JP2008538002A - ガス供給源を備えたプラズマ分光システム - Google Patents
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- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 title description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 66
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 42
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 42
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 42
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 28
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims abstract description 19
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 23
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 8
- 230000006698 induction Effects 0.000 abstract description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract 1
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 8
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000002808 molecular sieve Substances 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N sodium aluminosilicate Chemical compound [Na+].[Al+3].[O-][Si]([O-])=O.[O-][Si]([O-])=O URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000538 analytical sample Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000006199 nebulizer Substances 0.000 description 1
- 239000001272 nitrous oxide Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/105—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation, Inductively Coupled Plasma [ICP]
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/68—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using high frequency electric fields
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/73—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using plasma burners or torches
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- H—ELECTRICITY
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- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/26—Plasma torches
- H05H1/30—Plasma torches using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Separation Of Gases By Adsorption (AREA)
Abstract
【解決手段】本分光システムは、分光源としてマイクロ波誘導プラズマ90を発生させるためのトーチ50を備える。プラズマ形成ガスには酸素不純物を含有することができる窒素を用いる。このため本システムは、大気から吸着によって除去される酸素のために、好ましくは圧縮機75から圧縮された大気が供給される窒素発生器70を備えている。
【効果】現場の窒素ガス発生器を使用できるため、ボンベ入り高純度ガスの供給を得る必要がなくなり、コストが節約できる。
【選択図】図1
Description
分光器をベースにした元素分析器(X線技術を用いるものは除く)はすべてガス供給源を必要とし、例えば、フレーム原子吸光分析装置(FAAS)にはアセチレンおよび亜酸化窒素、または、誘導結合プラズマ(ICP)発光分析装置もしくはICP質量分析装置にはアルゴンが必要とされる。マイクロ波誘導プラズマの分光源については、本出願人の下記特許文献1(特許文献2)の9〜10ページ(特許文献3として登録されている)に開示されるように、好適なプラズマ形成ガスが窒素である。
分光用のマイクロ波誘導プラズマ源は、十分に動作することができ、ある条件においては、プラズマを保持するガスとして酸素を若干含有する実質的には窒素に関する、向上した性能をこの分光システムに与えることができる。これは、ガス供給源は、投入されたガスが大気(すなわち、発生器の位置における大気)である分光機器の場所にある窒素発生器によって提供されることができることを意味する。例えば、ガス選択ろ過膜の使用によって、または、炭素分子ふるいのような適当な吸着剤の使用による酸素の圧力スイング吸着によって、分光機器の場所で圧縮される大気から窒素濃縮ガス供給源を作製することが可能である。そのような発生器は、典型的に、0.1体積%〜5体積%の残留酸素と、アルゴン、CO2などといったごく少量または微量のより希薄な大気ガスとを含有している窒素を供給することができる。本発明によるマイクロ波誘導プラズマ分光システムは、そのような窒素供給源に関して十分に動作することができる。
本発明に係る分光システムの改良された感度は、窒素の酸素含有量が約0.1体積%から増加し、窒素が約1体積%〜2体積%の酸素を含有する時に最大となり、その後、酸素が約2体積%より高い濃度になると低下すると考えられる。酸素含有量をこれらの範囲に規定するために、さらなる実験が行われている。
マイクロ波誘導プラズマ分光化学システムの窒素純度に対する感度を測定するために、試験を行った。こうした試験によって、対象の元素の1mg/L溶液に対して1秒間に受信したA/Dカウントにおける信号レベルを測定した。代表的な結果を、以下の表に示す。分光機器は、2組のデータに対して別々に最適化されたが、その構成は、各組の結果内では変えなかった。
図1によって概略的に示されている分光システムにおいて、液体分析試料5の代表的な部分が、プローブ6を通って試料移送管7へとポンプ10によって汲み上げられ、エアロゾル発生器15内へと流れ込む。多くの適当なエアロゾル発生器が当該技術において公知である。図示した例では、エアロゾル発生器15は、圧力調整器20によって制御された適圧(50〜500kPaゲージ、典型的には、120〜250kPaゲージ)で窒素が供給される圧縮空気式ネブライザーである。エアロゾル発生器15は、より大きなエアロゾル液滴が内部で沈降して、第2ポンプ35によって排水管30を通って排出口40へと排出されるスプレー室25において、分析試料5から記載のように得られた液体をエアロゾル(図示せず)に変換させる。窒素内で懸濁された微細な液滴からなるエアロゾルは、エアロゾル移送管45を通ってプラズマトーチ50の噴射管46へと進む。
プラズマトーチ50は、マイクロ波空洞80内に位置し、このマイクロ波空洞80は、マイクロ波電源85によってマイクロ波電力が供給される。マイクロ波空洞80内のマイクロ波の作用によって、トーチ50内にプラズマ90が生成される。分光化学分析用の窒素プラズマを生成するためのキャビティ80およびその使用法の詳細は、上記特許文献3および本出願人の上記特許文献6および上記特許文献7に記載されている。
