JP2009301128A - 不揮発性メモリの劣化軽減方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】不揮発性メモリにおいて劣化を有効に軽減することができる方法を提供する。
【解決手段】揮発性メモリ(12)及び不揮発性メモリ(14)を有するICチップ(10)における不揮発性メモリの劣化軽減方法は、不揮発性メモリ(14)に存在するデータを揮発性メモリ(12)に展開するデータ展開工程と、揮発性メモリ(12)に展開されたデータに対して、コマンド処理を実行するコマンド処理実行工程と、揮発性メモリ(12)に存在するデータを不揮発性メモリ(14)に書き戻すデータ書戻工程と、を含む。
【選択図】図1
【解決手段】揮発性メモリ(12)及び不揮発性メモリ(14)を有するICチップ(10)における不揮発性メモリの劣化軽減方法は、不揮発性メモリ(14)に存在するデータを揮発性メモリ(12)に展開するデータ展開工程と、揮発性メモリ(12)に展開されたデータに対して、コマンド処理を実行するコマンド処理実行工程と、揮発性メモリ(12)に存在するデータを不揮発性メモリ(14)に書き戻すデータ書戻工程と、を含む。
【選択図】図1
Description
本願は、不揮発性メモリの劣化軽減方法の技術分野に属し、より詳細には、揮発性メモリ及び不揮発性メモリを有するICチップにおける不揮発性メモリの劣化軽減方法の技術分野に属する。
従来、ICカード内のICチップにおいて、データは、ROMあるいは不揮発性メモリから読み出されて処理され、その後、電源遮断後も保持されるべきデータについては、再び、不揮発性メモリに書き込まれる。ここで、不揮発性メモリは、データの書き込み回数の増加とともに劣化し、書き込みの回数が多くなると、データを正常に保持できない状態になる。そこで、不揮発性メモリにおいては、データの書き込み回数を考慮した設計が必要である。例えば、下記の特許文献1及び特許文献2を参照されたい。
特開2003−140979号公報
特開平06−19800号公報
上記特許文献1及び特許文献2においては、不揮発性メモリの書き込み領域を複数のエリアあるいはブロックに分け、エリアあるいはブロック毎に書き込み回数を管理し、不揮発性メモリの書き込み領域全体の使用効率を向上させ、これにより、不揮発性メモリの寿命を延長している。
しかしながら、上記特許文献1及び特許文献2の技術によっても、不揮発性メモリからデータを読み出し、データの処理後に、再び不揮発性メモリにデータを書き込むという動作がなされており、このため、不揮発性メモリの寿命を延長するための有効な対策ではなかった。
本願は、上記課題に鑑みて為されたものであり、その目的の一例は、不揮発性メモリにおいて劣化を有効に軽減することができる方法を提供することにある。
上記の課題を解決するために、請求項1記載の発明は、揮発性メモリ及び不揮発性メモリを有するICチップにおける不揮発性メモリの劣化軽減方法において、前記不揮発性メモリに存在するデータを揮発性メモリに展開するデータ展開工程と、前記揮発性メモリに展開されたデータに対して、コマンド処理を実行するコマンド処理実行工程と、前記揮発性メモリに存在するデータを不揮発性メモリに書き戻すデータ書戻工程と、を含む。
次に、本願を実施するための最良の形態について、図面を用いて説明する。
図1には、本願の実施の形態による不揮発性メモリの劣化軽減方法が実施されるICカードが示されている。
図1において、ICカード内のICチップ10は、揮発性メモリ12、不揮発性メモリ14、及びROM16を含み、当該ICチップ10には、アプリケーション18が格納されている。なお、符号20は、ICチップ10に対する書込及び読出ユニットを示す。
以下、ICチップ10のデータの書換え動作について説明する。
(1)まず、不揮発性メモリ14及びROM16内のデータを揮発性メモリ12に展開(すなわちコピー)する(符号22、24を参照)。なお、展開するデータとしては、不揮発性メモリ14及びROM16内の全てのデータであってもよく、あるいは、その後に使用される一部のデータであってもよい。また、展開のタイミングは任意であるが、例えば、電源の投入時にデータを展開してもよい。
(2)その後、揮発性メモリ12に展開されたデータについて、アプリケーション18に基づきコマンド処理が実行される(符号26を参照)。このコマンド処理の際に、データの書込及び読出は、揮発性メモリ12に対して行われる。なお、揮発性メモリ12は、書込及び読出ユニット20との間でデータの授受を行う(符号28を参照)。
(3)上記コマンド処理の後、揮発性メモリ12に存在するデータを不揮発性メモリ14に書き戻す(符号30を参照)。すなわち、揮発性メモリ12に存在するデータのうち、次回の電源投入後に継続して使用されるデータを不揮発性メモリ14に書き込む。なお、書き戻しのタイミングは任意であるが、例えば、電源遮断の直前にデータを書き戻してもよい。また、書き戻されるべきデータが不揮発性メモリ14内のデータと同一であるときは、当該データの書き戻しを行わなくとも良い。
以上のように、本願の実施の形態による不揮発性メモリの劣化軽減方法によれば、不揮発性メモリ14から揮発性メモリ12にデータを展開し、その後、不揮発性メモリ14に書き戻すまでの間に、アプリケーション18及び書込及び読出ユニット20との間で複数回のデータの書込みが発生したとしても、不揮発性メモリ14へのデータの更新は、1回である。従って、不揮発性メモリ14において劣化を有効に軽減することができる。
次に、本願の実施の形態による不揮発性メモリの劣化軽減方法について、図2乃至図6を参照しながら、より詳細に説明する。
図2は、本願の実施の形態による不揮発性メモリの劣化軽減方法が実施されるICカードの詳細が示されている。
図2において、ICカード内のICチップ40は、揮発性メモリ42、不揮発性メモリ44、及びROM46を含む。ICカード40には、3つのアプリケーション48、50、52、及びOS54が格納されており、当該OS54は、メモリ管理機能56を有する。
なお、不揮発性メモリ44には、アプリケーション48、50、及び52でそれぞれ使用されるデータ48D、50D、及び52Dが格納されている。
また、符号58は、ICチップ40に対する書込及び読出ユニットを示す。
次に、図3には、アプリケーション48で使用されるデータ48Dの詳細が示されている。
図3において、アプリケーション48で使用されるデータ48Dとしては、6つのデータ48D−1乃至48D−6がある。これらのうち、最初の3つのデータ48D−1乃至48D−3は、揮発性メモリ42に展開されるデータであり、一方、後の3つのデータ48D−4乃至48D−6は、揮発性メモリ42に展開されないデータである。
上記のような構成において、ICチップ40が次の3つの動作を行う場合、すなわち、(1)アプリケーション48の選択コマンドを受信した場合、(2)揮発性メモリ42のデータに対してコマンド処理を実行する場合、及び(3)アプリケーション48の選択解除コマンドを受信した場合の動作を説明する。
(1)まず、ICチップ40がアプリケーション48の選択コマンドを受信した場合について説明する。
ここで、不揮発性メモリ44から揮発性メモリ42にデータを展開するタイミングは、予めアプリケーションの選択時に設定されている。このアプリケーションの選択時に、データは揮発性メモリ42に展開され、以下、図4を参照しながら、当該データの展開を説明する。
図4において、OS54は、書込及び読出ユニット58からアプリケーション48を選択する旨のコマンドを受信すると(符号62を参照)、当該OS54は、アプリケーション48を選択する(符号64を参照)。OS54内のメモリ管理機能56は、選択されたアプリケ−ション48に使用されるデータが不揮発性メモリ44内に存在するか否かを検索する(符号66を参照)。そして、符号68で示されるように、不揮発メモリ44内のアプリケーション48のデータ48Dのうち、データ48D−1乃至48D−3は、揮発性メモリ42に展開される(図3を参照)。その後、OS54は、アプリケーション48の選択成功をレスポンスとして書込及び読出ユニット58に送る(符号70を参照)。
(2)次に、揮発性メモリ42のデータに対してコマンド処理を実行する場合について、図5を参照しながら説明する。
図5において、まず、OS54は、データ48D−1の書込みコマンドを受信し(符号72を参照)、当該OS54は、現在選択されているアプリケーション48にコマンドを送信する(符号74を参照)。アプリケーション48は、このコマンドを解釈し、データ48D−1に対する書込みを指示する(符号76を参照)。OS54のメモリ管理機能56は、符号78で示されるように、書込み対象であるデータ48D−1が揮発性メモリ42に存在するか否かを確認し、揮発性メモリ42内のデータ48D−1の値を更新する(符号78を参照)。なお、揮発性メモリ42に展開されている他のデータ48D−2及び48D−3については、その値は更新されない。その後、OS54は、データ48D−1に対するコマンド処理の成功をレスポンスとして書込及び読出ユニット58に送る(符号80を参照)。
(3)次に、アプリケーション48の選択解除コマンドを受信した場合について説明する。
ここで、揮発性メモリ42から不揮発性メモリ44にデータを書き戻すタイミングは、予めアプリケーションの選択解除時に設定されている。このアプリケーションの選択解除時に、データは揮発性メモリ42から不揮発性メモリ44に書き戻され、以下、図6を参照しながら、当該データの書き戻しを説明する。
図6において、OS54は、アプリケーション48の選択解除コマンドを受信すると(符号82を参照)、OS54のメモリ管理機能56は、揮発性メモリ42に展開されているデータが存在するか否かを確認する(符号84を参照)。揮発性メモリ42に展開されているデータ48D−1乃至48D−3は、不揮発性メモリ44に書き戻される(符号86を参照)。なお、揮発性メモリ42に展開されているデータ48D−1乃至48D−3のうち変更されていないデータ、すなわち更新されていないデータ48D−2及び48D−3は、不揮発性メモリ44に書き戻される必要がない。すなわち、データ48D−1乃至48D−3のうちデータ48D−1は、更新されているので、不揮発性メモリ44に書き戻されるが、これに対し、データ48D−2及び48D−3は、更新されていないので、不揮発性メモリ44に書き戻されない。その後、揮発性メモリ42内のデータ48D−1乃至48D−3は、クリアされる。OS54は、アプリケーション48の選択を解除し(符号88を参照)、当該アプリケーション48の選択解除の成功をレスポンスとして書込及び読出ユニット58に送る(符号90を参照)。
なお、図2、及び図4乃至図6において、ROM46には、アプリケーション50で使用される初期値が格納されている(符号92を参照)。アプリケーション50で使用されるデータ50Dが不揮発性メモリ44から揮発性メモリ42に展開される場合にのみ、当該ROM46に格納された初期値92は利用され、一方、データ50Dが揮発性メモリ42から不揮発性メモリ44に書き戻される場合には、当該初期値92がROM46に書き戻されることはない。
以上のように、本願の実施の形態によれば、アプリケーション48が選択された際に、不揮発性メモリ44から揮発性メモリ42にデータ48D−1乃至48D−3が展開され、その後、不揮発性メモリ44に書き戻されるまでの間に、アプリケーション48、及び書込及び読出ユニット58との間で複数回のデータの書込みが発生したとしても、不揮発性メモリ44へのデータの更新は1回である。従って、不揮発性メモリ44において劣化を有効に軽減することができる。
なお、本願において、不揮発性メモリとしては、例えば、EEPROM又はフラッシュメモリがある。
また、本願は、例えば、ICチップを有するICカードについて適用可能である。
10:ICチップ
12:揮発性メモリ
14:不揮発性メモリ
16:ROM
18:アプリケーション
20:書込及び読出ユニット
12:揮発性メモリ
14:不揮発性メモリ
16:ROM
18:アプリケーション
20:書込及び読出ユニット
Claims (8)
- 揮発性メモリ及び不揮発性メモリを有するICチップにおける不揮発性メモリの劣化軽減方法において、
前記不揮発性メモリに存在するデータを揮発性メモリに展開するデータ展開工程と、
前記揮発性メモリに展開されたデータに対して、コマンド処理を実行するコマンド処理実行工程と、
前記揮発性メモリに存在するデータを不揮発性メモリに書き戻すデータ書戻工程と、
を含むことを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記データ展開工程は、ICチップの電源投入時に、不揮発性メモリに存在するデータを揮発性メモリに展開することを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。 - 請求項1又は2に記載の方法において、
前記データ展開工程は、不揮発性メモリに存在するデータの全部又は一部を揮発性メモリに展開することを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。 - 請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の方法において、
前記データ書戻工程は、電源遮断の直前に、揮発性メモリに展開しているデータを不揮発性メモリに書き戻すことを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。 - 請求項1に記載の方法において、
前記ICチップには、アプリケーションが格納されていることを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。 - 請求項5に記載の方法において、
前記データ展開工程は、アプリケーションの選択時に、不揮発性メモリに存在するデータを揮発性メモリに展開することを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。 - 請求項5又は6に記載の方法において、
前記データ展開工程は、不揮発性メモリに存在するデータのうちアプリケーションで使用されるデータを揮発性メモリに展開することを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。 - 請求項5乃至7のうちいずれか1項に記載の方法において、
前記データ書戻工程は、アプリケーションの選択解除時に、揮発性メモリに展開しているデータを不揮発性メモリに書き戻すことを特徴とする不揮発性メモリの劣化軽減方法。
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JP2016501403A (ja) * | 2012-11-20 | 2016-01-18 | アイ. ペドル,チャールズ | ソリッドステートドライブアーキテクチャ |
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2008
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