JP4710347B2 - 分析装置およびそれに使用する分析ディスク - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態1における分析ディスクの平面図であり、図2は分析装置の構成を説明する側面図である。
本実施の形態2において、分析装置の構成、スポット検出間隔の検出法は、実施の形態1と同じほぼ同様であり、異なるところは、分析ディスクの分析領域の形状と、その中心の半径位置を検出する方法である。
本実施の形態3において、分析装置の構成、スポット検出間隔検出方法は、実施の形態1及び2と同じである、異なるところは分析領域の中心の半径位置を検出する方法である。以下に、本実施の形態3において、分析ディスク上の分析領域の中心の半径位置を検出する方法を示す。
そして2本の光路103が通過するスポット検出間隔112aとスポット検出間隔112bを求める(図13)。これらの操作を繰り返し、スポット検出間隔112aとスポット検出間隔112bが等しい、あるいはスポット検出間隔112aとスポット検出間隔112bの差が許容範囲以内になれば、その時の2本の光路103の中間を表わす半径位置が分析領域102の中心の半径位置とみることができる(図14)。
2、102 分析領域
3、103 光路
4、104 光路半径
5 試料室
6 ガラス板
7 光源
8、105 光
9 反射鏡
10、108 受光部
11、111 電気信号
12 試料チャンバー
106 回転制御部
107 光照射部
109 移動制御部
110 信号分析部
112 スポット検出間隔
112a スポット検出間隔(ディスク外周)
112b スポット検出間隔(ディスク内周)
113 電位
114 マーカー
115 半径位置(外周方向)
116 光路照射領域
Claims (10)
- 軸心より離れた位置に測定対象物を保持した分析領域を有する分析ディスクを回転させながら、前記軸心からの径方向の距離を変化させて光を照射することにより、前記分析領域を走査し、これにより得られる反射光または透過光または拡散光から、前記分析領域における測定対象物を光学的に分析する分析装置であって、
前記分析領域と前記分析領域周辺とは光を照射するとその反射光または透過光または拡散光に対して光量差を生じるようになっており、
前記径方向の距離を変化させながら、前記分析領域周辺を走査したときに得られる反射光または透過光または拡散光の検出間隔に基づき、前記分析領域における、径方向の走査位置を特定するようにしたことを特徴とする分析装置。 - 前記分析ディスクの分析領域の形状は、前記軸心からの径方向の距離に応じて形状が変化するものであり、さらに、前記分析領域は、その周囲の領域に対して、反射光または透過光または拡散光に対して光量差を与えるものであることを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
- 前記分析ディスクの分析領域の周囲に、前記軸心からの径方向の距離に応じて形状が変化するとともに、少なくとも前記分析領域における反射光または透過光または拡散光に対して光量差を与えるマーカーを形成したことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
- 前記分析ディスクの径方向のある位置で前記光を走査した時、得られる検出光の変化より、前記分析領域上を前記光が走査したどうかを判別するようにしたことを特徴とする、請求項1に記載の分析装置。
- 2つ以上の前記分析領域が前記分析ディスクの軸心から同一半径上に存在する場合に、複数の分析領域内の情報を1回の分析ディスクの回転により得るようにしたことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
- 前記分析ディスクの分析領域のうち、互いに異なる少なくとも径方向の2箇所の位置で光を走査し、それぞれの走査位置における光の検出間隔、及びそれぞれの走査位置の間の距離より、径方向における前記分析領域の中心位置を算出するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
- 前記2箇所の位置で光を走査する際にどちらか一方の走査位置における光の検出間隔が得られなかった場合、光の検出間隔が得られた位置を基準軸として半径方向に分析領域直径以下であることを満たす任意の距離だけ反転させた位置に光を再走査することで、2箇所の位置での光の検出間隔を得ることができるようにしたことを特徴とする請求項6に記載の分析装置。
- 前記分析ディスクが装着されて分析を行う装置であって、前記ディスクの径方向の互いに異なる位置で光を走査し、各々の光の検出間隔が最も大きい時もしくは最も小さい時の径方向の位置を、前記分析領域の中心位置と近似するようにしたことを特徴とする請求項2または3のいずれかに記載の分析装置。
- 前記分析ディスクが装着されて分析を行う装置であって、前記ディスクの径方向の分析領域あるいはマーカーを含む領域内の互いに異なる位置で光を走査し、検出間隔が得られる最も内周側の走査位置と最も外周側の走査位置の中点を、前記分析領域中心の半径位置と近似するようにしたことを特徴とする請求項2または3のいずれかに記載の分析装置。
- 前記分析ディスクが装着されて分析を行う装置であって、前記分析領域において径方向の互いに異なる2箇所の位置で光を走査し、それぞれ得られる光の検出間隔の差を検出して、その差が一定の値以下になるかどうかの判断を繰り返し、前記差が前記値以下になったときの各走査位置の中点を、前記分析領域の中心位置と近似するようにしたことを特徴とする請求項2または3のいずれかにに記載の分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005043727A JP4710347B2 (ja) | 2005-02-21 | 2005-02-21 | 分析装置およびそれに使用する分析ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005043727A JP4710347B2 (ja) | 2005-02-21 | 2005-02-21 | 分析装置およびそれに使用する分析ディスク |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006226943A JP2006226943A (ja) | 2006-08-31 |
JP4710347B2 true JP4710347B2 (ja) | 2011-06-29 |
Family
ID=36988433
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005043727A Expired - Fee Related JP4710347B2 (ja) | 2005-02-21 | 2005-02-21 | 分析装置およびそれに使用する分析ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4710347B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5174627B2 (ja) * | 2008-01-21 | 2013-04-03 | パナソニック株式会社 | 分析装置 |
CN102589495B (zh) * | 2012-02-29 | 2015-06-03 | 昆山佳铭自动化科技有限公司 | 一种制动盘跳动度检测装置 |
CN103075953B (zh) * | 2013-01-09 | 2016-05-25 | 浙江吉利汽车研究院有限公司杭州分公司 | 一种活塞环槽径向跳动检测装置 |
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JP2004271332A (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 分析装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61133062A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-20 | Hitachi Ltd | 光デイスク |
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-
2005
- 2005-02-21 JP JP2005043727A patent/JP4710347B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2004271332A (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006226943A (ja) | 2006-08-31 |
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A621 | Written request for application examination |
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RD01 | Notification of change of attorney |
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RD01 | Notification of change of attorney |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110201 |
|
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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