JP2010019646A - 画像処理検査方法及び画像処理検査システム - Google Patents

画像処理検査方法及び画像処理検査システム Download PDF

Info

Publication number
JP2010019646A
JP2010019646A JP2008179454A JP2008179454A JP2010019646A JP 2010019646 A JP2010019646 A JP 2010019646A JP 2008179454 A JP2008179454 A JP 2008179454A JP 2008179454 A JP2008179454 A JP 2008179454A JP 2010019646 A JP2010019646 A JP 2010019646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
defective
captured
images
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008179454A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5195096B2 (ja
Inventor
Shusaku Uzaki
周作 宇崎
Daisuke Mizukawa
大輔 水川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nok Corp
Original Assignee
Nok Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nok Corp filed Critical Nok Corp
Priority to JP2008179454A priority Critical patent/JP5195096B2/ja
Publication of JP2010019646A publication Critical patent/JP2010019646A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5195096B2 publication Critical patent/JP5195096B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】作業性の向上を図り、かつ処理速度の高速化を図った画像処理検査方法及び画像処理検査システムを提供する。
【解決手段】連続的な模様に沿うように、検査対象品を連続的に撮影する撮影工程S1と、撮影工程S1により得られた複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成する良品画像作成工程S3と、各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する検査工程と、を有する画像処理検査方法であって、良品画像作成工程S3においては、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする。
【選択図】図3

