノズル4から例えば現像液,エッチング液,剥離液,又は洗浄液等の処理液Fが順次噴射され、もって基板材Eが薬液処理や洗浄処理等、表面処理される。
<< About the
The
The
In each
そして、この表面処理装置1は、液中搬送,液中噴射方式よりなると共に端面搬送方式よりなり、処理室2内に、液槽5,コンベア3,スプレーノズル4,貯槽6等を、備えている。
まず液槽5は、処理液Fで満たされている。すなわち液槽5は、処理室2上部において、コンベアフレーム兼用のフレーム区画壁7を使用して形成されると共に、スプレーノズル4から噴射される処理液Fと同じ処理液Fで、満たされている。
コンベア3は、液槽5の処理液F内に配設されており、液槽5内で基板材Aを搬送方向(前後方向)Cに液中搬送する。そして、左右,上下に多数の搬送ローラー8を備えており、各搬送ローラー8は、基板材Eの回路形成面Gには無接触で、基板材Eの左右両側端面Hを上下から挟んで、水平搬送する。
スプレーノズル4は、液槽5の処理液F内において、搬送される基板材Eの上下に多数配設されている。そして、図示のように左右方向Dに向けられると共に搬送方向(前後方向)Cに複数列設けられた上下のスプレー管9に、それぞれ多数設けられており、もって、液槽5内で液中搬送される基板材Eの回路形成面Gに対し、処理液Fを上下から液中噴射する。
And this
First, the
The
A large number of
処理液Fは、処理室2下部の貯槽6から、ポンプ10,配管11,各スプレー管9等を経由して、各スプレーノズル4に圧送されて、基板材Eに液中噴射される。そして、基板材E表面の回路形成面Gを反応処理後、液槽5中の処理液F中に吸収される。この種従来例では、その結果、液槽5から対応した処理液Fがすべてオーバーフローして、貯槽6に回収,貯蔵され、事後再び循環使用されるようになっている。
なお基板材Eは、中央部の広い回路形成面Gと、その外周縁の狭い前後端面や左右両側端面Hと、から構成されており、前後端面や両側端面Hは幅10mm程度よりなり、みみ部とも称され、非回路形成面となっている。又、図示例の基板材Eは、表裏両面に回路形成面G,前後端面,両側端面が形成されたタイプ(両面基板タイプの電子回路基板A)よりなる。
なお、コンベア3の搬送ローラー8は、駆動ローラー(ドライブローラー)よりなり、軸12,各ギア13,駆動軸14等を介し、モータ等の駆動機構(図示せず)に接続されている。
表面処理装置1は、一般的にはこのようになっている。
The processing liquid F is pumped from the
The substrate material E is composed of a circuit forming surface G having a wide central portion and front and rear end surfaces and left and right side end surfaces H having a narrow outer peripheral edge. The front and rear end surfaces and both side end surfaces H have a width of about 10 mm. It is also referred to as a portion, and is a non-circuit forming surface. Also, the substrate material E in the illustrated example is of a type (a double-sided board type electronic circuit board A) in which a circuit forming surface G, front and rear end surfaces, and both end surfaces are formed on both front and back surfaces.
In addition, the
The
《本発明の概要について》
以下、本発明について、図1〜図5の(1)図を参照して説明する。本発明の基板材Eの表面処理装置1では、液槽5内に、各スプレーノズル4から液中噴射された処理液Fを吸引する吸引器15が、設けられている。
この吸引器15は、スプレー管9の前後間隔に設けられており、図示例では吸引スリット孔16を備えた吸引パイプ17よりなり、右方向に吸引するものと左方向に吸引するものとが、交互に配設されている。
そして吸引器15は、処理液Fの吸引量を、スプレーノズル4からの処理液Fの液中噴射量に対応させるべく、コントロール可能となっている。液槽5内には、各吸引器15間を区画する隔壁18が配設されており、もって、液中噴射されて基板材Eを表面処理した後の処理液Fの流れを、吸引器15へと整流可能となっている。
なお図示例では、搬送される基板材Eの上下に対向して、スプレー管9そしてスプレーノズル4が配設されていることに鑑み、各吸引器15や隔壁18も、基板材Eの上下に対向配設されている。
本発明の表面処理装置1は、概略このようになっている。
<< Outline of the Present Invention >>
The present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 5 (1). In the
The
The
In the illustrated example, in consideration of the
The
《プレート19について》
このような表面処理装置1について、更に詳述する。まず、プレート19について説明する。図示の液槽5中には、図4に示したプレート19が、図1〜図3に示したように、搬送される基板材Eの表裏の回路形成面Gに対向して、上下に配設されている。
プレート19は、水平で平坦な略平板状をなし、両プレート19間の上下方向Jの上下間隔距離寸法は、3mm〜5mm程度であり、その間にそれぞれ上下間隔をそれぞれ存しつつ、基板材Eが搬送される。プレート19には、多数のノズル孔20と吸引孔21とが、上下貫通孔として多数穿設されている。
ノズル孔20は、左右方向Dに沿い多数列設されると共に、前後方向(搬送方向)Cに、間隔を存しつつ複数列配設されている。そして、このような各ノズル孔20が、前述したスプレー管9の各スプレーノズル4に対し、それぞれ一体連設されている。
吸引孔21は、基板材Eに液中噴射された処理液Fについて、基板材Eの表面処理後に基板材Eから反射されて跳ね返ったものを、吸引,排出させるべく、つまり直ちに基板材E付近から吸引器15に向け通過させるべく、多数設けられている。そして吸引孔21は、上下が共に液槽5中に開放されると共に、各ノズル孔20の各列の前後に、それぞれ列設されている。つまり各吸引孔21は、左右方向Dに沿い多数列設されると共に、前後方向(搬送方向)Cに複数列配設されている。
プレート19は、このようになっている。
<About the
Such a
The
The nozzle holes 20 are arranged in a large number along the left-right direction D, and a plurality of rows are arranged in the front-rear direction (conveying direction) C with a gap. Each
The
The
《吸引器15について》
次に、吸引器15について説明する。吸引器15は、図示例では吸引パイプ17よりなり、図5の(1)図に示したように、軸方向(左右方向D)に吸引スリット孔16が下面又は上面に形成されている。なお図示例によらず、多数の孔を軸方向に形成するようにしてもよい。
そして吸引器15は、配管や吸引ポンプ(図示せず)等を介して、貯槽6(図7を参照)、に接続されており、吸引した処理液Fを、貯槽6へと回収,供給する。そして吸引器15は、液槽5内において、図3に示したように、前後方向(搬送方向)Cに列設された各スプレー管9の前後間隔の中間位置上に設けられると共に、図1,図2に示したように、上下方向Jに上下間隔を存して設けられている。
更に吸引器15は、図3に示したように、左右方向Dの右方向に吸引するものと、左方向に吸引するものとが、前後方向(搬送方向)Cに交互に配設されている。
又、吸引器15の処理液F吸引量は、吸引すべき各スプレーノズル4の処理液F液中噴射量に対応すべく、自動コントロール可能となっている。図示例では、1本の吸引パイプ17よりなる吸引器15の吸引量が、隔壁18で区画された2本のスプレー管9の各スプレーノズル4から噴射されるトータルの処理液F噴射量に、見合うように、例えばほぼ同一量に自動設定される。
吸引器15は、このようになっている。
<About the
Next, the
The
Further, as shown in FIG. 3, the
Further, the processing liquid F suction amount of the
The
《隔壁18について》
次に、隔壁18について説明する。隔壁18は、液槽5中に配設されると共に、図1〜図4に示したように、搬送される基板材Eの上位側の隔壁18は、左右壁と前後壁と、図示例では更に頂壁とを備えている。そして、このような隔壁18が、その下位側に位置するプレート19とで囲まれた略長箱状の液中エリアを、図示例では密閉された液中エリアを区画形成している。
又、基板材Eの下位側の隔壁18も、左右壁と前後壁と、図示例では更に底壁とを備えており、その上位側に位置するプレート19とで囲まれた略長箱状の液中エリアを、図示例では密閉された液中エリアを区画形成している。
そして図示例では、各隔壁18等で区画形成された液中エリアに、1本の吸引パイプ17と2本のスプレー管9とが、配されている。
