JP2009186352A - 測定システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数の測定ユニットが共通のバスを介して並列接続されるとともに、ケーブルを介して直列接続される測定システムにおいて、前記測定ユニット間を接続するケーブルの診断手段として、前段測定ユニットに前記バスから所定ビット構成のテストデータを入力する手段と、後段測定ユニットには前記バスから前段測定ユニットに入力されるテストデータと前記ケーブルを介して前段測定ユニットから出力されるテストデータの排他的論理和を求める手段、が設けられたことを特徴とするもの。
【選択図】 図1
Description
MU2 後段測定ユニット
SEL セレクタ
FF1、FF2 フリップフロップ
REG11、REG12、REG2 レジスタ
CN1、CN2 コネクタ
E−OR 排他的論理和ゲート
TB テスタバス
Claims (4)
- 複数の測定ユニットが共通のバスを介して並列接続されるとともに、ケーブルを介して直列接続される測定システムにおいて、
前記測定ユニット間を接続するケーブルの診断手段として、
前段測定ユニットに前記バスから所定ビット構成のテストデータを入力する手段と、
後段測定ユニットには前記バスから前段測定ユニットに入力されるテストデータと前記ケーブルを介して前段測定ユニットから出力されるテストデータの排他的論理和を求める手段、
が設けられたことを特徴とする測定システム。 - 前記前段測定ユニットにテストデータを入力する手段は、測定データとテストデータを切替出力するセレクタを含むことを特徴とする請求項1記載の測定システム。
- 前記テストデータとして、ビット配列の異なるものを順次出力することを特徴とする請求項1または請求項2記載の測定システム。
- 前記測定システムは、
テスタバスを介してタイミング発生部とパターン発生部と波形整形部と論理比較部と不良解析メモリ部が接続され、
前記タイミング発生部から各部にタイミング信号が供給され、前記パターン発生部は前記波形整形部を介して被試験メモリに直列接続され、被試験メモリは前記論理比較部を介して前記不良解析メモリ部に直列接続されたメモリテストシステムであることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の測定システム。
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JP2008027512A JP2009186352A (ja) | 2008-02-07 | 2008-02-07 | 測定システム |
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2008
- 2008-02-07 JP JP2008027512A patent/JP2009186352A/ja active Pending
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