JP2010019667A - 画像計測装置及びコンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の異物による計測への影響を効率良く軽減して計測対象物を正確に計測することができる画像計測装置及びコンピュータプログラムを提供する。
【解決手段】撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段332と、画像データを取得する所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段336と、ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段333と、非載置状態又はステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、所定のタイミングにて取得した画像の画像データに基づいて異物の位置情報を検出する第二の検出手段334と、第一の検出手段333又は第二の検出手段334の選択を受け付ける選択受付手段とを備える。
【選択図】図2
【解決手段】撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段332と、画像データを取得する所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段336と、ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段333と、非載置状態又はステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、所定のタイミングにて取得した画像の画像データに基づいて異物の位置情報を検出する第二の検出手段334と、第一の検出手段333又は第二の検出手段334の選択を受け付ける選択受付手段とを備える。
【選択図】図2
Description
本発明は、撮像された画像データに基づいて、ステージ上のホコリ、キズ等による誤った計測値が生じるのを防止することができる画像計測装置及びコンピュータプログラムに関する。
従来から、計測対象物の形状を計測する装置として、ステージ上に載置した計測対象物に光を照射し、照射した光の透過光又は反射光を受光レンズにより、CCD(Charge Coupled Device)、CMOS(Complementary
Metal-Oxide Semiconductor)等の撮像素子に結像させて画像を取得し、取得した画像をコンピュータ処理することにより計測対象物の形状を計測する画像計測装置がある。
Metal-Oxide Semiconductor)等の撮像素子に結像させて画像を取得し、取得した画像をコンピュータ処理することにより計測対象物の形状を計測する画像計測装置がある。
計測対象物の形状の計測は、画像上で計測対象物と背景画像との境界部分(以下、エッジ部分)を検出することにより行われる。エッジ部分は、計測対象物の画素と背景画像画素との輝度値変化が激しい箇所である。画像データの中で、例えば隣接する画素間の輝度差が所定の値より大きい箇所(画素間)を、エッジ部分を示す複数のエッジ点として取得する。図17は、従来のホコリの存在下で取得された計測対象物20の画像の例示図である。図17に示すように、計測対象物20が載置されるステージ上にホコリが存在する場合、ホコリを示す画素の輝度値と背景画像を示す画素の輝度値との輝度差が所定の値より大きい箇所がエッジ点として処理される。したがって、計測対象物の周辺にホコリ、ステージガラスのキズ等が存在する場合、ホコリやキズをエッジとして検出することになり、計測対象物20の形状を誤って計測してしまうという問題がある。
上述のようにして取得した複数のエッジ点は、例えば最小二乗法のような回帰分析法によって近似することにより、例えば直線、円等の幾何学図形に近似され、近似された図形をエッジとして検出する。近似された幾何学図形の線から大きく外れる異常なエッジ点を除去(異常点除去)することにより、計測対象物からある程度離れて存在するホコリ、キズ等に起因して検出されるエッジ点は、計測点から除去することができる。
また、例えば特許文献1では、計測対象物を撮像した光強度分布に応じた電気信号を出力し、計測対象物の形状のエッジを電気信号に基づいて検出し、複数の検出済みのエッジ点に基づいて次のエッジ点を予測し、予測したエッジ点から所定の距離以上離れているエッジ点を計測点から外す画像測定機が開示されている。特許文献1では、予測したエッジ点から所定の距離以上離れた異常なエッジ点として検出されるホコリ、キズ等の影響を受けずに測定することができる。
特開2004−198258号公報
しかし、異常点を除去する場合、ホコリ、キズ等が計測対象物の近傍に存在するときには、ホコリ、キズ等として検出されるエッジ点を計測点から外すことができない。特許文献1でも、ホコリ、キズ等として検出されたエッジ点が予測したエッジ点の範囲内に存在する場合、ホコリ、キズ等として検出されたエッジ点を計測点から外すことができない。なお、ホコリ、キズ等として検出されたエッジ点が予測したエッジ点の範囲内に存在するとは、ホコリ、キズ等が計測対象物の形状の近傍に存在することを意味する。したがって、異常点を除去する方法及び特許文献1のいずれであっても、計測対象物の形状の近傍に存在し、誤計測を起こし易いホコリ、キズ等による計測への影響を回避することはできない。
異常点を除去する方法は、計測対象物の角部のようにエッジ点が1点のみとなるエッジ、多次元曲線で近似することが困難な複雑な形状のエッジ等には適用できない。また異常点を除去する方法は、幾何公差等によってエッジに含まれるエッジ点のバラツキに基づいて数値を計測する場合、バラツキのあるエッジを異常点とともに除去して計測してしまうことによって実際よりもバラツキが少ない数値として求めてしまうという問題もある。したがって、ステージ上にホコリ、キズ等の異物が存在する場合、異物による計測への影響を軽減するには限界があり、計測への影響を回避するにはステージ上を清掃することによってホコリ等を除去する必要がある。
そこで計測前に、計測対象物が載置されていないステージ上でホコリ等の有無を調べ、ホコリ等が検出された場合、ユーザに清掃作業を促すようにすれば、ホコリ等によって誤った形状を計測することを回避することができる。しかし、ステージ上のキズ等を回避することはできない。また、計測の都度、ホコリ等を検出する場合、検出作業に相当の時間を要し、ホコリ等が付着していない状態であるにもかかわらず無駄な作業をするおそれもあった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して正しく計測対象物を計測することができる画像計測装置及びコンピュータプログラムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために第1発明に係る画像計測装置は、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、画像データを取得する所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段と、前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段と、前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて取得した前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段と、前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段の選択を受け付ける選択受付手段と、選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段とを備えることを特徴とする。
また、第2発明に係る画像計測装置は、第1発明において、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする。
また、第3発明に係る画像計測装置は、第1又は第2発明において、前記第一の検出手段は、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出するようにしてあり、前記第二の検出手段は、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出するようにしてあることを特徴とする。
また、第4発明に係る画像計測装置は、第1乃至第3発明のいずれか1つにおいて、前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段を備え、前記第一の検出手段及び前記第二の検出手段は、指定を受け付けた領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理するようにしてあることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第5発明に係る画像計測装置は、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段とを備えることを特徴とする。
また、第6発明に係る画像計測装置は、第5発明において、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする。
また、第7発明に係る画像計測装置は、第5又は第6発明において、前記計測対象物について事前にテンプレート画像データを記憶する記憶手段を備え、前記第三の検出手段は、記憶されているテンプレート画像データが前記計測対象物と略一致するか否かを判断する判断手段を備え、該判断手段で前記計測対象物と略一致すると判断した場合、略一致する前記計測対象物の領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出するようにしてあり、前記判断手段で前記計測対象物と略一致しないと判断した場合、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出するようにしてあることを特徴とする。
また、第8発明に係る画像計測装置は、第5乃至第7発明のいずれか1つにおいて、前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段を備え、前記第三の検出手段は、指定を受け付けた領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理するようにしてあることを特徴とする。
また、第9発明に係る画像計測装置は、第1乃至第8発明のいずれか1つにおいて、前記異物の位置情報に基づいて該異物が所定量以上存在するか否かを判断する異物量判断手段と、該異物量判断手段にて前記異物が所定量以上存在すると判断した場合、警告を発生する警告発生手段とを備えることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第10発明に係る画像計測装置は、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段と、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段と、前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段と、前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段と、前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段と、選択を受け付けた前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかでの検出結果を取得する検出結果取得手段とを備えることを特徴とする。
また、第11発明に係る画像計測装置は、第10発明において、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第12発明に係る画像計測装置は、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段と、前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段と、前記第一の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段と、選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段とを備えることを特徴とする。
また、第13発明に係る画像計測装置は、第12発明において、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第14発明に係る画像計測装置は、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段と、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段と、前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段と、前記第二の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段と、選択を受け付けた前記第二の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段とを備えることを特徴とする。
また、第15発明に係る画像計測装置は、第14発明において、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第16発明に係るコンピュータプログラムは、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、前記画像計測装置を、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、画像データを取得する所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段、前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段、前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて取得した前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段、前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段の選択を受け付ける選択受付手段、及び選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段として機能させることを特徴とする。
また、第17発明に係るコンピュータプログラムは、第16発明において、前記画像計測装置を、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする。
また、第18発明に係るコンピュータプログラムは、第16又は第17発明において、前記第一の検出手段を、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出する手段、及び該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出する手段として機能させ、前記第二の検出手段を、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出する手段、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断する手段、及び該手段で所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出する手段として機能させることを特徴とする。
また、第19発明に係るコンピュータプログラムは、第16乃至第18発明のいずれか1つにおいて、前記画像計測装置を、前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段として機能させ、前記第一の検出手段及び前記第二の検出手段を、指定を受け付けた領域を前記画像データから除外する手段、及び該領域が除外された画像データを2値化処理する手段として機能させることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第20発明に係るコンピュータプログラムは、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、前記画像計測装置を、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第三の検出手段、及び該第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段として機能させることを特徴とする。
また、第21発明に係るコンピュータプログラムは、第20発明において、前記画像計測装置を、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする。
また、第22発明に係るコンピュータプログラムは、第20又は第21発明において、前記計測対象物について事前にテンプレート画像データを記憶しておき、前記第三の検出手段を、記憶されているテンプレート画像データが前記計測対象物と略一致するか否かを判断する判断手段、該判断手段で前記計測対象物と略一致すると判断した場合、略一致する前記計測対象物の領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出する手段、及び前記判断手段で前記計測対象物と略一致しないと判断した場合、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出する手段として機能させることを特徴とする。
また、第23発明に係るコンピュータプログラムは、第20乃至第22発明のいずれか1つにおいて、前記画像計測装置を、前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段として機能させ、前記第三の検出手段を、指定を受け付けた領域を前記画像データから除外する手段、及び該領域が除外された画像データを2値化処理する手段として機能させることを特徴とする。
また、第24発明に係るコンピュータプログラムは、第16乃至第23発明のいずれか1つにおいて、前記画像計測装置を、前記異物の位置情報に基づいて該異物が所定量以上存在するか否かを判断する異物量判断手段、及び該異物量判断手段にて前記異物が所定量以上存在すると判断した場合、警告を発生する警告発生手段として機能させることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第25発明に係るコンピュータプログラムは、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、前記画像計測装置を、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段、前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段、前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段、前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段、及び選択を受け付けた前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかでの検出結果を取得する検出結果取得手段として機能させることを特徴とする。
また、第26発明に係るコンピュータプログラムは、第25発明において、前記画像計測装置を、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第27発明に係るコンピュータプログラムは、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、前記画像計測装置を、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段、前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段、前記第一の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段、及び選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段として機能させることを特徴とする。
また、第28発明に係るコンピュータプログラムは、第27発明において、前記画像計測装置を、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする。
次に、上記目的を達成するために第29発明に係るコンピュータプログラムは、計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、前記画像計測装置を、前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段、前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段、前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段、前記第二の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段、及び選択を受け付けた前記第二の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段として機能させることを特徴とする。
また、第30発明に係るコンピュータプログラムは、第29発明において、前記画像計測装置を、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする。
第1発明及び第16発明では、撮像素子にて結像して得られた画像を表示し、第一の検出手段及び第二の検出手段のうちいずれかの選択を受け付け、選択を受け付けた第一の検出手段又は第二の検出手段での検出結果を取得することにより、状況に応じて適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。第一の検出手段では、非載置状態で得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が検出したいタイミングにて計測対象物が載置されていない状態でステージ上の異物の位置情報を検出することができる。第二の検出手段では、非載置状態又は載置状態で所定のタイミングにて得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が予め定めたタイミングにて、非載置状態であるか載置状態であるかにかかわらず、自動的にステージ上の異物の位置情報を検出することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物に対応する画像データを除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。特に、操作者が検出したいタイミングにて計測前にホコリ等の異物を除去することができるとともに、自動的に適切なタイミングで異物の位置情報を検出することができ、異物の存在に気付かずに計測することを回避することができる。
第2発明及び第17発明では、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示することにより、表示装置にて異物の位置情報を画像等で知らせることができるので、異物の存在を視認することができ、異物の存在に気付かずに計測することを確実に回避することができる。
第3発明及び第18発明では、非載置状態では画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を異物の位置情報として検出することにより、計測対象物が載置されていないステージ上の画像の物体領域(ホコリ等の異物)と背景領域とを容易に区別して異物の位置情報を検出することができる。載置状態になる可能性がある所定のタイミングでは、画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たす領域を異物の領域として特定して異物の位置情報を検出することにより、載置状態でも計測対象物と異物とを区別することができ、所定の条件、例えば所定面積以下であること、縦方向が横方向の所定倍以上の長さであること等の条件を具備する異物を検出することができる。したがって、画像データが得られるタイミングでの載置状態に応じて適切に異物の位置情報を検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を排除して計測対象物を正確に計測することができる。
第4発明及び第19発明では、表示された画像から所定の領域の指定を受け付け、指定を受け付けた領域を画像データから除外し、領域を除外した画像データを2値化処理することにより、ステージ上のキズ等、除去することができない異物を無視して、処理の中断や警告が繰り返されることを回避することができ、異物を効率良く検出して異物を除去することができる。
第5発明及び第20発明では、撮像素子にて結像して得られた画像を表示し、計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける。載置状態で指示を受け付けた計測開始時に得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出結果として取得することにより、計測開始時に操作者が検出処理を意識することなく自動的に計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を排除して計測対象物を正確に計測することができる。
第6発明及び第21発明では、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示することにより、表示装置にて異物の位置情報を画像等で知らせることができるので、異物の存在を視認することができ、異物の存在に気付かずに計測することを確実に回避することができる。
第7発明及び第22発明では、計測対象物について事前に記憶されているテンプレート画像データが計測対象物と略一致するか否かを判断し、計測対象物と略一致すると判断した場合、略一致する計測対象物の領域を画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を異物の位置情報として検出する。これにより、テンプレートマッチングによって計測対象物が除外された画像領域について、非載置状態と同様、計測対象物が載置されているステージ上の画像の異物の領域と背景領域とを容易に区別することができ、計測対象物の位置以外に存在する異物を容易に検出することができる。計測対象物と略一致しないと判断した場合、画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断する。所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて異物の位置情報を検出する。これにより、載置状態であっても計測対象物と異物とを区別することができ、所定の条件、例えば所定面積以下であること、縦方向が横方向の所定倍以上の長さであること等の条件を具備する異物を検出することができる。したがって、テンプレート画像データの有無に応じて検出対象の異物を適切に効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を排除することができ計測対象物を正確に計測することができる。
第8発明及び第23発明では、表示された画像から所定の領域の指定を受け付け、指定を受け付けた領域を画像データから除外し、領域を除外した画像データを2値化処理することにより、ステージ上のキズ等、除去することができない異物を無視して、処理の中断や警告が繰り返されることを回避することができ、異物を効率良く検出して異物を除去することができる。
第9発明及び第24発明では、異物の位置情報に基づいて異物が所定量以上存在するか否かを判断し、異物が所定量以上存在すると判断した場合、警告を発生することにより、異物が所定量以上存在して計測対象物の形状を誤って計測する状況にあることを認識することができ、異物の存在に気付かずに計測することを回避することができる。
第10発明及び第25発明では、撮像素子にて結像して得られた画像を表示し、第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のうちいずれかの選択を受け付け、選択を受け付けたいずれかの検出手段での検出結果を取得することにより、異なる複数の検出手段から状況に応じて適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。第一の検出手段では、非載置状態で得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が検出したいタイミングにて計測対象物が載置されていない状態でステージ上の異物の位置情報を検出することができる。第二の検出手段では、非載置状態又は載置状態で所定のタイミングにて得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が予め定めたタイミングになったとき、検出処理を意識することなく、非載置状態か載置状態かにかかわらず自動的にステージ上の異物の位置情報を検出することができる。第三の検出手段では、計測対象物の計測を開始する指示を受け付け、載置状態で指示を受け付けた計測開始時に得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。特に、操作者が検出したいタイミングにて計測前にホコリ等の異物を除去することができるだけでなく、自動的に適切なタイミングで異物の位置情報を検出して異物の存在に気付かずに計測することを回避することができるとともに、計測開始時に操作者が検出処理を意識することなく計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することも可能になる。
第11発明及び第26発明では、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示することにより、表示装置にて異物の位置情報を画像等で知らせることができるので、異物の存在を視認することができ、異物の存在に気付かずに計測することを確実に回避することができる。
第12発明及び第27発明では、撮像素子にて結像して得られた画像を表示し、第一の検出手段及び第三の検出手段のうちいずれかの選択を受け付け、選択を受け付けたいずれかの検出手段での検出結果を取得することにより、状況に応じて適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。第一の検出手段では、非載置状態で得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が検出したいタイミングにて計測対象物が載置されていない状態でステージ上の異物の位置情報を検出することができる。第三の検出手段では、計測対象物の計測を開始する指示を受け付け、載置状態で指示を受け付けた計測開始時に得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。特に、操作者が検出したいタイミングにて計測前にホコリ等の異物を除去することができるとともに、計測開始時に操作者が検出処理を意識することなく計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することも可能になる。
第13発明及び第28発明では、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示することにより、表示装置にて異物の位置情報を画像等で知らせることができるので、異物の存在を視認することができ、異物の存在に気付かずに計測することを確実に回避することができる。
第14発明及び第29発明では、撮像素子にて結像して得られた画像を表示し、第二の検出手段及び第三の検出手段のうちいずれかの選択を受け付け、選択を受け付けたいずれかの検出手段での検出結果を取得することにより、状況に応じて適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。第二の検出手段では、非載置状態又は載置状態で所定のタイミングにて得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が予め定めたタイミングになったとき、検出処理を意識することなく非載置状態か載置状態かにかかわらず自動的にステージ上の異物の位置情報を検出することができる。第三の検出手段では、計測対象物の計測を開始する指示を受け付け、載置状態で指示を受け付けた計測開始時に得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。特に、自動的に効率よく適切なタイミングで異物の位置情報を検出して異物の存在に気付かずに計測することを回避することができるとともに、計測開始時に自動的に計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することも可能になる。
第15発明及び第30発明では、前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示することにより、表示装置にて異物の位置情報を画像等で知らせることができるので、異物の存在を視認することができ、異物の存在に気付かずに計測することを確実に回避することができる。
上記構成によれば、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の異物を状況に応じて効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することが可能となる。また、計測対象物が載置されるステージ上の異物を異なる複数の検出手段から状況に応じて適切な検出手段に切り替えて効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することが可能となる。
以下、本発明の実施の形態に係る画像計測装置について、図面に基づいて具体的に説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る画像計測装置の構成を示す模式図である。図1に示すように本実施の形態1に係る画像計測装置1は、計測部2と制御ユニット3とで構成されており、計測部2にて撮像された画像データを制御ユニット3にて演算処理して、所望の形状の寸法等を計測する。
図1は、本発明の実施の形態1に係る画像計測装置の構成を示す模式図である。図1に示すように本実施の形態1に係る画像計測装置1は、計測部2と制御ユニット3とで構成されており、計測部2にて撮像された画像データを制御ユニット3にて演算処理して、所望の形状の寸法等を計測する。
計測部2では、計測対象物20を計測部分へ移動させるステージ21を挟んで2組の照明装置が設置されている。まずステージ21上の計測対象物20を上方から照らすリング状の落射照明装置22が受光レンズユニット23に設置されている。落射照明装置22で照射された光は、計測対象物20の表面で反射して、受光レンズユニット23へ戻ってくる。これにより、計測対象物20の表面の凹凸、パターン等を撮像することができる。
また、ステージ21の下方には、計測対象物20を下方から照らす透過照明装置24が設置されている。透過照明装置24は、少なくとも光源241、反射機構242及びレンズ243で構成されており、光源241から照射された光を反射機構242にてステージ21側へ反射させ、レンズ243にてステージ21に対して略直交する方向の平行光へと変換する。これにより、計測対象物20が存在しない位置の光のみ透過して撮像することができる。
受光レンズユニット23は、少なくとも受光レンズ231、ビームスプリッタ232、高倍側結像レンズ部233、低倍側結像レンズ部236を備えている。ビームスプリッタ232は、計測対象物20で反射した光を高倍側結像レンズ部233と低倍側結像レンズ234とへ夫々誘導する。図1には、落射照明装置22から発光した光が計測対象物20で反射した光を高倍側結像レンズ部233へ誘導する光路と、透過照明装置24から発光した光を計測対象物20を透過させて低倍側結像レンズ部236へ誘導する光路とを合わせて例示している。なお、高倍側結像レンズ部233は、結像するためのスリット234及び結像レンズ235で構成され、低倍側結像レンズ部236は、結像するためのスリット237及び結像レンズ238で構成されている。
撮像装置25は、高倍側結像レンズ部233へ誘導された光をCCD、CMOS等の撮像素子251で結像させ、画像データとして制御ユニット3へ送信する。同様に撮像装置26は、低倍側結像レンズ部236へ誘導された光をCCD、CMOS等の撮像素子261で結像させ、画像データとして制御ユニット3へ送信する。
図2は、本発明の実施の形態1に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図2に示すように本実施の形態1に係る画像計測装置1の制御ユニット3は、少なくともCPU(中央演算装置)33、メモリ等の記憶装置34、通信手段35及び上述したハードウェアを接続する内部バス36で構成されている。内部バス36を介して、入力装置であるマウス32、キーボード31、出力装置である表示装置27にも接続されている。
CPU33は、内部バス36を介して制御ユニット3の上述したようなハードウェア各部と接続されており、上述したハードウェア各部の動作を制御するとともに、記憶装置34に記憶されているコンピュータプログラムに従って、種々のソフトウェア的機能を実行する。記憶装置34は、例えばSRAM、SDRAM等の揮発性メモリで構成され、コンピュータプログラムの実行時にロードモジュールが展開され、コンピュータプログラムの実行時に発生する一時的なデータ等を記憶する。
通信手段35は内部バス36に接続されており、通信線を介して撮像装置25、26に接続され、撮像装置25、26で撮像された画像データを受信する。また、インターネット、LAN、WAN等の外部のネットワークに接続されることにより、外部のコンピュータ等ともデータ送受信を行うことが可能となる。なお、記憶装置34に記憶されているコンピュータプログラムは、通信手段35を介して外部コンピュータからダウンロードされる。
制御ユニット3のCPU33は、落射照明装置22を用いて撮像装置25、26で撮像した落射画像の画像データである落射画像データ、及び透過照明装置24を用いて撮像装置25、26で撮像した透過画像の画像データである透過画像データを記憶する記憶手段331、及び落射画像データ又は透過画像データを表示装置27に表示する表示手段332として機能する。またCPU33は、非載置状態で得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出する第一の(手動)検出手段333、非載置状態又は載置状態で所定のタイミングにて得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出する第二の(自動)検出手段334、第一の検出手段及び第二の検出手段のうちのいずれかの選択を受け付ける選択受付手段335、所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段336、選択を受け付けた検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段337、及び検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段338としても機能する。
さらにCPU33は、異物が所定量以上存在するか否かを判断する異物量判断手段301、異物が所定量以上存在すると判断した場合、警告を発生する警告発生手段302、及び所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段303としても機能する。なお「異物」は、ステージ21上の計測対象物20以外の物で、撮像される場合に画像データとなる物を意味し、ホコリ、ゴミ等の物体だけでなく、ステージ21のガラスに付いたキズ等の物体でないものも含む。また「載置状態」とは、ステージ21上に計測対象物20等が載置されている状態であり、計測対象物20に限らず操作者の手指等がステージ21上に載せられている状態も含む。「非載置状態」とは、ステージ21上に計測対象物20等が載置されていない状態である。
記憶手段331は、落射画像データ及び透過画像データを互いに位置合わせをした状態で記憶装置34に記憶する。ここで位置合わせとは、表示画面における座標位置を落射画像と透過画像との間で一致させることを意味する。位置合わせをした2種の画像データを記憶しておくことにより、指定を受け付けたエッジ検出領域に応じて、適切な画像データを選択することができる。計測対象物20の周辺に存在する異物を計測する場合、外形を示す輪郭線の部分の寸法等を計測するために最適な透過画像データを利用することができる。
表示手段332は、通信手段35にて受信した透過画像データ又は落射画像データを、LCD、有機ELディスプレイ等の表示装置27で透過画像又は落射画像として表示させる。ただし、以降の実施の形態1〜5では、透過画像データに基づいて異物の位置情報を検出する場合について説明する。図3は、ホコリの存在下で取得された計測対象物20の画像の例示図である。図3に示すように、隣接する画素間の輝度差が所定の値より大きい箇所をエッジ点とする場合、計測対象物20と背景とのエッジ部分としてエッジ点aの点列が検出されるだけでなく、ホコリと背景との画素間の輝度差が所定の値より大きい部分が誤ったエッジ点bとして検出される。
第一の検出手段333及び第二の検出手段334は、画像データから図3のように誤ったエッジ点bの要因であるホコリ等の異物の位置情報を検出する。第一の検出手段333では、非載置状態で、例えば計測開始前であること、計測処理中に操作者が非載置状態であること等を確認した上で、第一の検出手段333の選択を選択受付手段335が受け付ける。第一の検出手段333は、非載置状態で、画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し、低輝度領域の位置情報を異物の位置情報として検出する。2値化処理は、一般的な画像処理の手法であり、画像データ中の各画素を所定の基準で2つの値に分ける。例えば所定の輝度値以上の画素を‘1’とし、所定の輝度値未満の画素を‘0’とすることにより、画像データの画素を2つのグループに分ける。
図4は、2値化処理された画像の例示図である。図4(a)は2値化処理前の画像の一例を、図4(b)は2値化処理後の画像の一例を、それぞれ示している。図4に示すように、2値化処理前の不明瞭な画像が、2値化処理によって、ホコリ、キズ等の物体領域cと背景領域dとに明確に切り分けられている。図4に示す画像は、非載置状態で計測対象物20が存在していないステージ21上の画像であるため、物体領域cは、ホコリ、キズ等の異物であることが分かる。したがって、第一の検出手段333では、非載置状態で得られた画像に基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が検出したいタイミングにて計測対象物20が載置されていない状態でステージ21上の異物の位置情報を検出することができ、計測前にホコリ等の異物を除去することができる。また画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し、低輝度領域の位置情報を異物の位置情報として検出することにより、計測対象物20が載置されていないステージ21上の画像の物体領域(ホコリ等の異物)と背景領域とを容易に区別して異物の位置情報を検出することができる。第一の検出手段333は、操作者が計測開始前や計測処理中にステージ21の状態や異物の影響による計測の信憑性を確認したい場合に有効に使用できる。
第二の検出手段334では、操作者による第二の検出手段334の選択を選択受付手段335が受け付けるとともに、事前に設定された所定のタイミングをタイミング設定受付手段336で受け付ける。受け付けた所定のタイミングになったときに画像が取得され、異物の位置情報を検出する。所定のタイミングが‘ステージ21上に計測対象物等の物体が載置されたことを検知したとき’である場合には載置状態であるが、‘計測のための設定値が入力されたとき’である場合には、非載置状態となるか載置状態となるかは予測できない。所定のタイミングとしては、画像計測装置1の起動時、所定の時間経過時等、種々のタイミングが想定され、非載置状態及び載置状態の両方の状態が想定される。上述のように、2値化処理では、物体と背景とを分けることはできるが、背景領域dの物体を区別することはできないので、計測対象物20と異物とが混在している載置状態で異物のみを特定することができない。
載置状態で異物の位置情報が検出される場合がある第二の検出手段334では、画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たす領域を異物の領域として特定して異物の位置情報を検出する。例えばラベリング処理によって、2値化された画像データにおいて同じ値で隣接している画素を同一グループとすることにより、画像を複数のグループに分ける。図5は、2値化処理及びラベリング処理された画像の例示図である。図5(a)は2値化処理前の画像の一例を、図5(b)は2値化処理後の画像の一例を、図5(c)はラベリング処理後の画像の一例を、図5(d)は位置情報検出後の画像の一例を、それぞれ示している。
図5(b)に示すように、2値化処理によって背景領域dから物体領域cが切り分けられ、ラベリング処理によって、2値化された画像データ中で同じ値‘1’が付けられて隣接している画素、すなわち各物体領域cがグループc1〜c4に分けられている。第二の検出手段334では、各領域の位置情報、例えば面積、縦方向と横方向との長さの比率等を算出し、所定面積以下、縦方向が横方向の5倍以上の長さ等、所定の条件に合う領域を異物と特定する。グループc1〜c4の物体領域は、図5(d)に示すように、グループc4以外のグループc1〜c3の物体領域が異物と特定される。
したがって、第二の検出手段334では、非載置状態又は載置状態で所定のタイミングにて得られた画像データに基づいて異物の位置情報を検出することにより、操作者が予め定めた所定のタイミングになったとき、非載置状態であるか載置状態であるかにかかわらず自動的にステージ21上の異物の位置情報を検出することができるので、異物の存在に気付かずに計測することを回避することができる。また画像データを2値化処理だけでなく、2値化処理して得られる低輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たす領域を異物の領域として特定して異物の位置情報を検出することにより、載置状態であっても計測対象物20と異物とを区別することができ、所定の条件(所定面積以下、縦方向が横方向の所定倍以上の長さ等)の異物の位置情報を検出することができる。第二の検出手段334は、操作者が異物の検出処理を意識することなく、例えば計測のための設定値が入力されたとき、ステージ21上に計測対象物20等の物体が載置されたことを検知したとき等、所定のタイミングで自動的に異物の影響による計測の信憑性を確認したい場合に有効に使用できる。
検出結果表示手段338は、第一の検出手段333又は第二の検出手段334での検出結果である異物の位置情報を表示装置27に表示する。異物の位置情報としては、例えば図4及び図5に示すように、検出されたホコリ等の異物の画像を表示する。図6は、表示装置27にハイライト表示された異物の画像の例示図である。図6に示すように画像中の異物の領域は、強調色、反転表示でハイライト表示したり、領域の輪郭のみを強調したり、領域の周りを丸で囲んだりして存在箇所を強調する。検出結果取得手段337で検出結果として取得した異物の位置情報を検出結果表示手段338で表示することにより、表示装置にて異物の位置情報を画像等で知らせることができるので、異物の存在を視認することができ、異物の存在に気付かずに計測することを確実に回避することができる。
また、検出結果表示手段338は、異物の位置情報を異物の量として定量的に数値によって表示装置27に表示しても良い。例えば図4及び5に示すように、2値化されて特定された異物の領域が画像中に占める割合で示す。そして異物量判断手段301が、異物の位置情報に基づいて、例えば異物の領域が画像全体に対して所定の割合以上を占め、所定量以上の異物が存在すると判断した場合、警告発生手段302が警告を発生する。警告は、表示装置27にて操作者に清掃又はステージガラスの交換等を促す文章が表示されるようにしたり、音声による警告、アラーム音等を発生するようにしても良い。警告により、異物が所定量以上存在して計測対象物20の形状を誤って計測する状況にあることを認識することができ、異物の存在に気付かずに計測することを回避することができる。
警告によってステージ21上を清掃した後、再度、例えば第一の検出手段333で検出処理が実行され、取り除くことができない汚れ、ステージ21のガラスのキズ、撮像装置25、26による異常画素等が存在することが判明した場合、操作者は表示装置27に表示された画像から、除去することができない汚れ等の所定の領域を無効領域として指定する。領域指定受付手段303が無効領域の指定を受け付け、第一の検出手段333は指定を受け付けた無効領域を画像データから除外し、無効領域を除外した画像データについて2値化処理する。
検出結果表示手段338は、表示装置27に表示する画像中、所定の領域(無効領域)が処理対象から除外されていることを知らせるため、画像中の無効領域を異物の領域とは区別した上でハイライト表示するようにしても良い。なお無効領域は、非載置状態で取得された画像に対して指定することが好ましく、領域指定受付手段303は、第一の検出手段333での検出処理において有効に利用することができる。除去できない異物等が存在する無効領域を除外した画像データを2値化処理することにより、除去することができない異物を無視して、処理の中断や警告が繰り返されることを回避することができ、異物による計測への影響を効率良く軽減して計測対象物20を正しく計測することができる。
領域指定受付手段303で受け付けた無効領域は、登録して次回以降の異物検出時において有効に処理されるようにしても良い。また無効領域は、誤ったエッジとなる要因の異物が除去できない領域であるため、計測対象物20を計測する場合、エッジが検出されてもエッジとして認識しない領域として計測対象外とする。計測時や計測結果には、計測対象外としている無効領域が存在することを表示装置27に表示し、注意を喚起するようにしても良い。
上述した構成の画像計測装置1の動作について、フロ−チャートに基づいて詳細に説明する。なお、第一の検出手段333の選択を受け付けた場合の手動検出処理と、第二の検出手段334の選択を受け付けた場合の自動検出処理とに分けて説明する。図7は、本発明の実施の形態1に係る画像計測装置1の制御ユニット3のCPU33の手動検出処理手順を示すフローチャートである。
図7に示すように制御ユニット3のCPU33は、第一の検出手段333の選択を受け付ける(ステップS701)。受付時は非載置状態である。CPU33は、選択を受け付けたタイミングで、撮像装置25、26にて計測対象物20を略同じ位置にて撮像した透過画像を取得し、取得した透過画像の画像データを記憶装置34へ記憶する(ステップS702)。
CPU33は、記憶されている画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し、低輝度領域の位置情報を異物の位置情報として検出し(ステップS703)、検出した異物の位置情報に基づいて算出される異物の量が所定量未満であるか否か判断する(ステップS704)。CPU33が、所定量未満であると判断した場合(ステップS704:YES)、CPU33は、例えば異物の量が所定量未満でステージ21の清掃の必要はないことを表示装置27に表示する(ステップS705)。ここで、異物の量とは、異物の存在する領域の面積、周囲長さ、画素数等、異物の位置情報から算出することができる数値であれば特に限定されるものではない。
CPU33が、異物の量が所定量以上であると判断した場合(ステップS704:NO)、CPU33は、例えば異物量が所定量以上でステージ21の清掃が必要であることを警告として表示装置27に表示する(ステップS706)。CPU33は、表示装置27に警告とともに異物の画像を表示する。警告によって操作者は、異物の画像も参考にして除去することができない異物であれば無効領域として指定し、除去することができる異物であればステージ21を清掃した後、再度第一の検出手段を選択することになる。
CPU33は、無効領域の指定を受け付けたか否かを判断し(ステップS707)、CPU33が、無効領域の指定を受け付けたと判断した場合(ステップS707:YES)、CPU33は、指定を受け付けた無効領域を除外した画像データについて2値化処理し(ステップS708)、処理をステップS704へ戻し、上述した処理を繰り返す。CPU33が、無効領域の指定を受け付けていないと判断した場合(ステップS707:NO)、CPU33は、処理をステップS701へ戻し、上述した処理を繰り返す。
図8は、本発明の実施の形態1に係る画像計測装置1の制御ユニット3のCPU33の自動検出処理手順を示すフローチャートである。図8に示すように制御ユニット3のCPU33は、第二の検出手段334の選択を受け付けるとともに(ステップS801)、所定のタイミングの設定も受け付ける(ステップS802)。
CPU33は、受け付けた所定のタイミングであるか否かを判断し(ステップS803)、CPU33が、所定のタイミングではないと判断した場合(ステップS803:NO)、CPU33は、処理の待ち状態となる。CPU33が、所定のタイミングであると判断した場合(ステップS803:YES)、CPU33は、撮像装置25、26にて計測対象物20を略同じ位置にて撮像した透過画像を取得し、取得した透過画像の画像データを記憶装置34へ記憶する(ステップS804)。
CPU33は、記憶されている画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し(ステップS805)、抽出した各低輝度領域の位置情報に基づいて所定の条件を満たす領域であるか否かを判断する(ステップS806)。CPU33が、所定の条件を満たさない領域であると判断した場合(ステップS806:NO)、CPU33は、処理を終了する。CPU33が、所定の条件を満たす領域であると判断した場合(ステップS806:YES)、CPU33は、所定の条件を満たす領域を異物の領域と特定して異物の位置情報を検出し(ステップS807)、検出した異物の位置情報から異物の量が所定量未満であるか否かを判断する(ステップS808)。CPU33が、異物の量が所定量未満であると判断した場合(ステップS808:YES)、CPU33は、異物の位置情報を表示等することなく処理を終了する。
CPU33が、異物の量は所定量以上であると判断した場合(ステップS808:NO)、CPU33は、例えば異物量が所定量以上でステージ21の清掃が必要であることを警告として表示装置27に表示する(ステップS809)。
以上のように本実施の形態1によれば、選択を受け付けた検出手段で検出された異物の画像データに基づいて異物の位置情報を表示することにより、異なる2つの検出手段から状況に応じて適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。したがって、検出する所定のタイミングでの状態を考慮して異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物をより正しく計測することができる。特に、操作者が検出したいタイミングにて計測前にホコリ等の異物を除去することができるとともに、異物の位置情報を所定のタイミングで検出して異物の存在に気付かずに計測することを回避することが可能になる。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図9は、本発明の実施の形態2に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図9に示すように本実施の形態2に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
本発明の実施の形態2に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図9は、本発明の実施の形態2に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図9に示すように本実施の形態2に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
ただし本実施の形態2では、制御ユニット3のCPU33は、載置状態で計測開始時に得られた画像の画像データから異物の位置情報を検出する第三の(計測開始時)検出手段341、及び計測対象物20の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段342を備え、第一の検出手段、第二の検出手段、選択受付手段及び領域指定受付手段は備えない。第三の検出手段341は、ステージ21上に計測対象物20が載置され、計測実行キー等が押下され、開始指示受付手段342が計測対象物20の計測を開始する指示を受け付け、指示を受け付けた計測開始時に画像を取得する。なお、領域指定受付手段は、実施の形態1と同様に備えることを除外するものではないが、載置状態の実施の形態2では、領域指定受付手段を備えない例について説明する。
また第三の検出手段341は、記憶装置34に事前に記憶されているテンプレート画像データが計測対象物20と略一致するか否かを判断するテンプレート判断手段343、計測対象物20の位置を特定する位置特定手段344を有する。第三の検出手段341は、テンプレート画像が計測対象物20と略一致合致する場合、計測対象物20の位置を特定し、位置が特定された計測対象物20以外の領域の画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し、低輝度領域の位置情報を異物の位置情報として検出する。テンプレート画像は、計測対象物20と同一形状の物体について事前に取得しておく画像であり、従来から利用されている。ただし、従来は、同一形状の複数の計測対象物20について同一箇所を連続して計測する場合、計測対象物20を変える度に計測方法を指定する手間を省くために用いられている。図10は、従来のテンプレート画像を利用する計測の説明図である。
図10(a)に示すように、事前にテンプレート画像200を取得しておき、図10(b)に示すように、テンプレート画像200において、同一形状の計測対象物20について計測しようとする箇所を特定するとともに、特定した計測箇所の計測方法を設定する。勿論テンプレート画像200中の物体の形状のデータ(テンプレート画像データ)も取得している。図10(b)に示す計測箇所Lの長さを計測したい場合、例えば、計測箇所Lの両端が位置する角を挟む直線のエッジを検出し、検出した直線のエッジから計測箇所Lの両端の座標を特定して計測箇所Lの長さを計測する計測方法を設定する。まず、図10(c)に示すように計測対象物20の画像を取得し、図10(d)に示すように計測対象物20とテンプレート画像200中の物体とが一体となるように、計測対象物20の画像にテンプレート画像200を回転させて重ね合わせ(テンプレートマッチング)、テンプレート画像データから計測対象物20の位置を特定する。特定された位置の座標等から、テンプレート画像200に設定された計測方法に基づいて、計測対象物20の計測箇所Lの長さを容易に計測することができる。
図11は、第三の検出手段341でのテンプレート画像データを用いた計測対象物20の位置特定の説明図である。図11(a)に示すように、第三の検出手段341は、テンプレート画像200を取得しておき、図11(b)に示すように計測対象物の載置状態のステージ21上の画像を取得する。第三の検出手段341の位置特定手段344は、図11(c)に示すように載置状態のステージ21上の画像中の計測対象物20とテンプレート画像200中の物体とが一体となるようにテンプレート画像を回転させてテンプレートマッチングし、計測対象物20の位置を特定する。計測対象物20の位置が特定されることにより、載置状態のステージ21上の画像から計測対象物20の領域のみを正確に除外することができ、非載置状態のステージ21上の画像を取得することができる。取得した画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し、低輝度領域の位置情報を異物の位置情報として検出することにより、非載置状態と同様、計測対象物20が載置されているステージ21上の画像の異物の領域と背景領域とを容易に区別することができ、計測対象物20の位置以外に存在する異物を容易に検出することができる。
計測対象物20の計測時には、例えば画像計測装置1で計測したことがない形状の計測対象物20を初めて計測する場合等、対応するテンプレート画像データが事前に記憶されていない場合がある。第三の検出手段341は、計測対象物20と合致するテンプレート画像データがない場合、テンプレート画像データと照合することなく、図5に示したように、画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出する。抽出した各低輝度領域の位置情報が上述した第二の検出手段と同様の所定の条件(所定面積以下、縦方向が横方向の所定倍以上の長さ等)を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たすと判断された領域を異物の領域として特定して異物の位置情報を検出する。
第三の検出手段341では、計測対象物20と略一致するテンプレート画像データがない場合、画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断する。所定の条件を満たすと判断された領域を異物の領域として特定して異物の位置情報を検出することにより、載置状態でも計測対象物20と異物とを区別することができ、所定の条件(所定面積以下、縦方向が横方向の所定倍以上の長さ等)の異物の位置情報を検出することができる。テンプレート画像データと照合しない場合、所定の条件に適合しなかった異常に大きなゴミ等を除き、異物として特定することができる。
第三の検出手段341では、計測開始時に自動的に計測対象物20が載置されたステージ21上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することができる。したがって、計測対象物20が載置されるステージ21上のホコリ、キズ等の計測対象物20以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物20を正しく計測することができる。
図12は、本発明の実施の形態2に係る画像計測装置1の制御ユニット3のCPU33の計測開始時検出処理手順を示すフローチャートである。図12に示すように制御ユニット3のCPU33は、計測対象物20の計測を開始する指示を受け付ける(ステップS1201)。受付時は載置状態である。CPU33は、指示を受け付けたタイミングで、撮像装置25、26にて計測対象物20を略同じ位置にて撮像した透過画像を取得し、取得した透過画像の画像データを記憶装置34へ記憶する(ステップS1202)。
CPU33は、記憶装置34に事前に記憶されているテンプレート画像データが計測対象物20の画像データと略一致するか否か判断する(ステップS1203)。CPU33が、略一致すると判断した場合(ステップS1203:YES)、CPU33は、テンプレート画像データから計測対象物20の位置を特定する(ステップS1204)。
CPU33は、計測対象物20の画像から位置を特定した計測対象物20の領域を除外する(ステップS1205)。CPU33は、計測対象物20の領域を除外した画像を2値化処理して異物の位置情報を検出し(ステップS1206)、検出した異物の位置情報から異物の量が所定量未満であるか否かを判断する(ステップS1207)。CPU33が、所定量未満であると判断した場合(ステップS1207:YES)、CPU33は、異物の位置情報を表示等することなく処理を終了する。
CPU33が、異物の量は所定量以上であると判断した場合(ステップS1207:NO)、CPU33は、例えば異物量が所定量以上でステージ21の清掃が必要であることを警告として表示装置27に表示する(ステップS1208)。
CPU33が、テンプレート画像データが略一致しないと判断した場合(ステップS1203:NO)、CPU33は、記憶されている画像データを2値化処理して低輝度領域を抽出する(ステップS1209)。CPU33は、抽出した各低輝度領域の位置情報に基づいて所定の条件を満たす領域であるか否かを判断し(ステップS1210)、CPU33が、所定の条件を満たさない領域であると判断した場合(ステップS1210:NO)、CPU33は、処理を終了する。CPU33が、所定の条件を満たす領域であると判断した場合(ステップS1210:YES)、CPU33は、所定の条件を満たす領域を異物の領域と特定して異物の位置情報を検出する(ステップS1211)。CPU33は、処理をステップS1207へ移し、上述した処理を繰り返す。
以上のように本実施の形態2によれば、載置状態で計測開始時に得られた画像データから異物の位置情報を検出することにより、計測開始時に自動的に計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。また、テンプレート画像データの有無に応じて検出対象の異物を適切に効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。
(実施の形態3)
本発明の実施の形態3に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図13は、本発明の実施の形態3に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図13に示すように本実施の形態3に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
本発明の実施の形態3に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図13は、本発明の実施の形態3に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図13に示すように本実施の形態3に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
ただし本実施の形態3では、制御ユニット3のCPU33は、実施の形態1の全ての手段に加えて実施の形態2の全ての手段を備える。選択受付手段335は、第一の検出手段333、第二の検出手段334、第三の検出手段341の選択を受け付ける。
本実施の形態3では、実施の形態1と同様、第一の検出手段333及び第二の検出手段334のいずれかを選択することができることに加え、実施の形態2の第三の検出手段341を選択することができる。なお、第三の検出手段341は、選択受付手段335が第三の検出手段341の選択を受け付けておき、開始指示受付手段342が計測対象物20の計測を開始する指示を受け付けた計測開始時に、異物の検出処理が開始される。したがって、第三の検出手段341による計測開始時における異物の検出処理が実行される場合、選択受付手段335が第三の検出手段341の選択を受け付けた後、実施の形態2と同様、図12に示したように処理が実行される。
上述したように、第一の検出手段333による手動検出処理が実行される場合、非載置状態で、例えば選択受付手段335が第一の検出手段333の選択を受け付けたタイミングで図7に示す処理が実行される。また、第二の検出手段334による自動検出処理が実行される場合、選択受付手段335が第二の検出手段334の選択を受け付け、タイミング設定受付手段336で所定のタイミングの設定を受け付けておき、設定を受け付けた所定のタイミングになった場合に図8に示す処理が実行される。
以上のように本実施の形態3によれば、第一の検出手段、第二の検出手段及び第三の検出手段の選択を受け付け、選択を受け付けたいずれかの検出手段で検出された異物の位置情報を表示することにより、状況に応じて適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。特に、操作者が検出したいタイミングにて計測前にホコリ等の異物を除去することができるだけでなく、自動的に適切なタイミングで異物の位置情報を検出して異物の存在に気付かずに計測することを回避することができるとともに、計測開始時に自動的に計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することも可能になる。
(実施の形態4)
本発明の実施の形態4に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図14は、本発明の実施の形態4に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図14に示すように本実施の形態4に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1乃至3と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
本発明の実施の形態4に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図14は、本発明の実施の形態4に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図14に示すように本実施の形態4に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1乃至3と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
ただし本実施の形態4では、制御ユニット3のCPU33は、実施の形態3の手段のうち、第二の検出手段を備えず、選択受付手段335は、第一の検出手段333及び第三の検出手段341のうちのいずれかの選択を受け付ける。
本実施の形態4では、第一の検出手段333及び第三の検出手段341のうちいずれかを選択することができる。第一の検出手段333による手動検出処理が実行される場合、非載置状態で、例えば選択受付手段335が第一の検出手段333の選択を受け付けたタイミングで図7に示す処理が実行される。また、第三の検出手段341による計測開始時検出処理が実行される場合、選択受付手段335が第三の検出手段341の選択を受け付けた後、図12に示す処理が実行される。
以上のように本実施の形態4によれば、第一の検出手段及び第三の検出手段のうちのいずれかの選択を受け付け、選択を受け付けたいずれかの検出手段で検出された異物の位置情報を表示することにより、適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。特に、操作者が検出したいタイミングにて計測前にホコリ等の異物を除去することができるとともに、計測開始時に自動的に計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することも可能になる。
(実施の形態5)
本発明の実施の形態5に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図15は、本発明の実施の形態5に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図15に示すように本実施の形態5に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1乃至3と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
本発明の実施の形態5に係る画像計測装置1の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。図15は、本発明の実施の形態5に係る画像計測装置1の制御ユニット3の構成を示すブロック図である。図15に示すように本実施の形態5に係る画像計測装置1の制御ユニット3のハードウェア構成は、実施の形態1乃至3と同様であることから、同一の符号を付することにより、詳細な説明は省略する。
ただし本実施の形態5では、制御ユニット3のCPU33は、実施の形態3の手段のうち、第一の検出手段を備えず、選択受付手段335は、第二の検出手段334及び第三の検出手段341のうちのいずれかの選択を受け付ける。
本実施の形態5では、第二の検出手段334及び第三の検出手段341のうちいずれかを選択することができる。第二の検出手段334による自動検出処理が実行される場合、選択受付手段335が第二の検出手段334の選択を受け付け、タイミング設定受付手段336で所定のタイミングの設定を受け付けておき、設定を受け付けた所定のタイミングになったときに図8に示す処理が実行される。また、第三の検出手段341による計測開始時に異物の検出処理が実行される場合、選択受付手段335が第三の検出手段341の選択を受け付けた後、図12に示す処理が実行される。
以上のように本実施の形態5によれば、第二の検出手段及び第三の検出手段のうちのいずれかの選択を受け付け、選択を受け付けた検出手段で検出された異物の位置情報を表示することにより、異なる複数の検出手段から状況に応じて適切な検出手段に切り替えて異物の位置情報を検出することができる。したがって、計測対象物が載置されるステージ上のホコリ、キズ等の計測対象物以外の異物を効率良く検出して異物を除去することにより、異物による計測への影響を軽減して計測対象物を正確に計測することができる。特に、自動的に効率よく適切なタイミングで異物の位置情報を検出して異物の存在に気付かずに計測することを回避することができるとともに、計測開始時に自動的に計測対象物が載置されたステージ上の異物の位置情報を検出することができ、計測前に異物を除去することも可能になる。
なお、実施の形態1乃至5では、透過画像データに基づいて異物の位置情報を検出する場合について説明したが、透過画像データと同様にして落射画像データに基づいて異物の位置情報を検出することができる。ただし、透過画像データでは異物は黒く表示されることから低輝度領域として検出することができるのに対し、落射画像データでは異物は白っぽく表示されることから高輝度領域として検出する必要がある。この場合、落射画像データを2値化処理して高輝度領域を抽出し、異物の位置情報を検出することになる。透過画像を撮像するために用いる透過照明装置24と、落射画像を撮像するために用いる落射照明装置22との選択は、操作者が切り替えて選択するようにしても良く、自動的に選択されるようにしても良い。ただし、透過照明装置24及び落射照明装置22のいずれを用いて撮像しているかを認識することができるようにし、用いている照明装置に応じて低輝度領域又は高輝度領域を抽出して異物の位置情報を検出する。
図16は、他の画像計測装置1の構成を示す模式図である。図16に示すように、本画像計測装置1は、計測部2と外部コンピュータ4とで構成されており、計測部2にて撮像された画像データを外部コンピュータ4にて演算処理して、所望の形状の寸法等を計測する。
計測部2の構成及び機能は、上述した実施の形態1乃至5と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明を省略する。外部コンピュータ4は、少なくともCPU(図示せず)及びメモリ等の記憶装置(図示せず)を備え、表示装置41、キーボード42、マウス43に接続されている。CPU(図示せず)は、撮像装置25及び26から画像データを取得し、上述した実施の形態1乃至5における制御ユニット3のCPU33と同様の処理を実行する。
その他、本発明は上記実施の形態1乃至5に限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲内であれば多種の変形、置換等が可能であることは言うまでもない。
1 画像計測装置
2 計測部
3 制御ユニット
20 計測対象物
21 ステージ
25、26 撮像装置
27 表示装置
31 キーボード
32 マウス
33 CPU
34 記憶装置
35 通信手段
36 内部バス
301 異物量判断手段
302 警告発生手段
303 領域指定受付手段
331 記憶手段
332 表示手段
333 第一の検出手段
334 第二の検出手段
335 選択受付手段
336 タイミング設定受付手段
337 検出結果取得手段
2 計測部
3 制御ユニット
20 計測対象物
21 ステージ
25、26 撮像装置
27 表示装置
31 キーボード
32 マウス
33 CPU
34 記憶装置
35 通信手段
36 内部バス
301 異物量判断手段
302 警告発生手段
303 領域指定受付手段
331 記憶手段
332 表示手段
333 第一の検出手段
334 第二の検出手段
335 選択受付手段
336 タイミング設定受付手段
337 検出結果取得手段
Claims (30)
- 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、
画像データを取得する所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段と、
前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段と、
前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて取得した前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段と、
前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段の選択を受け付ける選択受付手段と、
選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段と
を備えることを特徴とする画像計測装置。 - 前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする請求項1記載の画像計測装置。
- 前記第一の検出手段は、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出するようにしてあり、
前記第二の検出手段は、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出するようにしてあることを特徴とする請求項1又は2記載の画像計測装置。 - 前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段を備え、
前記第一の検出手段及び前記第二の検出手段は、指定を受け付けた領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理するようにしてあることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の画像計測装置。 - 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、
前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第三の検出手段と、
該第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段と
を備えることを特徴とする画像計測装置。 - 前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする請求項5記載の画像計測装置。
- 前記計測対象物について事前にテンプレート画像データを記憶する記憶手段を備え、
前記第三の検出手段は、
記憶されているテンプレート画像データが前記計測対象物と略一致するか否かを判断する判断手段
を備え、
該判断手段で前記計測対象物と略一致すると判断した場合、略一致する前記計測対象物の領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出するようにしてあり、
前記判断手段で前記計測対象物と略一致しないと判断した場合、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出するようにしてあることを特徴とする請求項5又は6記載の画像計測装置。 - 前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段を備え、
前記第三の検出手段は、指定を受け付けた領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理するようにしてあることを特徴とする請求項5乃至7のいずれか一項に記載の画像計測装置。 - 前記異物の位置情報に基づいて該異物が所定量以上存在するか否かを判断する異物量判断手段と、
該異物量判断手段にて前記異物が所定量以上存在すると判断した場合、警告を発生する警告発生手段と
を備えることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の画像計測装置。 - 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、
所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段と、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、
前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段と、
前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段と、
前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段と、
前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段と、
選択を受け付けた前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかでの検出結果を取得する検出結果取得手段と
を備えることを特徴とする画像計測装置。 - 前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする請求項10記載の画像計測装置。
- 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、
前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段と、
前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段と、
前記第一の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段と、
選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段と
を備えることを特徴とする画像計測装置。 - 前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする請求項12記載の画像計測装置。
- 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置において、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段と、
所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段と、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段と、
前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段と、
前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段と、
前記第二の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段と、
選択を受け付けた前記第二の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段と
を備えることを特徴とする画像計測装置。 - 前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段を備えることを特徴とする請求項14記載の画像計測装置。
- 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記画像計測装置を、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、
画像データを取得する所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段、
前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段、
前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて取得した前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段、
前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段の選択を受け付ける選択受付手段、及び
選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第二の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする請求項16記載のコンピュータプログラム。 - 前記第一の検出手段を、
前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出する手段、及び
該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出する手段として機能させ、
前記第二の検出手段を、
前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出する手段、
抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断する手段、及び
該手段で所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出する手段
として機能させることを特徴とする請求項16又は17記載のコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段として機能させ、
前記第一の検出手段及び前記第二の検出手段を、
指定を受け付けた領域を前記画像データから除外する手段、及び
該領域が除外された画像データを2値化処理する手段
として機能させることを特徴とする請求項16乃至18のいずれか一項に記載のコンピュータプログラム。 - 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記画像計測装置を、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、
前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第三の検出手段、及び
該第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする請求項20記載のコンピュータプログラム。 - 前記計測対象物について事前にテンプレート画像データを記憶しておき、
前記第三の検出手段を、
記憶されているテンプレート画像データが前記計測対象物と略一致するか否かを判断する判断手段、
該判断手段で前記計測対象物と略一致すると判断した場合、略一致する前記計測対象物の領域を前記画像データから除外し、該領域が除外された画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、該低輝度領域又は高輝度領域の位置情報を前記異物の位置情報として検出する手段、及び
前記判断手段で前記計測対象物と略一致しないと判断した場合、前記画像データを2値化処理して低輝度領域又は高輝度領域を抽出し、抽出した各低輝度領域又は高輝度領域の位置情報が所定の条件を満たすか否かを判断し、所定の条件を満たすと判断した場合、所定の条件を満たす低輝度領域又は高輝度領域に基づいて前記異物の位置情報を検出する手段
として機能させることを特徴とする請求項20又は21記載のコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記表示手段によって表示された画像から所定の領域の指定を受け付ける領域指定受付手段として機能させ、
前記第三の検出手段を、
指定を受け付けた領域を前記画像データから除外する手段、及び
該領域が除外された画像データを2値化処理する手段
として機能させることを特徴とする請求項20乃至22のいずれか一項に記載のコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記異物の位置情報に基づいて該異物が所定量以上存在するか否かを判断する異物量判断手段、及び
該異物量判断手段にて前記異物が所定量以上存在すると判断した場合、警告を発生する警告発生手段
として機能させることを特徴とする請求項16乃至23のいずれか一項に記載のコンピュータプログラム。 - 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記画像計測装置を、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、
所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、
前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段、
前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段、
前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段、
前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段、及び
選択を受け付けた前記第一の検出手段、第二の検出手段、第三の検出手段のいずれかでの検出結果を取得する検出結果取得手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする請求項25記載のコンピュータプログラム。 - 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記画像計測装置を、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、
前記ステージ上に計測対象物が載置されていない非載置状態で得られた前記画像の画像データに基づいて前記計測対象物以外の異物の位置情報を検出する第一の検出手段、
前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段、
前記第一の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段、及び
選択を受け付けた前記第一の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする請求項27記載のコンピュータプログラム。 - 計測対象物が載置されるステージ上に照射した光の透過光又は反射光を撮像素子に結像させて得られる画像に基づいて、計測対象物の形状を計測する画像計測装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記画像計測装置を、
前記撮像素子にて結像して得られた画像を表示する表示手段、
所定のタイミングの設定を受け付けるタイミング設定受付手段、
前記計測対象物の計測を開始する指示を受け付ける開始指示受付手段、
前記非載置状態又は前記ステージ上に計測対象物が載置された載置状態で、前記所定のタイミングにて得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第二の検出手段、
前記載置状態で前記指示を受け付けた計測開始時に得られた前記画像の画像データに基づいて前記異物の位置情報を検出する第三の検出手段、
前記第二の検出手段及び前記第三の検出手段のいずれかの選択を受け付ける選択受付手段、及び
選択を受け付けた前記第二の検出手段又は前記第三の検出手段での検出結果を取得する検出結果取得手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 前記画像計測装置を、
前記検出結果として取得した異物の位置情報を表示する検出結果表示手段として機能させることを特徴とする請求項29記載のコンピュータプログラム。
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