JP2009038118A - 電流駆動回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】従来よりも簡易な回路構成で、電源電圧変動による電流変動を抑制することができる電流駆動回路を提供すること。
【解決手段】本発明に係る電流駆動回路は、第1及び第2の電流源(I101、I102)と、第2の電流源(I102)により生成された電流I2の第1のミラー電流を生成する第1のカレントミラー(CM103)と、第2の電流源(I102)により生成された電流I2の第2のミラー電流を生成する第2のカレントミラー(CM106)と、第1の電流源(I101)により生成され、第1と第2のミラー電流の差に基づき補正された電流のミラー電流IOUT1を生成し、負荷(LD101)に供給する第3のカレントミラー(CM101)とを備えるものである。
【選択図】図1
【解決手段】本発明に係る電流駆動回路は、第1及び第2の電流源(I101、I102)と、第2の電流源(I102)により生成された電流I2の第1のミラー電流を生成する第1のカレントミラー(CM103)と、第2の電流源(I102)により生成された電流I2の第2のミラー電流を生成する第2のカレントミラー(CM106)と、第1の電流源(I101)により生成され、第1と第2のミラー電流の差に基づき補正された電流のミラー電流IOUT1を生成し、負荷(LD101)に供給する第3のカレントミラー(CM101)とを備えるものである。
【選択図】図1
Description
本発明は電流駆動回路に関し、例えば、光ディスク装置に搭載され駆動電流の安定性が要求されるレーザダイオード等の電流駆動素子を駆動するのに好適な電流駆動回路に関する。
光学的情報処理装置においては、光源としてレーザダイオード(LD:Laser Diode、以下LDとも記す)が広く用いられている。例えば、光ディスク装置における光ヘッドの光源としてレーザダイオードが用いられている。このレーザダイオードは、電流駆動回路により駆動されるため、電源電圧の変動によらずに安定した駆動電流が供給される必要がある。この種の電流駆動回路として、カレントミラータイプを用いたものが広く用いられている。
一般的に、カレントミラーを構成する2つのMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)に流れる電流の大きさの比、すなわちミラー比は、2つのMOSFETのサイズ(チャネル幅W/チャネル長L)の比により決定される。しかし、MOSFETに流れる電流は、チャネル長変調効果によりソース・ドレイン電圧VDSの影響を受けることが知られている。従って、この影響を考慮しないと、W/Lの比を正しく設定しても、ノイズ等による電源電圧変動により安定した駆動電流が得られないおそれがあった。
特許文献1及びその分割出願である特許文献2には、電源電圧変動に対して駆動電流を安定化させる回路構成が開示されている。図4に、特許文献1の図1に記載の回路図を示す。
図4の回路は、レーザダイオード(LD1)、出力電流設定用電流源(IS)、LD出力端子(T1)、出力MOSFET(M1)、出力ミラー元MOSFET(M2)、出力ON/OFF用スイッチ(SW1)、出力補正用MOSFET(M3)、出力用電流源MOSFET(M4)、第1ダミーLD(LD2)、第1ダミーLD用出力MOSFET(M5)、第1ダミーLD出力ミラー元MOSFET(M6)、第1ダミーLD出力用SW(SW2)、第1ダミーLD補正用MOSFET(M7)、第1ダミーLD出力用電流源MOSFET(M8)、第2ダミーLD(LD3)、第2ダミーLD用出力第1MOSFET(M9)、第2ダミーLD用出力第2MOSFET(M10)、第2ダミーLD出力ミラー元第1MOSFET(M11)、第2ダミーLD出力ミラー元第2MOSFET(M12)、第2ダミーLD出力用電流源MOSFET(M13)、入力用電流源MOSFET(M14)及び補正量検出用アンプ(AMP)を備える。
ここで、出力MOSFET(M1)と出力ミラー元MOSFET(M2)とからカレントミラー(CM1)が構成されている。
また、第1ダミーLD用出力MOSFET(M5)と第1ダミーLD出力ミラー元MOSFET(M6)とからカレントミラー(CM2)が構成されている。
また、第2ダミーLD用出力第1MOSFET(M9)、第2ダミーLD用出力第2MOSFET(M10)、第2ダミーLD出力ミラー元第1MOSFET(M11)及び第2ダミーLD出力ミラー元第2MOSFET(M12)からカスコードカレントミラー(CM3)が構成されている。
