WO2020044661A1 - 光パルス試験器、光伝送路の試験方法及び光伝送路の試験システム - Google Patents

光パルス試験器、光伝送路の試験方法及び光伝送路の試験システム Download PDF

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WO2020044661A1
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optical transmission
optical
timing
transmission line
threshold voltage
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PCT/JP2019/017705
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French (fr)
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悠平 松本
健史 小熊
和則 新谷
Original Assignee
日本電気株式会社
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    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Definitions

  • the present invention relates to an optical pulse tester, an optical transmission line test method, and an optical transmission line test system.
  • an optical pulse tester called OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) is used to detect breakage of an optical transmission line composed of an optical fiber or the like.
  • the optical pulse tester outputs an optical pulse, which is a monitoring light, to the optical transmission line, monitors the return time and intensity of backscattered light (so-called return light) from each part of the optical transmission line, and determines the break position.
  • the break position of the optical transmission line can be specified by detecting the timing at which the intensity of the return light decreases.
  • Patent Document 1 an OTDR waveform determination method capable of selecting not only a break in an optical transmission line but also an abnormal portion caused by a winding state of a fiber constituting the optical transmission line.
  • Patent Document 2 an optical pulse tester that automatically sets the pulse width of an optical pulse (monitoring light) output to an optical transmission line.
  • This optical pulse tester return light from an optical transmission line is converted into an analog electric signal, and is converted into a digital signal by an A / D converter. Then, the digital signal is processed by the data processing unit to detect a break position of the optical transmission line.
  • the general optical pulse tester as described above is used for specifying a break position when a break in the optical transmission line occurs.
  • the intensity of the return light is generally weak, and the influence of noise superimposed on the return light is large. Therefore, it is necessary to secure the detection accuracy by receiving and averaging the return light a plurality of times, and it takes time to detect the breakage. Therefore, in the above-described optical pulse test, it is difficult to operate the optical transmission line constantly, and to respond quickly to detect the occurrence of breakage in real time.
  • an analog signal output from an O / E conversion circuit that receives return light is converted into a digital signal by an A / D converter.
  • the A / D converter has a relatively large circuit scale and requires time for signal processing. Therefore, when returning light is detected for a certain period or when averaging as described above is performed, the A / D conversion processing is performed a plurality of times. As a result, the time required for break detection becomes long, and it is difficult to apply the method to constant monitoring of an optical transmission line.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to automatically detect a failure in an optical transmission line.
  • An optical pulse tester is a light source that outputs monitoring light, a light detection unit that detects return light from an optical transmission line, and outputs a detection signal indicating the intensity of the return light, An optical multiplexer / demultiplexer that outputs the monitoring light input from the light source to the optical transmission path, and outputs the return light input from the optical transmission path to the light detection unit, and a first threshold voltage for the detection signal.
  • a first comparator for comparing and outputting a first comparison signal indicating a comparison result, and detecting a first timing at which the first comparison signal transitions, wherein the first timing is earlier than a reference timing
  • a processing unit for detecting a failure of the optical transmission line in such a case.
  • An optical transmission line test method outputs monitoring light to an optical transmission line, detects return light from the optical transmission line, and outputs a detection signal indicating the intensity of the return light. Comparing the detection signal with a first threshold voltage, outputting a first comparison signal indicating a comparison result, detecting a first timing at which the first comparison signal transitions, and using the detected timing as a reference. If it is earlier than the timing, a fault in the optical transmission line is detected.
  • An optical transmission line test system includes a first optical transmission device that transmits and receives an optical signal, a second optical transmission device that transmits and receives an optical signal, the first transmission device, and the second transmission device. And an optical pulse tester connected to the first transmission device for testing the optical transmission line, wherein the optical pulse tester includes a monitoring light A light detection unit that detects return light from the optical transmission line and outputs a detection signal indicating the intensity of the return light, and outputs the monitoring light input from the light source to the optical transmission line.
  • an optical multiplexer / demultiplexer that outputs the return light input from the optical transmission line to the photodetector, compares the detection signal with a first threshold voltage, and outputs a first comparison signal indicating a comparison result.
  • a first comparator for detecting a first timing at which the first comparison signal transits Those having a processing unit for detecting failures in the optical transmission path when timings detected is earlier than the reference timing, the.
  • a failure in an optical transmission line can be automatically detected. be able to.
  • FIG. 4 is a diagram schematically illustrating a usage example of the optical pulse tester according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram schematically illustrating a configuration of an optical pulse tester according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating the configuration of the optical pulse tester according to the first embodiment in more detail.
  • 5 is a flowchart showing a break detection operation of the optical pulse tester according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating the intensity of return light detected by the optical pulse tester according to the first embodiment;
  • FIG. 6 is a diagram schematically illustrating a configuration of an optical pulse tester according to a second embodiment.
  • FIG. 9 is a diagram schematically illustrating a configuration of an optical pulse tester according to a third embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating the intensity of return light when the optical transmission path is deteriorated.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating the intensity of return light when an instantaneous interruption of an optical signal occurs and the intensity of return light when recovery from the instantaneous interruption of an optical signal occurs.
  • Embodiment 1 An optical pulse tester according to the first embodiment will be described.
  • the optical pulse tester is connected to, for example, one of two terminal stations connected by an optical transmission line, outputs monitoring light to the optical transmission line, and is configured to be able to detect return light thereof.
  • FIG. 1 schematically shows a usage example of the optical pulse tester 100 according to the first embodiment.
  • the terminal stations TS1 and TS2 and the monitoring control device 1001 constitute an optical communication network.
  • the optical pulse tester 100 is connected to the optical communication network 1000 to form an optical transmission line test system together with the optical communication network 1000.
  • the terminal station TS1 includes an optical transmission device TR1 (also referred to as a first optical transmission device) and an optical wavelength filter M1 configured to transmit and receive an optical signal.
  • the optical wavelength filter M1 is configured as a two-input one-output optical wavelength filter.
  • the optical transmission device TR1 is connected to one input (port P11) of the optical wavelength filter M1.
  • the optical pulse tester 100 is connected to the other input (port P12) of the optical wavelength filter M1.
  • the output (port P13) of the optical wavelength filter M1 is connected to the optical transmission line TL.
  • the terminal station TS2 includes an optical transmission device TR2 (also referred to as a second optical transmission device) and an optical wavelength filter M2 configured to transmit and receive optical signals.
  • the optical wavelength filter M2 is configured as a one-input two-output optical wavelength filter.
  • the input (port P21) of the optical wavelength filter M2 is connected to the optical transmission line TL.
  • the optical transmission device TR2 is connected to one output (port P22) of the optical wavelength filter M2. In FIG. 1, the other output (port P23) of the optical wavelength filter M2 is open, but various devices can be connected as needed.
  • the optical pulse tester 100 outputs the monitoring light ML to the optical transmission line TL through the optical wavelength filter M1, and detects the return light BL returned from the optical transmission line TL through the optical wavelength filter M1.
  • the optical pulse tester 100 is configured to detect breakage of the optical transmission line TL by detecting the intensity of the return light BL.
  • the optical pulse tester 100 can notify, for example, the monitoring control device 1001 of the detection result of the optical transmission line breakage. When the optical transmission line is broken, the monitoring control device 1001 may instruct one or both of the optical transmission devices TR1 and TR2 to stop transmission and reception of the optical signal.
  • FIG. 2 schematically illustrates a configuration of the optical pulse tester 100 according to the first embodiment.
  • FIG. 3 shows the configuration of the optical pulse tester 100 according to the first embodiment in more detail.
  • the optical pulse tester 100 includes a processing unit 1, a light source 2, an optical multiplexer / demultiplexer 3, a light detection unit 4, and a comparator 5.
  • the processing unit 1 is configured to be able to control the operation of the light source 2 by the control signal CON1. Further, the processing unit 1 is configured so that a threshold voltage Vth (also referred to as a first threshold voltage) applied to one input of the comparator 5 can be adjusted.
  • Vth also referred to as a first threshold voltage
  • the processing unit 1 includes an arithmetic unit 11, a pulse generator 12, a threshold voltage control unit 13, and a timer 14.
  • the arithmetic unit 11 is configured to monitor the comparison signal COMP output from the comparator 5 and to control the operations of the pulse generator 12, the threshold voltage control unit 13, and the timer 14.
  • the pulse generator 12 outputs a control signal CON1 to the light source 2 to output a pulse of the monitoring light ML.
  • the threshold voltage control unit 13 supplies the control signal CON2 to the threshold voltage generation unit 6 (also referred to as a first threshold voltage generation unit), thereby changing the value of the threshold voltage Vth output from the threshold voltage generation unit 6 to the comparator 5.
  • the timer 14 is configured to be able to measure timing.
  • the light source 2 is configured to be able to output pulse-like monitoring light ML.
  • the light source 2 includes a laser diode (LD) module 21 and a drive circuit 22.
  • the drive circuit 22 receives the control signal CON1 from the processing unit 1, and drives the LD module 21 according to the control signal CON1. Thereby, the LD module 21 outputs the pulse-like monitoring light ML according to the control signal CON1.
  • the optical multiplexer / demultiplexer 3 is configured as, for example, a directional coupling or an optical circulator, outputs monitoring light ML input from the light source 2 to the optical transmission line TL, and outputs return light BL input from the optical transmission line TL to the light detection unit 4.
  • Output to 2 and 3, the end TP of the optical transmission line TL is shown.
  • the terminal TP indicates the position of the terminal of the optical transmission line TL or the terminal at the connection destination of the optical transmission line TL.
  • the end of the port P23 which is the open end of the optical wavelength filter M2 of the terminal station TS2, corresponds to the terminal TP.
  • the photodetector 4 converts the return light BL input from the optical multiplexer / demultiplexer 3 into an analog electric signal.
  • the light receiving element 41 is, for example, a photodiode, and converts the return light BL into a current signal CB.
  • the amplifier 42 is configured as a current-voltage converter (transimpedance amplifier).
  • the amplifier 42 amplifies the current signal CB, converts the current signal CB into a detection signal VB which is a voltage signal, and outputs the detection signal VB to the comparator 5.
  • the amplifier 42 may be configured as various amplifiers such as a linear amplifier (linear amplifier) and a logarithmic amplifier (logarithmic amplifier).
  • the comparator 5 (also referred to as a first comparator) compares the detection signal VB output from the light detection unit 4 with the threshold voltage Vth, and a comparison signal COMP (also referred to as a first comparison signal) as a comparison result. Is output to the processing unit 1.
  • the threshold voltage Vth is generated by the threshold voltage generator 6 and provided to the comparator 5.
  • the threshold voltage Vth is input to the non-inverting input terminal of the comparator 5, and the detection signal VB is input to the inverting input terminal.
  • the detection signal VB is higher than the threshold voltage Vth (VB> Vth)
  • “0” is output as the comparison signal COMP.
  • the detection signal VB is smaller than the threshold voltage Vth (VB ⁇ Vth)
  • “1” is output as the comparison signal COMP. Therefore, the operation unit 11 can determine whether the intensity of the return light BL is larger or smaller than a desired value by monitoring the value of the comparison signal COMP.
  • the comparator 5 may be configured to output either “0” or “1” as necessary. .
  • FIG. 4 is a flowchart illustrating a break detection operation of the optical pulse tester 100 according to the first embodiment.
  • Step S1 the calculation unit 11 reads the reference timing Tth.
  • the reference timing Tth will be described later in detail.
  • the reference timing Tth may be given to the arithmetic unit 11 in advance, or may be given to the arithmetic unit 11 at an arbitrary timing as needed.
  • information indicating the reference timing Tth may be stored in a storage device (not shown) provided in the processing unit 1, and the arithmetic unit 11 may read information indicating the reference timing Tth from the storage device as needed.
  • Step S2 The arithmetic unit 11 instructs the pulse generator 12 to output the control signal CON1 to the light source 2 and starts monitoring the comparison signal COMP.
  • the pulse generator 12 outputs a control signal CON1 to the drive circuit 22 of the light source 2.
  • the drive circuit 22 drives the LD module 21 according to the control signal CON1, and the LD module 21 outputs the monitoring light ML to the optical transmission line TL.
  • Step S3 When the monitoring light ML is output to the optical transmission line TL, the return light BL enters the light receiving element 41 via the optical multiplexer / demultiplexer 3 due to back scattering in the optical transmission line TL.
  • the light receiving element 41 converts the return light BL into a current signal CB and outputs the current signal CB to the amplifier 42.
  • the current signal CB is converted to a detection signal VB by the amplifier 42, amplified, and output to the comparator 5.
  • the comparator 5 compares the detection signal VB output from the light detection unit 4 with a threshold voltage Vth.
  • the operation unit 11 monitors the comparison signal COMP, and, based on the timing at which the monitoring light ML is output, the timing at which the comparison signal COMP transitions from “0” (first value) to “1” (second value). TF (also referred to as first timing) is detected.
  • Step S4 The calculation unit 11 compares the detected timing TF with the reference timing Tth. Specifically, the calculation unit 11 determines whether the detected timing TF is earlier than the reference timing Tth.
  • FIG. 5 shows the intensity of the return light BL detected by the optical pulse tester 100 according to the first embodiment. As shown in FIG. 5, the intensity of the return light BL initially becomes maximum, and the intensity of the return light BL decreases as time elapses, that is, as the distance from the optical pulse tester 100 increases.
  • the reference timing Tth may be a timing at which the detection signal VB becomes smaller than the threshold voltage Vth (VB ⁇ Vth) at the end TP of the transmission line TL. That is, when there is no abnormality such as breakage in the transmission line TL, the timing T0 at which the detection signal VB of the return light BL becomes smaller than the threshold voltage Vth may be set as the reference timing Tth.
  • the intensity of the return light BL sharply decreases at the reference timing Tth.
  • the optical transmission line TL is broken, as shown in FIG. 5, the intensity of the return light BL sharply decreases at a timing TF earlier than the reference timing Tth. In this case, the optical transmission line TL is broken at a position corresponding to the timing TF.
  • the intensity of the return light BL (detection signal VB) when the optical transmission line TL is not broken is indicated by a broken line.
  • the detected timing TF is considered to ideally coincide with the above-mentioned timing T0.
  • the timing TF may be earlier or later than the timing T0 even when the optical transmission line TL is not broken. Therefore, a predetermined value ⁇ indicating the margin in consideration of the variation may be introduced, and a timing corresponding to a value (T0 ⁇ ) obtained by subtracting the margin ⁇ from the timing T0 may be set as the reference timing Tth.
  • the predetermined value ⁇ is an arbitrary value of 0 or more.
  • Step S5 As a result of the comparison, when the timing TF is earlier than the reference timing Tth (TF ⁇ Tth), the calculation unit 11 determines that the optical transmission line TL has been broken. If it is determined that the optical transmission line TL has been broken, the arithmetic unit 11 outputs an alarm to, for example, the monitoring control device 1001 shown in FIG.
  • a user that is, a human, observes a waveform indicating the time history of the intensity of return light to determine a break position. Since the intensity of the return light is relatively weak, the monitoring light is output multiple times, the change in the intensity of the return light is observed multiple times, and the observation results are averaged to obtain the waveform that the user uses to determine the break position. I was Therefore, it took a long time to detect breakage with a general optical pulse tester. Therefore, such a method of acquiring a waveform cannot be applied to an application that requires responsiveness, such as constantly monitoring an optical transmission line and detecting breakage in real time.
  • the comparator 5 simply compares the detection signal VB with the threshold voltage Vth and monitors the transition timing of the comparison signal COMP output from the comparator 5 according to the change in the intensity of the return light BL. This makes it possible to easily detect breakage of the optical transmission line. In addition, by repeatedly monitoring the output of the monitoring light and monitoring the return light, it is possible to constantly monitor the occurrence of breakage in the optical transmission line.
  • the reference timing Tth determination of the reference timing Tth.
  • the timing T0 is also unknown because the length of the optical transmission line TL is unknown. Therefore, the reference timing Tth has not been determined. Therefore, in order to perform break detection according to the present embodiment, it is necessary to determine the reference timing Tth.
  • a method of automatically determining the reference timing Tth by the optical pulse tester 100 will be described.
  • the optical pulse tester 100 outputs the optical transmission line TL monitoring light ML as in step S2 shown in FIG.
  • the arithmetic unit 11 monitors the comparison signal COMP and sets the timing at which the comparison signal COMP changes from “0” to “1” based on the timing at which the monitoring light ML is output. Is detected.
  • the calculation unit 11 can determine the detected timing T0 as the reference timing Tth.
  • the calculation unit 11 may hold the reference timing Tth, or may write information indicating the reference timing Tth into the above-described storage device and read information indicating the reference timing Tth as needed. Further, as described above, a timing earlier than the detected timing by a predetermined value ⁇ may be held as the reference timing Tth.
  • the optical pulse tester 100 can constantly monitor the optical transmission line TL as shown in FIG.
  • the intensity of the return light BL falls below the threshold voltage Vth at a timing earlier than the reference timing Tth, it can be understood that the position can be detected as a break position.
  • the intensity of the return light is generally weak because the return light is generated by backscattering in an optical transmission line having high transparency. Therefore, the influence of noise is large, and the signal-to-noise ratio (SN ratio) of the return light becomes small. Therefore, in order to accurately detect the fluctuation of the return light having a small SN ratio, it is desirable to configure the amplifier 42 as a logarithmic amplifier. This makes it possible to suitably detect a change in the intensity of the return light. Needless to say, the amplifier 42 may be configured as an amplifier other than the logarithmic amplifier, for example, a linear amplifier.
  • FIG. 6 schematically shows a configuration of an optical pulse tester 200 according to the second embodiment.
  • a 3 dB coupler is used as the optical multiplexer / demultiplexer 3. That is, as shown in FIG. 6, the optical pulse tester 200 has a configuration in which the optical multiplexer / demultiplexer 3 of the optical pulse tester 100 is replaced with a 3 dB coupler 7.
  • the optical pulse tester 100 has been described as having a configuration using an optical circulator or a directional coupler as an optical multiplexer / demultiplexer. In this case, since the optical circulator and the directional coupler are complicated components and relatively expensive parts, the manufacturing cost of the optical pulse tester 100 is increased.
  • a 3 dB coupler 7 having a simple configuration is used as an optical multiplexer / demultiplexer.
  • the cost of the optical multiplexer / demultiplexer can be reduced, so that the manufacturing cost of the optical pulse tester 100 can be reduced.
  • the return light BL returning from the optical transmission line TL is equally divided into two, and one is output to the light detection unit 4 and the other is output to the light source 2. Therefore, as shown in FIG. 6, it is desirable to provide an isolator 8 between the light source 2 and the 3 dB coupler 7 for blocking the return light BL output from the 3 dB coupler 7 as necessary.
  • the light source 2 or the LD module 21 may be provided with an isolator for blocking the return light BL.
  • the amplifier 42 As a logarithmic amplifier in order to detect a change in the intensity of the return light having a low intensity.
  • Embodiment 3 An optical transmission device according to the third embodiment will be described.
  • the optical pulse tester 100 according to the first embodiment an example in which one comparator is provided has been described.
  • the optical pulse tester according to the present embodiment has a configuration in which a plurality of comparators are provided.
  • FIG. 7 schematically shows a configuration of an optical pulse tester 300 according to the third embodiment.
  • the optical pulse tester 300 has two comparators.
  • One comparator 5A receives a threshold voltage VthA (also referred to as a first threshold voltage) from a threshold voltage generator 6A (also referred to as a first threshold voltage generator). .
  • the comparator 5A compares the threshold voltage VthA with the detection signal VB, and outputs a comparison signal COMP1 (also referred to as a first comparison signal) indicating a comparison result.
  • a threshold voltage VthB also referred to as a second threshold voltage
  • a threshold voltage generator 6B also referred to as a second threshold voltage generator
  • the comparator 5B compares the threshold voltage VthB with the detection signal VB, and outputs a comparison signal COMP2 (also referred to as a second comparison signal) indicating a result of the comparison.
  • COMP2 also referred to as a second comparison signal
  • the threshold voltage controller 13 can control the value of the threshold voltage VthA by outputting the control signal CON21 to the threshold voltage generator 6A.
  • the threshold voltage control unit 13 can control the value of the threshold voltage VthB by outputting the control signal CON22 to the threshold voltage generation unit 6B.
  • the other configuration of the optical pulse tester 300 is the same as that of the optical pulse tester 100 according to the first embodiment, and a description thereof will not be repeated.
  • the threshold voltage it is possible to determine the failure mode of the optical transmission line TL. For example, consider the case where the optical transmission line TL has deteriorated. In this case, although the optical transmission line TL is not broken, the intensity of the return light may be reduced at the position where the deterioration has occurred.
  • FIG. 8 shows the intensity of the return light BL when the optical transmission line TL is deteriorated.
  • the intensity of the return light BL decreases at a timing before the reference timing Tth.
  • the threshold voltage VthB is set to detect a change in the intensity of the return light BL when the optical transmission line TL is degraded
  • the threshold voltage VthA is set to the value of the return light BL when the optical transmission line TL is broken. It is set to detect a change in intensity.
  • the value of the detection signal VB corresponding to the intensity of the return light BL at the terminal TP of the optical transmission line TL is set as the value of the threshold voltage VthB.
  • the detection signal VB indicating the light intensity of the return light BL reduced at the timing TB is larger than the threshold voltage VthA and smaller than the threshold voltage VthB.
  • the comparison signal COMP2 changes from “0” to “1”, but the comparison signal COMP1 does not change.
  • the timing TB at which the comparison signal COMP2 transitions is also referred to as a second timing.
  • the arithmetic unit 11 detects that a failure other than breakage such as deterioration has occurred in the optical transmission line TL by detecting that there is a timing at which the comparison signal COMP2 transitions but the comparison signal COMP1 does not transition. Can be detected.
  • three or more comparators may be provided in the optical pulse tester as needed.
  • three or more threshold voltage generators are provided for giving a threshold voltage to each of the three or more comparators, and the processing unit 1 supplies a control signal to each of the threshold voltage generators.
  • a threshold voltage can be provided.
  • Embodiment 4 An optical transmission device according to a fourth embodiment will be described. Here, an operation of detecting a change in the length of the optical transmission line TL using the optical pulse tester 100 will be described.
  • the optical pulse tester 100 can automatically detect that the length of the optical transmission line TL has increased.
  • the optical pulse tester 100 resets the reference timing Tth and automatically determines the reference timing Tth as described in the first embodiment, thereby corresponding to the true length of the optical transmission line TL.
  • the reference timing Tth can be determined.
  • the reference timing Tth when the length of the optical transmission line TL changes, the reference timing Tth can be automatically reset.
  • Embodiment 5 An optical transmission device according to a fifth embodiment will be described.
  • an operation in which the optical pulse tester 100 detects an instantaneous interruption of an optical signal in the optical transmission line TL will be described.
  • an instantaneous interruption of an optical signal may occur due to, for example, a lightning strike.
  • the instantaneous interruption of the optical signal is detected by monitoring the intensity of the return light BL.
  • the optical pulse tester 100 continuously detects the timing TF in order to constantly monitor the optical transmission line TL.
  • FIG. 9 shows the intensity of the return light BL when the instantaneous interruption of the optical signal has occurred and the intensity of the return light BL when the optical signal has recovered from the instantaneous interruption of the optical signal.
  • the optical pulse tester 100 increases the value of the timing TF to be the same as the reference timing Tth or the reference timing Tth.
  • Tth T0 ⁇
  • the optical pulse tester 100 may notify the supervisory control device 1001 or the like that the instantaneous interruption of the optical signal has occurred.
  • the optical pulse tester 100 may also notify that the instantaneous interruption of the optical signal has already been eliminated.
  • the threshold voltage Vth for detecting disconnection is used.
  • a threshold voltage VthC also referred to as a second threshold voltage
  • a slight instantaneous interruption of the optical signal may be detected.
  • the value of the detection signal VB corresponding to the intensity of the return light BL at the end TP of the optical transmission line TL may be set as the value of the threshold voltage VthC.
  • occurrence of an instantaneous interruption of an optical signal can be detected separately from breakage or deterioration of the optical transmission line TL.
  • the user or the like who is notified of the occurrence of the instantaneous interruption can recognize that the phenomenon is a temporary phenomenon that does not require maintenance work, unlike the breakage or deterioration of the optical transmission line TL.
  • Embodiments The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately changed without departing from the gist.
  • the configurations of the processing unit, the light source, and the light detection unit according to the above-described embodiment are merely examples, and other configurations may be appropriately used.
  • a light source that outputs monitoring light
  • a light detection unit that detects return light from an optical transmission line and outputs a detection signal indicating the intensity of the return light, and outputs the monitoring light input from the light source to the light source.
  • An optical multiplexer / demultiplexer that outputs the optical signal to the optical transmission path and outputs the return light input from the optical transmission path to the photodetector; and compares the detection signal with a first threshold voltage.
  • a first comparator which outputs a comparison signal of the first comparison signal, and a first timing at which the first comparison signal transitions, and detects a failure of the optical transmission line when the first timing is earlier than a reference timing.
  • An optical pulse tester having a processing unit for detecting.
  • the apparatus further includes a first threshold voltage generation unit that supplies the first threshold voltage to the first comparator, and the processing unit controls the first threshold voltage generation unit,
  • the optical pulse tester according to any one of supplementary notes 1 to 4, wherein the optical pulse tester controls the value of the first threshold voltage.
  • Supplementary note 6 The light according to any one of Supplementary notes 1 to 5, wherein the light detection unit includes a light receiving element that receives the return light and converts the returned light into an electric signal, and an amplifier that amplifies the electric signal. Pulse tester.
  • the apparatus further includes a second comparator that compares the detection signal with a second threshold voltage and outputs a second comparison signal indicating a comparison result, wherein the processing unit includes the second comparison signal.
  • the optical pulse test according to claim 1 further comprising: detecting a second timing at which a transition occurs, and detecting a failure in the optical transmission path when the second timing is earlier than a reference timing. vessel.
  • the second threshold voltage is higher than the first threshold voltage, and the processing unit determines that the second comparison signal transits at the second timing and the first comparison signal 11.
  • the processing unit detects that the optical transmission path has deteriorated when the second comparison signal transitions at the second timing and the first comparison signal does not transition,
  • the optical pulse tester according to supplementary note 11.
  • the processing unit may be configured to cause the second comparison signal to transition from a first value to a second value without transition of the first comparison signal at the second timing.
  • the apparatus further includes a second threshold voltage generation unit that supplies the second threshold voltage to the second comparator, and the processing unit controls the second threshold voltage generation unit, 15.
  • the optical pulse tester according to any one of supplementary notes 10 to 14, wherein the value of the second threshold voltage is controlled.
  • the processing unit may be configured to cause the first comparison signal to transition from a first value to a second value, and then change the first comparison signal from the second value to the first value.
  • the optical pulse tester according to any one of appendixes 1 to 9, wherein when the transition occurs, an instantaneous interruption of an optical signal transmitted through the optical transmission path is detected.
  • a light detection unit that detects return light from the transmission path and outputs a detection signal indicating the intensity of the return light; outputs the monitoring light input from the light source to the optical transmission path;
  • An optical multiplexer / demultiplexer that outputs the return light to the photodetector, a first comparator that compares the detection signal with a first threshold voltage, and outputs a first comparison signal indicating a comparison result;
  • a first timing at which the first comparison signal transitions is detected, and the first timing is determined based on the first timing.

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Abstract

光伝送路の障害を自動的に検出する。光源（２）は、監視光（ＭＬ）を出力する。光検出部（４）は、光伝送路（ＴＬ）からの戻り光（ＢＬ）を検出し、戻り光（ＢＬ）の強度を示す検出信号（ＶＢ）を出力する。光合分波器（３）は、光源（２）から入力する監視光（ＭＬ）を光伝送路（ＴＬ）へ出力し、光伝送路（ＴＬ）から入力する戻り光（ＢＬ）を光検出部（４）へ出力する。比較器（５）は、検出信号（ＶＢ）を閾値電圧（Ｖｔｈ）と比較し、比較結果を示す比較信号（ＣＯＭＰ）を出力する。処理部（１）は、比較信号（ＣＯＭＰ）が遷移する第１のタイミングを検出し、第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に光伝送路（ＴＬ）の障害を検出する。

Description

光パルス試験器、光伝送路の試験方法及び光伝送路の試験システム
　本発明は、光パルス試験器、光伝送路の試験方法及び光伝送路の試験システムに関する。
　光ファイバなどで構成される光伝送路の破断を検出するため、一般に、ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）と呼ばれる光パルス試験器が用いられる。光パルス試験器は、監視光である光パルスを光伝送路へ出力し、光伝送路の各部位からの後方散乱光（いわゆる戻り光）の戻り時間と強度とを監視して、破断位置を検出する。破断位置以降からは戻り光が返ってこないので、戻り光の強度が低下するタイミングを検出することで、光伝送路の破断位置を特定することができる。
　例えば、光伝送路の破断だけでなく、光伝送路を構成するファイバの巻き状態に起因する異常部を選別可能な、ＯＴＤＲ波形判定方法が提案されている（特許文献１）。
　また、光伝送路へ出力する光パルス（監視光）のパルス幅を自動的に設定する光パルス試験器が提案されている（特許文献２）。この光パルス試験器では、光伝送路からの戻り光をアナログ電気信号に変換し、Ａ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換している。そして、デジタル信号をデータ処理部で処理することによって、光伝送路の破断位置を検出する。
　さらに、光パルス試験器（試験装置）に、光伝送路によって終端装置及びスプリッタが多段に接続されている場合でも、障害が発生した光伝送路を特定することができる光線路監視装置が提案されている（特許文献３）。
特開２０１１－３８７８５号公報 特開平６－１６７４１７号公報 国際公開第２００７／８８９７６号
　上記したような一般的な光パルス試験器は、光伝送路の破断が発生したときの破断位置の特定に用いられる。上記のような光パルス試験器では、一般に、戻り光の強度が弱く、戻り光に重畳しているノイズの影響が大きい。よって、戻り光を複数回受け取って平均化することで検出精度を確保する必要があるため、破断検出には時間を要する。そのため、上記の光パルス試験は、光伝送路を常時監視し、破断の発生をリアルタイムで検出するような即応性のある運用は困難であった。
　例えば、特許文献２では、戻り光を受けるＯ／Ｅ変換回路が出力するアナログ信号をＡ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換している。Ａ／Ｄ変換器は比較的回路規模が大きく、信号処理に時間を要する。そのため、一定の期間戻り光を検出したり、上記のような平均化を行う場合には、Ａ／Ｄ変換処理を複数回行うこととなる。その結果、破断検出に要する時間が長くなってしまい、光伝送路の常時監視に適用することは困難である。
　本発明は、上記の事情に鑑みて成されたものであり、光伝送路の障害を自動的に検出することを目的とする。
　本発明の一態様である光パルス試験器は、監視光を出力する光源と、光伝送路からの戻り光を検出し、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力する光検出部と、前記光源から入力する前記監視光を前記光伝送路へ出力し、前記光伝送路から入力する前記戻り光を前記光検出部へ出力する光合分波器と、前記検出信号を第１の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第１の比較信号を出力する第１の比較器と、前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、前記第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に前記光伝送路の障害を検出する処理部と、を有するものである。
　本発明の一態様である光伝送路の試験方法は、光伝送路へ監視光を出力し、前記光伝送路からの戻り光を検出して、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力し、前記検出信号を第１の閾値電圧と比較して、比較結果を示す第１の比較信号を出力し、前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、検出したタイミングが基準タイミングよりも早い場合に、前記光伝送路の障害を検出するものである。
　本発明の一態様である光伝送路の試験システムは、光信号を送受信する第１の光伝送装置と、光信号を送受信する第２の光伝送装置と、前記第１の伝送装置と前記第２の伝送装置とを接続する光伝送路と、前記第１の伝送装置に接続され、前記光伝送路の試験を行う光パルス試験器と、を有し、前記光パルス試験器は、監視光を出力する光源と、前記光伝送路からの戻り光を検出し、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力する光検出部と、前記光源から入力する前記監視光を前記光伝送路へ出力し、前記光伝送路から入力する前記戻り光を前記光検出部へ出力する光合分波器と、前記検出信号を第１の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第１の比較信号を出力する第１の比較器と、前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、検出したタイミングが基準タイミングよりも早い場合に前記光伝送路の障害を検出する処理部と、を有するものである。
　本発明によれば、光伝送路の障害を自動的に検出することができる。
ことができる。
実施の形態１にかかる光パルス試験器の使用例を模式的に示す図である。 実施の形態１にかかる光パルス試験器の構成を模式的に示す図である。 実施の形態１にかかる光パルス試験器の構成をより詳細に示す図である。 実施の形態１にかかる光パルス試験器の破断検出動作を示すフローチャートである。 実施の形態１にかかる光パルス試験器が検出する戻り光の強度を示す図である。 実施の形態２にかかる光パルス試験器の構成を模式的に示す図である。 実施の形態３にかかる光パルス試験器の構成を模式的に示す図である。 光伝送路に劣化が生じた場合の戻り光の強度を示す図である。 光信号の瞬断が発生したときの戻り光の強度と、光信号の瞬断から回復したときの戻り光の強度と、を示す図である。
　以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。各図面においては、同一要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略される。
　実施の形態１
　実施の形態１にかかる光パルス試験器について説明する。光パルス試験器は、例えば、光伝送路で接続された２つの端局の一方に接続され、光伝送路に監視光を出力し、その戻り光を検出可能に構成される。図１に、実施の形態１にかかる光パルス試験器１００の使用例を模式的に示す。ここでは、端局ＴＳ１と端局ＴＳ２とを接続する光伝送路ＴＬの破断を検出する例について説明する。端局ＴＳ１及び端局ＴＳ２と監視制御装置１００１とは、光通信ネットワークを構成している。光パルス試験器１００は、光通信ネットワーク１０００と接続されることで、光通信ネットワーク１０００と共に光伝送路の試験システムを構成する。
　端局ＴＳ１は、光信号の送受信が可能に構成された光伝送装置ＴＲ１（第１の光伝送装置とも称する）と光波長フィルタＭ１とを有する。光波長フィルタＭ１は、２入力１出力の光波長フィルタとして構成される。光伝送装置ＴＲ１は、光波長フィルタＭ１の一方の入力（ポートＰ１１）に接続される。光パルス試験器１００は、光波長フィルタＭ１の他方の入力（ポートＰ１２）に接続される。光波長フィルタＭ１の出力（ポートＰ１３）は、光伝送路ＴＬと接続される。
　端局ＴＳ２は、光信号の送受信が可能に構成された光伝送装置ＴＲ２（第２の光伝送装置とも称する）と光波長フィルタＭ２とを有する。光波長フィルタＭ２は、１入力２出力の光波長フィルタとして構成される。光波長フィルタＭ２の入力（ポートＰ２１）は、光伝送路ＴＬと接続される。光伝送装置ＴＲ２は、光波長フィルタＭ２の一方の出力（ポートＰ２２）に接続される。図１では、光波長フィルタＭ２の他方の出力（ポートＰ２３）は開放されているが、必要に応じて各種の装置が接続可能である。
　光パルス試験器１００は、光波長フィルタＭ１を通じて監視光ＭＬを光伝送路ＴＬへ出力し、光波長フィルタＭ１を通じて光伝送路ＴＬから返ってきた戻り光ＢＬを検出する。光パルス試験器１００は、戻り光ＢＬの強度を検出することで、光伝送路ＴＬの破断を検出するように構成される。光パルス試験器１００は、光伝送路の破断検出結果を、例えば監視制御装置１００１へ通知することができる。監視制御装置１００１は、光伝送路の破断が発生した場合には、光信号の送信及び受信の停止を、光伝送装置ＴＲ１及びＴＲ２の一方又は両方に指示してもよい。
　次に、光パルス試験器１００について具体的に説明する。図２に、実施の形態１にかかる光パルス試験器１００の構成を模式的に示す。図３に、実施の形態１にかかる光パルス試験器１００の構成をより詳細に示す。光パルス試験器１００は、処理部１、光源２、光合分波器３、光検出部４及び比較器５を有する。
　処理部１は、制御信号ＣＯＮ１により、光源２の動作を制御可能に構成される。また、処理部１は、比較器５の一方の入力に与える閾値電圧Ｖｔｈ（第１の閾値電圧とも称する）を調整可能に構成される。
　処理部１の構成について説明する。処理部１は、演算部１１、パルス発生器１２、閾値電圧制御部１３及びタイマ１４を有する。演算部１１は、比較器５が出力する比較信号ＣＯＭＰを監視するとともに、パルス発生器１２、閾値電圧制御部１３及びタイマ１４の動作を制御可能に構成される。
　パルス発生器１２は、監視光ＭＬのパルスを出力させるため、光源２に制御信号ＣＯＮ１を出力する。閾値電圧制御部１３は、閾値電圧生成部６（第１の閾値電圧生成部とも称する）に制御信号ＣＯＮ２を与えることで、閾値電圧生成部６が比較器５に出力する閾値電圧Ｖｔｈの値を制御する。タイマ１４は、タイミングを計測可能に構成される。演算部１１は、タイマ１４が出力するタイミングの情報と比較器５が出力する比較信号ＣＯＭＰの値とを結びつけ、監視光ＭＬが出力されたタイミングを基準（タイミングＴ＝０）として、比較信号ＣＯＭＰが遷移するタイミング（Ｔ＝ＴＦ＞０）を検出することができる。
　光源２は、パルス状の監視光ＭＬを出力可能に構成される。光源２は、レーザダイオード（ＬＤ：Laser Diode）モジュール２１及び駆動回路２２を有する。駆動回路２２は、処理部１から制御信号ＣＯＮ１を受け取り、制御信号ＣＯＮ１に応じて、ＬＤモジュール２１を駆動する。これにより、ＬＤモジュール２１は、制御信号ＣＯＮ１に応じたパルス状の監視光ＭＬを出力する。
　光合分波器３は、例えば方向性結合又は光サーキュレータとして構成され、光源２から入力する監視光ＭＬを光伝送路ＴＬへ出力し、光伝送路ＴＬから入力する戻り光ＢＬを光検出部４へ出力する。図２及び３では、光伝送路ＴＬの終端ＴＰを表示している。終端ＴＰは光伝送路ＴＬの終端又は光伝送路ＴＬの接続先における終端の位置を示すものである。図１においては、端局ＴＳ２の光波長フィルタＭ２の開放端であるポートＰ２３の端部が終端ＴＰに対応する。
　光検出部４は、光合分波器３から入力する戻り光ＢＬをアナログ電気信号に変換する。具体的には、受光素子４１は、例えばフォトダイオードであり、戻り光ＢＬを電流信号ＣＢに変換する。この場合、増幅器４２は、電流電圧変換器（トランスインピーダンスアンプ）として構成される。増幅器４２は、電流信号ＣＢを増幅するとともに電圧信号である検出信号ＶＢに変換し、比較器５へ出力する。なお、増幅器４２は、線形増幅器（リニアアンプ）や対数増幅器（対数アンプ）などの、各種の増幅器として構成してもよい。
　比較器５（第１の比較器とも称する）は、光検出部４から出力された検出信号ＶＢと閾値電圧Ｖｔｈとを比較し、比較結果である比較信号ＣＯＭＰ（第１の比較信号とも称する）を、処理部１へ出力する。上記したように、閾値電圧Ｖｔｈは、閾値電圧生成部６で生成され、比較器５へ与えられる。
　図２及び３では、比較器５の非反転入力端子に閾値電圧Ｖｔｈが入力され、反転入力端子に検出信号ＶＢが入力されている。この場合、検出信号ＶＢが閾値電圧Ｖｔｈよりも大きい場合（ＶＢ＞Ｖｔｈ）には、「０」が比較信号ＣＯＭＰとして出力される。検出信号ＶＢが閾値電圧Ｖｔｈよりも小さい場合（ＶＢ＜Ｖｔｈ）には、「１」が比較信号ＣＯＭＰとして出力される。よって、演算部１１は、比較信号ＣＯＭＰの値を監視することで、戻り光ＢＬの強度が所望の値よりも大きいか小さいかを判定することができる。なお、検出信号ＶＢと閾値電圧Ｖｔｈとが等しい場合（ＶＢ＝Ｖｔｈ）については、比較器５は、必要に応じて「０」及び「１」のいずれかを出力するように構成してもよい。
　次いで、光パルス試験器１００の動作について説明する。図４は、実施の形態１にかかる光パルス試験器１００の破断検出動作を示すフローチャートである。
ステップＳ１
　まず、演算部１１は、基準タイミングＴｔｈを読み込む。基準タイミングＴｔｈについては、後に詳述する。基準タイミングＴｔｈは、演算部１１に予め与えられてもよいし、必要に応じて任意のタイミングで演算部１１に与えてもよい。例えば、処理部１に設けられた記憶装置（不図示）に基準タイミングＴｔｈを示す情報が格納され、演算部１１が必要に応じて記憶装置から基準タイミングＴｔｈを示す情報を読み出してもよい。
ステップＳ２
　演算部１１は、パルス発生器１２に対して、光源２への制御信号ＣＯＮ１の出力を指令するとともに、比較信号ＣＯＭＰの監視を開始する。パルス発生器１２は、光源２の駆動回路２２へ制御信号ＣＯＮ１を出力する。これにより、駆動回路２２は制御信号ＣＯＮ１に応じてＬＤモジュール２１を駆動し、ＬＤモジュール２１から光伝送路ＴＬへ監視光ＭＬが出力される。
ステップＳ３
　監視光ＭＬを光伝送路ＴＬへ出力すると、光伝送路ＴＬでの後方散乱によって、戻り光ＢＬが光合分波器３を経て受光素子４１に入射する。受光素子４１は、戻り光ＢＬを電流信号ＣＢに変換し、増幅器４２へ出力する。電流信号ＣＢは、増幅器４２で検出信号ＶＢに変換されて増幅され、比較器５へ出力される。比較器５は、光検出部４から出力された検出信号ＶＢと閾値電圧Ｖｔｈとを比較する。演算部１１は、比較信号ＣＯＭＰを監視し、監視光ＭＬを出力したタイミングを基準として、比較信号ＣＯＭＰが「０」（第１の値）から「１」（第２の値）に遷移するタイミングＴＦ（第１のタイミングとも称する）を検出する。
ステップＳ４
　演算部１１は、検出したタイミングＴＦと基準タイミングＴｔｈとを比較する。具体的には、演算部１１は、検出したタイミングＴＦが基準タイミングＴｔｈよりも早いかを判断する。図５に、実施の形態１にかかる光パルス試験器１００が検出する戻り光ＢＬの強度を示す。図５に示すように、戻り光ＢＬは初めに強度が最大となり、時間が経過するにしたがって、すなわち光パルス試験器１００から離れるにしたがって、戻り光ＢＬの強度は低下してゆく。
　ここで、基準タイミングＴｔｈについて説明する。基準タイミングＴｔｈは、伝送路ＴＬの終端ＴＰにおいて検出信号ＶＢが閾値電圧Ｖｔｈよりも小さく（ＶＢ＜Ｖｔｈ）なるタイミングとしてもよい。すなわち、伝送路ＴＬに破断等の異常がない場合に、戻り光ＢＬの検出信号ＶＢが閾値電圧Ｖｔｈよりも小さくなるタイミングＴ０を、基準タイミングＴｔｈとしてもよい。
　この場合、光伝送路ＴＬが破断していない場合には、戻り光ＢＬの強度は基準タイミングＴｔｈにて急激に低下する。これに対し、光伝送路ＴＬが破断している場合には、図５に示すように、基準タイミングＴｔｈよりも早いタイミングＴＦで戻り光ＢＬの強度が急激に低下する。この場合、タイミングＴＦに対応する位置にて、光伝送路ＴＬが破断していることとなる。なお、図５では、光伝送路ＴＬが破断していない場合の戻り光ＢＬの強度（検出信号ＶＢ）を破線で示している。
　光伝送路ＴＬが破断していない場合には、検出したタイミングＴＦは、理想的には上述のタイミングＴ０と一致すると考えられる。しかし実際には、タイミングＴＦの検出にはばらつきが生じるため、光伝送路ＴＬが破断していない場合でもタイミングＴＦはタイミングＴ０よりも先又は後になることが考え得る。そこで、ばらつきを考慮したマージンを示す所定の値αを導入して、タイミングＴ０からマージンαを減じた値（Ｔ０－α）に対応するタイミングを基準タイミングＴｔｈとしてもよい。所定の値αは、０以上の任意の値である。なお、αが０の場合（α＝０）には、基準タイミングＴｔｈは、タイミングＴ０に一致することとなる。これにより、タイミングＴＦが、タイミングＴ０からマージンαを減じた値（Ｔ０－α）である基準タイミングＴｔｈよりも早い場合には、光伝送路ＴＬが破断したものと確実に判断することができる。
　比較の結果、タイミングＴＦが基準タイミングＴｔｈよりも遅い場合（ＴＦ＞Ｔｔｈ）には、演算部１１は、光伝送路ＴＬは破断していないと判断し、光伝送路ＴＬを常時監視するために処理をステップＳ１に戻す。なお、タイミングＴＦが基準タイミングＴｔｈと等しい場合（ＴＦ＝Ｔｔｈ）には、必要に応じて、ステップＳ１及びＳ５のいずれに処理を進めてもよい。
ステップＳ５
　比較の結果、タイミングＴＦが基準タイミングＴｔｈよりも早い場合（ＴＦ＜Ｔｔｈ）には、演算部１１は、光伝送路ＴＬが破断したものと判断する。光伝送路ＴＬが破断したものと判断した場合には、演算部１１は、例えば図１に示す監視制御装置１００１に警報を出力する。
　これにより、監視制御装置１００１が警報を受け取ったことをユーザ等に通知することができる。したがって、本構成によれば、光伝送路を常時監視し、光伝送路に破断が発生した場合に自動的に破断発生を検出することができる光パルス試験器を実現することができる。
　一般的な光パルス試験器では、ユーザ、すなわち人間が戻り光強度の時間履歴を示す波形を観察して破断位置を判断していた。戻り光の強度は比較的弱いため、監視光を複数回出力して戻り光の強度変化を複数回観測し、観測結果を平均化することで、ユーザが破断位置の判断に用いる波形を取得していた。よって、一般的な光パルス試験器での破断検出には、長時間が必要であった。そのため、こうした波形取得を行う手法は、光伝送路を常時監視してリアルタイムに破断検出を行うような、即応性が求められる用途に適用することができない。
　これに対し、本構成では、比較器５が検出信号ＶＢを閾値電圧Ｖｔｈと単純に比較して戻り光ＢＬの強度変化に応じて比較器５が出力する比較信号ＣＯＭＰが遷移するタイミングを監視することで、光伝送路の破断を容易に検出することができる。また、監視光の出力と戻り光の監視を繰り返すことで、光伝送路での破断発生の有無を常時監視することが可能となる。
　次いで、基準タイミングＴｔｈの決定について説明する。例えば、光パルス試験器１００を初めて光伝送路ＴＬに接続する場合や、光伝送路ＴＬを交換した場合などでは、光伝送路ＴＬの長さが不明であるため、タイミングＴ０も不明である。よって、基準タイミングＴｔｈは決定されていない。そのため、本実施の形態にかかる破断検出を行うには、基準タイミングＴｔｈを決定する必要がある。ここでは、光パルス試験器１００によって、自動的に基準タイミングＴｔｈを決定する方法について説明する。
　まず、光パルス試験器１００は、図４に示すステップＳ２と同様に、光伝送路ＴＬ監視光ＭＬを出力する。
　次いで、図４に示すステップＳ３と同様に、演算部１１は、比較信号ＣＯＭＰを監視し、監視光ＭＬを出力したタイミングを基準として、比較信号ＣＯＭＰが「０」から「１」に遷移するタイミングを検出する。この場合、光伝送路ＴＬが破断していないことを前提として、戻り光ＢＬの強度は光伝送路ＴＬの終端ＴＰに対応するタイミングで急激に低下する。よって、演算部１１は、検出したタイミングＴ０を基準タイミングＴｔｈと決定することができる。演算部１１は、基準タイミングＴｔｈを保持してもよいし、上記した記憶装置などに基準タイミングＴｔｈを示す情報を書き込み、必要に応じて基準タイミングＴｔｈを示す情報を読み出してもよい。また、上述したように、検出したタイミングから所定の値αだけ早いタイミングを基準タイミングＴｔｈとして保持してもよい。
　これにより、光パルス試験器１００は、図４に示すように、光伝送路ＴＬを常時監視することができる。基準タイミングＴｔｈよりも早いタイミングで戻り光ＢＬの強度が閾値電圧Ｖｔｈよりも低下した場合には、その位置を破断位置として検出できることが理解できる。
　上述したように、一般的な光パルス試験器のようにＡ／Ｄ変換器を用いて信号を処理する場合、Ａ／Ｄ変換処理は比較器での比較処理と比べて時間を要する。これに対し、本構成によれば、Ａ／Ｄ変換器を用いる必要がないので、光伝送路の常時監視に適用する上で、有利である。
　光パルス試験器では、戻り光は透過性が高い光伝送路での後方散乱によって生じるものであるため、戻り光の強度は弱いことが一般的である。そのため、雑音の影響が大きく、戻り光の信号雑音比（ＳＮ比）は小さくなる。そこで、ＳＮ比が小さな戻り光の変動を精度よく検出するには、増幅器４２を対数増幅器として構成することが望ましい。これにより、戻り光の強度変化を好適に検出することが可能となる。なお、増幅器４２を対数増幅器以外の増幅器、例えば線形増幅器として構成してもよいことは、言うまでもない。
　実施の形態２
　実施の形態２にかかる光伝送装置について説明する。図６に、実施の形態２にかかる光パルス試験器２００の構成を模式的に示す。光パルス試験器２００では、光合分波器３として３ｄＢカプラが用いられている。すなわち、図６に示すように、光パルス試験器２００は、光パルス試験器１００の光合分波器３を３ｄＢカプラ７に置換した構成を有する。
　実施の形態１にかかる光パルス試験器１００は、光合分波器として光サーキュレータや方向性結合器を用いる構成を有するものとして説明した。この場合、光サーキュレータ及び方向性結合器は、構成が複雑で比較的高価な部品であるため、光パルス試験器１００の製造コストの増加を招く。
　これに対し、本実施の形態にかかる光パルス試験器２００では、光合分波器として、簡易な構成を有する３ｄＢカプラ７を用いている。これにより光合分波器のコストを削減できるので、光パルス試験器１００の製造コストを低減することができる。
　３ｄＢカプラ７を用いる場合、光伝送路ＴＬから返ってくる戻り光ＢＬは均等に２分割され、一方は光検出部４に出力され、他方は光源２へ出力されることとなる。よって、図６に示すように、光源２と３ｄＢカプラ７との間に、３ｄＢカプラ７から出力された戻り光ＢＬを遮断するアイソレータ８を必要に応じて設けることが望ましい。なお、光源２又はＬＤモジュール２１に、戻り光ＢＬを遮断するアイソレータが設けられていてもよい。
　また、３ｄＢカプラ７を用いる場合、光検出部４には２分割された戻り光の一方が入力する。そのため、光検出部４に入力する戻り光の強度は、光パルス試験器１００と比べて低下する。したがって、上記したように、強度が弱い戻り光の強度変化を検出するため、増幅器４２を対数増幅器として構成することがより望ましい。
　実施の形態３
　実施の形態３にかかる光伝送装置について説明する。実施の形態１にかかる光パルス試験器１００では、比較器が１つ設けられる例について説明した。これに対し、本実施の形態にかかる光パルス試験器は、複数の比較器が設けられる構成を有する。図７に、実施の形態３にかかる光パルス試験器３００の構成を模式的に示す。
　図７に示すように、光パルス試験器３００は、２つの比較器を有する。一方の比較器５Ａ（第１の比較器とも称する）には、閾値電圧生成部６Ａ（第１の閾値電圧生成部とも称する）から閾値電圧ＶｔｈＡ（第１の閾値電圧とも称する）が入力される。比較器５Ａは、閾値電圧ＶｔｈＡと検出信号ＶＢとを比較し、比較結果を示す比較信号ＣＯＭＰ１（第１の比較信号とも称する）を出力する。他方の比較器５Ｂ（第２の比較器とも称する）には、閾値電圧生成部６Ｂ（第２の閾値電圧生成部とも称する）から閾値電圧ＶｔｈＢ（第２の閾値電圧とも称する）が入力される。比較器５Ｂは、閾値電圧ＶｔｈＢと検出信号ＶＢとを比較し、比較結果を示す比較信号ＣＯＭＰ２（第２の比較信号とも称する）を出力する。
　閾値電圧制御部１３は、制御信号ＣＯＮ２１を閾値電圧生成部６Ａに出力することで、閾値電圧ＶｔｈＡの値を制御することができる。また、閾値電圧制御部１３は、制御信号ＣＯＮ２２を閾値電圧生成部６Ｂに出力することで、閾値電圧ＶｔｈＢの値を制御することができる。
　光パルス試験器３００のその他の構成は、実施の形態１にかかる光パルス試験器１００と同様であるので、説明を省略する。
　本構成では、２つの比較器を設けることで、２つの閾値電圧を検出信号ＶＢと比較することができる。これにより、以下で説明する破断検出が可能となる。
　例えば、光伝送路ＴＬの破断位置を高精度に検出する場合、上述したように、破断検出を複数回行って平均化を行うことが考え得る。この場合、本構成のように比較器を複数設けることで、破断検出の回数を減らすことが可能となる。
　また、監視光として異なる波長の光を用いる場合、本構成によれば、波長毎に適切な閾値電圧を設定することが可能である。
　さらに、閾値電圧を適切に設定することで、光伝送路ＴＬの故障モードの判別を行うことも可能である。例えば、光伝送路ＴＬに劣化が生じた場合について検討する。この場合、光伝送路ＴＬは破断しているわけではないものの、劣化が生じた位置で戻り光の強度が低下することが考え得る。
　図８に、光伝送路ＴＬに劣化が生じた場合の戻り光ＢＬの強度を示す。図８に示すように、光伝送路ＴＬの劣化の影響により、戻り光ＢＬの強度が基準タイミングＴｔｈよりも前のタイミングで低下している。この例では、閾値電圧ＶｔｈＢは光伝送路ＴＬの劣化が生じたときの戻り光ＢＬの強度変化を検出するように設定され、閾値電圧ＶｔｈＡは光伝送路ＴＬが破断したときの戻り光ＢＬの強度変化を検出するように設定される。ここでは、光伝送路ＴＬの終端ＴＰにおける戻り光ＢＬの強度に対応する検出信号ＶＢの値を、閾値電圧ＶｔｈＢの値として設定する。図８では、タイミングＴＢで低下した戻り光ＢＬの光強度を示す検出信号ＶＢは、閾値電圧ＶｔｈＡより大きく、閾値電圧ＶｔｈＢより小さな値となっている。
　そのため、タイミングＴＢで、比較信号ＣＯＭＰ２は「０」から「１」に遷移するものの、比較信号ＣＯＭＰ１は遷移しない。ここでは、比較信号ＣＯＭＰ２が遷移するタイミングＴＢを、第２のタイミングとも称する。この場合、演算部１１は、比較信号ＣＯＭＰ２が遷移するが比較信号ＣＯＭＰ１は遷移しないタイミングが有ることを検出することで、劣化などの破断以外の障害が光伝送路ＴＬで発生していることを検出できる。
　つまり、本構成によれば、２つの閾値電圧を好適に設定することで、光伝送路ＴＬに生じる得る破断や劣化などの故障モードを切り分けて検出することも可能である。
　なお、上記では光パルス試験器に２つの比較器が設けられる構成について説明したが、必要に応じて光パルス試験器に３つ以上の比較器を設けてもよいことは言うまでもない。この場合、３つ以上の比較器のそれぞれに閾値電圧を与える３つ以上の閾値電圧生成部を設け、処理部１が各閾値電圧生成部に制御信号を与えることで、各比較器に適切な閾値電圧を与えることができる。
　実施の形態４
　実施の形態４にかかる光伝送装置について説明する。ここでは、光パルス試験器１００を用いて、光伝送路ＴＬの長さが変化したことを検出する動作について説明する。
　例えば、保守作業等によって、光パルス試験器の監視対象である光伝送路の長さが変化する場合が想定され得る。例えば光伝送路が交換されて長くなった場合、光パルス試験器１００が図４に示す破断検出動作を行うと、基準タイミングＴｔｈよりも遅いタイミングで光伝送戻り光ＢＬの強度が急激に低下することとなる（すなわち、ＴＦ＞Ｔｔｈ）。この場合、光パルス試験器１００は、光伝送路ＴＬの長さが長くなったことを自動的に検出することができる。
　このとき、基準タイミングＴｔｈは、光伝送路ＴＬの実際の長さに対応していないため、基準タイミングＴｔｈを修正する必要がある。この場合、光パルス試験器１００は、基準タイミングＴｔｈをリセットし、実施の形態１で説明したように基準タイミングＴｔｈを自動的に決定することで、光伝送路ＴＬの真の長さに対応する基準タイミングＴｔｈを決定することができる。
　以上、本構成によれば、光伝送路ＴＬの長さが変化した場合に、基準タイミングＴｔｈを自動的に再設定できる。
　実施の形態５
　実施の形態５にかかる光伝送装置について説明する。ここでは、光パルス試験器１００が光伝送路ＴＬにおける光信号の瞬断を検出する動作について説明する。光伝送路ＴＬでは、例えば落雷の影響などにより、光信号の瞬断が発生することがある。本実施の形態では、戻り光ＢＬの強度を監視することで、光信号の瞬断を検出する。
　光伝送路ＴＬが破断した場合には戻り光ＢＬの強度は継続的に大きく低下するのに対し、光信号の瞬断が発生した場合には、戻り光ＢＬの強度は一時的に低下する。よって、戻り光ＢＬの強度の一時的な低下を検出することで、光信号の瞬断を検出できると考えられる。
　上述の実施の形態で説明したように、光パルス試験器１００は、光伝送路ＴＬを常時監視するため、継続的にタイミングＴＦを検出している。光伝送路ＴＬが破断した場合には、破断が発生した時点から、タイミングＴＦは基準タイミングＴｔｈ（Ｔ０－α）よりも早いタイミング（ＴＦ＜Ｔｔｈ＝Ｔ０－α）となる。その後、光伝送路ＴＬの監視を継続しても、タイミングＴＦは基準タイミングＴｔｈ（Ｔ０－α）よりも早いタイミング（ＴＦ＜Ｔｔｈ＝Ｔ０－α）のままとなる。
　これに対し、光伝送路ＴＬで光信号の瞬断が発生した場合には、タイミングＴＦは光伝送路ＴＬが破断した場合とは異なる変動を示す。図９に、光信号の瞬断が発生したときの戻り光ＢＬの強度と、光信号の瞬断から回復したときの戻り光ＢＬの強度と、を示す。光伝送路ＴＬで光信号の瞬断が発生した場合には、瞬断が発生した時点でのタイミングＴＦは、基準タイミングＴｔｈ（Ｔ０－α）よりも早いタイミング（ＴＦ＜Ｔｔｈ＝Ｔ０－α）となる。その後、瞬断が回復すると、戻り光ＢＬは途中で弱まることなく光伝送路ＴＬの終端ＴＰに到達するので、タイミングＴＦの値が増大して、基準タイミングＴｔｈと同じ又は基準タイミングＴｔｈよりも遅いタイミング（ＴＦ≧Ｔｔｈ＝Ｔ０－α）となる。
　よって、光パルス試験器１００は、タイミングＴＦが一旦基準タイミングＴｔｈよりも早いタイミング（ＴＦ＜Ｔｔｈ＝Ｔ０－α）となった後に、タイミングＴＦの値が増大して基準タイミングＴｔｈと同じ又は基準タイミングＴｔｈよりも遅いタイミング（ＴＦ≧Ｔｔｈ＝Ｔ０－α）となった場合には、光伝送路ＴＬでは、破断ではなく、光信号の瞬断が生じたことを検出することができる。
　光信号の瞬断の発生及び解消を検出した場合、光パルス試験器１００は、例えば監視制御装置１００１などに光信号の瞬断が発生したことを通知してもよい。また、光パルス試験器１００は、光信号の瞬断は既に解消されたことを併せて通知してもよい。
　本実施の形態では断線を検出するための閾値電圧Ｖｔｈを用いたが、戻り光の強度の低下量がより少ない光信号の軽微な瞬断が発生した場合には、瞬断が発生したときの検出信号ＶＢが閾値電圧Ｖｔｈよりも小さくならないことが考え得る。よって、閾値電圧Ｖｔｈよりも大きな閾値電圧ＶｔｈＣ（第２の閾値電圧とも称する）を設定し、検出信号ＶＢが閾値電圧ＶｔｈＣと比較することで、光信号の軽微な瞬断を検出してもよい。光信号の瞬断と破断とを区別するため、例えば、光伝送路ＴＬの終端ＴＰにおける戻り光ＢＬの強度に対応する検出信号ＶＢの値を、閾値電圧ＶｔｈＣの値として設定してもよい。
　本構成によれば、光信号の瞬断の発生を、光伝送路ＴＬの破断や劣化と区別して検出することができる。これにより、瞬断の発生を通知されたユーザ等は、光伝送路ＴＬの破断や劣化と異なり、保守作業を必要としない一時的な現象であることを認識できる。
　なお、同じ光伝送路で頻繁に光信号の瞬断が生じる場合には、破断や劣化などの障害対策とは別に、瞬断の原因を取り除く措置を取ることも可能となる。
その他の実施の形態
　なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の実施の形態にかかる処理部、光源及び光検出部の構成は例示に過ぎず、適宜他の構成としてもよい。
　上記の実施の形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載され得るが、以下には限られない。
　（付記１）監視光を出力する光源と、光伝送路からの戻り光を検出し、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力する光検出部と、前記光源から入力する前記監視光を前記光伝送路へ出力し、前記光伝送路から入力する前記戻り光を前記光検出部へ出力する光合分波器と、前記検出信号を第１の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第１の比較信号を出力する第１の比較器と、前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、前記第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に前記光伝送路の障害を検出する処理部と、を有する、光パルス試験器。
　（付記２）前記基準タイミングは、前記光伝送路が破断していない状態において前記第１の比較信号が遷移するタイミングである、付記１に記載の光パルス試験器。
　（付記３）　前記基準タイミングは、前記光伝送路が破断していない状態において前記第１の比較信号が遷移するタイミングよりも０以上の所定の値だけ早いタイミングである、付記１に記載の光パルス試験器。
　（付記４）前記処理部は、前記第１のタイミングが前記基準タイミングよりも早い場合に、前記光伝送路が破断したことを検出する、付記１乃至３のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記５）前記第１の比較器に前記第１の閾値電圧を与える第１の閾値電圧生成部をさらに有し、前記処理部は、前記第１の閾値電圧生成部を制御することで、前記第１の閾値電圧の値を制御する、付記１乃至４のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記６）前記光検出部は、前記戻り光を受け取って電気信号に変換する受光素子と、前記電気信号を増幅する増幅器と、を有する、付記１乃至５のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記７）前記増幅器は、対数増幅器である、付記６に記載の光パルス試験器。
　（付記８）前記電気信号は電流信号であり、前記増幅器は、電流電圧変換器として構成される、付記６又は７に記載の光パルス試験器。
　（付記９）前記光合分波器は、３ｄＢカプラとして構成される、付記１乃至８のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記１０）前記検出信号を第２の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第２の比較信号を出力する第２の比較器をさらに有し、前記処理部は、前記第２の比較信号が遷移する第２のタイミングを検出し、前記第２のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に、前記光伝送路の障害を検出する、付記１乃至９のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記１１）前記第２の閾値電圧は前記第１の閾値電圧よりも大きく、前記処理部は、前記第２のタイミングで前記第２の比較信号が遷移し、かつ、前記第１の比較信号が遷移しない場合、前記第１の比較信号が遷移した場合に検出されるものとは異なる障害が前記光伝送路で発生したことを検出する、付記１０に記載の光パルス試験器。
　（付記１２）前記処理部は、前記第２のタイミングで前記第２の比較信号が遷移し、かつ、前記第１の比較信号が遷移しない場合、前記光伝送路が劣化したことを検出する、付記１１に記載の光パルス試験器。
　（付記１３）前記処理部は、前記第２のタイミングで前記第１の比較信号が遷移せずに前記第２の比較信号が第１の値から第２の値に遷移し、その後、前記第２の比較信号が前記第２の値から前記第１の値に遷移した場合、前記光伝送路で伝送される光信号の瞬断が発生したことを検出する、付記１１に記載の光パルス試験器。
　（付記１４）前記第２の閾値電圧は、前記光伝送路の終端における戻り光の強度に対応する電圧である、付記１２又は１３に記載の光パルス試験器。
　（付記１５）前記第２の比較器に前記第２の閾値電圧を与える第２の閾値電圧生成部をさらに有し、前記処理部は、前記第２の閾値電圧生成部を制御することで、前記第２の閾値電圧の値を制御する、付記１０乃至１４のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記１６）前記処理部は、前記第１の比較信号が第１の値から第２の値に遷移し、その後、前記第１の比較信号が前記第２の値から前記第１の値に遷移した場合、前記光伝送路で伝送される光信号の瞬断が発生したことを検出する、付記１乃至９のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記１７）前記処理部は、前記第１のタイミングが前記基準タイミングよりも遅い場合、前記第１のタイミングを前記基準タイミングとして設定する、付記１乃至１５のいずれか一つに記載の光パルス試験器。
　（付記１８）光伝送路へ監視光を出力し、前記光伝送路からの戻り光を検出して、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力し、前記検出信号を第１の閾値電圧と比較して、比較結果を示す第１の比較信号を出力し、前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、前記第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に、前記光伝送路の障害を検出する、光伝送路の試験方法。
　（付記１９）光信号を送受信する第１の光伝送装置と、光信号を送受信する第２の光伝送装置と、前記第１の光伝送装置と前記第２の光伝送装置とを接続する光伝送路と、前記第１の光伝送装置に接続され、前記光伝送路の試験を行う光パルス試験器と、を有し、前記光パルス試験器は、監視光を出力する光源と、前記光伝送路からの戻り光を検出し、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力する光検出部と、前記光源から入力する前記監視光を前記光伝送路へ出力し、前記光伝送路から入力する前記戻り光を前記光検出部へ出力する光合分波器と、前記検出信号を第１の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第１の比較信号を出力する第１の比較器と、前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、前記第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に前記光伝送路の障害を検出する処理部と、を有する、光伝送路の試験システム。
　以上、実施の形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記によって限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
　この出願は、２０１８年８月３０日に出願された日本出願特願２０１８－１６１３４１を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
　１　処理部
　２　光源
　３　光合分波器
　４　光検出部
　５、５Ａ、５Ｂ　比較器
　６、６Ａ、６Ｂ　閾値電圧生成部
　７　カプラ
　８　アイソレータ
　１１　演算部
　１２　パルス発生器
　１３　閾値電圧制御部
　１４　タイマ
　２１　ＬＤモジュール
　２２　駆動回路
　４１　受光素子
　４２　増幅器
　１００、２００、３００　光パルス試験器
　１０００　光通信ネットワーク
　１００１　監視制御装置
　ＢＬ　戻り光
　ＣＢ　電流信号
　ＣＯＭＰ、ＣＯＭＰ１、ＣＯＭＰ２　比較信号
　ＣＯＮ１、ＣＯＮ２、ＣＯＮ２１、ＣＯＮ２２　制御信号
　Ｍ１、Ｍ２　波長フィルタ
　ＭＬ　監視光
　Ｐ１１～Ｐ１３、Ｐ２１～Ｐ２３　ポート
　ＴＬ　光伝送路
　ＴＰ　終端
　ＴＲ１、ＴＲ２　伝送装置
　ＴＳ１、ＴＳ２　端局
　ＶＢ　検出信号　

Claims (19)

  1. 　監視光を出力する光源と、
    　光伝送路からの戻り光を検出し、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力する光検出部と、
    　前記光源から入力する前記監視光を前記光伝送路へ出力し、前記光伝送路から入力する前記戻り光を前記光検出部へ出力する光合分波器と、
    　前記検出信号を第１の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第１の比較信号を出力する第１の比較器と、
    　前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、前記第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に前記光伝送路の障害を検出する処理部と、を備える、
    　光パルス試験器。
  2. 　前記基準タイミングは、前記光伝送路が破断していない状態において前記第１の比較信号が遷移するタイミングである、
    　請求項１に記載の光パルス試験器。
  3. 　前記基準タイミングは、前記光伝送路が破断していない状態において前記第１の比較信号が遷移するタイミングよりも０以上の所定の値だけ早いタイミングである、
    　請求項１に記載の光パルス試験器。
  4. 　前記処理部は、前記第１のタイミングが前記基準タイミングよりも早い場合に、前記光伝送路が破断したことを検出する、
    　請求項１乃至３のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  5. 　前記第１の比較器に前記第１の閾値電圧を与える第１の閾値電圧生成部をさらに備え、
    　前記処理部は、前記第１の閾値電圧生成部を制御することで、前記第１の閾値電圧の値を制御する、
    　請求項１乃至４のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  6. 　前記光検出部は、
    　　前記戻り光を受け取って電気信号に変換する受光素子と、
    　　前記電気信号を増幅する増幅器と、を備える、
    　請求項１乃至５のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  7. 　前記増幅器は、対数増幅器である、
    　請求項６に記載の光パルス試験器。
  8. 　前記電気信号は電流信号であり、　
    　前記増幅器は、電流電圧変換器として構成される、
    　請求項６又は７に記載の光パルス試験器。
  9. 　前記光合分波器は、３ｄＢカプラとして構成される、
    　請求項１乃至８のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  10. 　前記検出信号を第２の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第２の比較信号を出力する第２の比較器をさらに備え、
    　前記処理部は、前記第２の比較信号が遷移する第２のタイミングを検出し、前記第２のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に、前記光伝送路の障害を検出する、
    　請求項１乃至９のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  11. 　前記第２の閾値電圧は前記第１の閾値電圧よりも大きく、
    　前記処理部は、前記第２のタイミングで前記第２の比較信号が遷移し、かつ、前記第１の比較信号が遷移しない場合、前記第１の比較信号が遷移した場合に検出されるものとは異なる障害が前記光伝送路で発生したことを検出する、
    　請求項１０に記載の光パルス試験器。
  12. 　前記処理部は、前記第２のタイミングで前記第２の比較信号が遷移し、かつ、前記第１の比較信号が遷移しない場合、前記光伝送路が劣化したことを検出する、
    　請求項１１に記載の光パルス試験器。
  13. 　前記処理部は、前記第２のタイミングで前記第１の比較信号が遷移せずに前記第２の比較信号が第１の値から第２の値に遷移し、その後、前記第２の比較信号が前記第２の値から前記第１の値に遷移した場合、前記光伝送路で伝送される光信号の瞬断が発生したことを検出する、
    　請求項１１に記載の光パルス試験器。
  14. 　前記第２の閾値電圧は、前記光伝送路の終端における戻り光の強度に対応する電圧である、
    　請求項１２又は１３に記載の光パルス試験器。
  15. 　前記第２の比較器に前記第２の閾値電圧を与える第２の閾値電圧生成部をさらに備え、
    　前記処理部は、前記第２の閾値電圧生成部を制御することで、前記第２の閾値電圧の値を制御する、
    　請求項１０乃至１４のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  16. 　前記処理部は、前記第１の比較信号が第１の値から第２の値に遷移し、その後、前記第１の比較信号が前記第２の値から前記第１の値に遷移した場合、前記光伝送路で伝送される光信号の瞬断が発生したことを検出する、
    　請求項１乃至９のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  17. 　前記処理部は、前記第１のタイミングが前記基準タイミングよりも遅い場合、前記第１のタイミングを前記基準タイミングとして設定する、
    　請求項１乃至１５のいずれか一項に記載の光パルス試験器。
  18. 　光伝送路へ監視光を出力し、
    　前記光伝送路からの戻り光を検出して、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力し、
    　前記検出信号を第１の閾値電圧と比較して、比較結果を示す第１の比較信号を出力し、
    　前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、前記第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に、前記光伝送路の障害を検出する、
    　光伝送路の試験方法。
  19. 　光信号を送受信する第１の光伝送装置と、
    　光信号を送受信する第２の光伝送装置と、
    　前記第１の光伝送装置と前記第２の光伝送装置とを接続する光伝送路と、
    　前記第１の光伝送装置に接続され、前記光伝送路の試験を行う光パルス試験器と、を備え、
    　前記光パルス試験器は、
    　　監視光を出力する光源と、
    　　前記光伝送路からの戻り光を検出し、前記戻り光の強度を示す検出信号を出力する光検出部と、
    　　前記光源から入力する前記監視光を前記光伝送路へ出力し、前記光伝送路から入力する前記戻り光を前記光検出部へ出力する光合分波器と、
    　　前記検出信号を第１の閾値電圧と比較し、比較結果を示す第１の比較信号を出力する第１の比較器と、
    　　前記第１の比較信号が遷移する第１のタイミングを検出し、前記第１のタイミングが基準タイミングよりも早い場合に前記光伝送路の障害を検出する処理部と、を備える、
    　光伝送路の試験システム。
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