Description

本発明は、検査対象品の撮影画像に基づいて、当該検査対象品の検査を行う画像処理検査方法及び画像処理検査システムに関するものである。
従来、各種製品の外観において欠陥の有無を検査する検査方式として、パターンマッチング方式が知られている。一般的なパターンマッチング方式においては、良品の画像を標準画像として画像処理装置内に記憶させておき、この標準画像と撮影した画像とを比較することによって、欠陥の有無を検査する。この方式においては、撮影した画像と標準画像とを正確に比較するために、これらの画像を高精度に位置決めする必要がある。具体的には、縦横方向と回転方向の位置決めと共に、画像の拡大または縮小による位置決めも必要となる。
ここで、連続的な模様を有する製品について、この方式により欠陥の有無を検査する場合、まず、連続的な模様に沿うように、当該製品を連続的に撮影する。そして、撮影した全ての撮影画像についてそれぞれ標準画像と比較しなければならない。このとき、各撮影画像と標準画像とを比較する毎に、上記の位置決め処理を行わなければならない。そのため、画像処理のために長時間を要していた。
また、製品によっては、連続的な模様が一様であれば良く、当該模様の寸法の大小が品質の良し悪しにあまり影響されないものがある。このような製品において、上記の方式を採用した場合、標準画像を一つに定めてしまうと、良品を不良品と判定してしまうケースが増えてしまう。また、画像を撮影する場合には、製品に光を照射した状態でカメラによって撮影するのが一般的であるが、標準画像を一つに定めてしまうと、光の照度によっても、良品を不良品と判定しまうケースも増えてしまう。そのため、ロット毎に標準画像を作成するなど、標準画像を度々変えなければならず、非常に手間がかかっていた。
関連する技術として、特許文献1〜4に開示されたものがある。
特許第2973607号公報 特開平3−33605号公報 特開平3−142689号公報 特開昭64−4045号公報
本発明の目的は、作業性の向上を図り、かつ処理速度の高速化を図った画像処理検査方法及び画像処理検査システムを提供することにある。
本発明は、上記課題を解決するために以下の手段を採用した。
すなわち、本発明の画像処理検査方法は、
連続的な模様を有する検査対象品の撮影画像と良品画像との比較によって検査対象品の検査を行う画像処理検査方法において、
連続的な模様に沿うように、検査対象品を連続的に撮影する撮影工程と、
該撮影工程により得られた複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成する良品画像作成工程と、
各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する検査工程と、
を有する画像処理検査方法であって、
良品画像作成工程においては、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする。
良品画像作成工程においては、前記評価の高い複数の撮影画像の平均的画像を良品画像とするとよい。ここで、「平均的画像」としては、良品画像における各画素の濃度値を決めるにあたり、複数の撮影画像における対応する各画素の濃度値の平均値を用いた画像,複数の撮影画像における対応する各画素の濃度値の中から中央の値を用いた画像(メディアン手法を用いた画像),複数の撮影画像における対応する各画素の濃度値のうち最小値と最大値の平均値を用いた画像(モルフォロジー手法を用いた画像)などを例に挙げることができる。以下同様である。
検査工程においては、撮影工程において撮影された複数の連続撮影画像を連続的に並べた画像と、良品画像作成工程において作成された複数の良品画像を並べた画像とを比較することによって、複数の撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査するとよい。
検査対象品のうち少なくとも検査する部位の外観が回転対称であるように構成されており、
撮影工程においては、前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させた状態で、固定したカメラによって連続撮影を行うとよい。
また、本発明の画像処理検査システムにおいては、
連続的な模様を有する検査対象品を、連続的な模様に沿うように、連続的に撮影するカメラと、
該カメラによって撮影された複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成し、各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する画像処理装置と、
を備える、検査対象品の検査を行う画像処理検査システムであって、
前記画像処理装置は、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする。
前記画像処理装置は、前記評価の高い複数の撮影画像の平均的画像を良品画像とするとよい。
前記画像処理装置は、前記カメラによって撮影された複数の撮影画像を並べた画像と、作成した複数の良品画像を並べた画像とを比較することによって、複数の撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査するとよい。
検査対象品のうち少なくとも検査する部位の外観が回転対称であるように構成されており、
前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させるモータを備え、
該モータによって検査対象品を回転させ、かつ前記カメラを固定させた状態で、検査対象品の連続撮影を行うとよい。
なお、上記各構成は、可能な限り組み合わせて採用し得る。
以上のように、本発明の画像処理検査方法及び画像処理検査システムによれば、検査対象品の撮影画像自体から良品画像が作成される。従って、一般的なパターンマッチング方式を採用する場合に必要な位置決め処理が不要となる。これにより、処理速度の高速化を図ることができる。また、連続的な模様の寸法の大小が品質の良し悪しにあまり影響されないものを検査する場合においても、検査対象品の撮影画像自体から良品画像が作成されるので、良品を不良品と判定しまうようなことを抑制できる。
また、本発明によれば、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成する構成を採用している。従って、撮影した画像中に欠陥を有する場合、その撮影画像を除いたものによって、良品画像が作成されるので、良品画像に欠陥が反映されてしまうことを抑制できる。更に、本発明によれば、作成する良品画像に対応する撮影画像の近傍の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成する構成を採用している。従って、複数の撮影画像に欠陥が含まれていたとしても、良品画像の作成には、一致率の評価の高いものが用いられるので、欠陥が含まれた撮影画像を用いて良品画像を作成してしまうことを抑制できる。
また、複数の撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査することによって、処理速度をより一層速くすることができる。
以上説明したように、本発明によれば、作業性を向上させることができ、かつ処理速度の高速化を図ることができる。
以下に図面を参照して、この発明を実施するための最良の形態を、実施例に基づいて例示的に詳しく説明する。ただし、この実施例に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
(実施例)
図1〜図10を参照して、本発明の実施例に係る画像処理検査方法及び画像処理検査システムについて説明する。
<画像処理検査システム>
図1及び図2を参照して、本発明の実施例に係る画像処理検査システムの全体構成について説明する。図1は本発明の実施例に係る画像処理検査システムの概略構成図である。図2は本発明の実施例に係る検査対象品の一例を示す概略図である。なお、図2(a)は正面図であり、図2(b)は断面図(図2(a)中、AA断面図)である。
本実施例に係る画像処理検査システムは、検査対象品10を撮影するカメラ30と、カメラ30によって撮影した画像の画像処理を行う画像処理装置20とを備えている。また、画像処理検査システムは、カメラ30による画像撮影と同期するように、検査対象品10を回転させるための駆動制御装置50及びモータ60を備えている。更に、画像処理検査システムは、検査対象品10を照射する照明41と、照明41によって照射した光を拡散する拡散板42と、撮影画像や検査結果を表示させるディスプレイ70とを備えている。
画像処理装置20は、カメラ30によって撮影した画像を入力する画像入力部22と、入力された画像の処理や駆動制御装置50を制御するCPU21と、ディスプレイ70に
画像を出力する画像出力部23とを備えている。
本実施例に係る検査対象品10は金属製のベローズであり、蛇腹形状のベローズ本体13と、その両側にそれぞれ設けられるキャップ11及びエンドカバー12とから構成される。この検査対象品10の内部は気密性を有することが求められる。そして、ベローズ本体13とキャップ11、及びベローズ本体13とエンドカバー12とは、それぞれ溶接によって固定される。この溶接によって、ベローズ本体13とキャップ11との間、及びベローズ本体13とエンドカバー12との間には、それぞれ溶接ビードY1,Y2が形成される。
溶接が適正に行われ、要求される気密性が確保された品質となっている場合、これらの溶接ビードY1,Y2は、一定の幅を有した滑らかな外観となることが経験則上知られている。つまり、溶接ビードの幅に局所的な変化がなく、一定の幅であれば(連続的な模様が一様であれば)、適切に溶接がなされていると判断できる。
従って、適切に溶接が行われたか否かの判定は、これらの溶接ビードY1,Y2の幅が全周に亘って一定(一様)であるか否かを外観検査することにより行われる。また、本実施例に係る検査対象品10は、少なくとも検査する部位(溶接ビードY1,Y2の部分)の外観が回転対称となるように構成されている。そこで、本実施例においては、上記の画像処理検査システムを用い、検査対象品10を前記回転対称の対称軸を中心に回転させた状態で、カメラ30によって溶接ビードY1,Y2を全周に亘って連続的に撮影する。例えば、溶接ビードY1の外観検査を行う場合には、検査対象品10を回転させた状態で、図2(a)中Vに示す部分を連続撮影する。これにより、溶接ビードY1の全周に亘る撮影画像を得ることができる。なお、溶接ビードY2についても、同様の方法によって全周に亘る撮影画像を得ることができる。
<画像処理検査方法>
図3を参照して、本実施例に係る画像処理検査方法の概要、すなわち、本実施例に係る画像処理検査システムを用いて画像処理検査を行う場合の処理手順の概要を説明する。図3は本発明の実施例に係る画像処理検査の処理手順の概要を示すフローチャートである。
まず、検査対象品10を画像処理検査システムにセットし、検査を開始する(S0)。検査が開始されると、検査対象品10が回転し、この回転に同期するように、カメラ30によって連続撮影が行われる(撮影工程S1)。カメラ30によって撮影された画像は画像処理装置20に転送される(画像転送工程S2)。画像処理装置20においては、転送された各撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成する(良品画像作成工程S3)。そして、画像処理装置20は、各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像とを比較することによって、欠陥部位の有無を検査する(検査工程S4)。その後、画像処理装置20は、検査結果に基づいて、検査対象品10が良品であるか不良品であるかを判定し(判定工程S5)、処理を終了する。なお、撮影画像と良品画像との比較結果,欠陥の有無、及び判定の結果等については、適宜、ディスプレイ70に表示される。
<良品画像作成工程>
