JP2009192605A - 撮像素子および撮像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】撮像素子に組み込まれた位相差検出用の光電変換セルを用いた焦点検出の実行可能性を向上させることが可能な技術を提供する。
【解決手段】撮像素子は、位相差検出用の測距信号を出力する光電変換セル11aの群を備え、光電変換セル11aは、測距信号を生成する受光素子PDと、被写体光を出射する撮影光学系の射出瞳において、受光素子PDへの到達光を出射した瞳領域の大きさを射出瞳全域の半分より小さいサイズに制限する瞳制限手段とを有している。
【選択図】図16

Description

本発明は、撮像素子、およびそれに関連する技術に関する。
位相差検出方式の焦点検出に用いる測距信号を、撮像素子(固体撮像素子)に組み込まれた光電変換セルから取得する技術が存在する。
例えば、特許文献1に記載の撮像素子においては、受光素子および当該受光素子の入射側に配置されたマイクロレンズを有する光電変換セルが複数設けられている。また、複数の光電変換セルには、撮像用の光電変換セルと位相差検出用の光電変換セルとが含まれ、両種類の光電変換セルがいずれも同一の平面内に配置されている。
位相差検出用の光電変換セルには、射出瞳を瞳分割可能な対となる2種類の光電変換セルが存在し、当該2種類の光電変換セルそれぞれからは、互いに異なる瞳領域を経た被写体像に関する画素出力が取得されるようになっている。
そして、測距の際には、2種類の光電変換セルそれぞれによって取得される2つの画素出力が比較され、焦点検出が行われる。
特開2000−156823号公報
しかしながら、上記特許文献1に記載の技術では、測距の際に撮像素子の撮像面に形成される像のぼけが大きい場合、すなわちデフォーカス量が大きい場合、位相差検出用の各光電変換セル間の画素出力の差が小さくなる。このような場合は、画素出力における特徴部分が少なくなるため、2つの画素出力を比較して行う焦点検出を実行することが困難になる。
そこで、本発明は、撮像素子に組み込まれた位相差検出用の光電変換セルを用いた焦点検出の実行可能性を向上させることが可能な技術を提供することを目的とする。
本発明の第1の側面は、撮像素子であって、位相差検出用の測距信号を出力する光電変換セルの群を備え、前記光電変換セルは、前記測距信号を生成する受光素子と、被写体光を出射する撮影光学系の射出瞳において、前記受光素子への到達光を出射した瞳領域の大きさを所定のサイズに制限する瞳制限手段とを有し、前記所定のサイズは、前記射出瞳全域の半分より小さいサイズであることを特徴とする。
また、本発明の第2の側面は、撮像装置であって、位相差検出用の測距信号を出力する光電変換セルを含む撮像素子と、前記測距信号に基づいて焦点検出を行う焦点検出手段とを備え、前記光電変換セルは、前記測距信号を生成する受光素子と、被写体光を出射する撮影光学系の射出瞳において、前記受光素子への到達光を出射した瞳領域の大きさを所定のサイズに制限する瞳制限手段とを有し、前記所定のサイズは、前記射出瞳全域の半分より小さいサイズであることを特徴とする。
本発明によれば、位相差検出用の測距信号を出力する光電変換セルでは、受光素子への到達光を出射した瞳領域の大きさが射出瞳全域の半分より小さいサイズに制限されるので、撮像素子に形成される被写体像のぼけ度合いが減少し、撮像素子に組み込まれた位相差検出用の光電変換セルを用いた焦点検出の実行可能性を向上させることが可能になる。
<実施形態>
<撮像装置1の外観構成>
図1および図2は、本発明の実施形態に係る撮像装置1の外観構成を示す図である。ここで、図1および図2は、それぞれ正面図および背面図を示している。
撮像装置1は、例えば一眼レフレックスタイプのデジタルスチルカメラとして構成されており、カメラボディ10と、カメラボディ10に着脱自在な撮影レンズとしての交換レンズ2とを備えている。
具体的には、図1に示されるように、カメラボディ10の正面側には、正面略中央に交換レンズ2が装着されるマウント部301と、マウント部301の右横に配置されたレンズ交換ボタン302と、把持可能とするためのグリップ部303と、正面左上部に配置されたモード設定ダイアル305と、正面右上部に配置された制御値設定ダイアル306と、グリップ部303の上面に配置されたシャッターボタン(レリーズボタン)307とが設けられている。
交換レンズ2は、被写体からの光(被写体光)を取り込むレンズ窓として機能するとともに、当該被写体光をカメラボディ10の内部に配置されている撮像素子101に導くための撮影光学系として機能する。
より詳細には、交換レンズ2は、光軸LTに沿って直列的に配置された複数のレンズからなるレンズ群21を備えている(図5参照)。このレンズ群21には、焦点の調節を行うためのフォーカスレンズ211(図5)と、変倍を行うためのズームレンズ212(図5)とが含まれており、それぞれ光軸LT方向に駆動されることで、焦点調節または変倍が行われる。また、交換レンズ2には、その鏡胴の外周適所に当該鏡胴の外周面に沿って回転可能な操作環が備えられており、上記のズームレンズ212は、マニュアル操作或いはオート操作により、上記操作環の回転方向および回転量に応じて光軸LT方向に移動し、その移動先の位置に応じたズーム倍率(撮影倍率)に設定されるようになっている。
マウント部301には、装着された交換レンズ2との電気的接続を行うためコネクタEc(図5参照)、および機械的接続を行うためのカプラ75(図5)が設けられている。
レンズ交換ボタン302は、マウント部301に装着された交換レンズ2を取り外す際に押下されるボタンである。
グリップ部303は、撮影者(ユーザ)が撮影時に撮像装置1を把持する部分であり、グリップ部303の表面には、フィッティング性を高めるために指の形状に合わせた凹凸が設けられている。なお、グリップ部303の内部には電池収納室およびカード収納室(不図示)が設けられている。電池収納室には撮像装置1の電源として電池69B(図5参照)が収納されており、カード収納室には撮影画像の画像データを記録するためのメモリカード67(図5)が着脱可能に収納されるようになっている。なお、グリップ部303には、当該グリップ部303をユーザが把持したか否かを検出するためのグリップセンサを設けるようにしても良い。
モード設定ダイアル305および制御値設定ダイアル306は、カメラボディ10の上面と略平行な面内で回転可能な略円盤状の部材からなる。モード設定ダイアル305は、撮像装置1に搭載された各種モード(各種撮影モード(人物撮影モード、風景撮影モードおよびフルオート撮影モード等)、撮影した画像を再生する再生モードおよび外部機器との間でデータ交信を行う通信モード等)の選択を行うためのものである。一方、制御値設定ダイアル306は、撮像装置1に搭載された各種の機能に対する制御値を設定するためのものである。