システムの動作を制御するため、かつ、分光計100により生じたデータを収集および処理するために、電子制御およびデータ処理システム125が設けられている。
流量絞り215および220は、フィルター205とマニホールド210との間に単一の流量絞り(図示せず)として実施することができる。装置の動作の説明を簡潔にするために、図2に示すように電磁弁225、230、235および240によって流量が制御されると仮定するが、その個々の弁225、230、235および240の一式を、当業者に公知のものと同じ機能性を提供する任意の適切な弁一式と取り替えることができることが理解されよう。
Claims (10)
- 分光源としてマイクロ波誘導プラズマを発生させるためのトーチと、窒素ガスを供給するための発生器であって、プラズマを保持する前記窒素ガスを供給するために前記トーチに接続されている発生器とを備える、前記発生器が大気から前記窒素ガスを発生させることを特徴とする分光システム。
- 前記発生器が、大気からの酸素の吸着によって動作することを特徴とする、請求項1に記載の分光システム。
- 圧縮された大気を前記発生器へ供給するための空気圧縮機を備える、請求項1または2に記載の分光システム。
- 前記発生器が、前記圧縮された大気を通過させる酸素吸着媒体を含む第1圧力容器を備えることを特徴とする、請求項3に記載の分光システム。
- 前記第1圧力容器から酸素が欠乏して窒素に富んだ空気が流れ込む別の圧力容器を備え、前記プラズマを保持する前記窒素ガスが、前記別の圧力容器から供給されることを特徴とする、請求項4に記載の分光システム。
- 前記発生器が酸素吸着媒体を含む第2圧力容器を備え、かつ、前記発生器が流量制御弁を備え、それによって前記圧縮した大気を、まず、前記第1圧力容器内の前記酸素吸着媒体に所定時間通過させた後、前記別の圧力容器内へ通し、次いで、前記第2圧力容器内の前記酸素吸着媒体に所定時間通過させた後、前記別の圧力容器内へ通すことを特徴とする、請求項5に記載の分光システム。
- 前記流量制御弁が、前記圧縮空気を前記第1圧力容器内の前記酸素吸着媒体に通過させている間に、前記第2圧力容器内の前記酸素吸着媒体がその吸着された酸素を取り除くように、また、前記圧縮空気を前記第2圧力容器内の前記酸素吸着媒体に通過させている間に、前記第1圧力容器内の前記酸素吸着媒体がその吸着された酸素を取り除くように、操作可能であることを特徴とする、請求項6に記載の分光システム。
- 前記発生器から前記トーチに供給された前記窒素ガスが、約0.1体積%〜約3.0体積%の酸素を含有することを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載の分光システム。
- 前記窒素が、約0.1体積%〜約2.0体積%の酸素を含有することを特徴とする、請求項8に記載の分光システム。
- 前記窒素が、約0.5体積%〜約1.5体積%の酸素を含有することを特徴とする、請求項9に記載の分光システム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AU2005901575 | 2005-03-31 | ||
AU2005901575A AU2005901575A0 (en) | 2005-03-31 | A plasma spectroscopy system with a gas supply | |
PCT/AU2006/000423 WO2006102712A1 (en) | 2005-03-31 | 2006-03-31 | A plasma spectroscopy system with a gas supply |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008538002A true JP2008538002A (ja) | 2008-10-02 |
JP5317692B2 JP5317692B2 (ja) | 2013-10-16 |
Family
ID=37052874
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008503318A Active JP5317692B2 (ja) | 2005-03-31 | 2006-03-31 | ガス供給源を備えたプラズマ分光システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7554660B2 (ja) |
EP (1) | EP1864555B1 (ja) |
JP (1) | JP5317692B2 (ja) |
CN (1) | CN101171891B (ja) |
CA (1) | CA2603047A1 (ja) |
WO (1) | WO2006102712A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN104246481A (zh) * | 2011-12-28 | 2014-12-24 | 创想科学技术工程株式会社 | 分析结果的提供系统、分析用终端及分析结果的提供方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012511722A (ja) * | 2008-12-10 | 2012-05-24 | オールテック・アソシエイツ・インコーポレーテッド | 蒸発光散乱検出器などのデバイスに使用されることに適した構成部品 |
WO2011127417A2 (en) | 2010-04-09 | 2011-10-13 | Elemental Scientific, Inc. | Torch assembly |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL289762A (ja) | 1964-10-05 | |||
FR2616088B1 (fr) | 1987-06-03 | 1991-07-05 | Rifa Sa | Procede et installation pour traiter la surface d'objets |
JPH02215038A (ja) | 1989-02-15 | 1990-08-28 | Hitachi Ltd | マイクロ波プラズマ極微量元素分析装置 |
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AUPQ861500A0 (en) | 2000-07-06 | 2000-08-03 | Varian Australia Pty Ltd | Plasma source for spectrometry |
-
2006
- 2006-03-31 EP EP06721305.8A patent/EP1864555B1/en not_active Not-in-force
- 2006-03-31 US US11/887,196 patent/US7554660B2/en active Active
- 2006-03-31 WO PCT/AU2006/000423 patent/WO2006102712A1/en active Application Filing
- 2006-03-31 CA CA002603047A patent/CA2603047A1/en not_active Abandoned
- 2006-03-31 CN CN2006800149823A patent/CN101171891B/zh active Active
- 2006-03-31 JP JP2008503318A patent/JP5317692B2/ja active Active
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---|---|
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EP1864555B1 (en) | 2013-09-25 |
WO2006102712A1 (en) | 2006-10-05 |
JP5317692B2 (ja) | 2013-10-16 |
EP1864555A1 (en) | 2007-12-12 |
CA2603047A1 (en) | 2006-10-05 |
CN101171891B (zh) | 2011-07-27 |
EP1864555A4 (en) | 2009-09-16 |
US20090059221A1 (en) | 2009-03-05 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
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