JP2009204511A - シール検査方法、及びシール検査装置 - Google Patents
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【解決手段】電極11Bは、高電圧発生装置12による印加時に発生するイオンを絶縁体3に向けて放射し、測定器13は、絶縁体3のピンホールまたは絶縁体3と電線1との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第1の電線と第2の電線との間の空隙を含む、電極11Bと芯線2との間の空間に存在するイオンを介して、電極11Bから芯線2へ流れる電流を検出する。
【選択図】図1
Description
(1) 芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線を測定器に接続する接続ステップと、
放電によってイオンを発生させるための電極に高電圧を印加することによって、前記絶縁体に向けて前記電極からイオンを放射する放射ステップと、
前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第1の電線と第2の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を前記測定器によって検出する検出ステップと、
を有する。
(2) 上記(1)の構成のシール検査方法において、
前記放射ステップにて、前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーの、前記電線が挿通する開口部分に向けて、前記電極からイオンを放射する、
ことを。
(3) 上記(1)の構成のシール検査方法において、
前記放射ステップにて、前記絶縁体周囲において前記電極を移動させつつ、前記絶縁体に向けて前記電極からイオンを放射する、
こと。
(4) 高電圧発生装置に接続された、放電によってイオンを発生させるための電極と、
芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線に接続された測定器と、を備え、
前記電極は、前記高電圧発生装置による印加時に発生するイオンを前記絶縁体に向けて放射し、
前記測定器は、前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第1の電線と第2の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を検出する、
こと。
(5) 上記(4)の構成のシール検査装置において、
前記絶縁体を内部に収容する検査室をさらに備え、
前記検査室は、前記電極のうちの少なくともイオンを放射する部位を内部に収容し、且つ前記電線によって貫通される、
こと。
(6) 上記(4)の構成のシール検査装置において、
前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーをさらに備え、
前記イオン飛散防止カバーは、前記絶縁体を内部に収容した際に、前記電線が挿通する開口部分を有し、
前記電極は、前記高電圧発生装置による印加時に発生するイオンを、前記イオン飛散防止カバーの前記開口部に向けて放射する、
こと。
(7) 上記(4)の構成のシール検査装置において、
前記絶縁体に向けて前記電極にイオンを放射させつつ、前記絶縁体周囲において該電極を可動にする移動治具をさらに備えた、
こと。
図1は本発明の第1の実施形態に係るシール検査装置10を示す構成図である。図1(a)は通電電流Lが未発生時の構成図であり、図1(b)は通電電流Lが発生時の構成図である。シール検査システム10は、芯線2の先端部2Aを被覆するように絶縁体(例えば、電線用絶縁キャップ)3が装着された電線1を検査の対象としており、電線1と絶縁体3との密着性及び電線1が複数本絶縁体3に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体3内部の気密性の検査を行うものである。本発明の実施の形態では、電線1と絶縁体3との密着性の検査及び電線1が複数本絶縁体3に装着されている場合の電線と電線との間の密着性、及び絶縁体3内部の気密性の検査を総してシール検査と称する。シール検査システム10は、シール検査装置11と、高電圧発生装置12と、を含んで構成される。シール検査装置11は、検査室11Aと、電極11Bと、測定器13を備えている。
まず、芯線2の露出した部分を被覆するように絶縁体3が装着された電線1を、一端がアースに接続された測定器13の他端に接続する(接続ステップ)。
続いて、高電圧発生装置12によって電極11Bに印加することによって、電極11Bから絶縁体3に向けてイオンを放射する(放射ステップ)。
続いて、絶縁体3のピンホールまたは絶縁体3と電線1との間の空隙及び電線1が複数本絶縁体3に装着されている場合の電線と電線との間の空隙を含む、電極11Bと芯線2との間に存在するイオンを介して、電極11Bから芯線2へ流れる電流を測定器13によって検出する(検出ステップ)。
次に、本発明の第2の実施形態に係るシール検査システム20について、詳細に説明する。尚、第2の実施形態において、第1の実施形態と同一部分には同一符号を付して重複説明を避ける。
まず、芯線2の露出した部分を被覆するように絶縁体3が装着された電線1を、一端がアースに接続された測定器13の他端に接続する(接続ステップ)。
続いて、高電圧発生装置12によって電極21Bに印加することによって、絶縁体3を内部に収容するイオン飛散防止カバー21Aの、電線1が挿通する開口部分に向けて、電極21Bからイオンを放射する(放射ステップ)。
続いて、絶縁体3のピンホールまたは絶縁体3と電線1との間の空隙及び電線1が複数本絶縁体3に装着されている場合の電線と電線との間の空隙を含む、電極21Bと芯線2との間に存在するイオンを介して、電極21Bから芯線2へ流れる電流を測定器13によって検出する(検出ステップ)。
次に、本発明の第3の実施形態について詳細に説明する。尚、第3の実施形態において、第1、第2の実施形態と同一部分には同一符号を付して重複説明を避ける。
まず、芯線2の露出した部分を被覆するように絶縁体3が装着された電線1を、一端がアースに接続された測定器13の他端に接続する(接続ステップ)。
続いて、絶縁体3周囲において電極31Bをスライダー32に沿って移動させつつ、高電圧発生装置12によって電極31Bに印加することによって、電極31Bから絶縁体3に向けてイオンを放射する(放射ステップ)。
続いて、絶縁体3のピンホールまたは絶縁体3と電線1との間の空隙及び電線1が複数本絶縁体3に装着されている場合の電線と電線との間の空隙を含む、電極31Bと芯線2との間に存在するイオンを介して、電極31Bから芯線2へ流れる電流を測定器13によって検出する(検出ステップ)。
2 芯線
2A 先端部
3 絶縁体(被検査物)
4、5 コネクタ
10、20、30 シール検査システム
11、21、31 シール検査装置
11A 検査室(包囲手段)
11B、21B、31B 電極
12 高電圧発生装置
13 測定器
21A イオン飛散防止カバー(包囲手段)
21C 固定部
32 スライダー
e 電子
i イオン分子
L 通電電流
Claims (7)
- 芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線を測定器に接続する接続ステップと、
放電によってイオンを発生させるための電極に高電圧を印加することによって、前記絶縁体に向けて前記電極からイオンを放射する放射ステップと、
前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第1の電線と第2の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を前記測定器によって検出する検出ステップと、
を有することを特徴とするシール検査方法。 - 前記放射ステップにて、前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーの、前記電線が挿通する開口部分に向けて、前記電極からイオンを放射する、
ことを特徴とする請求項1に記載のシール検査方法。 - 前記放射ステップにて、前記絶縁体周囲において前記電極を移動させつつ、前記絶縁体に向けて前記電極からイオンを放射する、
ことを特徴とする請求項1に記載のシール検査方法。 - 高電圧発生装置に接続された、放電によってイオンを発生させるための電極と、
芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線に接続された測定器と、を備え、
前記電極は、前記高電圧発生装置による印加時に発生するイオンを前記絶縁体に向けて放射し、
前記測定器は、前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第1の電線と第2の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を検出する、
ことを特徴とするシール検査装置。 - 前記絶縁体を内部に収容する検査室をさらに備え、
前記検査室は、前記電極のうちの少なくともイオンを放射する部位を内部に収容し、且つ前記電線によって貫通される、
ことを特徴とする請求項4記載のシール検査装置。 - 前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーをさらに備え、
前記イオン飛散防止カバーは、前記絶縁体を内部に収容した際に、前記電線が挿通する開口部分を有し、
前記電極は、前記高電圧発生装置による印加時に発生するイオンを、前記イオン飛散防止カバーの前記開口部に向けて放射する、
ことを特徴とする請求項4に記載のシール検査装置。 - 前記絶縁体に向けて前記電極にイオンを放射させつつ、前記絶縁体周囲において該電極を可動にする移動治具をさらに備えた、
ことを特徴とする請求項4に記載のシール検査装置。
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