JP2009037656A - 誤り訂正装置及びデスクランブル回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】デスクランブル回路20は、復調回路からECCクラスタが分割されて格納される内蔵メモリ部から、スクランブルデータsDuが入力されるEOR回路21を備える。デスクランブル回路20は、入力されたスクランブル値を、生成多項式Φ(x)に従って1バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する1シフト演算器24と、生成多項式Φ(x)に従って209バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する209シフト演算器25とを備える。デスクランブル回路20は、EOR回路21に入力されるスクランブルデータsDuのスクランブル処理時の処理順序に応じて、EOR回路21に出力するスクランブル値を選択する選択回路28及びセレクタ27を備える。
【選択図】図6
Description
近年、光ディスク等の記録媒体における記憶容量の大容量化に伴い、そのデータ読み取り時間の高速化も要求されている。しかし、光ディスクの製造時の欠陥や光ディスクの表面に付着した汚れ等によって、その光ディスクから高速に正しくデータを読み取ることが困難である。そこで、このような光ディスクの記録データは、リード・ソロモン符号を用いたエラー訂正符号がデータと併せて記録されており、そのエラー訂正符号に基づいてエラー訂正処理を行うことにより正しいデータを復元するようにしている。このエラー訂正処理の処理時間が長いため、データ読み取り時間の高速化を実現するためには、上記エラー訂正処理の高速化が要求される。
SI=mod(div(m,2)×3,152)
ただし、mod(a,b):aをbで除算した余りを返す関数
div(a,b):aをbで除算した数値の次に小さい整数を返す関数
すなわち、位置f(m,n(=n1))に配置されたデータ成分e(i,j)及びパリティビットp(i,j)は、位置f(m,n(n2=n1−SI))にインターリーブされる。但し、このシフト方向は巡回的であるため、n2が負の値になった場合には、n2=−1がn=151に対応し、n2=−2がn=150に対応するように、負の値であるn2の絶対値が大きくなるに連れて、実際のシフト先の列番号nは151から順に小さくなっていく。
次に、図40に示すように、アドレス情報やユーザコントロールデータ等を含むデータブロック(720バイト)とパリティ(768バイト)とからなる496行×3列のBIS(Burst Indicator Subcode)クラスタBIScが、上記LDCクラスタLDCcにインターリーブされる。詳しくは、図40(b)に示すように、BISクラスタBIScは1列毎に分割され、LDCクラスタLDCcの38列毎に、分割後のBISクラスタBISc(図40(a)のB1〜B3)が1列ずつ挿入される。
(1)復調回路111からのECCクラスタECCcの入力。
(2)LDCシンドローム生成回路112によるLDCクラスタLDCcの読み出し。
(3)BISシンドローム生成回路113によるBISクラスタBIScの読み出し。
(4)誤り訂正回路の誤り訂正処理。
(5)デスクランブル回路115による誤り訂正処理済のLDCクラスタLDCcの読み出し。
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向における全バイト数)}
バイト分、前記第1生成多項式に従ってシフトさせて新たなスクランブル値を生成する第2シフト演算器と、前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値のうちのいずれか一方のスクランブル値を前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力する第1選択回路と、を備える。
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向におけるバイト数)}
バイト分、前記第2生成多項式に従ってシフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成する第2重み付け回路と、前記第2排他的論理和回路から入力されるEDC演算値に対して、前記第2生成多項式に従って108バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第3重み付け回路と、前記第2重み付け回路からのシフト演算値と、前記EDCメモリ部からのEDCシンドロームの中間結果との排他的論理和を取って、シフト演算値を生成する第3排他的論理和回路と、を備え、前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記第2重み付け回路及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力する。
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向におけるバイト数)}
バイト分、前記第2生成多項式に従ってシフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成する第2重み付け回路と、前記第2排他的論理和回路から入力されるEDC演算値に対して、前記第2生成多項式に従って108バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第3重み付け回路と、前記第2重み付け回路からのシフト演算値と、前記EDCメモリ部からのEDCシンドロームの中間結果との排他的論理和を取って、シフト演算値を生成する第3排他的論理和回路と、を備え、前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記第2重み付け回路及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力する。
{(前記データブロックにおける列方向の全ビット数)−(各読み出しブロックの列方向におけるビット数)}
ビット分、前記第2生成多項式に従って逆シフトさせて新たなベクターを生成する第2逆シフト演算器と、を含んで構成されるベクター生成回路と、前記デスクランブル回路から前記デスクランブルデータがビットデータとして入力されるとともに、前記N個の第1逆シフト演算器に入力されるベクターが入力されるN個のアンド回路と、前記N個のアンド回路からの演算結果の排他的論理和を取って、前記EDCシンドロームの中間結果を生成する第4排他的論理和回路と、前記アンド回路に入力される前記ビットデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記最終段の第1逆シフト演算器及び前記第2逆シフト演算器から入力されるベクターのうちのいずれか一つのベクターを初段の前記第1逆シフト演算器に出力する第3選択回路と、を備える。
入力されたスクランブル値を、
{(データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向における全バイト数)}
バイト分、前記第1生成多項式に従ってシフトさせて新たなスクランブル値を生成する第2シフト演算器と、前記第1排他的論理和回路に入力される前記読み出したデータのデータブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値のうちのいずれか一方のスクランブル値を前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力する第1選択回路と、を備える。
以下、本発明を具体化した第1実施形態を図1〜図21に従って説明する。
図1に示すように、データ読み出し装置としての光ディスク制御装置1は、ATAPI(AT attachment packet interface)等の所定のインターフェースを介してコンピュータ2に接続されている。また、光ディスク制御装置1は、インターフェースを介して光ディスク駆動装置3に接続されている。
光ディスクコントローラ10の復調回路11には、BD4から読み出されたディスクデータが入出力駆動回路5を通じて順次入力される。復調回路11は、入力されるディスクデータをデジタルデータに変換するとともに、そのデジタルデータに同期したクロック信号CLKを生成する。復調回路11は、さらにデジタルデータを復調して、該復調済データ、すなわちECCクラスタECCc(図40(b)参照)を生成し、該ECCクラスタECCc及びクロック信号CLKを出力する。
外部バッファメモリ6は、図9に示すように、複数の格納ブロックから構成される。1つの格納ブロックは、13000Hバイトから構成されている。詳述すると、1つの格納ブロックには、そのアドレス000000H〜00FFFFHに全データフレームDF0〜DF31のユーザデータUD部分(65536バイト)が格納され、アドレス010000H〜0103FFHにBISデータ(720バイト)が格納される。また、1つの格納ブロックには、そのアドレス010400H〜0129FFHにLDCシンドローム(9728バイト)が格納され、アドレス012A00H〜012DFFHにBISシンドローム(768バイト)が格納され、アドレス012E00H〜12FFFHにEDCシンドローム(128バイト)が格納される。従って、1つの格納ブロックに、1つのECCクラスタECCc分のデータを格納することができる。なお、周知ではあるが、「H」はその値が16進数であることを示す。
復調回路11は、BD4からディスクデータを読み込んで復調し、その復調済データ(ECCクラスタECCc)を、内蔵メモリ部12の第1及び第2バッファメモリM1,M2のうちデータ保存用として選択されているバッファメモリに格納する。なお、1つのバッファメモリには、ECCクラスタECCcを31個に分割した2480バイト分の分割ECCクラスタDECCが格納される。
図10のステップS1において、偶数レジスタR2にスクランブル値SCの初期値S0が格納されるとともに、奇数レジスタR3にスクランブル値SCとしてS0・γ108が格納される。ここで、奇数レジスタR3に初期値S0ではなく、S0・γ108を格納した理由について説明する。図7に示すように、第1読み出しブロックRB1内の奇数データフレームDF(例えば、データフレームDF1)において最初に読み出されるスクランブルデータsDuの行番号uが108であるため、S0・γ108を格納するようにした。すなわち、このスクランブルデータsD108は、各データフレームのスクランブル処理時における先頭データsD0よりも、スクランブル処理時において108バイト分だけ遅く処理されるデータである。そのため、初期値S0から108バイト分だけシフトさせて得られるS0・γ108をスクランブル値SCとして奇数レジスタR3に格納するようにした。なお、初期値S0は、ディスクデータ内のECCクラスタECCcにおける物理セクタ番号に応じて予め設定されている値である。
次に、第14読み出しブロックRB14におけるデスクランブル処理について説明する。図7に示すデータフレームDF0,DF1を例に説明すると、第1〜第13読み出しブロックRB1〜RB13では、1〜10列目がデータフレームDF0になるとともに、11〜19列目がデータフレームDF1になる。なお、第15〜第27読み出しブロックRB15〜RB27では、1〜9列目がデータフレームDF0になるとともに、10〜19列目がデータフレームDF0になる。ところが、第14読み出しブロックRB14では、10列目が、データフレームDF0(偶数データフレーム)の最終列になるとともに、データフレームDF1(奇数データフレーム)の1列目になる。また、データフレームDF1については、10列目の5行目から該データフレームDF1におけるスクランブル処理時の先頭データsD0となる。このとき、第13読み出しブロックRB13における最終奇数データフレームのデスクランブル処理時に奇数レジスタR3に格納されるスクランブル値SCは、S0・γ212である。そのため、第14読み出しブロックRB14のデータフレームDF1の先頭データsD0がEOR回路21に入力されるときに、図10及び図11のフローチャートに従って奇数レジスタR3からスクランブル値S0・γ212がEOR回路21に入力されてしまうと、正確にデスクランブル処理を行うことができない。
続いて、ステップS31において、デスクランブル回路20からEOR回路31にバイトデータXn(ここでは、X2051)が入力される。このとき、セレクタ32からEOR回路31にシフト演算値Esが入力されないため、EOR回路31は、バイトデータX2051をEDC演算値E1(1)としてFF回路33を通じて各種演算器34〜37に出力する。
次に、第2読み出しブロックRB2のデータフレームDF0におけるEDC演算処理について説明する。1クロック目から72クロック目までは、ステップS30〜S36が繰り返し実行され、下記式に示すEDC演算値E2(1)〜E2(72)が算出される。
本実施形態では、第27読み出しブロックRB27の偶数データフレームにおいて最後に入力されるバイトデータはX108である。このバイトデータX108は、EDC付加時と同様のデータ処理順序でEDC演算した場合において、その演算処理において最後に入力されるバイトデータX0(最終バイトデータ)よりも、108バイト分だけ早く入力されるデータである。換言すると、バイトデータX108は、EDC付加時と同様のデータ処理順序でEDC演算した場合には、最後のバイトデータX0が入力されるまでに、1次のベクターβ1による重み付けが108回行われるデータである。ところが、本実施形態では、偶数データフレームにおいてバイトデータX108が最後に入力されるため、そのバイトデータX108が入力されたときに算出されるEDC演算値E27(72)では、バイトデータX108に対するベクターβ1による重み付けが一度も行われていない。そこで、本実施形態では、第27読み出しブロックRB27の各偶数データフレームにおける最終行最終列のデータX108が入力されたときのEDC演算値E26(72)に対し、108バイト分のベクターβ(ベクターβ108)による重み付けを行うようにした。
(1)内蔵メモリ部12に対して、LDCシンドローム生成回路13、BISシンドローム生成回路16及びデスクランブル回路20がそれぞれアクセスし、各回路13,16,20は、生成したLDCシンドローム、BISシンドローム及びデスクランブルデータdDuを外部バッファメモリ6に格納するようにした。これにより、図41に示すコントローラ110よりも外部バッファメモリ6へのアクセス量を減らすことができる。
以下、本発明を具体化した第2実施形態について、図22〜図25に従って説明する。この実施形態のデスクランブル回路及びEDCシンドローム生成回路の回路構成、それら回路におけるデータの処理順序が上記第1実施形態と異なっている。以下、第1実施形態との相違点を中心に説明する。
図9に示すように、デスクランブル回路70によりデスクランブル処理の施された各データフレームDF0〜DF31のデスクランブルデータdDuは、32行×64列のブロックとして列方向に4つのデータフレームDF毎に格納される。具体的には、データフレームDF0,DF1,DF2,DF3が列方向に並んで格納されるとともに、データフレームDF4,DF5,DF6,DF7が列方向に並んで格納される。これにより、行方向には、データフレームDF0,DF4,DF8,DF12,DF16,DF20,DF24,DF28が並んで格納されるとともに、データフレームDF1,DF5,DF9,DF13,DF17,DF21,DF25,DF29が並んで格納される。また、行方向には、DF2,DF6,DF10,DF14,DF18,DF22,DF26,DF30が並んで格納されるとともに、DF3,DF7,DF11,DF15,DF19,DF23,DF27,DF31が並んで格納される。
(11)デスクランブル回路70は、各読み出しブロックの各偶数データフレームにおける2列目以降の各列の1行目のスクランブルデータに対するスクランブル値SCを格納する偶数作業レジスタR4を備えた。また、デスクランブル回路20は、各読み出しブロックの各奇数データフレームにおける2列目以降の各列の1行目のスクランブルデータに対するスクランブル値SCを格納する奇数作業レジスタR5を備えた。これにより、図24に示すようなデータ処理順序、すなわち各データフレーム内の1列のデスクランブル処理が終了する度に、異なるデータフレームに処理が移るようなデータ処理順序であっても、上記作業レジスタR4,R5に格納されたスクランブル値SCを利用することによって、デスクランブル処理を連続的に実行することができる。
以下、本発明を具体化した第3実施形態について、図26〜図28に従って説明する。この実施形態のEDCシンドローム生成回路の回路構成が上記第2実施形態と異なっている。以下、第2実施形態との相違点を中心に説明する。なお、デスクランブル回路70による内蔵メモリ部12からのデータ読み出し順序は、上記第2実施形態と同様である。
まずステップS50において、偶数レジスタR20及び奇数レジスタR21に初期値が設定される。すなわち、偶数レジスタR20には、第1読み出しブロックRB1における各偶数データフレームの先頭ビットデータX16415の次数と同一次数のベクターβ16415が格納される。また、奇数レジスタR21には、第1読み出しブロックRB1における各奇数データフレームの先頭ビットデータX15551の次数と同一次数のベクターβ15551が格納される。
以上説明した実施形態によれば、第1及び第2実施形態の(1)〜(13)の作用効果に加えて以下の効果を奏する。
以下、本発明を具体化した第4実施形態について、図31に従って説明する。この実施形態の内蔵メモリ部の構成と、BISメモリ部の接続構成が上記第1実施形態と異なっている。以下、第1実施形態との相違点を中心に説明する。
(15)復調回路11aから直接BISメモリ部15aにBISクラスタBIScを格納するようにし、分割ECCクラスタDECCにおけるLDCクラスタLDCcのみを内蔵メモリ部12eに格納するようにした。これにより、BISメモリ部15aによる内蔵メモリ部12eへのアクセスを省略することができるため、内蔵メモリ部12eへのアクセス量を低減することができる。さらに、BISメモリ部15aは、復調回路11aから直接BISクラスタBIScのみを受け取るため、LDCクラスタLDCcを受け取る処理を省略することができる。このことから、コントローラ10の回路構成を単純化することができる。
以下、本発明を具体化した第5実施形態について、図32に従って説明する。この実施形態のデスクランブル回路と、BISシンドローム生成回路と、EDC補正回路とが上記第4実施形態と異なっている。以下、第4実施形態との相違点を中心に説明する。
(16)第4実施形態のデスクランブル回路20がデスクランブル処理に用いるスクランブル値SCは、復調回路11aがデータを読み出すために用いたBD4のアドレス情報、あるいは誤り訂正前のBISクラスタBISc内の値を用いることになる。誤り訂正前にデータが誤っている可能性がある場合には、誤り訂正前のBISクラスタBISc内の値を用いるのではなく、光ディスクコントローラ10内にあるエラーが含まれない値であって、復調回路11が用いたアドレス情報をスクランブル値SCとして用いる。この場合、復調回路11が正しいアドレスを読んでいないと、誤ったスクランブル値SCを用いてしまうことになる。これにより、誤り訂正及びEDCチェックは正しく終了するものの、デスクランブル処理が正しく終了しないという問題が発生する場合がある。
・上記各実施形態では、デスクランブル回路20,70から入力されるデスクランブルデータdDuに基づいてEDCシンドロームEDCSをEDCシンドローム生成回路30,80,90にて生成するようにした。これに限らず、例えば図33に示すように、従来と同様のEDCチェック回路116により、誤り訂正後のデスクランブルデータに基づいてEDCチェック(EDCシンドロームの生成)を行うようにしてもよい。
(付記1)
所定数のデータフレームにスクランブル処理が施され、スクランブルされたデータフレームが所定サイズのデータブロックに変換され、該データブロックの各列にパリティが付加されたパリティ付加ブロックが生成され、該パリティ付加ブロックに対してインターリーブ処理が施されクラスタが生成され、該クラスタが変調されたデータの誤りを訂正する誤り訂正装置であって、
前記変調されたデータを復調して復調されたデータとしてクラスタを生成する復調回路と、
前記復調回路からのクラスタが所定行数毎に分割された分割クラスタが格納される内蔵メモリ部と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタをデインターリーブ処理して生成したパリティ付加ブロックにおける各データが列方向に入力され、該各データに基づいてパリティ演算結果を前記パリティ付加ブロックの列毎に生成するパリティ演算結果生成回路と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタにデインターリーブ処理が施され、前記データブロックにおける各スクランブルデータが列方向に読み出しブロックとして入力され、該各スクランブルデータにデスクランブル処理を施したデスクランブルデータを生成するデスクランブル回路と、
前記パリティ演算結果に基づいて、前記デスクランブルデータに対して誤り訂正処理を行う誤り訂正回路と、を備え、
前記デスクランブル回路は、
前記内蔵メモリ部からの前記スクランブルデータが入力される第1排他的論理和回路と、
入力されたスクランブル値を、所定の第1生成多項式に従って1バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する第1シフト演算器と、
入力されたスクランブル値を、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向における全バイト数)}
バイト分、前記第1生成多項式に従ってシフトさせて新たなスクランブル値を生成する第2シフト演算器と、
前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値のうちのいずれか一方のスクランブル値を前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力する第1選択回路と、を備えることを特徴とする誤り訂正装置。
(付記2)
前記パリティ演算結果生成回路は、前記内蔵メモリ部に格納された前記分割クラスタにデインターリーブ処理を施して、前記パリティ付加ブロックにおける各データを列方向に読み出し、
前記デスクランブル回路は、前記内蔵メモリ部に格納された前記分割クラスタにデインターリーブ処理を施して、前記データブロックにおける各スクランブルデータを列方向に読み出すことを特徴とする付記1に記載の誤り訂正装置。
(付記3)
前記内蔵メモリ部には、前記復調回路からデインターリーブ処理が施されて前記分割クラスタが格納され、
前記パリティ演算結果生成回路は、前記内蔵メモリ部に格納された前記パリティ付加ブロックを列方向に読み出し、
前記デスクランブル回路は、前記内蔵メモリ部に格納された前記データブロックを列方向に読み出すことを特徴とする付記1に記載の誤り訂正装置。
(付記4)
前記データブロックにおいて最初に処理されるデータフレームと該データフレームから1つおきに処理されるデータフレームとを偶数データフレームとし、該偶数データフレームの次に処理されるデータフレームを奇数データフレームとしたときに、
前記デスクランブル回路は、
前記各読み出しブロックの前記偶数データフレームにおける1列目の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第1シフト演算器を通じて格納される第1偶数レジスタと、
前記各読み出しブロックの前記奇数データフレームにおける1列目の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第1シフト演算器を通じて格納される第1奇数レジスタと、を備え、
前記第1選択回路は、前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器、前記第2シフト演算器、前記第1偶数レジスタ及び前記第1奇数レジスタから入力されるスクランブル値のうちのいずれか一つのスクランブル値を、前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力することを特徴とする付記1〜3のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記5)
前記デスクランブル回路は、
入力されたスクランブル値を、前記第1生成多項式に従って108バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する第3シフト演算器を備え、
前記各クラスタにおけるデスクランブル処理開始時の初期値設定において、
前記第1偶数レジスタには、前記各クラスタに応じて設定されるスクランブル値の初期値が格納されるとともに、
前記第1奇数レジスタには、前記初期値が前記第3シフト演算器を通じて格納されることを特徴とする付記4に記載の誤り訂正装置。
(付記6)
前記デスクランブル回路は、
前記各読み出しブロックの前記偶数データフレームにおける各列の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第2シフト演算器を通じて格納される偶数作業レジスタと、
前記各読み出しブロックの前記奇数データフレームにおける各列の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第2シフト演算器を通じて格納される奇数作業レジスタと、を備え、
前記第1選択回路は、前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器、前記第2シフト演算器、前記第1偶数レジスタ、前記第1奇数レジスタ、前記偶数作業レジスタ及び前記奇数作業レジスタから入力されるスクランブル値のうちのいずれか一つのスクランブル値を、前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力することを特徴とする付記4又は5に記載の誤り訂正装置。
(付記7)
前記第1選択回路は、
前記各読み出しブロックの前記各偶数データフレームにおける1行1列目の先頭スクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1偶数レジスタから入力されるスクランブル値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各奇数データフレームにおける1行1列目の先頭スクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1奇数レジスタから入力されるスクランブル値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける各列の2行目以降のスクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1シフト演算器から入力されるスクランブル値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける2列目以降の各列の1行目のスクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値を出力することを特徴とする付記5に記載の誤り訂正装置。
(付記8)
前記第1選択回路は、
前記各読み出しブロックの前記各偶数データフレームにおける1行1列目の先頭スクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1偶数レジスタから入力されるスクランブル値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各奇数データフレームにおける1行1列目の先頭スクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1奇数レジスタから入力されるスクランブル値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各偶数データフレームにおける2列目以降の各列の1行目のスクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記偶数作業レジスタから入力されるスクランブル値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各奇数データフレームにおける2列目以降の各列の1行目のスクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記奇数作業レジスタから入力されるスクランブル値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける各列の2行目以降のスクランブルデータが前記第1排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1シフト演算器から入力されるスクランブル値を出力することを特徴とする付記6に記載の誤り訂正装置。
(付記9)
前記デスクランブル回路は、前記各読み出しブロックの中で、前記データブロックにおけるデータ配置と同様の順序にて各スクランブルデータを読み出すことを特徴とする付記1〜8のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記10)
前記デスクランブル回路は、前記各読み出しブロックの中で、外部メモリの行方向に並んで格納されるデータフレームの同一列のスクランブルデータを連続して順番に読み出すことを特徴とする付記6又は8に記載の誤り訂正装置。
(付記11)
前記第1選択回路は、
前記各奇数データフレームにおけるスクランブル処理時の先頭データが前記第1排他的論理和回路に入力されたときに、前記初期値を前記第1排他的論理和回路に出力することを特徴とする付記7〜10のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記12)
前記デスクランブル回路から前記デスクランブルデータが入力されて、該デスクランブルデータに基づいてEDCシンドロームを生成するEDCシンドローム生成回路と、
前記EDCシンドローム生成回路により生成されるEDCシンドロームの中間結果を前記データフレーム毎に格納するEDCメモリ部と、を備えたことを特徴とする付記1〜11のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記13)
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記デスクランブル回路からバイトデータとして入力される前記デスクランブルデータと、第2選択回路から入力されるシフト演算値との排他的論理和を取って、EDC演算値を生成する第2排他的論理和回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、所定の第2生成多項式に従って1バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第1重み付け回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向におけるバイト数)}
バイト分、前記第2生成多項式に従ってシフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成する第2重み付け回路と、
前記第2排他的論理和回路から入力されるEDC演算値に対して、前記第2生成多項式に従って108バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第3重み付け回路と、
前記第2重み付け回路からのシフト演算値と、前記EDCメモリ部からのEDCシンドロームの中間結果との排他的論理和を取って、シフト演算値を生成する第3排他的論理和回路と、を備え、
前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記第2重み付け回路及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力することを特徴とする付記12に記載の誤り訂正装置。
(付記14)
所定数のデータフレームにスクランブル処理が施され、スクランブルされたデータフレームが所定サイズのデータブロックに変換され、該データブロックの各列にパリティが付加されたパリティ付加ブロックが生成され、該パリティ付加ブロックに対してインターリーブ処理が施されクラスタが生成され、該クラスタが変調されたデータの誤りを訂正する誤り訂正装置であって、
前記変調されたデータを復調して復調されたデータとしてクラスタを生成する復調回路と、
前記復調回路からのクラスタが所定行数毎に分割された分割クラスタが格納される内蔵メモリ部と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタをデインターリーブ処理して生成したパリティ付加ブロックにおける各データが列方向に入力され、該各データに基づいてパリティ演算結果を前記パリティ付加ブロックの列毎に生成するパリティ演算結果生成回路と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタにデインターリーブ処理が施され、前記データブロックにおける各スクランブルデータが列方向に読み出しブロックとして入力され、該スクランブルデータに基づいてEDCシンドロームを生成するEDCシンドローム生成回路と、
前記EDCシンドローム生成回路により生成されるEDCシンドロームの中間結果を前記データフレーム毎に格納するEDCメモリ部と、
前記パリティ演算結果に基づいて、前記スクランブルデータに対して誤り訂正処理を行う誤り訂正回路と、を備え、
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記内蔵メモリ部からバイトデータとして入力される前記スクランブルデータと、第2選択回路から入力されるシフト演算値との排他的論理和を取って、EDC演算値を生成する第2排他的論理和回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、所定の第2生成多項式に従って1バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第1重み付け回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向におけるバイト数)}
バイト分、前記第2生成多項式に従ってシフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成する第2重み付け回路と、
前記第2排他的論理和回路から入力されるEDC演算値に対して、前記第2生成多項式に従って108バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第3重み付け回路と、
前記第2重み付け回路からのシフト演算値と、前記EDCメモリ部からのEDCシンドロームの中間結果との排他的論理和を取って、シフト演算値を生成する第3排他的論理和回路と、を備え、
前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記第2重み付け回路及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力することを特徴とする誤り訂正装置。
(付記15)
前記EDCシンドローム生成回路から外部メモリに格納されたEDCシンドロームが格納される補正メモリ部と、
前記誤り訂正回路により算出される誤り位置及び誤り数値に基づいて、前記補正メモリ部に格納されたEDCシンドロームを補正するとともに、前記クラスタのBISクラスタ内のスクランブル値の初期値から算出されるスクランブル値に基づいて、前記EDCシンドロームを補正するEDC補正回路を備えたことを特徴とする付記14に記載の誤り訂正装置。
(付記16)
前記EDCシンドローム生成回路は、前記各読み出しブロックの中で、前記データブロックにおけるデータ配置と同様の順序にて前記各バイトデータを読み出すことを特徴とする付記14又は15に記載の誤り訂正装置。
(付記17)
前記EDCシンドローム生成回路は、前記各読み出しブロックの中で、外部メモリの行方向に並んで格納されるデータフレームの同一列の前記バイトデータを連続して順番に読み出すことを特徴とする付記14又は15に記載の誤り訂正装置。
(付記18)
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記第2排他的論理和回路から入力されるEDC演算値に対して、前記第2生成多項式に従って211バイト分、逆シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第4重み付け回路を備えたことを特徴とする付記13〜17のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記19)
前記データブロックにおいて最初に処理されるデータフレームと該データフレームから1つおきに処理されるデータフレームとを偶数データフレームとし、該偶数データフレームの次に処理されるデータフレームを奇数データフレームとしたときに、
前記EDCメモリ部には、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける最終行最終列のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されたときに生成されるEDC演算値が、前記第1重み付け回路を通じて前記EDCシンドロームの中間結果として格納され、
前記EDCシンドローム生成回路に最後に入力される最終読み出しブロックの前記各偶数データフレームにおける最終行最終列のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されたときに生成されるEDC演算値が、前記第3重み付け回路を通じて前記EDCシンドロームとして格納され、
前記最終読み出しブロックの前記各奇数データフレームにおける最終行最終列のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されたときに生成されるEDC演算値が、前記EDCシンドロームとして格納されることを特徴とする付記13〜18のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記20)
前記データブロックにおいて最初に処理されるデータフレームと該データフレームから1つおきに処理されるデータフレームとを偶数データフレームとし、該偶数データフレームの次に処理されるデータフレームを奇数データフレームとしたときに、
前記EDCメモリ部には、
前記各偶数データフレームにおけるEDC付加時の最終バイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されたときに生成されるEDC演算値が、前記第4重み付け回路を通じて前記EDCシンドロームの中間結果として格納されることを特徴とする付記18に記載の誤り訂正装置。
(付記21)
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける各列の最終行のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されたときに生成されるEDC演算値が、前記第2重み付け回路を通じてシフト演算値として格納される作業メモリを備え、
前記作業メモリは、前記格納されたシフト演算値を前記第3排他的論理和回路及び前記第2選択回路に出力し、
前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記作業メモリ及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力することを特徴とする付記13〜20のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記22)
前記第2選択回路は、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける2行目以降のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1重み付け回路から入力されるシフト演算値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける1列目及び最終列を除く各列の1行目のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されるときに、前記第2重み付け回路から入力されるシフト演算値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける最終列の1行目のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されるときに、前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値を出力することを特徴とする付記13〜20のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記23)
前記第2選択回路は、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける2行目以降のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されるときに、前記第1重み付け回路から入力されるシフト演算値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける1列目及び最終列を除く各列の1行目のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されるときに、前記作業メモリから入力されるシフト演算値を出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける最終列の1行目のバイトデータが第前記2排他的論理和回路に入力されるときに、前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値を出力することを特徴とする付記21に記載の誤り訂正装置。
(付記24)
前記EDCシンドローム生成回路は、
入力されるベクターを、所定の第2生成多項式に従って1ビット分、逆シフトさせて新たなベクターを生成する第1逆シフト演算器がN個直列に接続された第1逆シフト演算器群と、該N個の逆シフト演算器の最終段から入力されるベクターを、
{(前記データブロックにおける列方向の全ビット数)−(各読み出しブロックの列方向におけるビット数)}
ビット分、前記第2生成多項式に従って逆シフトさせて新たなベクターを生成する第2逆シフト演算器と、を含んで構成されるベクター生成回路と、
前記デスクランブル回路から前記デスクランブルデータがビットデータとして入力されるとともに、前記N個の第1逆シフト演算器に入力されるベクターが入力されるN個のアンド回路と、
前記N個のアンド回路からの演算結果の排他的論理和を取って、前記EDCシンドロームの中間結果を生成する第4排他的論理和回路と、
前記アンド回路に入力される前記ビットデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記最終段の第1逆シフト演算器及び前記第2逆シフト演算器から入力されるベクターのうちのいずれか一つのベクターを初段の前記第1逆シフト演算器に出力する第3選択回路と、を備えることを特徴とする付記12に記載の誤り訂正装置。
