JP2009210394A - 相互接続部材の製造方法および相互接続部材 - Google Patents

相互接続部材の製造方法および相互接続部材 Download PDF

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Abstract

【課題】 支持基板を直接エッチングすることなく、かつ、十分な硬度を有し、かつ、支持基板によらずに様々な形状の先端鋭利形状部を有する相互接続部材とその製造方法を提供する。
【解決手段】 先端鋭利形状部が形成された梁部を有する相互接続部材の製造方法であって、少なくとも一面が導電性を有する支持基板上に、絶縁性を有するマスキング部材にて一面をパターニングするパターニングステップと、マスキング部材から露出した支持基板の露出面に除去可能な除去層を形成する除去層ステップと、除去層上に、絶縁性を有するマスキング部材にて梁部のパターンを形成する梁部パターニングステップと、梁部のパターンに所定の材料を堆積させて層を形成する梁部層ステップと、層上に梁部を構成する材料を堆積させて梁部を形成する梁部ステップと、を備えている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、電気的に接続された相互接続部材に関する。
ICパッケージ基板の導通検査等には、従来から検査用のコンタクトプローブが使用されているが、近年、電子部品の小型化による電子部品電極の狭ピッチ化が進んでおり、狭ピッチ対応のより微細な先端鋭利形状部を有するコンタクトプローブが必要とされている。このような微細な部品の製造方法として、シリコン等の支持基板を使用した半導体プロセスによる方法とフォトレジストを用いた電鋳による方法とが広く知られており、半導体プロセスによる方法と電鋳による方法とを融合した方法も使用されている。
このような方法として、例えば、微細化を進めるためにフォトレジストを用いた電鋳型を使用するものがある。この際、コンタクトプローブ等の針部のような微細な先端鋭利形状部を形成するための型として、シリコンに異方性エッチングを行ったものが広く用いられている。この型によって形成されたものを片持ち梁状に基板となる他の接続対象部材と接合し、相互接続部材として一体化したコンタクトプローブを製造している(例えば、特許文献1参照)。
また、先端鋭利形状部をレジストパターンとめっきの成長方向を利用して形成し、電鋳により相互接続部材を製造している(例えば、特許文献2参照)。
特許第3058919号公報 特開2007−309817号公報
しかしながら、上記従来の相互接続部材の製造方法では、先端鋭利形状部を形成するために支持基板として使用するシリコン基板(犠牲基板)をエッチングする際、シリコンの結晶によってエッチング形状が四角錐状に定まってしまう。そのため、エッチング部分に先端鋭利形状部を形成することができても、曲面を形成することができず、先端鋭利形状部の形状が限定されてしまう。また、異方性エッチングの際、マスキング部材であるシリコン酸化膜や窒化膜のパターニングにフッ化水素を使用するため、安全に取り扱うための使用設備が高額になってしまう。
また、電鋳により先端鋭利形状部を形成する場合、応力が小さいニッケル電鋳によってなされるが、ニッケル電鋳により形成される電鋳体の硬度は、ビッカース硬度でHv200から700程度で十分な硬さを有しているとは言いがたいものである。一方、高い硬度を有するニッケル−ホウ素合金やニッケル−タングステン合金めっきでは、応力が高すぎるため厚いめっきや電鋳を施すこと出来ない。さらに、通常の電鋳体の上にこれらの高い硬度を有するめっき被膜で覆うことも可能であるが、電鋳体として完成された相互接続部材の表面にこれを形成することは実質的に困難であることと、微細部品であることから寸法精度に問題を来たすという問題がある。
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、支持基板を直接エッチングすることなく、かつ、十分な硬度を有し、かつ、支持基板によらずに様々な形状の先端鋭利形状部を有する相互接続部材とその製造方法を提供することを目的とする。
本発明は、上記課題を解決するため、以下の手段を採用する。
本発明に係る相互接続部材の製造方法は、先端鋭利形状部が形成された梁部を有する相互接続部材の製造方法であって、少なくとも一面が導電性を有する支持基板上に、絶縁性を有するマスキング部材にて前記一面をパターニングするパターニングステップと、前記マスキング部材から露出した前記支持基板の露出面に除去可能な除去層を形成する除去層ステップと、前記除去層上に、絶縁性を有するマスキング部材にて前記梁部のパターンを形成する梁部パターニングステップと、前記梁部のパターンに所定の材料を堆積させて層を形成する梁部層ステップと、前記層上に前記梁部を構成する材料を堆積させて前記梁部を形成する梁部ステップと、を備えていることを特徴とする。
この発明は、パターニングステップと除去層ステップで先端鋭利形状部の概略形状が決定され、梁部パターニングステップで梁部の概略形状が決定される。そして、梁部層ステップで、少なくとも先端鋭利形状部の先端部の表面に梁部を構成する材料とは異なる材質の材料で層を形成することができ、梁部ステップで、先端鋭利形状部および梁部を形成することができる。そのため、従来のように支持基板を直接エッチングする必要がなく、様々な形状の先端鋭利形状部を形成できる。しかも、少なくとも先端鋭利形状部の先端部の表面に、梁部よりも硬質であることをはじめとする物性値や耐食性をはじめとする化学的特性を有する層を形成できる。
また、本発明に係る相互接続部材の製造方法は、前記梁部上に絶縁性を有するマスキング部材にて突起部のパターンを形成し、突起部を構成する材料を堆積させて前記梁部上に突起部を形成する突起部ステップと、を備えていることを特徴とする。
この発明は、相互接続部材の主要部と外部部材との接続を行うための突起部を同時かつ一体品として形成できる。
また、本発明に係る相互接続部材の製造方法は、前記除去層を取り除いて、前記支持基板を前記梁部から分離する除去分離ステップをさらに備えていることを特徴とする。
この発明は、前記支持基板上に前記除去層を介して形成されている相互接続部材を、前記除去層を除去することにより前記支持基板から分離ができるので、相互接続部材を単品として容易に製造できる。
また、本発明に係る相互接続部材の製造方法は、前記突起部を介して前記梁部と配線を施した基板とを接続する接続ステップと、前記除去層を取り除いて、前記支持基板を前記梁部から分離する除去分離ステップと、をさらに備えていることを特徴とする。
この発明は、前記突起部を介して前記梁部と配線を施した基板とを接続したのち、前記除去層を除去することにより前記支持基板を前記梁部から分離できるので、梁部と配線を施した基板との接続を容易に行いつつ、相互接続部材を単品として容易に製造できる。
また、本発明に係る相互接続部材は、前記梁部における少なくとも先端鋭利形状部の表面が、前記梁部を構成する材料とは異なる組成を有する材料で構成された層で覆われていることを特徴とする。このとき、前記層を構成する材料の硬度が前記梁部を構成する材料の硬度よりも高いことが好ましい。
また、本発明に係る相互接続部材は、前記梁部の表面のうち、先端鋭利形状部が形成されている面とは異なる面に突起部が形成されていることを特徴とする。
この発明は、突起部を介して外部部材と容易に接続することができる相互接続部材を提供することができる。
また、本発明に係る相互接続部材は、前記突起部の少なくとも表面が金合金である相互接続部材であることを特徴とする。
この発明は、突起部の少なくとも表面が金合金であるので、はんだ等の接合材で突起部を介して外部部材と容易に接続することができると同時に、前記金合金として、金とすずの合金を用いれば、この合金が接合材となり、耐薬品性に優れた相互接続部材を提供することができる。
本発明に係る第1の実施形態について、図1から図10を参照して説明する。
本実施形態に係る相互接続部材1は、接続基板(接続対象部材)2と接続されている。相互接続部材1は、梁部3と、梁部3の一端部に形成された先端鋭利形状部4と、梁部3における少なくとも先端鋭利形状部4の先端部の表面に形成された、本実施形態では梁部3における先端鋭利形状部4が形成された面の全面に形成された、梁部3を構成する材質とは異なる材質の梁部層5と、梁部3の他端部において先端鋭利形状部4が形成された面とは異なる面に形成された突起部6とを備えている。突起部6は、間隙形成部7と、はんだ材、ろう材等からなる接続部8とを備えている。相互接続部材1は、突起部6と接続基板2に備えられた配線9とを介して、接続基板2と接合されている。
次に、この相互接続部材1が接続基板2に接続された状態での製造方法について説明する。
この相互接続部材1が接続基板2に接続された状態での製造方法は、図2〜10に示すように、少なくとも一面10aが導電性を有する支持基板10上に絶縁性を有する第1のマスキング部11をパターニングするパターニングステップ(S01)と、第1のマスキング部11から露出した支持基板10の露出面10aに、除去可能であり、先端鋭利形状部31の基本的形状を決める除去層12を含む除去層16を形成する除去層ステップ(S02)と、除去層16上に先端鋭利形状部31および梁部21の型となる梁部パターン開口部19を形成する梁部パターニングステップ(S03)と、梁部パターン開口部19のうち、少なくとも先端鋭利形状部31の先端部の表面となる面に、梁部層20を形成する梁部層ステップ(S04)と、梁部21を形成する梁部ステップ(S05)と、梁部21に間隙形成部25と接続部26とからなる突起部27を形成する突起部ステップ(S06)と、相互接続部材32と接続基板28とを突起部27および配線29を介して接続する接続ステップ(S07)と、除去層16と第1のマスキング部11を除去することにより、相互接続部材32を支持基板10から分離する除去分離ステップ(S08)とを備えている。
以下、各ステップについて説明する。
パターニングステップ(S01)では、図示しない暗室内にて、図3(b)に示すように、微細なパターンを形成するためにフォトレジストをパターニングすることにより、例えば、導電性を有する露出面10aに囲まれた直径20μm程度の円形の第1のマスキング部11を支持基板10上に形成する。
除去層ステップ(S02)では、図示しない電鋳装置を用いて、露出面10aに図示しない電気配線を接続して支持基板10を図示しない電鋳液に浸す。そして、図示しない電源から所定の電流を通電することにより、図4に示すように、支持基板10の露出面10aの厚さ方向に、Cuからなる第1の除去層12を析出させる。
一方、第1のマスキング部11には電流が流れないので、第1のマスキング部11の上には第1の除去層12は析出しない。そのため、第1のマスキング部11の面上と露出面10aとの間では、第1の除去層12の堆積速度及び堆積方向が変化する。従って、第1のマスキング部11には、周縁部を中心として第1のマスキング部11の面上に中心部に向かって等方的に張り出した円曲面が形成される。こうして、第1のマスキング部11が埋没するまでCuを堆積させることによって、図4(a)(a’)に示すように、第1のマスキング部11の直上に、厚さ方向に直径略20μmまで漸次拡径した逆円錐状の凹部が形成される。
次に、第1の除去層12の表面に、図示しない暗室にて、フォトレジスト層13を形成し、露光、現像することにより、例えば、直径20μm、第1の除去層12からの高さ20μmの第2のマスキング部14を形成する。次いで、図示しない電鋳装置を用いて、第1の除去層12のうち表面が現れている部分に図示しない電気配線を接続して支持基板10を図示しない電鋳液に浸す。そして、図示しない電源から所定の電流を通電することにより、第1の除去層12うち表面が現れている部分の厚さ方向に、Cuからなる第2の除去層15を析出させる。その後、第2のマスキング部14を除去することにより、図4(d)(d’)に示すように、逆円錐上の凹部の上部に円筒型の凹部が形成される。
梁部パターニングステップ(S03)では、除去層16の表面に図示しない暗室にて、フォトレジスト層17を形成した後、露光、現像することにより、図5(b)および(b’)に示したように硬化したフォトレジスト層からなる梁部マスキング部18が形成される。
梁部層ステップ(S04)では、梁部パターン開口部19内に図示しない電鋳装置を用いて、図6に示した除去層16の上にホウ素を含有するニッケルからなる梁部層20を形成する。この梁部層20を構成するホウ素を含有するニッケル層は、マイクロビッカース硬度900を有する。
梁部ステップ(S05)では、梁部パターン開口部19内に図示しない電鋳装置を用いて、図7に示した梁部層20の表面にニッケルからなる梁部21を形成する。梁部21を構成するニッケルは、マイクロビッカース硬度700を有する。
突起部ステップ(S06)では、図示しない暗室内にて、梁部21および梁部マスキング部18上にフォトレジスト層22を形成し、次いで、露光・現像をおこなうことにより、突起部マスキング部23と突起部パターン開口部24を形成する。次に、図示しない電鋳装置を用いて、図8(e)および(e’)に示した突起部パターン開口部24に突起部27を形成する。この突起部27は、梁部21側がニッケルからなる間隙形成層25、その外側が金と錫の共晶合金からなる接合材層26から構成されている。その後、梁部マスキング部18と突起部マスキング部23を除去する。
接続ステップ(S07)では、図9に示すように、配線29が基板30上に形成された接続基板28と梁部21とを、突起部27のうち金−錫共晶合金はんだからなる接合材層26を接続層として接合し、接続する。
除去分離ステップ(S08)では、除去層16をエッチングによって除去する。このとき、第1のマスキング部材11は、先端鋭利形上部31とは点で接しているので、特に除去せずに、支持基板10と相互接続部材32とを分離することも出来る。これにより、相互接続部材32と接続基板28とが一体化したものを作製することができる。
この相互接続部材1の製造方法によれば、マスキング部材11でパターニングされた支持基板10の露出面10aに除去層16を形成するので、除去層16の形状に応じた先端鋭利形状部31を形成することができる。従って、支持基板10自身を部品とする場合や、支持基板10にエッチング加工をしたものを型として使用する場合と比べ、シリコンエッチングに要するフッ化水素や、特殊ガス等を使用しなくてもよく、使用する設備を安価にすることができる。この相互接続部材1をコンタクトプローブとして使用する場合、先端鋭利形状部4をLSIなどの微細電子部品の電極に正確に押し当てることにより、電気的に良好な接続を得ることが出来、相互接続部材1に接続された接続基板2を介して外部の機器と電気的に接続が出来る。また、先端鋭利形状部4の先端部分の材質が硬度に優れたニッケル−ホウ素合金であるので耐久性に優れたものとなる。
また、先端鋭利形状部31の先端部を含む相互接続部が硬度に優れたホウ素を含有するニッケル−ホウ素合金めっき層からなる梁部層20により覆われているため、耐久性や硬度が高い接続対象物に対して高い信頼性を持って接続動作を行うことが出来る。
ニッケル−ホウ素合金めっきは、非常に高い応力を有しているので、梁部21全体を構成することが出来ないが、梁部層20として用いることにより、その性能を発揮することができる。
さらに、梁部層20の形成を梁部21の形成と一連の工程で行うことができるので、困難である相互接続部材32を形成した後に全体をニッケル−ホウ素合金めっきで被覆する手段をとらずに、耐久性にすぐれた相互接続部材32を容易に作製できることができる。
次に、第2の実施形態について図11に示す相互接続部材33の製造方法について説明する。
第2の実施形態と第1の実施形態との異なる点は、本実施形態に係る先端鋭利形状部36の形状が、略円錐状となっている点である。また、作製工程において除去層ステップ(S02)と梁部パターニングステップ(S03)の工程順序が逆転していることを異としている。
この先端鋭利形状部36を有し、接続基板34が接続されている相互接続部材33を製造する方法について説明する。
パターニングステップ(S01)では、第1の実施形態と同様に、図12(b)(b’)に示すように支持基板42上に第1のマスキング部材43を形成する。
次に、第1の実施形態とは異なり、除去層ステップ(S02)に先立ち、梁部パターニングステップ(S03)により、梁部マスキング部44と梁部パターン開口部45を形成する。
次に、除去層ステップ(S02)により、除去層46を図示しない電鋳槽を用いて、銅電鋳により形成する。これにより、略円錐形状を有する先端鋭利形状部36の外形を決定する型が形成される。
次に、梁部層ステップ(S04)により、図13(a)に示した梁部層47を形成する。この梁部層47は第1の実施形態と同様の材質であるビッカース硬度900を有するニッケル−ホウ素合金からなっている。
以下、第1の実施形態と同様に各ステップにしたがって、工程を進めることにより、接続基板34を接続した相互接続部材32を作製することができる。
この相互接続部材32の製造方法によれば、先端鋭利形状部36の形成を容易に行うことが出来る。
次に、第3の実施形態について図15に示す相互接続部材58の製造方法について説明する。
第3の実施形態と第1の実施形態との異なる点は、先端鋭利形状部60の外形形状は同じであるが、梁部層61の被覆部が先端鋭利形状部60とその近傍であり、梁部層61の材質が金であることを異にしている。また、第1の実施形態とは、梁部パターニングステップ(S03)と梁部層ステップ(S04)の工程順序が逆転している。
以下に、第3の実施形態について図16から図19を参照しながら説明する。
第3の実施形態において、パターニングステップ(S01)、除去層ステップ(S02)は同一の工程であるので省略する。
梁部層ステップ(S04)では、図16(b)および(b’)に示したように、除去層16の表面に、梁部層マスキング部68と梁部層パターン開口部69をフォトレジストにより形成する。次に、図示しない電鋳槽にて金からなる梁部層70を梁部層パターン開口部69に選択的に形成し、その後、梁部層マスキング部68を薬液にて除去する。
以下、第1の実施形態と同様に各ステップにしたがって、工程を進めることにより、接続基板65を接続した相互接続部材58を作製することができる。この梁部層70は、接触抵抗が小さい金からなっているため、コンタクトプローブとして用いる場合、被測定物の内部抵抗が小さい場合、測定誤差がちいさくなるので、非常に有効に働く。
なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、第1の実施形態と第2の実施形態では梁部層として硬度が高いニッケル−ホウ素合金を用い、第3の実施形態では金を用いた。梁部の電気抵抗値を低減するために、第1の実施形態における構造の相互接続部材1の梁部層5として金を用い、第3の実施形態における構造の相互接続部材58の梁部層70をニッケル−ホウ素合金にすることにより、硬度を高め耐久性を高めることが出来る。
本発明の第1の実施形態に係る相互接続部材を示す要部断面図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部材の製造方法を示すフロー図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部材の製造方法のうち、先端鋭利形状部のパターンの製造方法を示す説明図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部材の製造方法のうち、先端鋭利形状部に係る製造方法を示す説明図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部材の製造方法のうち、梁部を形成するための型の製造方法を示す説明図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部材の製造方法のうち、梁部層の製造方法を示す説明図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、梁部の製造方法を示す説明図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、突起部の製造方法を示す説明図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、相互接続部材と接続基板の接続の製造方法を示す説明図である。 本発明の第1の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、支持基板を除去する製造方法を示す説明図である。 本発明の第2の実施形態に係る相互接続部品を示す要部断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、先端鋭利形状部および除去層に係る製造方法を示す説明図である。 本発明の第2の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、梁部層、梁部および突起部の製造方法を示す説明図である。 本発明の第2の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、相互接続部材と接続基板の接続および支持基板の除去に係る製造方法を示す説明図である。 本発明の第3の実施形態に係る相互接続部材を示す要部断面図である。 本発明の第3の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、先端鋭利形状部および梁部層に係る製造方法を示す説明図である。 本発明の第3の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、梁部を形成するための型の製造方法を示す説明図である。 本発明の第3の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、梁部の製造方法を示す説明図である。 本発明の第3の実施形態に係る相互接続部品の製造方法のうち、相互接続部材と接続基板の接続に係る製造方法を示す説明図である。
符号の説明
1、32、58 相互接続部品
2、28、34、65 接続基板
3、21、35、59 梁部
4、31、33、36 先端鋭利形状部
5、20、47、70 梁部層
6、27 突起部
7、25 間隙形成部
8、26 接続部
9、29 配線
10 支持基板
10a 露出面
11 第1のマスキング部材
11a 逆円錐上の凹部
12 第1の除去層
12a 円曲面
13、17、22 フォトレジスト層
14 第2のマスキング部
15 第2の除去層
15a 円筒型の凹部
16 除去層
18、44 梁部マスキング部
19、45 梁部パターン開口部
23 突起部マスキング部
24 突起部パターン開口部
26 接合材層
68 梁部層マスキング部
69 梁部層パターン開口部

Claims (8)

  1. 先端鋭利形状部が形成された梁部を有する相互接続部材の製造方法であって、
    少なくとも一面が導電性を有する支持基板上に、絶縁性を有するマスキング部材にて前記一面をパターニングするパターニングステップと、
    前記マスキング部材から露出した前記支持基板の露出面に除去可能な除去層を形成する除去層ステップと、
    前記除去層上に、絶縁性を有するマスキング部材にて前記梁部のパターンを形成する梁部パターニングステップと、
    前記梁部のパターンに所定の材料を堆積させて層を形成する梁部層ステップと、
    前記層上に前記梁部を構成する材料を堆積させて前記梁部を形成する梁部ステップと、
    を備えていることを特徴とする相互接続部材の製造方法。
  2. 前記梁部上に突起部を形成する突起部ステップをさらに備えていることを特徴とする請求項1に記載の相互接続部材の製造方法。
  3. 前記除去層を取り除いて、前記支持基板を前記梁部から分離する除去分離ステップをさらに備えていることを特徴とする請求項1または2に記載の相互接続部材の製造方法。
  4. 前記突起部を介して前記梁部と配線を施した基板とを接続する接続ステップと、
    前記除去層を取り除いて、前記支持基板を前記梁部から分離する除去分離ステップと、
    をさらに備えていることを特徴とする請求項2に記載の相互接続部材の製造方法。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の製造方法によって製造された相互接続部材であって、
    前記梁部における少なくとも先端鋭利形状部の先端部の表面が、前記梁部を構成する材料とは異なる組成を有する材料で構成された層で覆われていることを特徴とする相互接続部材。
  6. 前記層を構成する材料の硬度が前記梁部を構成する材料の硬度より高いことを特徴とする請求項5に記載の相互接続部材。
  7. 前記梁部の表面のうち、先端鋭利形状部が形成されている面とは異なる面に突起部が形成されていることを特徴とする請求項5または6に記載の相互接続部材。
  8. 前記突起部の少なくとも表面が金合金であることを特徴とする請求項7に記載の相互接続部材。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144151A (ja) * 1999-11-16 2001-05-25 Ibiden Co Ltd ウエハプローバ
JP2003185674A (ja) * 2001-10-11 2003-07-03 Yamaha Corp プローブユニットおよびその製造方法
JP2003185676A (ja) * 2001-12-17 2003-07-03 Yamaha Corp プローブユニット
JP2005136246A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置の製造方法
JP2007085931A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP2007309817A (ja) * 2006-05-19 2007-11-29 Seiko Instruments Inc 相互接続部材の製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144151A (ja) * 1999-11-16 2001-05-25 Ibiden Co Ltd ウエハプローバ
JP2003185674A (ja) * 2001-10-11 2003-07-03 Yamaha Corp プローブユニットおよびその製造方法
JP2003185676A (ja) * 2001-12-17 2003-07-03 Yamaha Corp プローブユニット
JP2005136246A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置の製造方法
JP2007085931A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP2007309817A (ja) * 2006-05-19 2007-11-29 Seiko Instruments Inc 相互接続部材の製造方法

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