JP5195096B2 - 画像処理検査方法及び画像処理検査システム - Google Patents
画像処理検査方法及び画像処理検査システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5195096B2 JP5195096B2 JP2008179454A JP2008179454A JP5195096B2 JP 5195096 B2 JP5195096 B2 JP 5195096B2 JP 2008179454 A JP2008179454 A JP 2008179454A JP 2008179454 A JP2008179454 A JP 2008179454A JP 5195096 B2 JP5195096 B2 JP 5195096B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- defective
- captured
- images
- image processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 118
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 77
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 73
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 122
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 11
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 9
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 19
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000000877 morphologic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000010339 dilation Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
連続的な模様を有する検査対象品の撮影画像と良品画像との比較によって検査対象品の検査を行う画像処理検査方法において、
連続的な模様に沿うように、検査対象品を連続的に撮影する撮影工程と、
該撮影工程により得られた複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成する良品画像作成工程と、
各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する検査工程と、
を有する画像処理検査方法であって、
良品画像作成工程においては、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする。
撮影工程においては、前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させた状態で、固定したカメラによって連続撮影を行うとよい。
連続的な模様を有する検査対象品を、連続的な模様に沿うように、連続的に撮影するカメラと、
該カメラによって撮影された複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成し、各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する画像処理装置と、
を備える、検査対象品の検査を行う画像処理検査システムであって、
前記画像処理装置は、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする。
前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させるモータを備え、
該モータによって検査対象品を回転させ、かつ前記カメラを固定させた状態で、検査対象品の連続撮影を行うとよい。
図1〜図10を参照して、本発明の実施例に係る画像処理検査方法及び画像処理検査システムについて説明する。
図1及び図2を参照して、本発明の実施例に係る画像処理検査システムの全体構成について説明する。図1は本発明の実施例に係る画像処理検査システムの概略構成図である。図2は本発明の実施例に係る検査対象品の一例を示す概略図である。なお、図2(a)は正面図であり、図2(b)は断面図(図2(a)中、AA断面図)である。
画像を出力する画像出力部23とを備えている。
図3を参照して、本実施例に係る画像処理検査方法の概要、すなわち、本実施例に係る画像処理検査システムを用いて画像処理検査を行う場合の処理手順の概要を説明する。図3は本発明の実施例に係る画像処理検査の処理手順の概要を示すフローチャートである。
特に、図4〜図9を参照して、本発明の実施例に係る良品画像作成工程について、詳細に説明する。図4は撮影画像の一例を示す概略図である。図5は良品画像形成工程において、良品画像の作成の基礎となる撮影画像の選択の仕方を説明する説明図である。図6は撮影画像の拡大図である。なお、図6(a)は一枚の撮影画像の拡大図(図2(a)中のV部に相当する図)であり、図6(b)は図6(a)中P1部の拡大図である。図7は撮影画像の一部を画素毎に分割して各画素の濃度値を付した図である。なお、図7においては、図6(b)中P2の部分に対応する図である。図8は良品画像形成工程において、良
品画像の作成の基礎となる撮影画像の選択の仕方を説明する説明図である。図9は作成した良品画像の一例を示す概略図である。
Σa_bcde=Σa_b+Σa_c+Σa_d+Σa_e
を意味するものとする。
を(sMN+tMN+uMN+vMN+wMN+xMN)/6とする。例えば、6枚の撮影画像の100行100列目の画素の濃度値が、それぞれ170,170,180,180,190,190の場合、平均的画像における100行100列目の画素の濃度値は(170+170+180+180+190+190)/6=180となる。このようにして、全ての画素の濃度値が定まり、平均的画像が得られる。なお、平均的画像としては、このような手法に限られるものではなく、メディアン手法やモルフォロジー手法を採用することもできる。また、良品画像として、平均的画像を用いるのではなく、良品画像における各画素の濃度値を決めるにあたり、抽出された複数の撮影画像における対応する各画素の濃度値の中から最小値を選択する手法(Erosion)や最大値を選択する手法(Dilation)を採用しても良い。
特に図10を参照して、欠陥部位の有無を検査する検査工程について説明する。図10は検査結果の一例を示す概略図である。
検査対象品10が良品であるか不良品であるかの判定は、検査工程において検出された欠陥部位の面積,幅,周囲長などに基づいて行っている。具体的には、例えば、幅または周囲長が予め定めた閾値を超えた場合には不良品とし、閾値を超えていない場合には良品
と判定する。
以上のように、本発明の実施例に係る画像処理検査方法及び画像処理検査システムによれば、検査対象品10の撮影画像自体から良品画像が作成される。従って、一般的なパターンマッチング方式を採用する場合に必要な位置決め処理が不要となる。これにより、処理速度の高速化を図ることができる。
良品画像作成工程における良品画像の作成に用いる撮影画像の抽出について、撮影画像群をどのようにするか、撮影画像群の中から何枚を抽出するかに関しては、上記の本実施例で示したものに限られず、適宜設定すればよい。
を検出する場合を示した。しかしながら、撮影画像と良品画像を比較することによって、欠陥部位の有無を検査する方法は、これに限らず、適宜、各種公知技術を採用することができる。
11 キャップ
12 エンドカバー
13 ベローズ本体
20 画像処理装置
21 CPU
22 画像入力部
23 画像出力部
30 カメラ
41 照明
42 拡散板
50 駆動制御装置
60 モータ
70 ディスプレイ
X1,X2 欠陥部位
Y1,Y2 溶接ビード
Claims (8)
- 連続的な模様を有する検査対象品の撮影画像と良品画像との比較によって検査対象品の検査を行う画像処理検査方法において、
連続的な模様に沿うように、検査対象品を連続的に撮影する撮影工程と、
該撮影工程により得られた複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成する良品画像作成工程と、
各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する検査工程と、
を有する画像処理検査方法であって、
良品画像作成工程においては、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする画像処理検査方法。 - 良品画像作成工程においては、前記評価の高い複数の撮影画像の平均的画像を良品画像とすることを特徴とする請求項1に記載の画像処理検査方法。
- 検査工程においては、撮影工程において撮影された複数の連続撮影画像を連続的に並べた画像と、良品画像作成工程において作成された複数の良品画像を並べた画像とを比較することによって、複数の撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査することを特徴とする請求項1または2に記載の画像処理検査方法。
- 検査対象品のうち少なくとも検査する部位の外観が回転対称であるように構成されており、
撮影工程においては、前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させた状態で、固定したカメラによって連続撮影を行うことを特徴とする請求項1,2または3に記載の画像処理検査方法。 - 連続的な模様を有する検査対象品を、連続的な模様に沿うように、連続的に撮影するカメラと、
該カメラによって撮影された複数の撮影画像のそれぞれに対応する良品画像を作成し、各撮影画像とそれぞれに対応した良品画像との比較によって、欠陥部位の有無を検査する画像処理装置と、
を備える、検査対象品の検査を行う画像処理検査システムであって、
前記画像処理装置は、作成する良品画像に対応する撮影画像を除き、当該撮影画像の近傍の複数の撮影画像同士で一致率の評価を行い、評価の高い複数の撮影画像から良品画像を作成することを特徴とする画像処理検査システム。 - 前記画像処理装置は、前記評価の高い複数の撮影画像の平均的画像を良品画像とすることを特徴とする請求項5に記載の画像処理検査システム。
- 前記画像処理装置は、前記カメラによって撮影された複数の連続撮影画像を連続的に並べた画像と、作成した複数の良品画像を並べた画像とを比較することによって、複数の撮影画像について一括して欠陥部位の有無を検査することを特徴とする請求項5または6に記載の画像処理検査システム。
- 検査対象品のうち少なくとも検査する部位の外観が回転対称であるように構成されており、
前記回転対称の対称軸を中心に検査対象品を回転させるモータを備え、
該モータによって検査対象品を回転させ、かつ前記カメラを固定させた状態で、検査対
象品の連続撮影を行うことを特徴とする請求項5,6または7に記載の画像処理検査システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008179454A JP5195096B2 (ja) | 2008-07-09 | 2008-07-09 | 画像処理検査方法及び画像処理検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008179454A JP5195096B2 (ja) | 2008-07-09 | 2008-07-09 | 画像処理検査方法及び画像処理検査システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010019646A JP2010019646A (ja) | 2010-01-28 |
JP5195096B2 true JP5195096B2 (ja) | 2013-05-08 |
Family
ID=41704713