特に、図4〜図9を参照して、本発明の実施例に係る良品画像作成工程について、詳細に説明する。図4は撮影画像の一例を示す概略図である。図5は良品画像形成工程において、良品画像の作成の基礎となる撮影画像の選択の仕方を説明する説明図である。図6は撮影画像の拡大図である。なお、図6(a)は一枚の撮影画像の拡大図(図2(a)中のV部に相当する図)であり、図6(b)は図6(a)中P1部の拡大図である。図7は撮影画像の一部を画素毎に分割して各画素の濃度値を付した図である。なお、図7においては、図6(b)中P2の部分に対応する図である。図8は良品画像形成工程において、良
品画像の作成の基礎となる撮影画像の選択の仕方を説明する説明図である。図9は作成した良品画像の一例を示す概略図である。
本実施例では、回転状態にある検査対象品10に対して、連続的に60枚の画像を撮影することによって、溶接ビードY1の中で撮影されていない部分がなく、全周の全てに亘って溶接ビードY1の撮影画像が得られる場合を例にして説明する。
本実施例においては、カメラ30によって連続的に撮影された60枚の撮影画像を並べて、一枚の画像としている。具体的には、図4に示すように、1枚目から10枚目までの撮影画像を横に連結するように並べて、11枚目から20枚目までの撮影画像を、その下に連結するように並べるという手順で、60枚目までの全ての撮影画像を並べている。なお、1枚の撮影画像の中には、2本の黒い横線が現れており、上部の横線が溶接ビードY1の上端付近に相当し、下部の横線が溶接ビードY1の下端付近に相当する。従って、溶接ビードY1の幅が一定であれば、2本の黒い横線は平行になる。本実施例では、45枚目の撮影画像の中に、溶接ビードY1の幅が他の部分よりも細くなっている欠陥を有する場合を例にして説明する。
良品画像作成工程においては、60枚の撮影画像の全てに対して、それぞれに対応した良品画像を作成する。以下、k枚目の撮影画像に対応した良品画像を作成する場合について説明する。
本実施例においては、k枚目の撮影画像に対応した良品画像を作成する場合、このk枚目の撮影画像を除き、当該k枚目の撮影画像の近傍の撮影画像を用いて、良品画像を作成する。より具体的には、まず、(k−N)枚目から(k−1)枚目の撮影画像群と、(k+1)枚目から(k+N)枚目の撮影画像群の中からそれぞれ複数の撮影画像を抽出する。本実施例では、より具体的な一例として、(k−5)枚目から(k−1)枚目の撮影画像群と、(k+1)枚目から(k+5)枚目の撮影画像群の中からそれぞれ3枚の撮影画像を抽出する場合を例にして説明する。
従って、例えば、k=11の場合には、6枚目から10枚目までの撮影画像群の中から3枚の撮影画像が抽出され、かつ12枚目から16枚目までの撮影画像群の中から3枚の撮影画像が抽出される。ここで、本実施例においては、上記の通り、60枚の撮影画像は、全周に亘って撮影された画像であり、60枚目と1枚目の撮影画像は隣接する画像である。従って、例えば、k=1の場合には、55枚目から60枚目までの撮影画像群の中から3枚の撮影画像が抽出され、かつ2枚目から6枚目の撮影画像群の中から3枚の撮影画像が抽出される。また、例えば、k=59の場合には、54枚目から58枚目までの撮影画像群の中から3枚の撮影画像が抽出され、60枚目と1枚目から4枚目までの撮影画像群の中から3枚の撮影画像が抽出される。
次に、k枚目の前後の撮影画像群の中から、良品画像を作成するための撮影画像を抽出する方法について説明する。本実施例においては、撮影画像群における5枚の撮影画像同士で一致率の評価を行う。ここでは、(k+1)枚目から(k+5)枚目の撮影画像群における5枚の撮影画像同士で一致率の評価を行う場合を説明する。
撮影画像はマトリクスにて示される複数の画素から構成される。各画素においては、0〜255の濃度値を取り得る。濃度値は濃淡に応じた値となり、完全な黒の場合には濃度値は0となり、完全な白の場合には濃度値は255となる。図7は図6(b)中のP2の部分について示したものであり、上部が白色で下部が黒色となる部分においては、上部側の濃度値は大きくなり、下部側の濃度値は小さくなり、境界部付近では、濃度値にばらつく部分が生じる。
撮影画像群における5枚の撮影画像同士で一致率の評価を行う場合には、5枚の撮影画像の全ての組み合わせについて一致率を求める必要がある。
まず、ある撮影画像とある撮影画像との一致率の求め方を、図8を参照して説明する。図8に示すように、例えば、(k+1)枚目の撮影画像における各画素の濃度値をa1,a2,・・・,aN,・・・aZとする。なお、a1は1行1列目の画素の濃度値であり、aZは撮影画像の最終行(最下行)最終列(最右列)の画素の濃度値である。また、(k+2)枚目の撮影画像における各画素の濃度値をb1,b2,・・・,bN,・・・bZとする。なお、b1は1行1列目の画素の濃度値であり、bZは撮影画像の最終行(最下行)最終列(最右列)の画素の濃度値である。
これら(k+1)枚目と(k+2)枚目の撮影画像の一致率は、それぞれ対応する画素の濃度値の差分を2乗したものの総和Σa_bにより得られる。つまり、総和Σa_b=(a1−b1)+(a2−b2)+・・・+(aN−bN)+・・・+(aZ−bZ)と表すことができる。この総和Σa_bが小さければ小さいほど、一致率は高いことになる。ここで、ある画像とある画像の一致率を評価するために、それぞれ対応する画素の濃度値の差分を2乗したものの総和を、上記の通り、Σにて表記することとする。また、(k+1)枚目の撮影画像の場合には添え字をaとし、(k+2)枚目の撮影画像の場合には添え字をbとし、(k+3)枚目の撮影画像の場合には添え字をcとし、(k+4)枚目の撮影画像の場合には添え字をdとし、(k+5)枚目の撮影画像の場合には添え字をeとする。そして、(k+1)枚目の撮影画像と(k+2)枚目の撮影画像の一致率を評価する場合に、それぞれ対応する画素の濃度値の差分を2乗したものの総和は、上記の通り、Σa_bにて表される。また、Σa_bcdeと表記した場合には、
Σa_bcde=Σa_b+Σa_c+Σa_d+Σa_e
を意味するものとする。
このようにして、(k+1)枚目と(k+2)枚目の撮影画像についてのΣa_b,(k+1)枚目と(k+3)枚目の撮影画像についてのΣa_c,(k+1)枚目と(k+4)枚目の撮影画像についてのΣa_d及び(k+1)枚目と(k+5)枚目の撮影画像についてのΣa_eをそれぞれ求める。そして、これらを足し合わせた総和Σa_bcdeが(k+1)枚目から(k+5)枚目の撮影画像群における(k+1)枚目の撮影画像の一致率の評価となる。なお、総和Σa_bcdeが小さいほど、一致率が高いことは言うまでもない。
以上の(k+1)枚目の撮影画像の一致率の評価と同様に、(k+1)枚目から(k+5)枚目の撮影画像群における(k+2)枚目の撮影画像についてΣb_acdeと、(k+3)枚目の撮影画像についてΣc_abdeと、(k+4)枚目の撮影画像についてΣd_abceと、(k+5)枚目の撮影画像についてΣe_abcdをそれぞれ求める。そして、これらの中から評価の高い3枚の撮影画像を抽出する。同様に、(k−5)枚目から(k−1)枚目までの撮影画像の中から、一致率の評価の高い3枚の撮影画像を抽出する。従って、合計6枚の撮影画像が抽出される。
本実施例においては、このように抽出された6枚の撮影画像の平均的画像をk枚目の撮影画像に対応する良品画像としている。本実施例では、平均的画像として、良品画像における各画素の濃度値を決めるにあたり、複数の撮影画像における対応する各画素の濃度値の平均値を用いる手法を採用している。具体的には、以下の通りである。
6枚の撮影画像のM行N列目の画素の濃度値を、それぞれsMN,tMN,uMN,vMN,wMN,xMNとする。この場合、平均的画像におけるM行N列目の画素の濃度値
を(sMN+tMN+uMN+vMN+wMN+xMN)/6とする。例えば、6枚の撮影画像の100行100列目の画素の濃度値が、それぞれ170,170,180,180,190,190の場合、平均的画像における100行100列目の画素の濃度値は(170+170+180+180+190+190)/6=180となる。このようにして、全ての画素の濃度値が定まり、平均的画像が得られる。なお、平均的画像としては、このような手法に限られるものではなく、メディアン手法やモルフォロジー手法を採用することもできる。また、良品画像として、平均的画像を用いるのではなく、良品画像における各画素の濃度値を決めるにあたり、抽出された複数の撮影画像における対応する各画素の濃度値の中から最小値を選択する手法(Erosion)や最大値を選択する手法(Dilation)を採用しても良い。
以上のようにして、1枚目から60枚目までの60枚の撮影画像の全てに対して、それぞれに対応した良品画像を作成する。そして、本実施例では、作成した全ての良品画像を並べて、一枚の画像としている。具体的には、図9に示すように、1枚目から10枚目までの良品画像を横に連結するように並べて、11枚目から20枚目までの良品画像を、その下に連結するように並べるという手順で、60枚目までの全ての良品画像を並べている。
上記の通り、撮影画像においては、45枚目の撮影画像の中に欠陥を有している。しかしながら、この45枚目の撮影画像に対応する45枚目の良品画像は、上記の説明から明らかなように、40枚目から44枚目までの撮影画像群と、46枚目から50枚目までの撮影画像群の中から抽出された6枚の撮影画像の平均画像となる。従って、図9からも分かるように、45枚目の良品画像は、欠陥を有する撮影画像の情報が全く反映されていない画像となる。
<検査工程>
特に図10を参照して、欠陥部位の有無を検査する検査工程について説明する。図10は検査結果の一例を示す概略図である。
検査工程においては、撮影画像と良品画像を比較することによって、欠陥部位の有無を検査する。本実施例では、撮影画像の各画素における濃度値と良品画像の各画素における濃度値の差分を算出して、算出結果を2値化することにより、欠陥部位を検出するようにしている。より具体的には、撮影画像のある画素における濃度値と良品画像の当該画素に対応する画素における濃度値との差分が一定の範囲に収まっている場合は「0」とし、収まっていない場合には「1」とする。そして、ディスプレイ70には、「0」の画素は白色で示し、「1」の画素は黒色で示す。これにより、黒色の部分が欠陥部位として表示される。図10に示すように、本実施例においては、45枚目の撮影画像に対応する部分に欠陥部位X1,X2が表示される。
また、本実施例においては、上記の通り、カメラ30によって連続的に撮影された60枚の撮影画像を並べて一枚の画像とし、作成した全ての良品画像を並べて一枚の画像としている。従って、撮影画像の各画素における濃度値と良品画像の各画素における濃度値の差分を算出する場合には、60枚の全ての撮影画像(の全ての画素)について一括して行うことができる。また、これに伴い、欠陥部位の検出も、60枚の全ての撮影画像について一括して行うことができる。
<判定工程>
検査対象品10が良品であるか不良品であるかの判定は、検査工程において検出された欠陥部位の面積,幅,周囲長などに基づいて行っている。具体的には、例えば、幅または周囲長が予め定めた閾値を超えた場合には不良品とし、閾値を超えていない場合には良品
と判定する。
<本実施例の優れた点>
以上のように、本発明の実施例に係る画像処理検査方法及び画像処理検査システムによれば、検査対象品10の撮影画像自体から良品画像が作成される。従って、一般的なパターンマッチング方式を採用する場合に必要な位置決め処理が不要となる。これにより、処理速度の高速化を図ることができる。
また、本実施例に係る検査対象品10においては、溶接が適切に行われているか否かが検査の対象となる。そして、溶接が適切に行われているか否かについては、溶接ビードY1,Y2の幅が一定であるか否かによって判定することができる。つまり、溶接ビードY1,Y2の幅が全周に亘って一定(一様)であるか否かを外観検査することによって、適切に溶接が行われたか否かを判定している。
このように、連続的な模様(本実施例では溶接ビードY1,Y2の外観)の寸法(本実施例では幅)の大小が品質の良し悪しにあまり影響されない検査対象品を検査する場合においても、本実施例では、検査対象品の撮影画像自体から良品画像が作成されるので、良品を不良品と判定しまうようなことを抑制できる。
また、本実施例によれば、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成する構成を採用している。従って、撮影した画像中に欠陥を有する場合、その撮影画像を除いたものによって、良品画像が作成されるので、良品画像に欠陥が反映されてしまうことを抑制できる。
更に、本実施例によれば、作成する良品画像に対応する撮影画像の近傍の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成する構成を採用している。従って、複数の撮影画像に欠陥が含まれていたとしても、良品画像の作成には、一致率の評価の高いものが用いられるので、欠陥が含まれた撮影画像を用いて良品画像を作成してしまうことを抑制できる。
また、本実施例では、撮影した全ての撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査する構成を採用している。従って、処理速度をより一層速くすることができる。
なお、検査対象品10の全周を撮影するのに、120枚の連続撮影が必要とされ、連続撮影に2秒の時間を有するものについて、標準画像と撮影画像を一枚一枚比較する一般的なパターンマッチング方式を用いた場合と本実施例に係る検査方法との比較試験を行った。すると、前者の場合には、撮影開始から検査結果が得られるまでに20秒程度要したのに対して、後者の場合には2秒程度(つまり、ほぼ連続撮影時間のみ)しか要しなかった。また、一般的なパターンマッチング方式を採用する場合には、ロット毎など、頻繁に標準画像を作成しなければならなかったのに対して、本実施例に係る検査方法を採用することで、そのような作業が必要なくなり、作業性が極めて向上した。
<その他>
良品画像作成工程における良品画像の作成に用いる撮影画像の抽出について、撮影画像群をどのようにするか、撮影画像群の中から何枚を抽出するかに関しては、上記の本実施例で示したものに限られず、適宜設定すればよい。
また、本実施例において、検査工程では、撮影画像の各画素における濃度値と良品画像の各画素における濃度値の差分を算出して、算出結果を2値化することにより、欠陥部位
を検出する場合を示した。しかしながら、撮影画像と良品画像を比較することによって、欠陥部位の有無を検査する方法は、これに限らず、適宜、各種公知技術を採用することができる。
また、判定工程についても、本実施例に示したものに限らず、適宜、各種公知技術を採用することができる。
また、検査対象品の検査対象部位の外観が回転対称の場合には、本実施例で示したように、回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させた状態で、固定したカメラによって連続撮影を行うことで、簡単に検査対象部位を連続的に撮影することができる。
しかしながら、本発明は、検査対象部位(連続的な模様を有する部位)の外観が回転対称ではないものについても適用可能である。要は、検査対象部位である連続的な模様の部分を、連続的な模様に沿うように、連続的に撮影すればよい。従って、検査対象品が平面的なものにも適用することができる。また、連続的な模様の部分を、連続的な模様に沿うように、連続的に撮影するに際しては、検査対象品を固定させた状態でカメラを移動させてもよいし、カメラを固定させた状態で検査対象品を移動させてもよいし、両者を移動させてもよい。
また、本実施例においては、連続的な模様(良品画像の模様)に変化がない、つまり、連続的な模様が直線的である場合について示した。しかしながら、検査対象品における検査対象部位となる連続的な模様が変化する場合であっても、その模様の変化が緩やかであれば、本発明を適用することができる。何故なら、良品画像を作成する場合に、作成する良品画像に対応する撮影画像の近傍の複数の撮影画像の中から良品画像を作成する構成を採用しているので、模様の変化が緩やかであれば、適切な良品画像が作成されるからである。
また、連続撮影により得られる撮影画像については、連続模様において撮影されない部分が生じないようにすればよい。従って、連続して撮影された前後の撮影画像において、画像の一部が互いに重なるようにしてもよいし、重ならないようにしてもよい。
また、本実施例においては、欠陥部位の検出を、全ての撮影画像について一括して行う場合を示した。しかしながら、連続撮影により得られる画像の枚数が多い場合には、適当な枚数ごとに分けて、欠陥部位の検出を行うようにしてもよい。勿論、一枚ずつ欠陥部位の検出を行うこともできる。この場合でも、一般的なパターンマッチング方式を採用する場合のように、位置決め処理が不要であることから、処理速度の高速化を図ることができる。
図1は本発明の実施例に係る画像処理検査システムの概略構成図である。 図2は本発明の実施例に係る検査対象品の一例を示す概略図である。 図3は本発明の実施例に係る画像処理検査の処理手順の概要を示すフローチャートである。 図4は撮影画像の一例を示す概略図である。 図5は良品画像形成工程において、良品画像の作成の基礎となる撮影画像の選択の仕方を説明する説明図である。 図6は撮影画像の拡大図である。 図7は撮影画像の一部を画素毎に分割して各画素の濃度値を付した図である。 図8は良品画像形成工程において、良品画像の作成の基礎となる撮影画像の選択の仕方を説明する説明図である。 図9は作成した良品画像の一例を示す概略図である。 図10は検査結果の一例を示す概略図である。
符号の説明
10 検査対象品
11 キャップ
12 エンドカバー
13 ベローズ本体
20 画像処理装置
21 CPU
22 画像入力部
23 画像出力部
30 カメラ
41 照明
42 拡散板
50 駆動制御装置
60 モータ
70 ディスプレイ
X1,X2 欠陥部位
Y1,Y2 溶接ビード

Claims (8)

  1. 連続的な模様を有する検査対象品の撮影画像と良品画像との比較によって検査対象品の検査を行う画像処理検査方法において、
    連続的な模様に沿うように、検査対象品を連続的に撮影する撮影工程と、
    該撮影工程により得られた複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成する良品画像作成工程と、
    各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する検査工程と、
    を有する画像処理検査方法であって、
    良品画像作成工程においては、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする画像処理検査方法。
  2. 良品画像作成工程においては、前記評価の高い複数の撮影画像の平均的画像を良品画像とすることを特徴とする請求項1に記載の画像処理検査方法。
  3. 検査工程においては、撮影工程において撮影された複数の連続撮影画像を連続的に並べた画像と、良品画像作成工程において作成された複数の良品画像を並べた画像とを比較することによって、複数の撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査することを特徴とする請求項1または2に記載の画像処理検査方法。
  4. 検査対象品のうち少なくとも検査する部位の外観が回転対称であるように構成されており、
    撮影工程においては、前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させた状態で、固定したカメラによって連続撮影を行うことを特徴とする請求項1,2または3に記載の画像処理検査方法。
  5. 連続的な模様を有する検査対象品を、連続的な模様に沿うように、連続的に撮影するカメラと、
    該カメラによって撮影された複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成し、各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する画像処理装置と、
    を備える、検査対象品の検査を行う画像処理検査システムであって、
    前記画像処理装置は、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする画像処理検査システム。
  6. 前記画像処理装置は、前記評価の高い複数の撮影画像の平均的画像を良品画像とすることを特徴とする請求項5に記載の画像処理検査システム。
  7. 前記画像処理装置は、前記カメラによって撮影された複数の連続撮影画像を連続的に並べた画像と、作成した複数の良品画像を並べた画像とを比較することによって、複数の撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査することを特徴とする請求項5または6に記載の画像処理検査システム。
  8. 検査対象品のうち少なくとも検査する部位の外観が回転対称であるように構成されており、
    前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させるモータを備え、
    該モータによって検査対象品を回転させ、かつ前記カメラを固定させた状態で、検査対
    象品の連続撮影を行うことを特徴とする請求項5,6または7に記載の画像処理検査システム。
JP2008179454A 2008-07-09 2008-07-09 画像処理検査方法及び画像処理検査システム Active JP5195096B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008179454A JP5195096B2 (ja) 2008-07-09 2008-07-09 画像処理検査方法及び画像処理検査システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008179454A JP5195096B2 (ja) 2008-07-09 2008-07-09 画像処理検査方法及び画像処理検査システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010019646A true JP2010019646A (ja) 2010-01-28
JP5195096B2 JP5195096B2 (ja) 2013-05-08

Family

ID=41704713

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008179454A Active JP5195096B2 (ja) 2008-07-09 2008-07-09 画像処理検査方法及び画像処理検査システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5195096B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019045871A (ja) * 2013-05-24 2019-03-22 リンカーン グローバル,インコーポレイテッド シミュレーション溶接システム及び溶接シミュレータ
JP2020156253A (ja) * 2019-03-22 2020-09-24 日立オートモティブシステムズ株式会社 接合部の検査方法及び接合部の検査装置
US10930174B2 (en) 2013-05-24 2021-02-23 Lincoln Global, Inc. Systems and methods providing a computerized eyewear device to aid in welding
US11669954B2 (en) * 2019-11-13 2023-06-06 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and method for controlling same

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09109371A (ja) * 1995-10-16 1997-04-28 Dainippon Printing Co Ltd 印刷物検査装置における学習画像作成方法
JPH09251536A (ja) * 1996-03-15 1997-09-22 Komatsu Ltd パターンマッチングによる検査装置および検査方法
JP2006126946A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Kokusai Gijutsu Kaihatsu Co Ltd マスターパターン作成装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09109371A (ja) * 1995-10-16 1997-04-28 Dainippon Printing Co Ltd 印刷物検査装置における学習画像作成方法
JPH09251536A (ja) * 1996-03-15 1997-09-22 Komatsu Ltd パターンマッチングによる検査装置および検査方法
JP2006126946A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Kokusai Gijutsu Kaihatsu Co Ltd マスターパターン作成装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10991267B2 (en) 2009-07-10 2021-04-27 Lincoln Global, Inc. Systems and methods providing a computerized eyewear device to aid in welding
JP2019045871A (ja) * 2013-05-24 2019-03-22 リンカーン グローバル,インコーポレイテッド シミュレーション溶接システム及び溶接シミュレータ
US10748447B2 (en) 2013-05-24 2020-08-18 Lincoln Global, Inc. Systems and methods providing a computerized eyewear device to aid in welding
US10930174B2 (en) 2013-05-24 2021-02-23 Lincoln Global, Inc. Systems and methods providing a computerized eyewear device to aid in welding
JP2020156253A (ja) * 2019-03-22 2020-09-24 日立オートモティブシステムズ株式会社 接合部の検査方法及び接合部の検査装置
JP7194055B2 (ja) 2019-03-22 2022-12-21 日立Astemo株式会社 接合部の検査方法及び接合部の検査装置
US11669954B2 (en) * 2019-11-13 2023-06-06 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and method for controlling same

Also Published As

Publication number Publication date
JP5195096B2 (ja) 2013-05-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100954703B1 (ko) 결함을 검출하는 방법 및 시스템
US20060133660A1 (en) Apparatus and method for detecting defect existing in pattern on object
US7869643B2 (en) Advanced cell-to-cell inspection
JP2017198671A (ja) 画像処理装置および画像処理方法
JP2014215163A (ja) 検査装置
JP5195096B2 (ja) 画像処理検査方法及び画像処理検査システム
JP2014020926A (ja) 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法
JP2005121546A (ja) 欠陥検査方法
JP2018004272A (ja) パターン検査装置およびパターン検査方法
TWI609178B (zh) Pattern inspection device and pattern inspection method
JP2011076204A (ja) 印刷物検査方法及び印刷物検査装置
TWI607212B (zh) Image generation device, defect inspection device, and defect inspection method
JP2016194434A (ja) 検査システムおよび検査方法
JP2009250937A (ja) パターン検査装置および方法
JP2010071980A (ja) 熱交換器のフィン抽出検査方法
JP2009157701A (ja) 画像処理方法及び画像処理装置
JP2002008029A (ja) 画像検査装置
JP5239275B2 (ja) 欠陥検出方法および欠陥検出装置
WO2020158630A1 (ja) 検出装置、学習器、コンピュータプログラム、検出方法及び学習器の生成方法
JP3944075B2 (ja) 試料検査方法及び検査装置
JP4428112B2 (ja) 外観検査方法及び外観検査装置
JP2009150656A (ja) パターン検査方法およびパターン検査装置
JP2005265828A (ja) 疵検出方法及び装置
JP5231779B2 (ja) 外観検査装置
JP2016212488A (ja) 検査システム、検査方法、プログラムおよび記憶媒体

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110608

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120712

TRDD Decision of grant or rejection written
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121226

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130121

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5195096

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250