JP2009508102A - 光学的画像のための高いダイナミックレンジを有する低電流測定 - Google Patents

光学的画像のための高いダイナミックレンジを有する低電流測定 Download PDF

Info

Publication number
JP2009508102A
JP2009508102A JP2008529752A JP2008529752A JP2009508102A JP 2009508102 A JP2009508102 A JP 2009508102A JP 2008529752 A JP2008529752 A JP 2008529752A JP 2008529752 A JP2008529752 A JP 2008529752A JP 2009508102 A JP2009508102 A JP 2009508102A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integration
value
threshold
integration time
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008529752A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5572315B2 (ja
Inventor
ヨゼフュス レイッセン,ヤコビュス
マリニュス,ハリー
デル マルク,マルティニュス ベルナルデュス ファン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips NV
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips NV, Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips NV
Publication of JP2009508102A publication Critical patent/JP2009508102A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5572315B2 publication Critical patent/JP5572315B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0092Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring current only
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/0059Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence
    • A61B5/0082Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence adapted for particular medical purposes
    • A61B5/0091Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence adapted for particular medical purposes for mammography
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/43Detecting, measuring or recording for evaluating the reproductive systems
    • A61B5/4306Detecting, measuring or recording for evaluating the reproductive systems for evaluating the female reproductive systems, e.g. gynaecological evaluations
    • A61B5/4312Breast evaluation or disorder diagnosis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/53Control of the integration time
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Reproductive Health (AREA)
  • Gynecology & Obstetrics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

光トモグラフィでは、幅広いダイナミックレンジが電流測定に際して必要とされる。本発明の例となる実施形態に従って、電流は、積分された電流が最大積分時間の終了前に閾値を超える場合は、積分時間をカウントして、そのカウントされた積分時間を基に測定結果を出力することによって測定される。

Description

本発明は、光学的画像の分野に関する。具体的に、本発明は、高いダイナミックレンジを有する低電流を測定するための判定回路と、光学試験装置における判定回路の使用と、高いダイナミックレンジを有する低電流を測定する方法、コンピュータ読取可能な媒体及びプログラム要素とに関する。
胸部画像形成装置に関しては、極めて低い光度が測定されなければならない。このような低い電流を測定するための判定回路は、測定されるべき電流が幅広いダイナミックレンジを有する場合にゲインのスイッチングを必要とするトランスインピーダンス増幅器を有しうる。他の判定回路は、高いダイナミックレンジを有するこのような電流が測定されるべき場合に積分コンデンサ値の変更又は積分時間の変更を必要とする電流−電圧積分器を使用する。
更に、前出の判定回路は、アーティファクトを生成するとともに、較正及びゲインスイッチングに時間を要しうる。
高いダイナミックレンジを有する低電流の改善された判定を有することが望ましい。
本発明の例となる実施形態に従って、高いダイナミックレンジを有する低電流を測定する判定回路であって、積分ユニット及びカウンタユニットを有し、前記積分ユニットは、積分時間にわたって前記電流を積分して、積分値をもたらすよう構成され、前記カウンタユニットは、前記積分時間をカウントして、カウント値をもたらすよう構成され、当該判定回路は、前記積分値が最大積分時間の終了前に第1の閾値を超える場合に、前記カウント値に基づいて第1の測定結果を出力するよう構成される、判定回路が提供され得る。
従って、本発明のこのような例となる実施形態に従って、比較的高い電流が測定されるべき場合に、カウントされた積分時間は、測定結果のために使用される。例えば、積分値が第1の閾値よりも高いならば、積分時間は(積分値が第1の閾値を超えるまでの時間であるよう)決定され、次いで、かかる積分は出力のために使用される。
本発明の他の例となる実施形態に従って、当該判定回路は、前記積分値が前記最大積分時間の終了時に前記第1の閾値を下回る場合に、前記積分値に基づいて第2の測定結果を出力するよう構成される。
例えば、比較的低い電流が測定される場合は、積分値は、(所定の)最大積分時間の間に第1の閾値を超えない。この場合、積分値は、第2の測定結果を得るために使用される。(例えば、第2の測定結果は積分値自体であっても良く、あるいは、積分値に比例しても良い。しかし、積分値に対する測定結果の如何なる他の依存性も存在しうる。)
本発明の他の例となる実施形態に従って、当該判定回路は、前記積分値が前記最大積分時間の終了前に前記第1の閾値を超え且つ前記カウント値が第2の閾値を下回る場合に、前記カウント値及び前記積分値に基づいて第3の測定結果を出力するよう構成される。
本発明の他の例となる実施形態に従って、前記カウンタユニットは、前記積分値が前記第1の閾値を超える場合にカウントを中止するよう構成される。更に、前記積分ユニットは、前記積分値が前記第1の閾値を超える場合に積分を中止するよう構成される。
従って、本発明のかかる例となる実施形態に従って、更なるカウント及び積分は、前記第1の閾値が達成された場合には実行されない。これは、例えば、前記第1の閾値が到達された場合にカウンタの停止及び積分の停止をトリガする停止信号によって行われ得る。
本発明の他の例となる実施形態に従って、前記第1の閾値、前記第2の閾値、及び前記最大積分時間のうちの少なくとも1つはユーザによって予め決定される。
例えば、個々の測定要求に従って、ユーザは、例えば、実行されるべき測定が極めて感度が高いものである必要があるならば、前記最大積分時間を増大させることができる。
本発明の他の例となる実施形態に従って、当該判定回路は、前記積分値をデジタル信号に変換するアナログ−デジタル変換器を更に有する。
これにより、測定結果のデジタル出力を提供することができる。
本発明の例となる実施形態に従って、前記カウンタが、例えば100ミリ秒(例えば、カウンタ値10000000。)が経過する前に停止したならば、カウンタ値が代わりに使用される。
本発明の他の例となる実施形態に従って、当該判定回路は、前記積分ユニットからの複数の積分値をマルチプレクスするよう構成されるマルチプレクサを更に有し、このとき、前記カウンタユニットは、夫々の積分ユニットに関して時間値をラッチするよう構成される。
例えば、当該判定回路は総数256チャネルを使用することができる。このとき、判定回路は、夫々が16チャネルを有する16のボードを有する。各ボードで、16チャネルの夫々は、1つの各自のダイオードからの電流を測定することができる。結果として得られる16個の信号は、次いで、(16チャネルマルチプレクサである)1つのマルチプレクサに入力される。更に、各ボードは、16の時間値(time value)をラッチすることができる1つのカウンタ制御装置を有することができる。前記マルチプレクサは、16チャネルの各ボードにおいて1つのADC及び1つのFPGAのみを有するために使用される。全体のシステムは、機械において総数256チャネルを作る16のボードを有する。
本発明の他の例となる実施形態に従って、当該判定回路は、前記カウンタユニットにクロックパルスを送り込むよう構成されるクロックを更に有する。
本発明の他の例となる実施形態に従って、前記積分ユニットは、BurrBrownのIVC102及びBurrBrownのACF2101として構成される電流−電圧積分器を有する。
雑音低減を更に増進するために、当該判定回路はコンデンサCによって電気幹線(mains)から分離される。更に、コンデンサCは当該判定回路へパルスによって電力を供給することができる。当該判定回路を分離することによって、それに結合される電気幹線の雑音発生源は除かれる。なお、この雑音発生源は信号対雑音比を高める。
更に、本発明の他の例となる実施形態に従って、前出の判定回路は、関心がある対象の光学試験のための光学試験装置で使用され、前記光学試験装置は、前記関心がある対象へ一次の光学的放射を放つよう構成される光学放射源と、前記関心がある対象からの放射を検出するよう構成される検出器ユニットと、高いダイナミックレンジを有する低電流を測定するよう構成される前出の判定回路とを有する。
これは、例えば乳ガン診断での改善された画像形成を提供することができる。
本発明の他の例となる実施形態に従って、高いダイナミックレンジを有する低電流を測定する方法であって、積分値を得るよう積分時間にわたって前記電流を積分するステップと、カウント値を得るよう前記積分時間をカウントするステップと、前記積分値が最大積分時間の終了前に第1の閾値を超える場合に、前記カウント値に基づいて第1の測定結果を出力するステップとを有する方法が提供され得る。
これによりフォトダイオードによる極めて低い電流又は光度の改善された測定が可能となることが信じられる。
本発明の他の例となる実施形態に従って、当該方法は、前記積分値が前記最大積分時間の終了時に前記第1の閾値を下回る場合に、前記積分値に基づいて第2の測定結果を出力するステップと、前記積分値が前記最大積分時間の終了前に前記第1の閾値を超え且つ前記カウント値が第2の閾値を下回る場合に、前記カウント値及び前記積分値に基づいて第3の測定結果を出力するステップとを更に有する。
これは、低電流測定において、スイッチングを伴わない高いダイナミックレンジと、より低いデジタルフィードスルーとを提供することができる。
