JP2009301002A - 液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】画素設計の変更によって高開口率の液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】
本発明の液晶表示装置用アレイ基板は、基板と、基板上に第1方向に形成された第1及び第2ゲート配線と、第2方向に形成されて、第1及び第2ゲート配線と交差して第1及び第2画素領域を定義する第1、第2、第3データ配線と、第2ゲート配線及び第1データ配線の交差地点と第2ゲート配線及び第2データ配線の交差地点にそれぞれ対応された第1薄膜トランジスタ及び第2薄膜トランジスタと、第1及び第2画素領域にそれぞれ位置し、第1及び第2薄膜トランジスタとそれぞれ連結された第1及び第2画素電極と、第1及び第2ゲート配線間に位置して第1及び第2画素電極とそれぞれ重なり、第2データ配線下部で互いに接触して第1及び第2ゲート配線間に位置する第2データ配線部分を覆う第1及び第2共通配線を含む。
【選択図】図4

Description

本発明は液晶表示装置に係り、さらに詳細には高開口率の液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法に関する。
一般的に、液晶表示装置の駆動原理は、液晶の光学的異方性と分極性質を利用する。液晶は構造が細くて長いため分子の配列に方向性をもっており、人為的に液晶に電界を印加して分子配列の方向を制御することができる。
したがって、液晶の分子配列方向を任意に調節すると、液晶の分子配列が変わるようになって、光学的異方性により液晶の分子配列方向に光が屈折して画像情報を表現することができる。
また液晶表示装置は、共通電極が形成されたカラーフィルター基板と画素電極が形成されたアレイ基板と、両基板間に充填された液晶で構成され、このような液晶表示装置は共通電極と画素電極との間に上下にかかる垂直電界により駆動させる方式であり透過率と開口率等の特性に優れる。
一般的にアレイ基板の画素電極は、カラーフィルター基板の共通電極と共に液晶キャパシタを形成するが、液晶キャパシタに印加された電圧は次の信号が入る時まで維持することができず漏れて消える。したがって、印加された電圧を維持するためにはストレージキャパシタを液晶キャパシタに連結して用いなければならない。
通常、ストレージキャパシタは、2種の方法で形成されることができるが、ストレージキャパシタ用電極を別途に形成して共通電極と連結して用いる方式と、n−1番目ゲート配線の一部をn番目画素のストレージキャパシタの電極で用いる方式がある。
前者をストレージオンコモン(storage on common)方式または独立ストレージキャパシタ方式と言って、後者をストレージオンゲート(storage on gate)または前段ゲート(previous gate)方式と言う。
ストレージオンゲート方式は、ゲート配線を利用してストレージ信号の印加を受けるようになるので外部ストレージ配線が要らなくなる長所があるが、ゲート信号とのカップリング(coupling)による干渉を受けるようになる短所がある。
これとは対照的に、ストレージオンコモン方式(以下、「SOC方式」と略称する)は、ゲート信号に対する干渉がなく十分なストレージ容量を確保できる長所がある。尚、ストレージ配線をさらに形成するようになっており、これにより開口率を減少させる短所がある。
以下、添付した図面を参照して従来のSOC方式液晶表示装置に対して説明する。
図1は、従来技術によるSOC方式液晶表示装置用アレイ基板を示した平面図である。
図示したように、基板10の上部面にはスキャン信号の印加を受ける第1及び第2ゲート配線20a、20bと、第1及び第2ゲート配線20a、20bと垂直交差して第1及び第2画素領域P1、P2を定義し、データ信号の印加を受ける第1、第2、第3データ配線30a、30b、30cがマトリックス状で構成される。
また、第1ゲート配線20a及び第2ゲート配線20b間の空間に“H”字状の第1及び第2共通配線50、51が構成される。
第1共通配線50は、第1及び第2ゲート配線20a、20b間の第1画素領域P1に対応された水平部50aと、水平部50aで第1及び第2データ配線30a、30bに沿ってそれぞれ分岐した第1及び第2垂直部50b、50cを含む。
第2共通配線51は、第1及び第2ゲート配線20a、20b間の第2画素領域P2に対応された水平部51aと、水平部51aで第2及び第3データ配線30b、30cにそれぞれ分岐した第1及び第2垂直部51b、51cを含む。
第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bは、第1及び第2共通ブリッジライン53、54を介して連結される。このような第1及び第2共通ブリッジライン53、54は隣接した画素領域に反復設計される。言い換えると、第1及び第2画素領域P1、P2に対してだけ言及したが、基板10の全ての画素領域に拡張して説明するならば、このような第1及び第2共通ブリッジライン53、54は隣接した画素領域間の全ての共通配線を導通させる機能をすることができるので、基板10内の全ての共通配線に図示していない共通電圧発生部からの共通信号の印加を受けるようになる。
第2ゲート配線20bと第1データ配線30aの交差地点には第1薄膜トランジスタT1が、第2ゲート配線20bと第2データ配線30bの交差地点には第2薄膜トランジスタT2がそれぞれ構成される。
第1薄膜トランジスタT1は、第2ゲート配線20bから第1画素領域P1方向に延長された第1ゲート電極25aと、第1ゲート電極25aと重なった上部に位置する第1半導体層(図示せず)と、第1データ配線30aから延長されて第1半導体層と接触した上部に位置する第1ソース電極32aと、第1ソース電極32aと離隔された第1ドレイン電極34aを含む。
また、第2薄膜トランジスタT2は、第2ゲート配線20bから第2画素領域P2方向に延長された第2ゲート電極25bと、第2ゲート電極25bと重なった上部に位置する第2半導体層(図示せず)と、第2データ配線30bから延長されて第2半導体層と接触した上部に位置する第2ソース電極32bと、第2ソース電極32bと離隔された第2ドレイン電極34bを含む。
第1及び第2半導体層(図示せず)は、純粋非晶質シリコーン(a−Si:H)で構成された第1及び第2アクティブ層40a、40bと、不純物を含む非晶質シリコーン(n+a−Si:H)で構成された第1及び第2オーミックコンタクト層(図示せず)をそれぞれ含む。
第1及び第2ドレイン電極34a、34bをそれぞれ露出する第1及び第2ドレインコンタクトホールCH1、CH2を介して第1及び第2ドレイン電極34a、34bと接触した第1及び第2画素電極70a、70bが第1及び第2画素領域P1、P2にそれぞれ対応して構成される。第1及び第2画素電極70a、70bは、インジウム−スズ−オキサイド(ITO)またはインジウム−ジンク−オキサイド(IZO)を含む透明な導電性物質グループのうちから選択された一つで構成される。
以下、添付した図面を参照して従来によるSOC方式液晶表示装置に対してさらに詳細に説明する。
図2は、図1のII−II'線に沿って切断して示した断面図である。
図示したように、基板10上には第1及び第2画素領域P1、P2、第1スイッチング領域S1、第1及び第2共通領域C1、C2、第2データ領域D2がそれぞれ定義される。複数の領域P1、P2、S1、C1、C2、D2が定義された基板10上部面には第2ゲート配線(図1の20b)から延長された第1ゲート電極25aが構成される。
また、第1及び第2共通領域C1、C2にそれぞれ対応して第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bが構成される。第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bの間に第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bを電気的に導通させる第2共通ブリッジライン54が構成される。
第1ゲート電極25a、第1共通配線50の第2垂直部50c、第2共通配線51の第1垂直部51b及び第2共通ブリッジライン54の上部全面には酸化シリコーン(SiO)と窒化シリコン(SiNx)を含む無機絶縁物質グループのうちから選択された一つでゲート絶縁膜45が構成される。
第1ゲート電極25aと重なったゲート絶縁膜45上部面には純粋非晶質シリコーン(a−Si:H)と不純物を含む非晶質シリコーン(n+a−Si:H)で構成された第1アクティブ層40aと第1オーミックコンタクト層41aが島状に積層構成される。第1アクティブ層40aと第1オーミックコンタクト層41aを含んで第1半導体層42aを形成する。
第1半導体層42a上部面には第1データ配線(図1の30a)から延長された第1ソース電極32aと、第1ソース電極32aと離隔された第1ドレイン電極34aが構成される。また、第2データ領域D2に対応して第2共通ブリッジライン54と重なった上部に第2データ配線30bが構成される。
第1ソース及びドレイン電極32a、34aと第2データ配線30bの上部全面には第1ドレイン電極34aを露出する第1ドレインコンタクトホールCH1を含む保護膜55が構成される。
保護膜55上には第1ドレインコンタクトホールCH1を介して第1ドレイン電極34aと連結した第1画素電極70aが第1画素領域P1に対応して構成され、第2ドレインコンタクトホール(図1のCH2)を介して第2ドレイン電極(図1の34b)と連結した第2画素電極70bが第2画素領域P2に対応して構成される。
前述した構成で、第1共通配線50の第2垂直部50c及び第2共通配線51の第1垂直部51bを第2データ配線30bと最大限密着構成して、第2共通ブリッジライン54として隣接した画素領域間に位置する第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bを互いに連結する。このような第1及び第2画素領域P1、P2にそれぞれ対応された全面に第1画素電極70aと第2画素電極70bを構成する。
ここで、第1共通配線50の第2垂直部50c及び第2共通配線51の第1垂直部51bと重なった上部に第1画素電極70aと第2画素電極70bを重畳設計しているが、このような画素設計では開口率を向上させることが限界に至った状況である。
図3は、図1のIII−III'線に沿って切断して示した断面図であって、アレイ基板とカラーフィルター基板が対向合着された状態を示したものであって、これを参照しながら詳細に説明する。
図示したように、表示領域AAと非表示領域NAAにそれぞれ区分したカラーフィルター基板5とアレイ基板10が対向合着しており、カラーフィルター基板5とアレイ基板10の離隔された間の空間に液晶層15が一定なセルギャップgを有して介在される。カラーフィルター基板5及びアレイ基板10と液晶層15を含んで液晶パネル30を形成する。アレイ基板10の背面には光源の役割をするバックライトユニット90が位置する。
図面で詳細に提示しなかったが、カラーフィルター基板5とアレイ基板10は最外廓縁に沿って熱硬化性樹脂で構成されたシールパターン(図示せず)により封止される。
カラーフィルター基板5の透明基板1下部面には非表示領域NAAに入射される光を遮断するためのブラックマトリックス12と、ブラックマトリックス12の下部面に色相を具現するために順次にパターニングされた赤(R)、緑(G)、青(B)のサブカラーフィルター(16a、16b、図示せず)を含むカラーフィルター層16と、カラーフィルター層16下部のオーバーコート層14と、オーバーコート層14下部の透明導電性物質からなる共通電極80が順に位置する。
また、アレイ基板10の透明基板2上部面には第2データ領域D2を間に置いて両側に離隔構成された第1共通配線50の第2垂直部50c及び第2共通配線51の第1垂直部51bと、第1共通配線50の第2垂直部50c及び第2共通配線51の第1垂直部51bの上部を覆うゲート絶縁膜45と、ゲート絶縁膜45上の第2データ領域D2に対応された第2データ配線30bと、第2データ配線30bを覆う保護膜55と、保護膜55上の第2データ配線30bを間に置いて第1及び第2画素領域P1、P2にそれぞれ構成された第1及び第2画素電極70a、70bが順に位置する。
ここで、第2データ配線30bの下部に位置する第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bを設計することを介して第1画素電極70aと第2画素電極70bを第2データ配線30bと密着する設計をしても第1及び第2画素電極70a、70bと第2データ配線30b間の寄生静電容量によるデータ信号の歪み問題によるクロストルクのような画質不良問題が生じないという長所があるが、第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bを離隔する設計をすることによる開口率低下問題が台頭している。
特に、カラーフィルター基板5の透明基板1下部面の非表示領域NAAに対応して構成されるブラックマトリックス12は、カラーフィルター基板5とアレイ基板10の合着工程の合着誤差を勘案して左右両側に2μm程度の合着マージンを与えて第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bを遮蔽するように設計しなければならないので、それだけ開口率はさらに減少するようになる。
特に、10インチ以下の小型モデルとして量産中であるSOC構造の液晶表示装置では液晶パネル30の開口率を高めてバックライトユニット90の光学シートを除去することによって全体的な単価を低めようという試みが進行中である。
しかし、第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bは、第2データ配線30bと重なった上部に対応された第1及び第2共通ブリッジライン(図1の53、54)を介して互いに連結している。ここで、第1及び第2共通ブリッジラインを除いた部分では第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bをパターニングして両側に分離形成しているが、露光装備の解像度の限界で第1共通配線50の第2垂直部50cと第2共通配線51の第1垂直部51bとの間の離隔距離を縮小設計することが限界に至った状況であって、それだけ開口率を増大させることに難しさが伴っている。
本発明は、前述した問題を解決するために案出したものであって、画素設計の変更を介して高開口率の液晶表示装置用アレイ基板を提供することを目的とする。
本発明の液晶表示装置用アレイ基板は基板と、前記基板上に第1方向に形成された第1及び第2ゲート配線と、第2方向に形成されて、前記第1及び第2ゲート配線と交差して第1及び第2画素領域を定義する第1、第2、第3データ配線と、前記第2ゲート配線及び第1データ配線の交差地点と前記第2ゲート配線及び第2データ配線の交差地点にそれぞれ対応された第1薄膜トランジスタ及び第2薄膜トランジスタと、前記第1及び第2画素領域にそれぞれ位置し、前記第1及び第2薄膜トランジスタとそれぞれ連結された第1及び第2画素電極と、前記第1及び第2ゲート配線間に位置して前記第1及び第2画素電極とそれぞれ重なり、前記第2データ配線下部で互いに接触して前記第1及び第2ゲート配線間に位置する前記第2データ配線部分を覆う第1及び第2共通配線を含む。
前記第1及び第2共通配線のそれぞれは、前記第1方向に沿って形成された水平部と、前記水平部から前記第2方向に沿って分岐した第1及び第2垂直部を含んで、前記第1共通配線の第1及び第2垂直部は前記第1及び第2データ配線と重なり、前記第2共通配線の第1及び第2垂直部は前記第2及び第3データ配線と重なる。
前記第1共通配線の第2垂直部は、前記第2データ配線の下部で前記第2共通配線の第1垂直部と接触する。
前記第1共通配線の水平部と第1及び第2垂直部を第1電極として、前記第1画素電極を第2電極とし、前記第1共通配線と前記第1画素電極間に介在された絶縁膜を誘電体層とする第1ストレージキャパシタが構成される。
前記第2共通配線の水平部と第1及び第2垂直部を第1電極として、前記第2画素電極を第2電極とし、前記第2共通配線と前記第2画素電極間に介在された絶縁膜を誘電体層とする第2ストレージキャパシタが構成される。
本発明の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法は、基板上に第1及び第2スイッチング領域と第1及び第2画素領域と第1及び第2共通領域と第1、第2、第3データ領域を定義する段階と、前記複数の領域が定義された基板上に第1方向に沿って延長された第1及び第2ゲート配線と、前記第2ゲート配線と連結された第1及び第2ゲート電極と、前記第1及び第2共通領域に対応する第1及び第2共通配線を形成する段階と、前記第1及び第2ゲート配線と前記第1及び第2ゲート電極と前記第1及び第2共通配線が形成された基板上にゲート絶縁膜を形成する段階と、前記第1及び第2ゲート電極上部の前記ゲート絶縁膜上に第1及び第2半導体層を形成する段階と、前記第1及び第2半導体層上に前記第1及び第2ゲート配線と交差して前記第1及び第2画素領域を定義する第1、第2、第3データ配線と、前記第1半導体層の上部から離隔されている第1ソース及び第1ドレイン電極と、前記第2半導体層の上部から離隔されている第2ソース及び第2ドレイン電極を形成する段階と、前記第1、第2、第3データ配線と、第1ソース及び第1ドレイン電極と、前記第2ソース及び第2ドレイン電極が形成された基板上に、前記第1及び第2ドレイン電極をそれぞれ露出する第1及び第2コンタクトホールを含む保護膜を形成する段階と、前記保護膜上に前記第1及び第2ドレイン電極とそれぞれ連結された第1及び第2画素電極を形成する段階を含み、前記第1及び第2共通配線は前記第1及び第2画素電極とそれぞれ重なり、前記第2データ配線下部で相互に連結されて前記第1及び第2ゲート配線間の前記第2データ配線部分を覆う。
前記第1及び第2半導体層を形成する段階は、前記第1、第2、第3データ配線と、前記第1ソース及び第1ドレイン電極と、前記第2ソース及び第2ドレイン電極を形成する段階と同一工程で形成される。
本発明のまた他の液晶表示装置用アレイ基板は基板と、前記基板上に第1方向に形成されたゲート配線と、第2方向に形成されて前記ゲート配線と交差して画素領域を定義するデータ配線と、前記ゲート配線及び前記データ配線の交差地点に位置する薄膜トランジスタと、前記画素領域に位置して前記薄膜トランジスタに連結される画素電極と、隣接した両ゲート配線間に位置して前記画素電極と重なり、前記第1方向の水平部と前記第2方向の第1及び第2垂直部を含む共通配線を含んで、前記共通配線の第1垂直部は前記データ配線下部で隣接する画素領域の共通配線の第2垂直部と接触して、前記隣接した両ゲート配線間の前記データ配線部分を覆う。
本発明ではデータ配線を間に置いて隣接した画素領域にそれぞれ対応された複数の共通配線をデータ配線と重なった部分にパターンがなく互いに連結構成することを介して開口率を向上させることができる。
[実施形態]
本発明ではゲート配線及びデータ配線の交差地点と薄膜トランジスタを除いてデータ配線と重なった下部で、データ配線を全て遮るように共通配線を設計したことを特徴とする。
以下、添付した図面を参照して本発明による液晶表示装置について説明する。
図4は、本発明によるSOC方式の液晶表示装置用アレイ基板を示した平面図である。
図示したように、基板110の上部面にはスキャン信号の印加を受ける第1及び第2ゲート配線120a、120bと、第1及び第2ゲート配線120a、120bと垂直交差して第1及び第2画素領域P1、P2を定義し、データ信号の印加を受ける第1、第2、第3データ配線130a、130b、130cがマトリックス状で構成される。
また、第1ゲート配線120a及び第2ゲート配線120bと平行に離隔された間の空間に“H”字状の第1及び第2共通配線150、151を構成する。
第1共通配線150は、第1及び第2ゲート配線120a、120bと平行に離隔された第1画素領域P1の間の空間に対応された水平部150aと、水平部150aで第1及び第2データ配線130a、130bに沿ってそれぞれ分岐した第1及び第2垂直部150b、150cを含む。
第2共通配線151は、第1及び第2ゲート配線120a、120bと平行に離隔された第2画素領域P2の間の空間に対応された水平部151aと、水平部151aで第2及び第3データ配線130b、130cに沿ってそれぞれ分岐した第1及び第2垂直部151b、151cを含む。
ここで、第1共通配線150の第2垂直部150cと第2共通配線151の第1垂直部151bは第2データ配線130bと重なった下部、すなわち、第1ゲート配線120aと第2データ配線130bとが交差する部分と、第2ゲート配線120bと第2データ配線130bとが交差する部分とを除いた第2データ配線130bの全部分を遮るようにパターニングされたことを特徴とする。
言い換えると、第1及び第2画素領域P1、P2に対してだけ言及したが、基板110の全ての画素領域に拡張して説明するならば、このような第1及び第2共通配線150、151は、従来とは違い、隣接した画素領域間の共通配線を連結する共通ブリッジラインを構成する必要がなく、各画素領域の薄膜トランジスタが位置する部分を除いた第1、第2、第3データ配線130a、130b、130cの全面を遮るように設計することによって、図示していない共通電圧発生部からの共通信号の印加を安定的に受けることができるようになる。
第2ゲート配線120bと第1データ配線130aの交差地点には第1薄膜トランジスタT1が、第2ゲート配線120bと第2データ配線130bの交差地点には第2薄膜トランジスタT2がそれぞれ構成される。
第1薄膜トランジスタT1は、第2ゲート配線120bから第1画素領域P1方向に延長された第1ゲート電極125aと、前記第1ゲート電極125aと重なった上部に位置する第1半導体層(図示せず)と、第1データ配線130aから延長されて第1半導体層と接触した上部に位置する第1ソース電極132aと、第1ソース電極132aと離隔された第1ドレイン電極134aを含む。
また、第2薄膜トランジスタT2は、第2ゲート配線120bから第2画素領域P2方向に延長された第2ゲート電極125bと、第2ゲート電極125bと重なった上部に位置する第2半導体層(図示せず)と、第2データ配線130bから延長されて第2半導体層と接触した上部に位置する第2ソース電極132bと、第2ソース電極132bと離隔された第2ドレイン電極134bを含む。
第1及び第2半導体層(図示せず)は、純粋非晶質シリコーン(a−Si:H)で構成された第1及び第2アクティブ層140a、140bと、不純物を含む非晶質シリコーン(n+a−Si:H)で構成された第1及び第2オーミックコンタクト層(図示せず)をそれぞれ含む。第1及び第2アクティブ層140a、140bと第1及び第2オーミックコンタクト層と同一パターンで第1、第2、第3純粋非晶質パターン171a、171b、171cと第1、第2、第3不純物非晶質パターン(図示せず)が構成される。
第1、第2、第3純粋非晶質パターン171a、171b、171cは第1、第2、第3データ配線130a、130b、130cより広い幅で構成されるので、その一部が外部にそれぞれ露出される。
第1及び第2ドレイン電極134a、134bをそれぞれ露出する第1及び第2ドレインコンタクトホールCH1、CH2を介して第1及び第2ドレイン電極134a、134bと接触した第1及び第2画素電極170a、170bが第1及び第2画素領域P1、P2にそれぞれ対応して構成される。第1及び第2画素電極170a、170bは、インジウム−スズ−オキサイド(ITO)とインジウム−ジンク−オキサイド(IZO)を含む透明な導電性物質グループのうちから選択された一つで構成される。
ここで、第1共通配線150の水平部150aと第1及び第2垂直部150b、150cを第1電極とし、第1電極と重なった第1画素電極170aを第2電極とし、第1電極と第2電極の重なった間の空間に介在された絶縁膜(図示せず)を誘電体層とする第1ストレージキャパシタCst1が形成される。
また、第2共通配線151の水平部151aと第1及び第2垂直部151b、151cを第1電極とし、第1電極と重なった第2画素電極170bを第2電極とし、第1電極と第2電極の重なった間の空間に介在された絶縁膜(図示せず)を誘電体層とする第2ストレージキャパシタCst2が形成される。
以下、添付した図面を参照して本発明によるSOC方式の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法について説明する。
図5A〜図5Hは、図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。
図5Aは、第1マスク工程段階を示した工程の断面図である。
図5Aに示したように、基板110上に第1スイッチング領域S1、第1及び第2画素領域P1、P2、第1及び第2共通領域C1、C2、第1ゲート領域G1と第2データ領域D2を定義する段階を行う。複数の領域S1、P1、P2、C1、C2、G1、D2が定義された基板110上に銅(Cu)、モリブデン(Mo)、モリブデン合金(MoNd)、アルミニウム(Al)及びアルミニウム合金(AlNd)を含む導電性金属物質グループのうちから選択された一つでゲート金属層(図示せず)を形成し、これをパターニングして一方向に平行に離隔された第1ゲート配線120a及び第2ゲート配線120bと、第2ゲート配線120bから延長された第1ゲート電極125aと第2ゲート電極(図4の125b)を形成する。ここで、第1ゲート配線120aから延長されたゲート電極(図示せず)も形成される。また、第1及び第2共通領域C1、C2にそれぞれ対応して第1共通配線150と第2共通配線151を形成する。
第1共通配線150は、第1及び第2ゲート配線120a、120b間の第1画素領域P1に対応された水平部150aと、水平部150aから第1データ領域(図示せず)及び第2データ領域D2にそれぞれ分岐した第1垂直部(図4の150b)及び第2垂直部150cを含む。
第2共通配線151は、第1及び第2ゲート配線120a、120b間の第2画素領域P2に対応された水平部(図4の151a)と、水平部から第2データ領域D2及び第3データ領域(図示せず)にそれぞれ分岐した第1垂直部151b及び第2垂直部(図4の151c)を含む。
このような第1共通配線150の第2垂直部150cと第2共通配線151の第1垂直部151bは、第1ゲート配線120aと以後に形成される第2データ配線とがが交差する部分と、第2ゲート配線120bと以後に形成される第2データ配線とがが交差する部分、すなわち、第1スイッチング領域S1及び他のスイッチング領域(図示せず)を除いた第2データ領域D2の全面を遮るように形成し、第1共通配線150の第2垂直部150cと第2共通配線151の第1垂直部151bとを第2データ領域D2と重なった下部で互いに触れ合うように設計したことを特徴とする。
したがって、第1及び第2共通配線150、151と、第1及び第2共通配線150、151と隣接した画素領域に延長された共通配線は全て電気的に連結されるので、図示していない共通電圧発生部からの共通信号の印加を安定的に受けることができる。
次に、第1ゲート配線120a及び第2ゲート配線120b、第1ゲート電極125a及び第2ゲート電極125bと、第1共通配線150及び第2共通配線151とが形成された基板110上部全面に、窒化シリコン(SiNx)と酸化シリコーン(SiO)を含む無機絶縁物質グループのうちから選択された一つでゲート絶縁膜145を形成する。
図5B〜図5Hは、第2マスク工程段階を示した工程の断面図である。
図5Bに示したように、ゲート絶縁膜145が形成された基板110上に純粋非晶質シリコーン(a−Si:H)で構成された純粋非晶質シリコン層140と、不純物を含む非晶質シリコーン(n+a−Si:H)で構成された不純物非晶質シリコン層141を順に積層形成する。
純粋及び不純物非晶質シリコン層140、141が形成された基板110上に銅(Cu)、モリブデン(Mo)、モリブデン合金(MoNd)、アルミニウム(Al)及びアルミニウム合金(AlNd)を含む導電性金属物質グループのうちから選択された一つを蒸着してソース及びドレイン金属層175を形成する。前述した蒸着工程を介して、ゲート絶縁膜145上には純粋及び不純物非晶質シリコン層140、141とソース及びドレイン金属層175が連続的に積層形成された状態である。
次に、純粋及び不純物非晶質シリコン層140、141とソース及びドレイン金属層175が形成された基板110上にフォトレジストを塗布して感光層190を形成した後、感光層190と離隔された上部に透過部M1、半透過部M2及び遮断部M3で構成されたマスク(HTM)を整列する段階を行う。
マスク(HTM)は、半透過部M2に半透明膜を形成して光の強度を低めたり光の透過量を低めて感光層190を不完全露光させることができるように機能する。このようなマスク(HTM)はハーフトーンマスク(half tone mask)と呼ばれることもある。尚、マスク(HTM)は半透過部M2にスリットを含んで光の透過量を調節するスリットマスクであってもよい。
また、遮断部M3は、光を完全に遮断するよう機能して、透過部M1は光を透過させて光に露出した感光層190に化学的変化を起こして完全露光させることができるように機能する。
ここで、第1スイッチング領域S1には両側の遮断部M3間に半透過部M2、第2データ領域D2には遮断部M3、そして、これを除いた全領域は透過部M1が位置するようにする。第2スイッチング領域(図示せず)には第1スイッチング領域S1と、第1、第3データ領域(図示せず)には第2データ領域D2と同じ方式でマスク(HTM)が位置するようにする。このような第2スイッチング領域及び第1、第3データ領域についての説明は省略する。
図5Cに示したように、前述したマスク(図5BのHTM)と離隔された上部で露光及び現像する工程を行うと、第1スイッチング領域S1の両遮断部(図5BのM3)では高さの変化がない第1及び第2感光パターン191、192、両遮断部間の半透過部(図5BのM2)では高さが半分程度に低くなった第3感光パターン193がそれぞれ形成される。また、第2データ領域D2では高さ変化がない第4感光パターン194が形成され、これを除いた全領域の感光層(図5Bの190)は全て除去されてその下部のソース及びドレイン金属層175が外部に露出される。
図5Dに示したように、第1、第2、第3、第4感光パターン191、192、193、194をマスクとして利用して露出したソース及びドレイン金属層(図5Cの175)をパターニングすると、第1スイッチング領域S1には第1ソース及びドレイン金属パターン174a、第2データ領域D2には第2ゲート配線120aと垂直交差する方向に第2データ配線130bが形成される。
ここで、第1ソース及びドレイン金属パターン174a及び第2データ配線130bを除いた全領域のソース及びドレイン金属層が全て制御されて不純物非晶質シリコン層(図5Cの141)が外部に露出される。
次に、露出した不純物非晶質シリコン層とその下部の純粋非晶質シリコン層(図5Cの140)を乾式エッチングで順にパターニングすると、第1スイッチング領域S1に対応された第1ソース及びドレイン金属パターン174aと等しい幅で第1アクティブ層140a及び第1オーミックコンタクト層141aが形成されて、第2データ領域D2に対応された第2データ配線130bと等しい幅で第2純粋非晶質パターン171bと第2不純物非晶質パターン172bがそれぞれ形成される。
第1アクティブ層140aと第1オーミックコンタクト層141aを含んで第1半導体層142aとし、第2データ配線130bの下部にそれぞれ延長された第2純粋非晶質パターン171bと第2不純物非晶質パターン172bを含んで第2半導体パターン173bとする。図4に示したように第1データ配線130aと第3データ配線130cの下部に第1半導体パターンと第3半導体パターンがそれぞれ形成される。ここで、第1半導体層142aと第2半導体パターン173bを除いた全領域の純粋及び不純物非晶質シリコン層(図5Cの140、141)は全て除去される。
図5Eに示したように、第1、第2、第3、第4感光パターン(図5Dの191、192、193、194)を灰化(ashing)する段階を行うと、第1、第2、第4感光パターン191、192、194の厚さは半分程度に低くなって、第3感光パターン(図5Dの193)は全て制御されて第1及び第2感光パターン191、192の離隔された間に位置する第1ソース及びドレイン金属パターン174aが外部に露出される。
前述した灰化工程を行なう過程で、第1、第2、第4感光パターン191、192、194の縁部分が除去されて、第1ソース及びドレイン電極金属パターン174aと第2データ配線の縁部分Fが露出される。
図5Fに示したように、第1、第2、第4感光パターン(図5Eの191、192、194)をマスクとして利用して、第1ソース及びドレイン金属パターン(図5Eの174a)を湿式エッチングでパターニングして、両側に分離された第1ソース電極132aと第1ドレイン電極134aを形成する。
次に、第1ソース電極132a及び第1ドレイン電極134aをマスクとして利用して乾式エッチングで第1ソース電極132a及び第1ドレイン電極134aの離隔された間の空間に位置する第1オーミックコンタクト層141aをパターニングして両側に分離させ、分離させた第1オーミックコンタクト層141aの間から露出した第1アクティブ層140aをオーバーエッチングしてこの部分を第1チャネルch1とする。
ここで、第1オーミックコンタクト層141aと図5EのF部分に対応された第1不純物非晶質パターン172aが共に除去されてその下部の第1アクティブ層140aと第1純粋非晶質パターン171bが第1ソース電極132a及び第1ドレイン電極134aと第2データ配線130bの外部にそれぞれ露出される。第1ゲート電極125aと第1半導体層142aと第1ソース電極132a及び第1ドレイン電極134aを含んで第1薄膜トランジスタT1とする。
次に、残された第1、第2、第4感光パターン(図5Eの191、192、194)をストリップ工程で除去することによって第2マスク工程段階が最終的に完了される。
図5Gは、第3マスク工程段階を示した工程の断面図である。
図5Gに示したように、第2データ配線130b及び第1薄膜トランジスタT1などが形成された基板110上部全面に窒化シリコン(SiNx)と酸化シリコーン(SiO)を含む無機絶縁物質グループやベンゾシクロブテン(benzocyclobutene:BCB)とフォトアクリル(photoacryl)を含む有機絶縁物質グループのうちから選択された一つで保護膜155を形成する。
次に、第1ドレイン電極134aと第2ドレイン電極(図4の134b)に対応された保護膜155を選択的にパターニングして、第1ドレイン電極134aと第2ドレイン電極をそれぞれ露出する第1ドレインコンタクトホールCH1と第2ドレインコンタクトホール(図4のCH2)を形成する。
図5Hは、第4マスク工程段階を示した工程の断面図である。
図5Hに示したように、第1ドレインコンタクトホールCH1と第2ドレインコンタクトホールを含む保護膜155上にインジウム−スズ−オキサイド(ITO;Indium-Tin-Oxide)とインジウム−ジンク−オキサイド(IZO;Indium-Zinc-Oxide)を含む透明な導電性金属物質グループのうちから選択された一つで透明金属層(図示せず)を形成してこれをパターニングして、第1ドレイン電極134aと連結した第1画素電極170aと、第2ドレイン電極と連結した第2画素電極170bを第1及び第2画素領域P1、P2にそれぞれ対応して形成する。
ここで、図4と図5Hに示したように、第1共通配線150の水平部150aと第1及び第2垂直部150b、150cを第1電極とし、第1電極と重なった第1画素電極170aを第2電極とし、第1電極と第2電極の重なった間の空間に介在されたゲート絶縁膜145と保護膜155を誘電体層とする第1ストレージキャパシタCst1が形成される。
また、第2共通配線151の水平部151aと第1及び第2垂直部151b、151cを第1電極とし、第1電極と重なった第2画素電極170bを第2電極とし、第1電極と第2電極の重なった間の空間に介在されたゲート絶縁膜145と保護膜155を誘電体層とする第2ストレージキャパシタCst2が形成される。
以上で、本発明によるSOC方式の液晶表示装置用アレイ基板を4マスク工程で製作することができる。
図6は、図4のVI−VI'線に沿って切断した断面図である。アレイ基板とカラーフィルター基板が対向合着された状態を示したものであって、これを参照しながら詳細に説明する。
図示したように、表示領域AAと非表示領域NAAにそれぞれ区分したカラーフィルター基板105とアレイ基板110が対向合着しており、カラーフィルター基板105とアレイ基板110の離隔された間の空間に液晶層115が一定なセルギャップgを有して介在される。カラーフィルター基板105及びアレイ基板110と液晶層115を含んで液晶パネル130を形成する。アレイ基板110の背面には光源の役割をするバックライトユニット190が位置する。
図面では詳細に示さなかったが、カラーフィルター基板105とアレイ基板110は最外廓縁に沿って熱硬化性樹脂で構成されたシールパターン(図示せず)により封止される。
カラーフィルター基板105の透明基板101下部面には非表示領域NAAに入射される光を遮断するためのブラックマトリックス112と、ブラックマトリックス112の下部面に色相を具現するために順にパターニングされた赤(R)、緑(G)、青(B)のサブカラーフィルター(116a、116b、図示せず)を含むカラーフィルター層116と、カラーフィルター層116下部のオーバーコート層114と、オーバーコート層114下部の透明導電性物質からなった共通電極180が順に位置する。
また、アレイ基板110の透明基板102上部面には第2データ領域D2の全面に対応して互いに触れ合うように構成された第1共通配線150の第2垂直部150c及び第2共通配線151の第1垂直部151bと、第1共通配線150の第2垂直部150c及び第2共通配線151の第1垂直部151bの上部を覆うゲート絶縁膜145と、ゲート絶縁膜145上の第2データ領域D2に対応された第2データ配線130bと、第2データ配線130bを覆う保護膜155と、保護膜155上の第2データ配線130bを間に置いて、第1及び第2画素領域P1、P2にそれぞれ構成された第1及び第2画素電極170a、170bが順に位置する。
ここで、本発明では第2データ配線130bの下部全面に第1共通配線150の第2垂直部150cと第2共通配線151の第1垂直部151bを互いに触れ合うように設計することによって既存の共通ブリッジラインを形成する必要がなくなる。
すなわち、図3に示して上記で説明したように、従来では第1共通配線50の第2垂直部50c、第2共通配線51の第1垂直部51b及び第2データ配線30b間の重なる面積を最小化するために両側に離隔されるように設計したが、本発明のように第2データ配線130bと重なった下部で第1共通配線150の第2垂直部150cと第2共通配線151の第1垂直部151bを互いに触れ合うように設計することによって第1共通配線(図4の150)と第2共通配線(図4の151)が第1及び第2画素領域P1、P2で占める面積を縮小して設計することができる。
したがって、従来と違い本発明では第1画素電極170aと第2画素電極170bを第2データ配線130bと隣接した位置に密着する設計をすることができるようになって結論的に第1及び第2画素領域P1、P2で透明な導電性物質からなった第1及び第2画素電極170a、170bが占める面積が増加されるため、合着マージンを考慮してもブラックマトリックス112の線幅は従来に比べて明確に縮小して設計されるので、それだけ開口率が向上したことが分かる。
特に、このような本発明によるSOC方式の液晶表示装置の場合、10インチ以下の小型モデルに適用する場合に卓越した効果を発揮することができる。
表1は、従来と本発明によるSOC方式の液晶表示装置の開口率と透過率をそれぞれ測定した結果を示したものであって、測定試料として7インチモデルを利用した。
Figure 2009301002
表1に示したように、従来と本発明によるSOC方式の液晶表示装置の開口率をそれぞれ測定した値を示している。ここで、L1とL2は液晶パネル自体にバックライトユニットから入射される内部光をそれぞれ照射した時の開口率を百分率で示したものである。L1の場合には従来と本発明との開口率偏差の最大値を示したものであって、本発明の開口率が18.4%上昇したことが分かる。また、L2では従来と本発明による開口率の平均値を示したものであって、本発明の開口率が16.4%上昇したことが分かる。
また、L3は液晶パネルを光学部材と偏光板を付着した液晶表示装置モジュール状態における透過率の平均値を百分率で示したものであって、本発明の透過率が2.32%上昇したことが分かる。
したがって、本発明ではデータ配線と重なった下部にパターンがなく第1共通配線と第2共通配線を互いに触れ合うように設計することによってSOC方式の液晶表示装置で開口率を極大化することができる長所がある。
しかし、本発明は上記実施形態に限られるものではなく、本発明の精神及び思想を外れない限度内で多様に変更及び変形することができるということは自明な事実である。
従来技術によるSOC方式の液晶表示装置用アレイ基板を示した平面図である。 図1のII−II'線に沿って切断した断面図である。 図1のIII−III'線に沿って切断した断面図である。 本発明によるSOC方式の液晶表示装置用アレイ基板を示した平面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図4のV−V'線に沿って切断して工程順序により示した工程の断面図である。 図5のVI−VI'線に沿って切断した断面図である。
符号の説明
110:基板
120a、120b:第1、第2ゲート配線
125a、125b:第1、第2ゲート電極
130a、130b、130c:第1、第2、第3データ配線
132a、132b:第1、第2ソース電極
134a、134b:第1、第2ドレイン電極
140a、140b:第1、第2アクティブ層
150、151:第1、第2共通配線
170a、170b:第1、第2画素電極
171、172:第1、第2純粋非晶質パターン
T1、T2:第1、第2薄膜トランジスタ
CH1、CH2:第1、第2ドレインコンタクトホール
P1、P2:第1、第2画素領域

Claims (11)

  1. 基板と、
    前記基板上に第1方向に形成された第1及び第2ゲート配線と、
    第2方向に形成されて、前記第1及び第2ゲート配線と交差して第1及び第2画素領域を定義する第1、第2、第3データ配線と、
    前記第2ゲート配線及び第1データ配線の交差地点と前記第2ゲート配線及び第2データ配線の交差地点にそれぞれ対応された第1薄膜トランジスタ及び第2薄膜トランジスタと、
    前記第1及び第2画素領域にそれぞれ位置し、前記第1及び第2薄膜トランジスタとそれぞれ連結された第1及び第2画素電極と、
    前記第1及び第2ゲート配線間に位置して前記第1及び第2画素電極とそれぞれ重なり、前記第2データ配線下部で互いに接触して前記第1及び第2ゲート配線間に位置する前記第2データ配線部分を覆う第1及び第2共通配線と
    を含む液晶表示装置用アレイ基板。
  2. 前記第1及び第2共通配線のそれぞれは、前記第1方向に沿って形成された水平部と、前記水平部から前記第2方向に沿って分岐した第1及び第2垂直部を含んで、前記第1共通配線の第1及び第2垂直部は前記第1及び第2データ配線と重なり、前記第2共通配線の第1及び第2垂直部は前記第2及び第3データ配線と重なることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  3. 前記第1共通配線の第2垂直部は、前記第2データ配線の下部で前記第2共通配線の第1垂直部と接触することを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  4. 前記第1共通配線の水平部と第1及び第2垂直部を第1電極とし、前記第1画素電極を第2電極とし、前記第1共通配線と前記第1画素電極との間に介在された絶縁膜を誘電体層とする第1ストレージキャパシタが構成されたことを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  5. 前記第2共通配線の水平部と第1及び第2垂直部を第1電極として、前記第2画素電極を第2電極とし、前記第2共通配線と前記第2画素電極との間に介在された絶縁膜を誘電体層とする第2ストレージキャパシタが構成されたことを特徴とする請求項4に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  6. 基板上に第1及び第2スイッチング領域と第1及び第2画素領域と第1及び第2共通領域と第1、第2、第3データ領域を定義する段階と、
    前記複数の領域が定義された基板上に第1方向に沿って延長された第1及び第2ゲート配線と、前記第2ゲート配線と連結された第1及び第2ゲート電極と、前記第1及び第2共通領域に対応する第1及び第2共通配線とを形成する段階と、
    前記第1及び第2ゲート配線と前記第1及び第2ゲート電極と前記第1及び第2共通配線が形成された基板上にゲート絶縁膜を形成する段階と、
    前記第1及び第2ゲート電極上部の前記ゲート絶縁膜上に第1及び第2半導体層を形成する段階と、
    前記第1及び第2半導体層上に前記第1及び第2ゲート配線と交差して前記第1及び第2画素領域を定義する第1、第2、第3データ配線と、前記第1半導体層の上部から離隔されている第1ソース及び第1ドレイン電極と、前記第2半導体層の上部から離隔されている第2ソース及び第2ドレイン電極を形成する段階と、
    前記第1、第2、第3データ配線と、第1ソース及び第1ドレイン電極と、前記第2ソース及び第2ドレイン電極が形成された基板上に、前記第1及び第2ドレイン電極をそれぞれ露出する第1及び第2コンタクトホールを含む保護膜とを形成する段階と、
    前記保護膜上に前記第1及び第2ドレイン電極とそれぞれ連結された第1及び第2画素電極を形成する段階とを含み、
    前記第1及び第2共通配線は前記第1及び第2画素電極とそれぞれ重なり、前記第2データ配線下部で相互に連結されて前記第1及び第2ゲート配線間の前記第2データ配線部分を覆うことを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  7. 前記第1及び第2共通配線のそれぞれは、前記第1方向に沿って形成された水平部と、前記水平部から前記第2方向に沿って分岐した第1及び第2垂直部を含んで、前記第1共通配線の第1及び第2垂直部は前記第1及び第2データ配線と重なり、前記第2共通配線の第1及び第2垂直部は前記第2及び第3データ配線と重なることを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  8. 前記第1共通配線の水平部と第1及び第2垂直部を第1電極とし、前記第1画素電極を第2電極とし、前記第1共通配線と前記第1画素電極との間に介在された絶縁膜を誘電体層とする第1ストレージキャパシタが構成されたことを特徴とする請求項7に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  9. 前記第2共通配線の水平部と第1及び第2垂直部を第1電極として、前記第2画素電極を第2電極とし、前記第2共通配線と前記第2画素電極との間に介在された絶縁膜を誘電体層とする第2ストレージキャパシタが構成されたことを特徴とする請求項8に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  10. 前記第1及び第2半導体層を形成する段階は、前記第1、第2、第3データ配線と、前記第1ソース及び第1ドレイン電極と、前記第2ソース及び第2ドレイン電極とを形成する段階と同一工程で形成されることを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  11. 基板と、
    前記基板上に第1方向に形成されたゲート配線と、
    第2方向に形成されて前記ゲート配線と交差して画素領域を定義するデータ配線と、
    前記ゲート配線及び前記データ配線の交差地点に位置する薄膜トランジスタと、
    前記画素領域に位置して前記薄膜トランジスタに連結される画素電極と、
    隣接した両ゲート配線間に位置して前記画素電極と重なり、前記第1方向の水平部と前記第2方向の第1及び第2垂直部を含む共通配線とを含んで、
    前記共通配線の第1垂直部は前記データ配線下部で隣接する画素領域の共通配線の第2垂直部と接触して、前記隣接した両ゲート配線間の前記データ配線部分を覆うことを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板。
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