JP2010032342A - 斜入射干渉計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定面Sの法線に対して斜め方向から可干渉光を照射して、被測定面Sから反射された測定光を参照光と干渉させて被測定面Sの形状を測定する斜入射干渉計1において、可干渉光を照射する光源11と、光源11からの可干渉光を、偏光方向が互いに直交する測定光と参照光とに分割する光束分割部14と、光束分割部14により分割された測定光を折り曲げて被測定面Sに対して所定角度で入射させる第1光束折り曲げ部15と、被測定面Sで反射した測定光を折り曲げる第2光束折り曲げ部16と、第2光束折り曲げ部16により折り曲げられた測定光と参照光とを合成する光束合成部17と、を備える。
【選択図】図1
Description
図4に、かかる斜入射干渉計4の構成例を示す。斜入射干渉計4は、照射部100Aと検出部300とを備えて構成されている。照射部100Aは、光源101、レンズ102,103、光束分割素子104、光束合成素子105、及び入射した光の偏光面を回転させる素子106を備えている。また、検出部300は、1/4波長板301、レンズ302、三分割プリズム303、偏光板304A〜304C、及び撮像素子305A〜305Cを備えている。
光源101から照射された光は、レンズ102,103を介して光束分割素子104に入射し、2つの光束に分割される。この分割された光束の一方を測定対象物200の表面に斜め方向から照射させる。そして、この測定対象物200からの反射光と、光束分割素子104により分割され素子106により偏光面の回転されたもう一方の光束と、を光束合成素子105により合成させる。この合成された光束は、1/4波長板301、レンズ302、三分割プリズム303、及び偏光板304A〜304Cからなる光学系により位相がシフトされて干渉縞が発生し、撮像素子305A〜305Cにより干渉縞が撮像される。
この斜入射干渉計5は、三角プリズム107を透過させて対象物にレーザ光を照射し、三角プリズム107の底面の偏光板108での反射光と、測定対象物200表面での反射光とを干渉させるものである。
また、図5に示す斜入射干渉計5の場合、参照光の消光比があまり高くないことから干渉縞画像のS/N比が低く、測定精度が良好でないという問題があった。
このように、従来の斜入射干渉計において、装置の小型化を実現しつつ測定精度を良好にするのは困難であるという問題があった。
被測定面の法線に対して斜め方向から可干渉光を照射して、被測定面から反射された測定光を参照光と干渉させて被測定面の形状を測定する斜入射干渉計において、
前記可干渉光を照射する光源と、
前記光源からの可干渉光を、偏光方向が互いに直交する前記測定光と前記参照光とに分割する光束分割部と、
前記光束分割部により分割された測定光を折り曲げて被測定面に対して所定角度で入射させる第1光束折り曲げ部と
被測定面で反射した前記測定光を前記参照光に向けて折り曲げる第2光束折り曲げ部と、
前記第2光束折り曲げ部により折り曲げられた前記測定光と前記参照光とを合成する光束合成部と、
を備えることを特徴とする。
前記光束分割部と前記第1光束折り曲げ部同士、及び前記光束合成部と前記第2光束折り曲げ部同士は、各々近接して配置され、
前記第1光束折り曲げ部により折り曲げられた前記測定光は、再び前記光束分割部を透過して前記被測定面に入射するように構成され、
前記被測定面を反射した前記測定光は、前記光束合成部を透過した後、前記第2光束折り曲げ部により折り曲げられ、再び、前記光束合成部に入射されるように構成されていることを特徴とする。
前記光束分割部と前記第1光束折り曲げ部同士、及び前記光束合成部と前記第2光束折り曲げ部同士は、各々単一の光学素子により構成されていることを特徴とする。
前記光束分割部及び前記光束合成部は、偏光ビームスプリッタであることを特徴とする。
前記単一の光学素子は、光学くさびであることを特徴とする。
前記光束合成部に合成された合成光を複数の分割光に分割する第2光束分割部と、
前記第2光束分割部により分割された前記複数の分割光の各々により形成される複数の干渉縞画像をそれぞれ撮像する複数の撮像部と、
前記第2光束分割部の入射側に設けられた1/4波長板と、
前記複数の撮像部の各撮像面側に設けられ、互いの偏光軸を異ならせて配置された複数の偏光板と、
をさらに備えることを特徴とする。
また、第1光束折り曲げ部及び第2光束折り曲げ部により、測定光の光路を変更することができるため、装置を小型化することができる。
従って、装置の小型化と測定精度とを両立させた斜入射干渉計とすることができる。
図1は、実施形態1の斜入射干渉計1の概略構成を示す図である。
図1に示すように、斜入射干渉計1は、照射部10、及び検出部30を備えて構成されている。
また、光源11としては、例えば、He−Neレーザ等、良好な可干渉性を有し、斜入射干渉計の光学系に入射した際にp偏光とs偏光の成分比が時間的に変化しないレーザ光を出射する光源などが好ましい。
光源11から照射された光は、レンズ12、13によってビーム径がより大きな平行光とされた後、光束分割部14に入射される。
具体的には、光束分割部14は、例えば、偏光ビームスプリッタなどで構成されている。
偏光ビームスプリッタは、例えば、2枚の板状の光学ガラス板で偏光依存性を持つ偏光膜を挟んで構成されている。偏光膜は、平行光のうちS波偏光成分を反射してP波偏光成分を透過させる光学特性を有しており、この偏光膜に斜めに入射する光のうち、P偏光を透過させ、S偏光を反射することによって、両偏光に分割する。従って、偏光ビームスプリッタは、様々な偏光成分を有する入射光を、偏光膜において、偏光方向が互いに直交する2つの分割光(垂直直線偏光、水平直線偏光)に分割する。
なお、光束分割部14として、光学ガラスで形成された2個の直角プリズムで上記偏光膜を挟んで形成した直方体の偏光ビームスプリッタを用いてもよい。
具体的には、第1光束折り曲げ部15は、光束分割部14からの測定光を被測定面Sの法線に対して所定の入射角度θ1で入射させるように設定されている。この入射角度θ1は、第1光束折り曲げ部15の被測定面Sに対する傾き(以下、設置角度θ2という。)を変更することで調整することができるようになっている。
すなわち、設置角度θ2を小さくした場合には入射角度θ1が大きくなり、設置角度θ2を大きくした場合には入射角度θ1が小さくなる。
このとき、測定対象物20を載置した試料台(図示せず)は昇降可能となっており、被測定面S上の光の入射位置を調整することができるようになっている。
具体的には、第2光束折り曲げ部16は、測定対象物20により反射された測定光を、光束合成部17によって反射された参照光の光軸と測定光の光軸が重なるように光束合成部17に向かって反射させる。
また、第2光束折り曲げ部16も第1光束折り曲げ部15と同様に、被測定面Sに対する傾き(設置角度θ3)を設定することができる。
なお、第1光束折り曲げ部15及び第2光束折り曲げ部16は、高さ方向の設置位置を変更させる構成としても良い。
このように構成した場合には、例えば、設置角度θ2、θ3を大きくした場合には設置位置を高くし、設置角度θ2、θ3を小さくした場合には設置位置を低くすることで、設置角度θ2、θ3に因らず、被測定面Sの同じ位置に光が入射されるように調整することができる。
具体的には、光束合成部17は、例えば、光束分割部14と同様の偏光ビームスプリッタなどで構成されており、測定光と参照光とを互いの光軸が重なるように合成し、この合成波を検出部30に送り込む。
1/4波長板31は、三分割プリズム33の入射側に配置され、光束合成部17からの合成光を円偏光に変換する。
三分割プリズム33は、例えば、3つのプリズムの平面を貼り合わせて形成されており、プリズム張り合わせ面において光を反射及び透過させることで上記合成光を3つの分割光に分割する。
偏光板34A〜34C及び撮像素子35A〜35Cは、三分割プリズム33により互いに異なる3方向に分割された光にそれぞれ対応するよう設置されている。偏光板34A〜34Cは、偏光軸の方向を互いに異ならせて配置されており、偏光板34A〜34Cを透過して互いに異なる量だけ位相をシフトさせられた干渉縞の干渉縞画像が撮像素子35A〜35Cにより撮像されるようになっている。
光源11は、光束分割部14に向かって可干渉光を出射する。
光源11から照射された光は、レンズ12,13を介して平行光束となり光束分割部14に入射される。入射された光は、光束分割部14により偏光方向が互いに直交する2つの偏光光束に分割され、それぞれ、第1光束折り曲げ部15及び光束合成部17に向かって直進する。
この分割された光束の一方は測定光として利用され、第1光束折り曲げ部15により折り曲げられ、測定対象物20の被測定面Sに対して所定角度を持って照射される。被測定面Sにより反射された測定光は、第2光束折り曲げ部16によって再度折り曲げられて光束合成部17に入射する。
一方、光束分割部14により分割された光束の他方は参照光として利用され、光束合成部17に入射する。
そして、第2光束折り曲げ部16からの測定光と、光束分割部14からの参照光とは光束合成部17により合成される。
すなわち、光源からの光を光束分割部14により偏光方向が互いに直交する2つの光に分割し、一方を測定光とし、他方を参照光として使用した光学系であるため、消光比が高くS/N比の高い干渉縞を得ることができ、測定を高精度化することができる。また、第1光束折り曲げ部及び第2光束折り曲げ部により、測定光の光路を変更することができるため、装置を小型化することができる。
よって、装置の小型化と測定精度とを両立させた斜入射干渉計とすることができる。
また、被測定面Sの上方に光学素子が配置されない光学系であるため、使用する光学素子の配置の自由度が高まり、各光学素子の設置の厳しさに起因する装置破損の危険性を小さくすることができ、実用性及び使い勝手を向上させることができる。
このため、干渉縞を位相シフト法で解析するために必要な3枚以上の干渉画像を、機械的な可動部分を持たせることなく瞬時に取り込むことができ、振動や空気の揺らぎの影響が低減され測定のロバスト性が向上させることができる。
次に、本発明の実施形態2について実施形態1と異なる点を中心に説明し、同じ箇所には実施形態1と同一の符号を付して説明を省略する。
図2は、実施形態1の斜入射干渉計2の概略構成を示す図である。
図2に示すように、斜入射干渉計2は、光束分割部14と第1光束折り曲げ部15同士、光束合成部17と第2光束折り曲げ部16同士が、各々近接して配置されており、測定光は、光束分割部14及び光束合成部17を複数回透過するようになっている。
また、被測定面Sから反射した測定光は、先ず光束合成部17を透過した後に第2光束折り曲げ部16により折り曲げられ、再び、光束合成部17に入射され、参照光と重ね合わされる。その後、実施形態1と同様に検出部30へと取り込まれる。
従って、実施形態2の光路配置では、測定光が光束分割部14及び光束合成部17をそれぞれ2回(計4回)透過することとなり、このため、光束分割部14及び光束合成部17の性能に起因した測定光に含まれる望まない偏光成分(ノイズ)の割合が低減される。
なお、実施形態1と同様に、被検面への測定光の入射角度は調整することができるように構成されている。
また、光束分割部14と第1光束折り曲げ部15との距離、及び光束合成部17及び第2光束折り曲げ部16との距離が短くなるため、装置全体をより小型化することができると共に、参照光及び測定光の距離が近くなるため空気揺らぎの影響も低減することができる。
次に、本発明の実施形態3について実施形態1と異なる点を中心に説明し、同じ箇所には実施形態2と同一の符号を付して説明を省略する。
図3は、実施形態3の斜入射干渉計3の概略構成を示す図である。
図3に示すように、斜入射干渉計3は、光束分割部14と第1光束折り曲げ部15同士、光束合成部17と第2光束折り曲げ部16同士が、各々単一の光学素子により構成されている。ここで、単一の光学素子としては、例えば、一面がその一面と対向する他面に対してわずかに傾斜した、くさび状の素子(以下、光学くさびという。)が用いられる。
光学くさび18は、その上面18aが光束分割部を構成し、その下面18bが第1光束折り曲げ部を構成している。
光学くさび19は、その上面19aが光束合成部を構成し、その下面19bが第2光束折り曲げ部を構成している。
また、被測定面Sから反射した測定光は、先ず光学くさび19の上面19aを透過した後に下面19bにより折り曲げられ、再び、上面19aに入射され、参照光と重ね合わされる。その後、実施形態1、2と同様に検出部30へと取り込まれる。
このため、被測定面Sの表面性状が既知でおおよそ一定の場合、被測定面Sに対する最適な入射角を選択的に固定することができる。
10 照射部
11 光源
12,13 レンズ
14 光束分割部
15 第1光束折り曲げ部
16 第2光束折り曲げ部
17 光束合成部
18 光学くさび
20 測定対象物
S 被測定面
30 検出部
31 波長板
32 レンズ
33 三分割プリズム
34A〜34C 偏光板
35A〜35C 撮像部
Claims (6)
- 被測定面の法線に対して斜め方向から可干渉光を照射して、被測定面から反射された測定光を参照光と干渉させて被測定面の形状を測定する斜入射干渉計において、
前記可干渉光を照射する光源と、
前記光源からの可干渉光を、偏光方向が互いに直交する前記測定光と前記参照光とに分割する光束分割部と、
前記光束分割部により分割された測定光を折り曲げて被測定面に対して所定角度で入射させる第1光束折り曲げ部と
被測定面で反射した前記測定光を前記参照光に向けて折り曲げる第2光束折り曲げ部と、
