JP2009137040A - 画像形成方法および画像形成装置 - Google Patents

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Abstract


【課題】 歪みのある被印刷物に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる画像形成方法および画像形成装置を提供する。
【解決手段】撮像装置19は、ブランケット8に転写されたインキによる第1の基準像を撮像後、ブランケット8の直下に移動された被印刷物9に形成されている第2の基準像を撮像する。制御部は、撮像装置19によって撮像された第2の基準像の第1の基準像に対するずれ量を算出する。ブランケット定盤15は、制御部によって算出されたずれ量に基づいて、対応する基準像が一致するように、各可動ステージ22によって吸引孔21を移動し、可動ステージ22のある吸引孔21によって吸着されているブランケット8を変形する。ブランケット昇降装置16は、ブランケット定盤15を下降させて、ブランケット8と被印刷物9とを接触させ、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、画像を形成する画像形成方法および画像形成装置に関し、より詳細には、オフセット印刷において、ブランケットを伸縮させることによって高精度の重ね合わせ画像を形成することができる画像形成方法および画像形成装置に関する。
表示部材、光学部材および配線板などの電子部品を製造するために用いられる微細パターンの形成方法は、一般的に、フォトレジストを用いたフォトリソグラフィ法が利用される。たとえば液晶パネルの製造における配線パターンあるいは素子は、フォトリソグラフィ法によるレジストの加工およびエッチングなどによって形成される。しかしながら、フォトリソグラフィ法は、レジスト塗布、露光および現像などの複雑な工程を有するため、巨額の設備投資が必要であり、より簡便なプロセスが求められている。
簡便なプロセスとしては、従来から印刷法が利用されており、電子部品の分野では、代表的な印刷法として、オフセット印刷が利用されている。オフセット印刷法は、版上に形成したパターンをブランケットに転写したのち、基板に再度転写することによって、基板上に画像を形成する方法である。
特許文献1に記載される画像形成法は、シリコン樹脂面に樹脂を塗布して塗布面を形成し、該塗布面に対し所定の形状で形成された凸版を押圧して凸版の凸部分に樹脂を転写除去し、塗布面に残った樹脂を基盤に転写する。
特許文献2に記載される画像形成法は、樹脂に対して撥性である撥樹脂層と親性である親樹脂層を形成し、全面に樹脂を塗布した後、撥樹脂層上の樹脂のみを別の撥樹脂層を設けたシート上に転写し、さらにシート上に転写された樹脂を基板上に転写して画像形成を行う。
オフセット印刷法は、パターン精度に課題があるが、特許文献1に記載される画像形成法のように転写方法の工夫によって、あるいは特許文献2に記載される画像形成法のように印刷版の工夫によって、フォトリソグラフィ法に迫るパターン精度が得られるようになってきている。
特許文献3に記載される印刷方法は、ブランケットから被印刷体にインキを転写する際の接触圧を、印刷版からブランケットにインキを転写する際の接触圧に対して、小さくすることによって被印刷体への転写寸法の幅寸法を印刷版の実寸法より微小拡大する。逆に、大きくすることによって被印刷体への転写寸法の幅寸法を印刷版の実寸法より微小縮小する。
特許文献4に記載される印刷方法は、印刷版からブランケットにインキを転写するときに、印刷版をブランケットの移動方向に対して傾け、もしくはブランケットから被印刷体にインキを転写するときに、被印刷体をブランケットの移動方向に対して傾けることによって、転写方向の接触幅を変化させ、転写寸法の印刷方向の寸法を印刷版の実寸法より微小拡大あるいは微小縮小する。
特許文献5に記載される画像矯正装置は、アクチュエータによって湾曲可能な複数のピンが設けられる矯正基盤と、ピンの先端が挿入される凹部が形成される吸着盤と、画像パターンの歪みを測定するセンサとによって構成されるセンサによって測定される画像パターンの歪みに応じて、アクチュエータを駆動してピンを湾曲させることによって、吸着盤に吸着される矯正対象物を変形し、画像パターンを矯正する。矯正対象物は、印刷版または画像転写シートである。センサが歪みを測定する画像パターンは、印刷版、画像転写シート、または被印刷物に形成された画像パターンである。
オフセット印刷機では、印刷版の画像をそのまま被印刷物に転写するのが一般的だが、特許文献3に記載される印刷方法あるいは特許文献4に記載される印刷方法のように、転写時の接触圧あるいは転写方向の接触幅を変化させることによって、微小に拡大あるいは縮小する方法を用いるものがある。あるいは特許文献5に記載される画像矯正装置のように、ピンを湾曲させることによって、画像パターンの歪みに応じて矯正対象物を微小矯正するものもある。
多くの電子部品は、複数の画像パターンを重ね合わることによって所望の特性が得られる構造となっており、複数の画像パターンの相関的な位置関係で、高精度に複数の膜を積層することが要求されている。液晶ディスプレイあるいはプラズマディスプレイなどの表示装置は、100インチを超えるまで大画面化が進んでいる。大画面化に伴って、広い面積に高い位置精度で画像を形成することができるオフセット印刷装置が要求されている。
さらに、液晶ディスプレイに用いられているTFT(Thin Film Transistor)アレイ作製プロセスなどは、スパッタリングあるいはCVD(Chemical Vapor Deposition)法による成膜およびドライエッチングなどの多数の複雑な工程によって成り立っている。前工程で画像パターンの形成を正確に行っても、後工程での熱処理あるいは成膜した膜の応力で歪みが生じる。このような歪みのある被印刷物にも、高い相対的な位置精度で重ね合わすことが要求されている。
特開平11−58921号公報 特開2004−249696号公報 特開平5−69650号公報 特開平5−69651号公報 特開2005−53205号公報
上述したように、オフセット印刷の高精細化が行なわれているが、それに伴って高い精度が要求される位置合わせについては、充分な検討がなされていない。
図11は、従来の技術による印刷装置101の構成の一例を示す図である。印刷装置101は、一般的なオフセット印刷法を用いる印刷装置である。塗布装置118によって印刷版7にインキを塗布し、印刷版7によって画像がパターニングされたインキをブランケット8に転写する。さらに、ブランケット8から被印刷物9に転写し、被印刷物9上に画像パターンを形成する。
被印刷物9上に既に形成されている画像パターンと印刷する画像パターンとの重ね合わせは、被印刷物9の基準パターンを撮像装置119で確認し、その位置に基づいて、ブランケット8から被印刷物9への転写の開始位置と角度とを合わせ込み、その後試し刷りによって機械の精度を調整する。被印刷物9の大型化への対応としては、円筒形のブランケット胴115の中央部をクラウン加工で窪めたり、ブランケット胴115の素材をカーボン繊維にして軽量化するなど、転写時の歪みの低減を図っている。
このように、従来の技術による位置合わせは、所望の画像を正確に印刷するために、印刷による誤差を低減することを目的としている。たとえば特許文献3に記載される印刷方法あるいは特許文献4に記載される印刷方法のように、転写時の接触圧あるいは転写方向の接触幅を変化させる方法が用いられるが、補正することができるのは、微小な拡大あるいは縮小のみである。
特許文献5に記載される画像矯正装置は、複数のピンを湾曲させることによって、画像パターンの非線形な歪みに対しても、矯正対象物を微小矯正することができる。しかしながら、この画像矯正装置は、印刷済みの被印刷物の画像パターンの歪みをセンサで測定し、その測定結果をそれ以降の印刷にフィードバックするものであり、個々の被印刷物の歪みに応じて矯正することはできないという問題がある。
TFTアレイなどの複雑な工程を経て製造される被印刷物は、熱履歴および膜応力によって形成される歪みのばらつきがある。したがって、印刷版の画像を正確に印刷しただけでは、歪みのある被印刷物にすでに印刷されている画像に正確に重ね合わせられないという問題がある。
本発明の目的は、歪みのある被印刷物に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる画像形成方法および画像形成装置を提供することである。
本発明は、印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写工程と、
第1の転写工程でブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出工程と、
算出工程で算出されたずれ量に応じて、第1の転写工程でインキが転写されたブランケットを変形する変形工程と、
変形工程で変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写工程とを含むことを特徴とする画像形成方法である。
また本発明は、前記算出工程は、
前記第1の転写工程でブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンを撮像する第1の撮像工程と、
前記被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像工程と、
第1の撮像工程で撮像された第1の画像パターンに含まれる複数の第1の基準パターンの位置と第2の撮像工程で撮像された第2の画像パターンに含まれ、第1の基準パターンに対応する複数の第2の基準パターンの位置とを比較し、各第2の基準パターンの位置のずれ量を算出するずれ量算出工程とを含むことを特徴とする。
また本発明は、前記被印刷物は、透明の基板によって構成され、
前記第1の撮像工程で撮像される第1の画像パターンと前記第2の撮像工程で撮像される第2の画像パターンとは、同じ撮像装置によって撮像されることを特徴とする。
また本発明は、印刷版に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出工程と、
印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写工程と、
算出工程で算出されたずれ量に応じて、第1の転写工程でインキが転写されたブランケットを変形させる変形工程と、
変形工程で変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写工程とを含むことを特徴とする画像形成方法である。
また本発明は、印刷版に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出工程と、
算出工程で算出されたずれ量に応じて、ブランケットを変形させる変形工程と、
印刷版に塗布されているインキを変形工程で変形されたブランケットに転写する第1の転写工程と、
第1の転写工程でインキが転写されたブランケットの変形を元に復元する復元工程と、
復元工程で復元されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写工程とを含むことを特徴とする画像形成方法である。
また本発明は、前記算出工程は、
前記印刷版に形成されている第1の画像パターンを撮像する第1の撮像工程と、
前記被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像工程と、
第1の撮像工程で撮像された第1の画像パターンに含まれる複数の第1の基準パターンの位置と第2の撮像工程で撮像された第2の画像パターンに含まれ、第1の基準パターンに対応する複数の第2の基準パターンの位置とを比較し、各第2の基準パターンの位置のずれ量を算出するずれ量算出工程とを含むことを特徴とする。
また本発明は、前記ブランケットは、平板上であることを特徴とする。
また本発明は、前記ブランケットは、少なくとも軟質層の弾性体および硬質層の弾性体の2層から構成されることを特徴とする。
また本発明は、前記印刷版に形成されている第1の画像パターンは、前記被印刷物に転写されたインキによる第1の画像パターンが縮小されたサイズであることを特徴とする。
また本発明は、第1の画像パターンが形成されている印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写手段と、
第1の転写手段によってブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンと、被印刷物に形成されている第2の画像パターンとを撮像する撮像手段と、
撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出手段と、
算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットを変形する変形手段と、
変形手段によって変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写手段とを含むことを特徴とする画像形成装置である。
また本発明は、印刷版に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンを撮像する第1の撮像手段と、
被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像手段と、
印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写手段と、
第1の撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と、第2の撮像手段によって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出手段と、
算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットを変形する変形手段と、
変形手段によって変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写手段とを含むことを特徴とする画像形成装置である。
また本発明は、印刷版に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンを撮像する第1の撮像手段と、
被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像手段と、
第1の撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と、第2の撮像手段によって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出手段と、
算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットを変形する変形手段と、
印刷版に塗布されているインキを変形手段によって変形されたブランケットに転写する第1の転写手段と、
第1の転写手段によってインキが転写されたブランケットを元に復元する復元手段と、
復元手段によって復元されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写手段とを含むことを特徴とする画像形成装置である。
本発明によれば、第1の転写工程では、印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する。算出工程では、第1の転写工程でブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する。変形工程では、算出工程で算出されたずれ量に応じて、第1の転写工程でインキが転写されたブランケットを変形する。そして、第2の転写工程では、変形工程で変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する。
したがって、本発明に係る画像形成方法を適用すれば、歪みのある被印刷物の第2の基準パターンの位置のずれ量に応じてブランケットを変形させて、ブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写することができ、歪みのある被印刷物に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
また本発明によれば、算出工程では、印刷版に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する。第1の転写工程では、印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する。変形工程では、算出工程で算出されたずれ量に応じて、第1の転写工程でインキが転写されたブランケットを変形させる。そして、第2の転写工程では、変形工程で変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する。
したがって、本発明に係る画像形成方法を適用すれば、歪みのある被印刷物の第2の基準パターンの位置のずれ量に応じてブランケットを変形させて、ブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写することができ、歪みのある被印刷物に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
また本発明によれば、算出工程では、印刷版に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する。変形工程では、算出工程で算出されたずれ量に応じて、ブランケットを変形させる。第1の転写工程では、印刷版に塗布されているインキを変形工程で変形されたブランケットに転写する。復元工程では、第1の転写工程でインキが転写されたブランケットの変形を元に復元する。そして、第2の転写工程では、復元工程で復元されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する。
したがって、本発明に係る画像形成方法を適用すれば、ブランケットから被印刷物に転写するときには、ブランケットの変形はなく、ブランケットに掛かる張力は一様であるため、ブランケットの厚さや圧縮性が一様となり、繰り返し再現性が向上する。
また本発明によれば、第1の転写手段によって、第1の画像パターンが形成されている印刷版に塗布されているインキがブランケットに転写され、撮像手段によって、第1の転写手段によってブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンと、被印刷物に形成されている第2の画像パターンとが撮像される。
そして、算出手段によって、撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とが比較されて第2の基準パターンの位置のずれ量が算出され、変形手段によって、算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットが変形され、第2の転写手段によって、変形手段によって変形されたブランケットに転写されているインキが被印刷物に転写される。
したがって、歪みのある被印刷物の第2の基準パターンの位置のずれ量に応じてブランケットを変形させて、ブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写することができ、歪みのある被印刷物に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
また本発明によれば、第1の撮像手段によって、印刷版に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンが撮像され、第2の撮像手段によって、被印刷物に形成されている第2の画像パターンが撮像され、第1の転写手段によって、印刷版に塗布されているインキがブランケットに転写される。
そして、算出手段によって、第1の撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と、第2の撮像手段によって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とが比較されて第2の基準パターンの位置のずれ量が算出され、変形手段によって、算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットが変形され、第2の転写手段によって、変形手段によって変形されたブランケットに転写されているインキが被印刷物に転写される。
したがって、歪みのある被印刷物の第2の基準パターンの位置のずれ量に応じてブランケットを変形させて、ブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写することができ、歪みのある被印刷物に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
また本発明によれば、第1の撮像手段によって、印刷版に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンが撮像され、第2の撮像手段によって、被印刷物に形成されている第2の画像パターンが撮像され、算出手段によって、第1の撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と、第2の撮像手段によって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とが比較されて第2の基準パターンの位置のずれ量が算出される。
そして、変形手段によって、算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットが変形され、第1の転写手段によって、印刷版に塗布されているインキが変形手段によって変形されたブランケットに転写され、復元手段によって、第1の転写手段によってインキが転写されたブランケットが元に復元され、第2の転写手段によって、復元手段によって復元されたブランケットに転写されているインキが被印刷物に転写される。
したがって、ブランケットから被印刷物に転写するときには、ブランケットの変形はなく、ブランケットに掛かる張力は一様であるため、ブランケットの厚さや圧縮性が一様となり、繰り返し再現性が向上する。
図1は、本発明の実施の一形態である印刷装置1の構成を模式的に示す図である。本発明に係る画像形成方法は、画像形成装置である印刷装置1で処理される。印刷装置1は、オフセット印刷方法を用いた印刷装置である。オフセット印刷方法は、印刷版7上に塗布されたインキをブランケット8に転写した後、さらに基板などの被印刷物9に転写する方法である。
印刷装置1は、印刷版定盤11、被印刷物定盤12、レール13、下部フレーム14、ブランケット定盤15、ブランケット昇降装置16、上部フレーム17、インキ塗布装置18、撮像装置19および図示しない制御部を含んで構成される。
印刷版定盤11は、印刷版7を載置し、レール13上を移動する。被印刷物定盤12は、被印刷物9を載置し、レール13上を移動する。被印刷物定盤12には、下部フレーム14に臨む面から被印刷物9を載置する面まで貫通する複数の開口部20が形成される。開口部20は、撮像装置19が配置される位置に対応する位置に配置される。レール13は、印刷版定盤11および被印刷物定盤12を水平に移動させるためのレールであり、下部フレーム14上に固着される。下部フレーム14は、レール13を上面に載設するフレームである。
ブランケット定盤15は、下部フレーム14に対向する位置に配置され、下部フレーム14に臨む吸着面で、ブランケット8を吸着する。したがって、ブランケット定盤15は、レール13上を移動する印刷版定盤11および被印刷物定盤12に対して相対的に移動可能となる。ブランケット定盤15は、吸着面の対面の4隅にそれぞれ1つのブランケット昇降装置16が設けられている。
ブランケット昇降装置16は、上部フレーム17に固着され、伸縮することによって、ブランケット定盤15を昇降する。したがって、ブランケット定盤15を昇降することによって、ブランケット8と印刷版7または被印刷物9との接触または離隔が可能になる。ブランケット定盤15およびブランケット昇降装置16は、第1の転写手段および第2の転写手段である。
インキ塗布装置18は、印刷版定盤11の上方に配置され、印刷版定盤11に載置される印刷版7の上部を移動し、印刷版7にインキを塗布する。撮像手段である撮像装置19は、ブランケット定盤15の下方で、下部フレーム14上に複数固着され、ブランケット定盤15に吸着されるブランケット8の表面に転写されたインキによって形成される画像パターン、またはブランケット8の下方に移動した被印刷物定盤12の複数の開口部20を通して、被印刷物定盤12に載置される透明な被印刷物9の裏面側から表面に形成されている画像パターンを撮像する。
算出手段である図示しない制御部は、たとえば中央処理装置(Central Processing
Unit:以下「CPU」という)および制御プログラムを記憶する記憶装置によって構成され、CPUが記憶装置に記憶される制御プログラムを実行することによって、印刷版定盤11、被印刷物定盤12、ブランケット定盤15、ブランケット昇降装置16、インキ塗布装置18および撮像装置19を制御する。
図2は、ブランケット定盤15の構成を示す図である。ブランケット定盤15には、ブランケット8を吸着するために、空気を吸引する複数の吸引孔21が形成される。複数の吸引孔21のうち撮像装置19の数と同じ数の吸引孔21は、各撮像装置19が配置される位置の上方の位置に配置される。さらに、撮像装置19が配置される位置の上方の位置に配置される吸引孔21には、吸引孔21をブランケット8の表面に対して平行な平面上を可動させる機構である可動ステージ22が設けられる。可動ステージ22が設けられた吸引孔21は、各可動ステージ22によって、それぞれ独立に可動する。可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21は、変形手段である。
撮像装置19および可動ステージ22の数は、被印刷物9の歪み方あるいは必要な精度に応じて増減すればよい。たとえば被印刷物9の歪みが線形な拡大縮小のみである場合には、ブランケット8の4隅に配置すればよいし、被印刷物9の歪みが非線形な歪みの場合は、たとえば数十の位置に配置する必要がある。撮像装置19および可動ステージ22の数は、必ずしも同じである必要はない。たとえば撮像装置19によって撮像される撮像点間の歪みを演算処理によって補間し、その補間点に可動ステージ22を配置することによって、高精度化を図ることも可能である。
印刷版7は、形状は特に限定されないが、平板上であってもよいし、円胴に巻きつける形状であってもよい。印刷版7の例としては、たとえばグラビアオフセット印刷に用いられる凹版、あるいはオフセット印刷に用いられる凹凸の無い平版である。印刷版7には、画像パターン(以下「第1の画像パターン」という)が形成されている。
第1の画像パターンは、位置のずれ量を測定するための基準像(以下「第1の基準像」という)を含む。第1の基準パターンである第1の基準像は、たとえばアライメント用のマーク、あるいは画像パターンの一部などの特徴的な像であり、撮像装置19が配置される位置に対応する位置に配置される。
ブランケット8は、繰り返し変形を行うため、弾性的に変形可能であることが必要であり、ブランケット8の表面側を軟質層の弾性体および裏面側を硬質層の弾性体の2層で平板状に構成する。ブランケット8の表面は、インキが転写される面であり、ブランケット8の裏面は、ブランケット定盤15に吸着される面である。被印刷物9にインキを転写するために、被印刷物9よりも撥水性が高いことが求められ、たとえば表面がシリコンゴムである一般的なブランケットを使用することができる。
このように、ブランケット8は、平板上であるので、平板状の被印刷物9に転写する場合、平面上での変形を計算すればよく、変形量の計算処理が単純かつ高速に行なうことができる。
さらに、ブランケット8は、少なくとも軟質層の弾性体および硬質層の弾性体の2層から構成される。
ブランケット8を軟質の弾性体のみで構成した場合、ブランケット8から被印刷物9へのインキの転写精度は高まるが、ブランケット8の裏面を吸着し張力を掛けた場合、表面の変形量は裏面よりも小さくなり、それを考慮して補正する必要があるため、特に多数の点を変形する場合、補正の難易度が上がる。ブランケット8を硬質の弾性体のみで構成した場合、比較的容易に補正することはできるが、インキの転写精度が低下する。ブランケット8の表面側つまりインキが転写される面側を軟質層の弾性体および裏面側を硬質層の弾性体の2層の複合体とすることによって、補正の簡素化と転写精度の低下防止とを両立させることができる。
被印刷物9は、透明な平板状の基板、たとえば種々のパネル用のカラーフィルタ膜もしくはブラックマトリクスの基板、あるいは、トランジスタ素子をはじめとする種々の素子用の透明電極膜、配線形成、もしくは電子部品の基板である。被印刷物9には、画像パターン(以下「第2の画像パターン」という)が形成されている。
第2の画像パターンは、被印刷物9に既に形成されている画像パターン、すなわち重ね合わせが行なわれる画像パターンであり、基準像(以下「第2の基準像」という)を含む。第2の基準パターンである第2の基準像は、第1の基準像と同じ特徴的な像である。
インキの材料は、特に限定されないが、用途によって、主成分をたとえば配線材料、透明電極材料、レジスト、絶縁材料、および着色材料などの材料の中から選択した上で、一般に知られる表面張力および粘度の調整方法を適用したものを利用することができる。さらに、沸点の異なる複数の溶媒を混合することによって、ブランケット8上でのインキの粘性を調整し、ブランケット8の伸縮時のパターン精度を維持することも可能である。
図3は、本発明に係る画像形成の概念を示す図である。図3(a)は、画像パターンが形成されている印刷版7に塗布されたインキがブランケット8に転写された状態を示す。ブランケット8に転写されたインキによる画像パターンが形成されている。図3(b)は、被印刷物9の歪みに基づいて変形したブランケット8を、被印刷物9に転写する前の状態を示す。図3(c)は、変形されたブランケット8に転写されているインキが被印刷物9に転写され、被印刷物9に画像パターンが重ね合わされた状態を示す。
図4は、印刷装置1によって実行される第1の印刷処理の処理手順を示すフローチャートである。印刷版7が印刷版定盤11に載置され、ブランケット8がブランケット定盤15のすべての吸引孔21によって吸着され、かつ被印刷物9が被印刷物定盤12に載置されると、ステップA1に移る。
ステップA1では、インキ塗布装置18は、インキの厚さが均一になるように、印刷版7にインキを塗布する。ステップA2では、印刷版定盤11は、印刷版7をレール13に沿って移動させ、ブランケット8の直下に移動させる。
第1の転写工程であるステップA3では、ブランケット昇降装置16は、ブランケット定盤15を下降させて、印刷版7とブランケット8とを接触させた後、ブランケット定盤15を上昇させて、印刷版7とブランケット8とを離隔させることによって、印刷版7に塗布されているインキをブランケット8に転写する。インキが転写されたブランケット8には、印刷版7に形成されていた画像パターンと同じ画像パターンが、転写されたインキによって形成されている。印刷版定盤11は、印刷版7をレール13に沿って移動させ、元の位置に移動させる。
第1の撮像工程であるステップA4では、撮像装置19は、ブランケット8上に形成されている第1の画像パターンを撮像する。そして、図示しない制御部は、撮像装置19によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置を検出する。ステップA5では、被印刷物定盤12は、被印刷物9をレール13に沿って移動させ、ブランケット8の直下に移動させる。
第2の撮像工程であるステップA6では、撮像装置19は、透明な被印刷物9の表面に形成されている第2の画像パターンを、開口部20を通して裏面側から撮像する。そして、制御部は、撮像装置19によって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置を検出する。ずれ量算出工程であるステップA7では、制御部は、第1の基準像と第2の基準像との相対位置の距離を、対応する基準像ごとに算出する。すなわち、第2の基準像の第1の基準像に対するずれ量を算出する。ステップA4、ステップA6およびステップA7は、算出工程である。
ステップA8では、ブランケット定盤15は、可動ステージ22のある吸引孔21からの吸引を維持したまま、可動ステージ22のない吸引孔21からの吸引を停止する。ステップA9では、ブランケット定盤15は、制御部によって算出された相対位置つまりずれ量に基づいて、対応する基準像が一致するように、各可動ステージ22によって吸引孔21を移動し、可動ステージ22のある吸引孔21によって吸着されているブランケット8を変形する。
ステップA10では、ブランケット定盤15は、可動ステージ22のない吸引孔21からの吸引を再開し、すべての吸引孔21によって吸引する。ブランケット8は、ブランケット8の弛緩および振動がなくなり、平坦になる。ステップA8〜ステップA10は、変形工程である。
第2の転写工程であるステップA11では、ブランケット昇降装置16は、ブランケット定盤15を下降させて、ブランケット8と被印刷物9とを接触させた後、ブランケット定盤15を上昇させて、ブランケット8と被印刷物9とを離隔させることによって、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写し、第1の印刷処理を終了する。
このように、ブランケット8に転写されている第1の画像パターンの第1の基準像と被印刷物9に形成されている第2の画像パターンの第2の基準像が一致するようにブランケット8を変形させて、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写するので、被印刷物9に歪みがあっても、被印刷物9に新たな画像パターンを正確に重ね合わせることができる。
印刷装置1を用いて、以下の条件で行なった第1の印刷例について説明する。印刷版7は、東レ株式会社製水なし平版によって構成され、パターン領域の大きさが巾600mm×長さ1000mm×厚1mmであり、パターン精度が20μm角パターンである。ブランケット8は、シリコンゴムおよび基布の2層で構成され、大きさが巾650mm×長さ1050mm×厚み2mmであり、1000kg/1m巾荷重時の伸び率が10.0%である。被印刷物9は、透明アルカリガラスの基板であり、大きさが巾650mm×長さ1050mm×厚0.7mmである。インキ材料は、ノボラック系レジストインキである。印刷版7に塗布するインキ膜厚は、2.0μmである。基準像は、100μm×100μmの十字型マークである。
ブランケット昇降装置16は、エアシリンダである。撮像装置19は、分解能が0.1μmのCCD(Charge Coupled Device)カメラ顕微鏡であり、200mm間隔で24個配置する。各撮像装置19に対応する位置に、同数の可動ステージ22を設置する。
図5は、印刷版7に形成されている十字型マーク71および角パターン72を示す図である。印刷版7には、十字型マーク71および20μmの角パターン72が形成されている。十字型マーク71は、撮像装置19に対応する位置に形成される。印刷版7に形成される十字型マークおよび角パターンの位置のばらつきは、±10μmである。被印刷物9にも同様の十字型マークおよび角パターンが形成されており、そのばらつきは±1μmである。
図6は、角パターン72aのずれ量Xを示す図である。ずれ量Xは、被印刷物9に形成されている角パターン72の中心位置と、印刷された角パターン72aの中心位置との距離である。
ずれ量Xの測定は、光学顕微鏡を用いて、被印刷物9に形成されている角パターン72および被印刷物9に印刷された角パターン72aについて100mm間隔で77箇所測定する。
測定した結果による画像パターンの重ね合わせ精度は、一般的に利用されている従来の技術によるXYθ補正を行なった場合は、±12μmであったが、印刷装置1を用いて印刷した場合は、±3μmであった。したがって、被印刷物9が持っているばらつきよりも小さいばらつきで重ね合わせられており、被印刷物9がもともと持っているばらつきを吸収し、従来の技術よりも大幅に重ね合わせ精度が高められている。さらに、線幅は、ともに10μm±1μmであり、膜厚は、2μm±0.05μmであった。したがって、印刷装置1は、線幅および膜厚に悪影響を与えることはない。
さらに、印刷装置1を用いて、以下の条件で行なった第2の印刷例について説明する。印刷版7は、東レ株式会社製水なし平版によって構成され、パターン領域の大きさが巾600mm×長さ1000mm×厚1mmであり、パターン精度が20μm角パターンである。印刷版7には、1%縮小された画像パターンが形成されている。
ブランケット8として、シリコンゴムおよび基布の2層で構成され、大きさが巾650mm×長さ1050mm×厚み2mmであり、1000kg/1m巾荷重時の伸び率が10.0%であるブランケットと、単層のシリコンゴムで構成され、大きさが巾650mm×長さ1050mm×厚み2mmであり、1000kg/1m巾荷重時の伸び率が200.0%であるブランケットとの2種類のブランケットを用いる。
被印刷物9は、透明アルカリガラスの基板であり、大きさが巾650mm×長さ1050mm×厚0.7mmである。インキ材料は、ノボラック系レジストインキである。印刷版7に塗布するインキ膜厚は、2.0μmである。基準像は、100μm×100μmの十字型マークである。
ブランケット昇降装置16は、エアシリンダである。撮像装置19は、分解能が0.1μmのCCDカメラ顕微鏡であり、等間隔で3×3の9個配置する。各撮像装置19に対応する位置に、同数の可動ステージ22を設置する。印刷版7に形成されている十字型マーク71および角パターン72は、図5に示したものと同じである。被印刷物9にも同様の十字型マークおよび角パターンが形成されており、そのばらつきは±1μmである。
ずれ量Xの測定は、光学顕微鏡を用いて、被印刷物9に形成されている角パターン72および被印刷物9に印刷された角パターン72aについて100mm間隔で77箇所測定する。
測定した結果によるパターンの重ね合わせ精度は、単層のシリコンゴムのブランケットの場合は、±10μmであり、シリコンゴムおよび基布の2層のブランケットの場合は、±5μmであった。ブランケット8を変形させるための伸縮を100回繰り返した後、同様の測定を行なっても、パターンの重ね合わせ精度に変化はない。したがって、ブランケット8を軟質層の弾性体と硬質層の弾性体とで2層に構成することによって、パターンの重ね合わせ精度を高めることができる。
このように、ブランケット定盤15およびブランケット昇降装置16によって、第1の画像パターンが形成されている印刷版7に塗布されているインキがブランケット8に転写され、撮像装置19によって、ブランケット定盤15およびブランケット昇降装置16によってブランケット8に転写されたインキによって形成される第1の画像パターンと、被印刷物9に形成されている第2の画像パターンとが撮像される。
そして、制御部によって、撮像装置19によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置と第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置とが比較されて第2の基準像の位置のずれ量が算出され、可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21によって、制御部によって算出されたずれ量に応じてブランケット8が変形され、ブランケット定盤15およびブランケット昇降装置16によって、可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21によって変形されたブランケット8に転写されているインキが被印刷物9に転写される。
したがって、歪みのある被印刷物9の第2の基準像の位置のずれ量に応じてブランケット8を変形させて、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写することができ、歪みのある被印刷物9に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
さらに、図4に示したフローチャートにおいて、ステップA3では、印刷版7に塗布されているインキをブランケット8に転写する。ステップA4、ステップA6およびステップA7では、ステップA3でブランケット8に転写されたインキによって形成される第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置と被印刷物9に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置とを比較して第2の基準像の位置のずれ量を算出する。ステップA8〜ステップA10では、ステップA4、ステップA6およびステップA7で算出されたずれ量に応じて、ステップA3でインキが転写されたブランケット8を変形する。そして、ステップA11では、ステップA8〜ステップA10で変形されたブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写する。
したがって、本発明に係る画像形成方法を適用すれば、歪みのある被印刷物9の第2の基準像の位置のずれ量に応じて8を変形させて、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写することができ、歪みのある被印刷物9に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
さらに、ステップA4、ステップA6およびステップA7に含まれるステップA4では、ステップA3でブランケット8に転写されたインキによって形成される第1の画像パターンを撮像する。ステップA4、ステップA6およびステップA7に含まれるステップA6では、被印刷物9に形成されている第2の画像パターンを撮像する。そして、ステップA4、ステップA6およびステップA7に含まれるステップA7では、ステップA4で撮像された第1の画像パターンに含まれる複数の第1の基準像の位置とステップA6で撮像された第2の画像パターンに含まれ、第1の基準像に対応する複数の第2の基準像の位置とを比較し、各第2の基準像の位置のずれ量を算出する。
したがって、ブランケット8上の第1の基準像と被印刷物9上の第2の基準像とを比較してブランケット8を変形するので、印刷版7が持っている歪みおよび印刷版7からブランケット8に転写するときに生じる歪みの影響を受けることがなく、歪みのある被印刷物9に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。さらに、印刷版7に塗布されているインキをブランケット8に転写したときに、転写されたインキによって形成される第1の画像パターンに変形が生じる場合にも、歪みのある被印刷物9に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
このように、被印刷物9は、透明の基板によって構成され、ステップA4で撮像される第1の画像パターンとステップA6で撮像される第2の画像パターンとは、同じ撮像装置19によって撮像されるので、被印刷物9の裏面から第2の画像パターンを撮像することができる。したがって、同一の撮像装置19で、ブランケット8上の第1の画像パターンと被印刷物9上の第2の画像パターンとを撮像することができ、重ね合わせ精度を向上することができる。
このように、印刷版7に形成されている第1の画像パターンは、被印刷物9に転写されたインキによる第1の画像パターンが縮小されたサイズであるので、ブランケット8の伸張のみで変形させることができ、ブランケット8が元の状態に戻ったときに生じる緩みによる印刷圧力のばらつきおよびパターン精度の劣化を回避することができる。
図7は、本発明の実施の他の形態である印刷装置2の構成を模式的に示す図である。本発明に係る画像形成方法は、画像形成装置である印刷装置2で処理される。印刷装置2は、オフセット印刷方法を用いた印刷装置である。
印刷装置2は、印刷版定盤211、被印刷物定盤212、レール213、下部フレーム214、ブランケット定盤215、ブランケット昇降装置216、上部フレーム217、インキ塗布装置218、撮像装置219a、撮像装置219bおよび図示しない制御部を含んで構成される。
印刷版定盤211、レール213、下部フレーム214、ブランケット定盤215、ブランケット昇降装置216、上部フレーム217、インキ塗布装置218、および図示しない制御部は、それぞれ図1に示した印刷版定盤11、レール13、下部フレーム14、ブランケット定盤15、ブランケット昇降装置16、上部フレーム17、インキ塗布装置18、および図示しない制御部と同じであり、重複を避けるために説明は省略する。
被印刷物定盤212は、平板状の被印刷物9を載置し、レール213上を移動する。被印刷物定盤212には、図1に示した被印刷物定盤12に形成されていた開口部20はない。第1の撮像手段である撮像装置219aは、印刷版定盤211の上方に複数配置され、印刷版定盤211に載置される印刷版7の表面を撮像する。第2の撮像手段である撮像装置219bは、被印刷物定盤212の上方に、撮像装置219aに対応する位置に複数配置され、被印刷物9の表面を撮像する。
図8は、印刷装置2によって実行される第2の印刷処理の処理手順を示すフローチャートである。印刷版7が印刷版定盤211に載置され、ブランケット8がブランケット定盤215のすべての吸引孔21によって吸着され、かつ被印刷物9が被印刷物定盤212に載置されると、ステップB1に移る。
ステップB1では、インキ塗布装置218は、インキの厚さが均一になるように、印刷版7にインキを塗布する。第1の撮像工程であるステップB2では、撮像装置219aは、印刷版7に塗布されたインキによって形成されている第1の画像パターンを撮像する。そして、図示しない制御部は、撮像装置219aによって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置を検出する。
第2の撮像工程であるステップB3では、撮像装置219bは、被印刷物9上に形成されている第2の画像パターンを撮像する。そして、制御部は、撮像装置219bによって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置を検出する。ずれ量算出工程であるステップB4では、制御部は、第1の基準像と第2の基準像との相対位置の距離を、対応する基準像ごとに算出する。すなわち、第2の基準像の第1の基準像に対するずれ量を算出する。ステップB5では、印刷版定盤211は、印刷版7をレール213に沿って移動させ、ブランケット8の直下に移動させる。ステップB2〜ステップB4は、算出工程である。
第1の転写工程であるステップB6では、ブランケット昇降装置216は、ブランケット定盤215を下降させて、印刷版7とブランケット8とを接触させた後、ブランケット定盤215を上昇させて、印刷版7とブランケット8とを離隔させることによって、印刷版7に塗布されているインキをブランケット8に転写する。インキが転写されたブランケット8には、印刷版7に形成されていた画像パターンと同じ画像パターンが、転写されたインキによって形成されている。印刷版定盤211は、印刷版7をレール213に沿って移動させ、元の位置に移動させる。
ステップB7では、被印刷物定盤212は、被印刷物9をレール213に沿って移動させ、ブランケット8の直下に移動させる。ステップB8〜ステップB11は、それぞれ図4に示したフローチャートのステップA8〜ステップA11と同じであり、重複を避けるために説明は省略する。
印刷装置2を用いて、以下の条件で行なった第3の印刷例について説明する。印刷版7、ブランケット8、被印刷物9、インキ材料、インキ膜厚、基準像、ブランケット昇降装置、ならびに印刷版7および被印刷物9に形成されている十字型マーク71および角パターン72は、第1の印刷例の場合と同じ条件である。
撮像装置219aおよび撮像装置219bは、いずれも分解能が0.1μmのCCDカメラ顕微鏡であり、撮像装置219aは印刷版7上におよび撮像装置219bは被印刷物9上に、いずれも200mm間隔で24個配置する。撮像装置219aに対応する位置に、同数の可動ステージ22を設置する。印刷版7に形成される十字型マーク71は、撮像装置219aに対応する位置に配置されており、被印刷物9に形成される十字型マークは、撮像装置219bに対応する位置に配置されている。
ずれ量Xの測定は、光学顕微鏡を用いて、被印刷物9に形成されている角パターン72および被印刷物9に印刷された角パターン72aについて100mm間隔で77箇所測定する。測定した結果によるパターンの重ね合わせ精度は、±5μmであった。したがって、印刷装置2によって高精度で重ね合わせを行なうことができる。
このように、撮像装置219aによって、印刷版7に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンが撮像され、撮像装置219bによって、被印刷物9に形成されている第2の画像パターンが撮像され、ブランケット定盤215およびブランケット昇降装置216によって、印刷版7に塗布されているインキがブランケット8に転写される。
そして、制御部によって、撮像装置219aによって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置と、撮像装置219bによって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置とが比較されて第2の基準像の位置のずれ量が算出され、可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21によって、制御部によって算出されたずれ量に応じてブランケット8が変形され、ブランケット定盤215およびブランケット昇降装置216によって、可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21によって変形されたブランケット8に転写されているインキが被印刷物9に転写される。
したがって、歪みのある被印刷物9の第2の基準像の位置のずれ量に応じてブランケット8を変形させて、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写することができ、歪みのある被印刷物9に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
さらに、図8に示したフローチャートにおいて、ステップB2〜ステップB4では、印刷版7に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置と被印刷物9に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置とを比較して第2の基準像の位置のずれ量を算出する。ステップB6では、印刷版7に塗布されているインキをブランケット8に転写する。ステップB8〜ステップB10では、ステップB2〜ステップB4で算出されたずれ量に応じて、ステップB6でインキが転写されたブランケット8を変形させる。そして、ステップB11では、ステップB8〜ステップB10で変形されたブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写する。
したがって、本発明に係る画像形成方法を適用すれば、歪みのある被印刷物9の第2の基準像の位置のずれ量に応じてブランケット8を変形させて、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写することができ、歪みのある被印刷物9に高精度の重ね合わせ画像を形成することができる。
このように、ステップB2〜ステップB4に含まれるステップB2では、印刷版7に形成されている第1の画像パターンを撮像する。ステップB2〜ステップB4に含まれるステップB3では、被印刷物9に形成されている第2の画像パターンを撮像する。そして、ステップB2〜ステップB4に含まれるステップB4では、ステップB2で撮像された第1の画像パターンに含まれる複数の第1の基準像の位置とステップB3で撮像された第2の画像パターンに含まれ、第1の基準像に対応する複数の第2の基準像の位置とを比較し、各第2の基準像の位置のずれ量を算出する。
すなわち、印刷版7と被印刷物9とを撮像してから、印刷版7に塗布されたインキをブランケット8に転写するので、ブランケット8に転写した後に撮像を行う必要がなく、印刷版7からブランケット8への転写、ブランケット8の変形、およびブランケット8から被印刷物9への転写を一連の動作で行なうことができる。したがって、転写タクトの短縮を図ることができる。
図9は、本発明の実施のさらに他の形態である印刷装置3の構成を模式的に示す図である。本発明に係る画像形成方法は、画像形成装置である印刷装置3で処理される。印刷装置3は、オフセット印刷方法を用いた印刷装置である。
図7に示した印刷装置2では、ブランケット8にインキが転写された後にブランケット8を変形させたが、図9に示す印刷装置3は、ブランケット8にインキが転写される前にブランケット8を変形させた後、ブランケット8にインキを転写する。
印刷装置3は、印刷版定盤311、被印刷物定盤312、レール313、下部フレーム314、ブランケット定盤315、ブランケット昇降装置316、上部フレーム317、インキ塗布装置318、撮像装置319a、撮像装置319bおよび図示しない制御部を含んで構成される。
印刷装置3は、印刷装置2と印刷処理の処理手順のみが異なり、印刷版定盤311、被印刷物定盤312、レール313、下部フレーム314、ブランケット定盤315、ブランケット昇降装置316、上部フレーム317、インキ塗布装置318、撮像装置319a、撮像装置319bおよび図示しない制御部は、それぞれ図7に示した印刷版定盤211、被印刷物定盤212、レール213、下部フレーム214、ブランケット定盤215、ブランケット昇降装置216、上部フレーム217、インキ塗布装置218、撮像装置219a、撮像装置219bおよび図示しない制御部と同じであり、重複を避けるために説明は省略する。
図10は、印刷装置3によって実行される第3の印刷処理の処理手順を示すフローチャートである。印刷版7が印刷版定盤311に載置され、ブランケット8がブランケット定盤315のすべての吸引孔21によって吸着され、かつ被印刷物9が被印刷物定盤312に載置されると、ステップC1に移る。ステップC1〜ステップC5は、それぞれ図8に示したフローチャートのステップB1〜ステップB5と同じであり、重複を避けるために説明は省略する。
ステップC6では、ブランケット定盤315は、可動ステージ22のある吸引孔21からの吸引を維持したまま、可動ステージ22のない吸引孔21からの吸引を停止する。ステップC7では、ブランケット定盤315は、制御部によって算出された相対位置つまりずれ量と同じ量だけ、対応する基準像が一致する方向と反対方向に、各可動ステージ22によって吸引孔21を移動し、可動ステージ22のある吸引孔21によって吸着されているブランケット8を変形する。
ステップC8では、ブランケット定盤315は、可動ステージ22のない吸引孔21からの吸引を再開し、すべての吸引孔21によって吸引する。ブランケット8は、ブランケット8の弛緩および振動がなくなり、平坦になる。ステップC6〜ステップC8は、変形工程である。
第1の転写工程であるステップC9では、ブランケット昇降装置316は、ブランケット定盤315を下降させて、印刷版7とブランケット8とを接触させた後、ブランケット定盤315を上昇させて、印刷版7とブランケット8とを離隔させることによって、印刷版7に塗布されているインキをブランケット8に転写する。インキが転写されたブランケット8には、印刷版7に形成されていた画像パターンと同じ画像パターンが、転写されたインキによって形成されている。印刷版定盤311は、印刷版7をレール313に沿って移動させ、元の位置に移動させる。
ステップC10では、被印刷物定盤312は、被印刷物9をレール313に沿って移動させ、ブランケット8の直下に移動させる。ステップC11では、ブランケット定盤315は、可動ステージ22のある吸引孔21からの吸引を維持したまま、可動ステージ22のない吸引孔21からの吸引を停止する。変形されていたブランケット8は、その弾性によって、変形される前の状態に復元する。ステップC12では、ブランケット定盤315は、可動ステージ22のない吸引孔21からの吸引を再開し、すべての吸引孔21によって吸引する。ステップC11およびステップC12は、復元工程である。
第2の転写工程であるステップC13では、ブランケット昇降装置316は、ブランケット定盤315を下降させて、ブランケット8と被印刷物9とを接触させた後、ブランケット定盤315を上昇させて、ブランケット8と被印刷物9とを離隔させることによって、ブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写し、第3の印刷処理を終了する。
印刷装置3を用いて、以下の条件で行なった第4の印刷例について説明する。印刷版7、ブランケット8、被印刷物9、インキ材料、インキ膜厚、基準像、ブランケット昇降装置、印刷版7および被印刷物9に形成されている十字型マークおよび角パターン、ならびに撮像装置219aおよび撮像装置219bは、第3の印刷例の場合と同じ条件である.
ずれ量Xの測定は、光学顕微鏡を用いて、被印刷物9に形成されている角パターン72および被印刷物9に印刷された角パターン72aについて100mm間隔で77箇所測定する。測定した結果によるパターンの重ね合わせ精度は、±6μmであった。したがって、ブランケット8にインキが転写される前にブランケット8を変形させた後、ブランケット8にインキを転写する場合についても、高精度で重ね合わせを行なうことができる。
このように、撮像装置319aによって、印刷版7に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンが撮像され、撮像装置319bによって、被印刷物9に形成されている第2の画像パターンが撮像され、制御部によって、撮像装置319aによって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置と、撮像装置319bによって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置とが比較されて第2の基準像の位置のずれ量が算出される。
そして、可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21によって、制御部によって算出されたずれ量に応じてブランケット8が変形され、ブランケット定盤315およびブランケット昇降装置316によって、印刷版7に塗布されているインキが、可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21によって変形されたブランケット8に転写され、可動ステージ22および可動ステージ22が設けられた吸引孔21によって
したがって、ブランケット8から被印刷物9に転写するときには、ブランケット8の変形はなく、ブランケット8に掛かる張力は一様であるため、ブランケットの厚さや圧縮性が一様となり、繰り返し再現性が向上する。
さらに、図10に示したフローチャートにおいて、ステップC2〜ステップC4では、印刷版7に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準像の位置と被印刷物9に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準像の位置とを比較して第2の基準像の位置のずれ量を算出する。ステップC6〜ステップC8は、ステップC2〜ステップC4で算出されたずれ量に応じて、ブランケット8を変形させる。ステップC9では、印刷版7に塗布されているインキをステップC6〜ステップC8で変形されたブランケット8に転写する。ステップC11およびステップC12では、ステップC9でインキが転写されたブランケット8の変形を元に復元する。そして、ステップC13では、ステップC11およびステップC12で復元されたブランケット8に転写されているインキを被印刷物9に転写する。
したがって、本発明に係る画像形成方法を適用すれば、ブランケット8から被印刷物9に転写するときには、ブランケット8の変形はなく、ブランケット8の変形はなく、ブランケット8に掛かる張力は一様であるため、ブランケットの厚さや圧縮性が一様となり、繰り返し再現性が向上する。
このように、ステップC2〜ステップC4に含まれるステップC2では、印刷版7に形成されている第1の画像パターンを撮像する。ステップC2〜ステップC4に含まれるステップC3では、被印刷物9に形成されている第2の画像パターンを撮像する。そして、ステップC2〜ステップC4に含まれるステップC4では、ステップC2で撮像された第1の画像パターンに含まれる複数の第1の基準像の位置とステップC3で撮像された第2の画像パターンに含まれ、第1の基準像に対応する複数の第2の基準像の位置とを比較し、各第2の基準像の位置のずれ量を算出する。
すなわち、印刷版7と被印刷物9とを撮像してから、印刷版7に塗布されたインキをブランケット8に転写するので、ブランケット8に転写した後に撮像を行う必要がなく、印刷版7からブランケット8への転写、ブランケット8の変形、およびブランケット8から被印刷物9への転写を一連の動作で行なうことができる。したがって、転写タクトの短縮を図ることができる。
本発明の実施の一形態である印刷装置1の構成を模式的に示す図である。 ブランケット定盤15の構成を示す図である。 本発明に係る画像形成の概念を示す図である。 印刷装置1によって実行される第1の印刷処理の処理手順を示すフローチャートである。 印刷版7に形成される十字型マーク71および角パターン72を示す図である。 角パターン72aのずれ量Xを示す図である。 本発明の実施の他の形態である印刷装置2の構成を模式的に示す図である。 印刷装置2によって実行される第2の印刷処理の処理手順を示すフローチャートである。 本発明の実施のさらに他の形態である印刷装置3の構成を模式的に示す図である。 印刷装置3によって実行される第3の印刷処理の処理手順を示すフローチャートである。 従来の技術による印刷装置101の構成の一例を示す図である。
符号の説明
1,2,3,101 印刷装置
7 印刷版
8 ブランケット
9 被印刷物
11,211,311 印刷版定盤
12,212,312 被印刷物定盤
13,213,313 レール
14,214,314 下部フレーム
15,215,315 ブランケット定盤
16,216,316 ブランケット昇降装置
17,217,317 上部フレーム
18,118,218,318 インキ塗布装置
19,119 撮像装置
20 開口部
21 吸引口
22 可動ステージ
71 十字型マーク
72 角パターン
115 ブランケット胴
219a,319a 印刷版撮像装置
219b,319b 被印刷物撮像装置

Claims (12)

  1. 印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写工程と、
    第1の転写工程でブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出工程と、
    算出工程で算出されたずれ量に応じて、第1の転写工程でインキが転写されたブランケットを変形する変形工程と、
    変形工程で変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写工程とを含むことを特徴とする画像形成方法。
  2. 前記算出工程は、
    前記第1の転写工程でブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンを撮像する第1の撮像工程と、
    前記被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像工程と、
    第1の撮像工程で撮像された第1の画像パターンに含まれる複数の第1の基準パターンの位置と第2の撮像工程で撮像された第2の画像パターンに含まれ、第1の基準パターンに対応する複数の第2の基準パターンの位置とを比較し、各第2の基準パターンの位置のずれ量を算出するずれ量算出工程とを含むことを特徴とする請求項1に記載の画像形成方法。
  3. 前記被印刷物は、透明の基板によって構成され、
    前記第1の撮像工程で撮像される第1の画像パターンと前記第2の撮像工程で撮像される第2の画像パターンとは、同じ撮像装置によって撮像されることを特徴とする請求項2に記載の画像形成方法。
  4. 印刷版に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出工程と、
    印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写工程と、
    算出工程で算出されたずれ量に応じて、第1の転写工程でインキが転写されたブランケットを変形させる変形工程と、
    変形工程で変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写工程とを含むことを特徴とする画像形成方法。
  5. 印刷版に形成されている第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と被印刷物に形成されている第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出工程と、
    算出工程で算出されたずれ量に応じて、ブランケットを変形させる変形工程と、
    印刷版に塗布されているインキを変形工程で変形されたブランケットに転写する第1の転写工程と、
    第1の転写工程でインキが転写されたブランケットの変形を元に復元する復元工程と、
    復元工程で復元されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写工程とを含むことを特徴とする画像形成方法。
  6. 前記算出工程は、
    前記印刷版に形成されている第1の画像パターンを撮像する第1の撮像工程と、
    前記被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像工程と、
    第1の撮像工程で撮像された第1の画像パターンに含まれる複数の第1の基準パターンの位置と第2の撮像工程で撮像された第2の画像パターンに含まれ、第1の基準パターンに対応する複数の第2の基準パターンの位置とを比較し、各第2の基準パターンの位置のずれ量を算出するずれ量算出工程とを含むことを特徴とする請求項4または5に記載の画像形成方法。
  7. 前記ブランケットは、平板上であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1つに記載の画像形成方法。
  8. 前記ブランケットは、少なくとも軟質層の弾性体および硬質層の弾性体の2層から構成されることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1つに記載の画像形成方法。
  9. 前記印刷版に形成されている第1の画像パターンは、前記被印刷物に転写されたインキによる第1の画像パターンが縮小されたサイズであることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1つに記載の画像形成方法。
  10. 第1の画像パターンが形成されている印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写手段と、
    第1の転写手段によってブランケットに転写されたインキによって形成される第1の画像パターンと、被印刷物に形成されている第2の画像パターンとを撮像する撮像手段と、
    撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出手段と、
    算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットを変形する変形手段と、
    変形手段によって変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写手段とを含むことを特徴とする画像形成装置。
  11. 印刷版に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンを撮像する第1の撮像手段と、
    被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像手段と、
    印刷版に塗布されているインキをブランケットに転写する第1の転写手段と、
    第1の撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と、第2の撮像手段によって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出手段と、
    算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットを変形する変形手段と、
    変形手段によって変形されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写手段とを含むことを特徴とする画像形成装置。
  12. 印刷版に塗布されているインキによって形成されている第1の画像パターンを撮像する第1の撮像手段と、
    被印刷物に形成されている第2の画像パターンを撮像する第2の撮像手段と、
    第1の撮像手段によって撮像された第1の画像パターンに含まれる第1の基準パターンの位置と、第2の撮像手段によって撮像された第2の画像パターンに含まれる第2の基準パターンの位置とを比較して第2の基準パターンの位置のずれ量を算出する算出手段と、
    算出手段によって算出されたずれ量に応じてブランケットを変形する変形手段と、
    印刷版に塗布されているインキを変形手段によって変形されたブランケットに転写する第1の転写手段と、
    第1の転写手段によってインキが転写されたブランケットを元に復元する復元手段と、
    復元手段によって復元されたブランケットに転写されているインキを被印刷物に転写する第2の転写手段とを含むことを特徴とする画像形成装置。
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