このような液中エリアの区画形成により、液中噴射されて基板材Eを表面処理した後の処理液Fが、プレート19の各吸引孔21から、それぞれの吸引器15つまり吸引パイプ17へと、スムーズに吸引され流れるようになる。左方向に流れて左側の吸引パイプ17へと吸収される流れと、右方向に流れて右側の吸引パイプ17へと吸収される流れとが、スムーズに区画形成されるようになる。
<About the
Next, the
The
In the illustrated example, one
By forming such a submerged area, the processing liquid F after being sprayed in the liquid and surface-treating the substrate material E is transferred from each
《その他》
さて、このような吸引パイプ17,吸引器15,隔壁18,プレート19,スプレー管9,スプレーノズル4等が、搬送される基板材Eの上下にそれぞれ配設されている。
又、本発明の表面処理装置1の処理室2内には、これらを備えた液槽5が、1ユニットとなり、このような各ユニットの液槽5が、前後方向(搬送方向)Cに沿って、処理室2内に多数配設されている。各液槽5は、それぞれフレーム区画壁7にて形成されている(なお、前述した図6,図7の例では、1つの処理室2に、1つの液槽5が形成されていたが、これとは異なっている)。
更に図示例の表面処理装置1は、水平搬送方式よりなっていたが、本発明はこれに限定されるものではなく、傾斜搬送方式や垂直搬送方式にも適用される。すなわち本発明は、コンベア3が液中で基板材Eを、水平ではなく斜傾して搬送したり、垂直で搬送する方式にも適用可能である。その場合、スプレー管9,スプレーノズル4,吸引器15,隔壁18等も、傾斜姿勢や垂直姿勢で搬送される基板材Eに対応位置すべく配設される。
図1〜図3中、22は、貯槽6からスプレー管9の途中に介装された給液管であり、23は、給液管22から各スプレー管9へと処理液Fを供給する縦管である。
本発明の表面処理装置1は、このようになっている。
<Others>
Now, the
Further, in the
Furthermore, although the
In FIG. 1 to FIG. 3,
The
《作用等》
本発明の基板材の表面処理装置1は、以上説明したように構成されている。そこで、以下のようになる。
(1)この表面処理装置1は、電子回路基板Aの製造工程で使用される。すなわち、電子回路基板Aの製造工程の中核をなす現像工程,エッチング工程,剥離工程,又は洗浄工程において、現像装置,エッチング装置,剥離装置,又は洗浄装置として使用される。
《Action etc.》
The substrate material
(1) The
(2)そして表面処理装置1は、基板材Eを処理液Fにて表面処理する。すなわち、基板材Eを液槽5内でコンベア3にて液中搬送,端面搬送しつつ、スプレーノズル4から、現像液,エッチング液,剥離液,又は洗浄液等の処理液Fを液中噴射し、もって基板材Eを回路B形成用に表面処理する(図5の(2)図,図6,図7を参照)。
(2) And the
(3)さて、この表面処理装置1において、各スプレーノズル4からプレート19のノズル孔20を介し基板材Eに向けて液中噴射された処理液Fは、→基板材Eを表面処理した後、→基板材Eから反射されて跳ね返り、→基板材E付近からプレート19の各吸引孔21を介し、吸引器15の吸引パイプ17へ向け、吸引される(図1〜図4を参照)。
(3) Now, in this
(4)この吸引器15は、各スプレー管9相互の前後方向(搬送方向)Cの前後間隔中央の上下位置に設けられており、各吸引器15間には隔壁18が設けられている。このような位置関係と隔壁18の存在により、上述した吸引器15に向けた処理液Fの流れが整流され、スムーズかつ確実に形成されるようになる(図1〜図3を参照)。
(4) The
(5)又、吸引器15の処理液F吸引量は、スプレーノズル4の処理液F噴射量に対応可能となっており、この面からも、上述した吸引器15に向けた処理液Fの流れが、スムーズかつ確実に形成されるようになる。
但し、上述した液中吸引量と液中噴射量とが、完全一致している必要はなく、多くの場合は液中噴射量の方が多少多くなっている。そして、余剰分となった処理液Fは、液槽5からオーバーフローKして(図1を参照)、貯槽6に回収されるようになっている(図7を参照)。
つまり、スプレーノズル4から液中噴射された処理液Fは、→その大部分が液槽5中の処理液F中に吸収されるが、→このように液中噴射分を吸収した液槽5中の処理液Fは、→吸引器15が、スプレーノズル4からの液中噴射量にほぼ見合った処理液Fを、順次吸引するので、→残余の余剰分となった処理液Fのみが、オーバーフローKされることになる。
(5) Further, the processing liquid F suction amount of the
However, the above-described suction amount in liquid and the injection amount in liquid do not need to completely match, and in many cases, the injection amount in liquid is slightly larger. The surplus treatment liquid F overflows K from the liquid tank 5 (see FIG. 1) and is collected in the storage tank 6 (see FIG. 7).