前記第2光束折り曲げ部により折り曲げられた前記測定光と前記参照光とを合成する光束合成部と、
を備えることを特徴とする斜入射干渉計。 - 前記光束分割部と前記第1光束折り曲げ部同士、及び前記光束合成部と前記第2光束折り曲げ部同士は、各々近接して配置され、
前記第1光束折り曲げ部により折り曲げられた前記測定光は、再び前記光束分割部を透過して前記被測定面に入射するように構成され、
前記被測定面を反射した前記測定光は、前記光束合成部を透過した後、前記第2光束折り曲げ部により折り曲げられ、再び、前記光束合成部に入射されるように構成されていることを特徴とする請求項1記載の斜入射干渉計。 - 前記光束分割部と前記第1光束折り曲げ部同士、及び前記光束合成部と前記第2光束折り曲げ部同士は、各々単一の光学素子により構成されていることを特徴とする請求項2記載の斜入射干渉計。
- 前記光束分割部及び前記光束合成部は、偏光ビームスプリッタであることを特徴とする請求項1又は2に記載の斜入射干渉計。
- 前記単一の光学素子は、光学くさびであることを特徴とする請求項3に記載の斜入射干渉計。
- 前記光束合成部に合成された合成光を複数の分割光に分割する第2光束分割部と、
前記第2光束分割部により分割された前記複数の分割光の各々により形成される複数の干渉縞画像をそれぞれ撮像する複数の撮像部と、
前記第2光束分割部の入射側に設けられた1/4波長板と、
前記複数の撮像部の各撮像面側に設けられ、互いの偏光軸を異ならせて配置された複数の偏光板と、
をさらに備えることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の斜入射干渉計。
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JP2008194382A JP2010032342A (ja) | 2008-07-29 | 2008-07-29 | 斜入射干渉計 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010032342A true JP2010032342A (ja) | 2010-02-12 |
Family
ID=41137779
Family Applications (1)
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Country Status (3)
Country | Link |
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US (1) | US20100027028A1 (ja) |
EP (1) | EP2149777A3 (ja) |
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EP2538169A2 (en) | 2011-06-24 | 2012-12-26 | Mitutoyo Corporation | Grazing incidence interferometer |
JP2013007662A (ja) * | 2011-06-24 | 2013-01-10 | Mitsutoyo Corp | 斜入射干渉計 |
US8913250B2 (en) | 2011-06-24 | 2014-12-16 | Mitutoyo Corporation | Grazing incidence interferometer |
JP2015155865A (ja) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | 株式会社ミツトヨ | 斜入射干渉計 |
US9644941B2 (en) | 2014-02-21 | 2017-05-09 | Mitutoyo Corporation | Grazing incidence interferometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2149777A2 (en) | 2010-02-03 |
US20100027028A1 (en) | 2010-02-04 |
EP2149777A3 (en) | 2010-07-28 |
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A977 | Report on retrieval |
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