(付記25)
所定数のデータフレームにスクランブル処理が施され、スクランブルされたデータフレームが所定サイズのデータブロックに変換され、該データブロックの各列にパリティが付加されたパリティ付加ブロックが生成され、該パリティ付加ブロックに対してインターリーブ処理が施されクラスタが生成され、該クラスタが変調されたデータの誤りを訂正する誤り訂正装置であって、
前記変調されたデータを復調して復調されたデータとしてクラスタを生成する復調回路と、
前記復調回路からのクラスタが所定行数毎に分割された分割クラスタが格納される内蔵メモリ部と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタをデインターリーブ処理して生成したパリティ付加ブロックにおける各データが列方向に入力され、該各データに基づいてパリティ演算結果を前記パリティ付加ブロックの列毎に生成するパリティ演算結果生成回路と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタにデインターリーブ処理が施され、前記データブロックにおける各スクランブルデータが列方向に読み出しブロックとして入力され、該スクランブルデータに基づいてEDCシンドロームを生成するEDCシンドローム生成回路と、
前記EDCシンドローム生成回路により生成されるEDCシンドロームの中間結果を前記データフレーム毎に格納するEDCメモリ部と、
前記パリティ演算結果に基づいて、前記スクランブルデータに対して誤り訂正処理を行う誤り訂正回路と、を備え、
前記EDCシンドローム生成回路は、
入力されるベクターを、所定の第2生成多項式に従って1ビット分、逆シフトさせて新たなベクターを生成する第1逆シフト演算器がN個直列に接続された第1逆シフト演算器群と、該N個の逆シフト演算器の最終段から入力されるベクターを、
{(前記データブロックにおける列方向の全ビット数)−(各読み出しブロックの列方向におけるビット数)}
ビット分、前記第2生成多項式に従って逆シフトさせて新たなベクターを生成する第2逆シフト演算器と、を含んで構成されるベクター生成回路と、
前記復調回路から前記スクランブルデータがビットデータとして入力されるとともに、前記N個の第1逆シフト演算器に入力されるベクターが入力されるN個のアンド回路と、
前記N個のアンド回路からの演算結果の排他的論理和を取って、前記EDCシンドロームの中間結果を生成する第4排他的論理和回路と、
前記アンド回路に入力される前記ビットデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記最終段の第1逆シフト演算器及び前記第2逆シフト演算器から入力されるベクターのうちのいずれか一つのベクターを初段の前記第1逆シフト演算器に出力する第3選択回路と、を備えることを特徴とする誤り訂正装置。
(付記26)
前記データブロックにおいて最初に処理されるデータフレームと該データフレームから1つおきに処理されるデータフレームとを偶数データフレームとし、該偶数データフレームの次に処理されるデータフレームを奇数データフレームとしたときに、
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記各読み出しブロックの前記偶数データフレームにおける1列目の最終行のビットデータに乗算されたベクターが前記最終段の第1逆シフト演算器を通じて格納される第2偶数レジスタと、
前記各読み出しブロックの前記奇数データフレームにおける1列目の最終行のビットデータに乗算されたベクターが前記最終段の第1逆シフト演算器を通じて格納される第2奇数レジスタと、を備え、
前記第3選択回路は、前記アンド回路に入力される前記ビットデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記最終段の第1逆シフト演算器、前記第2逆シフト演算器、前記第2偶数レジスタ及び前記第2奇数レジスタから入力されるベクターのうちのいずれか一つのベクターを前記初段の第1逆シフト演算器に出力することを特徴とする付記24又は25に記載の誤り訂正装置。
(付記27)
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記各クラスタにおけるEDC演算処理開始時の初期値設定において、
前記第2偶数レジスタには、前記第2生成多項式に従って生成された16415次のベクターが格納されるとともに、
前記第2奇数レジスタには、前記第2生成多項式に従って生成された15551次のベクターが格納されることを特徴とする付記26に記載の誤り訂正装置。
(付記28)
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記各読み出しブロックの前記偶数データフレームにおける各列の最終行のビットデータに乗算されたベクターが前記第2逆シフト演算器を通じて格納される偶数ラインレジスタと、
前記各読み出しブロックの前記奇数データフレームにおける各列の最終行のビットデータに乗算されたベクターが前記第2逆シフト演算器を通じて格納される奇数ラインレジスタと、を備え、
前記第3選択回路は、前記アンド回路に入力される前記ビットデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記最終段の第1逆シフト演算器、前記第2偶数レジスタ、前記第2奇数レジスタ、前記偶数ラインレジスタ及び前記奇数ラインレジスタから入力されるベクターのいずれか一つのベクターを前記初段の第1逆シフト演算器に出力することを特徴とする付記26又は27に記載の誤り訂正装置。
(付記29)
前記第3選択回路は、
前記各読み出しブロックの前記各偶数データフレームにおける1行1列目の先頭ビットデータを含むNビット分のビットデータが前記N個のアンド回路に入力されるときに、前記第2偶数レジスタから入力されるベクターを出力し、
前記各読み出しブロックの前記各奇数データフレームにおける1行1列目の先頭ビットデータを含むNビット分のビットデータが前記N個のアンド回路に入力されるときに、前記第2奇数レジスタから入力されるベクターを出力し、
前記各読み出しブロックの前記各偶数データフレームにおける2列目以降の各列の1行目のビットデータを含むNビット分のビットデータが前記N個のアンド回路に入力されるときに、前記偶数ラインレジスタから入力されるベクターを出力し、
前記各読み出しブロックの前記各奇数データフレームにおける2列目以降の各列の1行目のビットデータを含むNビット分のビットデータが前記N個のアンド回路に入力されるときに、前記奇数ラインレジスタから入力されるベクターを出力し、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける(N+1)行目以降のビットデータを含むNビット分のビットデータが前記N個のアンド回路に入力されるときに、前記最終段の第1逆シフト演算器から入力されるベクターを出力することを特徴とする付記28に記載の誤り訂正装置。
(付記30)
誤り訂正済のデスクランブルデータに基づいてEDCシンドロームを生成するEDCシンドローム生成回路を備えたことを特徴とする付記1〜11のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記31)
前記内蔵メモリ部は、前記復調回路から前記分割クラスタ内のLDCクラスタが格納されるLDCデータメモリ部と、前記復調回路から前記クラスタ内のBISクラスタが格納されるBISメモリ部とを備え、
前記BISメモリ部から前記BISクラスタを読み出し、該BISクラスタに基づいてBISシンドロームを生成するBISシンドローム生成回路を備えたことを特徴とする付記1〜30のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記32)
前記LDCデータメモリ部は、少なくとも2つのメモリから構成され、
前記LDCデータメモリ部の少なくとも1つのメモリを前記復調回路からの前記分割クラスタ内のLDCクラスタを格納するデータ保存用として使用するとともに、前記LDCデータメモリ部の少なくとも1つのメモリを前記パリティ演算結果生成回路からアクセスされるアクセス用として使用することを特徴とする付記31に記載の誤り訂正装置。
(付記33)
前記内蔵メモリ部は、少なくとも2つのメモリから構成され、
前記内蔵メモリ部の少なくとも1つのメモリを前記復調回路からの前記分割クラスタを格納するデータ保存用として使用するとともに、前記内蔵メモリ部の少なくとも1つのメモリを前記パリティ演算結果生成回路からアクセスされるアクセス用として使用することを特徴とする付記1〜30のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記34)
前記内蔵メモリ部から前記分割クラスタ内のBISクラスタが格納される小容量のBISメモリ部と、
前記BISメモリ部から読み出した前記BISクラスタに基づいてBISシンドロームを生成することを特徴とする付記1〜30,33のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記35)
前記BISメモリ部は、少なくとも2つのメモリから構成され、
前記BISメモリ部の少なくとも1つのメモリを、前記BISクラスタを格納するデータ保存用として使用するとともに、前記BISメモリ部の少なくとも1つのメモリを前記BISシンドローム生成回路からアクセスされるデータ出力用として使用することを特徴とする付記31,32,34のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記36)
前記パリティ演算結果生成回路にて生成されるパリティ演算結果の中間結果を格納する小容量のLDCメモリ部を備えたことを特徴とする付記1〜35のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記37)
前記LDCメモリ部は、少なくとも2つのメモリから構成され、
前記LDCメモリ部の少なくとも1つのメモリを前記パリティ演算結果生成回路からの前記パリティ演算結果の中間結果を格納するシンドローム保存用として使用するとともに、前記LDCメモリ部の少なくとも1つのメモリを外部メモリに前記パリティ演算結果を出力するデータ出力用として使用することを特徴とする付記36に記載の誤り訂正装置。
(付記38)
前記EDCシンドローム生成回路から外部メモリに格納されたEDCシンドロームが格納される補正メモリ部と、
前記誤り訂正回路により算出される誤り位置及び誤り数値に基づいて、前記補正メモリ部に格納されたEDCシンドロームを補正するEDC補正回路と、を備えることを特徴とする付記12〜37のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。
(付記39)
誤り訂正装置とメモリとを含んで構成され、光ディスクに書き込まれたデータを読み出すデータ読み出し装置であって、
前記誤り訂正装置は、
所定数のデータフレームにスクランブル処理が施され、スクランブルされたデータフレームが所定サイズのデータブロックに変換され、該データブロックの各列にパリティが付加されたパリティ付加ブロックが生成され、該パリティ付加ブロックに対してインターリーブ処理が施されクラスタが生成され、該クラスタが変調されたデータが書き込まれる高密度光ディスクから前記変調されたデータを読み出して、該変調されたデータを復調して復調されたデータとしてクラスタを生成する復調回路と、
前記復調回路からのクラスタが所定行数毎に分割された分割クラスタが格納される内蔵メモリ部と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタをデインターリーブ処理して生成したパリティ付加ブロックにおける各データが列方向に入力され、該各データに基づいてパリティ演算結果を前記パリティ付加ブロックの列毎に生成するパリティ演算結果生成回路と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタにデインターリーブ処理が施され、前記データブロックにおける各スクランブルデータが列方向に読み出しブロックとして入力され、該各スクランブルデータにデスクランブル処理を施したデスクランブルデータを生成するデスクランブル回路と、
前記メモリに格納された前記パリティ演算結果に基づいて、前記メモリに格納された前記デスクランブルデータに対して誤り訂正処理を行う誤り訂正回路と、を備え、
前記デスクランブル回路は、
前記内蔵メモリ部からの前記スクランブルデータが入力される第1排他的論理和回路と、
入力されたスクランブル値を、所定の第1生成多項式に従って1バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する第1シフト演算器と、
入力されたスクランブル値を、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向における全バイト数)}
バイト分、前記第1生成多項式に従ってシフトさせて新たなスクランブル値を生成する第2シフト演算器と、
前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値のうちのいずれか一方のスクランブル値を前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力する第1選択回路と、を備えることを特徴とするデータ読み出し装置。
(付記40)
所定数のデータフレームにスクランブル処理が施され、スクランブルされたデータフレームが所定サイズのデータブロックに変換され、該データブロックの各列にパリティが付加されたパリティ付加ブロックが生成され、該パリティ付加ブロックに対してインターリーブ処理が施されクラスタが生成され、該クラスタが変調されて光ディスクに書き込まれたデータの読み出しに使用されるデスクランブル回路であって、
読み出したデータが入力される第1排他的論理和回路と、
入力されたスクランブル値を、所定の第1生成多項式に従って1バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する第1シフト演算器と、
入力されたスクランブル値を、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向における全バイト数)}
バイト分、前記第1生成多項式に従ってシフトさせて新たなスクランブル値を生成する第2シフト演算器と、
前記第1排他的論理和回路に入力される前記読み出したデータのデータブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値のうちのいずれか一方のスクランブル値を前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力する第1選択回路と、を備えることを特徴とするデスクランブル回路。
4 ブルーレイディスク(高密度光ディスク)
6 外部バッファメモリ(外部メモリ)
10 光ディスクコントローラ(誤り訂正装置)
11,11a 復調回路
12,12e 内蔵メモリ部
13 LDCシンドローム生成回路(パリティ演算結果生成回路)
14 LDCメモリ部
15,15a BISメモリ部
16,16a BISシンドローム生成回路
20,70,115 デスクランブル回路
21 EOR回路(第1排他的論理和回路)
24 1シフト演算器(第1シフト演算器)
25 209シフト演算器(第2シフト演算器)
26 108シフト演算器(第3シフト演算器)
28,72 選択回路(第1選択回路)
30,30a,80,90 EDCシンドローム生成回路
31 EOR回路(第2排他的論理和回路)
34 1シフト演算器(第1重み付け回路)
35 209シフト演算器(第2重み付け回路)
36 108シフト演算器(第3重み付け回路)
37 −211シフト演算器(第4重み付け回路)
38 EOR回路(第3排他的論理和回路)
39,82 選択回路(第2選択回路)
40 EDCメモリ部
50 誤り訂正回路
51,51a 訂正回路
52,52a EDC補正回路
53 補正メモリ部
81 作業メモリ
91 ベクター生成回路
94 EOR回路(第4排他的論理和回路)
97 選択回路(第3選択回路)
A1〜A16 アンド回路
B1〜B16 β−1シフト演算器(第1逆シフト演算器、第1逆シフト演算器群)
B17 β−1664シフト演算器(第2逆シフト演算器)
M1〜M8,M11,M12 バッファメモリ
R2 偶数レジスタ(第1偶数レジスタ)
R3 奇数レジスタ(第2奇数レジスタ)
R4 偶数作業レジスタ
R5 奇数作業レジスタ
R20 偶数レジスタ(第2偶数レジスタ)
R21 奇数レジスタ(第2奇数レジスタ)
R22 偶数ラインレジスタ
R23 奇数ラインレジスタ
Claims (10)
- 所定数のデータフレームにスクランブル処理が施され、スクランブルされたデータフレームが所定サイズのデータブロックに変換され、該データブロックの各列にパリティが付加されたパリティ付加ブロックが生成され、該パリティ付加ブロックに対してインターリーブ処理が施されクラスタが生成され、該クラスタが変調されたデータの誤りを訂正する誤り訂正装置であって、
前記変調されたデータを復調して復調されたデータとしてクラスタを生成する復調回路と、
前記復調回路からのクラスタが所定行数毎に分割された分割クラスタが格納される内蔵メモリ部と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタをデインターリーブ処理して生成したパリティ付加ブロックにおける各データが列方向に入力され、該各データに基づいてパリティ演算結果を前記パリティ付加ブロックの列毎に生成するパリティ演算結果生成回路と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタにデインターリーブ処理が施され、前記データブロックにおける各スクランブルデータが列方向に読み出しブロックとして入力され、該各スクランブルデータにデスクランブル処理を施したデスクランブルデータを生成するデスクランブル回路と、
前記パリティ演算結果に基づいて、前記デスクランブルデータに対して誤り訂正処理を行う誤り訂正回路と、を備え、
前記デスクランブル回路は、
前記内蔵メモリ部からの前記スクランブルデータが入力される第1排他的論理和回路と、
入力されたスクランブル値を、所定の第1生成多項式に従って1バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する第1シフト演算器と、
入力されたスクランブル値を、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向における全バイト数)}
バイト分、前記第1生成多項式に従ってシフトさせて新たなスクランブル値を生成する第2シフト演算器と、
前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値のうちのいずれか一方のスクランブル値を前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力する第1選択回路と、を備えることを特徴とする誤り訂正装置。 - 前記データブロックにおいて最初に処理されるデータフレームと該データフレームから1つおきに処理されるデータフレームとを偶数データフレームとし、該偶数データフレームの次に処理されるデータフレームを奇数データフレームとしたときに、
前記デスクランブル回路は、
前記各読み出しブロックの前記偶数データフレームにおける1列目の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第1シフト演算器を通じて格納される第1偶数レジスタと、
前記各読み出しブロックの前記奇数データフレームにおける1列目の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第1シフト演算器を通じて格納される第1奇数レジスタと、を備え、
前記第1選択回路は、前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器、前記第2シフト演算器、前記第1偶数レジスタ及び前記第1奇数レジスタから入力されるスクランブル値のうちのいずれか一つのスクランブル値を、前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力することを特徴とする請求項1に記載の誤り訂正装置。 - 前記デスクランブル回路は、
前記各読み出しブロックの前記偶数データフレームにおける各列の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第2シフト演算器を通じて格納される偶数作業レジスタと、
前記各読み出しブロックの前記奇数データフレームにおける各列の最終行のスクランブルデータに対するスクランブル値が前記第2シフト演算器を通じて格納される奇数作業レジスタと、を備え、
前記第1選択回路は、前記第1排他的論理和回路に入力される前記スクランブルデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器、前記第2シフト演算器、前記第1偶数レジスタ、前記第1奇数レジスタ、前記偶数作業レジスタ及び前記奇数作業レジスタから入力されるスクランブル値のうちのいずれか一つのスクランブル値を、前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力することを特徴とする請求項2に記載の誤り訂正装置。 - 前記デスクランブル回路から前記デスクランブルデータが入力されて、該デスクランブルデータに基づいてEDCシンドロームを生成するEDCシンドローム生成回路と、
EDCシンドローム生成回路により生成されるEDCシンドロームの中間結果を前記データフレーム毎に格納するEDCメモリ部と、を備え、
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記デスクランブル回路からバイトデータとして入力される前記デスクランブルデータと、第2選択回路から入力されるシフト演算値との排他的論理和を取って、EDC演算値を生成する第2排他的論理和回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、所定の第2生成多項式に従って1バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第1重み付け回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向におけるバイト数)}
バイト分、前記第2生成多項式に従ってシフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成する第2重み付け回路と、
前記第2排他的論理和回路から入力されるEDC演算値に対して、前記第2生成多項式に従って108バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第3重み付け回路と、
前記第2重み付け回路からのシフト演算値と、前記EDCメモリ部からのEDCシンドロームの中間結果との排他的論理和を取って、シフト演算値を生成する第3排他的論理和回路と、を備え、
前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記第2重み付け回路及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。 - 所定数のデータフレームにスクランブル処理が施され、スクランブルされたデータフレームが所定サイズのデータブロックに変換され、該データブロックの各列にパリティが付加されたパリティ付加ブロックが生成され、該パリティ付加ブロックに対してインターリーブ処理が施されクラスタが生成され、該クラスタが変調されたデータの誤りを訂正する誤り訂正装置であって、
前記変調されたデータを復調して復調されたデータとしてクラスタを生成する復調回路と、
前記復調回路からのクラスタが所定行数毎に分割された分割クラスタが格納される内蔵メモリ部と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタをデインターリーブ処理して生成したパリティ付加ブロックにおける各データが列方向に入力され、該各データに基づいてパリティ演算結果を前記パリティ付加ブロックの列毎に生成するパリティ演算結果生成回路と、
前記内蔵メモリ部を通じて、前記分割クラスタにデインターリーブ処理が施され、前記データブロックにおける各スクランブルデータが列方向に読み出しブロックとして入力され、該スクランブルデータに基づいてEDCシンドロームを生成するEDCシンドローム生成回路と、
前記EDCシンドローム生成回路により生成されるEDCシンドロームの中間結果を前記データフレーム毎に格納するEDCメモリ部と、
前記パリティ演算結果に基づいて、前記スクランブルデータに対して誤り訂正処理を行う誤り訂正回路と、を備え、
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記内蔵メモリ部からバイトデータとして入力される前記スクランブルデータと、第2選択回路から入力されるシフト演算値との排他的論理和を取って、EDC演算値を生成する第2排他的論理和回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、所定の第2生成多項式に従って1バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第1重み付け回路と、
前記第2排他的論理和から入力されるEDC演算値に対して、
{(前記データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向におけるバイト数)}
バイト分、前記第2生成多項式に従ってシフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成する第2重み付け回路と、
前記第2排他的論理和回路から入力されるEDC演算値に対して、前記第2生成多項式に従って108バイト分シフトさせる重み付けをしてシフト演算値を生成し、該シフト演算値を前記EDCメモリ部に格納する第3重み付け回路と、
前記第2重み付け回路からのシフト演算値と、前記EDCメモリ部からのEDCシンドロームの中間結果との排他的論理和を取って、シフト演算値を生成する第3排他的論理和回路と、を備え、
前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記第2重み付け回路及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力することを特徴とする誤り訂正装置。 - 前記EDCシンドローム生成回路は、
前記各読み出しブロックの前記各データフレームにおける各列の最終行のバイトデータが前記第2排他的論理和回路に入力されたときに生成されるEDC演算値が、前記第2重み付け回路を通じてシフト演算値として格納される作業メモリを備え、
前記作業メモリは、前記格納されたシフト演算値を前記第3排他的論理和回路及び前記第2選択回路に出力し、
前記第2選択回路は、前記第2排他的論理和回路に入力される前記バイトデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記第1重み付け回路、前記作業メモリ及び前記第3排他的論理和回路から入力されるシフト演算値のうちのいずれか一つのシフト演算値を前記第2排他的論理和回路に出力することを特徴とする請求項4又は5に記載の誤り訂正装置。 - 前記デスクランブル回路から前記デスクランブルデータが入力されて、該デスクランブルデータに基づいてEDCシンドロームを生成するEDCシンドローム生成回路と、
EDCシンドローム生成回路により生成されるEDCシンドロームの中間結果を前記データフレーム毎に格納するEDCメモリ部と、を備え、
前記EDCシンドローム生成回路は、
入力されるベクターを、所定の第2生成多項式に従って1ビット分、逆シフトさせて新たなベクターを生成する第1逆シフト演算器がN個直列に接続された第1逆シフト演算器群と、該N個の逆シフト演算器の最終段から入力されるベクターを、
{(前記データブロックにおける列方向の全ビット数)−(各読み出しブロックの列方向におけるビット数)}
ビット分、前記第2生成多項式に従って逆シフトさせて新たなベクターを生成する第2逆シフト演算器と、を含んで構成されるベクター生成回路と、
前記デスクランブル回路から前記デスクランブルデータがビットデータとして入力されるとともに、前記N個の第1逆シフト演算器に入力されるベクターが入力されるN個のアンド回路と、
前記N個のアンド回路からの演算結果の排他的論理和を取って、前記EDCシンドロームの中間結果を生成する第4排他的論理和回路と、
前記アンド回路に入力される前記ビットデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記最終段の第1逆シフト演算器及び前記第2逆シフト演算器から入力されるベクターのうちのいずれか一つのベクターを初段の前記第1逆シフト演算器に出力する第3選択回路と、を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。 - 前記データブロックにおいて最初に処理されるデータフレームと該データフレームから1つおきに処理されるデータフレームとを偶数データフレームとし、該偶数データフレームの次に処理されるデータフレームを奇数データフレームとしたときに、
前記EDCシンドローム生成回路は、
前記各読み出しブロックの前記偶数データフレームにおける1列目の最終行のビットデータに乗算されたベクターが前記最終段の第1逆シフト演算器を通じて格納される第2偶数レジスタと、
前記各読み出しブロックの前記奇数データフレームにおける1列目の最終行のビットデータに乗算されたベクターが前記最終段の第1逆シフト演算器を通じて格納される第2奇数レジスタと、を備え、
前記第3選択回路は、前記アンド回路に入力される前記ビットデータの前記データブロックにおける位置に応じて、前記最終段の第1逆シフト演算器、前記第2逆シフト演算器、前記第2偶数レジスタ及び前記第2奇数レジスタから入力されるベクターのうちのいずれか一つのベクターを前記初段の第1逆シフト演算器に出力することを特徴とする請求項7に記載の誤り訂正装置。 - 前記内蔵メモリ部は、前記復調回路から前記分割クラスタ内のLDCクラスタが格納されるLDCデータメモリ部と、前記復調回路から前記クラスタ内のBISクラスタが格納されるBISメモリ部とを備え、
前記BISメモリ部から前記BISクラスタを読み出し、該BISクラスタに基づいてBISシンドロームを生成するBISシンドローム生成回路を備えたことを特徴とする請求項1〜8のいずれか1つに記載の誤り訂正装置。 - スクランブル、インターリーブされ、光ディスクに書き込まれたデータの読み出しに使用されるデスクランブル回路であって、
読み出したデータが入力される第1排他的論理和回路と、
入力されたスクランブル値を、所定の第1生成多項式に従って1バイト分シフトさせて新たなスクランブル値を生成する第1シフト演算器と、
入力されたスクランブル値を、
{(データブロックの列方向における全バイト数)+1−(各読み出しブロックの列方向における全バイト数)}
バイト分、前記第1生成多項式に従ってシフトさせて新たなスクランブル値を生成する第2シフト演算器と、
前記第1排他的論理和回路に入力される前記読み出したデータのデータブロックにおける位置に応じて、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器から入力されるスクランブル値のうちのいずれか一方のスクランブル値を前記第1排他的論理和回路、前記第1シフト演算器及び前記第2シフト演算器に出力する第1選択回路と、を備えることを特徴とするデスクランブル回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007198462A JP4930251B2 (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | 誤り訂正装置及びデスクランブル回路 |
US12/182,786 US8230297B2 (en) | 2007-07-31 | 2008-07-30 | Error correction device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007198462A JP4930251B2 (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | 誤り訂正装置及びデスクランブル回路 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011283485A Division JP5365683B2 (ja) | 2011-12-26 | 2011-12-26 | 誤り訂正装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009037656A true JP2009037656A (ja) | 2009-02-19 |
JP4930251B2 JP4930251B2 (ja) | 2012-05-16 |
Family
ID=40339292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007198462A Expired - Fee Related JP4930251B2 (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | 誤り訂正装置及びデスクランブル回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8230297B2 (ja) |
JP (1) | JP4930251B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011118968A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Renesas Electronics Corp | 記録装置及び記録方法 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1946318A2 (en) * | 2005-10-31 | 2008-07-23 | Nxp B.V. | System and method for optical disc encoding/decoding |
US9002915B1 (en) * | 2009-04-02 | 2015-04-07 | Xilinx, Inc. | Circuits for shifting bussed data |
US8352834B2 (en) * | 2009-11-12 | 2013-01-08 | Broadlogic Network Technologies Inc. | High throughput interleaver / deinterleaver |
JP5362856B2 (ja) * | 2010-02-08 | 2013-12-11 | 富士通株式会社 | エラー発生指示回路、記憶装置、情報処理装置及びエラー発生指示回路の制御方法 |
JP2013070122A (ja) * | 2011-09-20 | 2013-04-18 | Fujitsu Ltd | 誤り訂正装置、誤り訂正方法及び演算装置 |
US11239988B2 (en) * | 2019-04-22 | 2022-02-01 | Texas Instruments Incorporated | Methods and systems for synchronization of slave device with master device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001292066A (ja) * | 2000-01-31 | 2001-10-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 誤り訂正装置および誤り訂正方法 |
JP2003187532A (ja) * | 2001-12-13 | 2003-07-04 | Hitachi Ltd | スクランブル符号化復号方法およびその回路、記憶装置、記憶媒体 |
JP2006155836A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Nec Electronics Corp | スクランブル回路、デ・スクランブル回路及び方法、並びにディスク装置 |
JP2006155835A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Nec Electronics Corp | 誤り検出符号付加回路、誤り検出回路及び方法、並びにディスク装置 |
JP2008159109A (ja) * | 2006-12-21 | 2008-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | データ転送装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6772385B2 (en) * | 2000-01-31 | 2004-08-03 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Error-correcting device and decoder enabling fast error correction with reduced circuit scale |
US20030135798A1 (en) * | 2001-12-13 | 2003-07-17 | Yukari Katayama | Optical disk device and data randomizing method for optical disk device |
JP2003242720A (ja) | 2001-12-14 | 2003-08-29 | Hitachi Ltd | ディジタルデータ記録再生方法 |
JP2006209928A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Sony Corp | 光ディスク製造方法及び装置、光ディスク、並びに、光ディスク再生方法及び装置 |
JP4571523B2 (ja) * | 2005-03-04 | 2010-10-27 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | スクランブル回路、エンコード装置、エンコード方法及び記録装置 |
JP4620541B2 (ja) * | 2005-08-04 | 2011-01-26 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 誤り検出符号算出回路、誤り検出符号算出方法及び記録装置 |
JP2008217857A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-18 | Toshiba Corp | メモリコントローラ及び半導体装置 |
JP2009048713A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Toshiba Microelectronics Corp | デスクランブル回路及びエラー検出コード計算回路 |
US7876638B2 (en) * | 2007-09-11 | 2011-01-25 | Micron Technology, Inc. | Storing operational information in an array of memory cells |
JP5419653B2 (ja) * | 2009-12-01 | 2014-02-19 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 記録装置及び記録方法 |
US9747105B2 (en) * | 2009-12-17 | 2017-08-29 | Intel Corporation | Method and apparatus for performing a shift and exclusive or operation in a single instruction |
-
2007
- 2007-07-31 JP JP2007198462A patent/JP4930251B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-07-30 US US12/182,786 patent/US8230297B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001292066A (ja) * | 2000-01-31 | 2001-10-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 誤り訂正装置および誤り訂正方法 |
JP2003187532A (ja) * | 2001-12-13 | 2003-07-04 | Hitachi Ltd | スクランブル符号化復号方法およびその回路、記憶装置、記憶媒体 |
JP2006155836A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Nec Electronics Corp | スクランブル回路、デ・スクランブル回路及び方法、並びにディスク装置 |
JP2006155835A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Nec Electronics Corp | 誤り検出符号付加回路、誤り検出回路及び方法、並びにディスク装置 |
JP2008159109A (ja) * | 2006-12-21 | 2008-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | データ転送装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011118968A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Renesas Electronics Corp | 記録装置及び記録方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8230297B2 (en) | 2012-07-24 |
US20090037796A1 (en) | 2009-02-05 |
JP4930251B2 (ja) | 2012-05-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100527 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111024 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111101 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111226 |
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