JP2008537774A - 放射線を検出する機器および方法 - Google Patents
放射線を検出する機器および方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008537774A JP2008537774A JP2007558114A JP2007558114A JP2008537774A JP 2008537774 A JP2008537774 A JP 2008537774A JP 2007558114 A JP2007558114 A JP 2007558114A JP 2007558114 A JP2007558114 A JP 2007558114A JP 2008537774 A JP2008537774 A JP 2008537774A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- high energy
- image
- source
- imaging device
- radiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 79
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 132
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 128
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 111
- 239000012857 radioactive material Substances 0.000 claims abstract description 64
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 63
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 22
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 14
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 14
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 10
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 6
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 4
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000004091 panning Methods 0.000 claims description 4
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 241001465754 Metazoa Species 0.000 claims description 3
- KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N [Ga].[As].[In] Chemical compound [Ga].[As].[In] KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N cadmium;mercury;tellurium Chemical compound [Cd]=[Te]=[Hg] MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000004880 explosion Methods 0.000 claims description 3
- 239000002360 explosive Substances 0.000 claims description 3
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims description 3
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 claims 3
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 abstract description 15
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000528 statistical test Methods 0.000 abstract description 4
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 34
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 28
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 25
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 19
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 15
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 13
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- TVFDJXOCXUVLDH-RNFDNDRNSA-N cesium-137 Chemical compound [137Cs] TVFDJXOCXUVLDH-RNFDNDRNSA-N 0.000 description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 8
- GUTLYIVDDKVIGB-OUBTZVSYSA-N Cobalt-60 Chemical compound [60Co] GUTLYIVDDKVIGB-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 6
- 241000519995 Stachys sylvatica Species 0.000 description 5
- JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N carbonyl sulfide Chemical compound O=C=S JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N radon atom Chemical compound [Rn] SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 229910052704 radon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 4
