JP2009266306A - 記憶ディスクの試験方法および記録ディスク用試験装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】スループットの悪化を抑制しつつ確実に欠陥を検出することができる記憶ディスクの試験方法を提供する。
【解決手段】第1間隔D1で複数本の記録トラック31〜35に対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しは実施される。読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥は検出される。順番最後の記録トラック35から第1間隔D1よりも大きい第2間隔D2で離れた記録トラック41は抽出される。その記録トラック41から前記複数本の記録トラック42〜45は特定される。試験対象の記録トラックの総数が増加することなく、確実に欠陥は検出されることができる。
【選択図】図2
【解決手段】第1間隔D1で複数本の記録トラック31〜35に対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しは実施される。読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥は検出される。順番最後の記録トラック35から第1間隔D1よりも大きい第2間隔D2で離れた記録トラック41は抽出される。その記録トラック41から前記複数本の記録トラック42〜45は特定される。試験対象の記録トラックの総数が増加することなく、確実に欠陥は検出されることができる。
【選択図】図2
Description
本発明は、任意の間隔で複数本の記録トラックを描き出す記憶ディスクの試験方法に関し、特に、例えばハードディスク駆動装置(HDD)に組み込まれる記憶ディスクの試験方法に関する。
記憶ディスクの試験方法は広く知られる。この試験方法では所定のピッチ(距離)で順番に記録トラックが選択される。個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しは実施される。読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥は検出される。
特開2001−143201号公報
特開2001−155333号公報
記録密度の高まりとともに記録トラックの本数は増加する。従来とおりのピッチ(距離)で記録トラックが選択されと、試験対象の記録トラックの割合は減少する。欠陥の検出漏れは増加してしまう。その一方で、試験対象の記録トラックの割合が維持されると、ピッチは従来よりも狭まる。試験対象の記録トラックの本数は増加する。スループットは悪化してしまう。
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、スループットの悪化を抑制しつつ確実に欠陥を検出することができる記憶ディスクの試験方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、第1の記憶ディスクの試験方法は、第1間隔で複数本の記録トラックに対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しを実施し、読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥を検出する工程と、順番最後の記録トラックから第1間隔よりも大きい第2間隔で離れた記録トラックを抽出し、その記録トラックから前記複数本の記録トラックを特定する工程とを繰り返し実行する。
こういった試験方法によれば、第1間隔で集中的に欠陥の有無は判定される。その後、第2間隔で記録トラックは抽出される。したがって、試験対象の記録トラックの総数が増加することなく、確実に欠陥は検出されることができる。
第2の記憶ディスクの試験方法は、第1間隔で複数本の記録トラックに対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しを実施し、読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥を検出する工程と、記録トラックの欠陥が検出されると、第1間隔よりも小さい第2間隔で複数本の記録トラックに対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しを実施し、読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥を検出する工程とを備える。
こういった試験方法によれば、欠陥の検出と同時に試験対象の記録トラックは短い間隔で試験される。したがって、試験対象の記録トラックの総数が増加することなく、確実に欠陥は検出されることができる。
第1の試験方法の実現にあたって、記憶ディスク用試験装置は、例えば、スピンドルモーターと、スピンドルモーターに関連づけられるキャリッジと、キャリッジに支持されて、データの読み書きに関与するヘッドと、キャリッジの動作を制御することでヘッドの位置決めを制御する制御回路とを備えればよい。制御回路は、第1間隔で複数回にわたってヘッドを移動する動作と、第1間隔よりも大きい第2間隔でヘッドを移動する動作とを繰り返せばよい。
第2の試験方法の実現にあたって、記憶ディスク用試験装置は、スピンドルモーターと、スピンドルモーターに関連づけられるキャリッジと、キャリッジに支持されて、データの読み書きに関与するヘッドと、キャリッジの動作を制御することでヘッドの位置決めを制御する制御回路とを備えればよい。制御回路は、第1間隔で離散的にヘッドを移動し、欠陥が検出されると、第1間隔よりも小さい第2間隔で離散的にヘッドを移動すればよい。
以上のように本発明によれば、スループットの悪化を抑制しつつ確実に欠陥を検出することができる記憶ディスクの試験方法は提供される。
以下、添付図面を参照しつつ本発明の一実施形態を説明する。
図1は一具体例に係る記憶ディスク用試験装置11の構成を概略的に示す。この記憶ディスク用試験装置11はスピンドルモーター12を備える。スピンドルモーター12には例えば試験対象の記憶ディスクすなわち磁気ディスク13が装着されることができる。スピンドルモーター12は規定の回転速度で磁気ディスク13を回転させることができる。
スピンドルモーター12にはいわゆるキャリッジ14が関連づけられる。キャリッジ14にはヘッドサスペンション15が取り付けられる。ヘッドサスペンション15はフレキシャが貼り付けられる。ヘッドサスペンション15の先端でフレキシャにはジンバルが区画される。ジンバルに浮上ヘッドスライダー16が搭載される。ジンバルの働きで浮上ヘッドスライダー16はヘッドサスペンション15に対して姿勢を変化させることができる。浮上ヘッドスライダー16には磁気ヘッドすなわち電磁変換素子が搭載される。
磁気ディスク13の回転に基づき磁気ディスクの表面で気流が生成されると、気流の働きで浮上ヘッドスライダー16には正圧すなわち浮力および負圧が作用する。浮力および負圧とヘッドサスペンション15の押し付け力とが釣り合うことで磁気ディスク13の回転中に比較的に高い剛性で浮上ヘッドスライダー16は浮上し続けることができる。
キャリッジ14には例えばボイスコイルモーター(VCM)17といった動力源が接続される。このボイスコイルモーター17の働きでキャリッジ14は支軸18回りで回転することができる。こうしたキャリッジ14の回転に基づきヘッドサスペンション15の揺動は実現される。浮上ヘッドスライダー16の浮上中にキャリッジ14が支軸18回りで揺動すると、浮上ヘッドスライダー16は磁気ディスク13の半径線に沿って移動することができる。その結果、浮上ヘッドスライダー16上の電磁変換素子は最内周記録トラックと最外周記録トラックとの間でデータゾーンを横切ることができる。こうして浮上ヘッドスライダー16上の電磁変換素子は目標の記録トラック上に位置決めされる。
スピンドルモーター12には駆動回路21が接続される。駆動回路21はスピンドルモーター12の回転を制御する。ボイスコイルモーター17には駆動回路22が接続される。駆動回路22はボイスコイルモーター17の動作を制御する。ボイスコイルモーター17の制御に応じて電磁変換素子の位置決めは実施される。浮上ヘッドスライダー16上の電磁変換素子には読み出し書き込み回路23が接続される。読み出し書き込み回路23は、電磁変換素子の読み出し素子にセンス電流を供給する。センス電流の電圧の変化に基づき記録トラック上の2値情報は判別される。同様に、読み出し書き込み回路23は、電磁変換素子の書き込み素子に書き込み電流を供給する。書き込み電流の供給に応じて書き込み素子は所定の磁界を磁気ディスク13に作用させる。こうして磁気ディスク13上の記録トラックには2値情報は書き込まれる。
駆動回路21、駆動回路22および読み出し書き込み回路23には制御回路24が接続される。この制御回路24は所定のソフトウェアプログラムに基づき試験を実施する。制御回路24には例えばメモリーといった記憶媒体25が接続される。記憶媒体25には所定のソフトウェアプログラムが格納される。
次に第1実施形態に係る試験方法に基づき制御回路24の動作を詳述する。スピンドルモーター12に試験対象の磁気ディスク13が装着されると、制御回路24は駆動回路21に回転の開始を指示する。所定の指令信号が駆動回路21に供給される。スピンドルモーター12は回転し始める。磁気ディスク13は規定の回転速度で回転する。
続いて制御回路24は駆動回路22に電磁変換素子の位置決めを指示する。所定の指令信号が駆動回路22に供給される。電磁変換素子は最初の記録トラックに位置決めされる。最初の記録トラックは最外周の記録トラックであってもよく最内周の記録トラックであってもよい。
続いて制御回路24は読み出し書き込み回路23に試験データの書き込みを指示する。制御回路24から試験用の2値データが読み出し書き込み回路23に供給される。電磁変換素子は、供給された2値データに基づき最初の記録トラックに試験データを書き込む。
続いて制御回路24は読み出し書き込み回路23にデータの読み出しを指示する。読み出し書き込み回路23はセンス電流の電圧の変化に基づき2値データを判別する。判別結果は制御回路24に報告される。
制御回路24は、判別された2値データと、読み出し書き込み回路23に供給した試験用の2値データとを比較する。その結果、両者が一致すれば、データの書き込み読み出しは正常であることが確認される。両者が不一致であれば、制御回路24は欠陥を認定する。欠陥が規定数以上のデータビットにわたって認定されると、制御回路24は重度の欠陥を認定する。欠陥は記録トラックの識別子とともに例えばメモリー25に登録される。同時に、欠陥の回転角位置が特定される。回転角位置は、スピンドルモーター12のエンコーダーや磁気ディスク13上のサーボセクター番号に基づき特定されればよい。
最初の記録トラックに対して書き込みおよび読み出しが完了すると、制御回路24は駆動回路22に電磁変換素子の移動を指示する。所定の指令信号が駆動回路22に供給される。図2に示されるように、最初の記録トラック31から第1間隔D1で電磁変換素子は磁気ディスク13の半径方向に移動する。ここでは、間隔D1は例えば1μmに設定される。電磁変換素子は新たに試験対象の記録トラック32に位置決めされる。前述と同様に、試験データの書き込みおよびデータの読み出しは実施される。制御回路24は、前述と同様に、読み出し信号の可否に応じて記録トラック32の欠陥を検出する。こうして第1間隔D1で複数本の記録トラック31、32、33、34、35に対して順番に個々の記録トラック31〜35ごとにデータの書き込みおよび読み出しは実施される。個々の記録トラック31〜35ごとに読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥は検出される。
その後、順番最後の記録トラック35から第1間隔D1よりも大きい第2間隔D2で離れた記録トラック41は抽出される。ここでは、間隔D2は例えば56μmに設定される。この記録トラック41に対して電磁変換素子は位置決めされる。電磁変換素子は記録トラック35から第2間隔D2で磁気ディスク13の半径方向に移動する。電磁変換素子は新たに試験対象の記録トラック41に位置決めされる。前述と同様に、試験データの書き込みおよびデータの読み出しは実施される。制御回路24は、前述と同様に、読み出し信号の可否に応じて記録トラック41の欠陥を検出する。その後、第1間隔D1で複数本の記録トラック42、43、44、45に対して順番に個々の記録トラック42〜45ごとにデータの書き込みおよび読み出しは実施される。個々の記録トラック42〜45ごとに読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥は検出される。こうして第2間隔D2で離れる記録トラック群ごとに試験対象の記録トラックは選択される。個々の記録トラック群では第1間隔D1で離れる複数本の記録トラックが試験対象として選択される。
図3は欠陥地図の一具体例を示す。この欠陥地図は200nmピッチの記録トラックに対して2μmのピッチで試験対象の記録トラックは選択された。例えばデータビットの欠陥が10個以上にわたって連続すると、その欠陥は重度の欠陥として認定された。図中、こういった欠陥は丸印で示される。データビットの欠陥の連続数が10個未満の場合には軽度の欠陥が認定された。そういった欠陥は菱形で示される。この欠陥地図によれば、例えば2本のテクスチャ傷47、48は特定されることができる。テクスチャ傷が特定されると、その磁気ディスク13は不良品として仕分けされる。一般に、磁気ディスク13の製造にあたって基板の表面にはテクスチャ加工が施される。このテクスチャ加工では、回転中の基板の表面に布が押し当てられる。布および基板の間には砥粒が供給される。布は基板の半径方向に反復移動する。大粒な砥粒はテクスチャ傷を生成する。テクスチャ傷は基板の円周方向に波線を描く。
図4は欠陥地図の他の具体例を示す。この欠陥地図の作成にあたって、図3の欠陥を有する磁気ディスク13が試験された。12μmピッチで記録トラックは選択された。明らかにテクスチャ傷は断片化された。1つの重度の欠陥が特定されることができる。同時に、4個の連続する軽度の欠陥49が確認されることができた。
図5は欠陥地図の他の具体例を示す。この欠陥地図の作成にあたって、同様に、図3の欠陥を有する磁気ディスク13が試験された。20μmの第2間隔D2で記録トラック群が選択された。個々の記録トラック群は、2μmの第1間隔D1で離れる2本の記録トラックで構成された。すなわち、選択された記録トラックの総数は12μmピッチのものと同一に設定された。1つの重度の欠陥51に隣接して4個の軽度の欠陥52が確認された。記録トラックの総数は維持されるものの、欠陥検出の基準が明確化されることが確認された。
図6は欠陥地図の他の具体例を示す。この欠陥地図の作成にあたって、同様に、図3の欠陥を有する磁気ディスク13が試験された。30μmの第2間隔D2で記録トラック群が選択された。個々の記録トラック群は、2μmの第1間隔D1で離れる3本の記録トラックで構成された。すなわち、選択された記録トラックの総数は12μmピッチのものと同一に設定された。1つの重度の欠陥51に隣接して11個の軽度の欠陥53が確認された。しかも、6個の軽度の欠陥54はいずれの場合よりも近接して確認された。こういった基準に基づき高い精度でテクスチャ傷が検出されることが確認された。記録トラックの総数は維持されるものの、欠陥検出の基準がさらに明確化されることが確認された。
次に第2実施形態に係る試験方法に基づき制御回路24の動作を詳述する。この試験方法では、第1間隔R1で最初の記録トラック51から順番に個々の記録トラック51、52、53ごとにデータの書き込みおよび読み出しは実施される。ここでは、第1間隔R1は例えば12μmに設定される。電磁変換素子の位置決めにあたって、前述と同様に、駆動回路22には制御回路24から所定の指令信号が供給される。前述と同様に、読み出し信号の可否に応じて記録トラック51〜53の欠陥は検出される。
記録トラック53の欠陥54が検出されると、第1間隔R1よりも小さい第2間隔R2で複数本の記録トラック55、56、57、58に対して順番に個々の記録トラック55〜58ごとにデータの書き込みおよび読み出しが実施される。ここでは、第2間隔R2は例えば1μmに設定される。読み出し信号の可否に応じて記録トラック55〜58の欠陥は検出される。記録トラック53〜58で連続して欠陥が検出されると、制御回路24はテクスチャ傷を認定する。
なお、前述の第1間隔D1、第2間隔D2、第1間隔R1および第2間隔R2はテクスチャ傷の大きさや振幅に基づき適宜に設定されることができる。
11 記憶ディスク用試験装置、12 スピンドルモーター、13 記憶ディスク、14 キャリッジ、16 ヘッドすなわち電磁変換素子を支持する浮上ヘッドスライダー、24 制御回路、31〜35 記録トラック、41〜45 記録トラック、51〜53 記録トラック、54 欠陥、55〜58 記録トラック、D1 第1間隔、D2 第2間隔、R1 第1間隔、R2 第2間隔。
Claims (4)
- 第1間隔で複数本の記録トラックに対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しを実施し、読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥を検出する工程と、順番最後の記録トラックから第1間隔よりも大きい第2間隔で離れた記録トラックを抽出し、その記録トラックから前記複数本の記録トラックを特定する工程とを繰り返し実行することを特徴とする記憶ディスクの試験方法。
- 第1間隔で複数本の記録トラックに対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しを実施し、読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥を検出する工程と、記録トラックの欠陥が検出されると、第1間隔よりも小さい第2間隔で複数本の記録トラックに対して順番に個々の記録トラックごとにデータの書き込みおよび読み出しを実施し、読み出し信号の可否に応じて記録トラックの欠陥を検出する工程とを備えることを特徴とする記憶ディスクの試験方法。
- スピンドルモーターと、スピンドルモーターに関連づけられるキャリッジと、キャリッジに支持されて、データの読み書きに関与するヘッドと、キャリッジの動作を制御することでヘッドの位置決めを制御する制御回路とを備え、制御回路は、第1間隔で複数回にわたってヘッドを移動する動作と、第1間隔よりも大きい第2間隔でヘッドを移動する動作とを繰り返すことを特徴とする記憶ディスク用試験装置。
- スピンドルモーターと、スピンドルモーターに関連づけられるキャリッジと、キャリッジに支持されて、データの読み書きに関与するヘッドと、キャリッジの動作を制御することでヘッドの位置決めを制御する制御回路とを備え、制御回路は、第1間隔で離散的にヘッドを移動し、欠陥が検出されると、第1間隔よりも小さい第2間隔で離散的にヘッドを移動することを特徴とする記憶ディスク用試験装置。
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