JP2009231383A - 半導体装置及び半導体装置接続手段 - Google Patents
半導体装置及び半導体装置接続手段 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009231383A JP2009231383A JP2008072460A JP2008072460A JP2009231383A JP 2009231383 A JP2009231383 A JP 2009231383A JP 2008072460 A JP2008072460 A JP 2008072460A JP 2008072460 A JP2008072460 A JP 2008072460A JP 2009231383 A JP2009231383 A JP 2009231383A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- semiconductor
- chip
- package substrate
- semiconductor chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/102—Material of the semiconductor or solid state bodies
- H01L2924/1025—Semiconducting materials
- H01L2924/10251—Elemental semiconductors, i.e. Group IV
- H01L2924/10253—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
Abstract
【課題】パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。
【解決手段】半導体装置は、第1のパッケージ基板10の一方の面上に設けられる複数の第1の外部接続端子3と、第1のパッケージ基板10の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第1の半導体チップ20と、第1の半導体チップ20の第1のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる複数の第1のパッド21と、第2のパッケージ基板11の一方の面上に設けられる複数の第2の外部接続端子4と、第2のパッケージ基板11の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第2の半導体チップ30と、第2の半導体チップ30の第2のパッケージ基板11と接する面と反対の面上に設けられる複数の第2のパッド31とを具備し、第1及び第2の半導体チップ20,30は、第1及び第2の複数のパッド21,31が設けられた面同士が互いに対向して積層されることを備える。
【選択図】図2
【解決手段】半導体装置は、第1のパッケージ基板10の一方の面上に設けられる複数の第1の外部接続端子3と、第1のパッケージ基板10の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第1の半導体チップ20と、第1の半導体チップ20の第1のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる複数の第1のパッド21と、第2のパッケージ基板11の一方の面上に設けられる複数の第2の外部接続端子4と、第2のパッケージ基板11の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第2の半導体チップ30と、第2の半導体チップ30の第2のパッケージ基板11と接する面と反対の面上に設けられる複数の第2のパッド31とを具備し、第1及び第2の半導体チップ20,30は、第1及び第2の複数のパッド21,31が設けられた面同士が互いに対向して積層されることを備える。
【選択図】図2
Description
本発明は、半導体装置に係り、特に、パッケージ装置に関する。また、パッケージ装置の接続手段に関する。
半導体パッケージ装置において、チップサイズパッケージ(Chip Size Package:CSP)と呼ばれるパッケージ装置が、様々な電子機器に用いられている。このCSPによれば、パッケージ基板に実装した際のサイズがほぼ半導体チップのサイズと同等になり、パッケージ装置の面積効率を大幅に向上できる。
CSPの一種として、BGA(Ball Grid Array)タイプのパッケージ装置がある。このBGAタイプのパッケージ装置は、その底面に外部接続端子としての半球形状のボール電極がアレイ状に複数配置されており、SOP(Small Outline Package)やTSOP(Thin−type Small Outline Package)といったパッケージ装置のように、外部接続端子としてのリードフレームがパッケージ装置の側面方向に広がってパッケージの外側に引き出されるのを無くすことで、実装面積の縮小を図っている。
CSPの一種として、1つのパッケージ内に複数の半導体チップが積層されたStacked MCP(Multi Chip Package)装置があり、これによって、パッケージ装置の面積効率の向上がさらに図られている。即ち、1つの半導体チップから構成される1つのパッケージ装置が複数個隣接してパッケージ基板上に搭載される場合と異なり、MCP装置では、複数の半導体チップが積層されて1つのパッケージ装置が構成されているため、実装用のパッケージ基板上の1箇所に複数のチップを実装でき、面積効率を向上できる。
しかし、このようなMCP装置によっても、パッケージ基板が配置される場所には、1つのパッケージ装置しか搭載できないことから、さらにパッケージ装置の面積効率の向上を図るのは、困難となっていた。
尚、特許文献1には、1つのパッケージ基板の上面及び下面に、導体回路(配線層)及び外部接続端子(半田ボール)を形成し、ワイヤボンディングの配線密度を向上させる技術が開示されている。
特開2004−265956号公報
本発明の例は、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる技術を提案する。
本発明の例に関わる半導体装置は、第1のパッケージ基板と、前記第1のパッケージ基板の一方の面上に設けられる複数の第1の外部接続端子と、前記第1のパッケージ基板の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第1の半導体チップと、前記第1の半導体チップの前記第1のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる複数の第1のパッドと、第2のパッケージ基板と、前記第2のパッケージ基板の一方の面上に設けられる複数の第2の外部接続端子と、前記第2のパッケージ基板の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第2の半導体チップと、前記第2の半導体チップの前記第2のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる複数の第2のパッドとを具備し、前記第1及び第2の半導体チップは、前記第1及び第2の複数のパッドが設けられた面同士が互いに対向するように積層されることを備える。
本発明の例に関わる半導体装置接続手段は、複数の半導体チップを接続するための半導体装置接続手段であって、絶縁性フィルムの一方の面上の一端に設けられる複数の第1のチップ接続端子と、前記絶縁性フィルムの一方の面上の他端に設けられる複数の第2のチップ接続端子と、前記絶縁性フィルムの他方の面上に設けられる複数の外部接続端子と前記絶縁性フィルム内に設けられ、前記第1、第2のチップ接続端子及び外部接続端子をそれぞれ電気的に接続する複数の内部配線層とを具備し、屈曲性を有することとを備える。
本発明の例に関わる半導体装置は、第1のパッケージ基板と、前記第1のパッケージ基板の一方の面上に設けられる複数の第1の外部接続端子と、前記第1のパッケージ基板の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第1の半導体チップと、前記第1の半導体チップの前記第1のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる第1の複数のパッドと、第2のパッケージ基板と、前記第2のパッケージ基板の一方の面上に搭載される複数の第2の外部接続端子と、前記第2のパッケージ基板の他方の面上に設けられる少なくとも1つの第2の半導体チップと、前記第2の半導体チップの前記第2のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる第2の複数のパッドと、一方の面上の一端及び他端にそれぞれ第1、第2のチップ接続端子を有し、他方の面上に第3の外部接続端子を有し、前記第1、第2のチップ接続端子及び前記第3の外部接続端子を接続する内部配線層を有する半導体装置接続手段とを具備し、前記第1及び第2の半導体チップは、前記複数の第1及び第2のパッドが設けられた面同士が互いに対向するように積層され、前記第1及び第2の外部接続端子は、前記第1及び第2のチップ接続端子にそれぞれ電気的に接続されることを備える。
本発明の例によれば、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。
以下、図面を参照しながら、本発明の例を実施するためのいくつかの形態について詳細に説明する。
1. 実施形態
図1乃至図18を参照して、本発明の実施形態について説明する。尚、以下の説明において、全図にわたりほぼ同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一の参照符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。但し、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法の関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。
図1乃至図18を参照して、本発明の実施形態について説明する。尚、以下の説明において、全図にわたりほぼ同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一の参照符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。但し、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法の関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。
(A) 両面実装型パッケージ装置
(1) 基本構成
図1及び図2を用いて、本発明の実施形態で述べるパッケージ装置の基本構成について、説明する。
(1) 基本構成
図1及び図2を用いて、本発明の実施形態で述べるパッケージ装置の基本構成について、説明する。
図1は、本発明の実施形態のパッケージ装置の基本構成を示す斜視図である。本発明の実施形態のパッケージ装置1は、絶縁性のパッケージ2内部に複数の半導体チップ(図示せず)が設けられている。外部接続端子3,4はパッケージ装置1の上部側及び底部側にそれぞれ設けられ、この外部接続端子3,4によって、パッケージ材2に封止された半導体チップは外部装置と接続される。
図2は、図1に示されるパッケージ装置内部の基本構成を示している。尚、図2おいては、図1に図示されているパッケージ2の図示は省略する。図2に示すように、本実施形態のパッケージ装置1では、その装置1の上部側及び底部側にパッケージ基板10,11がそれぞれ設けられる。この2つのパッケージ基板10,11裏面には、外部接続端子として、例えば、半田ボールがアレイ状に配置され、パッケージ基板10,11上面には、少なくとも1つの半導体チップ20,30がそれぞれ設けられる。尚、以下では、外部接続端子が設けられる面をパッケージ基板の裏面と定義し、半導体チップが設けられる面をパッケージ基板の上面と定義する。
ここで、図3を参照して、パッケージ装置に用いられる半導体チップについて、説明する。図3は、1つの半導体チップの構造を示す斜視図である。半導体チップは、シリコンウェハから切り出された直方体又は立方体形状の小片であり、その内部には、MOSトランジスタ、メモリセル及び抵抗素子などの複数の素子が形成されている。これらの素子によって構成される集積回路の入出力は、半導体チップのある1面に設けられた複数のパッド(以下、チップパッドと呼ぶ)により行われ、そのパッドの配置スペースは、図3の破線に囲まれた領域S内で確保される。複数のパッドは長辺L又は短辺Wに沿って設けられ、1つの辺に沿ってのみ設けられてもよいし、上面の4つの辺に沿って設けられてもよい。尚、以下では、パッドが設けられた面を半導体チップの上面と定義し、それと反対側の面を半導体チップの裏面と定義する。
1つの半導体チップは、DRAM(Dynamic Random Access Memory)やSRAM(Static Random Access Memory)のような揮発性メモリ、フラッシュメモリのような不揮発性メモリなどのメモリチップ、複数の回路から構成されるLSIチップ、又メモリチップとLSIチップが1つのチップに搭載された混載チップのいずれか1つである。
1つの半導体チップは、DRAM(Dynamic Random Access Memory)やSRAM(Static Random Access Memory)のような揮発性メモリ、フラッシュメモリのような不揮発性メモリなどのメモリチップ、複数の回路から構成されるLSIチップ、又メモリチップとLSIチップが1つのチップに搭載された混載チップのいずれか1つである。
図2に示すように、半導体チップ20,30上面にはそれぞれパッド21,31が設けられている。これらのパッド21,31は、ボンディングワイヤ(図示せず)及びパッケージ基板10,11表面又は内部に設けられた配線層(図示せず)を介して、外部接続端子3,4にそれぞれ接続される。
2つの半導体チップ20,30は、パッドが設けられた面同士が対向するように、例えば、絶縁体からなるスペーサー100を介して、積層される。スペーサー100によって、2つの半導体チップ20,30間の厚み方向のワイヤボンディングのためのスペースが確保される。尚、ワイヤボンディングのために確保されるスペースのことを、以下では、ボンディングスペースと呼ぶ。
上記のように半導体チップ20,30を積層させるとパッケージ基板10,11上面と半導体チップ20,30の裏面とが接しているため、パッケージ基板10,11裏面の外部接続端子3,4が、パッケージ装置1の上部側と底部側との2面に設けられた構造となる。
このように、パッケージ装置の底部側に加えて、上部側にも外部接続端子を設け、実装用のパッケージ基板(図示せず)及び外部装置(図示せず)との接続面を2箇所に増やした構造のパッケージ装置のことを、以下では、両面実装型パッケージ装置と呼ぶ。尚、この両面実装型パッケージ装置1に対し、従来のように、底面にのみ外部接続端子(半田ボール)が設けられるパッケージ装置のことを、本実施形態においては、片面実装型パッケージ装置と呼ぶ。
上述のように、本発明の実施形態のパッケージ装置(両面実装型パッケージ装置)1は、2つのパッケージ基板10,11上面にそれぞれ設けられた半導体チップの上面(パッドが設けられた面)同士が対向するように積層されることを特徴とし、その積層された半導体チップ及びパッケージ基板からなる積層体の上部側及び底部側に、2つのパッケージ基板10,11裏面にそれぞれ設けられた外部接続端子3,4が位置するパッケージ装置となる。
これによって、複数の半導体チップ20,30を、1つのパッケージ装置1として実装することができ、パッケージ装置を搭載するのに必要な面積を縮小できる。それゆえ、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。
また、本発明の実施形態の両面実装型パッケージ装置1によれば、1つのパッケージ装置1の上部側と底部側の2つの面に外部接続端子を有することで、パッケージ装置全体の端子数を増加させることができる。そのため、高機能なパッケージ装置を提供できる。その一方で、外部接続端子3,4は2つの面に分けて設けられているため、装置全体の端子数が増加しても、1つのパッケージ基板あたりの外部接続端子の個数は減少させるができる。そのため、外部接続端子間のショートを防止できる端子間ピッチを確保するために、パッケージ基板10,11のサイズを大きくせずともよく、これによっても実装面積の効率化を図ることができる。
さらに、1つの基板当たりの端子数の減少により、半導体チップと外部接続端子とを接続するためにパッケージ基板に形成される配線層のレイアウトが複雑になることはなく、配線レイアウトの簡単化も図ることができるとともに、外部接続端子間ピッチの確保、パッケージ基板10,11に形成される配線層の大きな配線ピッチの確保ができるため、パッケージ装置1の製造歩留まりを向上できる。
以上のように、本発明の実施形態の両面実装型パッケージ装置1によれば、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。
(2) 実施例
以下、図4及び図5を用いて、図1及び図2に示した両面実装型パッケージ装置の実施例について説明する。尚、図4及び図5においても、パッケージ装置を封止するパッケージ材の図示は省略する。
以下、図4及び図5を用いて、図1及び図2に示した両面実装型パッケージ装置の実施例について説明する。尚、図4及び図5においても、パッケージ装置を封止するパッケージ材の図示は省略する。
図4は、本発明の実施形態の両面実装型パッケージ装置1の一例を示し、4つの半導体チップが積層されて、パッケージ(図示せず)内に搭載された場合の断面構造を示している。図4に示すように、パッケージ装置1の上部側及び底部側にパッケージ基板10,11が設けられており、上部側のパッケージ基板10上面には、2つの半導体チップ20,25が設けられ、底部側のパッケージ基板11上面には、2つの半導体チップ30,35が設けられている。
半導体チップ20,30は、例えば、接着剤などの薄い絶縁膜を介して、パッケージ基板10,11上にそれぞれ搭載される。半導体チップ25は、パッケージ基板10上の半導体チップ20上に、例えば、絶縁性の接着剤などの薄い絶縁膜を介して搭載される。同様に、半導体チップ35は、パッケージ基板11上の半導体チップ30上に搭載される。2つの半導体チップが薄い絶縁膜を介して積層される場合、基板上のチップのワイヤボンディングのためのスペースを確保するために、上側の半導体チップ25,35には、基板上の半導体チップ20,30のサイズよりも小さなサイズのチップが用いられる。
半導体チップ20,25,30,35の上面には、チップパッド21,26,31,36がそれぞれ設けられる。チップパッド21,26,31,36は、ボンディングワイヤ101,102によってパッケージ基板10,11上に設けられたパッド(以下、基板パッドと呼ぶ)12A,12B,13A,13Bとそれぞれ接続され、さらに、基板パッド12A,12B,13A,13Bは、パッケージ基板10,11表面上及び内部に設けられた配線層(図示せず)を介して、外部接続端子としてのBGA構造となるように配置された複数の半田ボール3,4と接続されている。尚、本発明の実施形態においては、BGAを採用した外部接続端子について述べるが、これに限定されるものではなく、例えば、複数の平面電極がアレイ状に配置されたLGA(Land Grid Array)やフリップチップ接続のための半田バンプを採用してもよい。また、本例では、チップパッド21,26は上部側のパッケージ基板10に接続されているが、底部側のパッケージ基板11に接続されてもよいし、チップパッド31,36が上部側のパッケージ基板10に接続されてもよい。
そして、半導体チップ25と半導体チップ35とが、その上面同士が対向するようにスペーサー100を介して積層され、上部側と底部側の両面に半田ボール3,4を有し、4つの半導体チップが搭載される1つの両面実装型パッケージ装置が構成される。これによって、本発明の実施形態の両面実装型パッケージ装置1が提供される。
次に、図5を参照し、図4とは異なる実施例を説明する。図5では、両面実装型パッケージとして、パッケージ基板10上に搭載された4つの半導体チップ20A,20B,25A,25Bとパッケージ基板11上に搭載された3つの半導体チップ30,33,36とが、チップ上面が対向するように積層された実施例を示している。
パッケージ基板10上面には、基板パッド12A,13A,14A,15Aが設けられるとともに、半導体チップ20Aが搭載される。この半導体チップ20A上面には、チップサイズが半導体チップ20Aのチップサイズより小さな半導体チップ25Aが搭載される。さらに、半導体チップ25A上面には、スペーサー106を介して、チップサイズが半導体チップ25Aのチップサイズより大きな半導体チップ20Bが搭載される。この半導体チップ20B上面には、チップサイズが半導体チップ20Bのチップサイズより小さな半導体チップ25Bが搭載される。半導体チップ20Bはそのサイズが半導体チップ25Aのサイズよりも大きいため、半導体チップ25Aのボンディングスペースを確保するために、スペーサー106が用いられている。
半導体チップ20A,20B,25A,25Bは、その上面にパッド21A,21B,26A,26Bをそれぞれ有している。パッド21Aは基板パッド15Aに、パッド21Bは基板パッド13Aに、パッド26Aは基板パッド14Aに、パッド26Bは基板パッド12Aにそれぞれ接続される。
パッケージ基板11上面には、基板パッド12B,13B,14Bが設けられるとともに、半導体チップ30が搭載される。半導体チップ30Aの上面には、チップサイズが半導体チップ30のチップサイズより小さな半導体チップ33が搭載される。さらに、半導体チップ33上面には、スペーサー105を介して、チップサイズが半導体チップ33のチップサイズより大きな半導体チップ36が搭載される。半導体チップ30,33,36は、その上面にパッド31,34,37をそれぞれ有している。パッド31は基板パッド14Bに、パッド34は基板パッド13Bに、パッド37は基板パッド12Bにそれぞれ接続される。
そして、半導体チップ25Bと半導体チップ36とが、その上面同士が対向するようにスペーサー100を介して積層されて、パッケージ装置の上部側と底部側の両面に半田ボール3,4を有し、7つの半導体チップが搭載された1つの両面実装型パッケージ装置が構成される。
パッケージ基板10,11に搭載される半導体チップは、例えば、一方のパッケージ基板10と他方のパッケージ基板11とで、搭載される複数の半導体チップを同一の構成としてもよい。例えば、図4に示す構成において、半導体チップ20,25,30,35にメモリチップを用いることで、記憶容量の大きいパッケージ装置を提供できる。
また、一方のパッケージ基板10と他方のパッケージ基板11とで、搭載される複数の半導体チップの構成を異ならせてもよい。例えば、図5に示す構成において、一方のパッケージ基板10に搭載される半導体チップ20A,20B,25A,25Bにはメモリチップを用い、他方のパッケージ基板11に搭載される半導体チップ30,33,36には、そのメモリチップに記憶されたデータを用いて演算処理を実行するLSIチップを用いることで、1つのパッケージ装置で高機能なモジュールを提供できる。
以上のように、本発明の実施形態のパッケージ装置によれば、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。
(B) 半導体装置接続手段
図2、図4及び図5のように、上部及び底部に外部接続端子(半田ボール)3を設けた両面実装型パッケージ1は、他の装置(図示せず)との接続ためのパッケージ基板(以下、実装用基板と呼ぶ)に実装した場合、上部側のパッケージ基板10の半田ボール3に対する接続手段がないので、上部側のパッケージ基板10に搭載された半導体チップの動作させることが不可能な場合が生じる。
図2、図4及び図5のように、上部及び底部に外部接続端子(半田ボール)3を設けた両面実装型パッケージ1は、他の装置(図示せず)との接続ためのパッケージ基板(以下、実装用基板と呼ぶ)に実装した場合、上部側のパッケージ基板10の半田ボール3に対する接続手段がないので、上部側のパッケージ基板10に搭載された半導体チップの動作させることが不可能な場合が生じる。
そのため、本発明の実施形態では、図6乃至図10を用いて、両面実装型パッケージ装置の接続手段についても説明する。
(1) 第1実施例
図6乃至図8を用いて、本実施形態の半導体装置接続手段の第1実施例について説明する。
図6乃至図8を用いて、本実施形態の半導体装置接続手段の第1実施例について説明する。
図6は、本実施例の半導体装置接続手段50の断面構造を示す。また、図7は接続端子52,53が設けられた面の平面図を示し、図8は接続端子56が設けられた面の平面図を示している。尚、本実施例においては、図7に示す面を半導体装置接続手段50の上面と定義し、図8に示す面を半導体装置接続手段50の裏面と定義して、説明する。また、図7及び図8においては、フィルム内部の配線層及び上面側の接続端子を破線で示している。但し、図示される配線層は模式的に表されたものであり、各端子間を接続する配線層のレイアウトは、搭載されるパッケージ装置の仕様に合わせて適宜変更されるのは勿論である。
図6乃至図8に示す例では、絶縁性且つ柔軟性を有するフィルム51(以下、フレキシブルフィルムと呼ぶ)の内部に1層構造の配線層55を有する構造を示している。配線層55は、フレキシブルフィルム51内に設けられた複数のコンタクト部57を介して、フレキシブルフィルム51上面の一端及び他端にアレイ状に配置された接続端子(チップ接続端子)52,53及びフレキシブルフィルム51裏面にアレイ状に配置された接続端子(外部接続端子)56に接続される。接続端子52,53は、例えば、図2の両面実装型パッケージ装置1の上部及び底部の外部接続端子(半田ボール)にそれぞれ接続され、接続端子52,53と配線層55によって、パッケージ内の上部側の半導体チップ20と底部側の半導体チップ30が電気的に接続され、信号の入出力が行われる。以下では、この接続端子52,53のことを、チップ間接続端子と呼ぶ。また、接続端子56は、実装用基板や他のパッケージ装置に接続するための外部接続端子であり、両面実装型パッケージ装置と他の装置との信号の入出力を行う。尚、図6においては、1層構造の配線層を図示しているが、これに限定されず、配線層が2層以上設けられてもよい。
このフレキシブルフィルム51には、例えば、ポリイミド系、ポリエチレン系、エポキシ系又は塩化ビニル系などのように、絶縁性を有し、また、柔軟性・屈曲性を有する有機物系絶縁フィルムを用いられる。また、配線層55には、例えば、金(Au)、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)及びチタン(Ti)などの金属のうち、少なくとも1つを含む単層膜、多層膜或いは合金膜が用いられる。このフレキシブルフィルム51及び配線層55の膜厚は、折りたたむことが可能であると共に、折りたたむことによって、配線層55の断線などの破損が生じない膜厚で形成される。また、チップ間接続端子52,53及び外部接続端子56には、例えば、BGAタイプとなるように複数の半田ボールが設けられる。
上記の半導体装置接続手段50を用いて、図1に示される両面実装型パッケージ装置をパッケージ基板上に実装する場合、半導体装置接続手段50は、両面実装型パッケージ1を包み込むように折り曲げられて、フィルム51上に配置された半田ボール52,53によってパッケージ装置1の上部側及び底部側の半田ボール3,4を電気的に接続し、外部接続端子56を介してパッケージ装置1とそれを実装するためのパッケージ基板(図示せず)とを接続する。
この半導体装置接続手段50において、それに用いられるフレキシブルフィルム51の幅・長さ、外部端子(半田ボール)のレイアウトなどの仕様は、実装するパッケージ装置のサイズ、外部端子数やそのレイアウト、実装用基板の配線レイアウトに応じて、フレキシブルに対応することができる。また、それによって、半導体装置接続手段50の一端の外部端子に接続されるパッケージ装置の端子のレイアウトと、他端の外部端子に接続されるパッケージの端子のレイアウトとが異なっていても、対応することが可能である。
さらに、フレキシブルフィルム51上面上の一端及び他端の半田ボール52,53にそれぞれ接続される半導体チップ間の配線はフィルム51内に形成されているので、パッケージ装置を実装する実装用基板上に配線層を別途形成する必要はない。それゆえ、実装用基板の配線レイアウトの複雑化が抑制され、実装用基板の配線幅や配線ピッチに対する十分なマージンの確保や、実装用基板の配線レイアウトの自由度の向上及び設計期間の短縮を図ることができる。また、実装用基板の配線数が減少するので、実装用基板の配線に起因する発熱を抑制することができる。さらに、パッケージ装置の電源電流・信号電流の一部は、フレキシブルフィルム51内の配線層55を流れる。そのため、パッケージ基板よりも薄いフレキシブルフィルム51内に配線層55を形成することによって、配線層の放熱効率を向上できる。
以上のように、本実施例に示す半導体装置接続手段50を用いることによって、図1に示すような両面実装型パッケージ装置1の上部側の接続端子を、下部側の接続端子、実装用基板及び他の装置に接続することができる。
(2) 第2実施例
以下、図9及び図10を用いて、半導体装置接続手段の第2実施例について説明する。
以下、図9及び図10を用いて、半導体装置接続手段の第2実施例について説明する。
図9は半導体装置接続手段50Aの断面図を示し、図10は半導体装置接続手段50Aの裏面側の平面図を示している。尚、本例においては、半導体装置接続手段50Aの上面側の構造は、図7に示す構造とほぼ同一であるため、その図示は省略する
第1実施例においては、フレキシブルフィルム51内に1層の配線層を有する場合を示したが、本例の半導体装置接続手段50Aは、図9及び図10に示すように、フィルム51内に2層の配線層を有する構造となっている。配線層を多層構造とすることで、配線層の線幅や隣接する配線層間の配線ピッチを大きくでき、フレキシブルフィルム51内での配線レイアウトの自由度の向上を図れ、さらには半導体装置接続手段50の製造歩留まりを向上できる。
第1実施例においては、フレキシブルフィルム51内に1層の配線層を有する場合を示したが、本例の半導体装置接続手段50Aは、図9及び図10に示すように、フィルム51内に2層の配線層を有する構造となっている。配線層を多層構造とすることで、配線層の線幅や隣接する配線層間の配線ピッチを大きくでき、フレキシブルフィルム51内での配線レイアウトの自由度の向上を図れ、さらには半導体装置接続手段50の製造歩留まりを向上できる。
また、第1実施例ではフィルム51裏面上の一端にのみ半田ボールを設けたが、本例では、フィルム51上面と同様に、フィルム51裏面上の一端及び他端に接続端子56,58を設けている。この場合、一端の外部接続端子58を実装用基板(図示せず)と接続すると、他端側の外部接続端子58はフィルム51によって包まれるパッケージ装置の上部側に位置するので、パッケージ装置の上部にさらに、他のパッケージ装置を実装することができる。
したがって、図9及び図10に示す本実施例の半導体装置接続手段50Aを用いることによって、両面実装型パッケージ装置を実装できると共に、さらに他のパッケージ装置を実装でき、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。
また、半導体装置接続手段50Aの端子数及び配線数を増加させることができるため、半導体装置接続手段50Aの配線レイアウトの自由度を向上できる。
(3) 変形例
第1及び第2実施例の半導体装置接続手段50,50Aにおいて、配線層55はフレキシブルフィルム51内に封止された構造になっているが、それに限定されず、フレキシブルフィルム51表面に配線層を形成し、その配線層の一端及び他端と接続端子52,53とを直接接続し、フィルム51裏面に設けられる接続端子56,58に関しては、上述の例と同様にコンタクト部57を介して、接続してもよい。
第1及び第2実施例の半導体装置接続手段50,50Aにおいて、配線層55はフレキシブルフィルム51内に封止された構造になっているが、それに限定されず、フレキシブルフィルム51表面に配線層を形成し、その配線層の一端及び他端と接続端子52,53とを直接接続し、フィルム51裏面に設けられる接続端子56,58に関しては、上述の例と同様にコンタクト部57を介して、接続してもよい。
また、第1及び第2の実施例においては、各端子52,53,56,58として、半田ボールを例に説明したが、これに限定されるものではなく、LGAや半田バンプでもよいのは勿論である。
これによっても、上述の第1及び第2実施例と同様の効果が得られる。
尚、半導体装置接続手段50,50Aを用いて、両面実装型パッケージ装置の上面側の外部接続端子と外部装置(図示せず)とを接続する例を説明したが、それに限定されるものではない。一例としては、図2のパッケージ装置1の上部側のパッケージ基板10裏面には半田ボール3を設けずに、パッケージ基板10,11の半導体チップが設けられる上面にそれぞれ基板パッドを新たに設け、その新たに設けた基板パッドをワイヤボンディングによって接続してもよい。この場合には、パッケージ2内部の配線で2つのパッケージ基板(半導体チップ)が接続され、上面側のパッケージ基板10及び半導体チップ20は、下面側のパッケージ基板11裏面の半田ボール4を介して、実装用基板及び外部装置と接続される。また、他の例としては、半田ボール3の代わりに、上側のパッケージ基板10裏面に基板パッドを新たに設け、それと実装用基板とをワイヤボンディングによって接続することで、下側のパッケージ基板とは別途に外部装置と接続される。
以上の構成によっても、パッケージ装置の上部側及び底部側の外部接続端子を外部装置に接続することができる。
2. 適用例
以下、図11乃至図18を用いて、上述の両面実装型パッケージ装置1と半導体装置接続手段50,50Aとの適用例について説明する。
以下、図11乃至図18を用いて、上述の両面実装型パッケージ装置1と半導体装置接続手段50,50Aとの適用例について説明する。
(1) 第1適用例
図11及び図12を用いて、本発明の実施形態に第1適用例について、説明する。図11は第1適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図12はその断面図を示す。図11及び図12は、図6乃至図8に示される半導体装置接続手段50を用いて、1つの両面実装型パッケージ装置1を実装用基板200上に実装した例を示している。
図11及び図12を用いて、本発明の実施形態に第1適用例について、説明する。図11は第1適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図12はその断面図を示す。図11及び図12は、図6乃至図8に示される半導体装置接続手段50を用いて、1つの両面実装型パッケージ装置1を実装用基板200上に実装した例を示している。
両面実装型パッケージ装置1は、パッケージ12内に半導体チップ20,30を具備している。半導体チップ20は、1つのパッケージ基板10の上面上に設けられる。半導体チップ20の上面には複数のチップパッド21が設けられ、そのパッドはボンディングワイヤ101によってパッケージ基板10上面の基板パッド(図示せず)に接続される。パッケージ基板10の裏面には、外部接続端子としての複数の半田ボール3が設けられて、基板10表面及び内部に形成された配線層によって、複数の基板パッドが接続されている。
それと同様に、半導体チップ30は、1つのパッケージ基板11の上面上に設けられ、パッケージ基板11の裏面には、外部接続端子としての複数の半田ボール4が設けられている。半導体チップ30の複数のチップパッド31と半田ボール4とが、ボンディングワイヤ102、複数の基板パッド(図示せず)及び配線層(図示せず)を介して、それぞれ接続される。
2つのパッケージ基板10,11にそれぞれ設けられている半導体チップ20,30は、パッド21,31が設けられた面同士が対向するように、スペーサー100を介して、積層されている。それゆえ、パッケージ基板裏面に設けられた半田ボールが、パッケージ装置1の上部側及び底部側に位置する構造となる。
そして、両面実装型パッケージ装置1は、半導体装置接続手段50に包み込まれるように実装用基板200上に実装される。この半導体装置接続手段50は、フレキシブルフィルム51の上面及び裏面には、複数の半田ボール52,53,56が設けられ、それらはフィルム51内部の配線層(図示せず)によって、パッケージ装置1の仕様に合わせて接続されている。即ち、両面実装型パッケージ装置1の上側及び下側の半田ボール3,4は、半導体装置接続手段50のチップ間接続用の半田ボール52,53及び配線層(図示せず)によって接続され、さらに、両面実装型パッケージ装置1及びその内部の半導体チップは外部接続用の半田ボール56によって、実装用基板200上の配線層201に電気的に接続される。
従来であれば、パッケージ基板10上に設けられた半導体チップ20とパッケージ基板11上に搭載された半導体チップ30とを個別のパッケージ装置として実装用基板200上に実装する場合には、図11及び図12に示す破線で囲まれた領域X内に、いずれか一方のパッケージ装置を実装しなければならなかった。
しかし、本発明の実施形態のように、異なる2つのパッケージ基板10,11上の半導体チップ20,30を、1つの両面実装型パッケージ装置として構成することにより、実装用基板200上での実装面積を縮小することができ、領域Xには、新たなパッケージ装置を実装することができる。
したがって、本発明の実施形態の第1適用例によれば、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。また、本適用例のように、半導体装置接続手段50を用いることによって、両面実装型のパッケージの上側及び下側に配置された半田ボール3,4は、たとえパッケージの内部で相互に接続されていなくても、フィルム51内の配線(図示せず)によって相互に接続することが可能である。それゆえ、両面実装型パッケージ装置1の端子をパッケージ基板と接続することできる。
尚、本適用例において、パッケージ装置1内の半導体チップは、説明の簡単化のため、1つパッケージ基板に対してそれぞれ1つずつ図示しているが、複数個のチップを設けてもよいのは勿論であり、以下の適用例においても同様である。
(2) 第2適用例
図13及び図14を用いて、本発明の実施形態に第2適用例について説明する。図13は第2適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図13はその断面図を示す。
図13及び図14を用いて、本発明の実施形態に第2適用例について説明する。図13は第2適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図13はその断面図を示す。
図13及び図14は、2個の片面実装型パッケージ装置7A,7Bを半田ボール5A,5Bが設けられていない面(上面)同士が対向するように積層させ、図6乃至図8に示される半導体装置接続手段50を用いて、それらを実装用基板200上に実装した例を示す。
片面実装型パッケージ装置7A,7Bは、それぞれ、パッケージ基板19A,19B上に少なくとも1つの半導体チップ40A,40Bが設けられる。半導体チップ40A,40Bは、ボンディングワイヤ103A,103Bによって、パッケージ基板19A,19Bの基板パッド(図示せず)に接続され、さらに、基板19A,19Bに形成された配線層を介して半田ボール5A,5Bに接続される。この半田ボール5A,5Bは、半導体装置接続手段50の半田ボール52,53にそれぞれ接続され、2つのパッケージ装置7A,7Bは半導体装置接続手段50によって実装用基板200の配線層201に接続される。
片面実装型パッケージ装置7A,7Bにおいて、半導体チップ40A,40Bは絶縁性のパッケージ110A,110B内に封止された構造となっているので、上記のようにパッケージ装置の上面同士が対向するように積層させても、2つのパッケージ装置7A,7Bの機能に問題が生じることはない。
本適用例に示すように、半導体装置接続手段50は、両面実装型のパッケージのみでなく、従来の片面実装型パッケージに対しても適用することができる。したがって、本発明の実施形態の第2適用例によれば、半導体装置接続手段50を用いることによって、2個の片面実装型パッケージ7A,7Bを、その上面が対向するように背中合わせで積層させ、且つ、2個のパッケージ装置間の配線接続も半導体装置接続手段50内で実現されているので、パッケージ基板の実装面積の効率を向上できる。また、2つのパッケージ装置を接続する配線層はフレキシブルフィルム51内に形成されているので、実装用基板200内の配線レイアウトも簡単化することができ、さらには、実装用基板の配線層及びそれを流れる電流に起因する発熱も抑制できる。
(3) 第3適用例
図15及び図16を用いて、本発明の実施形態に第3適用例について説明する。図15は第3適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図16はその断面図を示す。
図15及び図16を用いて、本発明の実施形態に第3適用例について説明する。図15は第3適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図16はその断面図を示す。
本適用例では、図9及び図10に示した半導体装置接続手段50Aのように、フレキシブルフィルム51上面及び裏面の両端に半田ボール52,53,56,58が設けられた半導体装置接続手段50Aを用いて、両面実装型パッケージを実装用基板200上に実装し、さらに、両面実装型パッケージ装置1上に、外部電極58を介して、片面実装型LSIパッケージ7Aを実装した例を示している。
したがって、本発明の実施形態の第3適用例においても、フレキシブルフィルム51上面及び裏面の両端に半田ボールを配置することによって、より多くのパッケージ装置の実装が可能となり、パッケージ装置の実装面積効率を向上できる。
尚、本適用例においては、1つの両面実装型パッケージ装置1を実装した例について述べたが、その代わりに、第2適用例のように、2つの片面実装型パッケージ装置を実装してもよい。
(4) 第4適用例
図17及び図18を用いて、本発明の実施形態に第4適用例について説明する。図17は第4適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図18はその断面構造を示す。
図17及び図18を用いて、本発明の実施形態に第4適用例について説明する。図17は第4適用例のパッケージ装置の斜視図を示し、図18はその断面構造を示す。
図17及び図18に示すように、本適用例においては、2つの両面実装型パッケージ装置1A,1Bが、2つの半導体装置接続手段50,50Aを用いて、1つの実装用基板200上に実装されている。両面実装型パッケージ装置1Aは、図9及び図10に示される半導体装置接続手段50Aの半田ボール52A,53Aによって、パッケージ装置上部及び底部の半田ボール3A,4Aが結線され、半田ボール6Aを介して、実装用基板200上に実装される。また、両面実装型パッケージ装置1Bは、半導体装置接続手段50の半田ボール52B,53Bによって、パッケージ装置上部及び底部の半田ボール3B,4Bが結線され、両面実装型パッケージ装置1Bは他方の両面実装型パッケージ装置1A上に積層される。
そして、半導体装置接続手段50の半田ボール56Bと半導体装置接続手段50Aの半田ボール58とが接続される。それによって、両面実装型パッケージ装置1Bは、2つの半導体装置接続手段50,50Aを介して、実装用基板200の配線層201に接続される。
半導体チップとしてメモリチップを用いて記憶容量の大きいメモリシステムを構成する場合のように、同一種の半導体チップを複数個用いたパッケージ装置においては、アドレス端子、データ入出力端子及び電源端子など共用できる端子が多く存在するため、本適用例のように、半導体装置接続手段50,50Aを複数用いて、複数個のパッケージ装置を積層することも可能である。また、従来のように、1つの大記憶容量のパッケージ装置を構成するために、複数のメモリチップを1つのパッケージ内に搭載する場合には、1つのメモリチップの不良がパッケージ装置全体の不良となってしまい、製造歩留まりが低下してしまう。しかし、本適用例のように、両面実装型パッケージ装置及び半導体装置接続手段を用い、中規模の記憶容量のパッケージ装置を複数積層することで、実装面積が小さい大記憶容量のメモリシステムを、製造歩留まりの低下を防止して提供できる。
以上のように、本発明の実施形態の第4適用例においても、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。
尚、本適用例においては、2つの両面実装型パッケージ装置を実装した例について述べたが、その代わりに、第2適用例のように複数の片面実装型パッケージ装置を実装してもよい。
3. その他
本発明の実施形態によれば、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。また、本発明の実施形態によれば、半導体チップが搭載されるパッケージ基板の配線レイアウトの複雑化の抑制、半導体装置の製造歩留まりの向上を図ることもできる。
本発明の実施形態によれば、パッケージ装置の実装面積の効率化を図ることができる。また、本発明の実施形態によれば、半導体チップが搭載されるパッケージ基板の配線レイアウトの複雑化の抑制、半導体装置の製造歩留まりの向上を図ることもできる。
本発明の例は、上述の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、各構成要素を変形して具体化できる。また、上述の実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を構成できる。例えば、上述の実施形態に開示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよいし、異なる実施形態の構成要素を適宜組み合わせてもよい。
1,1A,1B:両面実装型パッケージ装置、7A,7B:片面実装型パッケージ装置、2,110A,110B:パッケージ材、3,3A,3B,4,4A,4B,5A,5B:半田ボール、10,11,19A,19B:パッケージ基板、12A,12B,13A,13B,14A,14B,15A:基板パッド、20,20A,20B,25,25A,25B,30,33,35,36,40A,40B:半導体チップ、21,21A,21B,26,26A,26B,31,34,36,37,41A,41B:チップパッド、50,50A:半導体装置接続手段、51:絶縁性フィルム、52,52A,52B,53,53A,53B,:チップ間接続端子、55,55A,55B:チップ間接続配線層、56,56A,56B,58:外部接続端子、57:コンタクト部、100,100A,100B,105,106:スペーサー、101,102:ボンディングワイヤ、200:実装用基板。
Claims (5)
- 第1のパッケージ基板と、
前記第1のパッケージ基板の一方の面上に設けられる複数の第1の外部接続端子と、
前記第1のパッケージ基板の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第1の半導体チップと、
前記第1の半導体チップの前記第1のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる複数の第1のパッドと、
第2のパッケージ基板と、
前記第2のパッケージ基板の一方の面上に設けられる複数の第2の外部接続端子と、
前記第2のパッケージ基板の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第2の半導体チップと、
前記第2の半導体チップの前記第2のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる複数の第2のパッドとを具備し、
前記第1及び第2の半導体チップは、前記第1及び第2の複数のパッドが設けられた面同士が互いに対向するように積層されることを特徴とする半導体装置。 - 前記第1の半導体チップと前記第2の半導体チップの間にはスペーサー部材が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記第1の半導体チップと前記スペーサー部材との間には、前記第1の半導体チップのチップサイズより小さなチップサイズの第3の半導体チップが設けられ、
前記第2の半導体チップと前記スペーサー部材との間には、前記第2の半導体チップのチップサイズより小さなチップサイズの第4の半導体チップが設けられていることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。 - 複数の半導体チップを接続するための半導体装置接続手段であって、
絶縁性フィルムの一方の面上の一端に設けられる複数の第1のチップ接続端子と、
前記絶縁性フィルムの一方の面上の他端に設けられる複数の第2のチップ接続端子と、
前記絶縁性フィルムの他方の面上に設けられる複数の外部接続端子と、
前記絶縁性フィルム内に設けられ、前記第1、第2のチップ接続端子及び外部接続端子をそれぞれ電気的に接続する複数の内部配線層とを具備し、屈曲性を有することを特徴とする半導体装置接続手段。 - 第1のパッケージ基板と、
前記第1のパッケージ基板の一方の面上に設けられる複数の第1の外部接続端子と、
前記第1のパッケージ基板の他方の面上に搭載される少なくとも1つの第1の半導体チップと、
前記第1の半導体チップの前記第1のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる第1の複数のパッドと、
第2のパッケージ基板と、
前記第2のパッケージ基板の一方の面上に搭載される複数の第2の外部接続端子と、
前記第2のパッケージ基板の他方の面上に設けられる少なくとも1つの第2の半導体チップと、
前記第2の半導体チップの前記第2のパッケージ基板と接する面と反対の面上に設けられる第2の複数のパッドと、
一方の面上の一端及び他端にそれぞれ第1、第2のチップ接続端子を有し、他方の面上に第3の外部接続端子を有し、前記第1、第2のチップ接続端子及び前記第3の外部接続端子を接続する内部配線層を有する半導体装置接続手段とを具備し、
前記第1及び第2の半導体チップは、前記複数の第1及び第2のパッドが設けられた面同士が互いに対向するように積層され、
前記第1及び第2の外部接続端子は、前記第1及び第2のチップ接続端子にそれぞれ電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008072460A JP2009231383A (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 半導体装置及び半導体装置接続手段 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008072460A JP2009231383A (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 半導体装置及び半導体装置接続手段 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009231383A true JP2009231383A (ja) | 2009-10-08 |
Family
ID=41246486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008072460A Withdrawn JP2009231383A (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 半導体装置及び半導体装置接続手段 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009231383A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012151173A (ja) * | 2011-01-17 | 2012-08-09 | Nec Corp | 3次元実装型半導体装置、および電子機器 |
CN112349705A (zh) * | 2019-08-08 | 2021-02-09 | 南茂科技股份有限公司 | 电子封装装置 |
CN112382627A (zh) * | 2020-11-11 | 2021-02-19 | 歌尔微电子有限公司 | 系统级封装结构及其制作工艺和电子设备 |
WO2022215372A1 (ja) * | 2021-04-08 | 2022-10-13 | 株式会社村田製作所 | 電子回路モジュール |
-
2008
- 2008-03-19 JP JP2008072460A patent/JP2009231383A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012151173A (ja) * | 2011-01-17 | 2012-08-09 | Nec Corp | 3次元実装型半導体装置、および電子機器 |
CN112349705A (zh) * | 2019-08-08 | 2021-02-09 | 南茂科技股份有限公司 | 电子封装装置 |
CN112382627A (zh) * | 2020-11-11 | 2021-02-19 | 歌尔微电子有限公司 | 系统级封装结构及其制作工艺和电子设备 |
WO2022215372A1 (ja) * | 2021-04-08 | 2022-10-13 | 株式会社村田製作所 | 電子回路モジュール |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4753725B2 (ja) | 積層型半導体装置 | |
KR101070913B1 (ko) | 반도체 칩 적층 패키지 | |
US7598617B2 (en) | Stack package utilizing through vias and re-distribution lines | |
US10522522B2 (en) | Package substrate comprising side pads on edge, chip stack, semiconductor package, and memory module comprising same | |
JP5222509B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010056139A (ja) | 積層型半導体装置 | |
JP4068974B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20080122064A1 (en) | Semiconductor device | |
US7355272B2 (en) | Semiconductor device with stacked semiconductor chips of the same type | |
JP2004128155A (ja) | 半導体パッケージ | |
JP4377269B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011129894A (ja) | 半導体装置 | |
JP2005209882A (ja) | 半導体パッケージ及び半導体装置 | |
JP2007134426A (ja) | マルチチップモジュール | |
JP2009231383A (ja) | 半導体装置及び半導体装置接続手段 | |
KR102542628B1 (ko) | 반도체 패키지 | |
JP2002033442A (ja) | 半導体装置、回路基板及び電子機器 | |
JP5511823B2 (ja) | 半導体装置および電子装置 | |
JP2009065066A (ja) | 半導体装置 | |
JP2009182104A (ja) | 半導体パッケージ | |
US20090267229A1 (en) | Chip package structure | |
JP2010258254A (ja) | 半導体装置 | |
JP2015177171A (ja) | 半導体装置 | |
JP4343727B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP4624660B2 (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20110607 |