JP2009239097A - 搬送装置、露光装置、及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】温調後の基板を搬出する際に、基板に温度勾配を生じさせることを抑制する。
【解決手段】基板Wを所定温度に温調する温調部CPから温調された基板Wを搬出する搬送装置であって、温調された基板Wを接触支持する支持部CTと、基板Wを接触支持した支持部CTを駆動するための駆動力を発生する動力源205と、動力源205で発生した駆動力を支持部CTへ伝達するための伝達経路上に配置され、流体を収容する収容部204aとを備え、収容部204aは、その中に収容した流体を介して動力源205で発生した駆動力を支持部CTへ伝達する伝達機構204を備えている。
【選択図】図3
【解決手段】基板Wを所定温度に温調する温調部CPから温調された基板Wを搬出する搬送装置であって、温調された基板Wを接触支持する支持部CTと、基板Wを接触支持した支持部CTを駆動するための駆動力を発生する動力源205と、動力源205で発生した駆動力を支持部CTへ伝達するための伝達経路上に配置され、流体を収容する収容部204aとを備え、収容部204aは、その中に収容した流体を介して動力源205で発生した駆動力を支持部CTへ伝達する伝達機構204を備えている。
【選択図】図3
Description
本発明は、基板を搬送する搬送装置、該搬送装置を備える露光装置、及び該露光装置を用いるデバイス製造方法に関する。
半導体素子の製造工程の1つであるフォトリソグラフィ工程においては、ウエハやガラスプレートなどの基板上に感光材料(フォトレジスト)を塗布するレジスト塗布装置(コータ)、該感光材料が塗布された基板にレチクル(マスク)のパターンの像を投影転写して該パターンの潜像を形成する露光装置(ステッパ)、及び該基板上に形成された潜像を現像する現像装置(デベロッパ)等が使用される。
レジスト塗布装置と露光装置との間、及び露光装置と現像装置との間の基板の受け渡しは、複数の基板を収納できるコンテナ(フープ)を用いて一括的に行うもの、あるいは、これと併用する形で若しくは独立的に、露光装置の近傍に配置されたレジスト塗布装置などとの間で基板を個別的に受け渡すようにしたもの(いわゆるインライン化したもの)がある。
レジストが塗布された基板は、コンテナに収納されて、あるいはレジスト塗布装置から個別的に、所定の搬入位置に搬入され、露光装置が備える基板搬送装置により個別的に露光本体部(基板ステージ)との間で基板を受け渡す所定の受渡位置まで搬送される。露光処理が終了した基板は、露光本体部から当該基板搬送装置により所定の搬出位置に搬送され、コンテナに収納されて一括的に、あるいはインライン搬送を用いて個別的に次の現像装置へと搬出される。
基板の搬出入位置と露光本体部との間には、基板の位置及び姿勢を外形基準で予備的に調整するプリアライメント機構や基板を所定の温度に調節するクールプレート等の温調部が配置され、基板搬送装置は搬出入位置、温調部及び露光本体部との間で、基板を順次搬送する。基板搬送装置としては、各種のものが知られているが、例えば、搬送アームを備える多関節ロボットで基板を搬入位置からクールプレート上に搬送し、クールプレートにより所定の温度に温調された基板を、必要に応じてプリアライメント(基板の外形計測による位置計測及び位置調整)を実施した後に、リニアモータ等により直線的に駆動されるスライダアーム(ロードスライダ)により、露光本体部との受渡位置まで搬送するようにしたものが知られている(例えば、下記特許文献1参照)。
基板は、露光精度(例えば、重ね合わせ精度)を向上するため、搬送アームからクールプレート上に渡され、クールプレートにより全体的に所定の温度(露光本体部による露光時の雰囲気温度と一致する温度)に温調された後に、スライダアーム等によって露光本体部との受渡位置まで搬送される。
クールプレートには、搬送アームやスライダアームとの間での基板の受け渡しを行うため、例えば、クールプレートの中央部から上下方向(クールプレートの保持面に実質的に直交する方向)に進退するセンタテーブルを有する搬出入装置によって行われる。この搬出入装置は、基板の裏面中央部を吸着保持するための吸着機構やセンタテーブルを昇降駆動するための駆動部等を備えて構成され、この位置で基板の外形基準のプリアライメントをも行う場合には、センタテーブルを回転駆動するための駆動部も備えられている。
このように、センタテーブルは昇降方向及び回転方向に駆動されるため、駆動部からの熱が伝達され、基板がクールプレートによって一様に温調されたとしても、スライダアーム等への受け渡しのためのセンタテーブルによる保持によってその保持部分の温度が上昇し、温度勾配が生じてしまい、重ね合わせ精度などの露光精度に悪影響を及ぼす場合があるという問題があった。
なお、特許文献1には、センタテーブルの温度上昇を抑制するため、センタテーブルの一部をクールプレートに当接させるようにしたものが開示されているが、動力源とセンタテーブルとは金属等の固体の連結部材によって連結されているため、動力源からの熱がセンタテーブルに常に供給されることから、センタテーブルの当接によって基板に生じる温度勾配を十分に抑制することができない。
また、特許文献1には、駆動時以外は、センタテーブルと動力源との連結を機械的に分離するようにしたものも開示されているが、駆動時には、動力源とセンタテーブルとは金属等の固体の連結部材によって連結されるため、動力源からの熱がセンタテーブルに容易に伝達され、センタテーブルの当接によって基板に生じる温度勾配を十分に抑制することができない。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、温調後の基板を搬出する際に、基板に温度勾配を生じさせることを抑制することを目的とする。
国際公開WO2007/080779号パンフレット
本発明の第1の観点によると、基板を所定温度に温調する温調部から温調された基板を搬出する搬送装置であって、前記温調された基板を接触支持する支持部と、前記基板を接触支持した前記支持部を駆動するための駆動力を発生する動力源と、前記動力源で発生した駆動力を前記支持部へ伝達するための伝達経路上に配置され、流体を収容する収容部とを備え、前記収容部は、その中に収容した前記流体を介して前記動力源で発生した駆動力を前記支持部へ伝達する伝達機構を備えた搬送装置が提供される。
この第1の観点に係る搬送装置では、動力源で発生した駆動力を流体を介して支持部に伝達するようにしたので、動力源からの熱は該流体によって断熱され、該熱の支持部への伝達が少なくなる。従って、支持部の温度を低く抑制することができ、基板が該支持部によって支持された際に該基板に生じる温度勾配を小さくすることができる。
本発明の第2の観点によると、基板を所定温度に温調する温調部から温調された基板を搬出する搬送装置であって、前記温調された基板を接触支持する支持部と、前記基板を接触支持した前記支持部を駆動するための駆動力を発生する動力源とを備え、前記支持部は前記基板の中心から離間した該基板上の所定領域に接触して該基板を接触支持する環状部を有する搬送装置が提供される。
この第2の観点に係る搬送装置では、支持部は基板の中心から離間した該基板上の所定領域に接触して該基板を接触支持する環状部を有しており、該環状部は基板の中心から離間した該基板上の所定の領域に接触して該基板を接触支持できるため、該環状部の基板に対する接触部分の面積を小さくしても、該基板を安定に支持することが可能である。このように、環状部と基板の接触面積を小さくできるので、基板への該環状部を介した熱の伝達が少なくなり、基板が該環状部によって支持された際に該基板に生じる温度勾配を小さくすることができる。
本発明の第3の観点によると、基板を所定温度に温調する温調部から温調された基板を搬出する搬送装置であって、前記温調された基板を接触支持する支持部と、前記基板を接触支持した前記支持部を駆動するための駆動力を発生する動力源とを備え、前記動力源は前記支持部を昇降させる昇降駆動手段、及び該支持部を回転させる回転駆動手段を有し、前記回転駆動手段の駆動軸は、前記支持部を前記昇降駆動手段による昇降方向にスライド可能に保持しており、前記昇降駆動手段の駆動軸は、前記支持部の回転の支障となることなく該支持部の一部に係合している搬送装置が提供される。
一般に、回転駆動手段と昇降駆動手段とによって支持部を回転及び昇降させる場合には、支持部にその駆動軸が取り付けられた回転駆動手段を昇降駆動手段の駆動軸に支持して、支持部を回転駆動手段とともに昇降させるか、あるいは支持部にその駆動軸が取り付けられた昇降駆動手段を回転駆動手段の駆動軸に支持して、支持部を昇降駆動手段とともに回転させる構成がとられている。しかし、この構成では、昇降駆動手段により支持部及び回転駆動手段を全体として昇降させ、又は回転駆動手段により支持部及び昇降駆動手段を全体として回転させる必要があるので、支持部を単独で回転又は昇降させるものと比較して、それだけ出力の大きいものを用いる必要があり、発熱量も増大することになる。
これに対し、本発明の第3の観点に係る搬送装置では、回転駆動手段の駆動軸は、支持部を昇降駆動手段による昇降方向にスライド可能に保持しており、昇降駆動手段の駆動軸は、支持部の回転の支障となることなく該支持部の一部に係合しているため、回転駆動手段を昇降させ、あるいは昇降駆動手段を回転させる必要がなく、それぞれ独立に支持部を回転又は昇降させることができる。従って、回転駆動手段及び昇降駆動手段として、それぞれ支持部(及びこれに付随する構造部)のみを回転又は昇降させる程度の出力のものを用いることができ、その発熱量自体を少なくすることができるため、支持部への熱の伝達を少なくすることが可能である。
本発明の第4の観点によると、基板を露光する露光装置であって、本発明の第1の観点、第2の観点又は第3の観点に係る搬送装置を含み、前記温調部で温調され前記搬送装置で搬出された基板を露光するようにした露光装置が提供される。この第4の観点に係る露光装置は、本発明の第1の観点、第2の観点又は第3の観点に係る搬送装置を含むため、基板に温度勾配が生じることが少なく、パターンの重ね合わせ等の露光精度を向上することができる。
本発明の第5の観点によると、本発明の第4の観点に係る露光装置を用いて基板を露光することと、露光された前記基板を現像することとを含むデバイス製造方法が提供される。この第5の観点に係るデバイス製造方法では、本発明の第4の観点に係る露光装置を用いて基板を露光するようにしたので、高い露光精度で基板を露光することができ、従って、高品質、高性能、高信頼なデバイスを製造することができる。
本発明によれば、温調後の基板を搬出する際に、基板に温度勾配を生じさせることを抑制することができるという効果がある。また、重ね合わせ精度等の露光精度を向上することができるという効果がある。さらに、高品質、高性能、高信頼なデバイスを製造することができるようになるという効果がある。
[第1実施形態]
以下、図面を参照して本発明の第1実施形態に係る露光システムについて説明する。この露光システムは、露光処理を行う露光装置(露光本体部)及び該露光装置に対するウエハの搬出入を行うウエハローダ等を備えて構成されている。
以下、図面を参照して本発明の第1実施形態に係る露光システムについて説明する。この露光システムは、露光処理を行う露光装置(露光本体部)及び該露光装置に対するウエハの搬出入を行うウエハローダ等を備えて構成されている。
(露光装置)
露光装置の全体構成の概略が図1に示されている。この露光装置EXは、いわゆる液浸型の露光装置であると共に、投影光学系PLに対してレチクルステージRSTとウエハステージWSTとを同期移動させつつ、レチクルRに形成されたパターンの像をウエハW上のショット領域に逐次転写するステップ・アンド・スキャン方式の露光装置である。照明光学系ILは、ArFエキシマレーザ光源(波長193nm)等の光源から射出されるレーザ光の断面形状をスキャン方向(X方向)に直交する方向(Y方向)に伸びるスリット状に整形すると共に、その照度分布を均一化して照明光ELとして射出する。
露光装置の全体構成の概略が図1に示されている。この露光装置EXは、いわゆる液浸型の露光装置であると共に、投影光学系PLに対してレチクルステージRSTとウエハステージWSTとを同期移動させつつ、レチクルRに形成されたパターンの像をウエハW上のショット領域に逐次転写するステップ・アンド・スキャン方式の露光装置である。照明光学系ILは、ArFエキシマレーザ光源(波長193nm)等の光源から射出されるレーザ光の断面形状をスキャン方向(X方向)に直交する方向(Y方向)に伸びるスリット状に整形すると共に、その照度分布を均一化して照明光ELとして射出する。
なお、本実施形態では、光源としてArFエキシマレーザ光源を備えているものとするが、これ以外にg線(波長436nm)、i線(波長365nm)を射出する超高圧水銀ランプ、又はKrFエキシマレーザ(波長248nm)、F2レーザ(波長157nm)、その他の光源を用いることができる。
レチクルRは、レチクルステージRST上に吸着保持されており、レチクルステージRSTの位置は、干渉計システムIFRからのレーザビームの移動鏡MRrでの反射光を検出することにより行われる。レチクルRの位置決めは、レチクルステージRSTを光軸AXと垂直なXY平面内で並進移動させると共に、XY平面内で微小回転させるレチクル駆動装置(不図示)によって行われる。このレチクル駆動装置は、レチクルRのパターンの像をウエハW上に転写する際には、レチクルステージRSTを一定速度で所定のスキャン方向(X軸方向)に走査する。
レンズ等の複数の光学素子を有する投影光学系PLの下方には、ウエハWを載置してXY平面に沿って2次元移動するウエハステージWSTが設けられている。ウエハステージWST上には、ウエハホルダ(不図示)を有するウエハテーブルWTBが設けられている。ウエハステージWSTのXY平面内での移動座標位置とヨーイングによる微小回転量とは、ウエハ用干渉計システムIFWによって計測される。
この干渉計システムIFWは、レーザ光源(不図示)からの測長用のレーザビームをウエハステージWSTのウエハテーブルWTBに固定された移動鏡MRwに照射し、その反射光と所定の参照光とを干渉させてウエハステージWSTの座標位置と微小回転量(ヨーイング量)とを計測する。投影光学系PLの側方には、ウエハWに形成されたウエハマーク(アライメントマーク)の位置情報を計測するための、オフ・アクシス型のアライメントセンサALGが設けられている。アライメントセンサALGとしては、FIA(Field Image Alignment)系のセンサを用いることができる。
この露光装置EXは、液浸型であるため、投影光学系PLの像面側(ウエハW側)の先端部近傍には、液浸機構を構成する液体供給ノズルSUNと、これと対向するように液体回収ノズルRENとが設けられている。液体供給ノズルSUNは、不図示の液体供給装置に供給管を介して接続されており、液体回収ノズルRENには、不図示の液体回収装置に接続された回収管が接続されている。液体としては、一例として、ArFエキシマレーザ光(波長193nm)が透過する超純水が用いられる。
ArFエキシマレーザ光に対する水の屈折率nは、ほぼ1.44である。この水の中では、照明光(露光光)ELの波長は、193nm×1/n=約134nmに短波長化される。制御装置CNTが、液体供給装置及び液体回収装置を適宜に制御して、液体供給ノズルSUNから液体(純水)を供給すると共に、液体回収ノズルRENから液体を回収することにより、投影光学系PLとウエハWとの間に、一定量の液体Lqが保持される。この液体Lqは常に入れ替わっている。
上述したレチクルステージRST、投影光学系PL、アライメントセンサALG等は、本体コラムMCLに支持されている。本体コラムMCLは、例えば半導体工場の床面に配置されたフレームキャスタFC上に複数の能動型防振台AVSを介して支持されている。上述したウエハステージWSTは、本体コラムMCLに複数の支柱SCLを介して一体的に設けられたウエハベースWBS上に支持されている。
(ウエハローダ)
図2は、本発明の実施形態に係るウエハローダの構成を示す平面図である。このウエハローダWLは、所定のフープ位置P1に搬入されたウエハキャリア(ウエハカセット)WC又は露光装置の前の処理工程であるレジスト塗布処理を行うレジスト塗布装置(コータ)若しくは後の処理工程である現像処理を行う現像装置(デベロッパ)に対する搬出入位置P2と、露光装置EXのウエハステージWSTに対する所定の受渡位置P4との間で、搬送対象としてのウエハ(基板)Wを搬送する装置である。
図2は、本発明の実施形態に係るウエハローダの構成を示す平面図である。このウエハローダWLは、所定のフープ位置P1に搬入されたウエハキャリア(ウエハカセット)WC又は露光装置の前の処理工程であるレジスト塗布処理を行うレジスト塗布装置(コータ)若しくは後の処理工程である現像処理を行う現像装置(デベロッパ)に対する搬出入位置P2と、露光装置EXのウエハステージWSTに対する所定の受渡位置P4との間で、搬送対象としてのウエハ(基板)Wを搬送する装置である。
ウエハローダWLは、不図示のウエハローダチャンバ内に収容されており、ウエハローダベースWLB上に、搬出入テーブルユニット110、ロードロボット120、クーリングユニット130、ロードスライダ140、アンロードスライダ150、アンロードロボット160、及び必要に応じて位置P6に設けられる水除去ユニット(不図示)を配置して構成されている。クーリングユニット130にはプリアライメント部が併設されている。ウエハローダチャンバ内には、露光装置EXに付属する空調装置からダクトを介して所定温度に温調された気体(ここでは、空気)がダウンフロー供給されている。
搬出入テーブルユニット(インラインテーブル)110は、詳細図示は省略されているが、ウエハWがそれぞれ載置される上下に2段のテーブル111を有しており、上段は図外のレジスト塗布装置から送られるウエハWを受け取るためのテーブルであり、下段は図外の現像装置に対してウエハWを受け渡すためのテーブルである。ロードロボット120は、ロボットベース121にその一端側が回動可能に取り付けられた第1アーム122、第1アーム122の他端側にその一端側が回動可能に取り付けられた第2アーム123、及び第2アーム123の他端側にその基端部側が回動可能に取り付けられたハンド部124を備えて構成されたスカラー型の多関節ロボットである。
ロボットベース121は、Z軸ユニット127によりZ軸方向(上下方向)にスライド可能に支持されており、Z軸ユニット127が備えるサーボモータ及びリニアエンコーダ等からなる駆動部により、Z軸方向の所定範囲の任意の位置に位置決めできるようになっている。ロボットベース121、第1アーム122、第2アーム123、及びハンド部124のそれぞれの連結部分には、サーボモータ及びロータリーエンコーダ等からなる駆動部が設けられており、これらを制御することにより、ハンド部124を任意の位置に任意の姿勢で位置決めできるようになっている。ハンド部124は、その先端側に一対の指部125a,125bを有しており、各指部125a,125bの先端部近傍には、ウエハWを真空吸着するための負圧を供給する吸着溝126a,126bが配置されている。
クーリングユニット130は、重ね合わせ精度(ウエハWのある層に形成されるパターンとその後に形成されるパターンとの重ね合わせ精度)を向上させるため、ウエハWを露光装置EXによる露光時の温度とほぼ同じ温度に冷却(温調)するためのユニットである。クーリングユニット130は、温調されたクールプレートCPを備え、このクールプレートCP上にウエハWを所定時間だけ載置することにより、ウエハWの全面を予め定められた所定の温度に温調する装置である。クーリングユニット130は、ロードロボット120から温調すべきウエハWを受け取り、温調後のウエハWを後述するスライダアーム143に受け渡すための搬出入装置(搬送装置)を備えている。
搬出入装置は、ロードロボット120により位置P3においてクールプレートCPから離間して上方に搬入されたウエハWを、センタテーブルCTを上昇させることにより受け取り、ロードロボット120の待避後にセンタテーブルCTを降下させて、ウエハWをクールプレートCPの上面に載置させる。クールプレートCPで温調されたウエハWは、センタテーブルCTが上昇されて、スライダアーム143に渡されるようになっている。
クーリングユニット130にはプリアライメント部が併設されており、プリアライメント部では、ウエハWを回転させつつ外形を検出してウエハWのノッチ又はオリフラ等の特徴部の方位をラフに計測するプリアライメント計測が実施される。プリアライメント部は、クーリングユニット130の上方に設けられた外形検出用のラインセンサ(CCD)等のセンサSを備えており、ウエハWを支持したセンタテーブルCTを回転させて、センサSの信号強度の変化から、ウエハWの特徴部の方位(所定の基準に対する回転ずれ量)を検出するものである。なお、搬出入装置及びプリアライメント部を含むクーリングユニット130の詳細構成については、後に詳述する。
ロードスライダ140は、ガイド141に沿ってスライド可能なスライダ142に取り付けられたスライダアーム(ロードスライダアーム)143を備えて構成され、スライダアーム143がクーリングユニット130が配置された位置P3と、ウエハステージWSTの露光装置EXに対する所定の受渡位置P4との間で往復移動されるようになっている。ロードスライダ140のスライダ142の駆動は、ガイド141に沿って不図示のリニアモータによって行われる。
スライダアーム143は、一対の指部145a,145bを有しており、各指部145a,145bには搬送するウエハWを真空吸着するための一対の吸着溝146a,146bが設けられている。アンロードスライダ150は、ガイド151に沿ってスライド可能なスライダ152に取り付けられたハンド部153を備えて構成される。ハンド部153は、左右非対称に配置された一対の指部155a,155bを有しており、各指部155a,155bには搬送するウエハWを真空吸着するための吸着ピン156a,156b,156cが設けられている。スライダ152は不図示のリニアモータ及びリニアエンコーダ等を有する駆動部により駆動され、ハンド部153が、ウエハステージWSTとの受渡位置P4と、アンロードロボット160のハンド部164との受渡位置P5との間で往復移動されるようになっている。
アンロードロボット160は、ロボットベース161にその一端側が回動可能に取り付けられた第1アーム162、第1アーム162の他端側にその一端側が回動可能に取り付けられた第2アーム163、及び第2アーム163の他端側にその基端部側が回動可能に取り付けられたハンド部164を備えて構成されたスカラー型の多関節ロボットである。ロボットベース161、第1アーム162、第2アーム163、及びハンド部164のそれぞれの連結部分には、サーボモータ及びロータリーエンコーダ等からなる駆動部が設けられており、これらを制御することにより、ハンド部164を任意の位置に任意の姿勢で位置決めできるようになっている。ハンド部164は、その先端側に一対の指部165a,165bを有しており、各指部165a,165bの先端部近傍には、ウエハWを真空吸着するための負圧を供給する吸着溝166a,166bが配置されている。
次に、このウエハローダWLにおけるウエハWの搬送動作について説明する。フープ(FOUP)位置P1に搬入されたウエハキャリアWC内に収納されたウエハWを処理する場合には、ウエハキャリアWC内のウエハWが、ロードロボット120により取り出され、クーリングユニット130が設置された位置P3まで搬送され、センタテーブルCTが上昇されることによって、センタテーブルCT上に渡される。また、レジスト塗布装置からインラインで搬入されるウエハWを処理する場合には、レジスト塗布装置の搬送装置によりウエハWが上段テーブル111上に載置されており、このウエハWはロードロボット120により取り出され、同様にクーリングユニット130のセンタテーブルCT上に渡される。
次いで、クーリングユニット130に併設されているプリアライメント部によるプリアライメントが行われる。まず、センタテーブルCTが回転駆動され、センサSによりウエハWの特徴部(ノッチ又はオリフラ)が検出される。センサSによる検出値(所定の基準に対する回転ずれ量)に基づいて、センタテーブルCTを回転させて、当該回転ずれ量を相殺するように回転させた位置で停止することにより、ウエハWの姿勢が所定の基準に整合される。なお、ウエハWの中心位置の所定の基準に対するシフト量をも補正する場合には、一旦ロードロボット120に渡して、ロードロボット120のハンド部124の位置を補正することにより解消する。プリアライメントが終了したウエハWは、センタテーブルCTが降下されることにより、クールプレートCP上に渡され、所定の時間だけクールプレートCP上に載置されることにより、その温度が全面に渡って一様に所定温度となるように調整される。
ウエハWの冷却が終了したならば、−Y軸方向側の所定の待機位置にロードスライダ140のスライダアーム143が予め待機している状態で、センタテーブルCTが上昇された後に、該スライダアーム143が所定の受渡位置まで前進(+Y軸方向に移動)されて停止される。その後、センタテーブルCTが降下されることにより、温調(冷却)されたウエハWがスライダアーム143に渡される。次いで、ロードスライダ140により、+Y軸方向に搬送されて、ウエハステージWSTとの受渡位置P4まで搬送される。
受渡位置P4において、ウエハステージWSTのセンタテーブルCT1が上昇され、ウエハWが、センタテーブルCT1に渡される。次いで、ロードスライダ140が待避され、センタテーブルCT1が降下されることにより、ウエハWがウエハステージWST上に移載される。ウエハステージWST上において、ウエハWはウエハホルダに吸着保持され、ウエハステージWSTにより所定の露光位置に搬送されて、アライメントセンサALGによるウエハW上のマークを計測するサーチアライメント及びファインアライメントが実施された後に、露光装置EXによりレチクルRのパターンの像がウエハW上に露光転写される。ウエハWに対する露光処理が終了したならば、ウエハステージWSTが移動されて、受渡位置P4に再度位置される。
露光処理が終了したウエハWはセンタテーブルCT1を介してアンロードスライダ150のアンロードアーム153に渡される。次いで、ウエハWはアンロードスライダ150により、アンロードロボット160との受渡位置P5まで搬送され、アンロードロボット160のハンド部164に渡される。アンロードロボット160のハンド部164に渡されたウエハWは、位置P6まで搬送され、位置P6に除水ユニットが設けられている場合には、ウエハW上の水分が取り除かれた後に、ロードロボット120のハンド部124に渡され、ロードロボット120により、フープ位置P1に設置されたウエハキャリアWC内まで、又は位置P2の搬出入テーブルユニット110の現像装置に対して搬出するための下段テーブル111まで搬送される。
(クーリングユニット)
次に、本発明の第1実施形態に係る搬出入装置(搬送装置)及びプリアライメント部を含むクーリングユニット(130)について、図3〜図6を参照して説明する。図3は本発明の第1実施形態に係るセンタテーブルが降下した状態におけるクーリングユニットの要部を示す側断面図であり、図4は同じくセンタテーブルが上昇した状態を示している。図5は同じく流体継ぎ手の要部を示す側面図であり、図6は同じく流体継ぎ手の要部を示す平面図である。
次に、本発明の第1実施形態に係る搬出入装置(搬送装置)及びプリアライメント部を含むクーリングユニット(130)について、図3〜図6を参照して説明する。図3は本発明の第1実施形態に係るセンタテーブルが降下した状態におけるクーリングユニットの要部を示す側断面図であり、図4は同じくセンタテーブルが上昇した状態を示している。図5は同じく流体継ぎ手の要部を示す側面図であり、図6は同じく流体継ぎ手の要部を示す平面図である。
図3及び図4において、載置されるウエハWを冷却する温調部としてのクールプレートCPは、その内部に温調流体としての冷媒(例えば、HFE:ハイドロフルオロエーテル)を流通させるための流路201bを有しており、流路201bはクールプレートCPの内部を網羅するように、ジグザグに且つ一筆に配管されている。
流路201bの流入端には、温調流体を供給する流体供給部202aにその一端が接続された管路201aの他端が接続されており、流路201bの流出端には、管路201cの一端が接続されている。管路201cの他端は後述する流体継ぎ手204を構成する収容部204aの流入端に接続されており、収容部204aの流出端に管路201dの一端が接続されている。管路201dの他端は、流体を回収する流体回収部202bに接続されている。管路201cの一部又は全部及び管路201dの一部又は全部は、柔軟性を有するフレキシブルチューブから構成されている。
なお、クールプレートCPの内部の流路201bは必ずしも一筆に配管される必要はなく、管路201aを複数の分岐流路に分岐させて、クールプレートCP内の複数の分岐流路201bを流通させた後に結合して管路201cに接続するようにしてもよい。クールプレートCPは、一例として、その母材が高熱伝導率で且つ軽量であるアルミニウムから形成されたものを用い、該母材のウエハWが載置される上面(ウエハ接触面)にセラミックが溶射されて構成されている。
流体として、純水を用いる場合には、クールプレートCPとしては、ステンレス(SUS)あるいはセラミック等の水に対して耐蝕性の高い材料を用いて形成することが望ましい。但し、クールプレートCPをアルミニウムを用いて形成した場合であって、温調流体として純水を用いる場合には、クールプレートCP内部の流路201bの内面に、水に対して耐蝕性の高い金属材料等でメッキ加工を施せばよい。
クールプレートCP内を流通される流体は温度調節がなされた温調流体であり、その温度は、露光装置EXにおけるウエハWの露光時の雰囲気温度とほぼ一致する温度に設定される。なお、流通させる流体の温度は、ここでは、一定温度に設定するものとするが、載置されるウエハWの温度を検出して、動的に変更制御するようにしてもよい。
クーリングユニット130は、ウエハWをクールプレートCP上に搬入し、又はクールプレートCPから搬出するための搬出入装置を備えている。搬出入装置は、温調される又は温調されたウエハWを接触支持する支持部としてのセンタテーブルCTと、センタテーブルCTを駆動するための駆動力を発生する動力源としての駆動部205と、駆動部205で発生した駆動力をセンタテーブルCTへ伝達するための伝達経路上に配置された流体継ぎ手204とを概略備えて構成されている。センタテーブルCTは、ウエハWを保持してZ軸方向に昇降可能であるとともに、Z軸に実質的に平行な軸回りに回転可能に構成されている。
流体継ぎ手204は、流体を収容する収容部204aを備え、収容部204aは、その中に収容した流体を介して駆動部205で発生した駆動力をセンタテーブルCTへ伝達する伝達機構である。
流体継ぎ手204は、第1流体力伝達部材204bと、これと所定の間隙をもって対向して配置された第2流体力伝達部材204cとを備えている。第1流体力伝達部材204b及び第2流体力伝達部材204cの互いの対向面には、図5及び図6に示されているように、それぞれ放射状羽根車204d,204eが取り付けられている。第1流体力伝達部材204bの放射状羽根車204dが設けられた面と反対側の面(上面)には、センタテーブルCTに固定された軸207が一体的に取り付けられている。第2流体力伝達部材204cの放射状羽根車204eが設けられた面と反対側の面(下面)には、駆動部205の軸206が固定されている。
第1及び第2流体力伝達部材204b,204cの放射状羽根車204d,204eは、一例として、図5及び図6に示されているように、複数(ここでは、8枚)の短冊状の羽根を放射状に均等角度で配置して構成されている。但し、これらの放射状羽根車204d,204eは、このような構成のものに限られず、流体に動力を伝達し、又は流体から動力を伝達されるのに適した曲面等を有する羽根を用いてもよい。
駆動部205は軸206をZ軸方向に進退させるZ軸駆動部及び軸206をZ軸回りに回転させる回転駆動部とから構成されている。一例として、図示は省略しているが、Z軸駆動部は、センタテーブルCTを上下動させるためのステッピングモータや偏芯カムを有するカム機構等を備えて構成され、回転駆動部は、センタテーブルCTを回転させるためのステッピングモータやギア等を備えて構成されている。
駆動部205のZ軸駆動部によって、図4に示されているように、軸206が上昇されると、流体継ぎ手204、軸207、及びセンタテーブルCTが一体として上昇する。なお、このとき、管路201c、201dは柔軟性を有しているため、駆動部205のZ軸駆動部による上下動(昇降)の支障となることはない。また、流体継ぎ手204の収容部204aは上下動は可能となっているが、回転はしないように支持されている。
駆動部205のZ軸駆動部によって、センタテーブルCTが上昇されて、所定の計測位置にあるときに、駆動部205の回転駆動部を作動させることにより、軸206が所定の方向に回転されて、軸206に取り付けられた第2流体力伝達部材204cが回転すると、第2流体力伝達部材204cの放射状羽根車204eによって、収容部204a内の流体がこれに伴い渦状に流動し、第1流体力伝達部材204bの放射状羽根車204dに該流体の流動による力が作用して、第1流体力伝達部材204bが追従的に回転し、軸207を介してセンタテーブルCTが回転される。
また、この搬出入装置は、センタテーブルCTの回転位置を検出する光学的センサを備えるロータリーエンコーダ(不図示)、及びこのロータリーエンコーダの検出位置に基づいて、センタテーブルCTを所望の回転位置で停止させるためのブレーキ装置(不図示)を備えている。ブレーキ装置としては、例えば、収容部204a内において、軸207に選択的にブレーキパッドを圧接させて停止させるものを用いることができる。ブレーキの作動により摩擦熱が生じるが、ブレーキ装置を収容部204a内に設けることにより、収容部204a内には冷媒が流通されているため、センタテーブルCTに対するその熱による影響を殆ど無くすことができる。
なお、軸207をセンタテーブルCTに接続された上部軸と放射状羽根車204bに接続された下部軸とに分割し、これらの間に減速機を介装して、下部軸の回転数Nに対して上部軸の回転数を1/Nに減速することにより、位置決めの精度を向上するようにするとよい。ここで、減速比はセンタテーブルCTの回転位置に関する、必要とする位置決めの精度に応じて設定される。
クーリングユニット130の上方には、ウエハWの外形を検出するためのラインセンサ等からなるセンサSが配置されており、センタテーブルCTの回転によるウエハWの回転に伴う検出信号の変化に基づいて、ウエハWに形成されているノッチ又はオリフラ等の特徴部の方位(所定の基準に対する回転ずれ量)を検出することができる。この回転ずれ量を相殺するように、即ち、ウエハWの特徴部が所定の基準(所定の方位)に一致するように、センタテーブルCTが回転されることにより、ウエハWの方位(姿勢)を所定の基準に比較的にラフに位置合わせする姿勢補正が実施される。
なお、ウエハWの姿勢補正は、センタテーブルCTを回転させて行うのではなく、ウエハWをセンタテーブルCTから一旦ロードロボット120に受け渡し、ロードロボット120を制御して、ウエハWを当該回転ずれ量を相殺するように回転させた後に、再度センタテーブルCTに受け渡すことにより行うようにしてもよい。
上述した第1実施形態によると、駆動部205による駆動力は、伝達機構としての流体継ぎ手204を介してセンタテーブルCTに伝達される。即ち、センタテーブルCTと駆動部205とは、流体継ぎ手204の収容部204a内の流体を介して接続されているため、駆動部205からの熱は当該流体の介在によって断熱されて、センタテーブルCTに伝達されずらくなり、センタテーブルCTの温度が上昇することが抑制される。従って、クールプレートCPによって温調されたウエハWを搬出する際に、センタテーブルCTがウエハWの裏面に当接することによって、ウエハWに温度勾配が生じてしまうことが抑制される。
また、流体供給部202aからの温調された流体は、クールプレートCP内の流路201bを流通してクールプレートCPを所定の温度に温調した後、管路201cを介して流体継ぎ手204の収容部204aに供給され、収容部204a内を流通して管路201dを介して流体回収部202bによって回収される。従って、流体継ぎ手204の収容部204a内に配置されている第1及び第2流体力伝達部材204b、204cは、温調された流体により温調されるため、これらに取り付けられているセンタテーブルCT(軸207)及び駆動部205の軸206が冷却されるので、ウエハWに生じる温度勾配をさらに少なくすることが可能である。
なお、上述した第1実施形態では、クールプレートCP内を流通された後の流体を流体継ぎ手204の収容部204aに導入するようにしている。クールプレートCPに流通させるよりも前に収容部204aを流通させ、あるいはクールプレートCPの流路201bの途中で収容部204aに流通させてクールプレートCPの流路201bに戻す構成でもよいが、駆動部205からの軸206を介した熱による収容部204a内の流体の温度上昇により、クールプレートCPを均一に且つ十分に温調できない可能性が考えられるため、このような構成とした方がウエハWに温度勾配を生じさせないという点において効果的である。
但し、流体継ぎ手204内の流体によって、駆動部205からのセンタテーブルCTへの熱の伝達が抑制されるため、クールプレートCPに流通させるよりも前に収容部を流通させ、あるいはクールプレートCPの流路201bの途中で収容部204aに流通させてクールプレートCPの流路201bに戻す構成としても、ある程度の効果は期待できるので、そのような構成としてもよい。
また、上述した第1実施形態では、クールプレートCPを温調する流体を流体継ぎ手204にも供給するようにしたが、クールプレートCPを温調する流体の流通系(流体供給部202a、流体回収部202b、及び管路)とは別に流体継ぎ手204を温調する流体の流通系(流体供給部、流体回収部、及び管路)を別途設けてもよい。これらを別々に温調することによって、さらにウエハWの温度勾配を少なくすることができる。
さらに、上述した第1実施形態では、クールプレートCPの温調の観点から流体として、ハイドロフルオロエーテル又は純水を例示したが、ハイドロフルオロエーテルの動粘度は、0.38〜1.1(cSt,25℃)であり、純水の動粘度は、1.004(cSt,20℃)であるから、流体継ぎ手204の作動流体としては動粘度が小さい場合には、流体継ぎ手204の作動流体としての観点からは、エンジンの潤滑及び冷却に用いられるエンジンオイルの動粘度は100〜300(cSt,25℃)であるので、このようなエンジンオイルを流体(温調流体及び作動流体)として用いることができる。
[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態について、図7〜図10を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第2実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。
次に、本発明の第2実施形態について、図7〜図10を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第2実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。
図7は本発明の第2実施形態に係るセンタテーブルが降下した状態におけるクーリングユニットの要部を示す側断面図であり、図8は同じくセンタテーブルが上昇した状態を示している。図9は同じく回転駆動部の要部を示す側面から見た断面図であり、図10は同じく回転駆動部の底面から見た断面図である。
図7及び図8において、載置されるウエハWを冷却する温調部としてのクールプレートCPは、その内部に温調された流体としての冷媒(例えば、ハイドロフルオロエーテル又は純水)を流通させるための流路211bを有している。この流路211bは上述した第1実施形態の流路201bと実質的に同一である。流路211bの流入端には、温調された流体を供給する第1流体供給部212aにその一端が接続された管路211aの他端が接続されており、流路211bの流出端には、管路211cの一端が接続されている。管路211cの他端は、流体を回収する第1流体回収部212bに接続されている。
クーリングユニット130が備える搬出入装置(搬送装置)は、温調される又は温調されたウエハWを接触支持する支持部としてのセンタテーブルCTと、センタテーブルCTを昇降するためのZ軸方向の駆動力を発生する動力源としてのZ軸駆動部215、センタテーブルCTを回転するためのZ軸回りに駆動力を発生する動力源としての回転駆動部214を備えて構成されている。センタテーブルCTは、ウエハWを保持してZ軸方向に昇降可能であるとともに、当該Z軸に実質的に平行な軸回りに回転可能に構成されている。回転駆動部215は、第2流体供給部212c、管路211d、収容部214a、流体力伝達部材214b、管路211e、及び第2流体回収部212d等を備えて構成されている。
流体力伝達部材214bの下面には、図9及び図10に示されているように、放射状羽根車214cが取り付けられている。流体力伝達部材214bの放射状羽根車214cが取り付けられた面と反対側の面(上面)には、センタテーブルCTに固定された軸217が固定されている。収容部214aの下面には、Z軸駆動部215の軸216が固定されている。
流体力伝達部材214bの放射状羽根車214cは、一例として、図9及び図10に示されているように、複数(ここでは、8枚)の短冊状の羽根を放射状に均等角度で配置して構成されている。但し、この放射状羽根車214cは、このような構成のものに限られず、流体から動力を伝達されるのに適した曲面等を有する羽根を用いてもよい。管路211dの一部又は全部及び管路211eの一部又は全部は、柔軟性を有するフレキシブルチューブから構成されている。
第2流体供給部212cから管路211dを介して供給される流体は、収容部214a内に流入され、放射状羽根車214cに当たることにより、放射状羽根車214cが所定方向(図10において、時計方向)に回転され、これに連結された軸217を介してセンタテーブルCTが回転する。収容部214aの内部で放射状羽根車214cを回転させた流体は管路211eを介して第2流体回収部212dに回収される。第2流体供給部212cは、回転駆動部214に供給する流体の流量を制御することによって、センタテーブルCTの回転速度及び回転量を制御する。
第2流体供給部212cが供給する流体は、所定温度(例えば、第1流体供給部212aが供給する流体と同じ温度)に温調された流体である。但し、Z軸駆動部215から軸216を介して収容部214aに伝達される熱量との関係で、センタテーブルCTの温度がクールプレートCPの温度と略同一となるように、第2流体供給部212cから供給する流体の温度を、第1流体供給部212aが供給する流体の温度と異なる温度(例えば、より低い温度)に設定してもよい。第2流体供給部212cが供給する流体としては、ハイドロフルオロエーテル、純水、又はエンジンオイル等を例示でき、第1流体供給部202aと同一の流体でも、異なる流体でもよい。
Z軸駆動部215は、伝達機構としての回転駆動部214を介してセンタテーブルCTを上下動させるためのステッピングモータや偏芯カムを有するカム機構等を備えて構成されている。Z軸駆動部215によって、図8に示されているように、軸216が上昇されると、回転駆動部214の収容部214a、軸217、及びセンタテーブルCTが一体として上昇する。なお、管路211d,211eは柔軟性を有しているため、Z軸駆動部215による上下動の支障となることはない。
また、回転駆動部214の収容部214aはZ軸方向への昇降移動は可能となっているが、回転はしないように支持されている。Z軸駆動部215によって、センタテーブルCTが上昇された状態で、回転駆動部214の第2流体供給部212cから流体が供給されることによって、流体力伝達部材214bの放射状羽根車214cが回転駆動され、流体力伝達部材214bが回転し、軸217を介してセンタテーブルCTが回転される。
また、この搬出入装置は、センタテーブルCTの回転位置を検出する光学的センサを備えるロータリーエンコーダ(不図示)、及びこのロータリーエンコーダの検出位置に基づいて、センタテーブルCTを所望の回転位置で停止させるためのブレーキ装置(不図示)を備えている。ブレーキ装置としては、例えば、収容部214a内において、軸217に選択的にブレーキパッドを圧接させて停止させるものを用いることができる。ブレーキの作動により摩擦熱が生じるが、ブレーキ装置を収容部214a内に設けることにより、収容部214a内には冷媒が流通されているため、センタテーブルCTに対するその熱による影響を殆ど無くすことができる。
なお、軸217をセンタテーブルCTに接続された上部軸と放射状羽根車214bに接続された下部軸とに分割し、これらの間に減速機を介装して、下部軸の回転数Nに対して上部軸の回転数を1/Nに減速することにより、位置決めの精度を向上するようにするとよい。ここで、減速比はセンタテーブルCTの回転位置に関する、必要とする位置決めの精度に応じて設定される。なお、ロータリーエンコーダの検出結果に基づいて、第2流体供給部212cによる冷媒の流量制御のみによってセンタテーブルCTの回転位置の制御が可能であるならば、このようなブレーキ装置は設けなくてもよい。
このようなブレーキ装置に代えて、又はこのようなブレーキ装置と併用して、図示は省略するが、収容部214a内の放射状羽根車214bを逆回転させるように冷媒を供給する第3流体供給部及び第3流体回収部を別途設けて、ロータリーエンコーダの検出結果に基づいて、第2流体供給部212cによる冷媒の流量と、第3流体供給部による冷媒の流量とを独立に制御することにより、センタテーブルCTの回転位置の制御を行うようにしてもよい。
クーリングユニット130の上方に配置された、ウエハWの外形を検出するためのラインセンサ等からなるセンサSによって、ウエハWに形成されているウエハWの特徴部の方位(所定の基準に対する回転ずれ量)を検出し、その検出結果に基づいて、ウエハWの方位(姿勢)を所定の基準に比較的にラフに位置合わせする姿勢補正を実施するのは、上述した第1実施形態と同様である。
上述した第2実施形態によると、Z軸駆動部215によるZ軸方向の駆動力は、回転駆動部214の収容部214aを介してセンタテーブルCTに伝達される。即ち、センタテーブルCTとZ軸駆動部215とは、回転駆動部214の収容部214a内の流体を介して連結されているため、該収容部214a内の流体による断熱効果によって、Z軸駆動部215からの熱はセンタテーブルCTに伝達されずらくなり、センタテーブルCTの温度が上昇することが抑制される。従って、クールプレートCPによって温調されたウエハWを搬出する際に、センタテーブルCTがウエハWの裏面に当接することによって、ウエハWに温度勾配が生じてしまうことを抑制することができる。
また、回転駆動部214は、流体によってセンタテーブルCTを回転駆動するため、回転駆動部214による熱の発生は殆どなく、Z軸駆動部215及び回転駆動部214全体としての発生する熱量も例えば上述した第1実施形態と比較して少なくすることができる。さらに、回転駆動部214の収容部214aに供給される流体は、温調された流体であるから、収容部214a内に配置されている流体力伝達部材214bは、温調された流体により温調されるため、これに軸217を介して連結されているセンタテーブルCTが冷却されるので、ウエハWに生じる温度勾配をさらに少なくすることが可能である。
[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態について、図11〜図14を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第3実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1又は第2実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。
次に、本発明の第3実施形態について、図11〜図14を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第3実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1又は第2実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。
図11は本発明の第3実施形態に係るセンタテーブルが降下した状態におけるクーリングユニットの要部を示す側断面図であり、図12は同じくセンタテーブルが上昇した状態を示している。図13は本発明の第3実施形態に係るセンサの配置を示す平面図であり、図14は同じくセンサの他の配置を示す平面図である。
図11及び図12において、載置されるウエハWを冷却する温調部としてのクールプレートCPは、第1クールプレートCPa及び第2クールプレートCPbから構成されている。第1クールプレートCPaは中央部に貫通部228を有する円環状の板状の部材であり、第2クールプレートCPbは、第1クールプレートCPaの貫通部228に所定の間隙を持って挿入配置された円板状の部材から構成されている。
従って、第1クールプレートCPaの貫通部228の内壁と第2クールプレートCPbの外壁とによって、円環状の溝が形成されている。第1クールプレートCPaは、その内部に温調された流体としての冷媒(例えば、ハイドロフルオロエーテル又は純水)を流通させるための流路221bを有している。また、第2クールプレートCPbは、その内部に温調された流体としての冷媒(例えば、ハイドロフルオロエーテル又は純水)を流通させるための流路221dを有している。
第1クールプレートCPaの流路221bの流入端には、温調された流体を供給する第1流体供給部222aにその一端が接続された管路221aの他端が接続されており、流路221bの流出端には、管路221cの一端が接続されている。管路221cの他端は、流体を回収する第1流体回収部222bに接続されている。第2クールプレートCPaの流路221dの流入端には、温調された流体を供給する第2流体供給部222cにその一端が接続された管路221eの他端が接続されており、流路221dの流出端には、管路221fの一端が接続されている。管路221fの他端は、流体を回収する第2流体回収部222dに接続されている。
第1流体供給部222aから供給される流体と、第2流体供給部222cから供給される流体とは、ここでは同じものを用いるものとするが、異なっていてもよい。また、第1流体供給部222aから供給される流体の温度と、第2流体供給部222cから供給される流体の温度とは、ここでは同じ温度に温調されているものとするが、異なっていてもよい。
クーリングユニット130が備える搬出入装置(搬送装置)は、温調される又は温調されたウエハWを接触支持する支持部としてのセンタテーブルCTと、センタテーブルCTを昇降するためのZ軸方向の駆動力を発生する動力源としてのZ軸駆動部225、センタテーブルCTを回転するためのZ軸回りの駆動力を発生する動力源としての回転駆動部224を概略備えて構成されている。
センタテーブルCTは、略円筒状に形成された筒状部材であり、第1クールプレートCPaと第2クールプレートCPbとの間の環状の溝を貫通して、Z軸方向に昇降できるようになっているとともに、当該Z軸方向に実質的に平行な軸回りに回転可能に構成されている。センタテーブルCTは、ウエハWの中心から離間した該ウエハW上の所定領域(環状領域)に接触して該ウエハWを接触支持する環状部(センタテーブルCTの環状の先端面)を有している。
センタテーブルCTは、ラジアル軸受226a、及びスラスト軸受226bを介して、略円筒状に形成された受け部材227にZ軸方向に昇降可能に、且つZ軸に平行な軸回りに回転自在に取り付けられている。受け部材227は、上面が開放され、下面に底板227aを有しており、底板227aの裏面には、Z軸駆動部226の軸229が固定されている。底板227aの中央部近傍には、貫通穴227bが設けられており、この貫通穴227bを管路221e,221fが貫通して配置されている。底板227aの上面には、回転駆動部224が取り付けられており、回転駆動部224の軸224aに取り付けられたギア224bがセンタテーブルCTの内面に設けられたギア(不図示)に噛み合っている。回転駆動部224としては、例えばステッピングモータが用いられる。
なお、ここでは、センタテーブルCTの内側に配置された回転駆動部224によって、軸224a、ギア224bを介してセンタテーブルCTの内側側面(内面)に形成されたギアを駆動してセンタテーブルCTを回転駆動するようにしたが、回転駆動部224等をセンタテーブルCTの外側に配置して、センタテーブルCTの外側側面(外面)に形成されたギアを介してセンタテーブルCTを回転駆動するようにしてもよい。
Z軸駆動部225は、受け部材227を介してセンタテーブルCTをZ軸方向に上下動させるためのステッピングモータや偏芯カムを有するカム機構等を備えて構成されている。Z軸駆動部225によって、図12に示されているように、軸229が上昇されると、受け部材227、及びセンタテーブルCTが一体として上昇する。なお、受け部材227はZ軸方向の昇降移動は可能となっているが、回転はしないように支持されている。
Z軸駆動部225によって、軸229が上昇された状態で、回転駆動部224が作動されることによって、センタテーブルCTが回転される。このとき、管路221e,221fは受け部材227の底板227aの貫通部227bを貫通して配置されているため、センタテーブルCTの回転の支障となることはない。
クーリングユニット130の上方に配置された、ウエハWの外形を検出するためのラインセンサ等からなるセンサSによって、ウエハWに形成されている特徴部の方位(所定の基準に対する回転ずれ量)を検出し、その検出結果に基づいて、ウエハWの方位(姿勢)を所定の基準に比較的にラフに位置合わせする姿勢補正を実施することは、上述した第1又は第2実施形態と同様である。但し、ここでは、第1又は第2実施形態のものを改良したものを用いている。なお、この改良された構成は、上述した第1又は第2実施形態に用いることも可能である。
即ち、この第3実施形態では、ウエハWの外形を検出するためのセンサ(例えば、ラインセンサ)を、図13に示されているように、ウエハWの外縁に対応する円周上に等間隔(同図では、12時と6時の位置)に2つ設け、センタテーブルの回転量を360°/2=180°としている。センサSが1つの場合にはウエハWの特徴部Fを検出するためには、1周、即ち360°の回転量が必要であるが、この第3実施形態のような配置でセンサSを2つ設けることによって、その回転量を半分、即ち180°とすることができ、回転量が少ない結果、回転駆動部224による熱の発生が少なくなるとともに、検出時間を早くすることができる。
センサSの数は上述のように、2つに限られるものではなく、図14に示されているように、ウエハWの外縁に対応する円周上に等間隔(同図では、12時、4時、8時の位置)に3つとしてもよい。この場合には、回転量は360°/3=120°となり、熱の発生をさらに少なくできるとともに、検出時間をさらに短縮することができる。センサSの数はさらに多く(3つ以上)としてもよく、この場合には、ウエハWの外縁に対応する円周上に等間隔にセンサSを設ける場合には、センサSの数をnとして、回転量は360/n[°]となる。なお、2つ以上のセンサSを設ける場合には、ウエハWの外縁の円周上に必ずしも等間隔で配置する必要はない。この場合には、ウエハWの外縁に対応して配置されたセンサSの配置又は個数に応じた回転量が設定される。具体的には、隣り合うセンサSとの離間角度が最も大きいものに対応する角度が回転量となる。
上述した第3実施形態によると、センタテーブルCTは筒状部材からなり、ウエハWはその中心からセンタテーブルCTの径に応じた環状の接触領域で支持されることになり、センタテーブルCTの側壁の肉厚を小さく(薄く)しても、ウエハWを安定的に支持することができるので、ウエハWとの接触面積を小さくすることが可能である。従って、センタテーブルCTからウエハWに伝達される熱を少なくすることができ、ウエハWに生じる温度勾配を小さくすることができる。
また、センタテーブルCTを筒状部材として、その内側にもクールプレート(第2クールプレートCPb)を設けたので、ウエハWのセンタテーブルCTの内側に対応する部分をも温調することができ、これによってもウエハWに生じる温度勾配を小さくすることができる。
[第4実施形態]
次に、本発明の第4実施形態について、図15〜図17を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第4実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1、第2又は第3実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。
次に、本発明の第4実施形態について、図15〜図17を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第4実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1、第2又は第3実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。
図15は本発明の第4実施形態に係るセンタテーブルが降下した状態におけるクーリングユニットの要部を示す側断面図であり、図16は同じくセンタテーブルが上昇した状態を示している。図17は同じく平面図である。なお、図15及び図16は、図17のA−A線に沿った断面である。
これらの図において、載置されるウエハWを冷却する温調部としてのクールプレートCPは、ウエハWよりも僅かに大きな径を有する円板状の部材から構成されている。図示は省略しているが、クールプレートCPの内部は、温調された流体としての冷媒(例えば、ハイドロフルオロエーテル又は純水)を流通させるための流路を有しており、流体供給部からの温調された流体が該流路の流入端に供給されるとともに、該流路の流出端から流体回収部に回収されるようになっている。クールプレートCPの円周上の3カ所には、等角度(120°)の間隔で切欠部231がそれぞれ形成されている。
クーリングユニット130が備える搬出入装置(搬送装置)は、温調される又は温調されたウエハWを接触支持する支持部としてのセンタテーブルCTと、センタテーブルCTをZ軸方向に昇降するための駆動力及びセンタテーブルCTを回転するための駆動力を発生する動力源としての駆動部235を概略備えて構成されている。
センタテーブルCTは、概略円板状に形成された支持板232の円周上の3カ所に、それぞれ支持ピン233を、等角度(120°)の間隔で立設配置して構成されている。支持ピン233の先端部近傍は略逆L字状に内側に曲げられて、ウエハWを接触支持する接触部233aとなっている。これらの接触部233aは、図15に示されているように、駆動部235によりセンタテーブルが降下された状態では、クールプレートCPに形成された切欠部231にそれぞれ位置するようになっている。
駆動部235は、センタテーブルCTを上下動させるためのステッピングモータや偏芯カムを有するカム機構等を備えたZ軸駆動部及びセンタテーブルCTを回転させるためのステッピングモータやギア等を有する回転駆動部から構成されている。センタテーブルCTの支持板232の裏面中央部には、駆動部235の軸236が固定されている。
駆動部235のZ軸駆動部によって、図16に示されているように、軸236が上昇されると、センタテーブルCTが上昇する。駆動部235のZ軸駆動部によって、軸226が上昇された状態で、駆動部235の回転駆動部が作動されることによって、センタテーブルCTが所定の方向に回転される。
クーリングユニット130の上方に配置された、ウエハWの外形を検出するためのラインセンサ等からなるセンサSによって、ウエハWに形成されている特徴部の方位(所定の基準に対する回転ずれ量)を検出し、その検出結果に基づいて、ウエハWの方位(姿勢)を所定の基準に比較的にラフに位置合わせする姿勢補正を実施することは、上述した第1又は第2実施形態と同様である。但し、上述した第3実施形態で説明したように、複数のセンサSを用いてウエハWの特徴部を検出するようにしたものを用いてもよい。
上述した第4実施形態によると、センタテーブルCTは、複数の支持ピン233を有しており、これらの支持ピン233によって、ウエハWの外周縁近傍が支持される。ウエハWの外周縁近傍は、通常は、1個のデバイスを形成するための領域が確保できない、あるいは精度のよいデバイス形成(露光処理)が行えない場合があるため、かかる外周縁近傍には、デバイスが形成されない領域である。この第4実施形態では、3本の支持ピン233によって、係るデバイスが形成されない外周縁近傍が支持されるため、支持ピン233からウエハWに熱が伝達されたとしても、デバイスの形成領域に与える影響を少なくすることが可能である。なお、支持ピン233の数は、3本に限られず、4本以上であってもよい。
[第5実施形態]
次に、本発明の第5実施形態について、図18〜図20を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第5実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1、第2、第3又は第4実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。図18は本発明の第5実施形態に係るセンタテーブルが降下した状態におけるクーリングユニットの要部を示す側断面図であり、図19は同じくセンタテーブルが上昇した状態を示している。図20は同じくボールスプラインの断面図である。
次に、本発明の第5実施形態について、図18〜図20を参照して説明する。図1及び図2に示した露光装置の構成、及びウエハローダの基本的な構成については、この第5実施形態でも同様であるので、その説明は省略し、異なる部分、即ち、クーリングユニットについて説明する。なお、上述した第1、第2、第3又は第4実施形態と実質的に同一の構成部分については同一の番号又は符号を付している。図18は本発明の第5実施形態に係るセンタテーブルが降下した状態におけるクーリングユニットの要部を示す側断面図であり、図19は同じくセンタテーブルが上昇した状態を示している。図20は同じくボールスプラインの断面図である。
図18及び図19において、載置されるウエハWを冷却する温調部としてのクールプレートCPは、ウエハWよりも僅かに大きな径を有する円板状の部材から構成されている。図示は省略しているが、クールプレートCPは、その内部に、温調された流体としての冷媒(例えば、ハイドロフルオロエーテル又は純水)を流通させるための流路を有しており、流体供給部からの温調された流体が該流路の流入端に供給されるとともに、該流路の流出端から流体回収部に回収されるようになっている。クールプレートCPの中心部には、センタテーブルCTが配置されるための円形の貫通穴241が形成されている。
クーリングユニット130が備える搬出入装置(搬送装置)は、温調される又は温調されたウエハWを接触支持する支持部としてのセンタテーブルCTと、センタテーブルCTをZ軸方向に昇降するための駆動力を発生する動力源としてのZ軸駆動部242、及びセンタテーブルCTを回転するための駆動力を発生する動力源としての回転駆動部243を概略備えて構成されている。センタテーブルCTは、クールプレートCPの貫通穴241よりも僅かに小さい径の円板状の部材から形成されている。
Z軸駆動部242は、センタテーブルCTを上下動させるためのステッピングモータや偏芯カムを有するカム機構等を備えて構成され、その駆動軸244を上下方向(Z軸方向)に沿って往復移動させる。また、回転駆動部243は、センタテーブルCTを回転させるためのステッピングモータやギア等を備えて構成されている。Z軸駆動部242及び回転駆動部243は、クーリングユニット130のフレームにそれぞれ固定して設けられている。なお、Z軸駆動部242及び回転駆動部243は、冷媒を循環させる冷却機構等により、冷却することが好ましい。
図中の符号BSはボールスプラインであり、ボールスプラインBSは、回転駆動部243によって回転駆動される外筒245、及び外筒245にスライド自在に保持されるスプライン軸246を概略備えて構成されている。スプライン軸246の表面には、図20に示されているように、その中心軸に沿う方向に複数(同図では2つ)のスプライン溝246aが形成されており、外筒245の内面に回転自在に保持された複数の鋼球247がスプライン溝246a上を転走することにより、トルクを伝達しつつ、直線運動をする機構である。スプライン軸246の先端はセンタテーブルCTの裏面中央部に一体的に固定されており、スプライン軸246の基端部側近傍は、外筒245に支持されている。スプライン軸246の中間部分には、円板状のフランジ部248が一体的に取り付けられている。
Z軸駆動部242の上下に昇降する駆動軸244は、ここでは、図18及び図19に示されているように、略L字状に形成された部材からなり、その先端部がスプライン軸246のフランジ部248の下面に、該スプライン軸246の回転の支障とならないように係合されている。このような係合は、図示は省略するが、例えば、Z軸駆動部242の駆動軸244の先端部の上面とフランジ部248の下面との間にスラスト軸受けを介装することにより実現することができる。
Z軸駆動部242が作動されてその駆動軸244が上昇動作すると、その先端部に係合されたフランジ部248を介して、スプライン軸246が上昇して、これに固定されたセンタテーブルCTが、図18に示された状態から図19に示された状態に上昇する。この状態で、回転駆動部243が作動されて、ボールスプラインBSの外筒245が回転されると、ボールスプラインBSの鋼球247を介してスプライン軸246に回転力が伝達され、センタテーブルCTが回転される。
クーリングユニット130の上方に配置された、ウエハWの外形を検出するためのラインセンサ等からなるセンサSによって、ウエハWに形成されている特徴部の方位(所定の基準に対する回転ずれ量)を検出し、その検出結果に基づいて、ウエハWの方位(姿勢)を所定の基準に比較的にラフに位置合わせする姿勢補正を実施することは、上述した第1又は第2実施形態と同様である。但し、上述した第3実施形態で説明したように、複数のセンサSを用いてウエハWの特徴部を検出するようにしたものを用いてもよい。
上述した第5実施形態によると、回転駆動部243の駆動軸としてのボールスプラインBSの外筒245は、センタテーブルCTに固定されたボールスプラインBSのスプライン軸246をZ軸駆動部242による昇降方向にスライド可能に保持しており、昇降駆動部242の駆動軸244は、センタテーブルCTの回転の支障となることなくスプライン軸246のフランジ部248に係合している。
従って、Z軸駆動部242及び回転駆動部243として、それぞれセンタテーブルCT及びスプライン軸246等を昇降し得る程度の小さい出力のものを用いることができ、Z軸駆動部によりセンタテーブル及び回転駆動部を全体として昇降させる、又は回転駆動部によりセンタテーブル及びZ軸駆動部を全体として回転させる構成と比較して、Z軸駆動部242又は回転駆動部243の発熱量自体を少なくすることができ、Z軸駆動部242及び回転駆動部243からの熱がセンタテーブルCTに伝達されてしまうことが少なくなる。
また、ボールスプラインBSを用いているので、スプライン軸246と外筒245とは鋼球247を介した接触となっており、これらの間は実質的に点接触となるため、熱伝導の経路が極めて狭くなり、断熱効果を期待することができ、回転駆動部243からの熱がセンタテーブルCTに伝達されてしまうことをさらに少なくすることができる。
なお、この構成により、Z軸駆動部242及び回転駆動部243は、両者とも、フレームFrに固定して設けることができ、その冷却機構としても、Z軸駆動部が回転し、又は回転駆動部が昇降する構成と比較して、より簡易な構造のものを採用することができる。
[デバイス製造方法]
次に、本発明の実施形態の露光システムを使用したデバイスの製造方法について説明する。図21は、本発明の実施形態に係る露光システムを用いたデバイス(ICやLSI等の半導体チップ、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)の生産のフローチャートである。図21に示されているように、まず、ステップS10(設計ステップ)において、デバイスの機能、性能設計(例えば、半導体デバイスの回路設計等)を行い、その機能を実現するためのパターン設計を行う。引き続き、ステップS11(レチクル製作ステップ)において、設計した回路パターンを形成したレチクルを製作する。一方、ステップS12(ウエハ製造ステップ)において、シリコン等の材料を用いてウエハを製造する。
次に、本発明の実施形態の露光システムを使用したデバイスの製造方法について説明する。図21は、本発明の実施形態に係る露光システムを用いたデバイス(ICやLSI等の半導体チップ、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)の生産のフローチャートである。図21に示されているように、まず、ステップS10(設計ステップ)において、デバイスの機能、性能設計(例えば、半導体デバイスの回路設計等)を行い、その機能を実現するためのパターン設計を行う。引き続き、ステップS11(レチクル製作ステップ)において、設計した回路パターンを形成したレチクルを製作する。一方、ステップS12(ウエハ製造ステップ)において、シリコン等の材料を用いてウエハを製造する。
次に、ステップS10〜ステップS12で用意したレチクルとウエハを使用して、ステップS13(ウエハ処理ステップ)を行う。このステップ13では、ウエハ上に感光性材料(フォトレジスト)を塗布して感光性基板とするレジスト塗布処理、上述した露光システムを用いた露光処理、現像処理(露光された感光性基板を現像し、露光されたパターンに対応する形状のマスク層を感光性基板の表面に形成する処理)、及びエッチング処理(該マスク層を介して感光性基板の表面を加工する処理)、必要に応じてCMP処理等の処理を複数回行って、ウエハ上に回路を形成する。
次いで、ステップS14(デバイス組立ステップ)において、ステップS13で処理されたウエハを用いてチップ化する。このステップS14には、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程が含まれる。最後に、ステップS15(検査ステップ)において、製造されたデバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行う。こうした工程を経た後にデバイスが完成し、これが出荷される。
上述した実施形態によると、ウエハWに温度勾配が生じることが少なくなる結果、パターンの重ね合わせ精度等の露光精度を向上することができ、高性能、高品質、高信頼なマイクロデバイス等を製造することができるようになる。
なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。従って、上述した実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。
例えば、上述した実施形態では、ウエハローダ内のクーリングユニットに本発明を適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されず、露光装置内や露光装置に隣接して配置される塗布/現像装置内にクーリングユニットが設けられる場合には、当該露光装置内又は塗布/現像装置内のクーリングユニットに適用することもできる。
また、上述した実施形態においては、液浸型のステップ・アンド・スキャン方式の露光装置に適用した場合について説明したが、ステップ・アンド・リピート方式、ミラープロジェクション方式、プロキシミティ方式、コンタクト方式等の露光装置等に適用することも可能である。液浸方式ではなく通常のドライ方式であってもよい。
さらに、半導体素子、液晶表示素子のみならず、プラズマディスプレイ、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCDなど)、マイクロマシン、及びDNAチップ等の製造にも用いられる露光装置、並びにレチクル又はマスクを製造するための露光装置にも本発明を適用できる。即ち本発明は、露光装置の露光方式や用途等に関係なく適用可能である。
130…クーリングユニット、CP…クールプレート、201a〜201d…管路又は流路、202a…流体供給部、202b…流体回収部、204…流体継ぎ手、204a…収容部、204b,204c…流体力伝達部材、204d,204e…放射状羽根車、206,207…軸。
Claims (20)
- 基板を所定温度に温調する温調部から温調された基板を搬出する搬送装置であって、
前記温調された基板を接触支持する支持部と、
前記基板を接触支持した前記支持部を駆動するための駆動力を発生する動力源と、
前記動力源で発生した駆動力を前記支持部へ伝達するための伝達経路上に配置され、流体を収容する収容部とを備え、
前記収容部は、その中に収容した前記流体を介して前記動力源で発生した駆動力を前記支持部へ伝達する伝達機構を備えたことを特徴とする搬送装置。 - 前記支持部は基板を保持して昇降可能であるとともに、当該昇降方向に実質的に平行な軸回りに回転可能に構成され、
前記伝達機構は、前記収容部に収容された流体を介して前記支持部を回転させる駆動力を前記支持部へ伝達することを特徴とする請求項1記載の搬送装置。 - 流体を前記収容部に供給するとともに、該収容部内を流通した該流体を排出する流体供給手段を有することを特徴とする請求項1又は2記載の搬送装置。
- 前記収容部に供給される流体は、前記所定温度に温調された温調流体であることを特徴とする請求項3記載の搬送装置。
- 前記流体供給手段は、前記基板を所定温度に温調する前記温調部を流通された後の前記温調流体を前記収容部に供給することを特徴とする請求項4に記載の搬送装置。
- 前記伝達機構は、放射状羽根車を備え前記支持部に連結された第1流体力伝達部材と、
前記第1流体力伝達部材の放射状羽根車に対向して配置される放射状羽根車を有し、前記動力源で発生した駆動力が駆動する部材に連結される前記第2流体力伝達部材とを備え、
前記動力源で発生した駆動力により前記第2流体力伝達部材の放射状羽根車が回転することで前記収容部に収容された流体が流動し、この流動を前記第1流体力伝達部材の放射状羽根車で受けることにより、該第1流体力伝達部材に連結された前記支持部が回転することを特徴とする請求項2から4いずれか一項に記載の搬送装置。 - 前記伝達機構は、放射状羽根車を有するとともに、前記支持部に連結された第1流体力伝達部材を備え、
前記流体供給手段が流体を供給することにより生じる流体の流動が前記放射状羽根車に当たることにより、前記第1流体伝達部材に連結された支持部が回転することを特徴とする請求項3又は4記載の搬送装置。 - 基板を露光する露光装置であって、請求項1〜7いずれか一項に係る搬送装置を含み、前記温調部で温調され前記搬送装置で搬出された基板を露光することを特徴とする露光装置。
- 請求項8記載の露光装置を用いて基板を露光することと、露光された前記基板を現像することとを含むデバイス製造方法。
- 基板を所定温度に温調する温調部から温調された基板を搬出する搬送装置であって、
前記温調された基板を接触支持する支持部と、
前記基板を接触支持した前記支持部を駆動するための駆動力を発生する動力源とを備え、
前記支持部は前記基板の中心から離間した該基板上の所定領域に接触して該基板を接触支持する環状部を有することを特徴とする搬送装置。 - 前記支持部は、前記駆動源で発生した駆動力により前記基板を回転させることを特徴とする請求項10記載の搬送装置。
- 前記支持部は、前記基板外縁上に形成された特徴部を検出するセンサに対して前記基板を回転させ、基板外縁に対応して配置された前記センサの配置または個数に応じた回転量を備えることを特徴とする請求項11記載の搬送装置。
- 前記支持部は、前記センサが基板外縁に対応する円周上に等間隔にn個配置されている場合、前記回転量は360/n[°]であることを特徴とする請求項12記載の搬送装置。
- 前記支持部が接触支持する前記基板の中心から離間した前記基板上の領域は、前記基板の中心を囲む環状領域であることを特徴とする請求項11記載の搬送装置。
- 前記支持部は、前記環状領域で前記基板と接触して前記基板を接触支持する筒状部材を含み、
さらに前記動力源で発生した駆動力を前記筒状部材の内側側面又は外側側面に伝達する伝達機構を含むことを特徴とする請求項14記載の搬送装置。 - 基板を露光する露光装置であって、請求項10から15いずれか一項に係る搬送装置を含み、前記温調部で温調され前記搬送装置で搬出された基板を露光することを特徴とする露光装置。
- 請求項16記載の露光装置を用いて基板を露光することと、露光された前記基板を現像することとを含むデバイス製造方法。
- 基板を所定温度に温調する温調部から温調された基板を搬出する搬送装置であって、
前記温調された基板を接触支持する支持部と、
前記基板を接触支持した前記支持部を駆動するための駆動力を発生する動力源とを備え、
前記動力源は前記支持部を昇降させる昇降駆動手段、及び該支持部を回転させる回転駆動手段を有し、
前記回転駆動手段の駆動軸は、前記支持部を前記昇降駆動手段による昇降方向にスライド可能に保持しており、
前記昇降駆動手段の駆動軸は、前記支持部の回転の支障となることなく該支持部の一部に係合していることを特徴とする搬送装置。 - 基板を露光する露光装置であって、請求項18に係る搬送装置を含み、前記温調部で温調され前記搬送装置で搬出された基板を露光することを特徴とする露光装置。
- 請求項19記載の露光装置を用いて基板を露光することと、露光された前記基板を現像することとを含むデバイス製造方法。
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JP2018195671A (ja) * | 2017-05-16 | 2018-12-06 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、及び記憶媒体 |
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2008
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Cited By (5)
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---|---|---|---|---|
CN102914951A (zh) * | 2011-08-04 | 2013-02-06 | 上海微电子装备有限公司 | 用于光刻设备的预对准装置 |
JP2014192207A (ja) * | 2013-03-26 | 2014-10-06 | Kyocera Corp | 試料保持具 |
JP2018195671A (ja) * | 2017-05-16 | 2018-12-06 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、及び記憶媒体 |
CN109390257A (zh) * | 2018-10-30 | 2019-02-26 | 徐亚琴 | 一种集成电路板加工工艺 |
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