- 241000282412 Homo Species 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000011449 brick Substances 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000011824 nuclear material Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000002688 persistence Effects 0.000 description 3
- 230000005258 radioactive decay Effects 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 3
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 3
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000003556 assay Methods 0.000 description 2
- JCXGWMGPZLAOME-BKFZFHPZSA-N bismuth-214 Chemical compound [214Bi] JCXGWMGPZLAOME-BKFZFHPZSA-N 0.000 description 2
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 238000005202 decontamination Methods 0.000 description 2
- 230000003588 decontaminative effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000009533 lab test Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 230000035755 proliferation Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 230000002459 sustained effect Effects 0.000 description 2
- JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N uranium(0) Chemical compound [U] JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002972 Acrylic fiber Polymers 0.000 description 1
- 241000196324 Embryophyta Species 0.000 description 1
- 206010073306 Exposure to radiation Diseases 0.000 description 1
- 241000005398 Figaro Species 0.000 description 1
- HCWPIIXVSYCSAN-IGMARMGPSA-N Radium-226 Chemical compound [226Ra] HCWPIIXVSYCSAN-IGMARMGPSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000013481 data capture Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 238000001730 gamma-ray spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000383 hazardous chemical Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000011545 laboratory measurement Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-RKEGKUSMSA-N lead-214 Chemical compound [214Pb] WABPQHHGFIMREM-RKEGKUSMSA-N 0.000 description 1
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012821 model calculation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000000513 principal component analysis Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000011897 real-time detection Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/167—Measuring radioactive content of objects, e.g. contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
-
- G01V5/26—
Abstract
【選択図】 図3
Description
有意性=(値−背景)/不確定性
したがって「線源1」に関する放射線源検出の有意性は、(24−1)/4.9=4.7σである。「線源2」および「線源3」の対応する値は、それぞれ6.9σおよび7.1σである。これらの実験では放射線源が実際に付近にあるとわかっていたが、現実には常にそうであるとは限らない。偽陰性率および偽陽性率の双方がわかっていると有用である。偽陰性率とは、期待される数のカウントを測定する代わり、背景レートに近いカウント数が得られる確率である。表2で記録されたものに等しいカウントレートについては、ガウス確率分布を評価することにより、統計的異常により偽陰性の結果が得られる確率を計算できる。これは、1σ値を使う「検出されたガンマ線の総数」(次式で「平均値」と呼ばれる)と比べ、背景について通常と見なされるものと等価な値について行える。この確率は、次のようになる。
Claims (37)
- システムであって、
少なくとも1つの高エネルギー粒子と、
少なくとも1つの撮像装置であって、前記少なくとも1つの高エネルギー粒子と相互作用できる1若しくはそれ以上の画素を有し、前記高エネルギー粒子と前記画素との前記相互作用に関する情報を中継でき、同時に画像を取得できる、前記少なくとも1つの撮像装置と、
前記少なくとも1つの撮像装置と通信可能な少なくとも1つのプロセッサであって、1若しくはそれ以上の画素が前記少なくとも1つの高エネルギー粒子と相互作用したことを決定できる、前記少なくとも1つのプロセッサと、
前記少なくとも1つの高エネルギー粒子の存在を報告する出力装置と
を有するシステム。 - 請求項1記載のシステムにおいて、前記少なくとも1つの撮像装置は、画素化された光子検出器、電荷結合素子(charge−coupled device:CCD)撮像装置、相補型金属酸化膜半導体(complementary metal oxide semiconductor:CMOS)撮像装置、およびシリコンゲルマニウム、ゲルマニウム、シリコンオンサファイア(サファイア上シリコン)、インジウムガリウム砒素、カドミウム水銀テルル化物、またはガリウム砒素の基板を含む撮像装置、およびこれらの組み合わせとから選択されるものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記少なくとも1つの高エネルギー粒子は高エネルギー粒子の線源の生成物を有し、この高エネルギー粒子の線源は原子核崩壊する放射性物質の線源を有するものである。