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008179454A Active JP5195096B2 (ja) | 2008-07-09 | 2008-07-09 | 画像処理検査方法及び画像処理検査システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5195096B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10748447B2 (en) * | 2013-05-24 | 2020-08-18 | Lincoln Global, Inc. | Systems and methods providing a computerized eyewear device to aid in welding |
US10930174B2 (en) | 2013-05-24 | 2021-02-23 | Lincoln Global, Inc. | Systems and methods providing a computerized eyewear device to aid in welding |
JP7194055B2 (ja) * | 2019-03-22 | 2022-12-21 | 日立Astemo株式会社 | 接合部の検査方法及び接合部の検査装置 |
JP7379107B2 (ja) * | 2019-11-13 | 2023-11-14 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及びその制御方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3863931B2 (ja) * | 1995-10-16 | 2006-12-27 | 大日本印刷株式会社 | 印刷物検査装置における学習画像作成方法 |
JPH09251536A (ja) * | 1996-03-15 | 1997-09-22 | Komatsu Ltd | パターンマッチングによる検査装置および検査方法 |
JP4734625B2 (ja) * | 2004-10-26 | 2011-07-27 | 国際技術開発株式会社 | マスターパターン作成装置 |
-
2008
- 2008-07-09 JP JP2008179454A patent/JP5195096B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010019646A (ja) | 2010-01-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100954703B1 (ko) | 결함을 검출하는 방법 및 시스템 | |
US20060133660A1 (en) | Apparatus and method for detecting defect existing in pattern on object | |
JP2017198671A (ja) | 画像処理装置および画像処理方法 | |
WO1998015919A1 (fr) | Procede et appareil de detection de defauts de raies sur des documents imprimes | |
JP2011076204A (ja) | 印刷物検査方法及び印刷物検査装置 | |
JP5195096B2 (ja) | 画像処理検査方法及び画像処理検査システム | |
TWI609178B (zh) | Pattern inspection device and pattern inspection method | |
JP4230880B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
JP5502569B2 (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
TWI607212B (zh) | Image generation device, defect inspection device, and defect inspection method | |
JP2016194434A (ja) | 検査システムおよび検査方法 | |
JP2009250937A (ja) | パターン検査装置および方法 | |
JP5558081B2 (ja) | 画像形成状態検査方法、画像形成状態検査装置及び画像形成状態検査用プログラム | |
JP4697328B2 (ja) | 熱交換器のコアの検査方法 | |
JP2016212488A (ja) | 検査システム、検査方法、プログラムおよび記憶媒体 | |
JP4403036B2 (ja) | 疵検出方法及び装置 | |
JP2002008029A (ja) | 画像検査装置 | |
JP2009157701A (ja) | 画像処理方法及び画像処理装置 | |
JP5239275B2 (ja) | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 | |
JP2015059854A (ja) | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
JP4956077B2 (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP2009150656A (ja) | パターン検査方法およびパターン検査装置 | |
JP5231779B2 (ja) | 外観検査装置 | |
JPWO2020158630A1 (ja) | 検出装置、学習器、コンピュータプログラム、検出方法及び学習器の生成方法 | |
JP5145768B2 (ja) | ディスプレイ試験装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110608 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120712 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121226 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130121 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5195096 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |