JP2015155865A - 斜入射干渉計 - Google Patents
斜入射干渉計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015155865A JP2015155865A JP2014031522A JP2014031522A JP2015155865A JP 2015155865 A JP2015155865 A JP 2015155865A JP 2014031522 A JP2014031522 A JP 2014031522A JP 2014031522 A JP2014031522 A JP 2014031522A JP 2015155865 A JP2015155865 A JP 2015155865A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measurement
- unit
- amount
- reference light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02022—Interferometers characterised by the beam path configuration contacting one object by grazing incidence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2441—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02062—Active error reduction, i.e. varying with time
- G01B9/02067—Active error reduction, i.e. varying with time by electronic control systems, i.e. using feedback acting on optics or light
Abstract
Description
この斜入射干渉計では、光源からの光を参照光と測定光に分離し、測定光を被測定面に対して斜めから入射させる。そして、被測定面で反射された測定光と参照光とを合成し、その干渉縞を観察し、位相シフト法を用いて被測定面の表面形状を測定する。
このような構成では、λ/2板を回転させることで、光源からの光に含まれる各直線偏光方向の成分比率が変化するので、光分割部により分割された測定光及び参照光の光量比率も変化する。以上のような構成では、簡素な構成で、測定光及び参照光の光量比率を容易に変更することができる。
被測定面に加工痕がある場合、測定光の反射光の光量が著しく変化し、上記発明のように、測定光と参照光との比率を変更しても十分な干渉縞が得られず、測定精度の向上を十分に図れない場合がある。これに対して、本発明では、上記のような場合に、光源の光量を増加させることができる。また、測定光の光量が大きすぎる場合では、受光部において測定光及び参照光の合成光を受光した際に、飽和受光量に達する場合がある。これに対して、本発明では、光源制御部は、測定光の光量に応じて光源から出射される光の光量を減少させることができる。以上のように、本発明では、測定光の光量をより精度よく制御することができ、測定精度のさらなる向上を図れる。
本発明では、参照光の光量を検出して、その光量に基づいて参照光の光量を減少させる減光フィルター(NDフィルター)を制御する。本発明では、例えば、参照光の光量が測定光の光量に対して著しく大きくなりすぎた場合等に、参照光の光量を適正値に制御できる。例えば、上述のように、光源を制御して測定光の光量の増大した場合では、測定光だけでなく参照光の光量も増大するため、受光部において飽和受光量に達する場合がある。これに対して、本発明では、参照光の光量を減退させることで、受光部において飽和受光量を超える不都合を回避できる。
前記参照光量検出部は、前記受光部における光受光領域のうち、前記測定光遮光部に対応した領域の光量を検出することが好ましい。
本発明では、測定光の一部を測定光遮光部により遮光する。これにより、光合成部により測定光と参照光とを合成した際に、測定光遮光部に対応する領域には測定光と参照光とが合成されず、参照光のみが受光部により受光されることになる。したがって、この領域における光量を測定することで、例えば参照光を検出するための検出センサー等を別途設ける必要なく、簡素な構成で、参照光の光量を検出することができる。
本発明では、参照光を分離させたうえで、その光量を参照光検出センサーにより測定する。したがって、例えば測定光の一部を遮光する測定光遮光部を設ける構成等に比べ、測定領域の減少を抑えることができる。
本発明では、測定対象をステージに載置し、回転駆動部を回転させることで、被測定面の形状測定を連続的に行うことができる。このような構成では、連続測定により得られた測定面の形状を繋ぎあわせることで、被測定面におけるより広範囲な領域の形状測定を実施できる。
以下、本発明に係る第一実施形態について、図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の第一実施形態に係る斜入射干渉計の概略構成を示す図である。
本実施形態の斜入射干渉計1は、照射部10、検出部20、載置部30と、及び制御装置40により構成されている。
照射部10は、光源11と、レンズ12,13と、偏光板14と、第一ミラー15と、比率変更部16と、光分割部である第一偏光ビームスプリッター17と、第二ミラー18と、を備えている。
光源11は、レーザ光源であり、可干渉光を出射する。光源11からの出射光は、レンズ12,13により所定幅の平行光束にされ、偏光板14に入射される。
偏光板14は、入射光から所定の第一直線偏光方向(例えばP偏光)の光を透過させ、第一直線偏光方向に直交する第二直線偏光方向(例えばS偏光)の光を遮光する。なお、本実施形態では、偏光板14を例示するが、例えば、入射光を所定の第一直線偏光方向の光に揃える(第一直線偏光方向の光をそのまま透過させ、第二直線偏光方向の光を第一直線偏光方向に変換して出射させる)偏光変換素子を用いてもよい。また、偏光板14が設けられない構成などとしてもよい。
第一ミラー15は、偏光板14を透過した光を比率変更部16に向かって反射する。
λ/2板161に入射される光は、偏光板14によりP偏光に揃えられているが、このλ/2板161が回転されることで、回転量に応じて、偏波面が回転する。
λ/2板161を透過した光は、第一偏光ビームスプリッター17に入射される。この第一偏光ビームスプリッター17は、入射光をその偏波面に応じてP偏光の測定光と、S偏光の参照光とに分割し、測定光を第二ミラー18に向かって、また、参照光を検出部20の第二偏光ビームスプリッター22に向かって出射する。
第二ミラー18は、測定光が、測定対象Aの被測定面の法線方向に所定角度をもって照射されるように配置されている。
第三ミラー21は、測定対象Aの被測定面で反射された測定光を、第二偏光ビームスプリッター22に向かって反射する。
第二偏光ビームスプリッター22は、第三ミラー21からの測定光と、第一偏光ビームスプリッター17からの参照光とを合成する。合成された光(合成光)は、レンズ23を介して撮像カメラ24に入射され、撮像カメラ24にて撮像画像が撮像される。撮像された撮像画像(画像信号)は、制御装置40に入力される。なお、撮像カメラ24としては、例えば特開2008−32690等に記載された構成を利用できる。
ステージ31は、測定対象Aを載置する台座部である。
回転駆動部32は、制御装置40の制御によりステージ31を回転駆動させる。回転駆動部32としては、例えばステップモーターを備え、ステップモーターを1ステップ分駆動させることで、所定角度ステージ31が回転される構成等が例示できる。
図2は、ステージに載置された測定対象Aと、測定光の照射エリアArを示す図である。
図2に示すように、本実施形態では、回転駆動部32が回転駆動されることで、図2(A)(B)(C)に示すように、被測定面に対する測定光の照射エリアArが変化する。本実施形態では、ステージ31を測定面内で回転させつつ、照射エリアArにおける干渉縞を観察することで、被測定面の広範囲に亘って表面形状の測定を実施することができる。
画像取得部43は、撮像カメラ24で撮像された撮像画像を取得する。
コントラスト判定部44は、取得された撮像画像のコントラストを判定し、測定光の光量が基準値に対して所定閾値内であるか否かを判定する。なお、基準値は干渉縞の測定において、許容される誤差により適宜設定される。
形状解析部46は撮像画像の干渉縞を例えば位相シフト法等により解析することで、被測定面の表面形状を解析する。
次に、上記のような斜入射干渉計1を用いた測定対象Aの被測定面の形状測定方法について、図面に基づいて説明する。
図3は、本実施形態の斜入射干渉計1を用いた形状測定方法を示すフローチャートである。
本実施形態の斜入射干渉計1において、載置部30に測定対象Aを載置し、測定を開始すると、光源制御部41は、光源11を点灯させて可干渉光を出射させる。これにより、測定対象Aの被測定面にて反射された測定光と参照光とが合成された合成光が撮像カメラ24にて受光され、画像取得部43は、その撮像画像を取得する(ステップS1)。
つまり、撮像画像内の干渉縞において、最大輝度となる画素が複数隣接する場合、当該画素に対する受光量が飽和光量を超えているため、正確な干渉縞の測定ができず、形状測定の精度も低下する。また、sin波状の干渉縞が解析されたとしても、輝度が不十分である場合は、光量不足により形状測定における精度が低下する。したがって、コントラスト判定部44は、解析されたsin波関数の振幅が予め設定された所定レベル以上であり、かつ飽和受光量に対応した最大輝度未満となっているか否かを判定する。
この後、再びステップS1に戻る。
この後、ステージ制御部42は、回転駆動部32のステップモーターを1ステップ分駆動させ、ステージ31を回転させる(ステップS5)。この後、ステージ31の回転数を示す変数i(なお、iは、1〜Nの変数であり、初期値は1に設定され、i=N+1となる際にステージ31が360度分回転するものとする)がN以上であるかを判定する(ステップS6)。
本実施形態の斜入射干渉計1は、照射部10に回転機構162により回転可能に設けられたλ/2板161が設けられている。このような構成では、λ/2板161を所定量回転させることで、λ/2板161を透過する光のP偏光成分とS偏光成分との光量比率を変化させることができる。これにより、第一偏光ビームスプリッター17において分割される測定光の光量と参照光の光量との比率も変化する。