- 請求項3記載のシステムにおいて、前記高エネルギー粒子の線源は、環境放射線、自然源からの放射線、放射性物質、核爆発装置、爆発の前または後の汚い爆弾および核兵器、およびこれらの組み合わせとから選択されるものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記画素は、前記少なくとも1つの高エネルギー粒子が少なくとも1つの画素に当たると、信号を生じるものである。
- 請求項5記載のシステムにおいて、前記信号は、前記画素に当たる前記高エネルギー粒子のエネルギーに比例するものである。
- 請求項5記載のシステムにおいて、前記信号は、背景放射線により生じる信号より強いものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記情報を中継する工程は、前記画像にドットを表示する工程を有するものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記プロセッサは、前記放射性物質の線源を識別するものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記少なくとも1つの撮像装置はパンおよび傾斜(チルト)させることが可能であり、パンさせる工程は垂直軸の周りで回転する工程を有し、傾斜(チルト)させる工程は水平軸の周りで回転する工程を有するものである。
- 請求項10記載のシステムにおいて、前記線源の位置は、前記少なくとも1つの撮像装置により追跡されるものである。
- 請求項10記載のシステムにおいて、前記少なくとも1つの撮像装置は、薄型正方形の画素群をさらに有し、高エネルギー粒子が前記薄型正方形の画素群に当たる尤度は、当該薄型正方形の画素群の面が前記線源への視線方向に対し垂直となり前記高エネルギー粒子の最大流束が得られる場合に最大となり、この最大流束が得られるとき、前記高エネルギー粒子が前記薄型正方形の画素群に当たる確率は最大となるものである。
- 請求項12記載のシステムにおいて、前記高エネルギー粒子が前記薄型正方形の画素群に当たる尤度は、前記撮像装置が前記高エネルギー粒子の線源から離れる方向へパンおよび/または傾斜(チルト)されるに伴い減少するものである。
- 請求項12記載のシステムにおいて、前記プロセッサは、前記最大流束を決定するため勾配法(勾配探索法)を実施し、この勾配法は、最大流束の得られる位置が決定されるまで前記少なくとも1つの撮像装置を水平方向および/または垂直方向に動かす工程を有するものである。
- 請求項12記載のシステムにおいて、前記複数の撮像装置の各撮像装置は、同時に画像を提供することができるものである。
- 請求項12記載のシステムにおいて、前記少なくとも1つの撮像装置は複数の撮像装置を有し、前記プロセッサは勾配法を実施し、各撮像装置について同時に前記最大流束を決定するものである。
- 請求項16記載のシステムにおいて、前記プロセッサは、前記高エネルギー粒子の線源の尤度の高い位置を決定するため、各撮像装置の前記最大流束と、各撮像装置の静止画像およびビデオ画像とを並行して参照し、前記高エネルギー粒子の線源の尤度の高い位置とは、各画像に共通して前記最大流束が得られる領域である。
- 請求項16記載のシステムにおいて、前記複数の撮像装置は、防犯カメラ、交通監視カメラ、交通機関監視カメラ、CCDまたはCMOSのカメラ、捜査当局のモバイルカメラ、カメラ付き携帯電話、熱赤外線カメラ、およびこれらの組み合わせから選択されるものである。
- 請求項16記載のシステムにおいて、前記複数の撮像装置は相互接続されているものである。
- 請求項16記載のシステムにおいて、前記高エネルギー粒子の線源の尤度の高い位置は、前記高エネルギー粒子の線源の動きを追うことにより経時的に決定されるものである。
- 請求項19記載のシステムにおいて、前記複数の撮像装置は、前記高エネルギー粒子の線源の尤度の高い位置の画像を取得し、
前記画像は、継続的に実施される前記勾配法により並行して評価され、
前記高エネルギー粒子の線源の尤度の高い位置は、前記画像内の対象が移動するに伴い、当該対象から選択されるものである。 - 請求項21記載のシステムにおいて、前記対象は、任意の生物または無生物であってよく、例えば自動車、航空機、列車、地下鉄車両、人間、動物、建築物、植物、荷物、箱、袋、ハンドバッグ、ブリーフケース、郵便物、およびこれらの組み合わせから選択されるものである。
- 請求項21記載のシステムにおいて、前記画像では、前記撮像装置の視野に含まれる対象が移動しまたは入り混じり、前記撮像装置の視野内には前記高エネルギー粒子の線源を有する対象が位置するものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記プロセッサは、コンピュータ、ビデオ画像プロセッサ、人間、およびこれらの組み合わせから選択されるものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記出力装置は、警報システム、静止画像またはビデオ画像、モニタの画像、可聴音、電話連絡(通話)、無線送信、およびこれらの組み合わせから選択されるものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記少なくとも1つの高エネルギー粒子は、原子核崩壊により生じ、前記高エネルギー粒子の線源である放射性物質を識別するために使用されるものである。
- 請求項1記載のシステムにおいて、前記線源は遮蔽されているものである。
- 方法であって、
放射線源の原子核崩壊から放出される高エネルギー粒子の相互作用について、画像の1若しくはそれ以上の画素を特徴付ける工程
を有する方法。 - 請求項28記載の方法においては撮像装置を使用し、当該撮像装置は、電荷結合素子(CCD)装置、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)装置、および他の半導体基板例えばシリコンゲルマニウム、ゲルマニウム、シリコンオンサファイア(サファイア上シリコン)、インジウムガリウム砒素、カドミウム水銀テルル化物、ガリウム砒素の基板、使用可能な他の多くの材料の基板、およびこれらの組み合わせから選択されるものである。
- 請求項28記載の方法において、前記放射線源は、放射性物質、放射性同位元素、およびこれらの組み合わせを有し、当該放射線源からは前記高エネルギー粒子が検出されるものである。
- 請求項28記載の方法において、この方法は、さらに、
検出された高エネルギー粒子の数およびエネルギーを決定する工程を有するものである。 - 請求項31記載の方法において、前記検出された高エネルギー粒子の数およびエネルギーは、前記撮像装置の前記1若しくはそれ以上の画素の電荷の変化に基づくものである。
- 請求項31記載の方法において、前記電荷の変化は、検出された前記放射性物質のタイプを決定するため定量化されるものである。
- 請求項28記載の方法において、前記特徴付けは、さらに前記撮像装置により提供される画像に基づくものである。
- 請求項28記載の方法において、前記画像に基づく前記特徴付けにより、前記高エネルギー粒子の線源の位置が視覚的に決定可能になるものである。
- 請求項28記載の方法において、前記特徴付けは、前記高エネルギー粒子の偽陽性検出(誤検出)をチェックする工程をさらに有するものである。
- 請求項28記載の方法において、前記撮像装置による前記高エネルギー粒子の検出には、警報がさらに含まれるものである。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US65698005P | 2005-02-28 | 2005-02-28 | |
US60/656,980 | 2005-02-28 | ||
PCT/US2006/006914 WO2007075181A2 (en) | 2005-02-28 | 2006-02-26 | Apparatus and method for detection of radioactive materials |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013160868A Division JP2014002159A (ja) | 2005-02-28 | 2013-08-02 | 放射線を検出する機器および方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008537774A true JP2008537774A (ja) | 2008-09-25 |
JP2008537774A5 JP2008537774A5 (ja) | 2009-08-20 |
JP5465383B2 JP5465383B2 (ja) | 2014-04-09 |
Family
ID=38173588
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007558114A Active JP5465383B2 (ja) | 2005-02-28 | 2006-02-26 | 高エネルギー粒子検出方法 |
JP2013160868A Pending JP2014002159A (ja) | 2005-02-28 | 2013-08-02 | 放射線を検出する機器および方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013160868A Pending JP2014002159A (ja) | 2005-02-28 | 2013-08-02 | 放射線を検出する機器および方法 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
EP (2) | EP2700977A1 (ja) |
JP (2) | JP5465383B2 (ja) |
KR (1) | KR101415859B1 (ja) |
CN (1) | CN101166996B (ja) |
AU (1) | AU2006330059B8 (ja) |
CA (1) | CA2599581C (ja) |
EA (1) | EA014137B1 (ja) |
ES (1) | ES2512502T3 (ja) |
IL (1) | IL185532A (ja) |
WO (1) | WO2007075181A2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013032926A (ja) * | 2011-08-01 | 2013-02-14 | Kyoto Univ | 放射線量率の測定方法及び放射線量率マップの作製方法 |
JP2013511026A (ja) * | 2009-11-11 | 2013-03-28 | オーストラリアン ニュークリア サイエンス アンド テクノロジー オーガニゼーション | 放射線シグネチャの異常検出 |
JP2014062797A (ja) * | 2012-09-21 | 2014-04-10 | Hitachi Consumer Electronics Co Ltd | 放射線測定装置及び放射線測定方法 |
JP2015503086A (ja) * | 2011-10-24 | 2015-01-29 | ヘルムホルツ・ツェントルム・ミュンヒェン・ドイチェス・フォルシュンクスツェントルム・フューア・ゲズントハイト・ウント・ウムベルト(ゲーエムベーハー)Helmholtz Zentrum MuenchenDeutsches Forschungszentrum fuer Gesundheit und Umwelt (GmbH) | デジタルカメラを有する電子端末を用いて放射線を測定する方法 |
US9134440B2 (en) | 2013-03-21 | 2015-09-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, radiation detection module and radiation detection method |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7391028B1 (en) | 2005-02-28 | 2008-06-24 | Advanced Fuel Research, Inc. | Apparatus and method for detection of radiation |
US20090226032A1 (en) * | 2007-09-28 | 2009-09-10 | Matthew Allen Merzbacher | Systems and methods for reducing false alarms in detection systems |
WO2009126455A1 (en) * | 2008-04-09 | 2009-10-15 | Smiths Detection Inc. | Multi-dimensional spectral analysis for improved identification and confirmation of radioactive isotopes |
RU2471205C2 (ru) * | 2011-01-11 | 2012-12-27 | Федеральное государственное автономное научное учреждение "Центральный научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт робототехники и технической кибернетики" (ЦНИИ РТК) | Способ поиска и определения координат источников гамма-излучения |
KR101975520B1 (ko) * | 2012-05-08 | 2019-08-28 | 한국전자통신연구원 | 고에너지 입자 분석 장치 및 이를 이용한 분석 방법 |
KR101349785B1 (ko) * | 2012-08-06 | 2014-01-15 | 한국원자력연구원 | 카메라를 이용한 방사선 선원조사장치 및 이를 구비한 이동로봇 |
WO2014075080A1 (en) | 2012-11-12 | 2014-05-15 | Image Insight Inc. | Crowd-sourced hardware calibration |
KR101445793B1 (ko) * | 2013-03-04 | 2014-11-04 | 한국표준과학연구원 | 반도체를 이용한 방사능 측정기 및 이의 측정방법 |
AU2014292775A1 (en) * | 2013-07-15 | 2016-01-28 | Fission 3.0 Corp. | System and method for aerial surveying or mapping of radioactive deposits |
CN103823232A (zh) * | 2014-03-18 | 2014-05-28 | 黑龙江省科学院技术物理研究所 | 核辐射探测飞行器 |
CN104360368B (zh) * | 2014-12-04 | 2018-08-24 | 江苏超敏科技有限公司 | 一种对个人剂量报警仪中脉冲信号的数据处理方法 |
US9841512B2 (en) * | 2015-05-14 | 2017-12-12 | Kla-Tencor Corporation | System and method for reducing radiation-induced false counts in an inspection system |
WO2017196868A1 (en) | 2016-05-09 | 2017-11-16 | Image Insight, Inc. | Medical devices for diagnostic imaging |
KR101731212B1 (ko) * | 2016-05-19 | 2017-04-27 | 주식회사 오르비텍 | 대규모 세슘(Cs) 오염토양 연속 방사능 측정시스템 |
CN106371126A (zh) * | 2016-08-15 | 2017-02-01 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种基于手机自身图像传感器的辐射剂量监测系统及监测方法 |
KR101896802B1 (ko) | 2016-12-08 | 2018-09-10 | 서울시립대학교 산학협력단 | 논리회로가 적용된 디지털 출력을 갖는 이미지 센서 모듈을 이용한 라돈 검출 시스템 및 검출방법 |
KR20180066393A (ko) | 2016-12-08 | 2018-06-19 | 서울시립대학교 산학협력단 | 디지털 출력을 갖는 이미지 센서 모듈을 이용한 라돈 검출 시스템 및 검출방법 |
RU2659717C2 (ru) * | 2016-12-22 | 2018-07-03 | Объединенный Институт Ядерных Исследований | Полупроводниковый пиксельный детектор заряженных сильно ионизирующих частиц (многозарядных ионов) |
KR101920137B1 (ko) | 2017-01-02 | 2018-11-19 | 한국수력원자력 주식회사 | 방사능 측정방법 및 방사능 측정시스템 |
US10254163B1 (en) * | 2018-03-15 | 2019-04-09 | Kromek Group, PLC | Interaction characteristics from a plurality of pixels |
CN110515115B (zh) * | 2018-05-22 | 2022-11-25 | 中国辐射防护研究院 | 一种用于伽马谱峰面积求解的评估方法 |
EP3821279A4 (en) * | 2018-07-12 | 2022-03-16 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | RADIATION DETECTOR MANUFACTURING METHODS |
KR102226458B1 (ko) | 2019-01-04 | 2021-03-11 | 한국원자력연구원 | 원전 계통 기기를 감시하는 무선 데이터 통신 시스템 및 그 방법 |
CN110031883B (zh) * | 2019-03-05 | 2022-06-07 | 中国辐射防护研究院 | 一种基于无线电容式高电离辐射剂量传感器 |
EP3757623A1 (de) * | 2019-06-26 | 2020-12-30 | Safetec Entsorgungs- und Sicherheitstechnik GmbH | Verfahren zur lokalisierung von bereichen erhöhter radioaktivität in einem messgut |
US11194008B2 (en) * | 2019-10-25 | 2021-12-07 | Toyota Motor Engineering And Manufacturing North America, Inc. | Triangulation and calibration of electronic control units |
CN111695529B (zh) * | 2020-06-15 | 2023-04-25 | 北京师范大学 | 一种基于人体骨骼关键点检测算法的x射线源检测方法 |
CN111722267B (zh) * | 2020-06-23 | 2022-05-03 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种磁层能量粒子事件爆发源的探测追踪方法 |
CN114371494B (zh) * | 2022-03-22 | 2022-06-24 | 西南科技大学 | 面向自主寻源机器人的放射源场景模拟方法 |
CN115793016A (zh) * | 2023-02-07 | 2023-03-14 | 江苏超敏科技有限公司 | 基于可见光传感器的辐射监测系统和辐射监测方法 |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5818181A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-02 | Nippon Atom Ind Group Co Ltd | 放射線カメラ装置 |
JPS60227186A (ja) * | 1984-04-25 | 1985-11-12 | Fuji Electric Co Ltd | 放射線テレビ装置 |
JPS63151884A (ja) * | 1986-12-17 | 1988-06-24 | Toshiba Corp | 表面線量率の遠隔測定方法および装置 |
JPH02174838A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-07-06 | Olympus Optical Co Ltd | 放射線検出内視鏡 |
JPH03138592A (ja) * | 1989-10-25 | 1991-06-12 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 放射線量率の分布測定方法及び装置 |
JPH07106541A (ja) * | 1993-09-29 | 1995-04-21 | Toshiba Corp | 暗化防止ccd素子 |
JPH08275942A (ja) * | 1995-02-24 | 1996-10-22 | Loral Fairchild Corp | 中央読出口腔内画像センサ |
JPH08320527A (ja) * | 1995-05-12 | 1996-12-03 | Eastman Kodak Co | 1回の放射線照射により対象物に対する2つの放射線撮影画像を生成するための装置および方法 |
JPH09101371A (ja) * | 1995-10-06 | 1997-04-15 | Rikagaku Kenkyusho | ガンマ線検出方法及び検出装置 |
JPH10511817A (ja) * | 1995-10-13 | 1998-11-10 | フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー | 有機及び無機パシベーション層からなる画像センサ |
JPH10319122A (ja) * | 1997-05-16 | 1998-12-04 | Kaku Yugo Kagaku Kenkyusho | 放射線撮像装置 |
JPH11231063A (ja) * | 1998-02-10 | 1999-08-27 | Shozo Takemoto | 放射線源像再構成装置 |
JP2000329855A (ja) * | 1999-05-20 | 2000-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線分布検出装置 |
JP2001183315A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Koninkl Philips Electronics Nv | Ccdアレイ形式のx線検出器を有するx線分析装置 |
JP2001215728A (ja) * | 2000-02-02 | 2001-08-10 | Tdk Corp | レジストパターンおよびその形成方法、薄膜パターン形成方法ならびにマイクロデバイスの製造方法 |
JP2001512570A (ja) * | 1997-02-17 | 2001-08-21 | カンパニー ジェネラル デ マティエーレ ニュークリエーレ | 放射源の位置を特定するための方法および装置 |
US6448562B1 (en) * | 1999-07-29 | 2002-09-10 | Jaycor | Remote detection of fissile material |
WO2003046611A1 (en) * | 2001-11-27 | 2003-06-05 | Bnfl (Ip) Ltd | Environmental radiation detector |
JP2004085250A (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-18 | Toshiba Corp | 放射線計測装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5098640A (en) * | 1990-01-10 | 1992-03-24 | Science Applications International Corporation | Apparatus and method for detecting contraband using fast neutron activation |
FR2689684B1 (fr) * | 1992-04-01 | 1994-05-13 | Commissariat A Energie Atomique | Dispositif de micro-imagerie de rayonnements ionisants. |
IL111436A (en) * | 1993-11-19 | 1998-07-15 | Ail Systems Inc | Gamma ray imaging system |
JPH07311271A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-11-28 | Unie Net:Kk | Ccdカメラを用いた放射線計測装置 |
US5742659A (en) * | 1996-08-26 | 1998-04-21 | Universities Research Assoc., Inc. | High resolution biomedical imaging system with direct detection of x-rays via a charge coupled device |
US6323942B1 (en) * | 1999-04-30 | 2001-11-27 | Canesta, Inc. | CMOS-compatible three-dimensional image sensor IC |
GB0103133D0 (en) * | 2001-02-08 | 2001-03-28 | Univ Glasgow | Improvements on or relating to medical imaging |
JP4031618B2 (ja) * | 2001-02-28 | 2008-01-09 | 安西メディカル株式会社 | 放射線源検出装置 |
FR2833357B1 (fr) * | 2001-12-06 | 2004-03-12 | Lemer Pax | Perfectionnement aux procedes et aux appareils pour mesurer l'activite d'un radio-isotope |
AU2003247524A1 (en) * | 2002-06-12 | 2003-12-31 | Quintell Of Ohio, Llc | Method and apparatus for detection of radioactive material |
US7026944B2 (en) * | 2003-01-31 | 2006-04-11 | Veritainer Corporation | Apparatus and method for detecting radiation or radiation shielding in containers |
GB2400480A (en) * | 2003-04-10 | 2004-10-13 | Adbury Electronics Ltd | Detection of vehicles carrying radioactive sources on a highway |
-
2006
- 2006-02-26 EP EP13194151.0A patent/EP2700977A1/en not_active Ceased
- 2006-02-26 WO PCT/US2006/006914 patent/WO2007075181A2/en active Application Filing
- 2006-02-26 JP JP2007558114A patent/JP5465383B2/ja active Active
- 2006-02-26 AU AU2006330059A patent/AU2006330059B8/en active Active
- 2006-02-26 ES ES06848837.8T patent/ES2512502T3/es active Active
- 2006-02-26 EP EP06848837.8A patent/EP1891463B1/en active Active
- 2006-02-26 KR KR1020077022252A patent/KR101415859B1/ko active IP Right Grant
- 2006-02-26 CN CN2006800143526A patent/CN101166996B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-02-26 EA EA200701851A patent/EA014137B1/ru not_active IP Right Cessation
- 2006-02-26 CA CA2599581A patent/CA2599581C/en active Active
-
2007
- 2007-08-27 IL IL185532A patent/IL185532A/en active IP Right Grant
-
2013
- 2013-08-02 JP JP2013160868A patent/JP2014002159A/ja active Pending
Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5818181A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-02 | Nippon Atom Ind Group Co Ltd | 放射線カメラ装置 |
JPS60227186A (ja) * | 1984-04-25 | 1985-11-12 | Fuji Electric Co Ltd | 放射線テレビ装置 |
JPS63151884A (ja) * | 1986-12-17 | 1988-06-24 | Toshiba Corp | 表面線量率の遠隔測定方法および装置 |
JPH02174838A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-07-06 | Olympus Optical Co Ltd | 放射線検出内視鏡 |
JPH03138592A (ja) * | 1989-10-25 | 1991-06-12 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 放射線量率の分布測定方法及び装置 |
JPH07106541A (ja) * | 1993-09-29 | 1995-04-21 | Toshiba Corp | 暗化防止ccd素子 |
JPH08275942A (ja) * | 1995-02-24 | 1996-10-22 | Loral Fairchild Corp | 中央読出口腔内画像センサ |
JPH08320527A (ja) * | 1995-05-12 | 1996-12-03 | Eastman Kodak Co | 1回の放射線照射により対象物に対する2つの放射線撮影画像を生成するための装置および方法 |
JPH09101371A (ja) * | 1995-10-06 | 1997-04-15 | Rikagaku Kenkyusho | ガンマ線検出方法及び検出装置 |
JPH10511817A (ja) * | 1995-10-13 | 1998-11-10 | フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー | 有機及び無機パシベーション層からなる画像センサ |
JP2001512570A (ja) * | 1997-02-17 | 2001-08-21 | カンパニー ジェネラル デ マティエーレ ニュークリエーレ | 放射源の位置を特定するための方法および装置 |
JPH10319122A (ja) * | 1997-05-16 | 1998-12-04 | Kaku Yugo Kagaku Kenkyusho | 放射線撮像装置 |
JPH11231063A (ja) * | 1998-02-10 | 1999-08-27 | Shozo Takemoto | 放射線源像再構成装置 |
JP2000329855A (ja) * | 1999-05-20 | 2000-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線分布検出装置 |
US6448562B1 (en) * | 1999-07-29 | 2002-09-10 | Jaycor | Remote detection of fissile material |
JP2001183315A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Koninkl Philips Electronics Nv | Ccdアレイ形式のx線検出器を有するx線分析装置 |
JP2001215728A (ja) * | 2000-02-02 | 2001-08-10 | Tdk Corp | レジストパターンおよびその形成方法、薄膜パターン形成方法ならびにマイクロデバイスの製造方法 |
WO2003046611A1 (en) * | 2001-11-27 | 2003-06-05 | Bnfl (Ip) Ltd | Environmental radiation detector |
JP2004085250A (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-18 | Toshiba Corp | 放射線計測装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6012034108; A. M. Chugg、外6名: 'A CCD miniature radiation monitor' Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2001. 6th European Conference on , 2001, pp. 12-17, IEEE * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013511026A (ja) * | 2009-11-11 | 2013-03-28 | オーストラリアン ニュークリア サイエンス アンド テクノロジー オーガニゼーション | 放射線シグネチャの異常検出 |
JP2013032926A (ja) * | 2011-08-01 | 2013-02-14 | Kyoto Univ | 放射線量率の測定方法及び放射線量率マップの作製方法 |
JP2015503086A (ja) * | 2011-10-24 | 2015-01-29 | ヘルムホルツ・ツェントルム・ミュンヒェン・ドイチェス・フォルシュンクスツェントルム・フューア・ゲズントハイト・ウント・ウムベルト(ゲーエムベーハー)Helmholtz Zentrum MuenchenDeutsches Forschungszentrum fuer Gesundheit und Umwelt (GmbH) | デジタルカメラを有する電子端末を用いて放射線を測定する方法 |
JP2014062797A (ja) * | 2012-09-21 | 2014-04-10 | Hitachi Consumer Electronics Co Ltd | 放射線測定装置及び放射線測定方法 |
US9134440B2 (en) | 2013-03-21 | 2015-09-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, radiation detection module and radiation detection method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101415859B1 (ko) | 2014-08-06 |
CN101166996A (zh) | 2008-04-23 |
WO2007075181A2 (en) | 2007-07-05 |
CN101166996B (zh) | 2013-04-17 |
IL185532A0 (en) | 2008-06-05 |
CA2599581A1 (en) | 2007-07-05 |
AU2006330059B2 (en) | 2011-09-29 |
EP2700977A1 (en) | 2014-02-26 |
WO2007075181A3 (en) | 2007-09-07 |
AU2006330059A1 (en) | 2007-07-05 |
IL185532A (en) | 2011-06-30 |
EA014137B1 (ru) | 2010-10-29 |
EP1891463A2 (en) | 2008-02-27 |
AU2006330059A2 (en) | 2008-06-05 |
JP5465383B2 (ja) | 2014-04-09 |
EA200701851A1 (ru) | 2008-02-28 |
KR20070116044A (ko) | 2007-12-06 |
JP2014002159A (ja) | 2014-01-09 |
EP1891463B1 (en) | 2014-07-09 |
CA2599581C (en) | 2016-06-14 |
AU2006330059B8 (en) | 2012-02-02 |
ES2512502T3 (es) | 2014-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5465383B2 (ja) | 高エネルギー粒子検出方法 | |
US9000386B2 (en) | Apparatus and method for detection of radiation | |
US9625606B2 (en) | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution | |
US10613247B2 (en) | Method, apparatus and system for inspecting object based on cosmic ray | |
US20140224964A1 (en) | Apparatus and method for detection of radiation | |
US7465924B1 (en) | Tracking of moving radioactive sources | |
Pavlovsky et al. | 3d gamma-ray and neutron mapping in real-time with the localization and mapping platform from unmanned aerial systems and man-portable configurations | |
EP3058353A1 (en) | Systems and methods for high-z threat alarm resolution | |
US10444385B1 (en) | Shieldless detector with one-dimensional directionality | |
US8878138B2 (en) | Multi-sensor neutron source location system | |
MX2007010503A (en) | Apparatus and method for detection of radioactive materials | |
Vanier et al. | Advances in imaging with thermal neutrons |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090226 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090520 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101130 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110224 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110303 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110330 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120703 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121003 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121113 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130213 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130220 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130402 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130802 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130831 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131029 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131116 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131224 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140122 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5465383 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |