JP2009198489A - 分析装置 - Google Patents

分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009198489A
JP2009198489A JP2008295002A JP2008295002A JP2009198489A JP 2009198489 A JP2009198489 A JP 2009198489A JP 2008295002 A JP2008295002 A JP 2008295002A JP 2008295002 A JP2008295002 A JP 2008295002A JP 2009198489 A JP2009198489 A JP 2009198489A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
position detection
signal
measurement spot
rotation
mark
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008295002A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5174627B2 (ja
Inventor
Masatake Hyodo
正威 兵頭
Takuya Suzuki
拓也 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2008295002A priority Critical patent/JP5174627B2/ja
Priority to EP09703534.9A priority patent/EP2241894B1/en
Priority to PCT/JP2009/000120 priority patent/WO2009093422A1/ja
Priority to US12/863,914 priority patent/US8289529B2/en
Publication of JP2009198489A publication Critical patent/JP2009198489A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5174627B2 publication Critical patent/JP5174627B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/07Centrifugal type cuvettes

Abstract

【課題】センサの数または位置検出用の部品を追加しなくても確実に測定スポット位置を検出できる分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】分析用デバイスには、測定スポットの直前または直後の回転検出位置に到達したときに光源から前記フォトディテクタに入射する出力光を遮る反射面,屈折面あるいは遮光面の何れかを有する位置検出マークを設けたため、測定スポットを読み取るセンサの出力信号から測定スポットの位置を判定して、予めメモリ28に蓄積した受光データから目的の分析信号だけを的確に抽出できる。
【選択図】図1

Description

本発明は、生物などから採取した試料液が入った分析用デバイスを、遠心力によって測定スポットに向かって移送して分析する分析装置に関する。
従来、生物などから採取した液体を分析する方法として、液体流路を形成した分析用デバイスを用いて分析する方法が知られている。分析用デバイスは、回転装置を使って流体の制御をすることが可能であり、遠心力を利用して、試料液の希釈、溶液の計量、固体成分の分離、分離された流体の移送分配、溶液と試薬の混合等を行うことができるため、種々の生物化学的な分析を行うことが可能である。
遠心力を利用して溶液を移送する特許文献1に記載の分析用デバイス50は、図14に示すように注入口51からピペットなどの挿入器具によって検体としての試料液を計量室52へ注入し、計量室52の毛細管力で試料液を保持した後、分析用デバイスの回転によって、試料液を分離室53へ移送するように構成されている。このような遠心力を送液の動力源とする分析用デバイスは、円盤形状にすることで送液制御を行うためのマイクロチャネルを放射状に配置でき、無駄な面積が発生しないため好ましい形状として用いられる。
試料液と希釈液の混合攪拌は、この分析用デバイス50をセットしたターンテーブルを、同一回転方向に加減速あるいは正転、逆転することで行っている。また、測定スポットに移送された試料液と希釈液の混合液にアクセスして分析信号を読み出す測定位置検出手段は、光源と受光部とで構成されている。
また、ターンテーブルに取り付けられたロータリーエンコーダによって検出されたり、分析用デバイスに設けられたトリガーマークを検出した信号に基づいて測定位置のタイミングであると判定して、前記光源を点灯させて前記受光部によって読み取っている。
特表平7−500910号公報
このような場合、前記測定スポットの読み取りを実施するセンサとは別に、前記分析用デバイスの原点位置を検出するセンサと、前記トリガーマークを検出するセンサの3つのセンサを使った構成が考えられる。または、前記分析用デバイスの原点と前記トリガーマークを同一円周上に配置し、両者の形状を明らかに異なるものにすることで、センサを共通化するといった構成も可能である。但し、この場合は両者の違いを分析用デバイスの回転中にリアルタイムに行う信号処理部分が必要である。また、前記トリガーマークの代わりにターンテーブルにロータリーエンコーダを取り付けた構成も考えられるが、分析用デバイスが小型の場合には、高分解能のものが必要となる。しかし、いずれの方法でも、前記測定スポットの読み取りを実施するセンサと前記測定スポットの位置を検出するセンサは別のセンサである。このため、各々のセンサの取り付け誤差や分析用デバイスと前記ターンテーブルの嵌合ガタによって、前記測定スポットの位置検出にずれが発生する。
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、センサの数または位置検出用の部品を追加しなくても確実な読み取り処理を実現できる分析装置及び位置検出方法を提供することを目的とする。
本発明の分析装置は、試料液を遠心力によって測定スポットに向かって移送するマイクロチャネル構造を有する分析用デバイスと、セットされた前記分析用デバイスに回転を与える回転駆動手段と、セットされた前記分析用デバイスを挟んで対向して配置された光源とフォトディテクタとを設け、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過した出力光を前記フォトディテクタで検出するよう読み取り手段を構成するとともに、前記分析用デバイスには、前記測定スポットの直前または直後の回転検出位置に到達したときに前記光源から前記フォトディテクタに入射する出力光を遮る反射面,屈折面あるいは遮光面の何れかを有する位置検出マークを設け、前記読み取り手段には、前記回転駆動手段から得られる分析用デバイスの回転検出信号と前記フォトディテクタの検出信号に基づいて、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過したタイミングの前記出力光を抽出して前記試料液の成分を計算する信号処理装置を設けたことを特徴とする。
また、前記分析用デバイスには、位置検出マークとは別に前記回転の方向の原点位置を示す原点位置マークを設け、前記信号処理装置を、前記原点位置マークと前記回転検出信号と前記原点位置マークと前記位置検出マークの位置読み取り信号とに基づいて前記分析信号中の所定のタイミングの信号を抽出して前記試料液の成分を計算するよう構成したことを特徴とする。
また、前記位置検出マークを前記回転の方向に対して前記測定スポットの上手側と下手側に設け、前記信号処理装置を、第1の位置検出マークのトリガ幅と、第2の位置検出マークのトリガ幅と、前記第1の位置検出マークと前記第2の位置検出マークの間隔が許容範囲内の場合に、前記第1の位置検出マークと前記第2の位置検出マークの間で読み取った前記分析信号を抽出するよう構成したことを特徴とする。
また、前記位置検出マークを前記回転の方向に対して前記測定スポットの上手側と下手側の一方に設け、前記信号処理装置を、位置検出マークのトリガ幅と前記回転検出信号とに基づいて前記測定スポットの位置を判定して前記分析信号を抽出するよう構成したことを特徴とする。
本発明の分析装置の位置検出方法は、試料液を遠心力によって測定スポットに向かって移送するマイクロチャネル構造を有する分析用デバイスと、セットされた前記分析用デバイスに回転を与える回転駆動手段と、セットされた前記分析用デバイスを挟んで対向して配置された光源とフォトディテクタとを設け、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過した出力光を前記フォトディテクタで検出するよう読み取り手段を構成するとともに、前記分析用デバイスには、前記測定スポットの直前または直後の回転検出位置に到達したときに前記光源から前記フォトディテクタに入射する出力光を遮る反射面,屈折面あるいは遮光面の何れかを有する位置検出マークを設け、前記読み取り手段には、前記回転駆動手段から得られる分析用デバイスの回転検出信号と前記フォトディテクタの検出信号に基づいて、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過したタイミングの前記出力光を抽出して前記試料液の成分を計算する信号処理装置を設けた分析装置において、前記回転駆動手段により前記分析用デバイスを回転させ、前記原点位置マークから前記回転検出信号をカウントし、所定の数に達した時点で前記光源を点灯させ、前記フォトディテクタで前記分析用デバイスを透過した出力光を検出し、前記光源を点灯させてから所定の時間が経過若しくは前記回転検出信号が所定の数に達したら前記光源を消灯させ、前記検出した信号から前記位置検出マークを抽出し、前記抽出した位置検出マークと、予め記憶されていた前記位置検出マークと前記測定スポットの位置関係の情報から前記測定スポット位置を特定することを特徴とする。
また、前記抽出した位置検出マークと、前記回転検出信号から得られる前記分析用デバイスの回転数と、予め記憶されていた前記位置検出マークと前記測定スポットの位置関係の情報から前記測定スポット位置を特定することを特徴とする。
この構成によれば、分析用デバイスの測定スポットを透過した出力光をフォトディテクタで検出するよう読み取り手段を構成するとともに、分析用デバイスには、測定スポットの直前または直後の回転検出位置に到達したときに光源から前記フォトディテクタに入射する出力光を遮る反射面,屈折面あるいは遮光面の何れかを有する位置検出マークを設けたため、測定スポットを読み取るセンサの出力信号から測定スポットの位置を判定して、目的の分析信号を的確に抽出できる。
以下、本発明の分析装置の各実施の形態を図1〜図13に基づいて説明する。
(実施の形態1)
図1〜図9と図13は本発明の実施の形態1を示す。
図7〜図9は分析用デバイスを示す。
図7(a)(b)は分析用デバイス1の保護キャップ2を閉じた状態と開いた状態を示している。図8は図7(a)における下側を上に向けた状態で分解した状態を示し、図9はその組立図を示している。
図7と図8に示すこの分析用デバイス1は、微細な凹凸形状を表面に有するマイクロチャネル構造が片面に形成されたベース基板3と、ベース基板3の表面を覆うカバー基板4と、希釈液を保持している希釈液容器5と、試料液飛散防止用の保護キャップ2とを合わせた4つの部品で構成されている。
ベース基板3とカバー基板4は、希釈液容器5などを内部にセットした状態で接合され、この接合されたものに保護キャップ2が取り付けられている。希釈液容器5の開口5aは、希釈液を入れた後にアルミ箔(図示せず)によって封止されている。
ベース基板3の上面に形成されている数個の凹部の開口をカバー基板4で覆うことによって、複数の測定スポット17a,17b,17cとその間を接続するマイクロチャネル構造の流路などが形成されている。
この分析用デバイス1を使用した分析工程の概要は、希釈液が予めセットされた分析用デバイス1の注入口6に試料液を点着し、保護キャップ2を閉じることによって希釈液容器5が移動して図9(b)に示すように開口5aの前記アルミ箔が突起14によって破られて希釈液が流れ出す。この流れ出した試料液を前記希釈液で希釈した後に測定しようとするものである。
図4は分析装置100のドア103を開放した状態を示し、ターンテーブル101にこの分析用デバイス1をセットしてドア103を閉じた状態を図5に示す。
分析装置100のターンテーブル101の上面には溝102が形成されており、分析用デバイス1をターンテーブル101にセットした状態では分析用デバイス1のカバー基板4と保護キャップ2に形成された回転支持部15,16が溝102に係合してこれを収容している。
ターンテーブル101に分析用デバイス1をセットして、ターンテーブル101を回転させる前に分析装置のドア103を閉じると、セットされた分析用デバイス1は、ドア103の側に設けられた可動片104によって、ターンテーブル101の回転軸心上の位置がバネ105の付勢力でターンテーブル101の側に押さえられて、分析用デバイス1は
、回転駆動手段106によって回転駆動されるターンテーブル101と一体に回転する。107はターンテーブル101の回転中の軸心を示している。
図6は分析装置100の構成を示す。
この分析装置100は、ターンテーブル101を回転させるための回転駆動手段106と、分析用デバイス1内の溶液を光学的に測定するための光学測定手段108と、ターンテーブル101の回転速度や回転方向および光学測定手段の測定タイミングなどを制御する制御手段109と、光学測定手段108によって得られた信号を処理し測定結果を演算するための演算部110と、演算部110で得られた結果を表示するための表示部111とで構成されている。
回転駆動手段106は、ターンテーブル101を介して分析用デバイス1を回転軸心107の回りに任意の方向に所定の回転速度で回転させるだけではなく、所定の停止位置で回転軸心107を中心に所定の振幅範囲、周期で左右に往復運動をさせて分析用デバイス1を揺動させることができるように構成されている。
光学測定手段108には、分析用デバイス1の測定スポットに検出光を照射するための光源112と、測定スポットにアクセスして信号を読み取る読み取り手段として分析用デバイス1を通過した透過光の光量を検出するフォトディテクタ113とを備えている。
分析用デバイス1をターンテーブル101によって回転駆動して、注入口6から内部に取り込んだ試料液を、注入口6よりも内周にある前記回転軸心107を中心に分析用デバイス1を回転させて発生する遠心力と、分析用デバイス1内に設けられた毛細管流路の毛細管力を用いて、分析用デバイス1の内部で溶液を移送していくよう構成されている。
図1〜図3は図6における回転駆動手段106と制御手段109と演算部110および表示部111とをマイクロコンピュータで実現した信号処理装置120を示している。
この分析装置100の分析用デバイス1では、第1〜第3の測定スポット17a,17b,17cは分析用デバイス1の同一の半径上に形成されている。この第1〜第3の測定スポット17a,17b,17cの上手側と下手側にはそれぞれ位置検出マーク18が設けられている。位置検出マーク18は、図9に示すように光源112から出射した検出光Phがフォトディテクタ113へ入射しないように分析用デバイス1の外周へ向かって全反射させる傾斜面18aを有するリブ18bで構成されている。
なお、図7において軸心107に対して測定スポット17b,17cと点対称の位置に設けられた突部17bb,17ccは、分析用デバイス1の回転のバランスを取るためのバランスウェイトとしてベース基板3に形成されている。
この分析装置100ではセットした分析用デバイス1の絶対位置を検出するために原点センサ19が設けられている。この原点センサ19は、図7に示すように分析用デバイス1に形成されている貫通孔の原点位置マーク20を検出したタイミングにマイクロコンピュータ21に原点信号22を出力する。
なお、図1,図5においてターンテーブル101を回転駆動するブラシレスモータ23は、複数のステータコイルと、アウターロータと、ステータ側に設けられ前方を通過する前記アウターロータの着磁状態を検出するマグネットダイオードと、前記マグネットダイオードの検出に基づいて前記複数のステータコイルへの通電を切り換えて前記アウターロータを回転駆動する通電切換部を有しており、前記マグネットダイオードの出力からはアウターロータの回転に同期したFG信号24(図3(b)参照)が得られる。
図13は発光ダイオードの波長スペクトルを示す。
発光ダイオードは長寿命で低消費電力、小型で安価なため、近年様々な光源として使用されている。図13において破線は低温時で実線が高温時の波長スペクトルである。このように発光ダイオードを測定用光源に使用した場合、温度によって波長スペクトルが変化するため、試料の濃度と試料の吸収するスペクトルに変化がなくてもフォトディテクタ113で受光する光量が変化するといったことが起こる。すなわち、光源112に発光ダイオードを使用した場合、常時点灯させておくと発光の熱によって発光ダイオード自身の温度が上昇して波長が変化するため、パルス点灯させて発光ダイオード自身の発熱を抑える制御が必要である。
図2はマイクロコンピュータ21の構成を示す。
マイクロコンピュータ21は、ステップS1でモータ駆動部25を介してブラシレスモータ23に回転駆動の開始を指示する。
ステップS2で原点信号22の発生を検出(図3(a)のタイミングT1)すると、ステップS3ではFG信号24の計数を開始する。そしてステップS4では、FG信号24の計数値が規定値になったことを検出すると、光源駆動部26を介して光源112を点灯状態に切り換える(図3(c)のタイミングT2)。
光源112が点灯しフォトディテクタ113の前方位置を第1の測定スポット17aの上手側のリブ18bが通過し、第1の測定スポット17aが通過し、次いで第1の測定スポット17aの下手側のリブ18bが通過すると、ステップS5では、フォトディテクタ113の検出信号は、A/D変換部27を介して図3(d)に示すように取り込まれる。この図3(d)のデータはステップS3で計数を開始したFG信号24の時々の計数値と対応づけてメモリ28に記録される。
ステップS6では、所定時間が経過またはFG信号24の計数値が規定値になったことを検出すると、光源112を消灯させる。
実際には、第2の測定スポット17b,第3の測定スポット17cについても第1の測定スポット17aの場合と同様にステップS4〜S6を繰り返し実行して、第2,第3の測定スポット17b,17cのデータ収集が完了するまでデータをメモリ28に収集するが、ここでは第1の測定スポット17aの場合を例に挙げて信号処理の説明を続ける。
ステップS7では、図3(b)に示すように原点信号22の直後にフォトディテクタ113のレベルが閾値Aを横切って暗くなったタイミングT31を特定する。また、原点信号22の直後にフォトディテクタ113のレベルが閾値Aを横切って明るくなったタイミングT32を特定して、FG信号24とからタイミングT31とT32の間隔B1が、最初のリブ18bの既知の幅であるかを判定する。
また、次いでフォトディテクタ113のレベルが閾値Aを横切って暗くなったタイミングT33を特定する。また、フォトディテクタ113のレベルが閾値Aを横切って明るくなったタイミングT34を特定して、FG信号24とからタイミングT33とT34の間隔B2が、2番目のリブ18bの既知の幅であるかを判定する。
最初のリブ18bの既知の幅であってさらに2番目のリブ18bの既知の幅であると判定した場合には、タイミングT31とT32のセンターTC1と、タイミングT33とT34のセンターTC3との間隔C1が、1番目と2番目のリブ18bの既知の間隔であるのかを判定する。この条件を満足した場合には、ステップS8において、間隔C1と、分析用デバイス1の物理的な配置から規定される第1番目と2番目のリブ18b,第1の測定スポット17aとの相対位置(比率)から求められるタイミングT31とT32のセンターTC1から第1の測定スポット17aの中心までの距離D1から、またはタイミングT33とT34のセンターTC3から第1の測定スポット17aの中心までの距離D2から、第1の測定スポット17aの位置を割り出す。ステップ9では、割り出した位置に基づいてメモリ28に収集済みのデータからフォトディテクタ113の検出値Sを読み出して、透過光の量から成分量を計算する。
ステップS8において条件が満足しなかった場合には、第1の測定スポット17aについて所定回数だけステップS2〜ステップS8を繰り返し実行するようにプログラムされており、繰り返し回数が上限値になっても条件を満足しない場合には、第1の測定スポット17aについて測定エラーを出力する。
第2,第3の測定スポット17b,17cについても第1の測定スポット17aと同様に処理される。
このように、位置検出マーク18として分析用デバイスにリブ18bを設けたので、測定スポットを読み取るセンサを利用して測定スポットの直前位置と直後位置とを検出して、目的の分析信号を的確に抽出できる。
さらに、測定スポットの位置をFG信号24を計数することで概算し、位置検出マーク18を含むデータを分析することで精算するように構成したため、高分解能のロータリーエンコーダ等の位置検出用の部品を別途に設けなくても比較的良好な測定結果を得ることが出来る。
(実施の形態2)
図10は本発明の実施の形態2を示す。
実施の形態1では、分析用デバイスに位置検出マーク18として分析用デバイスに傾斜面18aを有する形状のリブ18bを設け、測定スポットの直前、直後の回転検出位置に到達したときに光源112からフォトディテクタ113に入射する出力光を反射面として作用する傾斜面18aによって遮るように構成したが、この実施の形態2では図10に示すようにリブ18bの形状を変更すると共に、その端面に光が透過しにくい遮光膜18cが形成されている。
このように構成した場合であっても、信号処理装置120の各部の入力信号は図3と同じであって、測定スポットを読み取るセンサを利用して測定スポットの直前位置と直後位置とを検出して、目的の分析信号を的確に抽出できる。
(実施の形態3)
図11は本発明の実施の形態3を示す。
実施の形態1では、光源112から出射した検出光Phがフォトディテクタ113へ入射しないよう傾斜面18aが反射面として作用したが、図11に示すように光源112から出射した検出光Phがベース基板3の側からリブ18bに入射する場合には、傾斜面18aが屈折面として作用して、位置検出マーク18の位置では光源112から出射した検出光Phがフォトディテクタ113へ入射しない。その他は実施の形態1と同じである。
(実施の形態4)
図12は本発明の実施の形態4を示す。
上記の各実施の形態では、位置検出マーク18を回転の方向に対して測定スポットの上手側と下手側の両方に設け、信号処理装置120を、上手側の位置検出マーク18のトリガ幅B1と、下手側の位置検出マーク18のトリガ幅B2と、上手側の位置検出マーク18と下手側の位置検出マーク18の間隔C1が許容範囲内の場合に、メモリ28に書き込まれている前記分析信号の内から、上手側の位置検出マーク18と下手側の位置検出マーク18の間で読み取った前記分析信号を抽出するよう構成したが、この実施の形態4では、測定スポットの上手側と下手側の一方だけに位置検出マーク18を設けた場合であっても、メモリ28に書き込まれている前記分析信号の内から、必要な分析信号を抽出することもできる。
ここでは測定スポットの上手側にだけ位置検出マーク18を設けた場合の信号処理装置120の入力信号を図12に示す。この場合、信号処理装置120では、受光データ取得時の分析用デバイスの実回転数を測定し、受光データを前記閾値Aで二値化する。そして位置検出マーク18の受光データの幅B1が規定値内か確認し、規定値内であれば、それを位置検出マーク18と認識する。分析用デバイスの物理的な配置と規定回転数およびAD変換部27のサンプリング速度から予め求められる測定スポットまでの距離D1(位置検出マークの中心から測定スポットの中心までの距離)に対して、実際に受光データを取得したときの分析用デバイスの実回転数を用いて、メモリ28に書き込まれている受光データ上の距離を再計算し、測定スポットの位置を割り出して必要な受光データを抽出する。具体的な計算例を下記に示す。
ここでは、位置検出マーク18の中心と測定スポットの中心との角度が3.6°、規定回転数が1500rpm、AD変換部27のサンプリング速度が1MSPSである時、前記距離D1は、
60〔秒〕÷1500〔rpm〕×3.6〔deg〕×1M〔Sample〕
=400〔Sample〕
によって計算して信号処理装置120に予め格納されている。実際の測定スポット距離D1は、
400〔Sample〕×1500〔rpm〕÷2000〔rpm〕
=300〔Sample〕
となる。
本発明は、生物などから採取した液体の成分分析に使用する分析用デバイスの混合攪拌を短時間で行うことができ、分析精度を維持して分析効率の向上に寄与する。
本発明の実施の形態1の分析装置における分析用デバイスとその周辺の概略平面図と信号処理装置の構成図 同実施の形態のマイクロコンピュータのフローチャート図 同実施の形態のタイミング図 同実施の形態の分析装置のドアを開放した状態の斜視図 分析用デバイスを分析装置にセットした状態の要部断面図 同実施の形態の分析装置のブロック図 同実施の形態の分析用デバイスの保護キャップを閉じた状態と開いた状態の外観斜視図 同実施の形態の分析用デバイスの分解斜視図 同実施の形態の図7の各部の断面図 実施の形態2の分析用デバイスの要部断面図 実施の形態3の分析用デバイスの要部断面図 実施の形態4のタイミング図 実施の形態1の光源としての発光ダイオードのスペクトル図 特許文献1の分析用デバイスの一部切り欠き斜視図
符号の説明
1 分析用デバイス
2 保護キャップ
3 ベース基板
4 カバー基板
5 希釈液容器
5a 開口
6 注入口
14 突起
15,16 回転支持部
18 位置検出マーク
18a 傾斜面
18b リブ
Ph 検出光
19 原点センサ
20 原点位置マーク
21 マイクロコンピュータ
22 原点信号
23 ブラシレスモータ
24 FG信号
25 モータ駆動部
26 光源駆動部
27 A/D変換部
28 メモリ
100 分析装置
102 溝
103 ドア
104 可動片
105 バネ
106 回転駆動手段
107 軸心
108 光学測定手段
109 制御手段
110 演算部
111 表示部
112 光源
113 フォトディテクタ
120 信号処理装置

Claims (6)

  1. 試料液を遠心力によって測定スポットに向かって移送するマイクロチャネル構造を有する分析用デバイスと、
    セットされた前記分析用デバイスに回転を与える回転駆動手段と、
    セットされた前記分析用デバイスを挟んで対向して配置された光源とフォトディテクタとを設け、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過した出力光を前記フォトディテクタで検出するよう読み取り手段を構成するとともに、
    前記分析用デバイスには、前記測定スポットの直前または直後の回転検出位置に到達したときに前記光源から前記フォトディテクタに入射する出力光を遮る反射面,屈折面あるいは遮光面の何れかを有する位置検出マークを設け、
    前記読み取り手段には、
    前記回転駆動手段から得られる分析用デバイスの回転検出信号と前記フォトディテクタの検出信号に基づいて、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過したタイミングの前記出力光を抽出して前記試料液の成分を計算する信号処理装置を設けた
    分析装置。
  2. 前記分析用デバイスには、位置検出マークとは別に前記回転の方向の原点位置を示す原点位置マークを設け、
    前記信号処理装置を、前記原点位置マークと前記回転検出信号と前記位置検出マークの位置読み取り信号とに基づいて前記分析信号中の所定のタイミングの信号を抽出して前記試料液の成分を計算するよう構成した
    請求項1記載の分析装置。
  3. 前記位置検出マークを前記回転の方向に対して前記測定スポットの上手側と下手側に設け、
    前記信号処理装置を、
    第1の位置検出マークのトリガ幅と、
    第2の位置検出マークのトリガ幅と、
    前記第1の位置検出マークと前記第2の位置検出マークの間隔
    が許容範囲内の場合に、前記第1の位置検出マークと前記第2の位置検出マークの間で読み取った前記分析信号を抽出するよう構成した
    請求項1記載の分析装置。
  4. 前記位置検出マークを前記回転の方向に対して前記測定スポットの上手側と下手側の一方に設け、
    前記信号処理装置を、
    位置検出マークのトリガ幅と前記回転検出信号とに基づいて前記測定スポットの位置を判定して前記分析信号を抽出するよう構成した
    請求項1記載の分析装置。
  5. 試料液を遠心力によって測定スポットに向かって移送するマイクロチャネル構造を有する分析用デバイスと、セットされた前記分析用デバイスに回転を与える回転駆動手段と、セットされた前記分析用デバイスを挟んで対向して配置された光源とフォトディテクタとを設け、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過した出力光を前記フォトディテクタで検出するよう読み取り手段を構成するとともに、前記分析用デバイスには、前記測定スポットの直前または直後の回転検出位置に到達したときに前記光源から前記フォトディテクタに入射する出力光を遮る反射面,屈折面あるいは遮光面の何れかを有する位置検出マークを設け、前記読み取り手段には、前記回転駆動手段から得られる分析用デバイスの回転検出信号と前記フォトディテクタの検出信号に基づいて、前記分析用デバイスの前記測定スポットを透過したタイミングの前記出力光を抽出して前記試料液の成分を計算する信号処理装置を設けた分析装置において、
    前記回転駆動手段により前記分析用デバイスを回転させ、前記原点位置マークから前記回転検出信号をカウントし、所定の数に達した時点で前記光源を点灯させ、前記フォトディテクタで前記分析用デバイスを透過した出力光を検出し、前記光源を点灯させてから所定の時間が経過若しくは前記回転検出信号が所定の数に達したら前記光源を消灯させ、前記検出した信号から前記位置検出マークを抽出し、前記抽出した位置検出マークと、予め記憶されていた前記位置検出マークと前記測定スポットの位置関係の情報から前記測定スポット位置を特定することを特徴とした分析装置の位置検出方法。
  6. 前記抽出した位置検出マークと、前記回転検出信号から得られる前記分析用デバイスの回転数と、予め記憶されていた前記位置検出マークと前記測定スポットの位置関係の情報から前記測定スポット位置を特定することを特徴とした
    請求項5記載の分析装置の位置検出方法。
JP2008295002A 2008-01-21 2008-11-19 分析装置 Active JP5174627B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008295002A JP5174627B2 (ja) 2008-01-21 2008-11-19 分析装置
EP09703534.9A EP2241894B1 (en) 2008-01-21 2009-01-15 Analyzing apparatus
PCT/JP2009/000120 WO2009093422A1 (ja) 2008-01-21 2009-01-15 分析装置
US12/863,914 US8289529B2 (en) 2008-01-21 2009-01-15 Analyzing apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008009951 2008-01-21
JP2008009951 2008-01-21
JP2008295002A JP5174627B2 (ja) 2008-01-21 2008-11-19 分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009198489A true JP2009198489A (ja) 2009-09-03
JP5174627B2 JP5174627B2 (ja) 2013-04-03

Family

ID=40900934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008295002A Active JP5174627B2 (ja) 2008-01-21 2008-11-19 分析装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8289529B2 (ja)
EP (1) EP2241894B1 (ja)
JP (1) JP5174627B2 (ja)
WO (1) WO2009093422A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015121413A (ja) * 2013-12-20 2015-07-02 信越ポリマー株式会社 分析基板
WO2016002732A1 (ja) * 2014-06-30 2016-01-07 パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社 回転角度検出回路、回転角度検出方法、試料分析装置および試料分析装置のためのコンピュータプログラム
JP2016206197A (ja) * 2015-04-23 2016-12-08 シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 測定システムの測定場所の位置を決定する方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007030347A1 (de) * 2007-06-29 2009-01-02 Ducrée, Jens, Dr. Integrierter Rotor
CN104657400B (zh) * 2013-11-19 2018-02-02 光宝科技股份有限公司 离心分析系统以及其分析方法
US11480525B2 (en) 2016-06-30 2022-10-25 Sysmex Corporation Chemiluminescence measurement apparatus

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3771878A (en) * 1970-03-25 1973-11-13 Mse Holdings Ltd Centrifugal photometric analyzer
JP2003270128A (ja) * 2002-03-14 2003-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 分析装置とそれに使用する分析用ディスク
WO2006011393A1 (ja) * 2004-07-29 2006-02-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 分析装置、分析用ディスクおよびそれらを備えた分析システム
JP2006284409A (ja) * 2005-04-01 2006-10-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 分析ディスク、並びに分析ディスクおよび分析装置の検査方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4837397B1 (ja) * 1968-08-22 1973-11-10
JPS5793236A (en) * 1980-12-02 1982-06-10 Hitachi Koki Co Ltd Data analyzing apparatus for super centrifugal machine
US5242606A (en) 1990-06-04 1993-09-07 Abaxis, Incorporated Sample metering port for analytical rotor having overflow chamber
JP2000304688A (ja) * 1999-04-16 2000-11-02 Canon Inc 基板測定方法および装置
US6818435B2 (en) * 2000-05-15 2004-11-16 Tecan Trading Ag Microfluidics devices and methods for performing cell based assays
US20030054563A1 (en) * 2001-09-17 2003-03-20 Gyros Ab Detector arrangement for microfluidic devices
WO2003065358A2 (en) * 2002-01-28 2003-08-07 Burstein Technologies, Inc. Methods and apparatus for logical triggering of an optical bio-disc
CA2471017A1 (en) * 2002-01-31 2003-08-07 Burstein Technologies, Inc. Method for triggering through disc grooves and related optical analysis discs and system
JP4338529B2 (ja) * 2002-04-08 2009-10-07 ユロス・パテント・アクチボラゲット ホーミングプロセス
JP4423189B2 (ja) * 2002-05-31 2010-03-03 ユィロス・パテント・アクチボラグ 表面プラズモン共鳴に基づく検出装置
US20070146715A1 (en) * 2003-11-24 2007-06-28 General Electric Company Sensor systems for quantification of physical parameters, chemical and biochemical volatile and nonvolatile compounds in fluids
JP2006047157A (ja) * 2004-08-06 2006-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学分析装置
JP4710347B2 (ja) * 2005-02-21 2011-06-29 パナソニック株式会社 分析装置およびそれに使用する分析ディスク
KR101410752B1 (ko) * 2007-07-20 2014-06-23 삼성전자 주식회사 광학 검출 장치, 광학 검출 방법, 및 상기 광학 검출장치를 포함하는 미세유동 시스템

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3771878A (en) * 1970-03-25 1973-11-13 Mse Holdings Ltd Centrifugal photometric analyzer
JP2003270128A (ja) * 2002-03-14 2003-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 分析装置とそれに使用する分析用ディスク
WO2006011393A1 (ja) * 2004-07-29 2006-02-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 分析装置、分析用ディスクおよびそれらを備えた分析システム
JP2006284409A (ja) * 2005-04-01 2006-10-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 分析ディスク、並びに分析ディスクおよび分析装置の検査方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015121413A (ja) * 2013-12-20 2015-07-02 信越ポリマー株式会社 分析基板
WO2016002732A1 (ja) * 2014-06-30 2016-01-07 パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社 回転角度検出回路、回転角度検出方法、試料分析装置および試料分析装置のためのコンピュータプログラム
US10574160B2 (en) 2014-06-30 2020-02-25 Phc Holdings Corporation Circuit for detecting rotation angle, method for detecting rotation angle, sample analysis device, and computer program for sample analysis device
JP2016206197A (ja) * 2015-04-23 2016-12-08 シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 測定システムの測定場所の位置を決定する方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2241894A4 (en) 2014-01-01
US8289529B2 (en) 2012-10-16
WO2009093422A1 (ja) 2009-07-30
EP2241894A1 (en) 2010-10-20
EP2241894B1 (en) 2018-11-21
JP5174627B2 (ja) 2013-04-03
US20100309487A1 (en) 2010-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5174627B2 (ja) 分析装置
JP4912096B2 (ja) マイクロチップ検査装置
JP5137528B2 (ja) 分析用デバイスとこれを使用する分析装置および分析方法
EP1983347A2 (en) Centrifugal Force Based Microfluidic Device, Microfluidic System including the same, and Method of Determining Home Position of the Microfluidic Device
JP5376429B2 (ja) 分析用デバイスとこれを使用する分析装置および分析方法
AU2023200869B2 (en) Method for calibrating or monitoring performance of an optical measurement device
JP4665673B2 (ja) 光学分析装置
US8436989B2 (en) Inspection apparatus using a chip
JPWO2006035801A1 (ja) 遠心分離装置およびこれを備えた分析装置
US10031146B2 (en) Sample analysis device
KR20100118340A (ko) 측정용 광디스크, 광학적 측정 장치 및 이를 이용한 광학적 측정 방법
EP2976619A1 (en) Light and shutter for a sample analyzer
JP2015121413A (ja) 分析基板
JP2005321383A (ja) 分析装置およびそれに使用する分析用ディスク
US20240069050A1 (en) Testing device, and method and program for information processing
JP2010019761A (ja) 分析装置
TWI397686B (zh) 多光源生化檢測裝置及方法
US20230273230A1 (en) Biochemical analyzer
KR200410029Y1 (ko) 발광다이오드를 이용한 흡광도 측정 장치
JP2006145452A (ja) 検液用チャンバーと、この検液用チャンバーを用いた液体分析装置と、前記検液用チャンバーの厚み測定方法
JP2006242613A (ja) 試料分析装置
CN101229530B (zh) 离心分离装置
JP2010122021A (ja) 分析装置
JP2009109199A (ja) 位置決め装置及びそれを用いた分析装置
JP2006322720A (ja) マイクロチップ吸光光度測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111026

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121228

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5174627

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160111

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250