このため、測定対象Aの被測定面に加工痕等が存在し、被測定面にて反射される測定光の光量に異常が生じた場合でも、測定光と参照光との光量比率を調節できるので、測定光の光量異常による測定精度の低下を抑制でき、高精度な形状測定を実施できる。
このような構成では、λ/2板161により、可干渉光の偏波面を回転させることができる。このため、本発明の光分割部として第一偏光ビームスプリッター17を用いることで、容易に、かつ簡素な構成で測定光及び参照光の光量比率を変更できる。
このような構成では、取得画像に基づいて測定光の光量が測定精度に影響しない適切な値か否かを判定することが可能となり、例えば測定光の光量を検出するための光センサーを別途設ける必要がなく、簡素な構成で精度の高い形状測定を実施できる。
次に、本発明に係る第二実施形態について、図面に基づいて説明する。
上記第一実施形態では、取得された撮像画像における干渉縞のコントラストに基づいて、測定光の光量が適正であるか否かを判定した。しかしながら、撮像画像において、干渉縞が現れない状態(所謂、Null状態)となる場合があり、この場合、干渉縞のコントラストを精度よく判定することができない。これに対して、第二実施形態では、このようなNull状態となった場合でも、測定光の光量が適正であるか否かを判定可能となる点で上記第一実施形態と相違する。
本実施形態の斜入射干渉計1は、図4に示すように、参照光の光路上において、参照光の光束径を絞る開口部材19が設けられている。
この開口部材19は、遮光部材により構成され、参照光の主光軸と一致する光軸を有し、参照光の光束径よりも小さい開口寸法となる開口部191を有する。
したがって、本実施形態では、参照光のうち、開口部材19の開口部191を通過した光と、測定光とが合成されることになる。この場合、検出部20の撮像カメラ24において取得される撮像画像では、図5に示すように、中心部(干渉縞測定領域Ar1)に参照光と測定光との干渉縞が現れる。また、干渉縞測定領域Ar1の外側(測定光領域Ar2)には、参照光が入射されないので測定光のみが撮像されることになる。
本実施形態では、上記第一実施形態におけるステップS2の処理において、測定光判定部47により、測定光領域Ar2における測定光の光量を検出し、当該測定光の光量が所定範囲内であるか否かを判定する。すなわち、本実施形態では、画像取得部43及び測定光判定部47により本発明の測定光量検出部が構成され、測定光領域Ar2における測定光の光量が検出される。そして、測定光の光量が所定範囲外である場合は、ステップS3の処理に進み、所定範囲内である場合はステップS4の処理に進む。
上述したように、干渉縞がNull状態である場合、干渉縞のコントラストを判定することが困難となる。これに対して、本実施形態では、測定光領域Ar2の光量による判定を実施するため、Null状態である場合でも測定光の光量が適正であるか否かを判定できる。
なお、上記第一実施形態と同様に、ステップS2において、干渉縞のコントラストを判定し、干渉縞のコントラストを判別不能である場合に、上述のように、測定光判定部47による測定光領域Ar2の光量の判定を実施してもよい。
また、本実施形態では、ステップS1の処理は、ステップS2において「Yes」と判定された場合に実施されてもよい。
本実施形態の斜入射干渉計1Aでは、上記のように、参照光の一部を遮光する開口部材19を備えている。そして、測定光判定部47は、開口部材19により参照光の光が遮光された測定光領域Ar2の光量が適正であるか否かを判定する。
このため、本実施形態では、撮像画像における干渉縞測定領域Ar1において、干渉縞が発生しないNull状態の場合でも、測定光領域Ar2における光量に基づいて、測定光が適正であるか否かを判定することができる。また、測定光の光量を検出するための光センサーを別途設ける必要がなく、構成の簡略化を図れる。
次に、本発明に係る第三実施形態について、図面に基づいて説明する。
上記第二実施形態では、開口部材19により参照光の一部を遮光し、遮光した領域に対応する測定光領域Ar2により測定光の光量を検出した。この場合、参照光の一部が遮光されるため、参照光及び測定光が合成される干渉縞測定領域Ar1が小さくなる。これに対して、第三実施形態では、干渉縞測定領域Ar1の面積を縮小することなく測定光の光量を検出する点で上記第二実施形態と相違する。
図6に示すように、本実施形態の斜入射干渉計1Bでは、測定光の光路上に、測定光分離部25と、測定光検出センサー26とを備えている。本実施形態では、この測定光分離部25及び測定光検出センサー26により測定光量検出部が構成される。
測定光分離部25は、例えば、第三ミラー21及び第二偏光ビームスプリッター22との間に設けられたハーフミラー251と、集光レンズ252とを備える。ハーフミラー251は、第三ミラー21により反射された測定光の一部を集光レンズ252側に反射し、残りを第二偏光ビームスプリッター22側に透過させる。そして、ハーフミラー251により反射された光は、集光レンズ252により集光され、測定光検出センサー26により受光される。
そして、本実施形態の制御装置40は、測定光判定部47Aを備えている。つまり、第二実施形態における測定光判定部47は、ステップS2において、測定光判定部47が、画像取得部43が取得した撮像画像のうちの測定光領域Ar2に基づいて、測定光の光量を検出した。これに対して、本実施形態では、ステップS2において、測定光検出センサー26により測定光の光量を直接検出(測定)し、測定光判定部47Aは測定光検出センサー26から入力された信号値に基づき測定光の光量を取得する。