シャッターボタン307は、途中まで押し込んだ「半押し状態」と、さらに押し込んだ「全押し状態」とを検出可能な押下スイッチである。撮影モードにおいてシャッターボタン307が半押し(S1)されると、被写体の静止画を撮影するための準備動作(露出制御値の設定および焦点検出等の準備動作)が実行され、シャッターボタン307が全押し(S2)されると、撮影動作(撮像素子101(図4参照)を露光し、その露光によって得られた画像信号に所定の画像処理を施してメモリカード67等に記録する一連の動作)が実行される。
また、図2に示されるように、カメラボディ10の背面側には、表示部として機能するLCD(Liquid Crystal Display)311と、LCD311の上方に配設されたファインダ窓316と、ファインダ窓316の周囲を囲むアイカップ321と、ファインダ窓316の左方に配設されたメインスイッチ317と、ファインダ窓316の右方に配設された露出補正ボタン323およびAEロックボタン324と、ファインダ窓316の上方に配設されたフラッシュ部318および接続端子部319とが備えられている。また、カメラボディ10の背面側には、LCD311の左方に配置された設定ボタン群312と、LCD311の右方に配置された方向選択キー314と、方向選択キー314の中央に配置されたプッシュボタン315と、方向選択キー314の右下方に配置された表示切替スイッチ85とが備えられている。
LCD311は、画像表示が可能なカラー液晶パネルを備えており、撮像素子101(図3参照)により撮像された画像の表示または記録済みの画像の再生表示等を行うとともに、撮像装置1に搭載される機能またはモードの設定画面を表示するものである。なお、LCD311に代えて、有機EL表示装置またはプラズマ表示装置を用いるようにしてもよい。
ファインダ窓(接眼窓)316は、光学ファインダ(OVF)を構成し、ファインダ窓316には、交換レンズ2を通過した被写体像を形成する光(被写体光)が導かれている。ユーザは、このファインダ窓316を覗くことによって、実際に撮像素子101にて撮影される被写体像を視認することができる。
メインスイッチ317は、左右にスライドする2接点のスライドスイッチからなり、左にセットすると撮像装置1の電源がオンされ、右にセットすると電源がオフされる。
フラッシュ部318は、ポップアップ式の内蔵フラッシュとして構成されている。一方、外部フラッシュ等をカメラボディ10に取り付ける場合には、接続端子部319を使用して接続する。
アイカップ321は、ファインダ窓316への外光の侵入を抑制する遮光部材として機能する。
露出補正ボタン323は、露出値(絞り値およびシャッタースピード)を手動で調整するためのボタンであり、AEロックボタン324は、露出を固定するためのボタンである。
設定ボタン群312は、撮像装置1に搭載された各種の機能に対する操作を行うボタンである。この設定ボタン群312には、例えばメニュー画面をLCD311に表示させるメニューボタン、メニュー画面の内容を切り替えるメニュー切替ボタンなどが含まれる。
方向選択キー314は、円周方向に一定間隔で配置された複数の押圧部(図中の三角印の部分)を備える環状の部材を有し、各押圧部に対応して備えられた図示省略の接点(スイッチ)により押圧部の押圧操作が検出されるように構成されている。また、プッシュボタン315は、方向選択キー314の中央に配置されている。方向選択キー314およびプッシュボタン315は、撮影倍率の変更(ズームレンズ212(図5参照)のワイド方向またはテレ方向への移動)、LCD311等に再生する記録画像のコマ送り、および撮影条件(絞り値、シャッタースピード、フラッシュ発光の有無等)の設定等の指示を入力するためのものである。
表示切替スイッチ85は、2点のスライドスイッチからなり、接点を上段の「光学」位置に設定すると光学ファインダモード(「OVFモード」とも称する)が選択され、光学ファインダ視野内に被写体像が表示される。これにより、ユーザは、ファインダ窓316を介して光学ファインダ視野内に表示される被写体像を視認して、構図決め操作(フレーミング)を行うことが可能になる。
一方、表示切替スイッチ85の接点を下段の「モニタ」位置に設定すると電子ファインダモード(「EVFモード」または「ライブビューモード」とも称する)が選択され、LCD311において被写体像に係るライブビュー画像が動画的態様にて表示される。これにより、ユーザは、LCD311に表示されるライブビュー画像を視認して、フレーミングを行うことが可能になる。
このように、ユーザは、表示切替スイッチ85の操作によって、ファインダモードを切り替えることが可能であり、撮像装置1では、ライブビュー表示が行われる電子ファインダ、或いは光学ファインダを用いて被写体の構図決めを行うことが可能である。
<撮像装置1の内部構成>
次に、撮像装置1の内部構成について説明する。図3および図4は、撮像装置1の縦断面図である。図3に示すように、カメラボディ10の内部には、撮像素子101、ファインダ部102(ファインダ光学系)、ミラー部103、位相差AFモジュール(単に「AFモジュール」とも称する)107等が備えられている。
撮像素子101は、カメラボディ10に交換レンズ2が装着された場合の当該交換レンズ2の光軸LT上において、光軸LTに対して垂直に配置されている。撮像素子101としては、例えばフォトダイオードを有して構成される複数の画素がマトリクス状に2次元配置されたCMOSカラーエリアセンサ(CMOS型の撮像素子)が用いられる。撮像素子101は、交換レンズ2を通って結像された被写体像に関するR(赤)、G(緑)、B(青)各色成分のアナログの電気信号(画像信号)を生成し、R、G、B各色の画像信号として出力する。
また、撮像素子101は、その撮像面101fにおいて位相差検出用の画素を有している。詳細は、後述する。
上記の光軸LT上において、被写体光をファインダ部102へ向けて反射される位置には、ミラー部103が配置されている。交換レンズ2を通過した被写体光は、ミラー部103(後述の主ミラー1031)によって上方へ反射されるとともに、被写体光の一部はこのミラー部103を透過する。
ファインダ部102は、ペンタプリズム105、接眼レンズ106およびファインダ窓316を備えている。ペンタプリズム105は、断面5角形を呈し、その下面から入射された被写体像を内部での反射によって当該光像の天地左右を入れ替えて正立像にするためのプリズムである。接眼レンズ106は、ペンタプリズム105により正立像にされた被写体像をファインダ窓316の外側に導く。このような構成により、ファインダ部102は、本撮影前の撮影待機時において被写界を確認するための光学ファインダとして機能する。
ミラー部103は、主ミラー1031およびサブミラー1032から構成されており、主ミラー1031の背面側において、サブミラー1032が主ミラー1031の背面に向けて倒れるように回動可能に設けられている。主ミラー1031を透過した被写体光の一部はサブミラー1032によって反射され、この反射された被写体光はAFモジュール107に入射される。
上記のミラー部103は、所謂クイックリターンミラーとして構成されており、例えば露光時(本撮影時)には(図4参照)、回転軸1033を支点として上方に向けて跳ね上がり、被写体光の光路から退避した状態(ミラーアップ状態)となる。この際、サブミラー1032は、上記のミラー部103がペンタプリズム105の下方位置で停止したときには、主ミラー1031と略平行となるように折り畳まれた状態となる。これにより、交換レンズ2からの被写体光がミラー部103によって遮られることなく撮像素子101上に届き、該撮影素子101が露光される。撮像素子101での撮像動作が終了すると、ミラー部103は元の位置(図3に示す位置)に復帰し、ミラーダウン状態となる。
また、ミラー部103を本撮影(画像記録用の撮影)の前にミラーアップ状態にすることにより、撮像装置1は、撮像素子101で順次に生成される画像信号に基づき、動画的態様にて被写体をLCD311に表示させるライブビュー(プレビュー)表示が可能となる。
AFモジュール107は、被写体のピント情報を検出するラインセンサ等からなる所謂AFセンサとして構成されている。このAFモジュール107は、ミラー部103の底部に配設されており、被写体像の合焦度合いに応じた位相差検出信号を発生させる位相差検出機能を有している。すなわち、撮影待機時においてユーザがファインダ窓316で被写体を確認する場合には、図3に示すように主ミラー1031およびサブミラー1032がダウンされた状態でAFモジュール107に被写体光が導かれるとともに、AFモジュール107から位相差検出信号が出力される。
撮像素子101の撮像面側には、シャッターユニット40が配置されている。このシャッターユニット40は、上下方向に移動する幕体を備え、光軸LTに沿って撮像素子101に導かれる被写体光の光路開口動作および光路遮断動作を行うメカニカルフォーカルプレーンシャッターとして構成されている。なお、シャッターユニット40は、撮像素子101が完全電子シャッター可能な撮像素子である場合には省略可能である。
<撮像装置1の電気的構成>
図5は、撮像装置1の電気的な構成を示すブロック図である。ここで、図1〜図4と同一の部材等については、同一の符号を付している。なお、説明の便宜上、交換レンズ2の電気的構成について先ず説明する。
交換レンズ2は、上述した撮影光学系を構成するレンズ群21に加え、レンズ駆動機構24と、レンズ位置検出部25と、レンズ制御部26と、絞り駆動機構27とを備えている。
レンズ群21では、フォーカスレンズ211およびズームレンズ212と、撮像素子101へ入射される光量を調節するための絞り23とが、鏡胴内において光軸LT方向に保持されており、レンズ群21によって取り込まれた被写体光が撮像素子101に結像される。自動合焦(AF)制御では、フォーカスレンズ211が交換レンズ2内のAFアクチュエータ71Mにより光軸LT方向に駆動されることで焦点調節が行われる。
フォーカス駆動制御部71Aは、レンズ制御部26を介して全体制御部62から与えられるAF制御信号に基づき、フォーカスレンズ211を合焦位置に移動させるために必要な駆動制御信号を生成し、当該駆動制御信号を用いてAFアクチュエータ71Mを制御する。AFアクチュエータ71Mは、ステッピングモータ等からなり、レンズ駆動機構24にレンズ駆動力を与える。
レンズ駆動機構24は、例えばヘリコイドおよび該ヘリコイドを回転させる図示省略のギア等で構成され、AFアクチュエータ71Mからの駆動力を受けて、フォーカスレンズ211等を光軸LTと平行な方向に駆動させるものである。なお、フォーカスレンズ211の移動方向および移動量は、それぞれAFアクチュエータ71Mの回転方向および回転数に従う。
レンズ位置検出部25は、レンズ群21の移動範囲内において光軸LT方向に複数個のコードパターンが所定ピッチで形成されたエンコード板と、このエンコード板に摺接しながらレンズと一体的に移動するエンコーダブラシとを備えており、レンズ群21の焦点調節時の移動量を検出する。なお、レンズ位置検出部25で検出されたレンズ位置は、例えばパルス数として出力される。
レンズ制御部26は、例えば制御プログラムを記憶するROMまたは状態情報に関するデータを記憶するフラッシュメモリ等のメモリが内蔵されたマイクロコンピュータからなっている。
また、レンズ制御部26は、コネクタEcを介してカメラボディ10の全体制御部62との間で通信を行う通信機能を有している。これにより、例えばレンズ群21の焦点距離、絞り値、合焦距離または周辺光量状態等の状態情報データ、およびレンズ位置検出部25で検出されるフォーカスレンズ211の位置情報を全体制御部62に送信できるとともに、全体制御部62から例えばフォーカスレンズ211の駆動量のデータを受信できる。
絞り駆動機構27は、カプラ75を介して絞り駆動アクチュエータ76Mからの駆動力を受けて、絞り23の絞り径を変更するものである。
続いて、カメラボディ10の電気的構成について説明する。カメラボディ10は、上述の撮像素子101、シャッターユニット40等の他に、AFE(アナログフロントエンド)5、画像処理部61、画像メモリ614、全体制御部62、フラッシュ回路63、操作部64、VRAM65、カードI/F66、メモリカード67、通信用I/F68、電源回路69、電池69B、ミラー駆動制御部72A、シャッター駆動制御部73A、および絞り駆動制御部76Aを備えている。
撮像素子101は、先に説明した通りCMOSカラーエリアセンサからなり、後述のタイミング制御回路51により、当該撮像素子101の露光動作の開始(および終了)、撮像素子101が備える各画素の出力選択、および画素信号の読出し等の撮像動作が制御される。
AFE5は、撮像素子101に対して所定の動作を行わせるタイミングパルスを与えるとともに、撮像素子101から出力される画像信号に所定の信号処理を施し、デジタル信号に変換して画像処理部61に出力する機能を有している。このAFE5は、タイミング制御回路51、信号処理部52およびA/D変換部53などを備えて構成されている。
タイミング制御回路51は、全体制御部62から出力される基準クロックに基づいて所定のタイミングパルス(垂直走査パルスφVn、水平走査パルスφVm、リセット信号φVr等を発生させるパルス)を生成して撮像素子101に出力し、撮像素子101の撮像動作を制御する。また、所定のタイミングパルスを信号処理部52およびA/D変換部53にそれぞれ出力することにより、信号処理部52およびA/D変換部53の動作を制御する。
信号処理部52は、撮像素子101から出力されるアナログの画像信号に所定のアナログ信号処理を施すものである。この信号処理部52には、CDS(相関二重サンプリング)回路、AGC(オートゲインコントロール)回路およびクランプ回路等が備えられている。A/D変換部53は、信号処理部52から出力されたアナログのR、G、Bの画像信号を、タイミング制御回路51から出力されるタイミングパルスに基づいて、複数のビット(例えば12ビット)からなるデジタルの画像信号に変換するものである。
