JP2009509449A - 単一しきい値・単一導電型論理回路 - Google Patents

単一しきい値・単一導電型論理回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2009509449A
JP2009509449A JP2008531840A JP2008531840A JP2009509449A JP 2009509449 A JP2009509449 A JP 2009509449A JP 2008531840 A JP2008531840 A JP 2008531840A JP 2008531840 A JP2008531840 A JP 2008531840A JP 2009509449 A JP2009509449 A JP 2009509449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic
circuit
output
coupled
assembly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2008531840A
Other languages
English (en)
Inventor
エム ヘー ファン アヒト フィクトル
ランベルト ニコラース
ミイリツキ アンドレイ
ハー ウーレー ピエーレ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NXP BV
Original Assignee
NXP BV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NXP BV filed Critical NXP BV
Publication of JP2009509449A publication Critical patent/JP2009509449A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/096Synchronous circuits, i.e. using clock signals

Abstract

論理アセンブリ(400)が、単一しきい値・単一導電型の回路素子から構成され、各々が主電流経路及び制御端子を有する少なくとも一組のスイッチを有する論理回路(410)を具えている。上記主電流経路は、第1及び第2導電端子が電源ラインに結合された直列配置を形成する。上記主電流経路は、論理アセンブリ(400)の出力を形成する共通ノードに結合されている。これらのスイッチの制御端子は、互いにオーバーラップしないクロック信号をこれらの制御端子に供給するクロック回路に結合されている。上記論理アセンブリはさらに、論理アセンブリ(400)の出力を昇圧させるための出力ブースト回路(420)を具え、この出力ブースト回路は、論理アセンブリ(400)の出力への追加的電荷の供給を可能にする容量手段(421)を含む。上記出力ブースト回路はさらに、上記容量手段の第1端への電荷の追加的供給を可能にして、上記容量手段の第2端に昇圧された電圧を生じさせるブートストラップ回路(422)を含む。

Description

本発明は論理アセンブリに関するものであり、特に、本発明は単一しきい値(スレッショルド)単一導電型回路素子を有する論理アセンブリに関するものである。
相補型(コンプリメンタリ)金属酸化膜半導体(CMOS)論理回路は、その多くの利点、例えば高い入力インピーダンス、低い出力インピーダンス、無視できる静的電力消費、及びレール(電源ライン)電圧−レール電圧の出力スイング(振れ幅)により、論理ブロックを実現するために広く一般に用いられている。図1に、従来のCMOS技術を用いたインバータ論理構造を示す。図1に示し、その名が意味するように、CMOS論理回路はN導電型(NMOS)トランジスタ並びにP導電型(PMOS)トランジスタを共に用いる。多くの応用では、単一導電型のトランジスタのみを論理回路、例えばポリマーまたはプラスチック電子回路、及びハードディスク的な固体メモリーの応用に適用することが望ましい。
単一導電型の論理回路は、製造中のマスクのカウント数及びリソグラフィープロセスを低減することにより、チップの生産/製造コストに関して有利である。一般に、単一導電型論理回路はデプレッション(空乏)型トランジスタを負荷デバイスとして用いる。図2に、デプレッション型トランジスタを用いた単一導電型インバータを示す。この例では、通常のCMOSにおけるPMOSトランジスタを、負のしきい値電圧を有するデプレッション型NMOSトランジスタに置き換えることによって、単一導電型論理インバータを実現している。デプレッション型トランジスタのゲートはそのソースに接続され、このことはトランジスタを電流源として動作させる。この種のNMOSのみの論理回路はトランジスタのサイジング(寸法決め)に強く依存する。さらに、図2に示す回路はレール電圧−レール電圧の出力を提供しない。これに加えて、この回路は静的電力消費が大きい。これに加えて、この回路は製造コストの利点をもたらさない、というのは、デプレッション型またはエンハンス型トランジスタをチップ上に製造することは、より多数回のマスキング及びリソグラフィープロセスを必要するからである。
図3に示すように、デプレッション/エンハンス型トランジスタをダイオードモードに接続したトランジスタに置き換えることは、デプレッション/エンハンス型の製造コストに関する問題を解決することができる。ダイオード接続したトランジスタは、通常のトランジスタの場合と同じしきい値を有し、従って単一しきい値・単一導電型の論理回路を提供する。ダイオード接続されたトランジスタは、単一しきい値・単一導電型の論理回路を実現するための同様の特性を有する、チップ上に製造された複数のトランジスタを持つことを可能にし、従って、製造プロセス中のマスキング・ステップの数を低減し、よってコストを低減する。
この回路でも、レール電圧−レール電圧の出力がまだ課題として残る。図3より明らかなように、インバータの出力はVdd−VTの最大値に達し、ここにVTはトランジスタのしきい値である。通常の産業規格及び技術的要求によれば、しきい値はVddの約1/4に粗く選定される。トランジスタがスイッチオフされている際のサブスレッショルド漏洩電流を最小化するために、しきい値はVddの約1/4である必要がある。このことは、出力が達し得る最大値は約3/4Vddに過ぎないことを意味し、この値は、図3の出力に結合された次の論理ゲート内のトランジスタを完全に開(導通)状態にするには不十分である。この比較的小さい出力範囲は、この種類の回路のカスケード(縦続)接続を制限し、このことは大きな欠点である。
従って、電力消費を低減しレール電圧−レール電圧の出力を提供する単一しきい値・単一導電型論理回路の必要性が存在する。
本発明の目的はとりわけ、電力消費を低減しレール電圧−レール電圧の出力を提供する単一しきい値・単一導電型論理回路を提供することにある。
この目的のために、本発明は、単一しきい値・単一導電型の回路素子から構成される論理アセンブリを提供し、この論理アセンブリは:
各々が主電流経路及び制御端子を有する少なくとも一組のスイッチを有する論理回路であって、前記主電流経路は、電源ラインに結合された第1及び第2導電端子を有する直列配置を形成し、前記主電流経路は、論理アセンブリ400の出力を形成する共通ノードに結合され、前記スイッチの制御端子は、互いにオーバーラップ(重複)しないクロック信号を当該制御端子に供給するクロック回路に結合されている論理回路と;
前記論理アセンブリ400の出力を昇圧させる出力ブースト(昇圧)回路であって、前記論理アセンブリの出力に追加的電荷を供給することを可能にする容量手段と、この容量手段の第1端への電荷の追加的供給を可能にして、上記容量手段の第2端に昇圧された電圧を生じさせるブートストラップ(立ち上げ)回路とを具えた出力ブースト回路と
を具えている。
本発明のこの態様は、単一しきい値・単一導電型論理素子のみを使用する論理アセンブリにおけるレール電圧−レール電圧の出力を可能にする。この回路は、容量手段を用いて出力を昇圧させて、レール電圧−レール電圧の出力を達成する。さらに、この回路にブートストラップ回路を設けて、上記キャパシタ(容量手段)が充電/放電されて、前記論理アセンブリの出力を昇圧させるための追加的電荷の供給を可能にすることを保証する。単一しきい値・単一導電型素子を用いることはマスキング・ステップの数、及びこれと共に、論理アセンブリの製造コストを低減する。
本発明のさらに他の態様によれば、前記出力ブースト回路が、前記論理回路の前記一組のスイッチの制御端子の1つに結合されている。この好適例では、前記出力ブースト回路が、論理素子を制御して高い電圧出力を供給するための十分な電荷を供給することによって、出力を昇圧することを可能にする。さらに他の態様によれば、前記出力ブースト回路が前記論理回路の出力に結合されている。この好適例では、前記出力ブースト回路が、前記容量手段を直接通して出力の昇圧を可能にする。また、さらに他の態様によれば、前記一組のスイッチの前記第1及び第2導電端子の少なくとも一方が、論理ゲートに給電するための電源ラインに直接結合されている。別な態様によれば、前記一組のスイッチの前記第1及び第2導電端子の一方または両方が、1つ以上の論理素子を通して論理回路に給電するための電源ラインに結合されている。この態様は、設計のフレキシビリティ(柔軟性)、及び特定用途または特定精度に応じた設計を選定する選択肢を提供する。
さらに別な態様によれば、前記スイッチはトランジスタを含むあらゆるスイッチとすることができる。さらに別な態様によれば、複数の前記論理アセンブリをカスケード接続するための同期アーキテクチャを設ける。この態様は、複雑なカスケード型論理回路の構成を可能にする。この論理回路は、シフトレジスタ、カウンタ、または他のカスケード型論理回路とすることができる。
本発明のこれら及び他の態様は、以下に図面を参照しながら詳細に説明する。
ここで図4を参照しながら説明し、図4に、本発明による単一しきい値・単一導電型論理アセンブリ400を示す。論理アセンブリ400は、論理回路410に結合された論理アセンブリ400の出力を駆動する出力駆動回路420を有する。論理回路410は、各々が主電流経路及び制御端子を有する少なくとも一組のスイッチを具えている。この主電流経路は、主電流経路の第1及び第2導電端子を有する直列配置を形成する。これらの導電端子は直接、あるいは論理素子を通して電源ラインに結合されている。これら一組のスイッチの共通端子が論理アセンブリ400の出力を提供する。これらのスイッチのそれぞれの制御端子は、互いにオーバーラップ(重複)しないクロック信号をこれらの制御端子に供給するクロック回路に結合されている。駆動回路420は論理回路410に結合され、論理アセンブリ400の出力への電荷の追加的供給を可能にすることによって、論理アセンブリ400の出力を駆動するように構成されている。駆動回路420は、容量手段421、及びこの容量手段421の第1端への電荷の追加的供給を可能して容量手段421の第2端に電圧の増加を生じさせるブートストラップ回路422を具え、従って、論理回路410への電荷の供給の増加を生じさせ、このことは論理アセンブリ400のレール電圧−レール電圧の出力を生じさせる。追加的回路をトランジスタの導電端子組に加えて、異なる論理ゲートを実現することができる。以下の説明では、インバータ、NANDまたはNORゲートの構成を詳細に説明する。同じ概念に基づいて、他の論理ゲート、例えばAND、OR等を構成することができることは当業者にとって明らかである。
ここで図5を参照しながら説明する。図5は、図4の論理回路ブロック410に含めることのできる、本発明によるインバータ500の可能な実施例の1つである。この回路では、NMOSトランジスタのみを用いてインバータ500を実現している。各トランジスタは、同じ特性(しきい値電圧等)を有する同様のトランジスタである。本発明によれば、インバータは直列結合されたトランジスタ510、520及び530を設けられ、トランジスタ510、520は互いにオーバーラップしないクロックclk1及びclk2を、それぞれの制御端子で受信する。図に示すように、インバータの出力540は共通端子によって形成され、この共通端子に、直列接続されたトランジスタ510、520の電流経路が結合されている。この構成では、インバータ500の出力540に供給される最大電圧はVdd−VTになる。レール電圧−レール電圧の出力を保証するために、容量手段(図示せず)をインバータに結合する。この容量手段の一方の端から他方の端への電圧の供給を可能にするためにブートストラップ回路も設けている。同様に、図5(a)及び図5(b)に、図4の論理回路410に含めることのできるNAND論理回路501及びNOR論理回路502をそれぞれ示す。同じ指針で、他の論理ゲート、例えばAND、ORも構成することができる。これらの回路の動作、及びブートストラップ回路及び容量手段の役割は、次の説明において一層明らかになる。
ここで図6及び図6(a)を参照し、図6及び図6(a)はそれぞれ、図5に示すブートストラップ回路422、容量手段421、論理回路410を有するインバータ600、及びこれに関連するタイミング図を示す。回路の動作は次のように理解することができる。インバータの特性によれば、ロー(低)入力に対し出力はハイ(高)が期待され、及びその逆が期待される。互いにオーバーラップしないクロック信号clk1がハイであり、clk2がローであり、入力inがローである場合を考える。この場合には、トランジスタ610はイネーブル(導通)状態にされ、トランジスタ620はディスエーブル(遮断)状態にされる(図6(a)に示すタイミング図参照)。これにより出力640がVdd−VTに充電される。さらに、この時点では、ブートストラップ回路422が容量手段421の一方の端子をトランジスタ610の制御端子に結合し、容量手段421の他方の端子をVddに結合し、これによりトランジスタ610の制御端子に追加的電荷が供給される(図6(a)に示すゲートについてのタイミング図参照)。結果的に、トランジスタ610は完全にイネーブル状態にされ、これにより出力640はレール電圧−レール電圧の出力電圧を供給する。clk1がローでありclk2がハイであるクロックサイクルの後半には、容量手段421はVss及びVddに結合され、これにより充電される。この場合には、クロック信号clk1はローでありclk2はハイであり、従ってトランジスタ610はディスエーブル状態にされ、インバータの出力640は浮動(フローティング)状態にされる。固有の寄生容量が浮動のインバータ出力640をハイレベルに保つことは、当業者にとって明らかである。結果的に、タイミング図(図6(a))に示すように、電源電圧Vddに等しいインバータ出力640が供給される。
さらに、入力信号がハイである場合を考える。最初のクロック位相では、クロック信号clk1はローでありclk2はハイである。この場合には、トランジスタ610はディスエーブル状態にされ、トランジスタ620はハイであり、入力inがトランジスタ630をイネーブル状態にする。従って、インバータの出力640はローの出力電圧を供給し、このことが望まれる。この場合には、容量手段421はVss及びVddに接続され、これにより充電される。しかし、次のクロック位相では、互いにオーバーラップしないクロック信号がclk1:ハイ、clk2:ローの値を持つ。このクロック信号の組合せはトランジスタ610をイネーブル状態にし、トランジスタ620をディスエーブル状態にし、そして入力はハイである(タイミング図参照)。このことは出力をVdd−VTまで充電する。さらに、この時点では、ブートストラップ回路422は容量手段421をトランジスタ610の制御端子に結合し、Vddが追加的電荷をトランジスタ610の制御端子に供給して(図6(a)に示すゲートについてのタイミング図参照)トランジスタ610を完全に開状態にし、従って出力をハイの電圧に上昇させ、このことはインバータの特性によれば望ましくなく、従ってインバータの不正な出力640を供給する。所定クロックに対する有効な出力のためにカスケード回路を同期させることはごく一般的であり、利用可能な何らかの同期技術によって達成されることは当業者にとって明らかであるが、明瞭にする目的で、次の説明では可能な同期技術の1つを説明する。さらに、図6に表す概念は、NAND、NOR(それぞれ図5(a)、図5(b)に示す)、あるいは他の論理ゲートについての実施例を実現するために拡張することができることも、当業者にとって明らかである。
ここで図7を参照しながら説明し、図7に、本発明によるインバータ700の他の実施例を示す。本実施例では、容量手段421は第1端を論理回路410に結合され、他方の端をブートストラップ回路422に結合されている。互いにオーバーラップしないクロック信号clk1及びclk2がそれぞれハイ及びローである状態を考える。このことはトランジスタ710をイネーブル状態にし、トランジスタ720をディスエーブル状態にする。さらに、トランジスタ730の制御端子の入力における信号がローであるものとする(図7(a)に示すタイミング図参照)。このことは出力740をVdd−VTまで充電する。さらに、この時点では、ブートストラップ回路422は容量手段421の一方の端をVssに結合し、インバータの出力740を値Vdd−VTに充電して維持する。clk1がローでありclk2がハイであるサイクルの後半には、トランジスタ710はディスエーブル状態にされ、容量手段421の一方の端はVddに接続されて追加的電荷をインバータの出力740に注入し、これにより所望のハイ電圧の出力を供給する。
ここで、入力に供給される入力信号がハイである状態を考える。さらに、クロック信号clk1がローでありclk2がハイである最初のクロック位相を考える。この場合には、トランジスタ710はディスエーブル状態にされ、トランジスタ720及びハイの入力がトランジスタ730をイネーブル状態にする。結果的に、インバータの出力740の電圧はロー(Vss)になり、このことが望まれる。この場合には、容量手段421はVss及びVddに結合され、これにより充電される。しかし、次のクロック位相では、互いにオーバーラップしないクロック信号clk1(ハイ)及びclk2(ロー)がトランジスタ710をイネーブル状態にし、トランジスタ720をディスエーブル状態にする。トランジスタ730の制御端子における入力はハイのままであるので(図7(a)のタイミング図参照)、出力740はVdd−VTまで充電される。さらに、この時点では、ブートストラップ回路422は容量手段421の一方の側を電源電圧Vssに結合し、このことは出力740をハイに維持し、従ってインバータの不正な出力を供給する。
なお、有効な出力は、クロック信号clk2がハイである位相中のみに供給される。前述したように、出力信号をさらに処理する回路は、クロック信号clk2がハイでありclk1がローであるクロック位相中のみに出力信号が受信されるように同期させることができる。
以下では、明瞭にするために、容量手段及びブートストラップ回路が論理回路の出力側にある実施例を説明する。しかし、(図6に記載のように)容量手段及びブートストラップ回路が入力側にある実施例も可能であり、本発明の範囲内であることは当業者にとって明らかである。
ここで図7(b)を参照しながら説明し、図7(b)は、ほぼ安定した出力信号を有利に提供するインバータ701の他の可能な実施例を示す。本実施例では、図7のインバータ700に、図7(b)に示すように反転入力!(入力)を受信する追加的なトランジスタ711を設ける。関連するタイミング図(図7(c)に示す)を参照すれば、入力inの変化に出力が瞬時に反応しないことがわかる。本実施例では、入力の立下りエッジをclk1の立下りエッジに同期させ、入力の立上りエッジをclk2の立下りエッジに同期させることが、常に有効な出力を供給する論理回路を生じさせる。
ここで図8を参照しながら説明し、図8に、NAND論理回路800の可能な実施例を示す。図8では、追加的なトランジスタ810が図7に示すインバータ700に直列に設けられ、入力トランジスタ730及び810がNANDゲートの入力として働く。
ここで図8(a)を参照しながら説明し、図8(a)は、一組のトランジスタ811及び812を図8のNANDゲートに結合することによって実現することのできるNAND論理回路801の他の可能な実施例を示す。これに加えて、図8(b)に、本実施例に関連するタイミング図を示す。トランジスタ811及び812の制御端子は反転入力に結合されている。この回路のすべての論理状態を図8(b)のタイミング図に示す。
ここで図9を参照しながら説明し、図9に、NORゲート900の1つの可能な実施例を示す。追加的なトランジスタ910を、図7に示すインバータ700のトランジスタ730に並列に配置する。入力トランジスタ730及び910の制御端子がNORゲートの入力として働く。
ここで、図9(a)及び図9(b)を参照しながら説明し、図9(a)及び図9(b)にそれぞれ、NOR論理回路901の他の可能な実施例及び関連するタイミング図を示し、この実施例は、図9のNORゲート900に一組のトランジスタ911及び912を結合することによって実現することができる。トランジスタ911及び912の制御端子は反転入力に結合されている。この回路のすべての論理状態を図9(b)に示すタイミング図に表す。
同様に、他の論理ゲートAND、OR等を構成することができる。また、図6を参照して説明したブートストラップ手段及び容量手段を有する論理ゲートも構成することができる。
次の説明では、カスケード型論理回路の同期を可能にする同期アーキテクチャ及び論理回路を説明する。同期は、2つ、3つ、4つまたはより多数のクロックを用いて達成することができる。6つのクロックを用いて同期技術を説明する。
ここで図10(a)、10(b)及び10(c)を参照しながら説明し、これらの図はそれぞれ、6つのクロック信号を用いて同期を可能にするインバータ、NAND、及びNOR論理ゲートの実施例を示す。これらの図では、図4中の各部分に対応する部分は同じ参照番号を付す。これらの実施例では、容量手段421は、トランジスタ1051及び1052の導電端子どうしを短絡させることによって実現する。ブートストラップ回路422には、クロック信号を制御端子で受信する追加的なトランジスタ1061及び1062を設ける。明瞭さのために、以下の説明では図10(a)を詳細に説明する。
ここで図10(a)を参照しながら説明し、図10(a)に、同期を可能にするインバータ1000の実施例を示す。ブロック410は、図5で説明した基本的なダイナミック・ロジック(論理)インバータを形成し、クロック信号clkA及びclkBを受信する。容量手段421は、トランジスタ1051及び1052を用い、それらの導電端子どうしを短絡させることによって実現されるが、容量手段は単一のトランジスタを用いて実現することもできる。導電端子どうしを短絡させたトランジスタ1051及び1052は互いに逆並列に接続されて、インバータの出力1040の立上りエッジ及び立下りエッジの両方における容量性の挙動を改善する。随意的に、トランジスタ1051及び1052のサイズを変更して容量効果を改善することもできる。ブートストラップブロック422は、トランジスタ1061、1062、1063及び1064が設けられている。追加的なトランジスタ1061及び1062を設けて、クロックclkEまたはclkDがハイである際に出力をVdd以上に保つ。インバータの動作は、クロックclkD及びclkEがハイのレベルにある際にこれらの追加的なトランジスタ1061及び1062がインバータの出力をハイに保つこと以外は図7について前述したものと同じである。技術の詳細次第では、サイジング(寸法決め)を変更し、漏洩または絶縁破壊(ブレークダウン)を回避するための特別なカスコード・トランジスタを加えて、容量性フィードバックを入力に加えるか他の変更を行うことが必要になり得る。図10(a)の説明は、図10(b)のNAND論理回路及び図10(c)のNOR論理回路にも同様に当てはまる。
複数の論理回路をカスケード接続することは、次の説明より明らかになる。
この目的のために、ここで図11を参照しながら説明し、図11に、本発明の論理回路を同期させるために用いることのできる全体的な同期アーキテクチャ1100を示す。本発明の論理回路全体は、互いに部分的にオーバーラップする6つのクロック信号、即ち、clkA、clkB、clkC、clkD、clkE及びclkFを用いて同期させることができる。図12に、クロック信号の特性を示す。この同期アーキテクチャ1100の例では、本発明による論理アセンブリが7つ連続したものを示し、各論理アセンブリは少なくとも4つのクロック信号を受信する。同期アーキテクチャ1100はさらに、クロック信号clkA、clkB、clkC、clkD、clkE及びclkFを発生するクロック信号発生器1110を有する。第1クロック信号clkAは、クロックサイクルの最初の60°中にハイのレベルを有し、第2クロック信号clkBは、clkAに対して60°だけ位相シフトされ、第3クロック信号clkCは第1クロック信号clkAに対して120°だけ位相シフトされている、等である。図11に示すように、各論理アセンブリは順に入れ替わるクロック信号の組に接続され、これにより、各論理アセンブリが受信するクロック信号clk1、clk2、clk3、clk4は、その手前の論理アセンブリが受信するクロック信号clk1、clk2、clk3、clk4に対してそれぞれ60°進んだ位相である。本発明は60°以外の位相差で実施することができることは当業者にとって明らかである。なお、第1アセンブリと第7論理アセンブリとは接続が同じであり、同様に、第2と第8、第3と第9、等はクロック信号接続が同じである。選択したクロック信号パターンの性質、及びクロック信号の入れ替わりの接続が、縦続接続中の手前の論理アセンブリの出力が有効な出力である際のみに、論理アセンブリの入力がクロック信号に合わせてイネーブル状態に(許可)されることを保証する。
この例では、左から1番目の論理アセンブリがクロック信号clkA、clkC、clkD及びclkEに接続され、次の論理アセンブリがclkB、clkD、clkE及びclkFに接続され、等である。従って、1番目の論理アセンブリはクロック信号clkBがハイである際に有効な出力を供給し、次の論理アセンブリは、クロック信号clkBがハイである際のみに入力をサンプリングし、これにより、次の論理アセンブリ用の有効な入力を保証する。同様に、後続の論理アセンブリはその入力信号を正しい瞬時にサンプリングする。この同期のプロセスを図13に例示する。
図13に、シフトレジスタを形成する同期したインバータ列を示す。なお、所定のインバータにおいて、上部及び下部のトランジスタが入れ替わりのクロック信号を受信し、すべての上部トランジスタが巡回的に(記号が)連続するクロック信号を受信し、同様に、すべての下部トランジスタが巡回的に連続するクロック信号を受信する。さらに、簡単かつ明瞭にするために、ブートストラップ回路は図には示していないが、各インバータはブートストラップ回路をその容量手段に結合することができる。本実施例の動作を以下に説明する。
各インバータのキャパシタは第1から第6までのクロック信号で順に充電され、即ち図に示すように、第1キャパシタはクロック信号clkAの第1位相(ハイ)中に充電され、第2キャパシタはクロック信号clkBの期間中に充電され、等である。これらのキャパシタは後続するクロック信号の期間中に充電されたままであり、即ち、第1キャパシタはclkBがハイである間充電されたままであり、第2キャパシタはclkCがハイである間充電されたままであり、等である。これらのキャパシタは、さらに後続するクロック信号の期間中に放電し、即ち、第1キャパシタはクロック信号clkCがハイである際に放電し、第2キャパシタはclkDがハイである際に放電し、等である。なお、前のキャパシタが完全に充電されている際のみに入力がインバータによって受信され、例えば、2番目のインバータは、1番目のインバータのキャパシタが完全に充電されている際にクロック信号clkBのハイの位相中のみに入力を受信し、同様に、3番目のインバータはcklCの期間中にその入力を受信し、等である。この構成は各インバータにおいて有効な入力のみが受信されることを保証し、これによりシフトレジスタの動作を実現する。
実際には、各キャパシタはクロックサイクルの最初のステップ中にプリチャージ(事前充電)される。クロックサイクルの第2ステップ中には、キャパシタは電荷を保持し、出力に昇圧をもたらす。第3ステップ中には、キャパシタが放電する。
なお、オーバーラップする5つのクロック信号、あるいはオーバーラップしない4つのクロック信号を用いて同じ動作を達成することができる。これに加えて、他の同期技術も可能である。
同期アーキテクチャは、フリップフロップ、ラッチ、シフトレジスタ等を含む複雑なカスケード型論理回路用に構成することができる。
以上の説明では、N導電型素子を用いた論理回路を説明してきたが、P導電型素子を用いた論理回路も同様に説明することができることは当業者にとって明らかである。
なお、上述した実施例は本発明を限定するものではなく例示するものであり、当業者は請求項に記載の範囲を逸脱することなしに多くの代案実施例を設計することができる。「具えている」等の文言は、請求項に挙げた以外の要素またはステップの存在を排除するものではない。各要素は複数存在し得る。本発明は、ソフトウェアにより適切にプログラムされたコンピュータによって実現することができる。いくつかの手段を挙げたシステムの請求項では、これらの手段のいくつかはコンピュータで読取可能なソフトウェアまたはハードウェアの同一アイテムによって具体化することができる。
標準的なCMOSインバータ回路を示す図である。 単一導電型インバータ用の標準的な回路を示す図である。 トランジスタをダイオード接続モードで用いた、単一しきい値・単一導電型インバータを示す図である。 本発明による、単一しきい値・単一導電型論理アセンブリのブロック図である。 本発明による単一しきい値・単一導電型インバータを示す図である。 本発明による単一しきい値・単一導電型NAND論理回路を示す図である。 本発明による単一しきい値・単一導電型NOR論理回路を示す図である。 本発明による単一しきい値・単一導電型インバータ、及びブートストラップ回路を示す図である。 図6のインバータの論理状態のタイミング図である。 インバータの出力側にブートストラップ回路及びキャパシタを有する、本発明によるインバータの他の実施例を示す図である。 図7のインバータの論理状態のタイミング図である。 インバータの出力側にブートストラップ回路及びキャパシタを有する、本発明によるインバータの他の実施例を示す図である。 図7(b)のインバータの論理状態のタイミング図である。 出力側にブートストラップ回路及びキャパシタを有する、本発明によるNAND論理回路の実施例を示す図である。 出力側にブートストラップ回路及びキャパシタを有する、本発明によるNAND論理回路の他の実施例を示す図である。 図8(a)のNAND回路の論理状態のタイミング図である。 出力側にブートストラップ回路及びキャパシタを有する、本発明によるNOR論理回路の実施例を示す図である。 出力側にブートストラップ回路及びキャパシタを有する、本発明によるNOR論理回路の実施例を示す図である。 図9(a)のNOR回路の論理状態のタイミング図である。 同期を可能にする、本発明によるインバータ論理回路の実施例を示す図である。 同期を可能にする、本発明によるNAND論理回路の実施例を示す図である。 同期を可能にする、本発明によるNOR論理回路の実施例を示す図である。 瞬時反転の論理を同期させるための一般的な同期アーキテクチャを示す図である。 可能な同期アーキテクチャの1つに用いられるクロック信号の特性を示す図である。 シフトレジスタを形成する同期したインバータ列を示す図である。

Claims (7)

  1. 単一しきい値・単一導電型の回路素子から構成される論理アセンブリにおいて、
    各々が主電流経路及び制御端子を有する少なくとも一組のスイッチを有する論理回路であって、前記主電流経路が、電源ラインに結合された第1導電端子及び第2導電端子を有する直列配置を形成し、前記主電流経路が、前記論理アセンブリの出力を形成する共通ノードに接続され、前記スイッチの制御端子が、互いにオーバーラップしないクロック信号を当該制御端子に供給するクロック回路に結合されている論理回路と;
    前記論理アセンブリの出力を昇圧させるための出力ブースト回路であって、前記論理アセンブリの出力への追加的電荷の供給を可能にする容量手段と、前記容量手段の第1端への電荷の追加的供給を可能にして、前記容量手段の第2端に昇圧された電圧を生じさせるブートストラップ回路と
    を具えていることを特徴とする論理アセンブリ。
  2. 前記出力ブースト回路が、前記論理回路の前記一組のスイッチの制御端子の1つに結合されていることを特徴とする請求項1に記載の論理アセンブリ。
  3. 前記出力ブースト回路が、前記論理回路の出力に結合されていることを特徴とする請求項1に記載の論理アセンブリ。
  4. 前記スイッチが、トランジスタを含むあらゆるスイッチであることを特徴とする請求項1に記載の論理アセンブリ。
  5. 前記一組のスイッチの前記第1導電端子及び前記第2端子の少なくとも一方が、論理ゲートに給電するための電力ラインに直接結合されていることを特徴とする請求項1に記載の論理アセンブリ。
  6. 前記一組のスイッチの前記第1導電端子及び前記第2導電端子の一方または両方が、1つ以上の論理素子を通して、論理ゲートに給電するための電源ラインに結合されていることを特徴とする請求項1に記載の論理アセンブリ。
  7. 前記ブートストラップ回路が、カスケード接続された複数の前記論理アセンブリの同期用の複数のクロック信号を受信することを特徴とする請求項1に記載の論理アセンブリ。
JP2008531840A 2005-09-20 2006-09-14 単一しきい値・単一導電型論理回路 Withdrawn JP2009509449A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP05108653 2005-09-20
PCT/IB2006/053281 WO2007034384A2 (en) 2005-09-20 2006-09-14 Single threshold and single conductivity type logic

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009509449A true JP2009509449A (ja) 2009-03-05

Family

ID=37889207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008531840A Withdrawn JP2009509449A (ja) 2005-09-20 2006-09-14 単一しきい値・単一導電型論理回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7671660B2 (ja)
JP (1) JP2009509449A (ja)
CN (1) CN101268616B (ja)
WO (1) WO2007034384A2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120129774A (ko) * 2011-05-19 2012-11-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 회로 및 회로의 구동 방법
JP2012257219A (ja) * 2011-05-19 2012-12-27 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 演算回路及び演算回路の駆動方法
JP2017017693A (ja) * 2015-06-30 2017-01-19 株式会社半導体エネルギー研究所 ロジック回路、半導体装置、電子部品、および電子機器
WO2018220471A1 (ja) * 2017-06-02 2018-12-06 株式会社半導体エネルギー研究所 記憶装置及びその動作方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101283506B (zh) 2005-10-07 2011-07-27 Nxp股份有限公司 单阈值和单传导类型放大器/缓冲器
EP2020084A2 (en) 2006-05-05 2009-02-04 Nxp B.V. Electronic circuit and method therefor
US20100109750A1 (en) * 2008-10-30 2010-05-06 Jens Barrenscheen Boost Mechanism Using Driver Current Adjustment for Switching Phase Improvement
CN102006041B (zh) * 2010-12-24 2012-05-09 复旦大学 一种可阵列式用的全数字cmos工艺实现的栅压自举开关
KR101495334B1 (ko) * 2013-04-19 2015-02-24 주식회사 맵스 입력 절연형 스위칭 소자용 게이트 드라이버
CN106664081A (zh) * 2014-06-03 2017-05-10 耶鲁大学 自举电路及使用自举电路的单极性逻辑电路
SG10201607278TA (en) * 2015-09-18 2017-04-27 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and electronic device
US10505540B2 (en) * 2017-03-08 2019-12-10 Tacho Holdings, Llc Unipolar logic circuits
US10079602B1 (en) * 2017-10-10 2018-09-18 Tacho Holdings, Llc Unipolar latched logic circuits

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3774055A (en) * 1972-01-24 1973-11-20 Nat Semiconductor Corp Clocked bootstrap inverter circuit
US3903431A (en) * 1973-12-28 1975-09-02 Teletype Corp Clocked dynamic inverter
US4316106A (en) 1980-01-11 1982-02-16 Mostek Corporation Dynamic ratioless circuitry for random logic applications
NL8003519A (nl) 1980-06-18 1982-01-18 Philips Nv Lekstroomcompensatie voor dynamische mos logica.
US4495426A (en) * 1981-12-24 1985-01-22 Texas Instruments Incorporated Low power inverter circuit
KR960013861B1 (ko) * 1994-02-16 1996-10-10 현대전자산업 주식회사 고속 데이타 전송을 위한 부트스트랩 회로
KR0154157B1 (ko) * 1994-04-29 1998-12-15 김주용 반도체 소자의 부스트랩 회로
EP0821362B1 (en) * 1996-07-24 2004-05-26 STMicroelectronics S.r.l. Output stage for a memory device and for low voltage applications
US20030016070A1 (en) * 2001-07-17 2003-01-23 Wenhua Yang Bootstrap module for multi-stage circuit
US6917221B2 (en) * 2003-04-28 2005-07-12 International Business Machines Corporation Method and apparatus for enhancing the soft error rate immunity of dynamic logic circuits
US7230453B2 (en) * 2003-12-29 2007-06-12 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Output buffer providing multiple voltages
US7728650B2 (en) * 2007-06-15 2010-06-01 Qualcomm Incorporated Switches with passive bootstrap of control signal

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120129774A (ko) * 2011-05-19 2012-11-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 회로 및 회로의 구동 방법
JP2012257219A (ja) * 2011-05-19 2012-12-27 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 演算回路及び演算回路の駆動方法
JP2012257218A (ja) * 2011-05-19 2012-12-27 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 回路及び回路の駆動方法
US9444457B2 (en) 2011-05-19 2016-09-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Circuit and method of driving the same
JP2016197863A (ja) * 2011-05-19 2016-11-24 株式会社半導体エネルギー研究所 集積回路
JP2016226045A (ja) * 2011-05-19 2016-12-28 株式会社半導体エネルギー研究所 演算回路
US10090333B2 (en) 2011-05-19 2018-10-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Arithmetic circuit and method of driving the same
KR102093909B1 (ko) * 2011-05-19 2020-03-26 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 회로 및 회로의 구동 방법
JP2017017693A (ja) * 2015-06-30 2017-01-19 株式会社半導体エネルギー研究所 ロジック回路、半導体装置、電子部品、および電子機器
WO2018220471A1 (ja) * 2017-06-02 2018-12-06 株式会社半導体エネルギー研究所 記憶装置及びその動作方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007034384A2 (en) 2007-03-29
CN101268616B (zh) 2010-10-27
WO2007034384A3 (en) 2007-09-27
US20080258770A1 (en) 2008-10-23
CN101268616A (zh) 2008-09-17
US7671660B2 (en) 2010-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009509449A (ja) 単一しきい値・単一導電型論理回路
CN108964446B (zh) 电荷泵单元及电荷泵电路
KR100900965B1 (ko) 고전압용 씨모스 전하 펌프
US6952129B2 (en) Four-phase dual pumping circuit
US11183924B2 (en) Voltage multiplier circuit with a common bulk and configured for positive and negative voltage generation
US10333397B2 (en) Multi-stage charge pump circuit operating to simultaneously generate both a positive voltage and a negative voltage
JP4223270B2 (ja) 昇圧回路およびそれを内蔵した不揮発性半導体記憶装置
EP2965425B1 (en) Voltage level shifter with a low-latency voltage boost circuit
JP3653170B2 (ja) ラッチ回路およびフリップフロップ回路
US7440534B2 (en) Master-slave flip-flop, trigger flip-flop and counter
JP2010161761A (ja) クロックd型フリップ・フロップ回路
CN114567297B (zh) D触发器以及包括d触发器的处理器和计算装置
US7463054B1 (en) Data bus charge-sharing technique for integrated circuit devices
US9379605B2 (en) Clocking circuit, charge pumps, and related methods of operation
JP2005348296A (ja) 半導体集積回路
US7924086B2 (en) Boosting circuit
KR20180057510A (ko) 승압 회로 및 그것을 구비한 불휘발성 메모리
JPS63304494A (ja) 半導体集積回路
JP2541244B2 (ja) クロック発生回路
US6630846B2 (en) Modified charge recycling differential logic
US6661257B2 (en) Method for clocking charge recycling differential logic
KR100407989B1 (ko) 고전압 발생 회로
CN113472344A (zh) 新型分频器
JP2020025231A (ja) クロック波高値ブースト回路
JPH0376560B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20090907