なお、本実施形態では、第三ミラー21及び第二偏光ビームスプリッター22との間に測定光分離部25を設けたが、例えば載置部30から第三ミラー21までの測定光の光路上に測定光分離部25を設ける構成などとしてもよい。
本実施形態では、参照光の一部を遮光することがない。したがって、測定光及び参照光が合成される干渉縞測定領域Ar1の面積が小さくならない。よって、本実施形態では、第一実施形態と同様の広い測定領域を維持した状態で、かつ、第二実施形態と同様、干渉縞がNull状態であっても測定光の光量異常を精度よく検出することが可能となる。
次に、本発明の第四実施形態について、図面に基づいて説明する。
上述した第一から第三実施形態では、干渉縞のコントラスト又は測定光の光量に基づいて適正な形状測定が実施可能であるか否かを判定した。しかしながら、被測定面の加工痕の状態や方向等によっては、測定光の光量がさらに低下してしまうことも考えられる。これに対して、本実施形態では、光源11の出射光の光量を制御することで、上記のような測定光の光量不足に対応する点で上記第一〜第三実施形態と相違する。
図7に示すように、本実施形態の斜入射干渉計1Cは、第三実施形態と同様、測定光の光路上に、測定光分離部25及び測定光検出センサー26を備えている。
また、本実施形態の斜入射干渉計1Cでは、さらに、参照光の光路上に参照光分離部27と、参照光検出センサー28とを備えている。すなわち、本実施形態では、参照光分離部27及び参照光検出センサー28により本発明の参照光量検出部が構成される。
参照光分離部27は、例えばハーフミラー271と、集光レンズ272とを備えて構成される。ハーフミラー271は、第一偏光ビームスプリッター17により分割された参照光の光路上に設けられ、参照光の一部を集光レンズ272側に反射し、残りを第二偏光ビームスプリッター22側に透過させる。そして、ハーフミラー271により反射された光は、集光レンズ272により集光され、参照光検出センサー28により受光される。
また、参照光の光路上には、NDフィルター29(可変減光フィルター)が設けられている。このNDフィルター29は、制御部の制御に基づいて、参照光の透過光量を調整する。
図8は、本実施形態における形状測定方法のフローチャートである。
図8に示すように、本実施形態では、第一から第三実施形態と同様、ステップS2の処理において、光量異常がないか否かを判定する。
そして、ステップS2において、Noと判定された場合、λ/2板161の回転数を示す変数j(なお、jは、1〜Mの変数であり、初期値は1に設定され、j=M+1において、λ/2板161が180度回転するものとする)が、最大値M以上となるか否かを判定する(ステップS11)。
ステップS11において、「No」と判定された場合は、ステップS3と同様、λ/2板161を1ステップ分回転させる(ステップS12)。この際、光量比率制御部45は、変数jに1を加算する。この後、ステップS1に戻る。
この場合、光源制御部41は、さらに、取得された撮像画像において、輝度値が最大輝度値(飽和受光量に対応した輝度値)となる画素が存在することにより、光量異常となったか否かを判定する(ステップS13)。
ステップS13において、「No」と判定された場合は、光量不足が考えられるため、光源制御部41は、光源11から出射させる光の光量を増大させる(ステップS14)。この後、ステップS1に戻る。
このステップS15で、「Yes」と判定された場合は、参照光の光量が大きいため、参照光制御部48は、参照光検出センサー28からの信号を参照しながら、NDフィルター29を制御して参照光の光量を減少させ(ステップS16)、ステップS1に戻る。
また、ステップS15において、「No」と判定された場合は、光源制御部41は、光源11を制御して、出射させる光の光量を小さくした(ステップS17)後、ステップS1に戻る。
本実施形態では、光源11から出射させる光の光量を変更可能であり、撮像画像において光量異常があり、かつ、光量不足と判定された場合に、測定光の光量を大きくする。このため、加工痕等によって測定光の反射光が減退した場合でも、光源11からの光量を大きくすることで、光量不足による干渉縞コントラストの低下を抑制でき、コントラスト低下による測定精度の低下も抑制できる。
上述にように、光源11からの光量を制御して、光量を増加させると、測定光の光量に加え、参照光の光量も増大する。この場合、参照光の光量が大きくなることで、撮像カメラ24における飽和受光量に達することがある。これに対して、本実施形態では、参照光検出センサー28により検出された参照光の光量に基づいて、NDフィルター29を制御するため、参照光の光量増大を抑制できる。これにより、測定精度の低下を抑制できる。
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、上記第四実施形態において、測定光検出センサー26を用いて測定光の光量を検出したが、第二実施形態に示すように、参照光の光路上に開口部材19を設け、参照光及び測定光が合成された合成光のうち、開口部材19により遮光された部分(測定光領域)に対応した各画素の光量に基づいて、測定光の光量を検出してもよい。また、第一実施形態のように、干渉縞のコントラストに基づいて、光量異常であるか否かを判定してもよい。
また、参照光の光路上に参照光遮光部である開口部材を設け、及び測定光の光量上に測定光遮光部である開口部材を設ける構成では、参照光遮光部及び測定光遮光部により遮光する領域をそれぞれ異ならせることが好ましい。例えば、参照光遮光部を、測定光遮光部の開口径よりも大きいリング状の第一参照光遮光部と、第一参照光遮光部の外周縁よりも大きい開口径を有する第二参照光遮光部とにより構成し、測定光遮光部の開口径を第一参照光遮光部の外周縁の口径と同じ寸法にする。これにより、撮像画像のうち中心部が干渉縞の画像が現れる干渉縞測定領域となり、測定領域の外が測定光のみが入射する環状の測定光領域となり、測定光領域の外が参照光のみが入射する環状の参照光領域となる。したがって、それぞれの領域の光量を測定することで、干渉縞による位相シフト法を用いた形状測定、測定光量測定、及び参照光測定が可能となる。
また、参照光の検出では、参照光分離部27、及び参照光検出センサー28を用い、測定光の検出では、第二実施形態と同様の参照光遮光部を用いてもよい。この場合、測定光の一部を測定光分離部25により分離させることがないので、測定光の光量低下をより抑制できる。
また、ステージ31を一方向に移動させる構成などとしてもよい。この場合、直線方向に沿って測定対象Aを移動させることで撮像画像を連続的に取得し、これらの撮像画像を繋ぎあわせることで広範囲に対する測定結果を得ることができる。
Claims (10)
- 被測定面の法線に対して斜め方向から測定光を照射して、被測定面から反射された測定光と参照光と干渉させて被測定面の形状を測定する斜入射干渉計であって、
光を照射する光源と、
前記光源からの光を前記参照光及び前記測定光に分割する光分割部と、
前記参照光及び前記測定光の光量比率を変更する比率変更部と、
前記参照光、及び前記被測定面で反射された前記測定光を合成する光合成部と、
前記参照光及び前記測定光の合成光を受光する受光部と、
を備えることを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項1に記載の斜入射干渉計において、
前記光分割部は、第一直線偏光方向の前記測定光と、前記第一直線偏光方向に直交する第二直線偏光方向の前記参照光とに分割し、
前記比率変更部は、前記光源からの光の主光軸を中心に回転可能に設けられたλ/2板を備えている
ことを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項1または請求項2に記載の斜入射干渉計において、
前記測定光の光量を検出する測定光量検出部と、
前記測定光の光量が所定範囲内となるように前記比率変更部を制御する光比率制御部と、
を備えていることを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項3に記載の斜入射干渉計において、
前記参照光の一部を遮光する参照光遮光部を備え、
前記測定光量検出部は、前記受光部における光受光領域のうち、前記参照光遮光部に対応した領域の光量を検出する
ことを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項3に記載の斜入射干渉計において、
前記測定光量検出部は、前記光分割部から前記光合成部までの前記測定光の光路上に設けられ、前記測定光の一部を分離する測定光分離部と、
前記測定光分離部により分離された前記測定光の一部の光量を検出する測定光検出センサーと、
を備えていることを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項3から請求項5のいずれかに記載の斜入射干渉計において、
前記測定光の光量に基づいて、前記光源から出射される光の光量を制御する光源制御部を備えている
ことを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項1から請求項6のいずれかに記載の斜入射干渉計において、
前記参照光の光量を検出する参照光量検出部と、
前記参照光の光量を調整可能な可変減光フィルターと、
前記参照光量検出部により検出された前記参照光の光量に基づき、前記可変減光フィルターによる減光量を制御する参照光制御部と、
を備えていることを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項7に記載の斜入射干渉計において、
前記測定光の一部を遮光する測定光遮光部を備え、
前記参照光量検出部は、前記受光部における光受光領域のうち、前記測定光遮光部に対応した領域の光量を検出する
ことを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項7に記載の斜入射干渉計において、
前記参照光量検出部は、前記光分割部から前記光合成部までの前記参照光の光路上に設けられ、前記参照光の一部を分離する参照光分離部と、
前記参照光分離部により分離された前記参照光の一部の光量を検出する参照光検出センサーと、
を備えていることを特徴とする斜入射干渉計。 - 請求項1から請求項9のいずれかに記載の斜入射干渉計において、
前記被測定面を有する測定対象を載置するステージと、
前記ステージを回転させる回転駆動部と、
