JP2009511279A - レーザ処理中の対象物リアルタイムトポグラフィートラッキング - Google Patents
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Abstract
【選択図】図5
Description
(D+n[L])/(2[tanθ])
によって決まる。図10Aは、位置Aで対象物30に当たるトラッキングビーム96を示し、該位置での表面高さおよび層厚さ70はそれらの変化毎で期待値に対応する。第1の反射光ビーム102はビーム位置センサ100の4番目のセンサ素子1104で受光され、該ビーム位置センサは発光基準点112から位置Aがある対象物表面66までの距離114Aに一致している。図10Bは、位置Bで対象物に当たるトラッキングビーム96を示し、該位置では表面高さおよび層厚さ70が共に減少している。位置Bは、位置Aよりよりもトラッキングビーム96の発光基準点112からより遠くに離れているが、レーザシステムコントローラ56は、ビーム位置決めシステム22が対物レンズ26を前記Z軸に沿って移動させ、その結果、第1の反射光ビーム102がビーム位置センサ100に当たる前に同じ距離を進むように、ビーム位置センサ100の出力に応答する。ビーム位置センサ100が対物レンズ26に合わせて移動するので、第1の反射光ビーム102は、発光基準点112から位置Bがある対象物表面66までの距離に応じた4番目のセンサ素子1104で受光され、そこでの対象物30の表面高さは、位置Aでのそれに比較して減少する。層60を通って図10Aおよび10Bのビーム位置センサ100に達する屈曲実線は、異なる媒体を通して伝搬する光へのスネルの屈折の法則の適用によって作られた実際のビーム経路を表す。(示されたビーム経路の屈曲度合は、よりはっきりと屈折の効果を示すために誇張されている。)
12 レーザ
18 ビーム経路
22 ビーム位置決めシステム
28 加工ビーム
30 連続積層対象物
56 コントローラ
60 誘電体層
62 導電層(金属層)
64 ビア
76 像カラム
96、98 トラッキングレーザビーム
92、94 トラッキングレーザビーム源
100 ビーム位置センサ
104 軸線距離
109a、109b トラッキング装置
Claims (20)
- 表面を有する対象試料にレーザ加工を施すためのシステムであって、
像カラムを有し前記試料に入射する加工ビーム軸に沿って伝搬する加工レーザビームを生じるように共同するレーザ源および対物レンズであって該対物レンズおよび前記対象試料が軸線距離だけ離れているレーザ源および対物レンズと、
前記軸線距離を変更し、選ばれた位置で前記対象試料を処理すべく加工ビーム経路に沿った方角へ前記加工ビームおよび前記対象試料を相対的に動かすように動作可能なビーム位置決めシステムと、
前記対象試料の前記表面に接触しない関係に配置され、また前記相対移動の間に前記加工ビーム経路に沿った方向へ前記加工ビームを案内すべく前記加工レーザビームに共同するように配置されるトラッキング装置であって相対移動の間に前記対象試料の前記表面と対物レンズとの間の距離をリアルタイムで繰り返して測定し、測定された距離に対応する信号を生じるように動作可能なトラッキング装置と、
前記ビーム位置決めシステムと共同し、前記選ばれた位置で前記対象試料に関する前記像カラムの位置を制御すべく前記相対移動の間に前記対物レンズと前記対象試料とを分離する前記軸線距離を変更するために前記信号に応答するレーザコントローラとを含む、レーザ加工システム。 - 前記トラッキング装置はレーザ三角測距装置を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記対象試料は、導電材料層を含む連続積層対象物を含み、また前記トラッキング装置は静電容量プローブを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記対象試料は、導電材料層を含む連続積層対象物を含み、また前記トラッキング装置はうず電流プローブを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記トラッキング装置は共焦点測定装置を含む請求項1に記載のシステム。
- 前記対象試料は、導電材料層に隣り合って配置された誘電体材料層を含む連続積層対象物を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記トラッキング装置は、トラッキングレーザビームを放出し、前記誘電体材料は少なくとも部分的に透明でありまた厚さを有し、さらに、レーザビーム位置センサを含み、該レーザビーム位置センサは、前記誘電体層の厚さの指標を提供すべく、該誘電体材料を通って伝わりまた前記導電層により反射される前記トラッキングレーザビームの一部を受光する、請求項6に記載のシステム。
- 前記加工レーザビームは加工レーザパルス流の形態であり、前記レーザコントローラは前記誘電体層に該誘電体層の厚さの決定に基づいた加工パルス数の供給を引き起こす、請求項7に記載のシステム。
- 前記対象試料は少なくとも部分的に透明な上層を含む連続積層対象物を含み、前記トラッキング装置は、トラッキングレーザビームを放出しまたレーザビーム位置センサを含み、前記トラッキングビームの一部は前記信号を生成すべく前記レーザビーム位置センサへの入射のために前記上層から反射する、請求項1に記載のシステム。
- 前記トラッキング装置は、トラッキングレーザビームを放出し、さらに、レーザビーム位置センサを含み、前記軸線距離は、前記レーザビーム位置センサにより測定しながら、前記トラッキングレーザビームの反射の出射経路からの変位によって決定される、請求項1に記載のシステム。
- 前記対象試料は、厚さを有しビアが形成される材料層を含み、前記加工レーザビームは加工レーザパルス流の形態であり、前記トラッキング装置および前記レーザコントローラは、前記ビア形成のために前記層の厚さの測定に基づく加工レーザパルス数を前記対象試料に供給すべく共同する、請求項1に記載のシステム。
- 前記加工レーザビームは加工レーザパルス流の形態であり、前記レーザコントローラは前記トラッキング装置による反復測定に基づいた加工レーザパルス数の前記対象試料への供給を引き起こす、請求項1に記載のシステム。
- 前記相対運動は前記加工ビーム経路に沿って前後のいずれか一方に生じ、前記トラッキング装置は、第1のトラッキング装置を構成し、さらに、前記対象試料の前記表面に非接触の関係で配置された第2のトラッキング装置を含み、前記第1および第2のトラッキング装置は、それら各1つが前記加工ビーム経路に沿って前進および逆方向へそれぞれ前記レーザ加工ビームを案内するように、該レーザ加工ビームと作動的に関連する、請求項1に記載のシステム。
- 前記対象試料は、光学的に非透明材料の第1の層および導電材料の第2の層であって該第2の層に隣合って前記第1の層が配置された第1および第2の層を含む連続積層対象物を含み、前記第1の層は第1の表面を有しまた前記対物レンズから第1の軸線距離を隔てられ、前記第2の層は第2の表面を有しまた前記対物レンズから第2の軸線距離を隔てられ、
前記トラッキング装置は、レーザ三角測距装置を含む第1のトラッキング装置を構成し、さらに、静電容量プローブまたはうず電流プローブのいずれかを含む第2のトラッキング装置を含み、前記第1および第2のトラッキング装置は、前記加工ビームおよび前記対象試料間の相対的な運動中にそれぞれ前記第1および第2の軸線距離を測定する、請求項1に記載のシステム。 - 上方誘電体および導電体の両表面を有する連続積層対象物にビアを形成するためのシステムで生成される加工レーザビームによって形成されるビアの品質を制御する方法であって、前記システムはレーザ源およびレーザビーム位置決め機構を含み、前記レーザ源は前記加工レーザビームを生成すべく対物レンズを通るビーム軸に沿って伝搬するレーザビームを放出し、前記加工レーザビームは焦点を合わされたビームカラムを有し、前記レーザビーム位置決めシステムは、前記加工レーザビームが対象材料を除去し前記連続積層対象物の選択された位置にビアを形成することを可能とすべく、前記連続積層対象物および前記加工レーザビームに相対的運動を与え、前記対物レンズは、前記連続積層対象物上または中に前記加工レーザビームの前記焦点が合わせられたビームカラムを位置させるべく前記ビーム軸に沿った方向に軸線距離を定めるために前記連続積層対象物に関して配置可能であり、前記方法は、
トラッキングレーザビームの連続積層対象物への入射が前記誘電体表面および前記導電体表面から反射する第1および第2のビーム部分に分かれ、前記第1および第2のビーム部分は前記誘電体表面の厚さに応じた隔離距離で空間的に分離するように、連続積層対象物への入射が上部誘電体表面の領域をトラッキングすべく前記トラッキングレーザビームを方向付けること、
前記第1および第2のビーム部分を受光し、前記離隔距離を示す信号を生じるためのビーム位置センサを配置すること、および
リアルタイムで前記誘電体層の厚さ上または中に前記加工ビームの焦点が合ったビームカラムを維持し、これにより形成されている前記ビアの変化を制御すべく、前記信号に応答して前記対物レンズおよび前記連続積層対象物間の前記軸線距離を設定することを含む方法。 - 対象物表面を有する対象試料をレーザ加工する方法であって、前記システムはレーザ源およびレーザビーム位置決め機構を含み、前記レーザ源は加工レーザビームを生じるべく対物レンズを通るビーム軸に沿って伝搬するレーザビームを放出し、前記加工レーザビームは焦点が合ったビームカラムを有し、前記レーザビーム位置決めシステムは、前記加工レーザビームが前記対象試料の選択された位置で対象材料を除去することを可能とすべく、前記対象試料および前記加工レーザビームに相対的運動を与え、前記対物レンズは、前記対象試料上または中に前記加工レーザビームの前記焦点が合わせられたビームカラムを位置させるべく前記ビーム軸に沿った方向に軸線距離を定めるために前記対象試料に関して配置可能であり、前記方法は、
前記対象物表面の領域をトラッキングすべく前記対象試料の対象物表面に非接触の関係で、前記相対運動中、リアルタイムで反復して前記対象物表面および前記対物レンズ間の距離を測定し、該測定距離に対応した信号を生成するトラッキング装置を配置すること、および
前記対象物試料上または中に前記加工ビームの前記焦点があったビームカラムをリアルタイムで維持し、これにより前記選択された位置で対象物材料の除去の変化を制御すべく、前記信号に応答して前記対物レンズおよび前記対象物間の前記軸線距離を設定することを含む、レーザ加工方法。 - 前記トラッキング装置はレーザ三角測距装置を含む、請求項16に記載のシステム。
- 前記対象試料は連続積層対象物を含み、該対象物は導電性材料層を含み、前記トラッキング装置は静電容量プローブを含む、請求項16に記載のシステム。
- 前記対象物試料は連続積層対象物を含み、該対象物は導電性材料層を含み、前記トラッキング装置はうず電流プローブを含む、請求項16に記載のシステム。
- 前記トラッキング装置は共焦点測定装置を含む、請求項16に記載のシステム。
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