JP2009163056A - ディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法 - Google Patents

Abstract

【課題】レーザ照射位置の精度許容範囲を拡大できるディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法を提供する。
【解決手段】プラズマディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法であって、輝点欠陥表示セルを検出する検査工程と、この輝点欠陥表示セルをリペア用レーザ光により滅点化処理するリペア工程と、を含み、このリペア工程において、この滅点化処理の前に表示セルの表示色を検出する。
従って、検査工程において検出された輝点欠陥表示セルがプラズマディスプレイパネルのどの位置に存在するかという座標情報ＣＩ１と、当該輝点欠陥表示セルが何色であるかという表示色情報ＣＩ２とを有するカット情報ＣＩとして取得するため、欠陥表示セルの座標情報ＣＩ１に基づいてのみ滅点化処理を行う場合に比べて、リペア装置におけるプラズマディスプレイパネルの位置決め精度の許容範囲を拡大できる。
【選択図】図８

Description

本発明は、ディスプレイパネルにおける輝点欠陥表示セルをリペアする方法に関する。

プラズマディスプレイパネルでは表示色の異なる複数の表示セルがマトリックス状に配置されている。
従来、プラズマディスプレイパネルの表示セルが良好な輝点を示すかどうかを検査することが行われており、この検査工程において輝点欠陥と判定された輝点欠陥表示セルは、その後、リペア工程においてレーザで電極を切断することでリペアされている。このリペア工程においてレーザ処理を行う装置として用いられるリペア装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。この特許文献１では、同一装置内で輝点欠陥表示セルの検出とリペアとが行われている。

図１には、従来の輝点欠陥表示セルをリペアするフローチャートが示されている。従来のリペア方法は、検査工程において検出された輝点欠陥表示セルの座標情報ＣＩ１を有するカット情報ＣＩを取得（ステップＳ１）したプラズマディスプレイパネルをリペア装置内に搬入（ステップＳ２）し、その後、プラズマディスプレイパネルの４隅に附されたアライメントマークの位置を少なくとも２箇所以上読み込みプラズマディスプレイパネルの正確な位置を把握する（ステップＳ３）。そして、これをもとに輝点欠陥表示セルの位置を計算により求め、輝点欠陥表示セルへレーザ処理部を移動させる（ステップＳ４）。そして、レーザ処理部に備わるカメラにより画像として捉えた輝点欠陥表示セル内の透明電極の詳細な位置を画像処理により特定する（ステップＳ５）。次に、輝点欠陥表示セル内の位置を特定された透明電極へリペア用レーザ光を照射して透明電極をカットする（ステップＳ６）。この作業を繰り返し、プラズマディスプレイパネル内のすべての輝点欠陥表示セルのレーザ処理が完了した後、プラズマディスプレイパネルをリペア装置から搬出する（ステップＳ７）。

このような、手法を採用する場合は、例えば、図２に示したように、表示セルとリペア装置に備えられたカメラのカメラ視野Ｖとの位置関係が図２（Ａ）のような場合は、検査工程により検出された輝点欠陥表示セルをカメラのカメラ視野Ｖに正確に捉えることができるが、図２（Ｂ）のようにカメラのカメラ視野Ｖが１／２セルピッチずれた場合は、カメラのカメラ視野Ｖに２つの表示セルが存在することとなり、検査工程により検出された輝点欠陥表示セルがどちらなのか分からなくなる。

特開２００３−１１５２６７号公報

特許文献１のように、輝点欠陥表示セルの検出を行う検査工程と、その欠陥表示セルの座標情報に基づく滅点化処理を行うリペア工程とが同一装置内で行われる場合、その装置には、電極をリペア用レーザ光で除去する機構以外に、輝点欠陥表示セルを検出するためのパネルを点灯させる機構や、パネルの電極引出部との接続を行う機構などが必要となるため、装置として非常に大型で高価なものになり、生産効率も悪化するという問題が一例として挙げられる。
一方、輝点欠陥表示セルの検出と、その欠陥表示セルの座標情報に基づいて行う滅点化処理を別々の装置内で行う場合、リペア装置におけるパネルの位置決め機構に高度な精度が要求されるという問題が一例として挙げられる。つまり、図２に示したように、リペア装置の精度は１／２セルピッチ以下の誤差に留めることが要求される。従って、このような手法のリペア装置はプラズマディスプレイパネルの位置決め機構に高度な位置決め精度が要求されることになる。

本発明は、輝点欠陥表示セルをリペアするに際して装置を大型化複雑化させることなくレーザ照射位置の精度許容範囲を拡大できるディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法を提供することを１つの目的とする。

請求項１に記載の発明は、表示色の異なる複数色の表示セルがマトリクス状に配置されたディスプレイパネルにおける輝度欠陥表示セルをリペアする方法であって、輝点欠陥表示セルを検出する検査工程と、前記輝点欠陥表示セルをリペア用レーザ光により滅点化処理するリペア工程と、を含み、前記リペア工程において、前記滅点化処理の前に滅点化処理を行う表示セルの表示色を検出することを特徴とするディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法である。

以下、本発明の一実施の形態を図面に基づいて説明する。

以下、本実施の形態を図３から図１１に基づいて説明する。図３は、本実施の形態で用いられるプラズマディスプレイパネルの電極構造を示した模式図である。図４は、本実施の形態のリペア装置全体の斜視図である。図５は、本実施の形態のリペア装置のレーザ処理部の拡大図である。図６は、本実施の形態に係るリペア工程の概略図である。図７は、本実施の形態に係る検査工程の概略図である。図８は、本実施の形態のリペア装置を用いた場合のリペア工程のチャート図である。図９は、本実施の形態の表示セルの色確認をする際の断面図である。図１０は、本実施の形態の透明電極をカットする際の断面図である。図１１（Ａ）は、表示セルの色確認において、レーザ形状が透明電極を避けた微小スリットである場合の平面図である。（Ｂ）は、表示セルの色確認において、レーザ形状が透明電極を避けた矩形スリットである場合の平面図である。（Ｃ）は、表示セルの色確認において、レーザが透明電極に影響を与えない大きなスリットである場合の平面図である。図１２は、本実施の形態の変形例のリペア工程におけるリペア装置の模式図である。

[本実施の形態の構成]
図３に示すように、本実施の形態において、プラズマディスプレイパネル１は、例えば略平面長方形状に形成され、プラズマ放電による発光を利用して画像を表示させる装置である。このプラズマディスプレイパネル１は、画像表示領域を構成する放電空間Ｈを介して、互いに対向配置された一対の基板である第一基板としての背面基板２および第二基板としての前面基板３を備えている。

これらの背面基板２および前面基板３は、それぞれ外周縁に図示しないシールフリットが設けられて封着されている。そして、封着された当該空間内部は例えば６．７×１０^４Ｐａ（５００Ｔｏｒｒ）程度の減圧状態とされ、例えばＨｅ−Ｘｅ（ヘリウム−キセノン）系やＮｅ−Ｘｅ（ネオン−キセノン）系などの不活性ガスが充填されている。

背面基板２は、例えば板状ガラス材にて平面長方形状に形成されている。この背面基板２の内面上には、複数のアドレス電極２１と、これらのアドレス電極２１上を覆うアドレス電極保護層２２と、このアドレス電極保護層２２上に一体的に設けられた隔壁２３と、この隔壁２３の放電セル２３１内部に充填された蛍光体層２４（２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ）と、などがそれぞれ設けられている。

アドレス電極保護層２２は、例えばガラスペーストなどにて形成され、背面基板２の内面上におけるアドレス電極引出部を除いた略全面に亘り設けられている。このアドレス電極保護層２２は、パネル駆動時において、放電によるアドレス電極２１の損耗を防止するとともに、駆動に必要な電荷を蓄積する誘電体層として機能する。なお、アドレス電極保護層２２の外周縁部上には前述のシールフリットが設けられている。

隔壁２３は、例えば、アドレス電極保護層２２と同一成分のガラスペーストにて略梯子状に形成されている。そして、アドレス電極保護層２２上において、アドレス電極２１と略直交する複数の直線状の隙間をそれぞれ間に挟んで、複数並列して設けられている。この隔壁２３により放電空間Ｈが複数に区画され、これにて複数の矩形状の放電セル２３１が形成されている。そして、隔壁２３は、その基端部から頂部までの高さがそれぞれ所定の高さ寸法に設定されており、背面基板２と前面基板３との間隙寸法を規定する。

蛍光体層２４（２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ）は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３原色の蛍光体ペーストが放電セル２３１内部に順に充填され、これが焼成されることにより形成される。これら蛍光体層２４（２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ）は、それぞれの放電セル２３１で発生した紫外光により励起され、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３原色の可視光を発光する。

前面基板３は、プラズマディスプレイパネル１の表示面を構成し、例えば、背面基板２と同一材料にて略同一形状に形成されている。この前面基板の内面上には、アドレス電極２１と略直交して一定の間隔で配列された複数の表示電極対３１と、これら表示電極対３１間にそれぞれ設けられた複数のブラックストライプ３２と、これら表示電極対３１およびブラックストライプ３２上を覆う誘電体層３３と、この誘電体層３３を覆う保護層３４と、などがそれぞれ設けられている。

表示電極対３１は、放電ギャップＧを介して対向する複数対の透明電極３１１と、これら透明電極３１１の一端部に積層する一対の直線状のバス電極３１２とを備えて構成されている。

透明電極３１１は、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）などの透明導電膜で略Ｔ字形状に形成されており、所定の放電セル２３１に対応して一対ずつ設けられている。

バス電極３１２は、一対の透明電極３１１における放電ギャップＧに対して反対側の端部に、それぞれ積層して設けられている。これらバス電極３１２のそれぞれの一端には図示しないバス電極引出部が形成され、このバス電極引出部を介して各透明電極３１１に図示しない行電極駆動部からの電圧パルスが印加されるようになっている。
このようなバス電極３１２は、透明電極３１１上に積層して設けられた黒色無機顔料などからなる図示しないバス電極黒層と、これらバス電極黒層に積層して設けられたＡｇ（銀）などを主成分とする金属材料からなる図示しない主導電層とを備えた２層構造となっている。

ブラックストライプ３２は、バス電極黒層と同質の材料にて、直線状に形成されている。このブラックストライプ３２およびバス電極黒層にて、前面基板３の外方から照射された可視光が吸収されるようになっている。

誘電体層３３は、例えばガラスペーストなどにて形成され、背面基板２のアドレス電極保護層２２と対向して設けられている。この誘電体層３３は、パネル駆動時において、放電による表示電極対３１の損耗を防止するとともに、駆動に必要な電荷を蓄積する。

保護層３４は、誘電体層３３上面を被覆するＭｇＯ（酸化マグネシウム）により層状に設けられている。このような保護層３４は、誘電体層３３が放電によりスパッタリングされることを防ぐ機能を有している。

本実施の形態はリペア装置と点灯検査装置とを備える。
図４に示したように、本実施の形態のリペア装置４０は、被リペア対象となるプラズマディスプレイパネル１を載置することができる載置台４１と、この載置台４１の水平面のＸ軸方向に略沿う両側縁に沿って設けられた２つの第一レール台４２と、これらの第一レール台４２の上面にそれぞれ略沿う２つの第一レール台４２と載置台４１との当接面とは反対側の第一レール台４２の面上に設けられた第一レール４３と、この第一レール４３に沿ってＸ軸方向へ移動可能な板状部材であり長辺がＹ軸方向に沿う第二レール台４４と、この第二レール台４４の長手方向に略沿って配置され第二レール台４４と第一レール４３との当接面とは反対側の第二レール台４４の面上に設けられた第二レール４５と、この第二レール４５に沿ってＹ軸方向へ移動可能な板状部材である移動部材４６と、この移動部材４６に伴って移動可能な移動部材４６に設けられたレーザ処理部５０とが備えられている。

図５に示したように、本実施の形態のレーザ処理部５０は、検査工程において得られた画像データに基づいて輝点欠陥表示セルにレーザを照射するレーザ光源５１と、このレーザ光源５１から発生したリペア用レーザ光Ｌを水平に載置されたプラズマディスプレイパネル１に存在する輝点欠陥表示セルへと投光し、この輝点欠陥表示セルからの反射光を略水平方向へと投光する投光部５２と、この投光部５２から投光されてきた反射光を略鉛直方向へ反射する反射部５３と、この反射部５３からの反射光を受光して反射光の色を確認するカメラ５４と、を備えている。

図６に示したように、レーザ処理部５０を構成するレーザ光源５１は、プラズマディスプレイパネル１内に存在する輝点欠陥表示セルに強弱調整されたレーザを照射するものである。投光部５２は、レーザ光源５１から投光されるレーザ光をリペア用レーザ光Ｌ１もしくは確認用レーザ光Ｌ２として焦点を調整するものであり、プラズマディスプレイ１に対して近接離隔可能な対物レンズ５２１と、輝点欠陥表示セルから略鉛直方向に反射した光を略水平方向へ反射する第二ハーフミラー５２２と、を備える。第二ハーフミラー５２２からくる光を略鉛直方向に反射する第二ミラー５３１を備える。この第二ミラー５３１からくる光をカメラ５４が受光する。

図７に示したように、点灯検査装置６０は、プラズマディスプレイパネル１の点灯する表示セル内に存在する輝点欠陥表示セルの検出を行う検査工程において用いられるものであってリペア装置４０と類似する構成の装置である。この点灯検査装置６０は、観察するための光源である観察用光源６１と、この観察用光源６１から投光される光をプラズマディスプレイパネル１へ反射する第一ハーフミラー６２と、この第一ハーフミラー６２で反射される光をプラズマディスプレイパネル１内に存在する輝点欠陥表示セルに焦点調整する第一対物レンズ６３と、プラズマディスプレイパネル１が点灯することにより輝点欠陥表示セルから略鉛直方向に投光される光を略水平方向へ反射する第一ミラー６４と、この第一ミラー６４で反射される光を画像として受光する欠陥セル検出用カメラ６５を備えている。
なお、欠陥セル検出用カメラ６５が受光した光は画像データとして画像処理ユニット７０へ送られる。

[実施形態の動作]
（検査工程）
本実施の形態の点灯検査装置６０は、プラズマディスプレイパネル１を点灯させる機構や電極引出部との接続を行う機構などにより載置されたプラズマディスプレイパネル１の表示セルを点灯される。この表示セルの発する略鉛直方向の光は第一対物レンズ６３および第一ハーフミラーを介して第一ミラー６４により略水平方向へと反射されて欠陥セル検出用カメラ６５に受光される。また、欠陥セル検出用カメラ６５が受光した光は画像データとして画像処理ユニット７０へ送られ、カット情報ＣＩとして画像処理される。

（リペア工程）
本実施の形態では、図８に示したように、検査工程において検出された輝点欠陥表示セルがプラズマディスプレイパネル１のどの位置に存在するかという座標情報ＣＩ１と、当該輝点欠陥表示セルが図３に示した蛍光体層２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれの色であるかという表示色情報ＣＩ２とを有するカット情報ＣＩとして取得する（ステップＳ１）。そして、検査されたプラズマディスプレイパネル１をリペア装置４０内に搬入（ステップＳ２）し、その後、プラズマディスプレイパネル１の４隅に附されたアライメントマークの位置を少なくとも２箇所以上読み込み、リペア装置４０とプラズマディスプレイパネル１との位置関係を把握する（ステップＳ３）。次に、この位置関係と検査工程で得られたカット情報ＣＩとをもとに輝点欠陥表示セルの位置を計算により求める。そして、計算により求められた輝点欠陥表示セルの位置へレーザ処理部５０が移動する（ステップＳ４）。そして、レーザ処理部５０に備わるカメラ５４により画像として捉えた輝点欠陥表示セル内の透明電極３１１の詳細な位置を画像処理により特定する（ステップＳ５）。次に、レーザ処理部５０はレーザ強度が弱く、透明電極３１１から焦点をずらした確認用レーザ光Ｌ２を当該輝点欠陥表示セルに照射し、表示セル中の蛍光体層２４から反射する光の色をレーザ処理部５０に備えられたカメラ５４により確認し、表示色情報ＣＩ２として得られた輝点欠陥表示セルに該当する表示セルの色と一致しているかどうか照合することで、所定の輝点欠陥表示セルまで正確に移動しているかどうかを判断する（ステップＳ８）。そして、輝点欠陥表示セル内の透明電極３１１へレーザ強度が強く、透明電極３１１に焦点を合わせたリペア用レーザ光Ｌ１を照射して透明電極３１１をカットする（ステップＳ６）。この作業を繰り返し、プラズマディスプレイパネル１内のすべての輝点欠陥表示セルをレーザ処理した後、プラズマディスプレイパネル１をリペア装置４０から搬出する（ステップＳ７）。

リペア工程における表示セルの色確認は図９に示したように行う。レーザ光源５１はレーザ強度が透明電極３１１をカットする際より弱く、かつ、第二対物レンズ５２１により透明電極３１１から焦点をずらした確認用レーザ光Ｌ２を表示セルに照射し、当該表示セルの蛍光体層２４からの反射光を投光部５２に設けられた第二ハーフミラー５２２および反射部５３に設けられた第二ミラー５３１を介してカメラ５４へと導入し、当該表示セルの色を確認する。そして、検査工程で得られた輝点欠陥表示セルの表示色情報ＣＩ２と照合することにより照射している表示セルが輝点欠陥表示セルであるか否かを判断する。

図１０に示したように、リペア装置４０は当該表示セルが輝点欠陥表示セルであると確認した後、レーザ光源５１からレーザ強度が色確認の際より強く、かつ、第二対物レンズ５２１により焦点を透明電極３１１に合わせたリペア用レーザ光Ｌ１を照射して透明電極３１１をカットすることにより、輝点欠陥表示セルは滅点化処理される。

本実施の形態では、図１１（Ａ）に示したように、表示セルの色確認を行うために輝点欠陥表示セルに確認用レーザ光Ｌ２の照射を行う。この際、確認用レーザ光Ｌ２の照射による透明電極３１１への影響を少なくすることが好ましいため、レーザ形状を微小スリットＬ２１にして透明電極３１１へのレーザ照射を回避している。
なお、本発明の実施の形態はこれに限らず、図１１（Ｂ）のような矩形状スリットＬ２２や、図１１（Ｃ）のようなレーザ焦点を透明電極３１１から大きくずらしてレーザのエネルギーが透明電極３１１に集中しないように拡大スリットＬ２３としてもよい。

［輝点欠陥表示セルのリペア方法の作用効果］
上記のような構成の本実施の形態によれば、以下の作用効果を奏することができる。

（１）上述したように、上記プラズマディスプレイパネル１における欠陥表示セルのリペア方法であって、検査工程において検出された輝点欠陥表示セルがプラズマディスプレイパネル１のどの位置に存在するかという座標情報ＣＩ１と、当該輝点欠陥表示セルが何色であるかという表示色情報ＣＩ２とを有するカット情報ＣＩとして取得する。そして、検査されたプラズマディスプレイパネル１をリペア装置４０内に搬入する。次に、検査工程で得られたカット情報ＣＩをもとに輝点欠陥表示セルの位置へレーザ処理部５０が移動する。そして、レーザ処理部５０はレーザ強度が弱く、透明電極３１１から焦点をずらした確認用レーザ光Ｌ２を当該輝点欠陥表示セルに照射し、表示セル中の蛍光体層２４から反射する光の色を確認し、表示色情報ＣＩ２として得られた輝点欠陥表示セルの色に該当するかどうか照合することで、所定の表示セルまで正確に移動しているかどうかを判断する。そして、輝点欠陥表示セル内の透明電極３１１へレーザを照射して透明電極３１１をカットする。この作業を繰り返し、プラズマディスプレイパネル１内のすべての輝点欠陥表示セルをレーザ処理した後、プラズマディスプレイパネル１をリペア装置４０から搬出する。
従って、輝点欠陥表示セルの検出を行う検査工程と、その欠陥表示セルのカット情報ＣＩに基づく滅点化処理を行うリペア工程とを同一装置内で行わない。このため、電極をリペア用レーザ光Ｌ１で除去する機構以外に、輝点欠陥表示セルを検出するためのプラズマディスプレイパネル１を点灯させる機構、プラズマディスプレイパネル１の電極引出部との接続を行う機構などを省略することができるので、装置を小型化でき、低コスト化でき、生産効率も向上させることができる。
また、検査工程において検出された輝点欠陥表示セルがプラズマディスプレイパネル１のどの位置に存在するかという座標情報ＣＩ１と、当該輝点欠陥表示セルが何色であるかという表示色情報ＣＩ２とをカット情報ＣＩとして取得（ステップＳ１）するため、欠陥表示セルの座標情報ＣＩ１に基づいてのみ滅点化処理を行う場合に比べて、リペア装置４０におけるプラズマディスプレイパネル１の位置決め精度の許容範囲を拡大することができる。

（２）上記プラズマディスプレイパネル１における欠陥表示セルのリペア工程であって、表示セルの色を確認する際、レーザ処理部５０はレーザ強度が弱く、透明電極３１１から焦点をずらした確認用レーザ光Ｌ２を当該輝点欠陥表示セルに照射し、表示セル中の蛍光体層２４から反射する光の色をレーザ処理部５０に備えられたカメラ５４により確認し、表示色情報ＣＩ２として得られた輝点欠陥表示セルに該当する表示セルの色と一致しているかどうか照合する。
従って、プラズマディスプレイパネル１の表示セルの蛍光体層２４は図３のように２４Ｒ、２４Ｇおよび２４Ｂが規則的に配列されているので、例えば、輝点欠陥表示セルの色が緑（Ｇ）であると表示色情報ＣＩ２として得られている場合、表示セルの色確認において表示セルが赤（Ｒ）もしくは青（Ｂ）であると確認されれば、この表示セルが輝点欠陥表示セルではなく隣接する表示セルであると判断することができる。このため、リペア装置４０の位置決め精度の許容範囲を拡大することができる。
また、将来、プラズマディスプレイパネル１が高精細化した場合、つまり、表示セルのピッチ幅が狭くなった場合でも、拡大した位置決め精度の許容範囲を従来のリペア装置４０の位置決め精度の許容範囲程度まで高めることで対応できることが期待できる。

（３）表示セルの色確認を行うために輝点欠陥表示セルに確認用レーザ光Ｌ２の照射を行う際、レーザ形状を微小スリットＬ２１にして透明電極３１１へレーザ照射している。
従って、表示セルの色確認をする際の確認用レーザ光Ｌ２の照射による透明電極３１１への影響を少なくすることができる。このため、万一、色確認をした際、所定の輝点欠陥表示セルではなかった場合、つまり正常な表示セルに確認用レーザ光Ｌ２を照射してしまった場合でも透明電極３１１を損傷するおそれを少なくすることができる。

（４）輝点欠陥表示セルの位置へレーザ処理部５０が移動し、レーザ強度が弱く、透明電極３１１から焦点をずらした確認用レーザ光Ｌ２を当該輝点欠陥表示セルに照射し、表示色情報ＣＩ２として得られた輝点欠陥表示セルに該当する表示セルの色と一致しているかどうか照合することで、所定の輝点欠陥表示セルまで正確に移動しているかどうかを判断する。その後、所定の輝点欠陥表示セルへレーザ強度が強く、焦点を透明電極３１１に合わせたリペア用レーザ光を照射し、透明電極３１１をカットする。
従って、レーザ光源５１のレーザ強度を調整し、第二対物レンズ５２１によって光の焦点を調整するため、表示セルの色確認と輝点表示セルのカット処理とのそれぞれの場合において同じレーザ光源５１を使用することができる。このため、レーザ処理部５０を簡単な構成にすることができ、リペア装置４０の製造コストを低減できる。

[実施形態の変形例]
本実施の形態のリペア装置４０は、表示セルの色確認の際、レーザ光源５１の反射光により色の確認を行ったが、本発明ではこれに限らない。例えば、図１２に示したように、第二ミラー５３１を第三ハーフミラー５３２に置き換え、さらに、レーザ光源５１とは別に観察用レーザ５５を用いて色の確認をしてもよい。すなわち、色の確認ができる構成であればいずれでもよい。

本実施の形態のリペア装置４０は、表示セルの色の確認と輝点欠陥表示セルの透明電極３１１のカットとをレーザ光源５１を用いてレーザ強度の強弱調整および光の焦点調整により共用としたが、これに限らず強度の違うレーザ光源５１を用いてもよい。すなわち、表示セルの色確認と透明電極３１１のカットとを行う際、レーザ処理部５０が移動する必要のない構成であればいずれでもよい。

本実施の形態のリペア装置４０は、色確認の際、微小スリットＬ２１、矩形状スリットＬ２２および拡大スリットＬ２３を用いているがこれに限らず、確認用レーザ光Ｌ２によって透明電極３１１が影響を受けないレーザの構成であればいずれでもよい。

本実施の形態のリペア装置４０は、色確認（ステップＳ８）を行った後、カット（ステップＳ６）を行ったが、これに限らず、色確認（ステップＳ８）とカット（ステップＳ６）とを同時に行ってもよい。つまりカット処理を行う際のリペア用レーザ光Ｌ１のうち透明電極３１１を透過する光若しくは透明電極３１１以外の部分に照射された光が蛍光体層２４に達して反射されることによって色の確認を行ってもよい。すなわち、カット処理が完了するまでに表示セルの色が確認できる構成であればいずれでもよい。

[実施の形態の作用効果]
上述したように、上記プラズマディスプレイパネル１のリペア方法では、表示色の異なる複数色の表示セルがマトリクス状に配置されたプラズマディスプレイパネル１における欠陥表示セルのリペア方法であって、輝点欠陥表示セルを検出する検査工程と、この輝点欠陥表示セルをリペア用レーザ光により滅点化処理するリペア工程と、を含み、このリペア工程において、この滅点化処理の前に滅点化処理を行う表示セルの表示色を検出する。
従って、輝点欠陥表示セルの検出を行う検査工程と、その欠陥表示セルのカット情報ＣＩに基づく滅点化処理を行うリペア工程とを同一装置内で行う必要がない。このため、電極をリペア用レーザ光Ｌ１で除去する機構以外に、輝点欠陥表示セルを検出するためのプラズマディスプレイパネル１を点灯させる機構、プラズマディスプレイパネル１の電極引出部との接続を行う機構などを省略することができるので、装置を小型化でき、低コスト化でき、生産効率も向上させることができる。
また、検査工程において検出された輝点欠陥表示セルがプラズマディスプレイパネル１のどの位置に存在するかという座標情報ＣＩ１と、当該輝点欠陥表示セルが何色であるかという表示色情報ＣＩ２とを有するカット情報ＣＩとして取得するため、欠陥表示セルの座標情報ＣＩ１に基づいてのみ滅点化処理を行う場合に比べて、リペア装置４０におけるプラズマディスプレイパネル１の位置決め精度の許容範囲を拡大することができる。

従来のリペア装置を用いた場合のリペア工程のチャート図。 （Ａ）は、従来のリペア装置のカメラのカメラ視野が輝点欠陥表示セルを正確に捉えた場合の平面図。（Ｂ）は、従来のリペア装置のカメラのカメラ視野が輝点欠陥表示セルから１／２セルピッチずれた場合の平面図。 本実施の形態で用いられるプラズマディスプレイパネルの電極構造を示した模式図。 本実施の形態のリペア装置全体の斜視図。 本実施の形態のリペア装置のレーザ処理部の拡大図。 本実施の形態に係るリペア工程の概略図。 本実施の形態に係る検査工程の概略図。 本実施の形態のリペア装置を用いた場合のリペア工程のチャート図。 本実施の形態の表示セルの色確認をする際の断面図。 本実施の形態の透明電極をカットする際の断面図。 （Ａ）は、表示セルの色確認において、レーザ形状が透明電極を避けた微小スリットである場合の平面図。（Ｂ）は、表示セルの色確認において、レーザ形状が透明電極を避けた矩形スリットである場合の平面図。（Ｃ）は、表示セルの色確認において、レーザが透明電極に影響を与えない大きなスリットである場合の平面図。 本実施の形態の変形例のリペア工程におけるリペア装置の模式図。

符号の説明

１…プラズマディスプレイパネル
２…背面基板
３…前面基板
２１…アドレス電極
２４…蛍光体層
３１…表示電極対
４０…リペア装置
３１１…透明電極
３１２…バス電極
ＣＩ…カット情報
ＣＩ１…座標情報
ＣＩ２…表示色情報
Ｌ１…リペア用レーザ光
Ｌ２…確認用レーザ光

Claims (5)

1. 表示色の異なる複数色の表示セルがマトリクス状に配置されたディスプレイパネルにおける輝点欠陥表示セルをリペアする方法であって、
   前記輝点欠陥表示セルを検出する検査工程と、
   前記輝点欠陥表示セルをリペア用レーザ光により滅点化処理するリペア工程と、を含み、
   前記リペア工程において、前記滅点化処理の前に滅点化処理を行う表示セルの表示色を検出することを特徴とするディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法。
2. 請求項１に記載のディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法において、
   前記検査工程では、輝点欠陥表示セルの座標情報と表示色情報とを生成し、前記リペア工程では、前記輝点欠陥表示セルの座標情報と表示色情報に基づいてリペアすべき表示セルを決定することを特徴とするディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法。
3. 請求項１または請求項２に記載のディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法において、
   前記ディスプレイパネルは、前面基板と背面基板との間に表示セルを規定する電極を備え、前記滅点化処理において、前記リペア用レーザ光により、表示セル内の電極の一部または全部を除去することを特徴とするディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法。
4. 請求項１から請求項３のいずれかに記載のディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法において、
   前記電極は、前面基板側に形成された複数の行電極対と交叉する方向に延びて行電極対との各交差部に前記表示セルを形成する複数の列電極とを含み、前記行電極対を構成する行電極各々は、行方向に延びるバス電極と、表示セルごとにバス電極から列方向に突出する透明電極とから構成され、
   前記滅点化処理において、前記リペア用レーザ光により、表示セル内の透明電極の一部または全部を除去することを特徴とするディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法。
5. 請求項１から請求項４のいずれかに記載のディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法において、
   前記ディスプレイパネルは、表示セル内に蛍光体層を更に備え、
   前記リペア用レーザ光の強度を滅点化処理する場合より弱めて前記蛍光体層に照射することにより、表示セルの表示色を検出することを特徴とするディスプレイパネルにおける欠陥表示セルのリペア方法。

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