また、入力用電流源MOSFET(M14)と第2ダミーLD出力用電流源MOSFET(M13)とからカレントミラー(CM4)が構成されている。
また、入力用電流源MOSFET(M14)と第1ダミーLD出力用電流源MOSFET(M8)とからカレントミラー(CM5)が構成されている。
そして、入力用電流源MOSFET(M14)と出力用電流源MOSFET(M4)とによりカレントミラー(CM6)が構成されている。
また、第1ダミーLD用出力MOSFET(M5)と第1ダミーLD出力ミラー元MOSFET(M6)とからカレントミラー(CM2)が構成されている。
また、第2ダミーLD用出力第1MOSFET(M9)、第2ダミーLD用出力第2MOSFET(M10)、第2ダミーLD出力ミラー元第1MOSFET(M11)及び第2ダミーLD出力ミラー元第2MOSFET(M12)からカスコードカレントミラー(CM3)が構成されている。
また、入力用電流源MOSFET(M14)と第2ダミーLD出力用電流源MOSFET(M13)とからカレントミラー(CM4)が構成されている。
また、入力用電流源MOSFET(M14)と第1ダミーLD出力用電流源MOSFET(M8)とからカレントミラー(CM5)が構成されている。
そして、入力用電流源MOSFET(M14)と出力用電流源MOSFET(M4)とによりカレントミラー(CM6)が構成されている。
次に、図4に示す回路の動作を説明する。
まず、出力電流設定用電流源(IS)からレーザダイオード(LD1)に流す所望の電流IOUT1に比例した電流I1が流れる。出力ON/OFF用スイッチ(SW1)がONの場合、この電流は、カレントミラー(CM6)、カレントミラー(CM1)及びLD出力端子(T1)を介してレーザダイオード(LD1)に電流IOUT1として供給され、レーザダイオード(LD1)が発光する。この場合、出力補正用MOSFET(M3)には電流が流れないものとする。
まず、出力電流設定用電流源(IS)からレーザダイオード(LD1)に流す所望の電流IOUT1に比例した電流I1が流れる。出力ON/OFF用スイッチ(SW1)がONの場合、この電流は、カレントミラー(CM6)、カレントミラー(CM1)及びLD出力端子(T1)を介してレーザダイオード(LD1)に電流IOUT1として供給され、レーザダイオード(LD1)が発光する。この場合、出力補正用MOSFET(M3)には電流が流れないものとする。
ここで、電源電圧がノイズ等の影響で変動したと仮定すると、レーザダイオード(LD1)の端子電圧VLDはほぼ一定であるのに対して、電源VDDの電圧Vが変化する。すなわち、出力MOSFET(M1)のドレイン−ソース間に印加される電圧(VDS1)が変化することになる。そのため、MOSFETのチャネル長変調効果により、出力MOSFET(M1)に流れる電流が変動し、問題となる。ここで、出力MOSFET(M1)と出力ミラー元MOSFET(M2)とから構成されるカレントミラー(CM1)には電圧VDS1が十分に取れない状態で大電流を流す必要がある。そのため、カレントミラー(CM1)をカスコード構成とすることができない。
次に、上記電流変動を抑制するための回路動作について説明する。
まず、入力用電流源MOSFET(M14)とカレントミラー(CM4)を構成する第2ダミーLD出力用電流源MOSFET(M13)に、入力用電流源MOSFET(M14)を流れる電流I1に比例した電流が流れる。この電流はカスコードカレントミラー(CM3)を介して第2ダミーLD(LD3)に電流I3として供給される。
まず、入力用電流源MOSFET(M14)とカレントミラー(CM4)を構成する第2ダミーLD出力用電流源MOSFET(M13)に、入力用電流源MOSFET(M14)を流れる電流I1に比例した電流が流れる。この電流はカスコードカレントミラー(CM3)を介して第2ダミーLD(LD3)に電流I3として供給される。
一方、入力用電流源MOSFET(M14)と他のカレントミラー(CM5)を構成する第1ダミーLD出力用電流源MOSFET(M8)にも、入力用電流源MOSFET(M14)を流れる電流I1に比例した電流が流れる。この電流は、常時ONの第1ダミーLD出力用スイッチ(SW2)及びカレントミラー(CM2)を介して第1ダミーLD(LD2)に電流I4として供給される。
ここで、第1ダミーLD(LD2)と第2ダミーLD(LD3)とが同一の特性を有するとする。電源電圧がVで一定の場合、I3=I4となるように、カレントミラー(CM2、CM3、CM4、CM5)及び第1ダミーLD補正用MOSFET(M7)に流れる電流を設定しておくと、第1ダミーLD(LD2)及び第2ダミーLD(LD3)のアノード電圧が等しくなり補正量検出用アンプ(AMP)の反転入力端子と非反転入力端子の電位差が無くなる。
上記設定条件下、電源電圧が変動した場合、例えば、電源VDDの電圧が上がった場合を考える。第2ダミーLD(LD3)に供給される電流I3は、カレントミラー(CM3)がカスコード構成であるため、ほぼ一定である。一方、第1ダミーLD(LD2)に供給される電流I4は、カレントミラー(CM2)がカスコード構成でなく、第1ダミーLD用出力MOSFET(M5)のドレイン−ソース間に印加される電圧(VDS3)が大きくなるため、チャネル長変調効果により電流値が大きくなる。つまり、I3<I4となる。
そのため、第1ダミーLD(LD2)のアノード電圧は第2ダミーLD(LD3)のアノード電圧よりも高くなり、補正量検出用アンプ(AMP)の出力電圧が下がる。そのため、第1ダミーLD補正用MOSFET(M7)に流れる電流は小さくなり、結果的にはI3=I4となる。従って、第1ダミーLD(LD2)に流れる電流は電源変動に関係なく一定となる。
逆に、電源電圧が下がった場合、第1ダミーLD(LD2)のアノード電圧は第2ダミーLD(LD3)のアノード電圧よりも低くなり、補正量検出用アンプ(AMP)の出力電圧が上がる。そのため、第1ダミーLD補正用MOSFET(M7)に流れる電流が大きくなり、結果的にはI3=I4となる。従って、第1ダミーLD(LD2)に流れる電流は電源変動に関係なく一定となる。
この第1ダミーLD補正用MOSFET(M7)に流れる補正電流を出力補正用MOSFET(M3)にも同様に流すことで、レーザダイオード(LD1)に流れる電流も電源変動に関係なく一定となる。
特開2005−101154
特開2006−114895
しかしながら、上記特許文献1及び2に記載の回路構成では、補正量検出用アンプやダミーレーザダイオードなどが必要となり、回路が複雑化してチップサイズが大きくなるため、高コストになるという問題があった。
本発明に係る電流駆動回路は、第1及び第2の電流源と、前記第2の電流源により生成された電流の第1のミラー電流を生成する第1のカレントミラーと、前記第2の電流源により生成された電流の第2のミラー電流を生成する第2のカレントミラーと、前記第1の電流源により生成され、前記第1と第2のミラー電流の差に基づき補正された電流のミラー電流を生成し、負荷に供給する第3のカレントミラーとを備えるものである。
本発明により、従来よりも簡易な回路構成で、電源電圧変動による電流変動を抑制することができる電流駆動回路を提供することができる。
以下に、本発明の実施の形態について説明する。ただし、本発明が以下の実施の形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載および図面は、適宜、簡略化されている。
実施の形態1
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る電流駆動回路の回路図である。図1に示すように、実施の形態1に係る電流駆動回路は、レーザダイオード(LD101)、出力電流設定用電流源(I101)、LD出力端子(T101)、出力MOSFET(M101)、出力ミラー元MOSFET(M102)、出力ON/OFF用スイッチ(SW101)及び補正回路(B101)を備える。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る電流駆動回路の回路図である。図1に示すように、実施の形態1に係る電流駆動回路は、レーザダイオード(LD101)、出力電流設定用電流源(I101)、LD出力端子(T101)、出力MOSFET(M101)、出力ミラー元MOSFET(M102)、出力ON/OFF用スイッチ(SW101)及び補正回路(B101)を備える。
また、上記の補正回路(B101)は、補正電流設定用電流源(I102)、第1補正基準電流出力MOSFET(M103)、第2補正基準電流出力MOSFET(M104)、第1補正基準電流ミラー元MOSFET(M105)、第2補正基準電流ミラー元MOSFET(M106)、第1補正基準電流源MOSFET(M107)、第2補正基準電流源MOSFET(M108)、第1補正電流出力MOSFET(M109)、第2補正電流出力MOSFET(M110)、第1補正電流出力ミラー元MOSFET(M111)、第2補正電流出力ミラー元MOSFET(M112)、第1補正電流MOSFET(M113)、第2補正電流MOSFET(M114)、第1補正電流ミラー元MOSFET(M115)、第2補正電流ミラー元MOSFET(M116)、補正用MOSFET(M117)、参照電圧用MOSFET(M118)、第1補正用電流源MOSFET(M119)及び第2補正用電流源MOSFET(M120)を備える。
出力MOSFET(M101)は、PチャネルMOSFETであり、ソースが電源VDDに、ドレインがLD出力端子(T101)を介してレーザダイオード(LD101)に接続されている。レーザダイオード(LD101)の他端はグランドGNDに接続されている。
出力ミラー元MOSFET(M102)は、PチャネルMOSFETであり、ソースが電源VDDに、ドレインが出力ON/OFF用スイッチ(SW101)を介して出力電流設定用電流源(I101)に接続されている。出力電流設定用電流源(I101)の他端はグランドに接続されている。また、出力ミラー元MOSFET(M102)のゲートとドレインとは互いに接続されている。
ここで、出力MOSFET(M101)と出力ミラー元MOSFET(M102)のゲート同士が互いに接続されている。すなわち、出力MOSFET(M101)と出力ミラー元MOSFET(M102)とからカレントミラー(CM101)が構成されている。上述の通り、このカレントミラー(CM101)には電圧VDS1が十分に取れない状態で大電流を流す必要がある。そのため、カレントミラー(CM101)をカスコード構成とすることができない。
第1補正基準電流出力MOSFET(M103)及び第2補正基準電流出力MOSFET(M104)はいずれもNチャネルMOSFETである。第1補正基準電流出力MOSFET(M103)のソースはグランドGNDに、ドレインは、第2補正基準電流出力MOSFET(M104)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。
第1補正基準電流ミラー元MOSFET(M105)及び第2補正基準電流ミラー元MOSFET(M106)はいずれもNチャネルMOSFETである。第1補正基準電流ミラー元MOSFET(M105)のソースはグランドGNDに、ドレインは、第2補正基準電流ミラー元MOSFET(M106)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。また、第1補正基準電流ミラー元MOSFET(M105)及び第2補正基準電流ミラー元MOSFET(M106)のゲートとドレインとは互いに接続されている。
ここで、第1補正基準電流出力MOSFET(M103)と第1補正基準電流ミラー元MOSFET(M105)のゲート同士が互いに接続されている。また、第2補正基準電流出力MOSFET(M104)と第2補正基準電流ミラー元MOSFET(M106)のゲート同士が互いに接続されている。すなわち、第1補正基準電流出力MOSFET(M103)、第2補正基準電流出力MOSFET(M104)、第1補正基準電流ミラー元MOSFET(M105)及び第2補正基準電流ミラー元MOSFET(M106)とからカスコードカレントミラー(CM102)が構成されている。
第1補正基準電流源MOSFET(M107)及び第2補正基準電流源MOSFET(M108)はいずれもPチャネルMOSFETである。第1補正基準電流源MOSFET(M107)のソースは電源VDDに、ドレインは、第2補正基準電流源MOSFET(M108)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。第2補正基準電流源MOSFET(M108)のドレインは第2補正基準電流ミラー元MOSFET(M106)のドレインに直列接続されている。
第1補正電流出力MOSFET(M109)及び第2補正電流出力MOSFET(M110)はいずれもPチャネルMOSFETである。第1補正電流出力MOSFET(M109)のソースは電源VDDに、ドレインは、第2補正電流出力MOSFET(M110)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。第2補正電流出力MOSFET(M110)のドレインは第2補正基準電流出力MOSFET(M104)のドレインに直列接続されている。また、第2補正電流出力MOSFET(M110)と第2補正基準電流出力MOSFET(M104)の間のノードは、出力ON/OFF用スイッチ(SW101)と出力電流設定用電流源(I101)の間のノードに接続されている。これにより、補正回路(B101)により生成された補正電流が駆動回路に供給される。
第1補正電流出力ミラー元MOSFET(M111)及び第2補正電流出力ミラー元MOSFET(M112)はいずれもPチャネルMOSFETである。第1補正電流出力ミラー元MOSFET(M111)のソースは電源VDDに、ドレインは、第2補正電流出力ミラー元MOSFET(M112)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。また、第1補正電流出力ミラー元MOSFET(M111)及び第2補正電流出力ミラー元MOSFET(M112)のゲートとドレインとは互いに接続されている。
ここで、第1補正電流出力MOSFET(M109)と第1補正電流出力ミラー元MOSFET(M111)のゲート同士が互いに接続されている。また、第2補正電流出力MOSFET(M110)と第2補正電流出力ミラー元MOSFET(M112)のゲート同士が互いに接続されている。すなわち、第1補正電流出力MOSFET(M109)、第2補正電流出力MOSFET(M110)、第1補正電流出力ミラー元MOSFET(M111)及び第2補正電流出力ミラー元MOSFET(M112)とからカスコードカレントミラー(CM104)が構成されている。
第1補正電流MOSFET(M113)及び第2補正電流MOSFET(M114)はいずれもNチャネルMOSFETである。第1補正電流MOSFET(M113)のソースはグランドGNDに、ドレインは、第2補正電流MOSFET(M114)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。第2補正電流MOSFET(M114)のドレインは第2補正電流出力ミラー元MOSFET(M112)のドレインに直列接続されている。
第1補正電流ミラー元MOSFET(M115)及び第2補正電流ミラー元MOSFET(M116)はいずれもNチャネルMOSFETである。第1補正電流ミラー元MOSFET(M115)のソースはグランドGNDに、ドレインは、第2補正電流ミラー元MOSFET(M116)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。また、第1補正電流ミラー元MOSFET(M115)及び第2補正電流ミラー元MOSFET(M116)のゲートとドレインとは互いに接続されている。
ここで、第1補正電流MOSFET(M113)と第1補正電流ミラー元MOSFET(M115)のゲート同士が互いに接続されている。また、第2補正電流MOSFET(M114)と第2補正電流ミラー元MOSFET(M116)のゲート同士が互いに接続されている。すなわち、第1補正電流MOSFET(M113)、第2補正電流MOSFET(M114)、第1補正電流ミラー元MOSFET(M115)及び第2補正電流ミラー元MOSFET(M116)とからカスコードカレントミラー(CM105)が構成されている。
補正用MOSFET(M117)及び参照電圧用MOSFET(M118)はいずれもPチャネルMOSFETである。補正用MOSFET(M117)のソースは電源VDDに、ドレインは、参照電圧用MOSFET(M118)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。参照電圧用MOSFET(M118)のゲートには一定の参照電圧VREFが与えられている。また、参照電圧用MOSFET(M118)のドレインは第2補正電流ミラー元MOSFET(M116)のドレインに直列接続されている。
第1補正用電流源MOSFET(M119)及び第2補正用電流源MOSFET(M120)はいずれもPチャネルMOSFETである。第1補正用電流源MOSFET(M119)のソースは電源VDDに、ドレインは、第2補正用電流源MOSFET(M120)のソースに接続されている。すなわち両MOSFETは直列接続されている。第2補正用電流源MOSFET(M120)のドレインは補正電流設定用電流源(I102)の一端に接続されている。補正電流設定用電流源(I102)の他端はグランドGNDに接続されている。また、第1補正用電流源MOSFET(M119)及び第2補正用電流源MOSFET(M120)のゲートとドレインとは互いに接続されている。
ここで、第1補正基準電流源MOSFET(M107)と第1補正用電流源MOSFET(M119)のゲート同士が互いに接続されている。また、第2補正基準電流源MOSFET(M108)と第2補正用電流源MOSFET(M120)のゲート同士が互いに接続されている。すなわち、第1補正基準電流源MOSFET(M107)、第2補正基準電流源MOSFET(M108)、第1入力用電流源MOSFET(M119)及び第2入力用電流源MOSFET(M120)からスコードカレントミラー(CM103)が構成されている。
また、補正用MOSFET(M117)と第1補正用電流源MOSFET(M119)のゲート同士が互いに接続され、両MOSFETからカレントミラー(CM106)が構成されている。
次に、図1に示す電流駆動回路の動作方法について説明する。なお、各カレントミラー(CM101〜CM106)のミラー比が1:1に設定されているとして説明する。まず、補正回路(B101)がない場合の駆動回路の動作ついて説明する。
レーザダイオード(LD101)に流す所望の電流IOUT1に比例した電流I1が、出力電流設定用電流源(I101)から流れる。この電流は出力ON/OFF用スイッチ(SW101)がONの場合、この電流は、カレントミラー(CM101)及びLD出力端子(T101)を介してレーザダイオード(LD101)に電流IOUT1として供給され、レーザダイオード(LD101)が発光する。
電源VDDの電圧がVの場合のレーザダイオード(LD101)に流れる電流IOUT1はIOUT1=I1だから、電源電圧がVからΔVDSずれたときの電流IOUT1'は下記(1)式で表される。
IOUT1'=I1×(1+αΔVDS) (1)
ここで、αはチャネル長変調効果による係数を表す。
IOUT1'=I1×(1+αΔVDS) (1)
ここで、αはチャネル長変調効果による係数を表す。
次に、補正回路(B101)の動作を説明する。補正電流設定用電流源(I102)から、電流I1に比例する電流I2が流れる。この電流は、カレントミラー(CM103)及び(CM102)を介し、第1補正基準電流出力MOSFET(M103)及び第2補正基準電流出力FET(M104)に電流INとして流れる。この電流INは、カレントミラーCM103、CM102がカスコード構成であるため、電源電圧によらずほぼ一定とすることができる。よって、IN=I2である。
一方、電流I2はカレントミラーCM106を介して補正用MOSFET(M117)にも流れる。電源電圧がVの場合の電流を補正電流ICとする。この電流は、カレントミラー(CM105)及び(CM104)を介し、第1補正電流出力MOSFET(M109)及び第2補正電流出力MOSFET(M110)に電流IPとして流れる。ICとIPの関係はカレントミラー(CM105)及び(CM104)がカスコード構成であるため、電源電圧に関係なくIP=ICとすることができる。補正回路(B101)から出力される補正電流はIP−INであるから、上記から補正電流はIC−I2となる。
ここで、電源電圧がVの場合、IC=I2つまりIP=INとなるように参照電圧用MOSFET(M118)及びそのゲートにかける電圧VREFを設定することにより、電源電圧がVの場合の補正回路(B101)の出力電流は0となる。よって、IOUT1=I1となる。
次に、電源電圧がVからずれた場合の補正回路(B101)の出力電流を考える。電源電圧がΔVDSずれたときの補正用MOSFET(M117)に流れる電流ICをIC'とすると、IC'=I2×(1+αΔVDS)=IP'となる。そのため、電源電圧がΔVDSずれた場合に、レーザダイオード(LD101)に出力される電流IOUT1'は、下記(2)式で表される。
IOUT1'=(I1−IP'+IN)×(1+αΔVDS)
={I1−I2×(1+αΔVDS)+I2}×(1+αΔVDS)
=(I1−αI2ΔVDS)×(1+αΔVDS)
=I1+αI1ΔVDS−αI2ΔVDS−α2I2ΔVDS 2 (2)
IOUT1'=(I1−IP'+IN)×(1+αΔVDS)
={I1−I2×(1+αΔVDS)+I2}×(1+αΔVDS)
=(I1−αI2ΔVDS)×(1+αΔVDS)
=I1+αI1ΔVDS−αI2ΔVDS−α2I2ΔVDS 2 (2)
式(2)において下記(3)式が成立すれば、電源電圧がVからΔVDSずれたときのレーザダイオード(LD101)に出力される電流IOUT1'は電源変動に関係なくI1となる。
0=αI1ΔVDS−αI2ΔVDS−α2I2ΔVDS 2 (3)
I2はI1に比例するから、定数aを用いて、I2=aI1とすると、
0=αI1ΔVDS−αaI1ΔVDS−α2aI1ΔVDS 2
=1−a−aαΔVDS
=1−a×(1+αΔVDS)
0=αI1ΔVDS−αI2ΔVDS−α2I2ΔVDS 2 (3)
I2はI1に比例するから、定数aを用いて、I2=aI1とすると、
0=αI1ΔVDS−αaI1ΔVDS−α2aI1ΔVDS 2
=1−a−aαΔVDS
=1−a×(1+αΔVDS)
よって、a=1/(1+αΔVDS)となる。ここで、αΔVDSは、実使用での電源電圧10%変動で0.05程度であるため、a≒0.95とすることで、IOUT1の電源変動を抑えることができる。
αΔVDS=0.05として、補正回路(B101)がない場合の電流変動量を式(1)から計算すると、
(IOUT1'−IOUT1)/IOUT1×100
={I1×(1+0.05)−I1}/I1×100
=5%
これに対し、補正回路(B101)を用いた場合、電流変動量はa=0.95を代入して、式(2)から計算すると、
(IOUT1'−IOUT1)/IOUT1×100
=(0.05−0.95×0.05−0.052×0.95)×100
=0.0125%
となり、電流変動量は補正回路がない場合の1/400となる。本発明により、電流変動量を劇的に低減することができる。また、補正回路にアンプなどの複雑な回路が必要なく、素子数を減らすことができ、ICではチップ面積の削減が可能となる。特に複数のレーザダイオードを備える装置であって、レーザダイオード毎に電流補正回路が必要な場合、特に効果的である。さらに、同一サイズのMOSFETのみから構成することができ、製造工程のばらつきによる出力電流IOUT1の変動も抑制できる。
(IOUT1'−IOUT1)/IOUT1×100
={I1×(1+0.05)−I1}/I1×100
=5%
これに対し、補正回路(B101)を用いた場合、電流変動量はa=0.95を代入して、式(2)から計算すると、
(IOUT1'−IOUT1)/IOUT1×100
=(0.05−0.95×0.05−0.052×0.95)×100
=0.0125%
となり、電流変動量は補正回路がない場合の1/400となる。本発明により、電流変動量を劇的に低減することができる。また、補正回路にアンプなどの複雑な回路が必要なく、素子数を減らすことができ、ICではチップ面積の削減が可能となる。特に複数のレーザダイオードを備える装置であって、レーザダイオード毎に電流補正回路が必要な場合、特に効果的である。さらに、同一サイズのMOSFETのみから構成することができ、製造工程のばらつきによる出力電流IOUT1の変動も抑制できる。
実施の形態2
次に、他の実施の形態について説明する。図2に本発明の実施の形態2に係る電流駆動回路の回路図を示す。実施の形態1と同一の回路構成要素は、同一の符号を付し、適宜その説明を省略する。
次に、他の実施の形態について説明する。図2に本発明の実施の形態2に係る電流駆動回路の回路図を示す。実施の形態1と同一の回路構成要素は、同一の符号を付し、適宜その説明を省略する。
図2に示す電流駆動回路は、補正回路(B201)を備える。補正回路201は、図1に示した補正回路(B101)と比較し、カレントミラー(CM102)及び(CM104)が省略された構成である。そのため、IP=I2、IN=ICとなり、補正回路(B101)から出力される補正電流はIP−IN=I2−ICとなる。すなわち、図1に示した補正回路(B101)から出力される補正電流と極性が反転している。
これに伴い、出力電流設定用電流源(I101)も電源VDD側に配置されている。そして、カスケードカレントミラー(CM202)及びカレントミラー(CM101)を介して、実施の形態1と同じ電流がレーザダイオード(LD101)に供給される。実施の形態2の回路は実施の形態1の回路に比べ、素子数が削減できるとともに、カレントミラーでの折り返し回数が少ない為に、カレントミラーで生じる電流誤差を軽減でき、電源変動に対する電流補正の精度を上げることができる。
実施の形態3
次に、他の実施の形態について説明する。図3に本発明の実施の形態3に係る電流駆動回路の回路図を示す。実施の形態1と同一の回路構成要素は、同一の符号を付し、適宜その説明を省略する。
次に、他の実施の形態について説明する。図3に本発明の実施の形態3に係る電流駆動回路の回路図を示す。実施の形態1と同一の回路構成要素は、同一の符号を付し、適宜その説明を省略する。
図3に示す電流駆動回路は、補正回路(B301)を備える。補正回路301は、図2に示した補正回路(B201)と比較し、さらにカレントミラー(CM202)が省略された構成である。そのため、IP=IC、IN=I2となり、補正回路(B101)から出力される補正電流はIP−IN=IC−I2となる。すなわち、図1に示した補正回路(B101)から出力される補正電流と同じになる。
これに伴い、第1補正電流出力MOSFET(M109)と補正用MOSFET(M117)との配置及び第2補正電流出力MOSFET(M110)と参照電圧用MOSFET(M118)との配置が入れ替わっている。また、出力電流設定用電流源(I101)は図1の補正回路(B101)と同様にグランドGND側に配置されている。そして、カレントミラー(CM101)を介して、実施の形態1と同じ電流がレーザダイオード(LD101)に供給される。実施の形態3の回路は実施の形態2の回路に比べ、さらに素子数が削減できるとともに、カレントミラーでの折り返し回数が少ない為に、カレントミラーで生じる電流誤差を軽減でき、電源変動に対する電流補正の精度を上げることができる。
CM101、CM106 カレントミラー
CM102、CM103、CM104、CM105 カスコードカレントミラー
M101〜M120 MOSFET
I101、I102 電流源
SW101 スイッチ
LD101 レーザダイオード
CM102、CM103、CM104、CM105 カスコードカレントミラー
M101〜M120 MOSFET
I101、I102 電流源
SW101 スイッチ
LD101 レーザダイオード
Claims (6)
- 第1及び第2の電流源と、
前記第2の電流源により生成された電流の第1のミラー電流を生成する第1のカレントミラーと、
前記第2の電流源により生成された電流の第2のミラー電流を生成する第2のカレントミラーと、
前記第1の電流源により生成され、前記第1と第2のミラー電流の差に基づき補正された電流のミラー電流を生成し、負荷に供給する第3のカレントミラーとを備える電流駆動回路。 - 前記第1のカレントミラーは2対以上のMOSトランジスタから構成されたカスコードカレントミラーであることを特徴とする請求項1に記載の電流駆動回路。
- 前記第2及び第3のカレントミラーは1対のMOSトランジスタから構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電流駆動回路。
- 前記第2のカレントミラーを構成する一方の前記MOSトランジスタには、当該MOSトランジスタと同一導電型であって、ゲートに定電圧が与えられたMOSトランジスタがさらに直列接続されていることを特徴とする請求項3に記載の電流駆動回路。
- 前記第1〜3のカレントミラーを構成する複数のMOSトランジスタがいずれも同一サイズであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の電流駆動回路。
- 前記負荷がレーザダイオードであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の電流駆動回路。
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JP2007199444A JP2009038118A (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | 電流駆動回路 |
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Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012160775A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-23 | Seiko Epson Corp | 発振停止検出回路、半導体装置、時計および電子機器 |
JP2012219163A (ja) * | 2011-04-07 | 2012-11-12 | Sumitomo Chemical Co Ltd | レジスト用低分散樹脂の製造方法 |
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JPS62278809A (ja) * | 1986-05-28 | 1987-12-03 | Toshiba Corp | 半導体レ−ザの閾値電流供給回路 |
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US7411986B2 (en) * | 2004-03-25 | 2008-08-12 | Finisar Corporation | Optical system laser driver with a built in output inductor for improved frequency response |
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- 2007-07-31 JP JP2007199444A patent/JP2009038118A/ja active Pending
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2008
- 2008-07-25 US US12/179,673 patent/US8094695B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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