JP4490764B2 - 磁気ディスク検査装置 - Google Patents
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Description
一方、単一の読出ヘッドを使用する書込/読出分割方式にすると、検査結果に対する検査ヘッドの性能の相違の影響は低減されかつ分割された検査領域のデータを統合する処理が不要になる利点はあるが、1.8インチ以下の小型、薄型の磁気ディスクでは、書込専用ヘッドと読出専用ヘッドとの距離が接近している関係で、読出専用ヘッドの読出信号に書込時の書込専用ヘッドからノイズが乗り、検査精度が低下する問題がある。
ところで、最近では、磁気ディスクの製造歩留まりの向上から、全トラック検査をせずに、全トラックのうちのサンプリングした所定のトラック数だけを検査することが行われている。このような場合には、前者のエリア2分割方式でも後者の書込/読出分割方式でも検査のスループットの差はさほど大きくない。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、高密度記録で径の小さい磁気ディスクを効率よく検査することができる磁気ディスク検査装置を提供することにある。
書込専用ヘッドと読出専用ヘッドとが磁気ディスクの回転方向において180度より小さい第1の所定の角度で配置されて設けられ、書込専用ヘッドにより実質的に第1の所定の角度分磁気ディスクにテストデータを書込み、第1の所定の角度分テストデータの書込を停止する書込処理を交互に繰り返し、読出専用ヘッドにより書込専用ヘッドが書込を停止している期間にテストデータの読出を行いかつ前記書込専用ヘッドの書込位置を前記磁気ディスクの1回転ごとにシフトさせて1トラック領域相当分の領域の検査をするものである。
また、第2の発明は、書込専用ヘッドにより第1の所定の角度より小さい第2の所定の角度分磁気ディスクにテストデータを書込み、第1の所定の角度分テストデータの書込を停止する書込処理を交互に繰り返すものである。
この第2の発明では、180度より小さい第1の所定の角度で配置された書込専用ヘッドと読出専用ヘッドとの配置を180度としてもテストデータを書込みが180°以下にできる。このときの、書込専用ヘッドが書込を停止している期間は180°になる。
そこで、考えられるのは、1トラック1周分以下でテストデータを書込み、それを読出ヘッドで読出し、交互に行うことである。あるトラックにディスク回転角が180度以上のテストデータの書込があると、読出専用ヘッドが読出す期間も180度以上になるため、テストデータの書込み長さは180度以下にする必要がある。しかし、テストデータの書込み長さを180度にすると、テストデータが磁気ディスクの片側半分だけになり、360度1トラック分についてのテストをしたことにはならない。そのため、ディスクの残りの半分が未検査となる。
そこで、前記のように、この発明にあっては、磁気ディスクが回転してテストデータが読出専用ヘッドの位置まで送られるまでに180度未満の所定の角度分テストデータを書込むようにしてそのテストデータの読出と次の書込とを交互に行えば、次の書込位置の開始点が360度以下で次第にずれてくる。しかも、この読出時点では、書込専用ヘッドが書込を停止しているので、書込専用ヘッドからのノイズは読出専用ヘッドには乗らない。次のトラックには、ディスクが1回転しない内にテストデータが書込まれ、また、それを読出専用ヘッドが読出すことになる。
なお、書込専用ヘッドの書込位置は、磁気ディスクの1回転ごとにシフトさせてテストデータを書込む。
また、書込専用ヘッドと読出専用ヘッドとが磁気ディスクの回転方向において180度か、これ以下の配置において、さらに、この配置角より小さい角度範囲でテストデータを書込む場合には、ヘッドの配置角よりもテストデータの方が小さい角度範囲となるので、磁気ディスクが回転してテストデータが読出専用ヘッドの位置まで送られるまでの回転角がテストデータが書かれた角度範囲より大きくなる。そこで、その差分だけ書込/読出の1回の検査時間が延びることになる。しかし、前記と同様に検査が可能である。このような場合には、特に、書込専用ヘッドと読出専用ヘッドを180度の対向配置にすることができるので、磁気ディスクの径がさらに小さくなった場合に有効である。
その結果、高密度記録で径の小さい磁気ディスクを効率よく検査することができる磁気ディスク検査装置を容易に実現できる。
図1において、10は磁気ディスクテスターであり、1は、検査対象となる磁気ディスクである。磁気ディスク1は、スピンドル2に着脱可能に挿着されている。スピンドル2に隣接してヘッドキャリッジ3a,3bが設けられている。ヘッドキャリッジ3aは、ヘッドカートリッジ5aを移動台6aに搭載し、ヘッドカートリッジ5aには書込専用ヘッド(インダクティブヘッド)4aが装着され、磁気ディスク1の所定のトラックをアクセスする。ヘッドキャリッジ3bは、ヘッドカートリッジ5bを移動台6bに搭載し、ヘッドカートリッジ5bには読出専用ヘッド(GMRヘッド)4bが装着され、磁気ディスク1の所定のトラックをアクセスする。
ヘッドカートリッジ5aの内部には書込アンプ等が設けられ、ヘッドカートリッジ5bの内部には読出アンプ等が設けられている。
移動台6a,6bとヘッドカートリッジ5a,5bとの間にはそれぞれピエゾアクチュエータ(図示せず)が搭載され、それぞれの書込専用ヘッド4a,読出専用ヘッド4bがそれぞれにディスク1の半径方向に移動してディスク1のトラックをシークしてそのトラックに位置決めされ、テストデータを位置決めされたトラックに書込みあるいはそのトラックからテストデータを読出す。
なお、ここでは、書込専用ヘッド4aと読出専用ヘッド4bとは、ピエゾアクチュエータにより微調整され、半径方向へ順次移動して読出専用ヘッド4bが書込専用ヘッド4aにより書込まれたテストデータの位置をトレースして磁気ディスク1がスパイラル走査される。したがって、トラックとしては螺旋の1本のトラックになるが、以下では、スパイラル走査の360度1周分を1トラック1周分として扱い、説明する。
13はテストデータ生成回路であって、テストデータ生成回路13は、データ処理・制御装置20により制御されて所定のテストデータを作成してそれをデータ書込回路14に送出する。データ書込回路14は、受けたテストデータに従って書込信号を生成して、ヘッドカートリッジ5aの書込アンプを駆動し、書込専用ヘッド(インダクディブヘッド)4aを介して所定のトラックにデータを書込む。
なお、16はディスク回転駆動回路であり、データ処理・制御装置20により制御されてスピンドル2を回転駆動する。
読出された170度分のテストデータは、ヘッドカートリッジ5bの読出アンプを介してデータ読出回路11に送出され、これを介して欠陥検出回路15に送られる。欠陥検出回路15には、内部にスライスレベル設定回路が設けられ、ここでスライスレベルが生成されて欠陥検出回路15が設定されたスライスレベルに応じて読出データに基づいて欠陥検出を行う。欠陥検出回路15は、欠陥検出されたデータをデータ処理・制御装置20に出力する。
データ処理・制御装置20は、内部にMPU21とメモリ22等が設けられ、170度単位で1つおきにテストデータ7の書込を行い、書込んだテストデータの読出を行う処理プログラムを有している。その170度書込/読出制御プログラム22aが内部のメモリ22に設けられ、MPU21によりこのプログラムが実行される。
図示するように、書込専用ヘッド4aと読出専用ヘッド4bとは、磁気ディスク1に対して170度の角度で配置されている。書込専用ヘッド4aで所定のトラック上に書かれたテストデータ7は、磁気ディスク1が170度時計方向に回転すると、読出専用ヘッド4bの位置に至る。そこで、読出専用ヘッド4bで書かれたテストデータ7が読出される。この読出は、磁気ディスク1がさらに170度時計方向に回転すると終了する。そして、再び、書込専用ヘッド4aで所定のトラック上にテストデータ7が170度分書込まれる。この動作が繰り返される。
したがって、読出期間には書込専用ヘッド4aの書込は行われない。それが書込休止期間8になる。書込専用ヘッド4aは、170度ディスク回転分の読出期間の後に、次の170度ディスク回転分のテストデータの書込に入る。
その結果、図2に示すように、ほぼ半円形のテストデータ7が順次書き込まれ、テストデータ7と次のテストデータ7との間に書込休止期間8が磁気ディスク1上に設けられる。
その結果、テストデータの書込む位置は、1回の書込/読出ごとにインデックス信号9に対して20度ずつ手前にディスク上でシフトする。なお、所定のトラックに位置決めしてからスパイラル走査をする場合には、インデックス信号9に対してヘッドがシーク動作してから書込/読出となるので、最初の書込/読出の位置とインデックス信号9とは必ずしも一致していない。最初からスパイラル走査をする場合にはインデックス信号9とは無関係に走査が開始される。ここでは、磁気ディスク1の回転との関係でインデックス信号9を示したタイミングチャートとして説明する。
そこで、最初のトラックの170度分の書込休止期間8の領域は、磁気ディスク1が8.5回転するとカバーされる。そして、磁気ディスク1が18回転すると、書込/読出が360度シフトして各トラックの書込休止期間8の領域がすべてカバーされる。その結果、インデックス信号9に対応して決定される最初の書込/読出の位置にから再び書込/読出が行われる。
これは、従来の1周分のトラックを全トラックからある数サンプリングして検査する場合の検査に対して1周分のトラックのうちディスク170度の回転範囲を約1回転(実質的には340度の1周分相当)ごとに部分サンプリングして18回転で8.5(=170度×18÷360)トラック相当分をサンプリングしたことと同じになる。
しかも、テストデータの書込期間に読出さないので、高精度の検査が可能になる。
この場合には、書込専用ヘッド4aにより書込んだテストデータが読出専用ヘッド4bにより読出されるまでに180度磁気ディスク1が回転しなければならない。そのため、書込専用ヘッド4aによる書込終了時点から読出専用ヘッド4bの読出開始時点までに10度の回転ロスが必要になる。そこで、書込期間WRと読出期間RDとの間には10度の回転待ち期間が必要になる。
その結果、1回の書込/読出ごとにインデックス信号の位置から10度ずつ手前に次の書込/読出位置がディスク上でシフトする。したがって、前記の倍の36回転すると、書込/読出が360度シフトして各トラックの書込休止期間8の領域がすべてカバーされる。その結果、インデックス信号9に対応して決定される最初の書込/読出の位置にから再び書込/読出が行われる。
したがって、この発明は、磁気ディスクの回転方向において180度か、これより小さい所定の角度で書込専用ヘッドと読出専用ヘッドとが配置され、この配置された角度(180度を除く)か、これよりも小さい角度分、テストデータがトラックに書込まれればよく、書込専用ヘッド4aと読出専用ヘッド4bとの配置角度は実施例に限定されない。
3a,3b…ヘッドキャリッジ、
4a…書込専用ヘッド(インダクティブヘッド)、
4b…読出専用ヘッド(GMRヘッド)、
5a,5b…ヘッドカートリッジ、
6a,6b…移動台、7…テストデータ、
8…書込休止期間、9…インデックス信号、
10…磁気ディスクテスター、
11…データ読出回路、12…ヘッドアクセス制御回路、
13…テストデータ生成回路、14…データ書込回路、
15…欠陥検査回路、16…ディスク回転駆動回路、
20…データ処理・制御装置。
Claims (3)
- 書込専用ヘッドと読出専用ヘッドとを有し、前記書込専用ヘッドでテストデータを磁気ディスクに書込み、前記読出専用ヘッドで前記テストデータを読出して前記磁気ディスクの検査をする磁気ディスク検査装置において、
前記書込専用ヘッドと前記読出専用ヘッドとが前記磁気ディスクの回転方向において180度より小さい第1の所定の角度で配置されて設けられ、前記書込専用ヘッドにより実質的に前記第1の所定の角度分前記磁気ディスクに前記テストデータを書込み、前記第1の所定の角度分前記テストデータの書込を停止する書込処理を交互に繰り返し、前記読出専用ヘッドにより前記書込専用ヘッドが書込を停止している期間に前記テストデータの読出を行いかつ前記書込専用ヘッドの書込位置を前記磁気ディスクの1回転ごとにシフトさせて1トラック領域相当分の領域の検査をする磁気ディスク検査装置。 - 前記書込専用ヘッドにより前記第1の所定の角度より小さい第2の所定の角度分前記磁気ディスクに前記テストデータを書込み、前記第1の所定の角度分前記テストデータの書込を停止する書込処理を交互に繰り返す請求項1記載の磁気ディスク検査装置。
- 前記テストデータの書込と前記テストデータの読出はスパイラル走査により行われ、前記書込専用ヘッドの書込位置は、前記スパイラル走査により前記180度から前記第1の所定の角度分を引いた角度の2倍の角度分だけ前記磁気ディスクの1回転ごとに手前にシフトする請求項1又は2記載の磁気ディスク検査装置。
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