更に、前記カウント値及び前記積分値の両方を用いることによって、電流が、(第1の(積分)閾値が到達されるまでに、数カウントしか行われない程に)比較的高い場合に、信号対雑音比は更に低減され得る。
本発明の他の例となる実施形態に従って、当該方法は、前記積分値が前記第1の閾値を超える場合にカウントを中止するステップと、前記積分値が前記第1の閾値を超える場合に積分を中止するステップとを更に有する。
更に、マルチプレクスステップは、(複数の対応する積分ユニットからの又は1つの単一積分ユニットからの)複数の積分値が測定される場合に、実行され得る。
本発明の他の例となる実施形態に従って、高いダイナミックレンジを有する低電流を測定するコンピュータプログラムが記憶されるコンピュータ読取可能な媒体であって、前記コンピュータプログラムは処理装置によって実行される場合に前出の方法ステップを実行するよう構成されるコンピュータ読取可能な媒体が提供され得る。
本発明は、また、高いダイナミックレンジを有する低電流を測定するプログラム要素であって、処理装置によって実行される場合に、前出の方法ステップを実行するよう構成されるプログラム要素に関する。当該プログラム要素は、コンピュータ読取可能な媒体に記憶され得、データ処理装置のワーキングメモリにロードされ得る。このように、データ処理装置は、本発明の方法の例となる実施形態を実行するために備えられ得る。前記コンピュータプログラムは、例えばC++のような如何なる適切なプログラミング言語で書かれても良く、例えばCD−ROMのようなコンピュータ読取可能な媒体に記憶され得る。また、前記コンピュータプログラムは、例えばWorldWideWebのようなネットワークから入手され得る。このようなネットワークから、前記コンピュータプログラムは、画像処理ユニット若しくは処理装置又はいずれかの適切なコンピュータにダウンロードされ得る。
本発明の例となる実施形態の要旨は、光トモグラフィでは、高いダイナミックレンジを有する低電流の判定が、ゲインスイッチング又は積分時間若しくは積分コンデンサ値の変更を伴わずに実行されることである。本発明の例となる実施形態に従って、積分された電流が、最大積分時間の経過前に、所定の閾値を超える場合は、その時点までに経過した測定時間が出力として使用される。しかし、積分閾値が最大積分時間の終了前に到達されない場合は、積分結果が出力として使用される。
本発明のこれら及び他の態様は、以降で記載される実施形態から明らかになるとともに、これらを参照して説明される。
本発明の例となる実施形態は、添付の図面を参照して以下で記載される。
図面の記載は図式的である。異なる図面において、同一の又は類似する要素は同じ参照番号を与えられている。
以下、図1を参照して、本発明の例となる実施形態に従う判定回路を備えた光学試験装置100について詳細に記載する。
例えば組織(例えばヒトの胸部。)のような関心がある対象101の試験のための光学試験装置100は、光放射源102、検出ユニット103、判定ユニット104、及び、オプションとして、心電図ユニット(ECG)105を有する。
光放射源102は、1又は複数のレーザ若しくはフォトダイオード106、107、108を有することができる。レーザ又はフォトダイオードの夫々は、特定の波長を放射するよう構成されている。夫々の放射された波長は、例えば500nmから1500nmの間といった、赤外線、近赤外線波長でありうる。放射された光ビームは、光ファイバ109、110、111によってカプラ112へ伝送される。ファイバカプラ112は、3つのファイバ109、110、111を結合し、且つ、イメージングフィールドの直接照射によって関心がある対象101へ結合光113を放射するよう構成され得る。
しかし、試験装置は、例えば256本のファイバといったより多くの放射源としてのファイバと、例えば検出用の256本のファイバとを使用することができる。例えば、ファイバは、(胸部イメージングのための)カップ状の測定チェンバの壁面に実装されている。放射源ファイバは連続波により連続的に照射され、全ての検出器の信号は同時に記録される。例えば、3つの波長が使用され得る。しかし、3よりも多い又は3よりも少ない波長が使用されても良い。
留意すべきは、光ファイバ109、110、111の代わりに、又は、光ファイバに加えて、例えばレンズ(図示せず。)のような他の光学要素が、関心がある対象101へ光を伝えるために使用されても良いことである。更に、ファイバ、ミラー、開口、変調器は、光を予め処理するために使用され得る。しかし、1つの単一波長は、本発明の例となる実施形態に従って必要とされ得る。
光放射源102によって放射された光は、サンプル101に当たって、それを通って伝播する。光伝播の異なる特性に起因して、関心がある対象101は、透過した放射線114、115、116を放射する。
関心がある対象101から放射された光は、更に、光収集オプティックス(図示せず。)によって処理される。光収集オプティックスは、例えばレンズ、ミラー及びフィルタのような光学素子を含みうる。
光は、放射フィルタ(図示せず。)でフィルタ処理をされても良い。如何なるバックグラウンド放射も、1又はひと続きの光学フィルタによって収集経路から反射され得る。
次いで、関心がある対象101からの光は、検出器要素117、118、119によって検出される。かかる要素は、CCDカメラ、フォトダイオード、アバランシェ・フォトダイオード又は増倍管の形で構成され得る。本発明の例となる実施形態に従って、検出信号は、判定回路200(図2参照。)によって測定されて、デジタル信号に変換され得る。
判定ユニット104は、ライン120を介して関心がある対象101の心拍を測定するよう構成された心電図ユニット105へ(ライン122を介して)結合され得る。この心電図データは、次いで、動作アーティファクトの除去のために使用され得る。
判定ユニット104は、更に、判定回路200の出力に基づいて、関心がある対象101の2次元又は3次元画像を再構成するよう構成され得る。
図2は、本発明の例となる実施形態に従う単一チャネルカウンタ積分器又は判定回路200の例となる実施形態を示す。判定回路200は、積分ユニット201と、カウンタユニット202と、例えば20ビットのアナログ−デジタル変換器であるアナログ−デジタル変換器203と、例えば100MHzクロックのようなクロック205とを有する。しかし、異なる周波数がクロックのために使用されても良い。
判定回路200は、20ビットADC(アナログ−デジタル変換器)203を用いて、スイッチングを伴わずに高いダイナミックレンジ(例えば、12decadeにわたるレンジ)を有する低電流(又は複数の低電流)を測定するよう構成されている。
測定されるべき電流は、グラスファイバ206からの光を検出するフォトダイオード207によって生成され得る。
次いで、電流は、スイッチ208を介して積分ユニット201に入力される。スイッチ208は、(カウンタ/タイミングFPGAとして構成され得る)カウンタユニット202へ接続されており、“H”信号によってトリガされる。
FPGAはフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(Field Programmable Gate Array)であり、カウンタや、レジスタ等のような、設定可能なデジタルロジックを備えたデバイスである。
更に、積分ユニット201は、2つのデバイス211、221を有する。第1のデバイス211は、1/2ACF2101として適合され得る積分ユニット211であって、その“マイナス”入力でスイッチ208へ接続されている。その“プラス”入力は接地212へ接続されている。更に、“マイナス”入力は、(例えば100ピコファラッドの容量を有しうる)コンデンサ210と、リセットを行うための(コンデンサ210に並列な)スイッチ209とへ接続されている。スイッチ209は、カウンタユニット202からの“R”信号によってトリガされる。
スイッチ209及びコンデンサ210の後、ライン227は第2のデバイス221の“マイナス”入力に到達する。第2のデバイス221は比較器であって、先と同じく1/2ACF2101として適合され得る。
比較器221の“プラス”入力は、基準電圧Vref222へ接続されている。基準電圧は、例えば、−1Vの値を有しうる。しかし、(第1の閾値を定義する)この値は、本発明の例となる実施形態に従って、ユーザによって予め設定されても良い。積分時間カウンタを停止させるよう停止パルス220を発生させ、あるいは、カウンタがより多くのチャネルに関して使用される場合にカウンタ値をラッチする比較器221の出力は、カウンタユニット202へ接続されており、カウンタユニット202のカウント動作を停止させるよう構成されている。カウンタユニット202は、更にクロック205へ接続されている。クロック205は、100MHz発振器として適合され得る。
カウンタユニット202は、カウンタ値又はカウント値を出力し、ライン224を介してアナログ−デジタル変換器203へ接続されている。更に、カウンタユニット202は、スイッチ208を制御する保持信号“H”と、スイッチ209をトリガするリセット信号“R”と、スイッチ213をトリガする停止信号“S”とを出力するよう構成されている。
スイッチ213は、積分器211の出力へ接続されるとともに、ライン229を介して要素216の“プラス”入力へ接続されている。更に、ライン229は、コンデンサ224へ、そして接地215へ接続されている。
要素216の“マイナス”入力は、要素216の出力へ接続されている。要素216の出力は、次いで、抵抗217へ接続されて、次いで、ライン230を介してアナログ−デジタル変換器203へ接続されている。ライン230は、更に、コンデンサ218を介して接地電位219へ接続されている。
アナログ−デジタル変換器203は、積分値を表すADC値を出力するよう構成されている。
本発明の例となる実施形態に従って、判定回路200は、積分値が最大積分時間の終了前に(Vref222によって定義される)第1の閾値を超えるならば、カウント値に基づいて第1の測定結果を出力するよう構成される。
カウンタ202は、例えば、10ナノ秒の増分(100MHzクロック205)を有して積分時間をカウントする。積分時間が、例えば100ミリ秒後に終了するならば、ADC値は測定結果出力のために使用される。しかし、より高い電流では、積分器の出力が−1V閾値に達すると、カウンタ値は停止し、次いで、カウンタ値は、ADC値の代わりに測定値として使用される。
言い換えると、積分周期の終了時にカウンタ値が、例えば100万よりも低いならば、積分周期は最大積分時間の終了前に停止されているので、カウンタ値はADC値の代わりに使用されなければならない。
しかし、本発明の例となる実施形態に従って、ほんの数カウントが、積分閾値が到達される前に行われ、カウント動作及び積分が中止されるならば、積分器の出力値(又はADC値)は、測定結果判定のためにカウンタ値とともに使用される。このことは、更に、測定の信号対雑音比を増大させうる。
図3は、本発明の例となる実施形態に従う16チャネルの1つのボード構成の配置図を示す。図3から明らかなように、回路200は、更に、マルチプレクサ204を有する。マルチプレクサ204は、積分器の出力225へ接続されており、複数の対応する積分ユニット(図示せず。)からの複数の積分値をマルチプレクスするよう構成される。
参照番号231は、16チャネルの中から1つのチャネル出力を選択する4ビットアドレス語を参照する。参照番号232は、16の値の中から1つのラッチ値を選択する4ビットアドレス語を参照する。
マルチプレクサ204に加えて、又は、マルチプレクサ204に代えて、ADC203が16入力ADCとして適合されても、あるいは、16個の異なるADCが設けられても良い。
16個のカウンタ202を使用することに代えて、16のラッチを備えた1つのカウンタ202が設けられても良い。チャネルのうちの1つが停止パルスを発生させるならば、対応するラッチはカウンタの値を有しうる。
マルチプレクサ204は、16チャネルマルチプレクサとして適合され得るマルチプレクサであって、ライン226を介してアナログ−デジタル変換器203へ接続されている。
カウンタユニット202は、対応する比較器221(例えば、図2に図示されたもの。)によって生成された16個の停止/ラッチ入力223を入力として得る。
例えば、総数256チャネルが使用される。即ち、16のボードは夫々16チャネルを有する。各ボードで、ADC203は、16チャネルマルチプレクサと、16の時間値をラッチすることができる1つのカウンタ制御装置とを有する。
図4は、カウンタ積分器併用を有する判定回路200のタイミングを図式的に表す。水平軸306は時間を表す。
表示301から明らかなように、例えば10ミリ秒間続く第1保持307の間、測定及びADC平均が実行される。次いで、10ミリ秒のリセット相であるリセット相308の間、コンデンサ210は無負荷である。第2の保持相309は、やはり10秒間続く。
しかし、留意すべきは、他の時間スケール又は相長さが適合されて、個々に夫々の測定状態のために設計されても良い点である。
相310の間、積分が実行され、コンデンサ210は無負荷である。この相は、例えば、100ミリ秒の最大積分時間の間続く。その後、相311で、更なる保持が測定及びADC平均のために行われる。
曲線303、304及び305は、夫々、対応するR、H、Sスイッチ209、208及び213をトリガするR、H及びS信号を表す。
カウンタは、矢印によって示されるように、Rの立ち下がり303で始動し、Hの立ち上がり304で停止する。
曲線302は、単位μV/fAの積分器出力を表す。積分コンデンサが100pFであって、積分時間が100ミリ秒であるならば、積分器の出力電圧は、フォトダイオード電流の各フェムトアンペアに関して1μVである。
図5は、ダイオード電流と、積分モードと、10ナノ秒の増分を有する100MHzクロックの場合におけるカウンタと、雑音/分解能とを表す表を示す。図5から明らかなように、判定回路200のダイナミックレンジは12decade(1fAから1mA)である。更に、値10nAに関して、両測定モード(積分及びカウント)は有効である。
本発明の例となる実施形態に従って、解決されるべき時間のかかるゲインスイッチング及び待機は、省略されても良い。単一の胸部測定のスループットは半分にまで低減され得る。時間の削減に代えて、3ではなくて、例えば6といったより多くの色を有して測定を行うことが可能である。これにより、結果として、ピクチャのより良い画像品質や、より良い診断が、患者の測定時間を増やすことなく得られる。更に、この新しい原理により、測定される光子の効率、いわゆる量子効率は、より高くなりうる。
本発明に従う判定回路200の具体的な利点は、スイッチングを伴うことなく12decadeのダイナミックレンジ(40−ビット)が20ビットADCを用いて測定され得る点である。更に、測定は、PCへのデータ転送のための低い帯域幅を与える(ADC電圧及びカウンタ値64×256×256×6=252メガビット/153秒=165K/秒)。更に、本発明は、積分の間のデジタルスイッチング又は制御信号がない状態で、低電流測定における低減されたデジタルフィードスルーを提供する。これにより、高い信号対雑音比が得られる。
また更に、判定回路200は、デジタル・アナログ語の分離をより容易にし、トランスインピーダンス増幅器に比べて改善された長期間の安定性を提供しうる。トランスインピーダンス増幅器は、ゲインを得るためにギガオームの抵抗器を使用する。更に、短期及び長期のドリフトは存在し得ない。
積分器へのデジタルスイッチは低電流では使用されないので、(マイクロクーロンの)雑音が発生しうる。スイッチングは、沈降時間における100ミリ秒が過ぎるまで低電流で行われ得る。従って、雑音は、多くの短いサンプルを加える方法に比べて低減され得る。
本発明に従って、積分器は、低電流用の電流−電圧変換器として使用される。より高い電流に関しては、カウンタ停止(ラッチ)方法が使用される。
図6は、電源としてコンデンサを用いる電流積分器のタイミング図を示す。これによって、水平軸では時間がプロットされ、垂直軸では電圧Uがプロットされる。時間Aの間続くリセットパルスから始まる1つの積分周期が図示される。図6での時間Aの間に雑音が発生する。これは、積分器211をリセットし且つコンデンサ210、214、218を負荷として加える場合に発生する。また、デジタルデータは、判定回路200からデータ取得システムへと転送される。図6の時間Bの間に、システムは電気幹線から分離されている。次いで、コンデンサ210、214、218は、判定回路200にエネルギを供給する。全てのデジタル処理は、電流が積分される場合に、システムがその場合に雑音に対して非常に敏感であるという事実によって、積分時間の間は最小限にされるべきである。積分時間は、リセット後の傾斜ランプで図6には図示されており、積分器211が停止するまで続く。その後、一定曲線は、電圧がADC203へラッチされる場合に示される。低電圧を有する保持時間の終了時に、他のリセットパルスが、他の積分周期を開始するよう伝送される。
図7は、どのようにコンデンサCによる分離が実施され得るかを表すブロック図の例を示す。積分ユニット201を有する判定回路200の一部と、図7の右側にある電気幹線と、データラインとが図示されている。コンデンサCは、用語「リセット積分器」により表され、図6に図示されるような積分周期のリセットパルスの時間に負荷をかけられる。「レギュレータ1」、「レギュレータ2」として表されるレギュレータは、必要ならば、積分周期の間にコンデンサCの電圧垂下を補償することができる。判定回路200は、例によって、スイッチS1、S2、S3により分離され得る方法で、測定されるべき光データの受信器としてのフォトダイオード250を有することによって、構成される。スイッチS1、S2、S3は、例えばCMOS、トランジスタ又は電界効果トランジスタによって、機械的又は電気的に設計され得る。ADCは、分離のために使用され得るマルチプレクスのための内部スイッチを有することができる。このようなADCは、例えば、テキサスインスツルメント(Burr&Brown)ADS1256として利用できる。全ての他のデジタル及びアナログの信号は、同様に分離されるべきである。分離するために、デジタル信号光カプラは使用され得る。スイッチS1、S2、S3は、100ギガオーム又はそれ以上の高いアイソレーション値を有するシリコンから作られても良い。コンデンサCの残りの静電容量は、この場合には低い値を有しうる。
コンデンサCは、スイッチモードにおける電源として短期バッテリとして使用される。ある時点で、かかるコンデンサCはエネルギをかけられる。コンデンサCのこの負荷時間は、コンデンサCの無負荷時間よりもずっと短くても良い。コンデンサCの負荷は、短いピーク電流を有して行われ得る。判定回路200の電子部品は、短いピーク電流の時間存続時間よりもずっと長い時間供給され得る。負荷対無負荷時間の実際の比は1:5又は1:10であっても良い。電流感知積分器は、コンデンサCの積分時間内の50〜100ミリ秒の間、負荷コンデンサの電圧を供給される。積分器リセット時間A(例えば、10ミリ秒。)の間、デジタルデータストリームは、データ取得のためにホストコンピュータへ転送される。この時間の間、コンデンサCは負荷をかけられ得る。50又は100ミリ秒の時間を有する次の周期は、コンデンサCが再び負荷をかけられ、デジタルバスが平静であって、如何なるデータも転送してない間に測定され得る。図6で傾斜によって特徴付けられる積分作動時間である測定時間の間、判定回路200は電気幹線から分離されている。記載されるこのような測定によって、低電流の測定の擾乱が起こりうる。
図8は、本発明に従う方法の例となる実施形態を実行するための処理装置401の例となる実施形態を示す。
図8で表される処理装置400は、例えば胸部又は他の組織片のような関心がある対象を描写する画像を記憶するメモリ402へ接続された処理装置401を有する。データ処理装置401は、例えば光トモグラフィ装置のような複数の入出力装置へ接続され得、例えばカウンタユニット202(図2参照)に組み込まれ得る。更に、データ処理装置401は、例えばコンピュータモニタのような、データ処理装置401で計算又は適合をなされた情報若しくは画像を表示するための表示装置403へ接続され得る。オペレータ又はユーザは、キーボード404及び/又は図8に表されていない他の出力装置を介してデータ処理装置401と情報をやり取りすることができる。
更に、バスシステム405を介して、処理装置401を、例えば、関心がある対象の動作をモニタする動作モニタへ接続することも可能である。例えば、動作センサは、呼気センサ又は心電図ユニットであっても良い。
本発明の例となる実施形態は、イメージング・ワークステーションのソフトウェアオプションとして販売され得る。
留意すべきは、語“有する(comprising)”は他の要素又はステップを除外しておらず、且つ、“1つの(a、an)”は複数個を除外しておらず、更に、単一の処理装置又はシステムは特許請求の範囲に挙げられているユニットの幾つかの手段の機能を満足することができる点である。また、異なる実施形態に関連して記載される要素は組み合わされ得る。
また、留意すべきは、特許請求の範囲にある如何なる参照符号も、特許請求の範囲の適用範囲を限定するよう解釈されるべきではない点である。
本発明の例となる実施形態に従う判定回路が使用され得るところの光学試験装置の簡単化された配置図を示す。 本発明の例となる実施形態に従う単一チャネルカウンタ積分器の配置図を示す。 本発明の例となる実施形態に従う16チャネルの1つのボード構成の配置図を示す。 本発明の例となる実施形態に従う判定回路のタイミングを示す。 本発明の例となる実施形態に従うダイオード電流、積分モード、カウンタ及び雑音/分解能を表す表を示す。 電源としてコンデンサを使用する電流積分器のタイミング図を示す。 図6に従う電源としてのコンデンサを使用する回路のブロック図を示す。 本発明に従う方法の例となる実施形態を実行する本発明に従う処理装置の例となる実施形態を示す。

Claims (17)

  1. 高いダイナミックレンジを有する低電流を測定する判定回路であって、
    積分ユニット及びカウンタユニットを有し、
    前記積分ユニットは、積分時間にわたって前記電流を積分して、積分値をもたらすよう構成され、
    前記カウンタユニットは、前記積分時間をカウントして、カウント値をもたらすよう構成され、
    当該判定回路は、前記積分値が最大積分時間の終了前に第1の閾値を超える場合に、前記カウント値に基づいて第1の測定結果を出力するよう構成される、判定回路。
  2. 前記積分値が前記最大積分時間の終了時に前記第1の閾値を下回る場合に、前記積分値に基づいて第2の測定結果を出力するよう構成される、請求項1記載の判定回路。
  3. 前記積分値が前記最大積分時間の終了前に前記第1の閾値を超え且つ前記カウント値が第2の閾値を下回る場合に、前記カウント値及び前記積分値に基づいて第3の測定結果を出力するよう構成される、請求項1記載の判定回路。
  4. 前記カウンタユニットは、前記積分値が前記第1の閾値を超える場合にカウントを中止するよう構成され、
    前記積分ユニットは、前記積分値が前記第1の閾値を超える場合に積分を中止するよう構成される、請求項1記載の判定回路。
  5. 前記第1の閾値、第2の閾値、及び最大積分時間のうちの少なくとも1つはユーザによって予め決定される、請求項1記載の判定回路。
  6. 前記積分値をデジタル信号に変換するアナログ−デジタル変換器を更に有する、請求項1記載の判定回路。
  7. 前記積分ユニットからの複数の積分値をマルチプレクスするよう構成されるマルチプレクサを更に有し、
    前記カウンタユニットは、夫々の積分ユニットに関して時間値をラッチするよう構成される、請求項1記載の判定回路。
  8. 前記カウンタユニットにクロックパルスを送り込むよう構成されるクロックを更に有する、請求項1記載の判定回路。
  9. 前記積分ユニットは、BurrBrownのIVC102及びBurrBrownのACF2101として構成される電流−電圧積分器のうちの少なくとも1つを有する、請求項1記載の判定回路。
  10. 当該判定回路へパルスによって電力を供給するコンデンサCによって電気幹線から分離される、請求項1記載の判定回路。
  11. 関心がある対象の光学試験のための光学試験装置における請求項1記載の判定回路の使用であって、
    前記光学試験装置は、
    前記関心がある対象へ一次の光学的放射を放つよう構成される光学放射源と、
    前記関心がある対象からの放射を検出するよう構成される検出器ユニットと、
    高いダイナミックレンジを有する低電流を測定するよう構成される請求項1記載の判定回路とを有する使用。
  12. 高いダイナミックレンジを有する低電流を測定する方法であって、
    積分値を得るよう積分時間にわたって前記電流を積分するステップと、
    カウント値を得るよう前記積分時間をカウントするステップと、
    前記積分値が最大積分時間の終了前に第1の閾値を超える場合に、前記カウント値に基づいて第1の測定結果を出力するステップとを有する方法。
  13. 前記積分値が前記最大積分時間の終了時に前記第1の閾値を下回る場合に、前記積分値に基づいて第2の測定結果を出力するステップと、
    前記積分値が前記最大積分時間の終了前に前記第1の閾値を超え且つ前記カウント値が第2の閾値を下回る場合に、前記カウント値及び前記積分値に基づいて第3の測定結果を出力するステップとを更に有する、請求項12記載の方法。
  14. 前記積分値が前記第1の閾値を超える場合にカウントを中止するステップと、
    前記積分値が前記第1の閾値を超える場合に積分を中止するステップとを更に有する、請求項12記載の方法。
  15. 第2の積分値を得るよう第2の積分時間にわたって第2の電流を積分するステップと、
    積分ユニットからの複数の積分値をマルチプレクスするステップと、
    夫々の積分ユニットに関して時間値をラッチするステップとを更に有する、請求項12記載の方法。
  16. 高いダイナミックレンジを有する低電流を測定するコンピュータプログラムが記憶されるコンピュータ読取可能な媒体であって、
    前記コンピュータプログラムは、処理装置によって実行される場合に、
    積分値を得るよう積分時間にわたって前記電流を積分するステップと、
    カウント値を得るよう前記積分時間をカウントするステップと、
    前記積分値が最大積分時間の終了前に第1の閾値を超える場合に、前記カウント値に基づいて第1の測定結果を出力するステップとを実行するよう構成される、コンピュータ読取可能な媒体。
  17. 高いダイナミックレンジを有する低電流を測定するプログラム要素であって、
    処理装置によって実行される場合に、
    積分値を得るよう積分時間にわたって前記電流を積分するステップと、
    カウント値を得るよう前記積分時間をカウントするステップと、
    前記積分値が最大積分時間の終了前に第1の閾値を超える場合に、前記カウント値に基づいて第1の測定結果を出力するステップとを実行するよう構成されるプログラム要素。
JP2008529752A 2005-09-08 2006-09-07 光学的画像のための高いダイナミックレンジを有する低電流測定 Expired - Fee Related JP5572315B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP05108226 2005-09-08
EP05108226.1 2005-09-08
PCT/IB2006/053145 WO2007029191A2 (en) 2005-09-08 2006-09-07 Determination of low currents with high dynamic range for optical imaging

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009508102A true JP2009508102A (ja) 2009-02-26
JP5572315B2 JP5572315B2 (ja) 2014-08-13

Family

ID=37650663

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008529752A Expired - Fee Related JP5572315B2 (ja) 2005-09-08 2006-09-07 光学的画像のための高いダイナミックレンジを有する低電流測定

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7714268B2 (ja)
EP (1) EP1927002B1 (ja)
JP (1) JP5572315B2 (ja)
WO (1) WO2007029191A2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011257296A (ja) * 2010-06-10 2011-12-22 Hioki Ee Corp イメージセンサ、分光装置、及びイメージセンサの作動方法
JP2014186000A (ja) * 2013-03-25 2014-10-02 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 量子型赤外線ガス濃度計
JP2016109660A (ja) * 2014-05-02 2016-06-20 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置及び入出力装置
WO2017159396A1 (ja) * 2016-03-17 2017-09-21 ソニー株式会社 計測回路および駆動方法、並びに電子機器
JP2018518666A (ja) * 2015-05-11 2018-07-12 オックスフォード ナノポール テクノロジーズ リミテッド 電流測定装置及び電流測定方法
JP2020088520A (ja) * 2018-11-21 2020-06-04 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像システム
JP2020519324A (ja) * 2017-12-07 2020-07-02 アクデニズ ユニバーシテシ 生体医用光学イメージングシステムのためのアナログアナログ電流/電圧変換電子回路
JP2021090230A (ja) * 2021-03-10 2021-06-10 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像システム

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE519121T1 (de) * 2007-11-05 2011-08-15 Koninkl Philips Electronics Nv Stromintegrator mit breitem dynamikbereich
DE102008010446A1 (de) * 2008-02-21 2009-09-10 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Verfahren und optische Sensoranordnung zum Erfassen einer Messgröße eines Mediums, insbesondere zur Trübungsmessung
US8760631B2 (en) * 2010-01-27 2014-06-24 Intersil Americas Inc. Distance sensing by IQ domain differentiation of time of flight (TOF) measurements
CN103370617B (zh) 2010-10-01 2015-11-25 牛津纳米孔技术有限公司 生物化学分析设备和旋转阀
CN102081131B (zh) * 2010-12-02 2013-11-20 国网河南省电力公司南阳供电公司 一种城市电网小电流接地系统接地点查找方法
US10228397B2 (en) 2015-11-20 2019-03-12 Keysight Technologies, Inc. Apparatus and associated methods for monitoring noise level of a signal
CN106871935A (zh) * 2017-03-10 2017-06-20 成都金广通科技有限公司 数据采集装置的数字积分模块
GB2580988B (en) * 2019-03-19 2022-04-13 Oxford Nanopore Tech Ltd Current measurement apparatus, molecular entity sensing apparatus, method of measuring a current, method of sensing a molecular entity
US11842002B2 (en) 2019-10-04 2023-12-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
RU2761890C1 (ru) * 2020-12-17 2021-12-13 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") Устройство для измерения пиковых значений

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11153487A (ja) * 1997-11-19 1999-06-08 Olympus Optical Co Ltd 測光装置
JP2001141562A (ja) * 1999-11-15 2001-05-25 Hamamatsu Photonics Kk 光検出装置
US20030076432A1 (en) * 2001-10-24 2003-04-24 Qiang Luo System and method to facilitate time domain sampling for solid state imager

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5665959A (en) * 1995-01-13 1997-09-09 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Adminstration Solid-state image sensor with focal-plane digital photon-counting pixel array
US5870078A (en) * 1996-03-28 1999-02-09 International Business Machines Corporation Reduced cost pointing stick circuit
US6150649A (en) * 1996-11-29 2000-11-21 Imaging Diagnostic Systems, Inc. Detector array with variable gain amplifiers for use in a laser imaging apparatus
US5952664A (en) * 1997-01-17 1999-09-14 Imaging Diagnostic Systems, Inc. Laser imaging apparatus using biomedical markers that bind to cancer cells
CA2309214C (en) * 1997-11-26 2004-07-20 Imaging Diagnostic Systems, Inc. Time-resolved breast imaging device
JP4368027B2 (ja) * 1999-04-01 2009-11-18 株式会社アドバンテスト 電源ユニット、半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法
IL134026A (en) * 2000-01-13 2005-11-20 Visonic Ltd Circuitry for signal measurement
JP3890210B2 (ja) * 2000-08-11 2007-03-07 キヤノン株式会社 画像撮影装置及び画像撮影装置の制御方法
EP1198080A3 (en) * 2000-10-11 2004-01-14 Vitesse Semiconductor Corporation Monolithic loss-of-signal detect circuitry
US6642503B2 (en) * 2001-06-13 2003-11-04 Texas Instruments Incorporated Time domain sensing technique and system architecture for image sensor
FI119173B (fi) * 2001-11-23 2008-08-29 Planmed Oy Anturijärjestely ja menetelmä digitaalisessa pyyhkäisykuvantamisessa
US6681130B2 (en) * 2002-03-14 2004-01-20 Imaging Diagnostic Systems, Inc. Method for improving the accuracy of data obtained in a laser imaging apparatus

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11153487A (ja) * 1997-11-19 1999-06-08 Olympus Optical Co Ltd 測光装置
JP2001141562A (ja) * 1999-11-15 2001-05-25 Hamamatsu Photonics Kk 光検出装置
US20030076432A1 (en) * 2001-10-24 2003-04-24 Qiang Luo System and method to facilitate time domain sampling for solid state imager

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011257296A (ja) * 2010-06-10 2011-12-22 Hioki Ee Corp イメージセンサ、分光装置、及びイメージセンサの作動方法
JP2014186000A (ja) * 2013-03-25 2014-10-02 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 量子型赤外線ガス濃度計
US11307687B2 (en) 2014-05-02 2022-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and input/output device
JP2016109660A (ja) * 2014-05-02 2016-06-20 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置及び入出力装置
US11644918B2 (en) 2014-05-02 2023-05-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and input/output device
US10521032B2 (en) 2014-05-02 2019-12-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and input/output device
JP2018518666A (ja) * 2015-05-11 2018-07-12 オックスフォード ナノポール テクノロジーズ リミテッド 電流測定装置及び電流測定方法
US11464416B2 (en) 2016-03-17 2022-10-11 Sony Corporation Measurement circuit, driving method, and electronic instrument
WO2017159396A1 (ja) * 2016-03-17 2017-09-21 ソニー株式会社 計測回路および駆動方法、並びに電子機器
JP2020519324A (ja) * 2017-12-07 2020-07-02 アクデニズ ユニバーシテシ 生体医用光学イメージングシステムのためのアナログアナログ電流/電圧変換電子回路
CN111294528A (zh) * 2018-11-21 2020-06-16 佳能株式会社 光电转换装置及其驱动方法、摄像系统和移动体
US11402264B2 (en) 2018-11-21 2022-08-02 Canon Kabushiki Kaisha Photoelectric conversion device, method of driving photoelectric conversion device, imaging system, and moving body
JP2020088520A (ja) * 2018-11-21 2020-06-04 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像システム
CN111294528B (zh) * 2018-11-21 2023-06-02 佳能株式会社 光电转换装置及其驱动方法、摄像系统和移动体
JP2021090230A (ja) * 2021-03-10 2021-06-10 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像システム
JP7265828B2 (ja) 2021-03-10 2023-04-27 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像システム

Also Published As

Publication number Publication date
EP1927002B1 (en) 2017-08-09
JP5572315B2 (ja) 2014-08-13
EP1927002A2 (en) 2008-06-04
WO2007029191A2 (en) 2007-03-15
US7714268B2 (en) 2010-05-11
US20090026350A1 (en) 2009-01-29
WO2007029191A3 (en) 2007-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5572315B2 (ja) 光学的画像のための高いダイナミックレンジを有する低電流測定
JP6595803B2 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよびその制御方法
KR101919619B1 (ko) 트랩 점유 변화 모니터와 피드백을 포함하는 방사선 검출기, 이미징 장치 및 이를 사용하는 방법
CN110623682A (zh) 放射线摄像装置及控制方法、放射线摄像系统及存储介质
JP5498197B2 (ja) アナログ信号をディジタル信号に変換する方法
US20150378030A1 (en) Radiation detection apparatus, method of controlling the same, and non-transitory computer-readable storage medium
JP2015198263A (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP4119052B2 (ja) 光検出装置
US11813041B2 (en) Photodetector architectures for time-correlated single photon counting
JP2012521555A (ja) データ収集
US20160206193A1 (en) Frequency-domain interferometric based imaging systems
US20180024343A1 (en) Imaging device and method
JP5988735B2 (ja) 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム
CN106970049B (zh) 透射率分布测量系统及方法
JP7122784B2 (ja) 移動可能な環境に適合した小型oct用分光計
WO2019244456A1 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法、および、プログラム
TWI472220B (zh) 光量測定裝置
JP6851638B2 (ja) 画素回路及び撮像素子
KR20180102095A (ko) 치과용 방사선의학 센서를 위한 x-레이 검출 회로
CN110051375A (zh) 放射线摄像系统和放射线摄像装置
CN114034384B (zh) 一种光电采样组件及可穿戴设备
US20140192360A1 (en) Differential photodiode integrator circuit for absorbance measurements
CN114631835A (zh) 放射线摄像装置、控制方法、放射线摄像系统及存储介质
JP2021010653A (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP2020182667A (ja) 放射線撮像装置及びその制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090904

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120209

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120807

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20121105

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20121112

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130205

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130924

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140603

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140630

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5572315

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees