JP2009524202A - 固体電解質型燃料電池の膜−電極アセンブリ - Google Patents

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Abstract

【課題】固体電解質型燃料電池用の膜−電極アセンブリを提供する。
【解決手段】膜−電極アセンブリは、実質的に一定の厚さの電解質層である。電解質層は、片側に第1の平面状のパターン面を備え、反対側に第2の平面状のパターン面を備える三次元パターンにて配置される第1及び第2の電解質層表面を特徴とする。三次元パターンは、第1の平面状のパターン面から内側へ延在する第1の一連のフィーチャと、第2の平面状のパターン面から内側へ延在する第2の一連のフィーチャとを有する。第1の電極層は、第1の電解質層表面に隣接し、かつ適合する形状をしている。第2の電極層は、第2の電解質層表面、及び第2の一連のフィーチャの一部又は全部の内部に存在する少なくとも1つの機械的支持構造体に隣接し、かつ適合する形状をしている。膜−電極アセンブリは、少なくとも1つの貫通孔を有する基材に被着される。
【選択図】図3

Description

本発明は、固体電解質型燃料電池に関するものである。より詳しくは、本発明は、固体電解質型燃料電池用の薄膜に関するものである。
固体電解質型燃料電池(SOFC)は、燃料電池の一種であり、固体酸化物が電解質として用いられ、酸素イオンがそれを通過するものである。SOFCの動作原理は、正電極(通常カソードと呼ばれる)における酸素ガスの還元、酸素イオンの電解質膜の通過、負電極(通常アノードと呼ばれる)における燃料ガス(例えば、水素)の酸化を含む。典型的な電解質は、安定化ジルコニア及びドープされたセリアを含み、そのようなものとしては、イットリア安定化ジルコニア(YSZ)及びガドリニウムをドープされたセリア(GDC)などがある。典型的な電極としては、Pt、Ag、Niなどの金属触媒、イオン及び電子伝導性の酸化物の混合体のほか、触媒/電解質複合体がある。
上述の材料の限られた特性のため(例えば、低いイオン伝導率や低い触媒活性)、SOFCは摂氏700度を越えるかなりの高温で作動させなければならない。
SOFCの最大出力密度は、次の3つの非可逆損失によって決定される。
1)カソードにおける酸化還元の反応速度が遅いために生じる活性化損失。
2)電解質を通過するイオンの輸送が遅いために生じるオーミック損失。
3)電極の反応部位への限られたガス(酸素及び燃料)供給によって生じる濃度低下。
したがって、当該技術分野における現状の課題を克服するため、所望の出力で、所定の動作温度又はより低い動作温度にてより良い性能を得るための、活性化損失、オーミック損失、濃度低下を含む燃料電池の主要な損失のうちの1つ、2つ、及び/又は3つすべてを減少し得るSOFCを開発することが求められている。
本発明は、固体電解質型燃料電池(SOFC)の膜−電極アセンブリ及びその製造方法を提供する。そのSOFCは、所望の出力で、所定の動作温度又はより低い動作温度にてより良い性能を得るための、活性化損失、オーミック損失、濃度低下を含む燃料電池の主要な損失のうちの1つ、2つ及び/又は3つすべてを減少し得る高機能な薄膜を含む。
本発明の一態様は、実質的に一定の厚さの電解質層を有する膜−電極アセンブリを含む。前記電解質層は、片側に第1の電解質層表面を備え、反対側に第2の電解質層表面を備える。また前記電解質層は、三次元パターンにて配置される。前記三次元パターンは、片側に第1の平面状のパターン面を備え、反対側に第2の平面状のパターン面を備える。前記三次元パターンはさらに、前記第1の平面状のパターン面から内側へ延在する第1の一連のフィーチャ(特徴的な幾何学的形状)と、前記第1の平面状のパターン面とは反対側の前記第2の平面状のパターン面から内側へ延在する第2の一連のフィーチャとを有する。第1の電極層が、前記第1の電解質層表面に隣接し、かつ適合する形状をしている。少なくとも1つの機械的支持構造体が、前記第2の一連のフィーチャの一部又は全部の内部に存在する。第2の電極層が、前記第2の電解質層表面及び前記少なくとも1つの機械的支持構造体に隣接し、かつ適合する形状をしている。
本発明の一実施形態では、上述の膜−電極アセンブリを備えるSOFCが、貫通孔を有する基材に被着される。或る態様では、前記基材はシリコンウェハである。別の態様では、前記孔は円筒状の貫通孔である。
本発明の一実施形態では、第2の電極層が、前記貫通孔の内壁の一部又は全部を覆う。或る態様によれば、前記第1及び第2の電極層は、多孔質の電極層である。別の態様では、前記電解質層は、最大で約200ナノメートルの厚さの高密度のイオン伝導性の酸化膜である。
別の実施形態では、前記電解質層は、例えば電解質の主な濃度から電極の主な濃度へ変化するドーパント濃度を有する組成−勾配膜(composition-grading membrane)である。この組成−勾配膜は、層ごとに堆積させることによって形成される。別の態様によれば、前記電極層は、前記電解質と複合化される。さらに、前記電極層は、金属触媒を含むことがある。或る態様では、前記電極層は、最大で200ナノメートルの厚さを有することがある。
本発明の一実施形態では、前記機械的支持層が、前記基材の上面及び底面に被着される。別の態様では、前記層及び構造体は、DC/RFスパッタリング、化学蒸着、パルスレーザ蒸着、分子線エピタキシ、エバポレーション、及び原子層蒸着などの手法を用いて蒸着される。
本発明の一実施形態によれば、前記燃料電池の全体の厚さは、10ナノメートル乃至10マイクロメートルである。
本発明の別の態様では、前記電解質層及び前記電極の間の境界が、結晶粒界形成(grain boundary formation)を含むことがある。
本発明の目的及び利点は、添付の図面とともに以下の詳細な説明を参照することによって理解することができるであろう。
図1は、三次元パターンにて配置された電極層102と支持構造体104とを有する電解質層の配置構造100を示す。電解質層102は実質的に一定の厚さであり、片側に第1の電解質層表面を備え、反対側に第2の電解質層表面を備えている(それぞれ、106/108)。電解質層102は、片側に第1の平面状のパターン面を備え、反対側に第2の平面状のパターン面を備える三次元パターンにて配置されている(それぞれ、110/112)。三次元パターンは、第1の平面状のパターン面110から内側へ延在する第1の一連のフィーチャ114と、三次元パターンの第1の平面状のパターン面110とは反対側の第2の平面状のパターン面112から内側へ延在する第2の一連のフィーチャ116とを有している。
図2は、固体電解質型燃料電池にて使用される膜−電極アセンブリ200を示す。膜−電極アセンブリ200は、第1の電解質層表面106に隣接し、かつ適合する形状をしている第1の電極層202と、第2の一連のフィーチャ116の一部又は全部の内部に設けられる少なくとも1つの機械的支持構造体104を備えている。膜−電極アセンブリ200は、さらに、第2の電解質層表面204に隣接し、かつ適合する形状をしている第2の電極層204と、少なくとも1つの機械的支持構造体104を含む。
図3は、膜−電極アセンブリ200と同様の膜−電極アセンブリを備える固体電解質型燃料電池300を示す。膜−電極アセンブリ200は、貫通孔304を有する基材302に被着される。さらに、図3で示すように、第2の電極層204は、貫通孔304の内壁306の一部又は全部を覆う。第1及び第2の電極層(それぞれ、202/204)は、多孔質の電極層である。さらに、基材302はシリコンウェハであって良く、孔304は円筒状の貫通孔であって良い。
電解質層102は、最大で200ナノメートルの厚さを有する高密度のイオン伝導性の酸化膜であって良い。さらに、電解質層102は、電解質102の主な濃度から電極(202/204)の主な濃度へ変化するドーパント濃度を有する組成−勾配膜であって良い。ただし、組成−勾配膜は、層ごとに堆積させることによって形成することができる。
また、電極層(202/204)は、電解質102と複合化されるようにすることもできる。さらに、電極層(202/204)は、金属触媒が含まれるようにすることもできる。電極層(202/204)は、最大で約200ナノメートルの厚さを有する。
図3で示すように、機械的支持層は、基材の上面及び底面へ被着される。本発明の或る実施形態に係る固体電解質型燃料電池300は、各層(102、202、204)及び構造体104が、DC/RFスパッタリング、化学蒸着、パルスレーザ蒸着、分子線エピタキシ、エバポレーション、及び原子層蒸着などの手法を用いて蒸着される。したがって、燃料電池300は、全体で10ナノメートル乃至10マイクロメートルの厚さを有する。
薄膜型の固体電解質型燃料電池300の別の実施形態では、前記電解質層102及び電極(202/204)の間の境界が、結晶粒界形成であり得る(図示なし)。
図4a〜4dは、膜−電極アセンブリを有する固体電解質型燃料電池を製造するためのステップを示す。膜−電極アセンブリ200を製造するための製造方法400は、片側に第1の機械的支持構造層表面を備え、反対側に第2の機械的支持構造層表面を備える(それぞれ、402、404)機械的支持構造体104を作るためのステップを提供する。このプロセスでは、機械的支持構造体104は、第1の三次元パターンにて配置する。第1の三次元パターンは、第1の機械的支持構造層表面402から内側へ延在する第1の一連の構造体フィーチャ406と、第1の機械的支持構造層表面402とは反対側の第2の機械的支持構造層表面404から内側へ延在する第2の一連の構造体フィーチャ408とを有する。実質的に一定の厚さの電解質層102を、第1の機械的支持構造層表面402に被着し、第1の一連の構造体フィーチャ406及び第2の一連の構造体フィーチャ408から構成される機械的支持構造体の第1の三次元パターンと適合する形状にする。図4bでは、電解質層102は、片側に第1の電解質層表面を備え、反対側に第2の電解質層表面を備えている(206/208)。このプロセスでは、電解質層102は、第2の三次元パターンにて配置する。第2の三次元パターンは、第1の電解質層表面402から内側へ延在する第1の一連の電解質フィーチャ114と、第2の三次元パターンの第1の電解質層表面402とは反対側の第2の電解質層表面404から内側へ延在する第2の一連の電解質フィーチャ116とを有する。図4dは、第1の電極層202を、第1の電解質層表面106に隣接するようにして被着し、かつ第1の電解質層表面106と適合する形状にすることを示している。図4cでは、第1の一連の機械的支持構造体フィーチャ406を除去し、第2の機械的支持構造体フィーチャ408の所定の部分を除去している。ただし、第2の機械的支持構造体フィーチャ408の残りの部分及び第1の一連の電解質フィーチャ114を露出させ、第1の電解質フィーチャ114及び機械的支持構造体104/408から構成される第3の三次元パターンを形成することを示している。第2の電極層204を、第2の電解質層表面208及び第2の機械的支持構造体フィーチャ408の残りの部分に隣接するようにして被着し、かつ第2の電解質層表面208及び第2の機械的支持構造体フィーチャ408の残りの部分と適合する形状にする。固体電解質型燃料電池300の製造方法の或る態様では、膜−電極アセンブリ200を、貫通孔304を有する基材302へ被着させる(図3を参照されたい)。
図5は、従来の固体電解質型燃料電池500の実施例を示す。高密度の電解質502及び/又は多孔質の電極504は、かなり厚い厚さを有している。厚い電解質502及び電極層504は、高い抵抗を生じさせる。また、厚い電極層504は、ガス拡散のための経路を長くさせるため、従ってより大きな濃度低下が生じる。
本発明によれば、図6は、機械的安定性、電気的完全性(短絡しない)、及び気密性(漏れがない)に関して、(図5と比較及び対比して)薄型のSOFCの開発に向けた取り組みを図示するものである。薄型で、欠陥がなく、高出力のSOFCを作るための特別な構造設計及び製造方法が求められている。薄型のSOFCの構造の機械的完全性を維持するために、所定の厚さを有する支持構造体を必要とする。図6は、例示的な薄型の燃料電池600を示す。ただし、Siは、薄型の燃料電池の構造600の支持体602である。また、第1及び第2の電極(604、606)並びに平面状の電解質層608を図示している。
図7a〜7mは、単結晶シリコンのウェットエッチングによる製造方法700を示す。図7aは、薄膜型のSOFCの支持体の役目をなすシリコンウェハを示す。ウェハは、直径が4インチ、厚さが375マイクロメートルであり、両面が磨かれたものである。電流の漏れを防止し、Si及びYSZの間での反応を防ぐために、厚さが500ナノメートルの低応力の窒化ケイ素層704を、図7bで図示するように、低圧力化学蒸着(LPCVD)によってウェハの両面に蒸着する。Siウェハ702の片側(上面)には、例えばYSZ及び/又はGDCなどの電解質膜706を、摂氏200度にてRFスパッタリングによって蒸着する(図7cを参照されたい)。図7dで示すように、Siウェハ702の反対側(底面)には、デザインされたマスクを含むフォトレジスト708(Shipley社の3612ポジレジスト)をコーティングする。図7eは、露光し、現像したフォトレジスト708を示す。フォトレジストの露光された部分は、ピラニアによって除去する。図7fで示すように、窒化ケイ素704の露出した底面の層を、RIEエッチング(反応性イオンエッチング)で除去する。図7gで示すように、フォトレジスト708の残留物を、ピラニアによって除去する。図7hで示すように、RIEエッチング(反応性イオンエッチング)で部分的な除去をすることにより、Siに開口した大きなウィンドウ710を形成する。エッチング時間は、厚さに応じて制御する。図7iでは、デザインされたマスクを含むフォトレジスト708(Shipley社の3612ポジレジスト)をコーティングし、図7jでは、露光し、現像したフォトレジストを除去している。図7kで示すように、摂氏85〜90度の温度にて30%KOHを用いてエッチングすることにより、Siに開口した小さなウィンドウ712を形成する。図7lでは、RIEエッチングでエッチングすることにより、ウィンドウ構造712内で窒化ケイ素704(上面)を除去するのに加えて、Siウェハ702の底面に重ねられた窒化ケイ素704を除去している。最後に、図7mでは、物理的なマスクを用いて、高密度の又は多孔質の電極膜714(カソード及びアノード)を、YSZ706の両側にパターニングしている。
或る圧力下での機械的強度を維持するために、燃料電池の有効表面積は、2.5e−9から1.6e−7mの範囲に制限される。四角い外形の小型燃料電池の辺長の寸法の例としては、50、75、100、150、190、245、290、330、370、375、及び400マイクロメートルが含まれる。図7a〜7mは、上述の方法によって製造し得る例示的な2つの隣接する燃料電池を図示する。図8を参照すると、Lはアクティブな燃料電池の四角い貫通孔の長さを表し、dは支持体の幅(間隔と呼ばれることもある)を表し、tは支持ウェハの厚さを表す。結晶構造の配向性のために、Siの支持体のエッチング面及び電解質のなす角度は常に54°である。したがって、最小間隔dとウェハの厚さtとの関係は、次の式で与えられる。
Figure 2009524202
燃料電池の有効面積の割合(Aeff/Atotal)は、支持ウェハの厚さに応じて次の式で定められる。
Figure 2009524202
多結晶構造層のウェットエッチングをベースとする別の製造方法が提供される。このコンセプトをMEMS製造で実現するために、所定の構造層が、ウェハのエッチング停止層へ追加される。この構造層は、KOHウェットエッチングのエッチング停止体(二酸化ケイ素又は窒化ケイ素)の上面に配置される。その厚さは、数マイクロメートルである。この構造層を追加することによる利点には、次のようなものがある。
1)個々のセルの実寸をこの構造層にパターニングすることができる。個々のセルの実寸がシリコンのKOHウェットエッチングの後に定められる図7を参照しつつ説明した製造方法とは異なり、ここでは個々のセルを所望の大きさで構造層に直接的にパターニングすることができる。
2)応力を均等に分布させるために、個々のセルの形状を円形としてパターニングすることができる。ウェットエッチングによる四角形のウィンドウは、両方の軸線方向へ応力を生じさせる。円形のセルを構造層にパターニングすることにより、YSZの薄膜の圧縮応力をあらゆる方向へ分布させることができる。
3)より多くの表面積を得るために、構造層をパターニングし、エッチングすることができる。電解質はパターニングされた面に被着されるため、電解質の薄膜は、3D構造を形成するように突出することがある。構造層の一部をエッチングで除去することにより、電気化学反応のため、電解質の表面積をより多く露出させることができる。
4)厚い構造層は、個々のセルの大きさを小さなものにしたままで、KOHエッチングによるウィンドウの大きさをより大きなものにすることができる。構造層の厚さは数マイクロメートルであるため、構造層に小さなパターンをデザインすることによって、より機械的に安定な個々のセルが得られるようにすることができる。したがって、ウェットエッチングプロセスを用いることによって、構造層の安定性を維持しながら、大きな開口が得られる。結果として、ウィンドウの間の間隔を狭くすることができ、有効な反応面積の割合が増加する。
5)表面積を最大化するために、個々のセルを最密レイアウトで配置することができる。構造層の円形の個々のセルは、間隔を最小化した最密パターンで設計することができ、使用できる表面積を最大化するようにする。
これを実現するために、構造層がウェハのエッチング停止層へ追加されることがある。例えば、この構造層は、KOHウェットエッチングのためのエッチング停止層(二酸化ケイ素又は窒化ケイ素)の上面に配置される。その厚さは、1〜数十マイクロメートルである。その構造層は多結晶性シリコンであり、化学蒸着(CVD)によって蒸着することができる又は多結晶性シリコン層を含む市販のSOI(シリコン・オン・インシュレータ)ウェハを使用することができる。
多結晶性シリコンを被着することを含む例示的な製造プロセスを、図9a〜9rで示す。図9aでは、350マイクロメートルの厚さを有する両面が磨かれた(100)シリコンウェハ902を供給する。図9bは、ウェハ902の両側に被着された500ナノメートルの低応力の窒化ケイ素層904を示す。図9cは、構造体の上側に被着された多結晶性シリコン層906を示す。次に、図9dは、アニールされた多結晶性シリコン層908を示す。アニーリングは、多結晶性シリコンの圧縮応力を減少させる。図9eでは、1.6マイクロメートルの厚さのフォトレジスト910(Shipley社の3612ポジレジスト)を、アニールされた多結晶性シリコンの上にスピンコートしている。図9fは、最密レイアウトで配置された円を含むマスクを作るためのフォトリソグラフィーを示す。円筒状の孔を作るための円の大きさは、直径が5マイクロメートルから100マイクロメートルの範囲の大きさである。図9gは、プラズマエッチングの結果として、アニールされた多結晶性シリコン構造層908に円筒状のカップ形状のトレンチ912を形成したことを示す。ただし、アニールされた多結晶性シリコンを、円筒状の孔形状にすることも可能である。カップの深さは、数マイクロメートルであり、構造層908の厚さに応じて定められる。図9hは、ピラニア溶液を用いてフォトレジスト910を除去したことを示す。図9iは、窒化ケイ素904の裏面(底面)に重ねられた1.6マイクロメートルの厚さのフォトレジスト910(Shipley社の3612ポジレジスト)のスピンコート層を示す。図9jは、KOHエッチング用のマスクとして窒化ケイ素904をパターニングするためのフォトリソグラフィーを示す。シリコンの開口したウィンドウ914は、2ミリメートルから6ミリメートルの大きさに定められる。図9kは、100sccmのSF、10sccmのO、83Wの電力及び150mTorrの圧力にて、RIEでエッチングされた窒化ケイ素904を示す。図9lは、フォトレジスト910をピラニア溶液で除去したことを示す。図9mは、200ナノメートルの厚さの窒化ケイ素の層916を、カップ形状のトレンチ912に被着し、かつ構造体の表面を覆うようにしていることを示す。この引張応力が加えられた窒化ケイ素層916は、被着されるべきYSZ電解質層の圧縮応力を安定させる。ただし、図9nで図示する蒸着電解質層918(例えば、YSZ)は、薄膜蒸着方法(例えば、原子層蒸着(ALD)又はスパッタリング)によって蒸着させる。図9oは、摂氏85〜90度の温度にて30%のKOHでエッチングしたSiの開口したウィンドウ920を示す。図9pは、窒化ケイ素904の第1の層(ウェハの上側)を、100sccmのSF、10sccmのO、83Wの電力及び150mTorrの圧力にて、RIEでエッチングし、除去したことを示す。図9qは、200ナノメートルの厚さの窒化ケイ素916及びアニールされた多結晶性シリコン908をさらにエッチングし、埋め込み電解質918(YSZ)の表面を露出させたことを示す。そのエッチングは、100sccmのSF、10sccmのO、83Wの電力及び150mTorrの圧力にて、RIEを用いて行われた。最後に、図9rで示すように、120ナノメートルの厚さの多孔質のプラチナの層を、電極922(及び触媒)として電解質918の両側に被着し、プロセスは終了する。
図10a〜10rは、SOI(シリコン・オン・インシュレータ)ウェハを用いて開始する別の例示的なプロセスを示す。多結晶性シリコン及びSOIのシリコン酸化層は、構造層としての役目をする。図10aは、350マイクロメートルの厚さのハンドルウェハを含む両面が磨かれた(100)SOIウェハ1002及び10〜20マイクロメートルの厚さのデバイス層1004(ここでは、構造層)を用いてプロセスを開始することを示している。ただし、両者の間には、シリコン酸化層1006がはさまれている。図10bは、構造層をパターニングするためのマスク材料として使用される600ナノメートルの熱酸化物1008を、SOIウェハの両側で成長させたことを示す。図10cは、デバイス層の酸化物1008に1マイクロメートルの3612フォトレジストの層1010をスピンコートしたことを示す。図10dは、フォトリソグラフィー法を使用して、フォトレジスト1010をデザインされた構造(例えば、最密円)にパターニングしたことを示す。図10eは、O及びCHプラズマエッチングで熱酸化層1008を下方へパターニングしたことを示す。図10fは、フォトレジスト層1010を除去し、その結果、デザインされたパターン構造にてパターニングされた熱酸化層1008を得たことを示す。図10gは、プラズマエッチングを使用して、多結晶性シリコン構造層1004の中にカップ形状のトレンチ1012を形成したことを示す。カップ1012の深さは、1〜数十マイクロメートルの範囲内の深さにすることができ、構造層1004の厚さに応じて定められる。ここで、その構造が全体として埋め込み酸化物1006までエッチングされないことに留意されたい。図10hは、熱酸化マスク1008を、6:1の緩衝酸化膜エッチング(BOE)溶液内で除去したことを示す。図10iは、SOIウェハの構造体の両側の200ナノメートルの低応力の窒化ケイ素1014を示す。図10jは、底面側の窒化ケイ素1014にスピンコートした、1.6マイクロメートルの厚さのフォトレジスト1016(Shipley社の3612ポジレジスト)を示す。図10kは、フォトレジストの層1016による窒化ケイ素1008のフォトリソグラフィックパターンを示す。フォトリソグラフィックパターンは、後のステップにおいて、Siにウィンドウを開口するためのマスクとして用いられる。窒化ケイ素のパターン、したがって、シリコンの開口したウィンドウは、0.5〜10ミリメートルの範囲内の大きさにすることができる。図10lは、100sccmのSF、10sccmのO、83Wの電力及び150mTorrの圧力にて、反応性イオンエッチングでエッチングした窒化ケイ素層1008を示す。図10mは、フォトレジスト層1016を、ピラニア溶液で除去したことを示す。図10nは、薄膜蒸着法(例えば、ALD又はスパッタリング)で、電解質層1018(例えば、YSZ)を上側の窒化ケイ素層1014へ蒸着したことを示す。図10oは、摂氏85〜90度の温度にて、30%のKOHでエッチングしたSiの開口したウィンドウ1020を示す。図10pは、埋め込み酸化物1006エッチング停止を、6:1のBOE溶液で除去したことを示す。図10qは、窒化ケイ素層1014及び多結晶性シリコン層1004をさらにエッチングして除去し、埋め込みYSZ電解質1018の表面を露出させたことを示す。そのエッチングは、100sccmのSF、10sccmのO、83Wの電力及び150mTorrの圧力にて、RIEを用いて行った。最後に、120ナノメートルの厚さの多孔質のプラチナ電極1020を、電極及び触媒としてYSZ電解質1018の両側に被着し、プロセスは終了する。
フォトレジスト1010を、上面をパターニングするためのマスクとして選択した場合、プロセスを簡略化することができる。図10a2−10d2により、用いられるプロセスの簡略化を説明する。図10a2において、構造層1004をパターニングするためのマスク材料として使用される1マイクロメートルの3612フォトレジスト1010を、構造層1004の上にスピンコートする。図10b2において、プロセスは、円形の個々のセルをパターニングするために、すぐにフォトリソグラフィーを開始する。図10c2は、プラズマエッチングの結果として、多結晶性シリコン構造層1004にカップ形状のトレンチ1012を形成したことを示す。カップ1012の深さは、数マイクロメートルであり、構造層1004の厚さに応じて定められる。ここで、その構造が全体として埋め込み酸化物1006までエッチングされないことに留意されたい。フォトレジスト層1010を除去することにより、図10hのデザインされたパターン構造にてパターニングされた熱酸化層1004が形成される。すなわち、複数のステップを製造プロセスから省略することができた。
上述の製造方法を用いることによって、電極及び電解質の薄膜を、あらかじめデザインされた三次元の表面へ被着することができる。被着されるべき表面の幾何学的形状に応じて、被着される薄膜は、その幾何学的形状を変化させ、三次元構造を形成する。
図11は、図9を参照しつつ説明された製造方法によって得られる三次元のカップ形状の燃料セルの構造の実施例を示す。図のように、カップ形状の燃料セルの構造は、2つの電極層922の間に配置された電解質層918を有している。2つの電極層922は、電解質層918の上面及び底面に配置される。
図12は、対応する例示的なデザインの例示的な側面図を示す。ただし、電解質層918は、その上面及び底面の2つの電極層922の間に配置され、またアニールされた多結晶性の層908で支持されている。この図は、燃料セルの有効面積の幾何学的な増加因子を、構造設計より推定することができることを示している。例えば、燃料セルの底面及び側壁の有効面積は別々に検討される。
上面図から、燃料セルはDで示す直径を有する最密円である。各円の面積は、各燃料セルの面積及び間隔を含む。最密カップ底面部の平面の最大面積は、90.69%である。構造強化の目的のために、セルの間の間隔kD(0<k<1)を導入することによって、セルの直径は、(1−k)Dとなる。したがって、カップ底面部の有効面積(EAbottom)は、次のように減少する。
Figure 2009524202
側面図から、各カップの高さ及び直径は、それぞれΔt及びdで示されることがわかる。ここで、d=D(1−k)である。次に、カップの側壁の有効面積(EAsidewall)は、カップの深さ(Δt)及びカップの直径(d)のアスペクト比(A.R.)で示すことができる。アスペクト比(A.R.)は、次のように求められる。
Figure 2009524202
したがって、側壁の面積及び底面の面積の比は、次のように表すことができる。
Figure 2009524202
総有効面積は、上述の2つの方程式を組み合わせることによって次のように得られる。
Figure 2009524202
最後の方程式は、例示的な燃料セルの構造設計の有効面積(EAtotal)が、個々のセルの間の間隔(k)及びカップのアスペクト比(k)によって決定されることを示している。この方程式をグラフ化したものを図13で示す。例えば、三次元の燃料セルが、円の直径=10マイクロメートル、間隔=2マイクロメートル、深さ=10マイクロメートルを有する場合、k=0.2、A.R.=1である。EAtotalは2.9であり、それはウェハの表面積の2.9倍の面積を、電気化学反応のために使用することができることを意味する。三次元(3D)の構造を設計し、製造することにより、燃料セルの有効面積を支持体の幾何学的面積より大きな面積にし得る。
図14は、極薄型のSOFCの有効面積を大きくするための二次元(2D)の構造設計の光学像を示す。個々の燃料セルの直径は50マイクロメートルであり、間隔は10マイクロメートルである。図15及び図16は、極薄型のSOFCの有効面積を大きくするための2つの3Dの構造設計の走査電子顕微鏡法(SEM)画像を示す。図15で示される個々の燃料セルの直径は50マイクロメートルであり、間隔は10マイクロメートルである。図16で示される燃料セルの詳細なパラメータは、次のとおりである。個々の燃料セルの直径は15乃至20マイクロメートルであり、間隔は3マイクロメートルであり、カップの深さは10乃至20マイクロメートルである。この3D構造の極薄型のSOFCの燃料セルの性能を評価した。理論値(すなわち、1.14V)に近い開路電圧(OCV)を得た。最大出力密度は、摂氏400度にて、9x10−5であった。図17は、図9a−rを参照しつつ説明した方法で作られた3D構造の極薄型のSOFCにて測定されたI−V曲線を示す。
薄く平らな電解質層(YSZ及びGDC)が、平らではないナノ多孔質のPt層の間に形成されるようにすることができる。YSZ及び/又はGDCが、平らなSiN層に被着されるようにすることもできる。SiNのエッチングの後に、PtがYSZ及び/又はGDC層に被着されるようにすることができる。Pt膜のナノスケールの多孔性が、スパッタリング条件を変化させることによって得られるようにすることができる(すなわち、Arの圧力が高く、直流電力が小さい)。
電解質に関して、様々な種類の材料を使用することができる。Zr−Y(パーセントにて84/16)の合金ターゲット及びCe−Gd(パーセントにて90/10、80/20、75/25)の合金ターゲットを使用して、直流マグネトロンスパッタリングで電解質を蒸着することができる。これらの金属膜は、蒸着後に、ポスト酸化方法を用いて酸化させることができる。8YSZ(8モル%のイットリア安定化ジルコニア)のターゲットが、RFマグネトロンスパッタリングで使用されるようにすることができる。各電解質膜の例示的な蒸着条件を表1にまとめている。このステップに続いて、下層側のPt電極と同様の条件で、Pt層が電解質層の上に被着される。
Figure 2009524202
電解質膜のイオン伝導性の特性(伝導率)は、酸素欠乏部位(酸化物−イオンの欠乏)の濃度及びこれらの欠乏部位の移動度によって決定される。固体電解質では、酸素イオンの濃度はドーパント濃度と直接的に関連する。酸素イオンの濃度勾配は、ドーパント濃度(例えば、YSZの中のY及びGDCの中のGd)を変化させることによって、電解質膜の中で人工的に作ることができる。このように構造化された膜は、組成−勾配膜と呼ばれる。これは、層ごとに堆積させることによって形成することができる。組成−勾配膜における大きな濃度勾配により、オーミック損失を減少させることによって高性能のSOFCがもたらされる。
酸化還元の反応速度は、電解質の形態及び性質に関連する。イオン伝導性が高い電解質材料にて、高い反応速度が見られる。高密度の薄い電解質YSZの上方にて、高密度のGDC層が、カソードPt及びYSZの間に追加されるようにすることができる。多孔質のナノ結晶のYSZ及び/又はGDCが、追加されるようにすることもできる。その人工的にデザインされた境界面にて、酸化還元のプロセスが迅速に開始され、活性化損失の減少をもたらす。図18は、多孔質のPtカソード及び高密度のYSZ電解質の間にGDC中間層が構成された燃料セルのSEM横断面画像を示す。図19は、摂氏300度乃至摂氏400度の温度範囲にて得られたその燃料セルの例示的なI−V性能を示す。実行した温度におけるOCVは、1.10Vであった。摂氏350度にて、200mW/cmのピーク出力密度を得た。摂氏400度にて、最大出力密度は、400mW/cmに達した。摂氏300度にて、ピーク出力密度は、55mW/cmまで低下した。
電極に用いられるPtのような触媒を、電解質の材料と複合化させることができる。これにより、電気化学反応(すなわち、カソードにおける酸素の還元及びアノードにおける燃料分子の酸化)のためのより多くの活性部位が得られる。そのような高密度の又は多孔質の薄い触媒/電解質複合化膜は、電気化学反応の損失を増加させ、従って活性化損失が減少すると考えられる。図20は、多孔質のPt−YSZ複合化カソードからなる薄型のSOFCの例示的なI−V曲線を示す。ガス及び電流の漏れのため、OCVは低いが、摂氏350度にて、100mW/cmに近い最大出力密度を得た。さらに、触媒/電解質複合化膜は、温度変化(熱膨張係数)に応じて、電解質膜と同様の挙動をした。したがって、SOFCで触媒/電解質複合化膜を使用することによって、加熱/冷却に加えて、所定の温度での動作に応じて、良好な安定性を維持することもできる。高密度の又は多孔質のPt/GDC若しくはPt−YSZ複合化層が、同時スパッタリングで形成されるようにすることもできる。同時スパッタリングは、2つのガンを同時に点火させることによって画定される。ここで、1つのガンはPtターゲットであり、もう一方のガンは、YSZ又はGDCターゲットである。各ガンのスパッタリング条件を変化させることによって、様々な多孔性及び構成比のPt及び電解質を得ることができる。各種電極膜の蒸着条件を表2にまとめる。
Figure 2009524202
高密度の基材、電解質、及び電極では、80%を越える相対密度が望ましい。90%を越える相対密度がより望ましい。95%を越える相対密度がさらに望ましい。その密度は、材料の理論上の最大密度に関連する。多孔性がゼロであれば、相対密度は100%である。
本発明をいくつかの例示的な実施形態に基づいて説明してきたが、これらは本発明をあらゆる面において説明しようとするものであり、本発明がこれらの実施形態に制限されるわけではない。したがって、本発明は、その具体的な実行において、当業者によって本願明細書に含まれる記載から得られる様々な変更を加えることが可能である。例えば、パターニングされたフィーチャの大きさ、形状、及び厚さの変更や、各中間層が変更されるようにすることができる。エッチングやマスキングなどの製造プロセスの詳細が変更されるようにすることができる。MEMS/NEMS技術を用いて作られたあらかじめデザインされた三次元の表面を利用して、使用される幾何学的面積を最適化しやすくすることができる。
電解質膜のイオン伝導性の特性(伝導率)は、酸素欠乏部位(酸化物−イオン空孔)の濃度及びこれら空孔の移動度によって決定される。固体電解質では、酸素イオンの濃度はドーパント濃度と直接的に関連する。酸素イオンの濃度勾配は、ドーパント濃度(例えば、YSZの中のY及びGDCの中のGd)を変化させることによって、電解質膜にて人工的に作ることができる。この構造化された膜は、組成−勾配膜と呼ばれる。その膜は、層ごとに堆積させることによって形成することができる。組成−勾配膜における大きな濃度勾配により、オーミック損失を減少させることによって高性能のSOFCがもたらされる。
酸化還元の反応速度は、電解質の形態及び性質に関連する。イオン伝導性が高い電解質材料で、高い反応速度が見られる。高密度の薄い電解質YSZの上方にて、高密度のGDC層が、カソードPt及びYSZの間に追加されるようにすることができる。多孔質のナノ結晶性のYSZ及び/又はGDCが追加されるようにすることができる。そのような人工的にデザインされた境界面にて、酸化還元のプロセスがより迅速に開始され、活性化損失の減少をもたらす。
電極に使用されるPtのような触媒を、電解質材料と複合化することができる。これにより、電気化学反応(すなわち、カソードにおける酸素の還元及びアノードにおける燃料分子の酸化)のためのより多くの活性部位が得られる。そのような高密度の又は多孔質の薄い触媒/電解質複合化膜は、電気化学反応の損失を増加させ、従って活性化損失が減少すると考えられる。
このような全ての変更は、特許請求の範囲及びそれらの法的な均等物によって定義される本発明の範囲及び精神に含まれるものとする。
本発明に係る支持構造体を備える三次元パターンで配置された電解質層の構造を示す図である。 本発明に係る固体電解質型燃料電池で用いる膜−電極アセンブリを示す図である。 本発明に係る膜−電極アセンブリを有する固体電解質型燃料電池を示す図である。 図4(a)〜(d)は、本発明に係る膜−電極アセンブリを有する固体電解質型燃料電池を製造するためのステップの一実施形態を示す図である。 従来のデバイスに係る比較的厚い電解質及び電極層を有する例示的な固体電解質型燃料電池を示す図である。 本発明に係る例示的な薄型の固体電解質型燃料電池を示す図であり、シリコンが前記燃料電池の構造を支持することを示す図である。 図7(a)〜(m)は、本発明に係る単結晶シリコンによるウェットエッチングをベースとした例示的な製造プロセスを示す図である。 本発明に係る図7(a)〜(m)の方法によって製造された例示的な隣接する2つの四角い固体電解質型燃料電池を示す図である。 図9(a)〜(j)は、本発明に係る多結晶構造体によるウェットエッチングをベースとした例示的な製造プロセスを示す図である。 図9(k)〜(r)は、本発明に係る多結晶構造体によるウェットエッチングをベースとした例示的な製造プロセスを示す図である。 図10(a)〜(h)は、本発明に係るシリコン・オン・インシュレータのウェハによるエッチングをベースとした例示的な製造プロセスを示す図である。 図10(i)〜(p)は、本発明に係るシリコン・オン・インシュレータのウェハによるエッチングをベースとした例示的な製造プロセスを示す図である。 図10(q)〜(r)は、本発明に係るシリコン・オン・インシュレータのウェハによるエッチングをベースとした例示的な製造プロセスを示す図である。 図10(a2)〜(2d)は、本発明に係るシリコン・オン・インシュレータのウェハによるエッチングをベースとした図10(a)〜(r)の例示的な製造プロセスの代替プロセスを示す図である。 本発明に係る図9(a)〜(r)の方法によって製造された例示的な自立型のカップ形状の構造を示す図である。 本発明に係る対応する例示的なデザインの例示的な側面図である。 本発明に係る図9(a)〜(r)の方法によって製造された支持ウェハの厚さに応じた有効な燃料セルの最大限の割合を表す図表である。 本発明に係る図9(a)〜(r)の方法によって製造されたカップ形状の燃料セルの光学像を示す図である。 本発明に係る図9(a)〜(r)の方法によって製造された燃料セルの構造のSEM画像を示す図である。 本発明に係る図9(a)〜(r)の方法によって製造された燃料セルの構造のSEM画像を示す図である。 本発明に係る図9(a)〜(r)の方法によって製造された三次元構造の極薄型の固体電解質型燃料電池のI−V曲線を示す図である。 本発明に係る多孔質のカソード及び高密度の電解質層の間に50ナノメートルのイオン伝導性の高い電解質GDCを有する燃料電池のSEM断面画像を示す図である。 本発明に係る50ナノメートルのイオン伝導性の高い電解質を有する極薄型の固体電解質型燃料電池のI−V曲線を示す図である。 高密度の電解質へ多孔質のPt−YSZ複合化電極が形成された極薄型のSOFCの例示的なI−V曲線を示す図である。

Claims (19)

  1. 固体電解質型燃料電池で使用するための膜−電極アセンブリであって、
    a)片側に第1の電解質層表面を備え、反対側に第2の電解質層表面を備える、実質的に一定の厚さを有する電解質層であって、前記電解質層が、片側に第1の平面状のパターン面を備え、反対側に第2の平面状のパターン面を備える三次元パターンにて配置され、前記三次元パターンが、前記第1の平面状のパターン面から内側へ延在する第1の一連のフィーチャと、前記三次元パターンの前記第1の平面状のパターン面の反対側の前記第2の平面状のパターン面から内側へ延在する第2の一連のフィーチャとを有する、該電解質層と、
    b)前記第1の電解質層表面に隣接し、かつ適合する形状をしている第1の電極層と、
    c)前記第2の一連のフィーチャの一部又は全部の内部に設けられる少なくとも1つの機械的支持構造体と、
    d)前記第2の電解質層表面及び前記少なくとも1つの機械的支持構造体に隣接し、かつ適合する形状をしている第2の電極層とを含むことを特徴とする膜−電極アセンブリ。
  2. 固体電解質型燃料電池であって、
    少なくとも1つの貫通孔を有する基材に被着された請求項1に記載の前記膜−電極アセンブリを含むことを特徴とする固体電解質型燃料電池。
  3. 前記第2の電極層が、前記貫通孔の内壁の一部又は全部を覆うことを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  4. 前記第1及び第2の電極層が、多孔質の電極層であることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  5. 前記基材が、シリコンウェハであることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  6. 前記孔が、円筒状の貫通孔であることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  7. 前記電解質層が、最大で200ナノメートルの厚さを有する高密度のイオン伝導性の酸化膜であることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  8. 前記電解質層が、前記電解質の主な濃度から前記電極の主な濃度へ変化するドーパント濃度を有する組成−勾配膜であることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  9. 前記組成−勾配膜が、層ごとに堆積させることによって形成されることを特徴とする請求項8に記載の固体電解質型燃料電池。
  10. 前記電極層が、多孔質の電極層であることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  11. 前記電極層が、前記電解質と複合化されることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  12. 前記電極層が、金属触媒を含むことを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  13. 前記電極層が、最大で200ナノメートルの厚さを有することを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  14. 前記機械的支持層が、前記基材の上面及び底面に被着されることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  15. 前記層及び前記構造体が、DC/RFスパッタリング、化学蒸着、パルスレーザ蒸着、分子線エピタキシ、エバポレーション、及び原子層蒸着を含む手法を用いて蒸着されることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  16. 前記燃料電池は、全体の厚さが10ナノメートル乃至10マイクロメートルであることを特徴とする請求項2に記載の固体電解質型燃料電池。
  17. 前記電解質層及び前記電極の間の境界が、結晶粒界形成を含むことを特徴とする請求項2に記載の薄膜固体電解質型燃料電池。
  18. 膜−電極アセンブリを製造するための方法であって、
    a)片側に第1の機械的支持構造層表面を備え、反対側に第2の機械的支持構造層表面を備える機械的支持構造体を供給するステップであって、前記機械的支持構造体が、第1の三次元パターンにて配置され、前記第1の三次元パターンが、前記第1の機械的支持構造層表面から内側へ延在する第1の一連のフィーチャと、前記第1の三次元パターンの前記第1の機械的支持構造層表面の反対側の前記第2の機械的支持構造層表面から内側へ延在する第2の一連のフィーチャとを有する、該ステップと、
    b)実質的に一定の厚さの電解質層を、前記機械的支持構造体の前記第1の機械的支持構造層表面に被着し、かつ前記機械的支持構造体の前記第1の三次元パターンに適合する形状にするステップであって、前記電解質層が、片側に第1の電解質層表面を備え、反対側に第2の電解質層表面を備え、前記電解質層が、第2の三次元パターンにて配置され、前記第2の三次元パターンが、前記第1の電解質層表面から内側へ延在する第1の一連の電解質フィーチャと、前記第2の三次元パターンの前記第1の電解質層表面の反対側の前記第2の電解質層表面から内側へ延在する第2の一連の電解質フィーチャとを有する、該ステップと、
    c)第1の電極層を、前記第1の電解質層表面に隣接し、かつ適合する形状にて被着するステップと、
    d)前記第1の一連の機械的支持構造フィーチャ及び前記第2の機械的支持構造フィーチャの所定の部分を除去するステップであって、前記第2の機械的支持構造フィーチャの残りの部分及び前記第1の一連の電解質フィーチャを露出し、前記第1の電解質フィーチャ及び前記機械的支持構造体から構成される第3の三次元パターンを形成するようにする、該ステップと
    e)第2の電極層を、前記第2の電解質層表面及び前記第2の機械的支持フィーチャの残りの部分に隣接し、かつ適合する形状にて被着するステップとを含むことを特徴とする方法。
  19. 固体電解質型燃料電池を製造するための方法であって、
    請求項18に記載の前記膜−電極アセンブリを、貫通孔を有する基材に被着することを特徴とする方法。
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