That is, most of the processing liquid F sprayed in the liquid from the
(6)そこで、この表面処理装置1では、基板材E表面に、絶えず新鮮な処理液Fが供給されるようになる。すなわち、基板材E表面に向け液中噴射された処理液Fは、基板材E表面の処理反応後、直ちに基板材E付近から吸引,排出,除去される。そして、次に液中噴射された新鮮な処理液Fが、これに代わって、基板材Eを表面処理するようになり、もって基板材Eの表面処理が促進される。
(6) Therefore, in the
(7)表面処理後の処理液Fは、乱流する前や液溜まりする前に、吸引,排出,除去される。処理液Fが、基板材E表面を搬送方向(前後方向)Cに乱流となって流れたり、基板材E表面中央部等に澱んだ液溜まりとなって滞留することは、解消される。 (7) The treatment liquid F after the surface treatment is sucked, discharged, and removed before turbulent flow and before the liquid pools. The processing liquid F is prevented from flowing as a turbulent flow in the transport direction (front-rear direction) C on the surface of the substrate material E or staying as a liquid pool stagnating at the center of the surface of the substrate material E.
(8)さて、このようにして、スプレーノズル4から液中噴射された処理液Fについて、均一な更新が促進され、乱流や液溜まり発生は回避される。従って、基板材Eの回路形成面Gの表面処理に、バラツキ,過不足,遅速箇所等が発生することもなく、均一な表面処理そして均一な回路形成が実現される。
(8) Now, in this way, uniform renewal of the processing liquid F injected from the
(9)図5の(2)図に示したように、電子回路基板Aの回路Bは、縦方向(前後方向C)、横方向(左右方向D)、斜め方向等に形成されるが、これらの各回路幅が均一化されるようになる。乱流に起因して、縦方向の回路Bが大きくなったり、液溜まりに起因して、中央部の回路Bが細くなったりする、回路幅の不均一現象は確実に防止される。
更に、吸引器15が処理液Fを、順次左右交互に吸収するので、この面からも、均一な吸引,更新,そして回路幅が、一段と確実に実現されるようになる。左又は右に偏った更新は回避され、形成される回路Bの左側又は右側のみが集中的に表面処理されてしまう事態発生は防止される。
本発明の作用等は、このようになっている。
(9) As shown in FIG. 5 (2), the circuit B of the electronic circuit board A is formed in the vertical direction (front-rear direction C), the horizontal direction (left-right direction D), the diagonal direction, etc. These circuit widths are made uniform. Due to the turbulent flow, the circuit B in the vertical direction becomes large, or the circuit B in the central portion becomes thin due to the liquid pool, so that the circuit width nonuniformity phenomenon can be reliably prevented.
Furthermore, since the
The operation of the present invention is as described above.
1 表面処理装置
2 処理室
3 コンベア
4 スプレーノズル
5 液槽
6 貯槽
7 フレーム区画壁
8 搬送ローラー
9 スプレー管
10 ポンプ
11 配管
12 軸
13 ギア
14 駆動軸
15 吸引器
16 吸引スリット孔
17 吸引パイプ
18 隔壁
19 プレート
20 ノズル孔
21 吸引孔
22 給液管
23 縦管
A 電子回路基板
B 回路
C 搬送方向(前後方向)
D 左右方向
E 基板材
F 処理液
G 回路形成面
H 両側端面
J 上下方向
K オーバーフロー
DESCRIPTION OF
D Left-right direction E Substrate material F Processing solution G Circuit forming surface H Both end surfaces J Vertical direction K Overflow
Claims (7)
更に該液槽内に、該スプレーノズルから液中噴射された処理液を、該基板材の表面処理後直ちに吸引する吸引器が設けられており、もって該基板材について、処理液更新の均一化,表面処理の均一化,回路の均一化が促進されること、を特徴とする基板材の表面処理装置。 A substrate material surface treatment apparatus used in a manufacturing process of an electronic circuit board, a liquid tank filled with a processing liquid, a conveyor for transporting the substrate material in liquid in the liquid tank, and the liquid tank A spray nozzle for injecting a processing liquid into the substrate material in the liquid,
Furthermore, a suction device is provided in the liquid tank for sucking the processing liquid sprayed from the spray nozzle in the liquid immediately after the surface treatment of the substrate material. Surface treatment apparatus for substrate material, characterized in that uniform surface treatment and uniform circuit are promoted.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008205434A JP2010040982A (en) | 2008-08-08 | 2008-08-08 | Equipment for treating board material surface |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008205434A JP2010040982A (en) | 2008-08-08 | 2008-08-08 | Equipment for treating board material surface |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010040982A true JP2010040982A (en) | 2010-02-18 |
Family
ID=42013169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008205434A Pending JP2010040982A (en) | 2008-08-08 | 2008-08-08 | Equipment for treating board material surface |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010040982A (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001123282A (en) * | 1999-10-20 | 2001-05-08 | O K Print:Kk | Etching apparatus |
JP2004313827A (en) * | 2003-04-11 | 2004-11-11 | Tokyo Kakoki Kk | Surface treatment apparatus |
JP2008034436A (en) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Fuji Kiko:Kk | Etching device |
JP2008085119A (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Tokyo Kakoki Kk | Chemical treatment device |
-
2008
- 2008-08-08 JP JP2008205434A patent/JP2010040982A/en active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001123282A (en) * | 1999-10-20 | 2001-05-08 | O K Print:Kk | Etching apparatus |
JP2004313827A (en) * | 2003-04-11 | 2004-11-11 | Tokyo Kakoki Kk | Surface treatment apparatus |
JP2008034436A (en) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Fuji Kiko:Kk | Etching device |
JP2008085119A (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Tokyo Kakoki Kk | Chemical treatment device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100713235B1 (en) | Apparatus for treating surface of thin plate | |
JP2008085119A (en) | Chemical treatment device | |
JP2012186325A (en) | Substrate processing apparatus with non-contact floating conveyance function | |
JP6189279B2 (en) | Etching equipment | |
JP4015667B2 (en) | Plating substrate etching equipment | |
TWI327450B (en) | Conveyer for surface treatment | |
JP2005322779A (en) | Surface processor for substrate material | |
JP2000237649A (en) | Apparatus for treating chemical liquid | |
JP5166367B2 (en) | Substrate material surface treatment equipment | |
JP2850118B2 (en) | Transport processing equipment | |
TW556459B (en) | Substrate processing equipment | |
JP2011023378A (en) | Surface treatment device of substrate material | |
JP2010040982A (en) | Equipment for treating board material surface | |
TW595285B (en) | The substrate treating device | |
JP2005232494A (en) | Surface treating apparatus for base board material | |
JP2006239501A (en) | Chemical treatment device | |
JP2003218497A (en) | Substrate processing apparatus | |
JP2010199455A (en) | Surface treating apparatus for substrate material | |
JP2008227195A (en) | Liquid processing unit | |
TWI229048B (en) | Transportation device for substrate materials | |
JP7237670B2 (en) | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD | |
JP2008013270A (en) | Surface treatment device of flexible substrate material | |
JP3939290B2 (en) | Spacer tape cleaning apparatus and spacer tape cleaning method | |
JP2015084407A (en) | Surface treatment device of substrate material | |
JP2007109987A (en) | Substrate etching apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110405 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20120517 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20120612 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20121127 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |