JP2009287962A - 高周波回路モジュール測定冶具 - Google Patents

Abstract

【課題】同軸コネクタの芯線と導体線路を常に良好に接続することができ、したがって常に良好な特性測定を行うことが可能な、高周波回路モジュール測定冶具を提供すること。
【解決手段】本発明の高周波回路モジュール測定冶具は、高周波回路モジュールと電気的に接続されるマイクロストリップ線路と、このマイクロストリップ線路に接続される同軸コネクタとを有する、前記高周波回路モジュールを測定評価するための測定冶具であって、前記同軸コネクタの芯線が上方に向けて斜めに切断された芯線切断面を有し、付加線路が前記マイクロストリップ線路の導体線路上に設けられ一端が上方に向けられた第１の線路切断面を有し、この線路切断面及び前記芯線切断面にハンダが付着される。
【選択図】図２

Description

本発明は、高周波回路モジュールの測定冶具に係わり、特に同軸コネクタとマイクロストリップ線路の接続部における改良に関する。

装置に組み込む高周波回路モジュールが正常に動作するか否か、その特性を測定して評価することは必ず必要であり、そのために該当モジュールを測定冶具に組み込んで正常な動作特性が得られるかを調べる。

そのための装置（測定冶具）は、通常、入力端において同軸ケーブルを接続され、このケーブルの芯線を装置表面の基板上のマイクロストリップ線路に接続する。このマイクロストリップ線路には、測定対象となる高周波回路モジュールが接続され、このモジュールの出力信号は基板上のマイクロストリップ線路を介して出力され出力端子側に設けられた測定機器で測定される。同軸線路とマイクロストリップ線路は例えば特許文献１に示すように接続される。

特許文献１記載の同軸線路−平面基板線路の変換構造では、高周波同軸コネクタの芯線がコプレーナ回路の中心導体（導体線路）に導電材料により接続されている。しかし、特許文献１ではこの導電材料による接続についてはほとんど説明されていない。しかし高周波回路モジュールに高周波信号を供給する、測定冶具の入出力部分である同軸コネクタの芯線部分と、測定冶具の測定基板上の導体線路との間には隙間がある。中心導体と芯線の間は、非常に狭く両者をハンダにより常に良好に接続することは通常、困難である。

この導体線路と芯線をハンダ付けする必要があるが、このハンダ付け作業のハンダの付き具合により、高周波回路モジュールの入出力部において特性インピーダンスにバラツキが生じ、特性インピーダンスの不整合が生ずるおそれがある。すなわち、芯線の先端部と導体線路の隙間にハンダが流れ込まないとこの隙間が電磁的に解放状態に見えることになり、結果として隙間が誘導性になってしまう。

この不整合は高周波回路モジュールの特性に悪影響を与えて高周波回路モジュールの正確な特性測定が困難となる、という問題点があった。
特開２００７−１２３９５０号公報、図１及び図２

本発明は、上述のように、高周波回路モジュールの測定冶具において同軸コネクタの芯線と基板上の導体線路を常に良好に接続することが困難であるという従来の問題点に鑑みてなされたもので、同軸コネクタの芯線と導体線路を常に良好に接続することができ、したがって常に良好な特性測定を行うことが可能な、高周波回路モジュール測定冶具を提供することを目的とする。

本発明の請求項１によれば、高周波回路モジュールと電気的に接続されるマイクロストリップ線路と、このマイクロストリップ線路に接続される同軸コネクタとを有する、前記高周波回路モジュールを測定評価するための測定冶具であって、前記同軸コネクタの芯線が上方に向けて斜めに切断された芯線切断面を有し、付加線路が前記マイクロストリップ線路の導体線路上に設けられ一端が上方に向けられた第１の線路切断面を有し、この線路切断面及び前記芯線切断面にハンダが付着されることを特徴とする高周波回路モジュール測定冶具を提供する。

本発明によれば、常に良好な特性測定を行うことが可能な、高周波回路モジュール測定冶具が得られる効果がある。

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。図１は本発明一実施形態の高周波回路モジュール測定冶具の全体構成を示す平面図である。図２は、この測定冶具の一部断面図である。

測定冶具１０は、匡体１１内に設けられ気密性を有する高周波回路モジュール１２に接続される測定回路が設けられる測定基板１３と、匡体１１の側面の左右に設けられ測定回路に接続される一対の入力同軸コネクタ１４ａ，１４ｂ、及び出力同軸コネクタ１５ａ，１５ｂを有する。

測定時には、入力同軸コネクタ１４ａ，１４ｂから高周波信号が入力され、出力同軸コネクタ１５ａ，１５ｂから測定信号が出力される。

基板１３は、マイクロストリップ線路を形成し、誘電体基板１６と、その上面に設けられる導体線路１７と、誘電体基板１６の下面に設けられる接地導体１８とを有する。入力同軸コネクタ１４ａ，１４ｂと出力同軸コネクタ１５ａ，１５ｂは同様の構造をしており、例えば入力同軸コネクタ１４ａは、図２に示すようにその芯線２１ａの先端部は下の方が先鋭になるように下方に向けて斜めに切断された、換言すれば上方に向けた芯線切断面２２ａを有する。

一方、基板１３の上面に設けられている導体線路１７には、上記芯線２１ａに対応してその下方に設けられ、上記芯線２１ａの先端部の芯線切断面２２ａと同様の、上方に向けた線路切断面２３ａを有する付加線路２４ａが設けられる。

この実施形態は、同軸コネクタの芯線部分と導体線路の隙間をできるだけ埋めるための構造である。具体的には導体線路上に付加線路を加えて導体線路の高さ（厚さ）を厚くしている。

付加線路２４ａの線路切断面２３ａと、芯線２１ａの芯線切断面２２ａに少なくともハンダが付着するようにハンダ付けがなされる。すると、芯線切断面２２ａ，線路切断面２３ａは上方に向けて斜めに切断されているので垂直に切断されているよりも、切断面の面積が広く、しかも切断面が斜め上方に向いているため、ハンダ付着面積が比較的広くなると共に確実にハンダ２５を付着させることが可能となる。

したがって、万一、芯線２１ａと付加線路２４ａの間にハンダが十分充填されなくとも、芯線２１ａと付加線路２４ａを常に良好に接続することが可能となる効果がある。

なお、芯線２１ａ先端部の形成する芯線切断面２２ａと付加線路２４ａの線路切断面２３ａは同一平面をなすことが好ましい。しかし、図２に示すように、両切断面が必ずしも同一平面を構成する必要はない。矢印Ａに示すように付加線路２４ａの線路切断面２３ａの上端２３ｂが、芯線２１ａ先端部の形成する芯線切断面２２ａの下端２２ｂよりも内側に入っていることが好ましい。

この測定冶具により、高周波回路モジュール１２の特性の測定、評価を行うときには、このモジュール１２のみを設置することもあるが、導体線路１７と同軸コネクタの間を切り離し、上記のようにハンダ付けすることもある。

上記実施形態では、マイクロストリップ線路を形成する導体線路とは別に付加線路２４ａを設けていた。しかし本発明ではこの付加線路を導体線路と一体に先に形成することも可能である。

ところで、上記実施形態では、付加線路２４ａはその先端部を除いて、導体線路１７上、一様の高さを有していた。しかし付加線路は必ずしもこのような形状に限られない。

図３に他の実施形態の測定冶具の断面図を示す。この実施形態では、付加線路２６ａの形状が図２に示す実施形態の場合と異なる。この実施形態では、他の形状、構造は図２と同じなので、図２と同じ番号、符号を付した。この付加線路２６ａも図２に示す線路切断面２３ａと同様の第１の線路切断面２７ａを有する。この付加線路２６ａは台形状を有し、他の上方に向いた第２の線路切断面２８ａをも有する。この実施形態では、入力同軸コネクタ１４ａについて説明したが、他の入力同軸コネクタ１４ｂ，出力同軸コネクタ１５ａ，１５ｂについても同様の構造を有する。

芯線２１ａと付加線路２６ａのハンダ付けを行うと、芯線２１ａの芯線切断面２２ａ及び付加線路２６ａの線路切断面２７ａ，２８ａにハンダが付着することになり、芯線２１ａと付加線路２６ａは常に良好な接続がなされることになる。

本発明の図３に示した実施形態によれば、付加線路２６ａの長さを短くすることができる効果がある。

本発明一実施形態の高周波回路モジュール測定冶具の平面図。 本発明一実施形態の高周波回路モジュール測定冶具の一部断面図。 本発明の他の実施形態による高周波回路モジュール測定冶具の一部断面図。

符号の説明

１０・・・測定冶具、
１１・・・匡体、
１２・・・高周波回路モジュール、
１３・・・基板、
１４ａ，１４ｂ・・・入力同軸コネクタ、
１５ａ，１５ｂ・・・出力同軸コネクタ、
１６・・・誘電体基板、
１７・・・導体線路、
１８・・・接地導体、
２１ａ・・・芯線、
２２ａ・・・芯線切断面、
２３ａ，２７ａ，２８ａ・・・線路切断面、
２４ａ，２６ａ・・・付加線路、
２５・・・ハンダ。

Claims (4)

1. 高周波回路モジュールと電気的に接続されるマイクロストリップ線路と、このマイクロストリップ線路に接続される同軸コネクタとを有する、前記高周波回路モジュールを測定評価するための測定冶具であって、
   前記同軸コネクタの芯線が上方に向けて斜めに切断された芯線切断面を有し、付加線路が前記マイクロストリップ線路の導体線路上に設けられ一端が上方に向けられた第１の線路切断面を有し、この線路切断面及び前記芯線切断面にハンダが付着されることを特徴とする高周波回路モジュール測定冶具。
2. 匡体と、
   この匡体内に設けられ、高周波回路モジュールと電気的に接続されるマイクロストリップ線路と、
   このマイクロストリップ線路に接続され、前記匡体に設けられる同軸コネクタと、
   を有する、前記高周波回路モジュールを測定評価するための測定冶具であって、
   前記同軸コネクタの芯線が上方に向けて斜めに切断された芯線切断面を有し、付加線路が前記マイクロストリップ線路の導体線路上に設けられ一端に上方に向けた第１の線路切断面を有し、この線路切断面及び前記芯線切断面にハンダが付着されることを特徴とする高周波回路モジュール測定冶具。
3. 前記付加線路は、前記導体線路上、前記匡体までほぼ同一の高さの構造を有することを特徴とする請求項２記載の高周波回路モジュール測定冶具。
4. 前記付加線路は、前記第１の線路切断面の他に、他端に上方に向けた第２の線路切断面を有することを特徴とする請求項１または２記載の高周波回路モジュール測定冶具。

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