JP2009053163A - 光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

【課題】ＯＴＤＲ波形上のイベントの内容を容易に把握できる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】光パルス試験器は、試験対象の光ファイバ２１への光パルスの入射に伴う光ファイバ２１からの反射戻り光のレベルに基づいて算出した光ファイバ２１の損失分布特性をＯＴＤＲ波形として表示部１３に表示するものであり、表示部１３のメインウィンドウ１３ａへのＯＴＤＲ波形の表示とともに、ＯＴＤＲ波形上に現れたイベントの内容を説明するためのイベント毎に独立したサブウィンドウ１３ｂを、イベントと該イベントに対応したサブウィンドウ１３ｂとの関係が認識可能なようにメインウィンドウ１３ａ上に表示する機能を有する。
【選択図】図１

Description

本発明は、試験対象となる光ファイバへの光パルス（試験光）の入射に伴う光ファイバからの反射戻り光（後方散乱光やフレネル反射光）のレベルに基づいて算出した光ファイバの損失分布特性をＯＴＤＲ波形として表示する光パルス試験器に関する。

近年、ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）の普及拡大により、光ファイバの敷設数、契約数が飛躍的に増加している。また、それに伴って、光通信の知識が乏しい者や敷設保守の経験の浅い者が、光ファイバの敷設保守作業を行うケースが増えている。

そのため、敷設保守を行うための機器には、初心者でも簡易に作業が行える操作性が要求されており、光ファイバの損傷箇所を特定する光パルス試験器（以下、ＯＴＤＲ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｔｅｒ）においても、損失箇所が一目で特定できる視認性や操作性が求められている。

ＯＴＤＲとは、試験対象となる光ファイバの一端に光パルス（試験光）を入射し、この光パルスの入射に伴う光ファイバからの反射戻り光（後方散乱光やフレネル反射光）に基づいて光損失特性を測定する装置である。

このＯＴＤＲの操作性及び視認性を改善するための従来技術としては、下記特許文献１に開示される技術が知られている。

この特許文献１に開示される従来技術のＯＴＤＲでは、被測定ファイバの反射戻り波形（以下、ＯＴＤＲ波形）を測定した後、予め設定された反射戻り光の変化量の閾値や波形パターンに基づいて、ファイバの破断箇所、コネクタ接続箇所、ファイバの終端などを判定し、それらの各イベントを一覧表形式で表示している。これにより、作業者が光ファイバの異常箇所の有無とその内容を、一目で確認することができる。

具体的に、特許文献１の表示例では、図７に示すように、横軸に各イベントを、縦軸には左から、推定距離で表したイベントの位置（Ｐｏｓｉｔｉｏｎ）、記号で表現したイベントの種類（Ｔｙｐｅ）、損失（Ｓｐｌｉｃｅ）、反射減衰量（Ｒ．Ｌｏｓｓ）、測定波長（λ）を表示している。
特許第３７７０５２７号公報

しかし、上述した従来技術においてもまだ解決すべき課題があった。すなわち、従来技術では、図７に示すように、一覧表で複数のイベントの距離や種類を確認できるものの、各イベントがＯＴＤＲ波形上に現れた複数の異常波形のうちどの波形に相当するのかを関連付けて表示していない。このため、ＯＴＤＲ波形に着目して光ファイバの状態を判断する場合、各イベントがどのような種類でどのような損失値、或いは反射減衰量を有しているのかを把握し辛かった。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ＯＴＤＲ波形上のイベントの内容を容易に把握することができる光パルス試験器を提供することを目的としている。

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された光パルス試験器は、試験対象の光ファイバ２１への光パルスの入射に伴う該光ファイバからの反射戻り光のレベルに基づいて算出した前記光ファイバの損失分布特性をＯＴＤＲ波形として表示部１３に表示する光パルス試験器１において、
前記表示部のメインウィンドウ１３ａへの前記ＯＴＤＲ波形の表示とともに、前記ＯＴＤＲ波形上に現れたイベントの内容を説明するための該イベント毎に独立したサブウィンドウ１３ｂを、前記イベントと該イベントに対応した前記サブウィンドウとの関係が認識可能なように前記メインウィンドウ上に表示する機能を備えたことを特徴とする。

請求項２に記載された光パルス試験器は、請求項１記載の光パルス試験器において、
前記ＯＴＤＲ波形上の選択されたイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを表示することを特徴とする。

請求項３に記載された光パルス試験器は、請求項１または請求項２記載の光パルス試験器において、
イベント発生位置における光ファイバの損失レベルまたは戻り光レベルが予め定められた閾値を越えているか否かを判定する閾値判定部１２ｂを備え、
前記閾値を越えているイベントに対応するサブウィンドウを、前記閾値を越えていないイベントに対応するサブウィンドウとは識別可能に表示することを特徴とする。

請求項４に記載された光パルス試験器は、請求項３記載の光パルス試験器において、
前記イベント毎の測定結果をイベント一覧表として表形式で表示するとともに、前記閾値判定部１２ｂで閾値を越えていると判定したイベントの情報を前記イベント一覧表において識別可能に表示することを特徴とする。

請求項５に記載された光パルス試験器は、請求項１または請求項２記載の光パルス試験器において、
前記ＯＴＤＲ波形上の複数のイベントと個々に対応する複数のサブウィンドウ１３ｂを表示しているときに、該複数のサブウィンドウのうち一のサブウィンドウを他のサブウィンドウとは識別可能に強調表示するとともに、
前記サブウィンドウの切り替え指示により、前記強調表示するサブウィンドウを該一のサブウィンドウから他の一のサブウィンドウに切り替えることを特徴とする。

請求項６に記載された光パルス試験器は、請求項５記載の光パルス試験器において、
前記サブウィンドウ１３ｂの強調表示の切り替えを、イベント発生位置における光ファイバの損失レベルが小さい順または大きい順に行うことを特徴とする。

請求項７に記載された光パルス試験器は、請求項５記載の光パルス試験器において、
前記サブウィンドウ１３ｂの強調表示の切り替えを、イベント発生位置の光ファイバの一端からの距離が小さい順または大きい順に行うことを特徴とする。

請求項８に記載された光パルス試験器は、請求項５記載の光パルス試験器において、
前記サブウィンドウ１３ｂの強調表示の切り替えを、イベントの種類順に行うことを特徴とする。

請求項９に記載された光パルス試験器は、請求項１〜８のいずれかに記載の光パルス試験器において、
任意のイベントを選択するイベント選択部１０ｂを備え、
該イベント選択部で選択されたイベントに対応するＯＴＤＲ波形を拡大して前記メインウィンドウ１３ａに表示することを特徴とする。

請求項１０に記載された光パルス試験器は、請求項１〜９のいずれかに記載の光パルス試験器において、
前記サブウィンドウ１３ｂには、イベント発生位置における光ファイバの損失レベル、イベント発生位置からの反射戻り光のレベル、イベント発生位置の該光ファイバの一端からの距離、イベントの種類のうち少なくとも一つを表示することを特徴とする。

本発明によれば、表示部のメインウィンドウへのＯＴＤＲ波形の表示とともに、ＯＴＤＲ波形上の各イベントとの関係が認識可能なように各イベントの内容を説明するための各イベント毎に独立したサブウィンドウをメインウィンドウ上に表示する機能を備えているので、イベント一覧表を見なくてもＯＴＤＲ波形上の各イベントの内容をサブウィンドウから容易に把握することができる。

また、操作部からの操作指示により、ＯＴＤＲ波形上の選択されたイベントに対応したサブウィンドウを表示すれば、ＯＴＤＲ波形上で作業者が知りたいイベントの内容をサブウィンドウから容易に認識することができる。

さらに、イベント発生位置における光ファイバの損失レベルまたは戻り光レベルが予め設定された閾値を越えているか否かを判定し、閾値を越えているイベントに対応するサブウィンドウと、閾値を越えていないイベントに対応するサブウィンドウとを識別可能に表示すれば、ＯＴＤＲ波形上の異常箇所を容易に特定することができる。

また、イベント毎の測定結果をイベント一覧表として表形式で表示するとともに、閾値を越えていると判定したイベントをイベント一覧表において識別可能に表示すれば、ＯＴＤＲ波形上の各イベント毎のサブウィンドウの内容と合わせてＯＴＤＲ波形上の異常箇所やその具体的内容について容易に認識することができる。

さらに、ＯＴＤＲ波形上の複数のイベントと個々に対応する複数のサブウィンドウを表示しているときに、複数のサブウィンドウのうち一のサブウィンドウを他のサブウィンドウとは識別可能に強調表示するとともに、サブウィンドウの切り替え指示により、強調表示するサブウィンドウを該一のサブウィンドウから他の一のサブウィンドウに切り替えれば、ＯＴＤＲ波形上の複数のサブウィンドウを表示している場合に、一つのみのサブウィンドウが強調表示されるので、現在選択されているイベントに対応したサブウィンドウを容易に認識することができる。

そして、サブウィンドウの強調表示は、サブウィンドウの切り替え指示により、（１）イベント発生位置における光ファイバの損失レベルが小さい順または大きい順、（２）イベント発生位置の光ファイバの一端からの距離が小さい順または大きい順、（３）イベントの種類順のいずれかの順序で適宜切り替えることができる。
さらに、任意に選択されたイベントに対応するＯＴＤＲ波形を拡大してメインウィンドウに表示すれば、ＯＴＤＲ波形上の異常箇所の状況をより具体的に且つ迅速に把握することができる。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら具体的に説明する。図１は本発明に係る光パルス試験器のブロック構成図、図２〜図６は本発明に係る光パルス試験器の表示形態の各例を示す図である。

本発明に係る光パルス試験器は、試験対象としての光ファイバへの光パルス（試験光）の入射に伴う当該光ファイバからの反射戻り光（例えば後方散乱光やフレネル反射光）のレベルに基づいて算出した光ファイバの損失分布特性をＯＴＤＲ波形として表示するものである。

本例の光パルス試験器１は、図１に示すように、タイミング発生部２、駆動回路３、光源４、光方向性結合器５、受光器６、Ａ／Ｄ変換部７、平均加算処理部８、対数変換部９、操作部１０、記憶部１１、制御部１２、表示部１３を不図示の装置本体（筐体）に備えた構成であり、試験対象としての光ファイバ２１の一端側２１ａがコネクタ接続できるように接続端子２２を有している。

タイミング発生部２は、電気パルスを発生し、この発生した電気パルスをタイミング信号として駆動回路３、Ａ／Ｄ変換部７及び平均加算処理部８に出力している。

駆動回路３は、タイミング発生部２からのタイミング信号（電気パルス）でパルス電流を生成し、この生成したパルス電流を光源４に供給して光源４を発光駆動している。

光源４は、半導体レーザダイオードからなり、駆動回路３からのパルス電流により発光駆動され、所定波長（単一波長、又は異なる複数波長の中から選択された波長）の光パルスを光方向性結合器５に出射している。

光方向性結合器５は、光源４に接続される第１ポート５ａと、接続端子２２を介して試験対象の光ファイバ２１の一端側２１ａに接続される第２ポート５ｂと、受光部６に接続される第３ポート５ｃとを有している。光方向性結合器５は、光源４から第１ポート５ａに入射された光を第２ポート５ｂから接続端子２２を介して光ファイバ２１に出射し、この光の入射に伴って光ファイバ２１から反射して第２ポート５ｂに入射した光（反射戻り光）を第３ポート５ｃに出射している。

受光部６は、光源４の波長の光に対してほぼ同等の感度を有するアバランシェフォトダイオード（ＡＰＤ）等の受光素子で構成される。受光部６は、接続端子２２に接続された光ファイバ２１から反射して戻ってくる光（反射戻り光）を光方向性結合器５を介して受光し、その光の強度に対する大きさの受光信号をＡ／Ｄ変換部７に出力している。

Ａ／Ｄ変換部７は、不図示の増幅部により所定の増幅度で増幅された受光器６からの受光信号を、タイミング発生部２からのタイミング信号に基づく所定の周期でサンプリングしてディジタルのデータに順次変換している。

平均加算処理部８は、Ａ／Ｄ変換部７でサンプリングされたディジタルのデータを、タイミング発生部２からのタイミング信号に合わせて光源４での光パルスの繰り返し回数分だけ加算し、その平均値を求めて対数変換部９に出力している。

対数変換部９は、平均加算処理部８で平均加算処理されたデータの信号レベルを対数変換している。この対数変換された結果は、試験対象である光ファイバ２１の損失特性に比例した波形データとして制御部１２に入力される。

操作部１０は、装置本体に設けられるファンクションキー、矢印キー、ソフトキー等の各種キー、ボタンやスイッチ等で構成される。操作部１０は、作業者の操作により、光ファイバ２１からの反射戻り光の閾値の設定、後述の各種モードを選択的に有効にする設定、後述のサブウィンドウ１３ｂを表示させるＯＴＤＲ波形上のイベント（特異点：光ファイバコネクタ接続箇所や融着接続箇所）を選択する設定、強調表示するサブウィンドウ１３ｂの切替順序の設定を行うべく、閾値設定部１０ａ、モード選択部１０ｂ、イベント選択部１０ｃ、ウィンドウ切替部１０ｄを備えている。以下、各部について説明する。

閾値設定部１０ａは、作業者の操作指示により、光ファイバ２１からの反射戻り光の閾値を設定している。この反射戻り光の閾値としては、光ファイバ２１の損失レベルの閾値と、光ファイバ２１の戻り光レベルの閾値とが個々に設定できるようになっている。これら設定された閾値情報は、操作情報として制御部１２に入力される。

モード選択部１０ｂは、作業者の操作指示により、下記に説明する全体表示モードまたは個別表示モード、波形拡大表示モード、強調表示モードから有効にするモードを選択設定している。このモード選択情報は、操作情報として制御部１２に入力される。

なお、全体表示モードとは、通常のモードであり、ＯＴＤＲ波形上の全てのイベントに対応した後述のサブウィンドウ１３ｂと、各イベント毎の測定結果を表形式にしたイベント一覧表とを後述のメインウィンドウ１３ａの一画面上に表示するモードである。個別表示モードとは、イベント選択部１０ｃで選択設定されるＯＴＤＲ波形上のイベントに対応した後述のサブウィンドウ１３ｂを後述のメインウィンドウ１３ａに表示するモードである。波形拡大表示モードとは、イベント選択部１０ｃで選択設定されるイベントを中心としたＯＴＤＲ波形を拡大表示するモードである。強調表示モードには、イベントの強調表示モードと、閾値の強調表示モードとがある。イベントの強調表示モードとは、イベント選択部１０ｃで選択設定されるイベントに対応した後述のサブウィンドウ１３ｂを強調表示するモードである。また、閾値の強調表示モードとは、後述の閾値判定部１２ｂが閾値を越えていると判定した情報やこの情報を含むイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを強調表示するモードである。

イベント選択部１０ｃは、作業者の操作指示により、全体表示モードまたは個別表示モードが有効のときに、ＯＴＤＲ波形上の任意のイベントを選択設定している。この任意のイベントの選択設定は、例えば後述のメインウィンドウ１３ａに表示されるイベント一覧表から任意のイベントＮｏ．を選択したり、ＯＴＤＲ波形上の任意のイベント位置にマーカを移動させて選択する等で行うことができる。この選択設定されたイベント選択情報は、操作情報として制御部１２に入力される。

ウィンドウ切替部１０ｄは、作業者の操作指示により、強調表示する後述のサブウィンドウ１３ｂの切替順序を設定している。具体的には、（１）イベント発生位置における光ファイバ２１の損失レベルが小さい順または大きい順、（２）イベント発生位置の光ファイバ２１の一端からの距離が小さい順または大きい順、（３）イベントの種類順による３種類の順序の中から選択して後述のサブウィンドウ１３ｂを設定順序で順次切り替えるべく切替順序を設定している。この設定された切替順序設定情報は、操作情報として制御部１２に入力される。

尚、本例における強調表示とは、サブウィンドウ１３ｂの枠の太さや色、サブウィンドウ１３ｂ内の表示情報の文字のサイズ、太さ、色等を変えて識別表示する以外に、複数のサブウィンドウ１３ｂが重なる場合に一のサブウィンドウ１３ｂを最前面に表示して識別表示するものも含むものである。

記憶部１１は、操作部１０からの操作情報（閾値情報）による光ファイバ２１の損失レベルの閾値や光ファイバ２１の戻り光レベルの閾値を含め、光ファイバ２１の試験に関わる各種情報を記憶するもので、波形メモリ１１ａを備えている。波形メモリ１１ａには、対数変換部９の変換結果として、光ファイバ２１の損失特性に比例した波形データを光源４の波長毎に記憶している。

制御部１２は、記憶部１１に対する各種情報の書き込みや読み出し制御、反射戻り光と閾値との比較判定制御、表示部１３の表示制御を行うべく、データ書込／読出部１２ａ、閾値判定部１２ｂ、表示制御部１２ｃを備えている。なお、制御部１２は、記憶部１１の波形メモリ１１ａに記憶された各波形データに基づき、光の強度が局所的に変化している位置をイベント発生位置として検出し、検出した各イベント発生位置におけるイベントの種類、イベント発生位置の損失量、反射率（リターンロス）等の光ファイバ２１の特性値を含め、ファイバ接続点の間の線路の平均減衰量、光ファイバ２１の口元から末端までの総損失量等の特性値を算出する機能を有している。以下、各部について説明する。

データ書込／読出部１２ａは、対数変換部９によって変換された波形データを光源４の波長毎に記憶部１１の波形メモリ１１ａに書き込む制御、閾値判定部１２ｂによる閾値判定時や表示制御部１２ｃによる表示部１３への表示制御時に記憶部１１の波形メモリ１１ａから波形データを読み出す制御を行っている。

閾値判定部１２ｂは、データ書込／読出部１２ａによって記憶部１１の波形メモリ１１ａから読み出された波形データにおいて、イベント発生位置における光ファイバ２１の損失レベルまたは戻り光レベルが予め操作部１０からの指示により設定記憶された閾値を越えているか否かを判定している。

表示制御部１２ｃは、記憶部１１（波形メモリ１１ａ）に記憶された情報、操作部１０からの操作情報、閾値判定部１２ｂの判定結果に基づき、例えば図２〜図６に示す表示形態で表示部１３の表示を制御している。すなわち、表示制御部１２ｃは、全体表示モードまたは個別表示モードが有効のときに、ＯＴＤＲ波形とイベント一覧表とを後述のメインウィンドウ１３ａに一画面表示するとともに、ＯＴＤＲ波形上のイベントとの関係が識別可能なようにイベントに対応した後述のサブウィンドウ１３ｂをメインウィンドウ１３ａ上に表示するべく、表示部１３の表示を制御している。

また、表示制御部１２ｃは、全体表示モードまたは個別表示モードが有効のときに、操作部１０からのイベント選択情報に基づき、後述のメインウィンドウ１３ａのＯＴＤＲ波形上の選択されたイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂのみを個別表示するべく、表示部１３の表示を制御している。

さらに、表示制御部１２ｃは、全体表示モード及び閾値の強調表示モードが有効のとき、または個別表示モード及び閾値の強調表示モードが有効のときに、閾値情報による閾値判定部１２ｂの判定結果が反映されるべく、後述のメインウィンドウ１３ａへのＯＴＤＲ波形の表示やイベント一覧表の表示を制御している。

また、表示制御部１２ｃは、全体表示モード及びイベントの強調表示モードが有効のとき、または個別表示モード及びイベントの強調表示モードが有効のときに、後述のメインウィンドウ１３ａ上に各イベントと対応付けされて表示されるサブウィンドウ１３ｂの強調表示を操作部１０からの切替順序設定情報に基づいて切替制御している。

さらに、表示制御部１２ｃは、波形拡大表示モードが有効のときに、操作部１０からのイベント選択情報に基づき、そのイベント位置を中心としてＯＴＤＲ波形を拡大表示するべく、表示部１３の表示を制御している。

また、表示制御部１２ｃは、ＯＴＤＲ波形上の各イベントに対し、イベントの位置及びイベントの種類を示す識別マーク（例えば図２のイベントの位置を示す△のマーク、イベントの種類を示す波形形状のマーク）を表示するべく、表示部１３の表示を制御している。

表示部１３は、例えば液晶表示器等の表示パネルで構成される。表示部１３は、表示制御部１２ｃの制御により、光ファイバ２１からの反射戻り光のレベルに基づいて算出した光ファイバ２１の損失分布特性を示すＯＴＤＲ波形と、ＯＴＤＲ波形上の各イベント毎の測定結果を表形式にしたイベント一覧表とをメインウィンドウ１３ａに一画面表示している。

また、表示部１３は、表示制御部１２ｃの制御により、ＯＴＤＲ波形上に現れたイベントの内容を説明するためのイベント毎に独立したサブウィンドウ１３ｂを、イベントとイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂとの関係が認識可能なようにメインウィンドウ１３ａ上に表示している。その際、図２〜図６に示すように、ＯＴＤＲ波形上に現れたイベントと、該イベントに対応するサブウィンドウ１３ｂとが線３１で結合して表示される。これにより、サブウィンドウ１３ｂがメインウィンドウ１３ａのＯＴＤＲ波形上のどのイベントと対応するものか一目で判るようになっている。

なお、図示の例では、ＯＴＤＲ波形上の各イベントと、各イベントと対応するサブウィンドウ１３ｂとを線３１で結合表示しているが、これに限定されるものではない。すなわち、サブウィンドウ１３ｂがＯＴＤＲ波形上のどのイベントと対応するものかが判れば良く、例えばＯＴＤＲ波形上の各イベントの位置からサブウィンドウ１３ｂを吹き出し表示しても良い。

サブウィンドウ１３ｂの表示内容は、例えばイベント発生位置における光ファイバ２１の損失レベル、イベント発生位置からの反射戻り光のレベル、イベント発生位置の光ファイバ２１の一端からの距離、イベントの種類（ファイバコネクタ接続点や切断発生点、末端点のように反射を伴う減衰かファイバ融着接続点のように反射を伴わない減衰）、イベントの種類に応じた対処方法等のうち少なくとも一つからなる。

次に、上記のように構成される光パルス試験器１において、制御部１２（表示制御部１２ｃ）によって制御される表示部１３の表示形態の各例について図２〜図６を参照しながら説明する。なお、図２〜図６の例では、光ファイバ２１からの反射戻り光に基づくＯＴＤＲ波形と、ＯＴＤＲ波形上に現れた各イベント毎の測定結果を表形式にしたイベント一覧表とをメインウィンドウ１３ａに一画面表示している。

まず、図２は、ＯＴＤＲ波形上の選択された一つのイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを表示した例を示している。図２の例では、作業者による操作部１０の操作により、個別表示モードを有効にしてイベント一覧表からイベントＮｏ．３（図２のイベント一覧表の斜線で囲んだ部分）が選択設定されると、そのイベント選択情報を含む操作情報が制御部１２に入力される。そして、制御部１２の表示制御部１２ｃは、操作部１０からの操作情報に基づき、ＯＴＤＲ波形上のイベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂのみを表示する。図２の例では、イベントの内容として、サブウィンドウ１３ｂに「≪Ｎｏ．３≫５０５．５ｍにファイバの遠端があります。」と表示している。

次に、図３は、ＯＴＤＲ波形上の複数のイベントの個々に対応したサブウィンドウ１３ｂを表示し、選択された一つのサブウィンドウ１３ｂを強調表示した例を示している。図３の例では、作業者による操作部１０の操作により、全体表示モードが有効でイベント一覧表からイベントＮｏ．３（図２のイベント一覧表の斜線で囲んだ部分）が選択設定されると、そのイベント選択情報を含む操作情報が制御部１２に入力される。そして、制御部１２の表示制御部１２ｃは、操作部１０からの操作情報に基づき、ＯＴＤＲ波形上の各イベント（イベントＮｏ．１〜３）毎に独立したサブウィンドウ１３ｂを表示する。図３の例では、イベントの内容として、イベントＮｏ．１に対応したサブウィンドウ１３ｂに「≪Ｎｏ．１≫５０３．５ｍに反射減衰量４８．７ｄＢの反射があります。損失量は１．８１ｄＢです。」と表示し、イベントＮｏ．２に対応したサブウィンドウ１３ｂに「≪Ｎｏ．２≫８０７．０ｍに反射減衰量５２．６ｄＢの反射があります。損失量は７．０４ｄＢです。」と表示し、イベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂに「≪Ｎｏ．３≫５０５．５ｍにファイバの遠端があります。」と表示している。また同時に、イベント選択情報に基づくイベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂを、例えば他のサブウィンドウ１３ｂと色を変えて強調表示する。図３の例では、イベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂは、他のイベントＮｏ．１，Ｎｏ．２のサブウィンドウ１３ｂと比較して強調表示するために、枠が太く、内容を示す文字のサイズが大きくなっている。

ここで、図２または図３の表示状態において、作業者が操作部１０のウィンドウ切替部１０ｃを操作し、強調表示するサブウィンドウ１３ｂの切替順序を設定すると、その切替順序設定情報が操作情報として制御部１２に入力される。そして、制御部１２の表示制御部１２ｃは、操作部１０からの切替順序設定情報に基づき、メインウィンドウ１３ａ上に各イベントと対応付けされて表示されるサブウィンドウ１３ｂの強調表示を切替制御する。例えば操作部１０からの切替順序設定情報が「イベント発生位置における光ファイバ２１の損失レベルが小さい順」を示す情報であれば、サブウィンドウ１３ｂをイベント発生位置における光ファイバ２１の損失レベルが小さい順に切替順序設定情報の入力の度に切り替える。具体的に図３の表示状態では、損失レベルが最も小さいイベントＮｏ．１のサブウィンドウ１３ｂが最初に強調表示され、切替順序設定情報が入力される度にＮｏ．２のサブウィンドウ１３ｂ→Ｎｏ．３のサブウィンドウ１３ｂ→Ｎｏ．１のサブウィンドウ１３ｂといったように強調表示されるサブウィンドウ１３ｂが順次切替制御される。

次に、図４は、ＯＴＤＲ波形上の選択された一つのイベントを中心としてＯＴＤＲ波形を拡大表示した例を示している。図４の例では、作業者による操作部１０の操作により、波形拡大表示モードが有効でイベント一覧表からイベントＮｏ．３（図２のイベント一覧表の斜線で囲んだ部分）が選択設定されると、そのイベント選択情報を含む操作情報が制御部１２に入力される。そして、制御部１２の表示制御部１２ｃは、操作部１０からの操作情報に基づき、ＯＴＤＲ波形上のイベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂを表示する。図４の例では、イベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂに「≪Ｎｏ．３≫５０５．５ｍにファイバの遠端があります。」と表示している。また同時に、選択されたイベントＮｏ．３を中心としてＯＴＤＲ波形を拡大表示する。

次に、図５は、ＯＴＤＲ波形上の複数のイベントの個々に対応したサブウィンドウ１３ｂを表示し、イベント一覧表内で閾値を越える情報及び閾値を越える情報を含むイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを強調表示した例を示している。図５の例では、作業者による操作部１０の操作により、全体表示モード及び閾値の強調表示モードを有効にすると、制御部１２の表示制御部１２ｃは、図３と同様にＯＴＤＲ波形上の各イベント（イベントＮｏ．１〜３）に対応したサブウィンドウ１３ｂを表示する。また同時に、閾値判定部１２ｂの判定結果に基づき、イベント一覧表内で閾値を越える情報及び閾値を越える情報を含むイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを強調表示する。例えばイベント一覧表内で閾値を越える情報及び閾値を越える情報を含むイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを例えば赤色で強調表示する。図５の例では、イベント一覧表内で閾値（例えば損失：２．０ｄＢ以上、反射減衰量：−４５ｄＢ以下）を越える情報として、図中に斜線で示すイベントＮｏ．２の損失「７．０４」、イベントＮｏ．３の損失「遠端」、反射「＜２７．４」を強調表示している。また、閾値を越える情報を含むイベントＮｏ．２とＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂを強調表示している。この閾値を越える情報を含むイベントＮｏ．２とＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂは、閾値を越えない情報のみのイベントＮｏ．１のサブウィンドウ１３ｂと比較して強調表示するために、枠が太く、内容を示す文字のサイズが大きくなっている。

次に、図６は、ＯＴＤＲ波形上の一つのイベントを中心としてＯＴＤＲ波形を拡大表示し、イベント一覧表内で閾値を越える情報及び閾値を越える情報を含むイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを強調表示した例を示している。図６の例では、作業者による操作部１０の操作により、波形拡大表示モードと閾値の強調表示モードを有効にすると、制御部１２の表示制御部１２ｃは、操作部１０からの操作情報に基づき、選択されたイベントＮｏ．３を中心としてＯＴＤＲ波形を拡大表示する。また同時に、イベント一覧表内で閾値を越える情報及び閾値を越える情報を含むイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを例えば赤色で強調表示する。図６の例では、イベント一覧表内で閾値（例えば損失：２．０ｄＢ以上、反射減衰量：−４５ｄＢ以下）を越える情報として、図中に斜線で示すイベントＮｏ．２の損失「７．０４」、イベントＮｏ．３の損失「遠端」、反射「＜２７．４」を強調表示している。また、閾値を越える情報を含むイベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂを強調表示している。この閾値を越える情報を含むイベントＮｏ．３に対応したサブウィンドウ１３ｂは、枠が太く、内容を示す文字のサイズが大きくなっている。

なお、図２〜図６の例では、ＯＴＤＲ波形上に３つのイベントが現れたものとして説明しているが、ＯＴＤＲ波形上に４つ以上のイベントが現れた場合には、図示のような限られた表示領域内でイベント一覧表を表示し、操作部１０の操作により、イベント一覧表をスクロール表示して任意のイベントを選択する構成とすることができる。

このように、本例の光パルス試験器では、表示部のメインウィンドウ１３ａへのＯＴＤＲ波形の表示とともに、ＯＴＤＲ波形上の各イベントとの関係が認識可能なように各イベントの内容を説明するための各イベント毎に独立したサブウィンドウ１３ｂをメインウィンドウ１３ａ上に表示する機能を備えている。これにより、イベント一覧表を見なくてもＯＴＤＲ波形上の各イベントの内容をサブウィンドウ１３ｂから容易に把握することができる。

また、操作部１０からの操作指示により、ＯＴＤＲ波形上の選択されたイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを表示する機能を備えている。これにより、ＯＴＤＲ波形上で作業者が知りたいイベントの内容をサブウィンドウ１３ｂから容易に認識することができる。

さらに、イベント発生位置における光ファイバ２１の損失レベルまたは戻り光レベルが予め設定された閾値を越えているか否かを判定し、閾値を越えているイベントに対応するサブウィンドウ１３ｂと、閾値を越えていないイベントに対応するサブウィンドウ１３ｂとを識別可能に表示する機能を備えている。これにより、ＯＴＤＲ波形上の異常箇所を容易に特定することができる。

また、イベント毎の測定結果をイベント一覧表として表形式で表示するとともに、閾値を越えていると判定したイベントをイベント一覧表において識別可能に表示する機能を備えている。これにより、ＯＴＤＲ波形上の各イベント毎のサブウィンドウ１３ｂの内容と合わせてＯＴＤＲ波形上の異常箇所やその具体的内容について容易に認識することができる。

さらに、ＯＴＤＲ波形上の複数のイベントと個々に対応する複数のサブウィンドウ１３ｂを表示しているときに、複数のサブウィンドウ１３ｂのうち一のサブウィンドウ１３ｂを他のサブウィンドウ１３ｂとは識別可能に強調表示するとともに、操作部１０からのサブウィンドウ１３ｂの切り替え指示により、強調表示するサブウィンドウ１３ｂを該一のサブウィンドウ１３ｂから他の一のサブウィンドウ１３ｂに切り替える機能を備えている。これにより、ＯＴＤＲ波形上の複数のサブウィンドウ１３ｂを表示している場合に、一つのみのサブウィンドウ１３ｂが強調表示されるので、現在選択されているイベントに対応したサブウィンドウ１３ｂを容易に認識することができる。

そして、サブウィンドウ１３ｂの強調表示は、作業者の操作による操作部１０からの切り替え指示により、（１）イベント発生位置における光ファイバ２１の損失レベルが小さい順または大きい順、（２）イベント発生位置の光ファイバ２１の一端からの距離が小さい順または大きい順、（３）イベントの種類順のいずれかの順序で適宜切り替えることができる。

ところで、上述した実施形態では、ＯＴＤＲ波形の表示とイベント一覧表の表示とをメインウィンドウ１３ａによる一画面上に表示するものとして説明したが、ＯＴＤＲ波形またはイベント一覧表の一方のみを選択的に表示する構成としても良い。この場合、操作部１０の操作によりＯＴＤＲ波形またはイベント一覧表の一方を表示させるための表示切替情報が制御部１２に入力される。そして、制御部１２の表示制御部１２ｃは、操作部１０からの表示切替情報に基づき、ＯＴＤＲ波形かイベント一覧表のどちらか一方を表示部１３のメインウィンドウ１３ａに表示するべく、表示部１３の表示を制御する。この構成によれば、表示部１３の表示画面を必要最小限に小さくして装置の小型化や軽量化を図ることができる。

本発明に係る光パルス試験器のブロック構成図である。 本発明に係る光パルス試験器の表示形態の一例を示す図である。 本発明に係る光パルス試験器の表示形態の他の一例を示す図である。 本発明に係る光パルス試験器の表示形態の他の一例を示す図である。 本発明に係る光パルス試験器の表示形態の他の一例を示す図である。 本発明に係る光パルス試験器の表示形態の他の一例を示す図である。 従来の光パルス試験器の表示形態の一例を示す図である。

符号の説明

１ 光パルス試験器
２ タイミング発生部
３ 駆動回路
４ 光源
５ 光方向性結合器
６ 受光器
７ Ａ／Ｄ変換部
８ 平均加算処理部
９ 対数変換部
１０ 操作部
１０ａ 閾値設定部
１０ｂ イベント選択部
１０ｃ ウィンドウ切替部
１１ 記憶部
１１ａ 波形メモリ
１２ 制御部
１２ａ データ書込／読出部
１２ｂ 閾値判定部
１２ｃ 表示制御部
１３ 表示部
１３ａ メインウィンドウ
１３ｂ サブウィンドウ
１３ｃ イベント一覧表
２１ 光ファイバ
２２ 接続端子

Claims (10)

1. 試験対象の光ファイバ（２１）への光パルスの入射に伴う該光ファイバからの反射戻り光のレベルに基づいて算出した前記光ファイバの損失分布特性をＯＴＤＲ波形として表示部（１３）に表示する光パルス試験器（１）において、
   前記表示部のメインウィンドウ（１３ａ）への前記ＯＴＤＲ波形の表示とともに、前記ＯＴＤＲ波形上に現れたイベントの内容を説明するための該イベント毎に独立したサブウィンドウ（１３ｂ）を、前記イベントと該イベントに対応した前記サブウィンドウとの関係が認識可能なように前記メインウィンドウ上に表示する機能を備えたことを特徴とする光パルス試験器。
2. 前記ＯＴＤＲ波形上の選択されたイベントに対応したサブウィンドウ（１３ｂ）を表示することを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験器。
3. イベント発生位置における光ファイバの損失レベルまたは戻り光レベルが予め定められた閾値を越えているか否かを判定する閾値判定部（１２ｂ）を備え、
   前記閾値を越えているイベントに対応するサブウィンドウを、前記閾値を越えていないイベントに対応するサブウィンドウとは識別可能に表示することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光パルス試験器。
4. 前記イベント毎の測定結果をイベント一覧表として表形式で表示するとともに、前記閾値判定部（１２ｂ）で閾値を越えていると判定したイベントの情報を前記イベント一覧表において識別可能に表示することを特徴とする請求項３に記載の光パルス試験器。
5. 前記ＯＴＤＲ波形上の複数のイベントと個々に対応する複数のサブウィンドウ（１３ｂ）を表示しているときに、該複数のサブウィンドウのうち一のサブウィンドウを他のサブウィンドウとは識別可能に強調表示するとともに、
   前記サブウィンドウの切り替え指示により、前記強調表示するサブウィンドウを該一のサブウィンドウから他の一のサブウィンドウに切り替えることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光パルス試験器。
6. 前記サブウィンドウ（１３ｂ）の強調表示の切り替えを、イベント発生位置における光ファイバの損失レベルが小さい順または大きい順に行うことを特徴とする請求項５に記載の光パルス試験器。
7. 前記サブウィンドウ（１３ｂ）の強調表示の切り替えを、イベント発生位置の光ファイバの一端からの距離が小さい順または大きい順に行うことを特徴とする請求項５に記載の光パルス試験器。
8. 前記サブウィンドウ（１３ｂ）の強調表示の切り替えを、イベントの種類順に行うことを特徴とする請求項５に記載の光パルス試験器。
9. 任意のイベントを選択するイベント選択部（１０ｂ）を備え、
   該イベント選択部で選択されたイベントに対応するＯＴＤＲ波形を拡大して前記メインウィンドウ（１３ａ）に表示することを特徴とする請求項１〜８のいずれかに記載の光パルス試験器。
10. 前記サブウィンドウ（１３ｂ）には、イベント発生位置における光ファイバの損失レベル、イベント発生位置からの反射戻り光のレベル、イベント発生位置の該光ファイバの一端からの距離、イベントの種類のうち少なくとも一つを表示することを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載の光パルス試験器。

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