JP2009270909A - シート体の検査装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のシート体の検査装置は、レーザー光線を出射する光源と、光源から出射されるレーザー光線の焦点を検査対象であるシート体表面近傍に合わせるレンズ光学系と、シート体裏面からの透過光を受光する光検出器とを備え、光検出器で得られた直接光成分以外の成分強度情報に基づいて欠陥を検出するシート体の検査装置である。シート体表面に略垂直にレーザー光線を照射するとよい。光検出器とシート体裏面との間にシート体裏面からの直接光成分を遮蔽するマスクを備えるとよい。シート体を設置するテーブルと、シート体表面に照射されるレーザー光線の位置を相対的に移動させる走査手段とを備えるとよい。
【選択図】図2
Description
レーザー光線を出射する光源と、
光源から出射されるレーザー光線の焦点を検査対象であるシート体表面近傍に合わせるレンズ光学系と、
シート体裏面からの透過光を受光する光検出器とを備え、
光検出器で得られた直接光成分以外の成分強度情報に基づいて欠陥を検出するシート体の検査装置である。
光源からレーザー光線を出射する出射ステップと、
光源から出射されるレーザー光線の焦点を検査対象であるシート体表面近傍に合わせる合焦ステップと、
シート体裏面からの透過光のうち直接光成分以外の成分強度を取得する周辺光検出ステップと、
取得した直接光成分以外の成分強度情報に基づいてシート体の欠陥を検出する判定ステップと
を有するシート体の検査方法である。
シート体の検査装置として、図2に示すような構造であって、光源が波長633nm、出力30mWのHe−Neレーザー、光学系が焦点距離100mmの凸レンズ、光検出器がフォトダイオードである検査装置を用いた。検査対象であるシート体としてグリーンシートを用いた。
上記シート体の検査装置の光源からレーザー光線を出射し、レンズ光学系でグリーンシートの表面近傍に焦点させ、径が20〜30μm程度のレーザー光線をグリーンシートの表面に略垂直に照射した。グリーンシートの表面の欠陥がない部分にレーザー光線を照射した場合の透過光の画像を図3に、グリーンシートの表面の約20μmのピンホールがある部分に照射した場合の透過光の画像を図4に示す。
実験1と同様に、上記シート体の検査装置の光源からレーザー光線を出射し、レンズ光学系でグリーンシートの表面近傍に焦点させ、径が20〜30μm程度のレーザー光線をグリーンシートの表面に略垂直に照射し、約20μmのピンホールがある部分を通過するようレーザー光線を相対的に所定速度で移動させつつ、光検出器による周辺光成分の光強度を測定した。その周辺光成分の光強度の時間推移を示す模式的グラフを図5に示す。
2 レンズ光学系
3 マスク
4 光検出器
X シート体
STP1 出射ステップ
STP2 合焦ステップ
STP3 周辺光検出ステップ
STP4 判定ステップ
Claims (6)
- レーザー光線を出射する光源と、
光源から出射されるレーザー光線の焦点を検査対象であるシート体表面近傍に合わせるレンズ光学系と、
シート体裏面からの透過光を受光する光検出器とを備え、
光検出器で得られた直接光成分以外の成分強度情報に基づいて欠陥を検出するシート体の検査装置。 - 光検出器で得られた直接光成分以外の成分強度情報に基づいてシート体の欠陥を判定する演算部を備えている請求項1に記載のシート体の検査装置。
- 上記光源及びレンズ光学系によりシート体表面に略垂直にレーザー光線を照射する請求項1又は請求項2に記載のシート体の検査装置。
- 上記光検出器とシート体裏面との間に、シート体裏面からの透過光のうち直接光成分を遮蔽するマスクを備えている請求項1、請求項2又は請求項3に記載のシート体の検査装置。
- シート体を設置するテーブルと、
シート体表面に照射されるレーザー光線の位置を相対的に移動させる走査手段と
を備えている請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のシート体の検査装置。 - 光源からレーザー光線を出射する出射ステップと、
光源から出射されるレーザー光線の焦点を検査対象であるシート体表面近傍に合わせる合焦ステップと、
シート体裏面からの透過光のうち直接光成分以外の成分強度を取得する周辺光検出ステップと、
取得した直接光成分以外の成分強度情報に基づいて欠陥を検出する判定ステップと
を有するシート体の検査方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016014636A (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-28 | クアーズテック株式会社 | 検査方法及び検査装置 |
WO2024090109A1 (ja) * | 2022-10-25 | 2024-05-02 | 株式会社堀場製作所 | 検査装置、検査方法及び検査プログラム |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05215692A (ja) * | 1992-01-23 | 1993-08-24 | Nec Corp | 外観検査装置 |
JPH0894540A (ja) * | 1994-09-22 | 1996-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面検査装置 |
JPH0894532A (ja) * | 1994-09-22 | 1996-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面検査装置 |
JP2003083902A (ja) * | 2001-09-11 | 2003-03-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 被検物の検査方法および装置 |
JP2003262594A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 欠陥検査機 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05215692A (ja) * | 1992-01-23 | 1993-08-24 | Nec Corp | 外観検査装置 |
JPH0894540A (ja) * | 1994-09-22 | 1996-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面検査装置 |
JPH0894532A (ja) * | 1994-09-22 | 1996-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面検査装置 |
JP2003083902A (ja) * | 2001-09-11 | 2003-03-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 被検物の検査方法および装置 |
JP2003262594A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 欠陥検査機 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016014636A (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-28 | クアーズテック株式会社 | 検査方法及び検査装置 |
WO2024090109A1 (ja) * | 2022-10-25 | 2024-05-02 | 株式会社堀場製作所 | 検査装置、検査方法及び検査プログラム |
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