を備えていることを特徴とする斜入射干渉計。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014031522A JP6345944B2 (ja) | 2014-02-21 | 2014-02-21 | 斜入射干渉計 |
US14/621,691 US9644941B2 (en) | 2014-02-21 | 2015-02-13 | Grazing incidence interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014031522A JP6345944B2 (ja) | 2014-02-21 | 2014-02-21 | 斜入射干渉計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015155865A true JP2015155865A (ja) | 2015-08-27 |
JP6345944B2 JP6345944B2 (ja) | 2018-06-20 |
Family
ID=53881894
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014031522A Active JP6345944B2 (ja) | 2014-02-21 | 2014-02-21 | 斜入射干渉計 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9644941B2 (ja) |
JP (1) | JP6345944B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020008348A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | Dmg森精機株式会社 | 測定装置 |
WO2020202547A1 (ja) * | 2019-04-05 | 2020-10-08 | 三菱電機株式会社 | 光距離測定装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6910238B2 (ja) | 2017-08-04 | 2021-07-28 | 株式会社ミツトヨ | 光学システム、光学装置及びプログラム |
DE102017218494B4 (de) * | 2017-10-17 | 2024-02-08 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Bearbeitungsvorrichtung und Verfahren zur insbesondere schweißenden Bearbeitung eines Werkstücks |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01100404A (ja) * | 1987-10-13 | 1989-04-18 | Topcon Corp | 光干渉計 |
JPH08313206A (ja) * | 1995-05-23 | 1996-11-29 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 斜入射干渉計装置 |
JP2006514303A (ja) * | 2004-04-05 | 2006-04-27 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 干渉測定装置 |
JP2009204512A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Canon Inc | 表面形状計測装置、露光装置、露光方法及びデバイス製造方法 |
JP2010032342A (ja) * | 2008-07-29 | 2010-02-12 | Mitsutoyo Corp | 斜入射干渉計 |
JP2010272655A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Canon Inc | 表面位置の測定装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
US20120140235A1 (en) * | 2010-12-06 | 2012-06-07 | Cheng-Chung Lee | Method for measuring the film element using optical multi-wavelength interferometry |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6721094B1 (en) * | 2001-03-05 | 2004-04-13 | Sandia Corporation | Long working distance interference microscope |
US7804864B2 (en) * | 2004-03-31 | 2010-09-28 | Imra America, Inc. | High power short pulse fiber laser |
DE102004017229A1 (de) * | 2004-04-05 | 2005-12-22 | Robert Bosch Gmbh | Interferometrisches System für den Einsatz von Sonderoptiken |
US7301644B2 (en) * | 2004-12-02 | 2007-11-27 | University Of Miami | Enhanced optical coherence tomography for anatomical mapping |
GB0515758D0 (en) * | 2005-07-30 | 2005-09-07 | Univ Hospital Of North Staffor | Improvements in and relating to optical coherence tomography |
US8233220B2 (en) * | 2006-03-24 | 2012-07-31 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Polarization nulling interferometry |
JP4897572B2 (ja) | 2006-06-30 | 2012-03-14 | 株式会社ミツトヨ | 斜入射干渉計 |
WO2009108543A2 (en) * | 2008-02-26 | 2009-09-03 | 3M Innovative Properties Company | Multi-photon exposure system |
US8208996B2 (en) * | 2008-03-24 | 2012-06-26 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Imaging of polarization scrambling tissue |
JP5626687B2 (ja) * | 2009-06-11 | 2014-11-19 | 国立大学法人 筑波大学 | 2ビーム型光コヒーレンストモグラフィー装置 |
JP5713545B2 (ja) * | 2009-08-05 | 2015-05-07 | 株式会社ミツトヨ | 斜入射干渉計 |
US20130162952A1 (en) * | 2010-12-07 | 2013-06-27 | Laser Light Engines, Inc. | Multiple Laser Projection System |
US8831056B2 (en) * | 2011-06-30 | 2014-09-09 | Oewaves, Inc. | Compact optical atomic clocks and applications based on parametric nonlinear optical mixing in whispering gallery mode optical resonators |
US9042963B2 (en) * | 2012-01-09 | 2015-05-26 | Given Imaging Ltd. | System and method for acquiring images from within a tissue |
US8879375B2 (en) * | 2012-04-02 | 2014-11-04 | Panasonic Corporation | Optical pickup and optical disk device |
-
2014
- 2014-02-21 JP JP2014031522A patent/JP6345944B2/ja active Active
-
2015
- 2015-02-13 US US14/621,691 patent/US9644941B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01100404A (ja) * | 1987-10-13 | 1989-04-18 | Topcon Corp | 光干渉計 |
JPH08313206A (ja) * | 1995-05-23 | 1996-11-29 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 斜入射干渉計装置 |
JP2006514303A (ja) * | 2004-04-05 | 2006-04-27 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 干渉測定装置 |
JP2009204512A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Canon Inc | 表面形状計測装置、露光装置、露光方法及びデバイス製造方法 |
JP2010032342A (ja) * | 2008-07-29 | 2010-02-12 | Mitsutoyo Corp | 斜入射干渉計 |
JP2010272655A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Canon Inc | 表面位置の測定装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
US20120140235A1 (en) * | 2010-12-06 | 2012-06-07 | Cheng-Chung Lee | Method for measuring the film element using optical multi-wavelength interferometry |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020008348A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | Dmg森精機株式会社 | 測定装置 |
JP7083282B2 (ja) | 2018-07-04 | 2022-06-10 | Dmg森精機株式会社 | 測定装置 |
WO2020202547A1 (ja) * | 2019-04-05 | 2020-10-08 | 三菱電機株式会社 | 光距離測定装置 |
JPWO2020202547A1 (ja) * | 2019-04-05 | 2021-09-30 | 三菱電機株式会社 | 光距離測定装置 |
KR20210119573A (ko) * | 2019-04-05 | 2021-10-05 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 광 거리 측정 장치 |
CN113677951A (zh) * | 2019-04-05 | 2021-11-19 | 三菱电机株式会社 | 光距离测定装置 |
CN113677951B (zh) * | 2019-04-05 | 2023-09-15 | 三菱电机株式会社 | 光距离测定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9644941B2 (en) | 2017-05-09 |
JP6345944B2 (ja) | 2018-06-20 |
US20150241201A1 (en) | 2015-08-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5607392B2 (ja) | 光干渉測定装置 | |
JP6345944B2 (ja) | 斜入射干渉計 | |
US10663281B2 (en) | Systems and methods for optimizing focus for imaging-based overlay metrology | |
TW201805593A (zh) | 同時捕捉來自多個目標之重疊信號 | |
JP2012018129A5 (ja) | 光断層撮像装置及び光断層撮像方法 | |
JP5308934B2 (ja) | 基板検査方法および基板検査装置 | |
JP2013061185A (ja) | パターン検査装置およびパターン検査方法 | |
JP2013195114A (ja) | 白色光干渉測定装置 | |
JP2002034919A (ja) | 眼光学特性測定装置 | |
KR20170054379A (ko) | 현미경 | |
JP5914850B2 (ja) | 3次元計測装置およびそれに用いられる照明装置 | |
JP2011133361A (ja) | 偏光状態取得装置、偏光状態取得方法、および、プログラム | |
JP2009025006A (ja) | 光学装置、光源装置及び光学式測定装置 | |
JP2001021810A (ja) | 干渉顕微鏡 | |
CN114467017A (zh) | 基于分束器的椭圆偏振仪聚焦系统 | |
JP2011135360A (ja) | システム、制御方法、および、プログラム | |
JP2008020231A (ja) | 光学主軸分布測定方法および光学主軸分布測定装置 | |
JPH08327453A (ja) | 偏光干渉計 | |
JPWO2019102609A1 (ja) | 監視装置 | |
JP2022154236A5 (ja) | ||
JP2007303904A (ja) | 表面検査装置 | |
US20140268173A1 (en) | Shape measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article | |
EP3738500A1 (en) | Confocal and multi-scatter ophthalmoscope | |
JP7318874B2 (ja) | 光測定装置 | |
WO2022220112A1 (ja) | 光測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170116 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171006 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171017 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180522 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180524 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6345944 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |