JP2006226943A - 分析装置およびそれに使用する分析ディスク - Google Patents

Abstract

【課題】 分析領域への光照射及び分析領域内の測定対象物情報の取得を確実にするために、分析領域中心の径方向の位置を自動検出する機能を組み込んだ分析装置およびそれに使用される分析ディスクを提供する。
【解決手段】 軸心より離れた位置に測定対象物を保持した分析領域１０２を有するディスク１０１を回転させながら、光を照射することにより分析領域１０２上を走査し、これにより得られる反射光または透過光または拡散光から、分析領域１０２内の測定対象物を光学的に分析する分析装置において、分析領域１０２の形状は、軸心からの距離に応じて形状が変化するものであり、かつその周囲の領域に対して光量差を与えるものであり、径方向の距離を変化させながら分析領域１０２上を光で走査させたときに得られる反射光または透過光または拡散光の検出間隔に基づいて、所定のアルゴリズムで径方向の走査位置を特定する。
【選択図】 図２

Description

本発明は、分析装置およびそれに使用する分析ディスクに関し、より詳細には、分析ディスク上あるいはディスク内の、測定対象物を保持した分析領域の径方向の位置検出を行う技術に関する。

従来、分析ディスクを回転させながら、分析領域の存在する半径位置に光を当て、その透過光あるいは反射光あるいは拡散光を検出することによって、分析ディスク上の測定対象物を分析する装置については特許文献１に記載のようなものがある。その分析装置について、以下、図面を用いて説明する。

図１６は分析ディスクの平面図であり、図１７は分析装置の構成を示す側面図である。図１６、図１７において、分析ディスク１の内部には、少なくとも１つ以上の試料チャンバー１２とそれに連通する試料室５がある。試料室５内は分析ディスク１表面の分析領域２からガラス板６を通して光８が透過できるようになっている。

測定対象物、この場合は液体試料を図示しない注入口を通じて試料チャンバー１２に入れ、分析時に分析ディスク１を軸心廻りに回転させることによって遠心力が働き、試料チャンバー１２内の測定対象物は試料室５に移動する。

そして、光源７から出力される光８を反射鏡９を通して、分析領域２を通過する位置、つまり分析ディスク１の中心からの光路半径４の位置に照射して、光路３で示す位置を走査する。そしてその透過光あるいは反射光あるいは拡散光（図１７では例として透過光）を受光部１０で受けることによって、測定対象物の情報を得ることができる。得られた測定対象物の情報は電気信号１１に変換され、分析装置内で解析される。
米国特許第３５１４６１３号明細書

しかしながら、前記従来の構成では、分析領域２へ光を照射する位置、及び受光する位置を分析ディスク中心からの一定の半径位置としていたため、分析領域が小さい場合や、分析ディスクの回転時の偏心等がある場合には、予め定めていた目標とする分析領域の位置、すなわち図１６の光路３の位置を走査するのが困難になるという課題を有していた。

本発明は、前記従来の課題を解決するものであり、分析領域中心の径方向の位置を自動で検出して、走査する機能を組み込んだ分析装置およびそれに使用される分析ディスクを提供することを目的とする。

上記従来の課題を解決するために、本発明の分析装置は、軸心より離れた位置に測定対象物を保持した分析領域を有する分析ディスクを回転させながら、前記軸心からの径方向の距離を変化させて光を照射することにより、前記分析領域を走査し、これにより得られる反射光または透過光または拡散光から、前記分析領域における測定対象物を光学的に分析する分析装置であって、前記分析ディスクの分析領域の形状は、前記軸心からの径方向の距離に応じて形状が変化するものであり、さらに、前記分析領域は、その周囲の領域に対して、反射光または透過光または拡散光に対して光量差を与えるものであり、前記径方向の距離を変化させながら、前記分析領域を走査したときに得られる反射光または透過光または拡散光の検出間隔に基づき、前記分析領域における、径方向の走査位置を特定するようにしたことを特徴とするものである。

また本発明の分析ディスクは、その軸心回りに回転可能であり、かつ、測定対象物を保持する分析領域をその一部領域に形成した分析ディスクであって、前記分析領域の形状は、前記軸心からの距離に応じて変化するものであり、さらに、前記分析領域に光を照射して得られる検出光は、その周囲の領域に対して照射して得られる検出光に対して光量差を与えるものであることを特徴とするものである。

本発明の分析装置およびそれに使用される分析ディスクの構成によれば、得られる検出光の検出間隔から分析領域中心の半径位置を求めることができる。そして求めた分析領域の中心位置を走査して、分析領域内の測定対象物情報を得ることができるようになる。このため分析領域が小さくなったり、分析ディスクの回転時に偏心が起きたりしても、正確に分析領域の中心を走査できるので、精度の高い分析を行うことが可能となる。

以下に、本発明の分析装置およびそれに使用される分析ディスクの実施の形態を、図面とともに詳細に説明する。

（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における分析ディスクの平面図であり、図２は分析装置の構成を説明する側面図である。

図１において、分析ディスク１０１には、測定対象物を保持する円形の分析領域１０２が少なくとも１つ以上（図では８個）存在し、各分析領域１０２は軸心から径方向の位置がそれぞれ同じところに形成されている。

図２において、分析領域１０２の内部は空洞になっており、その中に測定対象物である液体試料が注入できる。具体的には図１７で示した構造と同様であるので説明を略する。分析ディスク１０１は、回転制御部１０６によって任意の回転数で回転させることができる。分析ディスク１０１上の情報は、光照射部１０７から照射される光１０５を分析ディスク１０１に当て、その透過光または反射光または拡散光（図２では例として透過光の場合を示す）を受光部１０８で検出することにより取得できる。光照射部１０７と受光部１０８は、移動制御部１０９により連動して動かすことが可能であり、回転制御部１０６と移動制御部１０９の組み合わせによって、分析ディスク１０１全体の情報を取得することができる。受光部１０８にて取得された分析ディスク１０１の情報は、電気信号１１１に変換され、信号分析部１１０により解析される。

次に、分析領域１０２上を通過または反射または拡散した光１０５から、分析領域のスポット検出間隔の検出法について図３、図４を参照しながら説明する。

図３（ａ）、（ｂ）は分析ディスク１０１上の１つの分析領域１０２部分を拡大したものであり、同図（ｃ）は回転している分析ディスク１０１の分析領域１０２に光１０５を当て、その受光信号から変換された電気信号１１１を示している。

分析領域１０２は、その中に液体試料を注入可能なように中空で形成されているので、分析領域１０２に光路が交わる場合、分析領域１０２のエッジ部分では、光１０５が乱反射するため、分析領域１０２の周囲の基板の部分や分析領域１０２の内部の領域から得られる受光光量に差が生じる。このエッジ部分を走査したときにえられる電気信号１１１を、図３（ｃ）に示すように山型に捕らえ、２つの頂上間のサンプリング数を求めることでスポット検出間隔１１２に換算できる。

なお、分析ディスク１０１のうち、分析領域１０２以外の領域を走査したときには、２つの山を有する上記の電気信号が得られないので、光１０５が分析領域１０２を走査したかどうかを判別することができる。

また、図４は分析領域１０２のエッジ部分の周縁にマーカー１１４を施し、分析領域１０２周りの光１０５を遮断した時に得られる電気信号１１１を示している。幅のあるマーカー１１４を施すことにより、上記の図３の例に比べて、より確かに分析領域１０２とその周囲の境界領域を区別することが可能となる。

マーカー１１４は、ディスク表面に塗料を塗布してなるか、またはシール部材を貼り付けて光を透過しないようにしている。これ以外にもマーカー１１４の形成の仕方として、ディスク表面に凹凸部材を形成したりもできる。あるいは、その他の方法で、分析領域以外の部分に、光の反射もしくは透過もしくは拡散を抑制する処理を施すことで、分析領域の領域を検出できるようにすることもできる。

図４に示すマーカー１１４の場合、受光部１０８での電圧範囲を制限することにより、２つの山を台形状にすることができ、その内側のエッジのサンプリング数を求めることでスポット検出間隔１１２ａに換算することができる。

もし分析領域１０２内が光１０５を透過あるいは反射しにくい液体試料を含むためにマーカー１１４部分との電位差が検出できない場合は、２つの山の外側のエッジ間のスポット検出間隔１１２ｂを求めるようにすることもできる。

以上のように図３で説明したスポット検出間隔を求めた後に、分析ディスク１０１上の分析領域１０２の中心の半径位置を検出する方法を以下に示す。この方法では分析領域１０２の形状またはマーカー１１４が円形の場合に実現できる。

まず、図５に示すように、分析ディスクの中心から矢印１１５で示す方向において、分析領域１０２に交わる適当な２箇所の半径位置Ｒ_a、Ｒ_b（ただし、Ｒ_a＞Ｒ_b、ｈは固定値とする）に光照射部１０７と受光部１０８を移動し光路位置を決定する。そして上述のように得られる電気信号から、それぞれのスポット検出間隔Ａ、Ｂを測定する。ここで、もしＡ、Ｂどちらか一方の値が０、すなわち分析領域１０２に交わらず、光の検出間隔が得られなかった場合は、交わっている方を基準軸として半径方向分析領域１０２の直径以下であることを満たす任意の距離だけ反転させた位置に光を再走査することで、確実に分析領域１０２に交わる２箇所の半径位置Ｒ_a、Ｒ_bを決定することができる。

そしてＡ、Ｂから、演算によりこの分析領域１０２の直径Ｃを求める。Ｃを求める計算式は下記（数１）のようになる。なお、図中、Ｒ、Ｒ_a、Ｒ_bは分析ディスクの中心からの距離であり、図示の便宜上平行に記載している。

このようにして求めたＡ、Ｂ、Ｃの値及びＡ、Ｂの大小関係から、分析領域１０２の中心位置を求めることができる。Ａからｈ_aあるいはＢからｈ_bだけ径方向に動かしたところが分析領域１０２の中心を通る部分であるとすると、ｈ_a、ｈ_bは下記（数２）で求められる。

これより、求める分析領域１０２の中心の半径位置Ｒは、下記（数３）で示す、

となる。

図４の分析ディスク１０２を用いた場合にも上記と同様に分析領域１０２の中心の半径位置を演算にて求めることができる。

以上のように、本実施の形態１においては上記方法で分析領域１０２中心の半径位置を求め、その半径位置へ光１０５を当てることにより、分析領域１０２内の測定対象物情報を正確に得ることができる。このため分析領域が小さい場合や、分析ディスクの回転時の偏心等がある場合でも、予め定めていた目標とする分析領域１０２の中心を走査することで、正確に分析領域１０２内の情報を取得することができる。

また、本実施の形態１では、分析領域１０２の中心の半径位置を求めるのに、分析領域１０２が分析ディスク１０１上に複数存在する場合は、これらの操作を繰り返すことにより、各分析領域１０２中心の半径位置を個別に求めることができる。

また、さらに最初に取得する２本の光路１０３が、複数存在するすべての分析領域１０２内を通過する場合は、それぞれの光路位置で各分析領域１０２のスポット検出間隔１１２を求めて記憶しておけば、分析領域１０２ごとに光路位置を変更することなく、２本の光路１０３のみですべての分析領域１０２中心の半径位置を算出することができる。

また、本実施の形態１において、必要なパラメータは全て実測値あるため、分析領域１０２あるいはマーカー１１４の形状の大きさに関係なく、分析領域１０２中心の半径位置を算出することができる。

（実施の形態２）
本実施の形態２において、分析装置の構成、スポット検出間隔の検出法は、実施の形態１と同じほぼ同様であり、異なるところは、分析ディスクの分析領域の形状と、その中心の半径位置を検出する方法である。

まず、分析ディスクとして、分析領域あるいはマーカーの形状が、スポット検出間隔が分析領域中心で最も大きくもしくは小さくなるようなものを用いる。ここでは例として、その分析領域を、図６または図７に示すように円形に（楕円も含む）形成しているか、または図８、９に示すように菱形に形成している場合について説明する。

図６または図８に示すように、本実施の形態２においては、まず分析領域１０２を含むように光路走査領域１１６を決定し、その領域内に走査する光路１０３の間隔及び本数を決定する。この例では、少なくとも３本以上の光路１０３を決定する。

次に、内周あるいは外周方向のどちらか一方の方向へ光路１０３を一定区間ごとにずらせていき、分析領域１０２内を照射する毎にスポット検出間隔１１２を取得する。また、それと同時に対応した光路１０３の半径位置も記憶しておく。

そして図７または図９に示すように、取得したスポット検出間隔１１２を羅列し、その中で一番スポット検出間隔１１２が大きいものを選出し、それに対応した光路１０３の半径位置を分析領域１０２中心の半径位置とするものである。また、分析領域１０２中心が最もくびれている形状の分析領域１０２またはマーカー１１４であれば、最もスポット検出間隔１１２が小さいものを選出し、それに対応した光路１０３の半径位置を分析領域１０２中心の半径位置とする。

また、図１０、図１１は、分析領域の形状が、軸心からの距離を変化させたときに得られるスポット検出間隔１１２が一定量ずつ大きくあるいは小さくなるように、分析領域の形状あるいはマーカーを形成した分析ディスクを用いた例を示している。

このような分析ディスクを用いた場合には、光路走査領域１１６内を走査した光路１０３のうち、スポット検出間隔１１２が最も小さい光路と最も大きい光路の中点を示す、またはそれに最も近い光路の半径位置を分析領域１０２中心の半径位置とすることができる。

また、光路走査領域１１６内を走査した光路１０３のうち、スポット検出間隔１１２が得られる最も内周側の光路と最も外周側の光路の中点を示す、またはそれに最も近い光路の半径位置を分析領域１０２中心の半径位置と近似するようにすれば、分析領域１０２あるいはマーカー１１４の形状に関係なく、分析領域１０２中心の半径位置を求めることができる。

以上のように、本実施の形態２においては、上記方法で分析領域１０２中心に近い半径位置を求め、その半径位置へ光１０５を当てることにより、分析領域１０２内の測定対象物情報を正確に得ることができる。このため分析領域１０２が小さい場合や、分析ディスク１０１の回転時の偏心等がある場合でも、予め定めていた目標とする分析領域１０２の中心を走査することで、正確に分析領域１０２の情報を取得することができる。

また、本実施の形態２では、分析領域１０２の中心の半径位置を求めるのに、分析領域１０２が分析ディスク１０１上に複数存在する場合は、これらの操作を繰り返すことにより個別に求めることができる。

また、本実施の形態２において、最初に取得する光路走査領域１１６が複数存在するすべての分析領域１０２を含む場合は、それぞれの光路１０３位置で各分析領域１０２のスポット検出間隔１１２を求めて記憶しておけば、分析領域１０２ごとに光路１０３位置を変更することなく、すべての分析領域１０２中心の半径位置を算出することができる。

また、本実施の形態２において、光路走査領域１１６内において、各光路１０３の間隔を狭くし光路数を多くすれば、より高精度に分析領域１０２中心の半径位置を検出でき、逆に各光路１０３の間隔を広くし光路数を少なくすれば、より少ない測定時間で分析領域１０２中心の半径位置を検出できる。

（実施の形態３）
本実施の形態３において、分析装置の構成、スポット検出間隔検出方法は、実施の形態１及び２と同じである、異なるところは分析領域の中心の半径位置を検出する方法である。以下に、本実施の形態３において、分析ディスク上の分析領域の中心の半径位置を検出する方法を示す。

分析ディスクとしては、分析領域あるいはマーカーの形状が半径方向に線対称なものを用いる。例として分析ディスクの分析領域が円形（図１２、図１３、図１４）の場合で説明する。

図１２に示すように、本実施の形態３においては２本の光路１０３を用いる。まず、ある一定間隔に固定した２本の光路１０３をそれぞれある半径位置に移動し、光１０５を照射し、２本の光路１０３が通過するスポット検出間隔１１２ａとスポット検出間隔１１２ｂを求める。

スポット検出間隔１１２ａとスポット検出間隔１１２ｂを比較し、大きさ等しくなければ、より大きいスポット検出間隔１１２を持つ光路１０３方向へ２本の光路１０３をα分シフトする。図１２の場合は外周方向へシフトする。
そして２本の光路１０３が通過するスポット検出間隔１１２ａとスポット検出間隔１１２ｂを求める（図１３）。これらの操作を繰り返し、スポット検出間隔１１２ａとスポット検出間隔１１２ｂが等しい、あるいはスポット検出間隔１１２ａとスポット検出間隔１１２ｂの差が許容範囲以内になれば、その時の２本の光路１０３の中間を表わす半径位置が分析領域１０２の中心の半径位置とみることができる（図１４）。

以上のように、本実施の形態３においては、上記方法で分析領域１０２中心に近い、あるいは分析領域１０２中心の半径位置を求め、その半径位置へ光１０５を当てることにより、分析領域１０２内の測定対象物情報を正確に得ることができる。このため分析領域１０２が小さい場合や、分析ディスク１０１の回転時の偏心等がある場合でも、予め定めていた目標とする分析領域１０２の中心を走査することで、正確に分析領域１０２の情報を取得することができる。

また、本実施の形態３では、分析領域１０２が分析ディスク１０１上に複数存在する場合は、各分析領域１０２ごとに、これらの操作を繰り返すことにより、個別にその中心の半径位置を求めることができる。

また、本実施の形態３では、光路１０３のシフト幅αを小さくすればするほど精度よく、αを大きくすればするほど速く分析領域１０２の中心の半径位置を求めることができる。

また、本実施の形態３において、分析領域１０２を図１５に示すように菱形にした場合や、その他、分析領域１０２の形状あるいはマーカー１１４が分析領域１０２中心に対して径方向に対称で、かつ径方向に光の検出間隔が一定量変化するものであれば、同様の方法にて分析領域１０２中心の半径位置を算出することができる。

本発明にかかる分析装置およびそれに使用する分析ディスクは、分析ディスク上の分析領域の径方向の位置を特定できるため、回転しているディスク上の特定物の位置を検出するような装置等に有用である。

本発明の実施の形態１における分析ディスクの平面図 同実施の形態１における分析装置の側面図 同分析装置において、分析ディスクに光を照射した状態を説明する図 同分析装置において、他の分析ディスクに光を照射した状態を説明する図 同分析装置において分析領域の中心の半径位置を検出するアルゴリズムを説明する図 本発明の実施の形態２における分析装置において、分析領域の走査位置を説明する図 同分析領域の各光路での検出間隔を表わす図 本発明の実施の形態２における分析装置において、分析領域の走査位置を説明する図 同分析領域の各光路での検出間隔を表わす図 本発明の実施の形態２における分析装置において、分析領域の走査位置を説明する図 同分析領域の各光路での検出間隔を表わす図 本発明の実施形態３における分析装置において、分析領域の走査位置を説明する図 本発明の実施例３における分析装置において、分析領域の走査位置を説明する図 本発明の実施例３における分析装置において、分析領域の走査位置を説明する図 本発明の実施例３における分析装置において、分析領域の走査位置を説明する図 従来の分析装置に使用する分析ディスクの平面図 従来の分析装置の要部を拡大して示す側面図

符号の説明

１、１０１ 分析ディスク
２、１０２ 分析領域
３、１０３ 光路
４、１０４ 光路半径
５ 試料室
６ ガラス板
７ 光源
８、１０５ 光
９ 反射鏡
１０、１０８ 受光部
１１、１１１ 電気信号
１２ 試料チャンバー
１０６ 回転制御部
１０７ 光照射部
１０９ 移動制御部
１１０ 信号分析部
１１２ スポット検出間隔
１１２ａ スポット検出間隔（ディスク外周）
１１２ｂ スポット検出間隔（ディスク内周）
１１３ 電位
１１４ マーカー
１１５ 半径位置（外周方向）
１１６ 光路照射領域

Claims (19)

1. 軸心より離れた位置に測定対象物を保持した分析領域を有する分析ディスクを回転させながら、前記軸心からの径方向の距離を変化させて光を照射することにより、前記分析領域を走査し、これにより得られる反射光または透過光または拡散光から、前記分析領域における測定対象物を光学的に分析する分析装置であって、
   前記分析領域と前記分析領域周辺とは光を照射するとその反射光または透過光または拡散光に対して光量差を生じるようになっており、
   前記径方向の距離を変化させながら、前記分析領域周辺を走査したときに得られる反射光または透過光または拡散光の検出間隔に基づき、前記分析領域における、径方向の走査位置を特定するようにしたことを特徴とする分析装置。
2. 前記分析ディスクの分析領域の形状は、前記軸心からの径方向の距離に応じて形状が変化するものであり、さらに、前記分析領域は、その周囲の領域に対して、反射光または透過光または拡散光に対して光量差を与えるものであることを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
3. 前記分析ディスクの分析領域の周囲に、前記軸心からの径方向の距離に応じて形状が変化するとともに、少なくとも前記分析領域における反射光または透過光または拡散光に対して光量差を与えるマーカーを形成したことを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
4. その軸心回りに回転可能であり、かつ、測定対象物を保持する分析領域をその一部領域に形成した分析ディスクであって、
   前記分析領域の形状は、前記軸心からの距離に応じて変化するものであり、さらに、前記分析領域に光を照射して得られる検出光は、その周囲の領域に対して照射して得られる検出光に対して光量差を与えるものであることを特徴とする分析ディスク。
5. その軸心回りに回転可能であり、かつ、測定対象物を保持する分析領域をその一部領域に形成したディスクであって、
   前記分析領域の周囲に、前記軸心からの距離に応じて形状が変化するとともに、前記分析領域に光を照射して得られる検出光に対して、同じく光を照射して得られる検出光に光量差を与えるマーカーを形成したことを特徴とする分析ディスク。
6. 前記マーカーがディスク表面に形成した凹凸部材であることを特徴とする請求項５に記載の分析ディスク。
7. 前記マーカーが、ディスク表面に塗料を塗布してなるか、またはシール部材であることを特徴とする請求項５に記載の分析ディスク。
8. 前記分析領域以外の部分に、光の反射もしくは透過もしくは拡散を抑制する処理を施したことを特徴とする請求項４または５に記載の分析ディスク。
9. 前記分析領域あるいは前記マーカーが円形あるいは楕円形であることを特徴とする請求項４または５のいずれかに記載の分析ディスク。
10. 前記径方向の距離を変化させながら光を走査したときの、前記スポットまたは前記マーカーから得られる反射光または透過光または拡散光の検出間隔が、前記分析領域の中心部で最も大きくあるいは小さくなるように、前記分析領域の形状またはマーカーを形成したことを特徴とする請求項４または５のいずれかに記載の分析ディスク。
11. 前記分析領域あるいは前記マーカーの形状が半径方向に線対称になることを特徴とする請求項４または５のいずれかに記載の分析ディスク。
12. 前記径方向の距離を変化させながら光を走査したときの、前記分析領域または前記マーカーから得られる反射光または透過光または拡散光の検出間隔が、徐々に大きくあるいは小さくなるように、前記分析領域またはマーカーを形成したことを特徴とする請求項４または５のいずれかに記載の分析ディスク。
13. 前記分析ディスクの径方向のある位置で前記光を走査した時、得られる検出光の変化より、前記分析領域上を前記光が走査したどうかを判別するようにしたことを特徴とする、請求項１に記載の分析装置。
14. ２つ以上の前記分析領域が前記分析ディスクの軸心から同一半径上に存在する場合に、複数の分析領域内の情報を１回の分析ディスクの回転により得るようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
15. 前記分析ディスクの分析領域のうち、互いに異なる少なくとも径方向の２箇所の位置で光を走査し、それぞれの走査位置における光の検出間隔、及びそれぞれの走査位置の間の距離より、径方向における前記分析領域の中心位置を算出するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
16. 前記２箇所の位置で光を走査する際にどちらか一方の走査位置における光の検出間隔が得られなかった場合、光の検出間隔が得られた位置を基準軸として半径方向に分析領域直径以下であることを満たす任意の距離だけ反転させた位置に光を再走査することで、２箇所の位置での光の検出間隔を得ることができるようにしたことを特徴とする請求項１５に記載の分析装置。
17. 請求項９または１０に記載の分析ディスクが装着されて分析を行う装置であって、前記ディスクの径方向の互いに異なる位置で光を走査し、各々の光の検出間隔が最も大きい時もしくは最も小さい時の径方向の位置を、前記分析領域の中心位置と近似するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
18. 請求項１１に記載の分析ディスクが装着されて分析を行う装置であって、前記ディスクの径方向の分析領域あるいはマーカーを含む領域内の互いに異なる位置で光を走査し、検出間隔が得られる最も内周側の走査位置と最も外周側の走査位置の中点を、前記分析領域中心の半径位置と近似するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
19. 請求項９または１１に記載の分析ディスクが装着されて分析を行う装置であって、前記分析領域において径方向の互いに異なる２箇所の位置で光を走査し、それぞれ得られる光の検出間隔の差を検出して、その差が一定の値以下になるかどうかの判断を繰り返し、前記差が前記値以下になったときの各走査位置の中点を、前記分析領域の中心位置と近似するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析装置。