JP2009077114A

JP2009077114A - カメラモジュール検査装置及びカメラモジュール検査方法

Info

Publication number: JP2009077114A
Application number: JP2007243548A
Authority: JP
Inventors: Masanao Mashima; 雅尚真島
Original assignee: Konica Minolta Opto Inc
Current assignee: Konica Minolta Opto Inc
Priority date: 2007-09-20
Filing date: 2007-09-20
Publication date: 2009-04-09

Abstract

【課題】校正が容易で、検査装置用スペースを削減したカメラモジュール検査装置及びカメラモジュール検査方法を得ること。
【解決手段】入力される信号に基づいて表示をおこなう表示装置に、カメラモジュールの画像品質を検査するための画像検査用チャートを表示させるカメラモジュール検査装置とする。
【選択図】図１

Description

本発明は、携帯端末に搭載されるカメラモジュールの検査装置及びカメラモジュールの検査方法に関するものである。

従来より、解像力チャートや色チャートを反射又は透過物に印刷し、このチャートをカメラモジュールで撮像し、撮像した画像を解析することでカメラモジュールの解像力や色特性の検査が行われている。

このようなカメラモジュールの画像検査用チャートとして、解像度検査領域と色再現性検査領域とを１つの検査用チャート内に配置したものが知られている（例えば、特許文献１参照）。
特開２００６−２４５８９１号公報

しかしながら、従来の検査装置に用いられる画像検査用チャートは、紙等の反射物やガラス等の透過物に印刷されたものであり、反射物の場合にはカメラモジュール側である表面側から、透過物の場合には裏面側から、光源を用いて照明する必要がある。

このような検査装置においては、照明の配置等に大きな検査装置用スペースを要すると共に、照明のムラを解消するための調整に長時間を要する問題がある。また、装置が複数有る場合には、検査装置による評価の差が発生しないように調整を行うことが非常に難しく、更に、チャートの経時変化、光源の色や照度の経時変化の問題がある。加えて、検査する機種が変わった場合には、機種の仕様に応じてチャートを変更する必要があり、上記の調整を再度行わなくてはならないという問題があった。このような種々の問題により、検査装置の校正に多大な労力が費やされていた。

本発明は、上記問題に鑑み、校正が容易で、検査装置用スペースを削減したカメラモジュール検査装置及びカメラモジュール検査方法を得ることを目的とするものである。

上記の目的は、下記に記載する発明により達成される。

１．入力される信号に基づいて表示をおこなう表示装置に、カメラモジュールの画像品質を検査するための画像検査用チャートを表示させることを特徴とするカメラモジュール検査装置。

２．前記表示装置は、フラットパネルディスプレイであることを特徴とする１に記載のカメラモジュール検査装置。

３．前記画像検査用チャートは解像力検査用チャートであり、前記カメラモジュールにより撮像された解像力検査用チャートの中心が、撮像画面の中心からずれている場合に、前記表示装置に表示される解像力検査用チャートを画面内で移動させることを特徴とする１又は２に記載のカメラモジュール検査装置。

４．信号が入力され、該信号に基づいて表示をおこなう表示装置に、画像検査用チャートを表示させる工程と、表示された画像検査用チャートをカメラモジュールで撮像する工程と、前記カメラモジュールで撮像された画像検査用チャートを評価する工程と、を有することを特徴とするカメラモジュール検査方法。

５．前記カメラモジュールで撮像された画像検査用チャートの評価に基づいて、前記表示装置の表示を変化させる工程を有することを特徴とする４に記載のカメラモジュール検査方法。

６．前記カメラモジュールで撮像された画像検査用チャートの評価に基づいて、前記カメラモジュールの特性値を変更する工程を有することを特徴とする４に記載のカメラモジュール検査方法。

本発明によれば、校正が容易で、検査スペースを削減したカメラモジュール検査装置及びカメラモジュール検査方法を得ることが可能となる。

以下、実施の形態により本発明を詳しく説明するが、本発明は、これに限定されるものではない。

図１は、本実施の形態に係るカメラモジュール検査装置１の概略構成を示す斜視図である。

同図に示すカメラモジュール検査装置１は、検査装置全体を制御する制御用パーソナルコンピュータ（以下、制御用ＰＣと称す）１５を有し、この制御用ＰＣ１５に接続された各部が動作制御されるようになっている。

制御用ＰＣ１５には、図示の如く、チャート表示用ディスプレイ１１、被験物であるカメラモジュール１２及びカメラモジュール用回路基板１３が接続線２１、２２により接続されている。

チャート表示用ディスプレイ１１は、制御用ＰＣ１５から入力される信号に基づいて、カメラモジュールの画像品質を検査するための画像検査用チャートを表示するものである。チャート表示用ディスプレイ１１は、スペース効率の良い液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）やプラズマディスプレイ（ＰＤＰ）等のフラットパネルディスプレイで構成されていることが好ましい。

被験物であるカメラモジュール１２は、チャート表示用ディスプレイ１１に表示された画像検査用チャートに向けて配置され、画像検査用チャートを撮像する。カメラモジュール用回路基板１３は、カメラモジュール１２で撮像した画像データを、制御ＰＣ１５へ送出する。また、カメラモジュール用回路基板１３は、制御ＰＣ１５からの信号によりカメラモジュール１２の駆動制御も行うようになっている。

上記のカメラモジュール検査装置１を用いることで、被験物であるカメラモジュール１２の解像力や色特性等の種々の検査をおこなうことができる。

以下に、本実施の形態に係るカメラモジュール検査装置１で、カメラモジュール１２の解像力を検査する場合について説明する。

図２は、カメラモジュール１２の解像力検査の状態を示す図である。

まず、同図（ａ）に示すように、チャート表示用ディスプレイ１１には、解像力検査用チャートＴが、ディスプレイ画面中心とチャート中心が合致するように表示される。表示された解像力検査用チャートＴをカメラモジュール１２により撮像し、制御ＰＣ１５に画像のデータを送出する。

このとき、制御ＰＣ１５に取り込まれた解像力検査用チャートＴの画像が、同図（ｂ）に概念的に示したように、中心がずれて撮像される場合がある（同図（ｂ）の場合、左斜め上方にずれている）。これは、チャート表示用ディスプレイ１１の画面中心とカメラモジュール１２の撮像光学系光軸がずれている場合や、カメラモジュール１２内の撮像光学系光軸と撮像素子の撮像中心とがずれている場合に発生する。

このとき、従来の検査装置においては、カメラモジュール１２を極めて僅かずつ移動させ、取り込んだ解像力検査用チャートＴの中心が撮像中心と一致するように機械的に調整した後、解像力評価が開始されていた。

本実施の形態は、制御ＰＣ１５によりカメラモジュール１２の撮像中心に解像力検査用チャートＴの中心が合致しているか否かを、制御ＰＣ１５に取り込んだ画像のデータを用いて制御ＰＣ１５内で評価し、合致していないと評価された場合は、チャート表示用ディスプレイ１１上で、解像力検査用チャートＴを移動させることで合致させ、この後、解像力評価が開始される。

以下、チャート表示用ディスプレイ１１上で解像力検査用チャートＴを移動させて撮像中心に合致させる際の、左右方向の移動のさせ方の一例について、簡単に説明する。取り込み画像の水平方向の画素数をＡとし、チャート表示用ディスプレイ１１の表示画素数をＢとする。

同図（ｂ）に示す概念図において、取り込み画像の端部からチャートの端部までの水平方向の画素数Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３、Ｈ４をカウントする。Ｈ１＝Ｈ３、Ｈ２＝Ｈ４の場合を説明する。

このとき、Ｈ１＞Ｈ２であれば、（Ｂ／Ａ）×（（Ｈ１＋Ｈ２）／２）の計算で得られる画素数分だけ、チャート表示用ディスプレイ１１の図示−方向に解像力検査用チャートＴを移動させて表示する。

Ｈ１＜Ｈ２であれば、（Ｂ／Ａ）×（（Ｈ１＋Ｈ２）／２）の計算で得られる画素数分だけ、チャート表示用ディスプレイ１１の図示＋方向に解像力検査用チャートＴを移動させて表示する。なお、Ｈ１＝Ｈ２の場合は合致しているため、移動の必要はない。

同様に、上下方向を補正して、チャート表示用ディスプレイ１１に解像力検査用チャートＴを表示する。このような動作制御は、制御ＰＣ１５内に組み込まれたプログラムにより行われる。更に、撮像された解像力検査用チャートＴが回転している場合には、チャート表示用ディスプレイ１１上に解像力検査用チャートＴを回転補正させて表示する。

このように構成することで、カメラモジュール１２の位置の機械的な移動調整を必要とせず、チャート表示用ディスプレイ１１に表示される検査用チャートを自動的に短時間で移動させ、カメラモジュール１２の撮像中心に解像力検査用チャートＴの中心を容易に合致させることが可能となる。

図３は、チャート表示用ディスプレイ１１に表示される検査用チャートを移動させて表示し、カメラモジュール１２の撮像中心に検査用チャートの中心を合致させた状態を示す図である。

同図（ａ）に示すように、解像力検査用チャートＴをチャート表示用ディスプレイ１１の中心からずらせて表示され、これにより同図（ｂ）に示すように、カメラモジュール１２の撮像中心に解像力検査用チャートＴの中心が合致して撮像される。この後、制御ＰＣ１５内で、カメラモジュール１２で撮像された解像力検査用チャートＴの画像の解像力評価をおこなう。

以上のように、入力される信号に基づいて表示をおこなう表示装置に、カメラモジュールの画像品質を検査するための画像検査用チャートを表示させるよう構成することにより、カメラモジュール等の機械的な位置調整を不要とでき、検査時間の短縮を図ることができる。また外部照明を必要としないため検査装置の省スペース化が可能となり、キャリブレーション装置を使用することで、検査装置の校正を容易に短時間で行うことができるようになる。

また、チャート表示用ディスプレイの表示を順次切り替えることが可能であるため、カメラモジュールをセットしたままで複数の検査を自動で連続的に行うことの可能なカメラモジュール検査装置を得ることが可能となる。

更に、検査する機種や仕様が変わった場合、制御ＰＣのデータのみ変更することで表示内容の変更に対応でき、極めて汎用性の高いカメラモジュール検査装置を得ることが可能となる。

なお、上記の実施の形態においては、制御ＰＣ１５内でプログラムにより、撮像された解像力検査用チャートＴの画像の解像力評価をおこなう例で説明したが、撮像された画像を表示して人が評価を行う場合には、取り込み画像表示用ディスプレイを制御ＰＣ１５に接続し表示するよう構成してもよい。

また、上記の実施の形態においては、解像力検査チャートを用いた解像力検査の例で説明したが、これに限るものでない。例えば、チャート表示用ディスプレイ１１に表示されたカラーチャートのカメラモジュールによる撮像結果を解析し、カメラモジュール１２のカラーバランス等の個々の特性値も調整することができる。

本実施の形態に係るカメラモジュール検査装置の概略構成を示す斜視図である。解像力検査用チャートをチャート表示用ディスプレイに表示し、カメラモジュールで撮像した画像を、取り込み画像表示用ディスプレイに表示した一例を示す図である。チャート表示用ディスプレイに表示される検査用チャートを移動させて表示し、カメラモジュールの撮像中心に検査用チャートの中心を合致させた状態を示す図である。

符号の説明

１カメラモジュール検査装置
１１チャート表示用ディスプレイ
１２カメラモジュール
１３カメラモジュール用回路基板
１５制御用パーソナルコンピュータ
Ｔ解像力検査用チャート

Claims

入力される信号に基づいて表示をおこなう表示装置に、カメラモジュールの画像品質を検査するための画像検査用チャートを表示させることを特徴とするカメラモジュール検査装置。
前記表示装置は、フラットパネルディスプレイであることを特徴とする請求項１に記載のカメラモジュール検査装置。
前記画像検査用チャートは解像力検査用チャートであり、前記カメラモジュールにより撮像された解像力検査用チャートの中心が、撮像画面の中心からずれている場合に、
前記表示装置に表示される解像力検査用チャートを画面内で移動させることを特徴とする請求項１又は２に記載のカメラモジュール検査装置。
信号が入力され、該信号に基づいて表示をおこなう表示装置に、画像検査用チャートを表示させる工程と、
表示された画像検査用チャートをカメラモジュールで撮像する工程と、
前記カメラモジュールで撮像された画像検査用チャートを評価する工程と、を有することを特徴とするカメラモジュール検査方法。
前記カメラモジュールで撮像された画像検査用チャートの評価に基づいて、前記表示装置の表示を変化させる工程を有することを特徴とする請求項４に記載のカメラモジュール検査方法。
前記カメラモジュールで撮像された画像検査用チャートの評価に基づいて、前記カメラモジュールの特性値を変更する工程を有することを特徴とする請求項４に記載のカメラモジュール検査方法。