画像処理部61は、AFE5から出力される画像データに所定の信号処理を行って画像ファイルを作成するもので、黒レベル補正回路611、ホワイトバランス制御回路612およびガンマ補正回路613等を備えて構成されている。なお、画像処理部61へ取り込まれた画像データは、撮像素子101の読み出しに同期して画像メモリ614に一旦書き込まれ、以後この画像メモリ614に書き込まれた画像データにアクセスして、画像処理部61の各ブロックにおいて処理が行われる。
黒レベル補正回路611は、A/D変換部53によりA/D変換されたR、G、Bの各デジタル画像信号の黒レベルを、基準の黒レベルに補正するものである。
ホワイトバランス制御回路612は、光源に応じた白の基準に基づいて、R(赤)、G(緑)、B(青)各色成分のデジタル信号のレベル変換(ホワイトバランス(WB)調整)を行う。具体的には、ホワイトバランス制御回路612は、全体制御部62から与えられるWB調整データに基づき、輝度または彩度データ等から撮影被写体において本来白色であると推定される部分を特定し、その部分のR、G、Bそれぞれの色成分の平均と、G/R比およびG/B比とを求め、これをR、Bの補正ゲインとしてレベル補正する。
ガンマ補正回路613は、WB調整された画像データの階調特性を補正するものである。具体的には、ガンマ補正回路613は、予め設定されたガンマ補正用テーブルを用いて、画像データのレベルを色成分毎に非線形変換するとともにオフセット調整を行う。
画像メモリ614は、撮影モード時には、画像処理部61から出力される画像データを一時的に記憶するとともに、この画像データに対し全体制御部62により所定の処理を行うための作業領域として用いられるメモリである。また、再生モード時には、メモリカード67から読み出した画像データを一時的に記憶する。
全体制御部62は、マイクロコンピュータとして構成され、主にCPU、RAM621、およびROM622等を備える。全体制御部62は、ROM622内に格納されるプログラムを読み出し、当該プログラムをCPUで実行することによって、撮像装置1の各種機能を実現する。
全体制御部62は、上述のプログラムの実行によって、表示制御部62A、位相差AF制御部62BおよびコントラストAF制御部62Cを機能的に実現する。
表示制御部62Aは、LCD311における表示内容を制御する。例えば、表示制御部62Aは、撮像素子101によって連続的に取得される複数の画像のそれぞれをライブビュー画像としてLCD311に順次に表示させる。
また、表示制御部62Aは、AF動作に用いられる焦点情報を取得する領域(「AFエリア」、「測距エリア」または「フォーカスエリア」とも称する)Ef(図6参照)をライブビュー画像に合成して重畳表示させる。
位相差AF制御部62Bは、位相差検出方式により合焦位置検出を行い自動合焦動作を実行する。具体的には、位相差AF制御部62Bは、AFモジュール107によって取得される位相差検出信号または位相差AF演算回路77(後述)からの出力信号に基づいて、合焦時の撮影レンズ(より詳細にはフォーカスレンズ)の位置(合焦レンズ位置)を特定する合焦レンズ位置特定動作を行う。
コントラストAF制御部62Cは、コントラスト検出方式により合焦位置検出を行い自動合焦動作(「コントラストAF動作」とも称する)を実行する。具体的には、コントラストAF制御部62Cは、異なるレンズ位置それぞれで取得される複数の撮影画像について被写体像のコントラストに応じた評価値をそれぞれ求める評価値算出動作と、当該評価値を最適化(例えば最小化)するレンズ位置を合焦レンズ位置として特定する合焦レンズ位置特定動作とを実行する。
フラッシュ回路63は、フラッシュ撮影モードにおいて、フラッシュ部318または接続端子部319に接続される外部フラッシュの発光量を、全体制御部62により設定された発光量に制御するものである。
操作部64は、上述のモード設定ダイアル305、制御値設定ダイアル306、シャッターボタン307、設定ボタン群312、方向選択キー314、プッシュボタン315、およびメインスイッチ317等を含み、操作情報を全体制御部62に入力するためのものである。
VRAM65は、LCD311の画素数に対応した画像信号の記憶容量を有し、全体制御部62とLCD311との間のバッファメモリである。カードI/F66は、メモリカード67と全体制御部62との間で信号の送受信を可能とするためのインターフェースである。メモリカード67は、全体制御部62で生成された画像データを保存する記録媒体である。通信用I/F68は、パーソナルコンピュータまたはその他の外部機器に対する画像データ等の伝送を可能とするためのインターフェースである。
電源回路69は、例えば定電圧回路等からなり、全体制御部62等の制御部、撮像素子101、その他の各種駆動部等、撮像装置1全体を駆動させるための電圧を生成する。なお、撮像素子101への通電制御は、全体制御部62から電源回路69に与えられる制御信号により行われる。電池69Bは、アルカリ乾電池等の一次電池、またはニッケル水素充電池等の二次電池からなり、撮像装置1全体に電力を供給する電源である。
ミラー駆動制御部72Aは、ファインダモードの切り替え或いは撮影動作のタイミングに合わせて、ミラー駆動アクチュエータ72Mを駆動させる駆動信号を生成するものである。ミラー駆動アクチュエータ72Mは、ミラー部103(クイックリターンミラー)を、水平姿勢若しくは傾斜姿勢に回動させるアクチュエータである。
シャッター駆動制御部73Aは、全体制御部62から与えられる制御信号に基づき、シャッター駆動アクチュエータ73Mに対する駆動制御信号を生成するものである。シャッター駆動アクチュエータ73Mは、シャッターユニット40の開閉駆動を行うアクチュエータである。
絞り駆動制御部76Aは、全体制御部62から与えられる制御信号に基づき、絞り駆動アクチュエータ76Mに対する駆動制御信号を生成するものである。絞り駆動アクチュエータ76Mは、カプラ75を介して絞り駆動機構27に駆動力を与える。
また、カメラボディ10は、黒レベル補正回路611から出力される黒レベル補正済みの画像データに基づき、オートフォーカス(AF)制御時に必要な演算を行う位相差AF演算回路77を備えている。
以下では、この位相差AF演算回路77からの出力信号を利用した位相差検出方式の焦点検出動作について詳述する。
<撮像素子101による位相差AFについて>
撮像装置1では、交換レンズ2における射出瞳(撮影光学系の射出瞳)EYのうち、互いに異なる部分を有する領域(以下では、「部分瞳領域」とも称する)から出射された(を通過した)光(被写体光)を撮像素子101において受光することにより位相差検出方式の焦点検出が可能な構成となっている。以下では、まず、この撮像素子101の構成と、この撮像素子101を利用した焦点検出の原理とを説明する。図6および図7は、撮像素子101の構成を説明するための図である。図8は、対となる、位相差AFを行うための画素(以下では「AF画素」または「光電変換セル」とも称する)11fの縦断面図である。
図6に示されるように、撮像素子101は、その撮像面101fにおいてマトリックス状に規定されたAFエリアEfを有し、AFエリアEfごとに位相差検出方式の焦点検出が可能な構成となっている。
図7に示されるように、各AFエリアEfには、フォトダイオード上にR(赤)、G(緑)およびB(青)の各カラーフィルタが配設されたR画素111、G画素112およびB画素113からなる通常の画素(以下では「通常画素」または「撮像画素」とも称する)110が設けられるとともに、位相差AFを行うための画素(AF画素)11fが設けられている。
そして、AFエリアEfには、通常画素の水平ラインとしてG画素112とR画素111とが水平方向に交互に配置されたGrラインL1と、B画素113とG画素112とが水平方向に交互に配置されたGbラインL2とが形成されている。このGrラインL1とGbラインL2とが垂直方向に交互に配置されることによりベイヤー配列が構成される。
また、AFエリアEfには、例えば上記通常画素の水平ライン6本毎にAF画素11fが水平方向に配列されたAFラインLfが形成されている。なお、AFエリアEf内には、例えば20本程度のAFラインLfが設けられている。
AFラインLfは、撮影光学系の射出瞳EYを瞳分割して被写体光を受光する一対のAF画素11a,11bを複数有している。具体的には、図8に示されるように、AFラインLfには、撮影光学系の射出瞳EYの右側部分(「右側の部分瞳領域」または単に「右瞳領域」とも称する)Qaからの光束Taと左側部分(「左側の部分瞳領域」または単に「左瞳領域」とも称する)Qbからの光束Tbとを受光する一対のAF画素11a,11bが水平方向に配列されている。なお、ここでは、図中+X方向側を右側と、−X方向側を左側と表現している。
一対のAF画素11a,11bのうち、一方のAF画素(以下では「第1AF画素」とも称する)11aは、第1AF画素11aへの入射光を集光するマイクロレンズMLと、スリット(矩形)状の第1開口部OP1を有する第1遮光板(「第1遮光膜」とも称する)AS1と、当該第1遮光板AS1の下方に配置され、スリット(矩形)状の第2開口部OP2を有する第2遮光板(「第2遮光膜」とも称する)AS2と、光電変換部(「受光素子」または「フォトダイオード」とも称する)PDとを備えている。
そして、第1AF画素11aにおける第1開口部OP1は、受光素子PDの中心を通り光軸LTに平行な中心軸CLを基準(起点)にして特定方向(ここでは、右方向(+X方向))に偏った位置に設けられている。また、第1AF画素11aにおける第2開口部OP2は、中心軸CLを基準にして上記特定方向とは反対の方向(「反特定方向」とも称する)に偏った位置に設けられている。
また、一対のAF画素11a,11bのうち、他方のAF画素(以下では、「第2AF画素」とも称する)11bは、スリット状の第1開口部OP1を有する第1遮光板AS1と、当該第1遮光板AS1の下方に配置され、スリット状の第2開口部OP2を有する第2遮光板AS2とを備えている。
そして、第2AF画素11bにおける第1開口部OP1は、中心軸CLを基準にして上記特定方向とは反対の方向(「反特定方向」とも称する)に偏った位置に設けられている。また、第2AF画素11bにおける第2開口部OP2は、中心軸CLを基準にして上記特定方向に偏った位置に設けられている。
すなわち、一対のAF画素11a,11bでは、第1開口部OP1が互いに異なる方向に偏って配置される。また、第2開口部OP2は、AF画素11a,11b内の対応する第1開口部OP1に対して異なる方向にずれて配置される。
上述のような構成を有する一対のAF画素11a,11bでは、射出瞳EYにおいて異なる領域(部分)を通過した被写体光についての測距信号が取得される。具体的には、射出瞳EYの右瞳領域Qaを通過した光束Taは、マイクロレンズMLおよび第1遮光板AS1の第1開口部OP1を通過し、さらに第2遮光板AS2によって制限(限定)された後、第1AF画素11aの受光素子PDで受光される。そして、第1AF画素11aからは、右瞳領域Qaの光束Taに関する測距信号が取得される。また、射出瞳EYの左瞳領域Qbを通過した光束Tbは、マイクロレンズMLおよび第2遮光板AS2の第1開口部OP1を通過し、さらに第2遮光板AS2によって制限された後、第2AF画素11bの受光素子PDで受光される。そして、第2AF画素11bからは、左瞳領域Qbの光束Tbに関する測距信号が取得される。
このように、一対のAF画素11a,11bにおける各受光素子PDでは、撮影光学系の射出瞳EYにおける右側部分および左側部分(一対の部分瞳領域)Qa,Qbを通過した被写体光の光束Ta,Tbそれぞれが受光され、受光した光束Ta,Tbに応じた測距信号が各受光素子PDによって生成される。
また、当該一対のAF画素11a,11bにおいては、2枚の遮光板AS1,AS2を用いて、受光素子PDで受光される被写体光(「受光光」とも称する)を調整して、受光光が通過した瞳領域の大きさ(範囲)が調整される。詳細は、後述する。なお、受光光は、受光素子PDに到達する被写体光とも表現できることから「到達光」とも称される。
なお、ここでは、遮光板AS1,AS2が、開口部OP1,OP2を有している場合について説明しているが、遮光板AS1,AS2は、開口部OP1,OP2の代わりに光透過性を有する材料によって形成された透光領域を有していてもよい。開口部OP1,OP2および透光領域は、いずれも光を通過させるものであることから、これらは通過領域とも称される。
以下では、第1AF画素11aの画素出力を「A系列の画素出力」と称し、第2AF画素11bの画素出力を「B系列の画素出力」と称することとし、例えば、図7における1本のAFラインLf1に配置されたAF画素11fの画素配列から得られるA系列の画素出力AXとB系列の画素出力BXとの関係を説明する。図9は、AFラインLf1の画素出力を示す図である。図10は、画素出力のシフト量Sfと合焦点からのずれ量(デフォーカス量)Dfとを示す図である。
AFラインLf1では、射出瞳EYのうち右瞳領域Qaを通過した光束Taが第1AF画素11aで受光され、射出瞳EYのうち左瞳領域Qbを通過した光束Tbが第2AF画素11bで受光される。この場合、A系列の画素a1〜a3を含むAFラインLf1でのA系列の画素出力AXは、例えば、図9のグラフGA(実線で図示)のようになる。一方、B系列の画素b1〜b3を含むAFラインLf1でのB系列の画素出力BXは、例えば、図9のグラフGB(破線で図示)のようになる。
図9に表されたグラフGAとグラフGBとを比較すると、A系列の画素出力AXとB系列の画素出力BXとは、AFラインLf1のライン方向(換言すれば、AF画素11fの交互配列方向)にずれ量(シフト量)Sfだけ位相差が生じていることが分かる。
一方、上記のシフト量Sfと、撮像素子101における撮像面101fの焦点面からのずれ量(デフォーカス量)Dfとの関係は、図10に示す1次関数のグラフGCで表される。このグラフGCの傾きは、工場試験等によって予め取得され、出荷時において予め全体制御部62のROM622に格納されている。
位相差AF演算回路77では、撮像素子101のAFラインLfの出力に基づいてシフト量Sfが算出され、当該シフト量Sfと図10のグラフGCとを用いてデフォーカス量Dfが取得される。そして、算出されたデフォーカス量Dfに相当する駆動量が、全体制御部62およびレンズ制御部26等を介してフォーカスレンズ211に与えられ、フォーカスレンズ211を合焦位置に移動させる位相差AFが行われる。
このように、撮像装置1では、撮像素子101の受光面に組み込まれたAF画素11fからの画素出力を用いた位相差検出方式の焦点検出動作を実行することが可能である。
<瞳領域の調整について>
次に、本実施形態において行われる瞳領域の調整について詳述する。
上述のように、AF画素11fでは、2枚の遮光板AS1,AS2を用いて、受光素子PDで受光される被写体光(「受光光」とも称する)が調整され、受光光が通過する瞳領域の大きさ(範囲)が調整される。具体的には、AF画素11fでは、2枚の遮光板AS1,AS2で受光光の一部を遮光(遮蔽)することによって、受光光が通過する瞳領域の大きさが小さくなるように制限される。このように瞳領域の大きさを小さくすることによれば、デフォーカス量Dfが大きい場合でも、AF画素11fの画素出力を用いた焦点検出を行うことが可能になる。
具体的には、図11および図12を参照して説明する。図11は、撮像素子に到達する被写体光と射出瞳EYとの関係を示す図である。図12は、射出瞳EYに含まれる瞳領域から出射された被写体光を示す図である。なお、図13は、AFモジュール107で取得される測距信号と瞳領域との関係を示す図である。また、図11では、射出瞳EYとの比較を容易にするため、射出瞳EYの一部領域(部分領域EP)は、円形状で表されている。
図11では、被写界における光軸LT上の一点LPから出た光が、撮影光学系に入射した後、射出瞳EYから出射され、焦点面FPにおいて結像する様子が表されている。そして、図11において焦点面FPの前後には、ある大きさのぼけた円形の像が形成され、この円(「錯乱円」とも称する)が大きくなれば、像がぼやけることになる。また、図11の撮像面101fには、撮像面101fから射出瞳EYに向かって右側の右瞳領域Qaを通過した光束を受光可能なA系列のAF画素22Aと、撮像面101fから射出瞳EYに向かって左側の左瞳領域Qbを通過した光束を受光可能なB系列のAF画素22Bとが配置されているものとする。なお、撮像面101fに配置されたA系列のAF画素22AおよびB系列のAF画素22Bは、受光光が通過した瞳領域の大きさを調整する機能を有していない。
上述のように、撮像素子101に組み込まれたAF画素11fを用いた焦点検出では、A系列の画素出力AXとB系列の画素出力BXとを比較して画素出力のシフト量Sfが算出され、デフォーカス量Dfが取得される。しかし、撮像面(像面)101fにおける像のぼけ(ぼけの度合い)が大きくなると、互いの画素出力を比較してシフト量Sfの算出を行うことが困難になる。
例えば、測距信号として利用可能な画素出力を得ることができる像のぼけの範囲を測距焦点深度SDと称し、焦点面FP前後において生じる測距焦点深度SDにおける最大の許容ぼけ(「最大許容ぼけ」とも称する)MBを図11の実線の両矢印MYで表される量とする。この場合、射出瞳EYの全領域を通過した光束に関する測距焦点深度SDは、破線の両矢印SY1で表される範囲となる。図11では、撮像面101fが、測距焦点深度SD外に存在する(測距焦点深度SDに含まれない)ことから、撮像面101fには、最大許容ぼけMBよりも大きくぼけたぼけ像(「大ぼけ像」または「非許容ぼけ像」とも称する)が形成されることになる。
このとき、撮像面101fに存在するAF画素22A,22Bによって、当該大ぼけ像に基づいた測距信号が生成される。
より詳細には、第1AF画素22Aからは、右瞳領域Qaを通過した光束に関するA系列の画素出力AX1(図11参照)が取得される。当該A系列の画素出力AX1は、大ぼけ像に基づく出力であるため、各第1AF画素22A間の画素出力の差は小さくなり、ひいてはA系列の画素出力AX1は比較的均一なものになる。
また同様に、第2AF画素22Bからは、左瞳領域Qbを通過した光束に関するB系列の画素出力BX1(図11)が取得されるが、当該B系列の画素出力BX1も、大ぼけ像に基づく出力であるため、各第2AF画素22B間の画素出力の差が小さくなり、ひいてはB系列の画素出力BX1は比較的均一なものになる。
このように、撮像面101fに形成される像のぼけ度合いが大きくなると、AF画素22A,22Bの画素出力AX1,BX1のコントラストは小さくなり、ぼけの度合いが最大許容ぼけMBを越えた場合は、A系列の画素出力AX1とB系列の画素出力BX1とにおいて対応する画素出力の特定が困難になり、シフト量Sfの算出が不可能となる。
ここで、例えば、瞳領域を射出瞳全域の大きさよりも小さく制限し、射出瞳EYにおける部分領域EPを通過した光束が撮像面101fに到達する場合を想定する。この場合、部分領域EPを通過した光束に関する測距焦点深度SDは、一点鎖線の両矢印SY2で表される範囲となり(図11)、射出瞳EYの全領域を通過した光束に関する測距焦点深度SD(両矢印SY1)よりも深く(大きく)なる。
このように、絞りの開口を小さく(絞り値を大きく)すると焦点深度が深くなる原理と同様に、撮像面101fへの到達光が通過した瞳領域の大きさが小さくなると、測距焦点深度SDは深くなる。
図11では、撮像面101fが、一点鎖線の両矢印SY2で表される測距焦点深度SD内に存在することから、撮像面101fには、最大許容ぼけMBよりも小さなぼけ像(「許容ぼけ像」とも称する)が形成されることになる。
このとき、撮像面101fに存在するAF画素22A,22Bによって、当該許容ぼけ像に基づいた測距信号が生成される。
より詳細には、第1AF画素22Aからは、右瞳領域Qaを通過した光束(図11中、斜線ハッチングにより表された光束)に関するA系列の画素出力AX2(図11参照)が取得される。当該A系列の画素出力AX2は、許容ぼけ像に基づく出力であるため、各第1AF画素22A間の画素出力の差は大きくなる。
また同様に、第2AF画素22Bからは、左瞳領域Qbを通過した光束(図11中、縦線ハッチングにより表された光束)に関するB系列の画素出力BX2が取得されるが、当該B系列の画素出力BX2も、許容ぼけ像に基づく出力であるため、各第2AF画素22B間の画素出力の差は小さくなる。
このように、撮像面101fに形成される像のぼけ度合いが小さくなる(減少する)と、AF画素22A,22Bの画素出力AX2,BX2のコントラストは大きくなる。そして、ぼけの度合いが最大許容ぼけMBよりも小さい場合は、A系列の画素出力AX2とB系列の画素出力BX2とを比較して行う、画素出力のシフト量Sfの算出が可能となる。
本実施形態の撮像装置1では、図12に示されるように、瞳領域の大きさが小さく制限され、小さく制限された瞳領域(「制限瞳領域」とも称する)DE1,DE2から出射された被写体光が撮像面101fにおけるAF画素11fの受光素子PDで受光される。これによれば、測距焦点深度SDが深くなるので、撮像素子101の撮像面に形成される像のぼけが大きい場合、換言すれば、デフォーカス量Dfが大きい場合でも、撮像素子101に組み込まれたAF画素11fを用いた焦点検出を有効に行うことができ、AF画素11fを用いた焦点検出の実行可能性を向上させることが可能になる。
なお、図13に示されるように、AFモジュール107では、対となるラインセンサLN1,LN2からの出力UT1,UT2を比較して、位相差検出信号が生成されるが、当該ラインセンサLN1,LN2に導かれる被写体光は、AFモジュール107内の専用光学系SKにおいて、制限されている。具体的には、AFモジュール107は、複数のレンズLZ1〜LZ3および遮光マスクMKによって構成される専用光学系SKを有し、射出瞳EYからの光束は、専用光学系SKにおいて制限され、ラインセンサLN1,LN2に導かれる。これにより、ラインセンサLN1,LN2では、小さな瞳領域から出射された被写体光が受光されることになり、比較的デフォーカス量Dfが大きい場合でも、位相差検出信号を生成することが可能になる。
これに対して、撮像素子101に組み込まれたAF画素11fは、瞳領域を制限する専用光学系SKを有していないため、次述するようにAF画素11fでは、AFモジュール107とは別の手法によってAF画素11fの受光素子PDへの到達光を出射する瞳領域の大きさが制限される。
<瞳領域の調整手法について>
次に、本実施形態における瞳領域の調整手法について説明する。図14は、受光素子PDによる被写体光の最大受光範囲GRmを示す図である。図15は、第1遮光板AS1を設けたときの受光素子PDによる被写体光の受光範囲GRを示す図である。図16は、第1AF画素11aの受光素子PDによる被写体光の受光範囲GRを示す図である。
なお、ここでは、簡単化のため、AF画素11fの縦断面における二次元の位置関係に基づいて説明するとともに、マイクロレンズMLにおける光の屈折を考慮しないものとする。
本実施形態の撮像装置1では、AF画素11f内の2枚の遮光板AS1,AS2を用いて、AF画素11fに入射する被写体光の一部を遮蔽することによって、瞳領域の大きさが小さく制限される。すなわち、本実施形態では、当該2枚の遮光板AS1,AS2が、受光素子への到達光を出射した瞳領域の大きさを所定のサイズに制限する瞳領域制限手段として機能する。なお、ここでは、当該瞳領域制限手段によって、瞳領域の大きさは、射出瞳全域の半分よりも小さいサイズに制限される。
以下では、瞳領域の大きさを小さく制限する2枚の遮光板AS1,AS2の配置位置について詳述する。
まず、図14に示されるように、遮光板AS1,AS2がない場合、受光素子PDによる被写体光の受光範囲GRは最大となり、両矢印HYmで示される範囲となる(以下では、最大となる受光範囲GRを「最大受光範囲GRm」と称する)。具体的には、最大受光範囲GRmは、マイクロレンズMLの右縁部REおよびフォトダイオードPDの左端部LHを通る直線(「第1規定線」とも称する)FK1と、マイクロレンズMLの左縁部LEおよびフォトダイオードPDの右端部RHを通る直線(「第2規定線」とも称する)FK2とによって規定される範囲となる。
そこで、この最大受光範囲GRmを狭めるために、AF画素11f(ここでは、第1AF画素11a)においては、最大受光範囲GRmを規定する2つの規定線FK1,FK2の交点CR1を通り、受光素子PDの受光面と平行な直線(「第1基準直線」とも称する)BL1よりも上方側(+Z方向側)の上方域URに第1遮光板AS1が配置される。
具体的には、図15に示されるように、上記特定方向(+X方向)に偏った第1開口部OP1を有する第1遮光板AS1が、上方域URに配置される。これにより、最大受光範囲GRmは狭められ、図15中の両矢印HY1で示された範囲となる。より詳細には、第1遮光板AS1のうち右側の遮光部(右遮光部)RS1によって、第1規定線FK1が変更され、射出瞳EYにおいて最大受光範囲GRmに対応する瞳領域(「対応瞳領域」とも称する)のうち、右側の領域が縮小される(小さく制限される)。また、第1遮光板AS1のうち左側(−X方向側)の遮光部(左遮光部)LS1によって、第2規定線FK2が変更され、射出瞳EYにおける対応瞳領域のうち左側の領域が縮小される。
次に、第1遮光板AS1によって制限された受光範囲GRを規定する2つの規定線FK1,FK2の交点CR2を通り、受光素子PDの受光面と平行な第2基準直線BL2よりも下方側(−Z方向側)の下方域DRに第2遮光板AS2が配置される。
具体的には、図16に示されるように、上記反特定方向(−X方向)に偏った第2開口部OP2を有する第2遮光板AS2が、下方域DRに配置される。これにより、第1遮光板AS1によって制限された受光範囲GRはさらに狭められ、図16中の両矢印HY2で示された範囲となる。より詳細には、第2遮光板AS2のうち右遮光部RS2によって、第2規定線FK2が変更され、受光範囲GRについての対応瞳領域のうち、左側の領域が縮小される。また、第2遮光板AS2のうち左遮光部LS2によって、第1規定線FK1が変更され、対応瞳領域のうち右側の領域が縮小される。
このように、AF画素11fでは、2つの遮光板AS1,AS2によって各規定線FK1,FK2が変更され、受光範囲GRが小さく制限される。なお、上記では、瞳領域の調整手法について第1AF画素11aを例にして説明したが、第2AF画素11bにおいても2つの遮光板AS1,AS2によって各規定線FK1,FK2が変更され、受光範囲GRが小さく制限される。
また、第1規定線FK1は、第1遮光板AS1の右遮光部RS1および第2遮光板AS2の左遮光部LS2によって変更されることから、AF画素11fの受光素子PDで受光される被写体光の部分瞳領域のうち右側の領域を制限するには、第1遮光板AS1の右遮光部RS1を−X方向に、或いは、第2遮光板AS2の左遮光部LS2を+X方向に移動させればよいことがわかる。
同様に、第2規定線FK2は、第1遮光板AS1の左遮光部LS1および第2遮光板AS2の右遮光部RS2によって変更されることから、部分瞳領域のうち左側の領域を制限するには、第1遮光板AS1の左遮光部LS1を+X方向に、或いは、第2遮光板AS2の右遮光部RS2を−X方向にそれぞれ移動させればよいことがわかる。
このように、2枚の遮光板AS1,AS2を用いてAF画素11fに入射する被写体光を制限することによれば、受光素子PDへの到達光を出射した部分瞳領域を小さく制限できるので、測距焦点深度SDを深くすることができる。測距焦点深度SDを深くすることで、撮像素子101の撮像面101fに形成される像のぼけが大きい場合、すなわち、デフォーカス量Dfが大きい場合でも、撮像素子101に組み込まれたAF画素11fを用いた焦点検出を有効に行うことが可能になる。なお、デフォーカス量Dfが大きくなる場合としては、焦点検出動作を行う前において、フォーカスレンズ211が合焦位置から極端にずれている場合であり、例えば、小さいF値(例えば、F値1.4)の明るい交換レンズ2を装着しているときには、測距焦点深度SDが浅くなるため、焦点検出動作を行う前のデフォーカス量Dfが大きくなる可能性が高くなる。
また、共通のAFラインLfに属する各AF画素11a,11bにおいては、2枚の遮光板AS1,AS2それぞれの配置位置が調整され、共通の瞳領域を通過した光束に関する画素出力が得られるように設定される。例えば、図12では、共通のAFラインLfに属する第1AF画素11aは、制限瞳領域DE1を通過した被写体光を受光するように設定され、共通のAFラインLfに属する第2AF画素11bは、制限瞳領域DE2を通過した被写体光を受光するように設定される。
<変形例>
以上、この発明の実施の形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
例えば、上記各実施形態においては、2枚の遮光板AS1,AS2を用いて部分瞳領域の大きさを制限していたが、これに限定されず、1枚の遮光板AS3を用いて部分瞳領域の大きさを制限してもよい。図17は、変形例に係るAF画素11cを示す図である。
具体的には、図17に示されるように、開口部OP3を有する遮光板AS3をフォトダイオードPDの受光面の直前に配置して、受光素子PDによる被写体光の受光範囲GRを制限してもよい。
なお、1枚の遮光板AS1を用いて瞳の制限を行う際は、遮光板AS3の開口OP3は、比較的狭く設定されるが、開口OP3を狭く設定しすぎた場合は、回折によって被写体光が受光素子PDに到達しなくなる。このため、上記実施形態に示されるように、複数枚の遮光板AS1を組み合わせて行う方が、1枚の遮光板AS3を用いて行うより、瞳領域の調整は容易となる。
また、上記実施形態では、対となるAF画素11a,11bにおいて遮光板AS1,AS2を鏡面対称となるように配置していたが(図8参照)、これに限定されない。図18は、変形例に係る対となるAF画素の縦断面図である。
具体的には、図18に示されるように、対となるAF画素11a,11bにおいて受光する瞳領域Qa1,Qb1の大きさが互いに等しくなるように設定されれば、対となる画素において各遮光板AS1,AS2を鏡面対称に配置しなくてもよい。
本発明の実施形態に係る撮像装置の外観構成を示す図である。 本発明の実施形態に係る撮像装置の外観構成を示す図である。 撮像装置の縦断面図である。 撮像装置の縦断面図である。 撮像装置の電気的な構成を示すブロック図である。 撮像素子の構成を説明するための図である。 撮像素子の構成を説明するための図である。 対となるAF画素の縦断面図である。 AFラインの画素出力を示す図である。 画素出力のシフト量とデフォーカス量とを示す図である。 撮像素子に到達する被写体光と射出瞳との関係を示す図である。 射出瞳に含まれる瞳領域から出射された被写体光を示す図である。 AFモジュールで取得される測距信号と瞳領域との関係を示す図である。 受光素子による被写体光の最大受光範囲を示す図である。 第1遮光板を設けたときの受光素子による被写体光の受光範囲を示す図である。 第1AF画素の受光素子による被写体光の受光範囲を示す図である。 変形例に係るAF画素を示す図である。 変形例に係る対となるAF画素の縦断面図である。
符号の説明
1 撮像装置
101 撮像素子
101f 撮像面
Ef AFエリア
11f AF画素
11a 第1AF画素
11b 第2AF画素
PD 受光素子
AS1 第1遮光板
AS2 第2遮光板
OP1 第1開口部
OP2 第2開口部
Qa,Qa1 右瞳領域
Qb,Qb1 左瞳領域
Df デフォーカス量
EP 部分領域
EY 射出瞳
GR 受光範囲
GRm 最大受光範囲
SD 測距焦点深度

Claims (6)

  1. 撮像素子であって、
    位相差検出用の測距信号を出力する光電変換セルの群を備え、
    前記光電変換セルは、
    前記測距信号を生成する受光素子と、
    被写体光を出射する撮影光学系の射出瞳において、前記受光素子への到達光を出射した瞳領域の大きさを所定のサイズに制限する瞳制限手段と、
    を有し、
    前記所定のサイズは、射出瞳全域の半分より小さいサイズであることを特徴とする撮像素子。
  2. 請求項1に記載の撮像素子において、
    前記瞳制限手段は、
    前記受光素子の上方に配置された第1遮光層、
    を有し、
    前記第1遮光層は、前記射出瞳からの被写体光の一部を遮光して、前記瞳領域の大きさを制限することを特徴とする撮像素子。
  3. 請求項2に記載の撮像素子において、
    前記瞳制限手段は、
    前記受光素子と前記第1遮光層との間に配置された第2遮光層、
    をさらに有し、
    前記第2遮光層は、前記第1遮光層と協働して前記被写体光の一部を遮光し、前記瞳領域の大きさを制限することを特徴とする撮像素子。
  4. 請求項3に記載の撮像素子において、
    前記第1遮光層は、前記被写体光の一部を通過させる第1通過領域を有し、
    前記第2遮光層は、前記被写体光の一部を通過させる第2通過領域を有し、
    前記第1通過領域と前記第2通過領域とは、互いにずれて設けられることを特徴とする撮像素子。
  5. 請求項4に記載の撮像素子において、
    前記光電変換セルの群は、前記射出瞳を互いに逆方向となる第1方向および第2方向に瞳分割する一対の光電変換セルを複数有し、
    前記一対の光電変換セルは、
    前記第1通過領域が前記第1遮光層において前記第1方向に偏り、前記第2通過領域が前記第2遮光層において前記第2方向に偏っている第1光電変換セルと、
    前記第1通過領域が前記第1遮光層において前記第2方向に偏り、前記第2通過領域が前記第2遮光層において前記第1方向に偏っている第2光電変換セルと、
    によって構成されていることを特徴とする撮像素子。
  6. 撮像装置であって、
    位相差検出用の測距信号を出力する光電変換セルを含む撮像素子と、
    前記測距信号に基づいて焦点検出を行う焦点検出手段と、
    を備え、
    前記光電変換セルは、
    前記測距信号を生成する受光素子と、
    被写体光を出射する撮影光学系の射出瞳において、前記受光素子への到達光を出射した瞳領域の大きさを所定のサイズに制限する瞳制限手段と、
    を有し、
    前記所定のサイズは、射出瞳全域の半分より小さいサイズであることを特徴とする撮像装置。
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