JP2008539411A - 材料の磁気特性を測定する装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
− 特に比較的重い銅製駆動コイルを良好に支持する剛性を考慮した構造物形状の設計
− ユーザの手にまたは患者に接触することにより生起される高温スポットを避けるための可撓性熱絶縁層の貼り付け
− 例えば、奇数次の磁界勾配計の中心に取り付けられた単一の駆動コイルなど、構造物の全体の熱膨張が正味の影響をもたないようにした、対称的なコイル配置構成の使用
− 検知コイルの軸に沿った駆動コイルの小さな動きの影響を無効化できる駆動コイルの近くに取り付けた、例えば、追加の小さな検知コイルなど、特有のひずみを相殺するための特別なコイルの追加
高感度・高精度な磁気信号の位置特定と特性決定を利用する本発明の適用の二つの実例を以下に説明する。
センチネル節は、胸部のがんを含む領域からの排液を受け取る最初のリンパ節である。センチネル節が正常であれば、がんは拡張していないと考えられるので、追加の手術の必要はなく副作用が避けられる。こうした理由で、術中センチネル節検出及び生体検査が乳がん治療のための手当てとして標準になっている。胸部からのリンパ排液の大部分は、脇の下(腋窩部分)へ流れる。リンパ節は、通常、直径8〜10mmで、深さは20mm以下である(30mmは異常である)。排液のパターンとリンパ節の位置は個人差がある。
非破壊評価の極めて重要な応用は、大きな金属構造物中のひび割れ、欠損及び孔を検出及び監視することにある。適用される標準的方法の一つは、電流を物体または物体の一部の中を通過させ、物体の二点間の電気抵抗の変化を監視し、ひび割れ、裂け目またはその他の欠損に対応した抵抗の特徴的な増加を探し出すことである。しかし、こうした方法のほとんどは物体の表面領域または表面近くの領域の探査に制限される。
Claims (53)
- ある材料を含む検知領域に交番磁界を印加する手段と、
印加された交番磁界によって生じる材料の磁気パラメータの変化を検知し、それに応じて検知出力信号を生成する手段と、
検知出力信号を遠隔の超電導量子干渉素子(SQUID)に伝達する手段と、
検知された磁化度を示すSQUIDからの出力信号を受信する手段と
を具備する、材料の磁気特性を測定する装置。 - 磁気パラメータは磁化度を含む、請求項1に記載の装置。
- 伝達手段で発生したノイズの影響を低減するノイズ低減手段をさらに具備する、請求項1または請求項2に記載の装置。
- ノイズ低減手段は、SQUID出力信号から伝達手段で発生したノイズに起因する成分を分離する手段を具備し、これにより、検知出力信号からもたらされたSQUID出力信号の所望の成分を選択する、請求項3に記載の装置。
- 交番磁界は一つの周波数で印加され、分離手段は、印加された交番磁界の周波数に略等しい周波数をもつSQUID出力信号の該当成分だけを選択するように構成される、請求項4に記載の装置。
- 交番磁界は複数の周波数で印加され、分離手段は、印加された磁界の複数の周波数の少なくとも一つに略等しい一つまたは複数の周波数をもつSQUID出力信号の該当成分だけを選択するように構成される、請求項4に記載の装置。
- 分離手段は位相ロックループ回路を有する、請求項5または請求項6に記載の装置。
- 印加された交番磁界と検知された磁化の間の位相差を検出する手段をさらに具備する、請求項1から請求項7のいずれかに記載の装置。
- 磁界印加手段と検知手段は、可搬プローブ上に配置される、請求項1から請求項8のいずれかに記載の装置。
- 可搬プローブは、伝達手段から選択的に切り離されるように構成される、請求項9に記載の装置。
- 交番磁界を印加する手段は、150Hz〜20kHzの範囲内の周波数で当該磁界を与えるように構成される、請求項1から請求項10のいずれかに記載の装置。
- 周波数は略2kHzである、請求項11に記載の装置。
- 印加交番磁界の振幅を変化させる手段をさらに具備する、請求項1から請求項12のいずれかに記載の装置。
- 印加磁界の空間分布プロファイルを変化させる手段をさらに具備する、請求項1から請求項13のいずれかに記載の装置。
- 交番磁界を印加する手段は駆動コイルを有する、請求項1から請求項14のいずれかに記載の装置。
- 互いに逆位相である各交流電圧を駆動コイルの二つの端子に印加する手段をさらに具備する、請求項15に記載の装置。
- 検知領域内に磁性材料が存在しない場合に、検知出力を略ゼロにさせる補正磁界を生成する手段をさらに具備する、請求項1から請求項16のいずれかに記載の装置。
- 補正磁界を生成する手段は補正コイルを有する、請求項15または請求項16に従属する場合に請求項17に記載の装置。
- 前記補正コイルに駆動コイル中の電流と略逆相である電流を供給する手段をさらに具備し、これにより、駆動コイルによって生じた磁界に相反する磁界を補正コイル中に作り出す、請求項18に記載の装置。
- 補正コイルは可搬プローブ上に配置される、請求項9に従属する場合に請求項18または請求項19に記載の装置。
- 補正コイルはSQUIDからの出力信号を受信する手段の近位に配置される、請求項9に従属する場合に請求項18または請求項19に記載の装置。
- 検知手段は検知コイルを有する、請求項1から請求項21のいずれかに記載の装置。
- 検知コイルは、コイルの総巻数の略2分の1を含む中心領域と、コイルの巻数の略4分の1をそれぞれ含み、中心領域の巻回と反対方向に巻回された二つの側部領域を有する、請求項22に記載の装置。
- 検知コイルは二次磁界勾配計の形態である、請求項22または請求項23に記載の装置。
- 検知コイルは、第2のコイルの領域の両側に配置された第1のコイルを有する、請求項22に記載の装置。
- 第2のコイルの領域は2個のコイルを有する、請求項25に記載の装置。
- 磁界印加手段が駆動コイルを有し、検知手段が検知コイルを有し、駆動コイルは、略中心が検知コイルと略同軸に配置される、請求項1から請求項14のいずれかに記載の装置。
- 磁界印加手段と検知手段が複数のプローブを有する、請求項1から請求項27のいずれかに記載の装置。
- 複数のプローブは異なる特性をもつ2個のプローブを含む、請求項28に記載の装置。
- 複数のプローブは可搬アレイの形態である、請求項28または請求項29に記載の装置。
- 検知出力信号を遠隔のSQUIDへ伝達する手段は、ある長さの低抵抗の電磁的に自己遮蔽型のケーブルを有する、請求項1から請求項30のいずれかに記載の装置。
- ケーブルの長さは1メートルを超える、請求項31に記載の装置。
- 材料の磁気特性を測定する方法であり、
当該材料を含む検知領域へ交番磁界を印加することと、
その結果生じる材料の磁気パラメータの変化を検知し、それに応じて出力信号を生成することと、
出力信号を遠隔の超電導量子干渉素子(SQUID)に伝達することと、
検知された磁化度を示すSQUIDからの出力信号を受信することと
を含む方法。 - 磁気パラメータは磁化度を含む、請求項33に記載の方法。
- 伝達ステップで発生したノイズの影響を低減するステップをさらに含む、請求項33または請求項34に記載の方法。
- ノイズの影響を低減するステップは、SQUID出力信号から伝達ステップで発生したノイズに起因する成分を分離することを含んでなり、これにより、検知出力信号からもたらされたSQUID出力信号の所望の成分を選択する、請求項35に記載の方法。
- 交番磁界は一つの周波数で印加され、分離ステップは、印加された交番磁界の周波数に略等しい周波数をもつSQUID出力信号の該当成分だけを選択することを含む、請求項36に記載の方法。
- 交番磁界は複数の周波数で印加され、分離ステップは、印加された磁界の複数の周波数の少なくとも一つに略等しい一つまたは複数の周波数をもつSQUID出力信号の該当成分だけを選択することを含む、請求項36に記載の方法。
- 検知領域内に磁性材料が存在しない場合に、出力信号を略ゼロにさせる補正磁界を検知領域へ印加するステップをさらに含む、請求項33から請求項38のいずれかに記載の方法。
- 材料は非低温環境にある、請求項33から請求項39のいずれかに記載の方法。
- 材料は室温環境にある、請求項33から請求項40のいずれかに記載の方法。
- 縦軸と縦軸を中心にした外表面をもつロッドと、
ロッドの縦軸を中心にロッドの円周に巻回された検知コイルと、
ロッドの縦軸を中心にロッドの周囲に配置された成形アセンブリと、
ロッドの縦軸を中心に成形アセンブリの円周に巻回された駆動コイルとを具備し、
駆動コイルは成形アセンブリによってロッドの外表面から離間配置される、
材料の磁気特性を検出するプローブ。 - 成形アセンブリは、駆動コイルが支持される面に対して垂直な軸を有する駆動コイルを支持する巻回面を具備し、
巻回面の軸とロッドの縦軸は同心である、
請求項42に記載のプローブ。 - 検知コイルは、コイルの総巻数の略2分の1を含む中心領域と、それぞれコイルの巻数の略4分の1を含み、中心領域の巻回と反対方向に巻回された二つの側部領域を有する、請求項42または請求項43に記載のプローブ。
- 検知コイルは二次磁界勾配計の形態である、請求項42から請求項44のいずれかに記載のプローブ。
- 検知コイルは、巻線の第2のセットの両側にロッド上に対称に配置された巻線の第1のセットを具備し、巻線の第1及び第2のセットは、成形アセンブリの両側に対称に配置される、請求項42または請求項43に記載のプローブ。
- 巻線の第2のセットは成形アセンブリの両側に配置された第2の複数の巻線を有し、巻線の第1のセットは巻線の第2のセットの両側に配置された第1の複数の巻線を有し、巻線の第2のセットは巻線の第1のセットよりも巻線数が少ない、請求項46に記載のプローブ。
- 巻線の第1のセットは一次磁界勾配計の形態であり、巻線の第2のセットは一次磁界勾配計の形態である、請求項46または請求項47に記載のプローブ。
- 検知コイルの出力信号が、巻線の第1のセットによって発生した信号から差し引かれた巻線の第2のセットによって発生した信号を有するように、巻線の第1のセットは巻線の第2のセットに接続される、請求項46から請求項48のいずれかに記載のプローブ。
- 巻線の第1のセットの巻数に対する巻線の第2のセットの巻数の比率が、検知コイルに対する駆動コイルの軸方向変位に起因する駆動コイルと検知コイル間の結合の変化を最小にするような比率である、請求項49に記載のプローブ。
- 実質的に添付の図面を参照して説明しまたは図示した材料の磁気特性を測定する装置。
- 実質的に添付の図面を参照して説明しまたは図示した材料の磁気特性を測定する方法。
- 実質的に添付の図面を参照して説明しまたは図示した材料の磁気特性を検出するプローブ。
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